JPH01221962A - 試験項目生成方式 - Google Patents
試験項目生成方式Info
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- JPH01221962A JPH01221962A JP63047242A JP4724288A JPH01221962A JP H01221962 A JPH01221962 A JP H01221962A JP 63047242 A JP63047242 A JP 63047242A JP 4724288 A JP4724288 A JP 4724288A JP H01221962 A JPH01221962 A JP H01221962A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 20
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Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、試験項目生成方式に関し、特に通信プロトコ
ルを実装した通信ノードにおいて、そのインプリメンテ
ーションがベースとしたプロトコル仕様に対して、適合
しているか否かを確認するための試験の項目を自動的に
生成する方式に関するものである。
ルを実装した通信ノードにおいて、そのインプリメンテ
ーションがベースとしたプロトコル仕様に対して、適合
しているか否かを確認するための試験の項目を自動的に
生成する方式に関するものである。
通常、試験項目は、試験すべき機能と、試験シーケンス
(順序)と、試験データおよび試験結果とを含んでいる
。このうち、試験すべき機能には、具体的な試験内容が
記述される。また、試験シーケンスには、試験装置と被
試験装置間で送受されるPDU(Protocol
Data Un it)種別を記述する。また、試験
データには、上記PDUに設定されるパラメータの値を
記述し、さらに試験結果には、各試験終了後、インプリ
メンテーションがベースとした仕様と一致しているか否
かを、その終了状態に応じて記述する。ここで、PDU
は、1個ないし複数個のパラメータから構成される。
(順序)と、試験データおよび試験結果とを含んでいる
。このうち、試験すべき機能には、具体的な試験内容が
記述される。また、試験シーケンスには、試験装置と被
試験装置間で送受されるPDU(Protocol
Data Un it)種別を記述する。また、試験
データには、上記PDUに設定されるパラメータの値を
記述し、さらに試験結果には、各試験終了後、インプリ
メンテーションがベースとした仕様と一致しているか否
かを、その終了状態に応じて記述する。ここで、PDU
は、1個ないし複数個のパラメータから構成される。
従来、これらの試験項目を作成する場合、ユーザに提供
するサービスの項目と、そのサービス項目を実現するP
DUおよびそのパラメータの定義や機能と、さらにレイ
ヤサービスの定義や機能等を記述したプロトコル仕様書
から、試験すべき機能を手作業で抽出して、これに対応
する試験シーケンスと、試験データおよび試験結果を同
じように手作業で作成している。
するサービスの項目と、そのサービス項目を実現するP
DUおよびそのパラメータの定義や機能と、さらにレイ
ヤサービスの定義や機能等を記述したプロトコル仕様書
から、試験すべき機能を手作業で抽出して、これに対応
する試験シーケンスと、試験データおよび試験結果を同
じように手作業で作成している。
このように、従来は、試験項目を作成する場合、手作業
で行っていたため、膨大な作業量が必要になるとともに
、人手で行うことによる試験項目の誤りが生じ、その結
果、通信プロトコルのインプリメンテーションのために
長い開発期間が必要であった。なお、プロトコル仕様書
の例としては。
で行っていたため、膨大な作業量が必要になるとともに
、人手で行うことによる試験項目の誤りが生じ、その結
果、通信プロトコルのインプリメンテーションのために
長い開発期間が必要であった。なお、プロトコル仕様書
の例としては。
CCITT ’X、400シリーズ’ (1984年)
あるいは、電信電話技術委員会′高位レイヤプロトコル
−MH8関連’ (1987年)等が知られている。
あるいは、電信電話技術委員会′高位レイヤプロトコル
−MH8関連’ (1987年)等が知られている。
本発明の目的は、このような従来の課題を解決し、プロ
トコル仕様の中から試験項目を作成するために必要とな
る情報を抽出して、これらの情報を処理装置に入力し、
この処理装置により試験項目を自動的に生成することが
でき、システム開発を支援することができる試験項目生
成方式を提供することにある。
トコル仕様の中から試験項目を作成するために必要とな
る情報を抽出して、これらの情報を処理装置に入力し、
この処理装置により試験項目を自動的に生成することが
でき、システム開発を支援することができる試験項目生
成方式を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明の試験項目生成方式は
、通信プロトコルのインプリメンテーションがプロトコ
ル仕様に対して適合しているか否かを確認するための試
験項目生成方式において、上記プロトコル仕様から抽出
されたサービス項目、試験構成およびサービスレベルに
基づいて、該プロトコル仕様から抽出された基本シーケ
ンスおよび試験結果の判定条件から試験シーケンスを作
成する手段と、該プロトコル仕様から抽出されたPDU
定義、該PDUのパラメータの実装上のクラス分け、上
記サービス項目および該サービス項目を実現するための
PDUとの対応関係、ならびに該PDU間の相互関係か
ら、上記試験シーケンスに対応する試験データを異常試
験を含めて作成する手段と、該プロトコル仕様から抽出
された試験結果の判定条件から上記試験シーケンスに対
応する試験結果を作成する手段とを有することに特徴が
ある。
、通信プロトコルのインプリメンテーションがプロトコ
ル仕様に対して適合しているか否かを確認するための試
験項目生成方式において、上記プロトコル仕様から抽出
されたサービス項目、試験構成およびサービスレベルに
基づいて、該プロトコル仕様から抽出された基本シーケ
ンスおよび試験結果の判定条件から試験シーケンスを作
成する手段と、該プロトコル仕様から抽出されたPDU
定義、該PDUのパラメータの実装上のクラス分け、上
記サービス項目および該サービス項目を実現するための
PDUとの対応関係、ならびに該PDU間の相互関係か
ら、上記試験シーケンスに対応する試験データを異常試
験を含めて作成する手段と、該プロトコル仕様から抽出
された試験結果の判定条件から上記試験シーケンスに対
応する試験結果を作成する手段とを有することに特徴が
ある。
本発明においては、プロトコル仕様が与えられた時、そ
のインプリメンテーションがベースとしたプロトコル仕
様に適合しているか否かを確認するための試験項目を自
動的に生成する。対象とするプロトコル仕様としては、
パラメータごとにユニークな値(パラメータ識別子)を
付与して、このパラメータに関する要求を行う場合には
、識別子とパラメータ値を設定し、このパラメータに関
する要求を行わない場合には、識別子および値を省略す
ることを可能にする表現形式を持つプロトコル仕様であ
る。この表現形式において、必要に応じて、パラメータ
値を設定するフィールドの長さを示すものであってもよ
い。
のインプリメンテーションがベースとしたプロトコル仕
様に適合しているか否かを確認するための試験項目を自
動的に生成する。対象とするプロトコル仕様としては、
パラメータごとにユニークな値(パラメータ識別子)を
付与して、このパラメータに関する要求を行う場合には
、識別子とパラメータ値を設定し、このパラメータに関
する要求を行わない場合には、識別子および値を省略す
ることを可能にする表現形式を持つプロトコル仕様であ
る。この表現形式において、必要に応じて、パラメータ
値を設定するフィールドの長さを示すものであってもよ
い。
以下、本発明の基本動作と、実施例について。
図面により説明する。
先ず、試験項目の作成に必要な情報の人手による抽出と
、抽出されたそれらの情報による試験項目の自動生成の
方法について、基本的な処理を述べる。
、抽出されたそれらの情報による試験項目の自動生成の
方法について、基本的な処理を述べる。
(イ)人手による情報抽出
先ず、プロトコル仕様書の中から、試験項目の作成に必
要となる次の情報を、人手により抽出する。
要となる次の情報を、人手により抽出する。
■サービス項目→ユーザに供与するサービス。
■試験構成→試験対象となる処理機能、例えば、送信機
能や受信機能。
能や受信機能。
■サービスレベル→各号−ビス項目の各試験構成におい
て、その機能をインプリメントするのか否かの判断。
て、その機能をインプリメントするのか否かの判断。
■PDU定義→PDUを構成するパラメータの種類、そ
の取り得る値の範囲、およびコーディング等。
の取り得る値の範囲、およびコーディング等。
■各PDUのパラメータの実装上のクラス分け→必須の
パラメータであるか、オプションのパラメータであるか
の判断。
パラメータであるか、オプションのパラメータであるか
の判断。
一〇対応関係→サービス項目とそれらを実現するための
PDU(パラメータも含む)との対応関係。
PDU(パラメータも含む)との対応関係。
■基本シーケンス→使用するプロトコルにおける原始的
な通信シーケンスである。基本シーケンスについては、
PDUの種別対応に、かつそれらについて正常試験、異
常試験対応に抽出する。
な通信シーケンスである。基本シーケンスについては、
PDUの種別対応に、かつそれらについて正常試験、異
常試験対応に抽出する。
■試験結果の判定条件→どのような条件を満たした時に
、試験に合格するか、あるいは不合格であるかに条件を
示す。試験結果の判定条件については、サービス項目対
応に、かつそれらについて正常試験、異常試験対応に抽
出する。
、試験に合格するか、あるいは不合格であるかに条件を
示す。試験結果の判定条件については、サービス項目対
応に、かつそれらについて正常試験、異常試験対応に抽
出する。
■PDU間の相互関係→(a)PDUのパラメータが存
在すれば、別のパラメータは存在しない場合の排他関係
、(b)あるPDUのパラメータの値によって、別のP
DUのパラメータの値が規定される場合のPDU間の因
果関係。
在すれば、別のパラメータは存在しない場合の排他関係
、(b)あるPDUのパラメータの値によって、別のP
DUのパラメータの値が規定される場合のPDU間の因
果関係。
基本シーケンスを基に作成される試験シーケンスも、あ
るイベントがトリー構造で記述される。
るイベントがトリー構造で記述される。
(ロ)試験項目の自動生成
上記各種情報が与えられると、本発明の生成方式により
1次のようにして試験項目を生成する。
1次のようにして試験項目を生成する。
(i)全てのPDUについて、PDU定義をサーチして
行き、配下のパラメータを取り出して1次の処理を行う
。
行き、配下のパラメータを取り出して1次の処理を行う
。
(i−1)仕様に合致した値の作成
各パラメータに関して、取るべき具体的な値がプロトコ
ル仕様で規定されているパラメータの場合には、規定さ
れている全ての値を、取るべき範囲は規定されているが
、具体的な値までは規定されていないパラメータの場合
には、その範囲に合致した任意の値(複数個分)を付与
する。
ル仕様で規定されているパラメータの場合には、規定さ
れている全ての値を、取るべき範囲は規定されているが
、具体的な値までは規定されていないパラメータの場合
には、その範囲に合致した任意の値(複数個分)を付与
する。
(i−2)仕様に違反した値の作成
PDU定義を展開して、取るべき値がプロトコル仕様で
規定されているプロトコルエレメントの場合には、規定
されていない任意の値を、また取るべき範囲は規定され
ているが取るべき具体的な値までは規定されていないパ
ラメータの場合には、その範囲に違反した値を、さらに
最大長に制限のあるパラメータの場合には、制限を越え
た任意の値を、それぞれ複数個分付与する。
規定されているプロトコルエレメントの場合には、規定
されていない任意の値を、また取るべき範囲は規定され
ているが取るべき具体的な値までは規定されていないパ
ラメータの場合には、その範囲に違反した値を、さらに
最大長に制限のあるパラメータの場合には、制限を越え
た任意の値を、それぞれ複数個分付与する。
ここで、パラメータに対して、仕様に合致した値、およ
び違反した値を含めて、各種の値を付与したものの集合
をライブラリと呼ぶ。
び違反した値を含めて、各種の値を付与したものの集合
をライブラリと呼ぶ。
(…)全てのPDUについて、配下のパラメータの実装
上のクラス分けを取り出して、そのクラス分けが1必須
1のパラメータについては、上記ライブラリより任意の
値を取り出して設定し、また′オプション′のパラメー
タについては、設定しないこにより、各試験で使用する
試験PDUを作成するためのベースとなるPDU(基本
PDU)を作成する。
上のクラス分けを取り出して、そのクラス分けが1必須
1のパラメータについては、上記ライブラリより任意の
値を取り出して設定し、また′オプション′のパラメー
タについては、設定しないこにより、各試験で使用する
試験PDUを作成するためのベースとなるPDU(基本
PDU)を作成する。
全てのサービス項目について、以下の(■)〜(憾)の
処理を行う。
処理を行う。
(m)このサービス項目における全ての試験構成につい
て、以下の処理を行う。
て、以下の処理を行う。
(V)そのサービスレベルが次のいずれかにより、次の
処理を行う。
処理を行う。
(v−1)’インプリメントしない′であれば、このサ
ービス項目における試験構成では試験すべき項目はない
ので、次の試験構成について同じように(〜)の処理を
行う。
ービス項目における試験構成では試験すべき項目はない
ので、次の試験構成について同じように(〜)の処理を
行う。
(v−2)’インプリメントする′であれば、次に挙け
る(vi)以下の処理を行う、処理が完了す汎ば、次の
試験構成について、同じように(iv)の処理を行う。
る(vi)以下の処理を行う、処理が完了す汎ば、次の
試験構成について、同じように(iv)の処理を行う。
(vi )正常試験
(vi−1)このサービス項目からそれを実現するため
のPDU(パラメータも含む)を取り出し、そのPDU
種別から、対応する正常試験の基本シーケンスを取り出
す。
のPDU(パラメータも含む)を取り出し、そのPDU
種別から、対応する正常試験の基本シーケンスを取り出
す。
(vi−2)このサービス項目から、正常試験に対応す
る試験結果の判定条件を取り出す。そして、基本シーケ
ンスに対して試験結果の判定条件から試験シーケンスを
次の論理で作成する。
る試験結果の判定条件を取り出す。そして、基本シーケ
ンスに対して試験結果の判定条件から試験シーケンスを
次の論理で作成する。
試験結果の判定条件において。
■複数のPDUを転送するのであれば、→基本シーケン
スに設定されていないPDUの転送を時間順序逆りに追
加する。
スに設定されていないPDUの転送を時間順序逆りに追
加する。
■複数のPDUを転送し、それらのPDUの転送に順序
逆転が許されるのであれば、→順序逆転が起きた場合の
シーケンスも追加する。
逆転が許されるのであれば、→順序逆転が起きた場合の
シーケンスも追加する。
■途中のPDUまでで試験結果が決まれば、→基本シー
ケンス上のそのPDU以降に転送するPDUを全て削除
する。
ケンス上のそのPDU以降に転送するPDUを全て削除
する。
(vi−3)上記(vi−1)で取り出されたパラメー
タに対して、そのパラメータの個数に応じて次の処理を
行う。
タに対して、そのパラメータの個数に応じて次の処理を
行う。
(vi−3−1)パラメータが1個の場合、■そのパラ
メータに関して、上記ライブラリの中で記述されている
値を全て取り出す。
メータに関して、上記ライブラリの中で記述されている
値を全て取り出す。
■上記各値に関して、その値を基本PDUに設定して、
パラメータ値ごとに試験PDUを作成する。
パラメータ値ごとに試験PDUを作成する。
試験シーケンスをこの値の個数分複写して、それぞれの
試験シーケンスに対して、各試験PDUを各試験シーケ
ンス上に対応付ける。
試験シーケンスに対して、各試験PDUを各試験シーケ
ンス上に対応付ける。
■応答PDUがある場合には、上記設定した試験PDU
のパラメータに対し、PDU間の因果関係より、応答P
DUに設定すべきパラメータを取り出すとともに、ライ
ブラリより任意の値を付与し。
のパラメータに対し、PDU間の因果関係より、応答P
DUに設定すべきパラメータを取り出すとともに、ライ
ブラリより任意の値を付与し。
各試験シーケンス上に対応付ける。
(vi−3−2)パラメータが複数個(N個とする)の
場合、 ■上記パラメータの1個からN個までの組み合わせを全
て作成する。ただし、排他的なパラメータ間の組み合わ
せは、上記組み合わせから除外する。
場合、 ■上記パラメータの1個からN個までの組み合わせを全
て作成する。ただし、排他的なパラメータ間の組み合わ
せは、上記組み合わせから除外する。
このパラメータの組み合わせの全てに関し、次の■以降
の処理を行う。
の処理を行う。
■上記組み合わせに対して、その組み合わせを構成する
パラメータの全てに関するライブラリのそれらのパラメ
ータの値を全て取り出す。
パラメータの全てに関するライブラリのそれらのパラメ
ータの値を全て取り出す。
■あるパラメータの全ての値について、別のパラメータ
の全ての値との組み合わせを作成する。これを、組み合
わせCとする。残りの全てのパラメータについて、次の
処理を行う。処理が完了すれば、■の処理に移る。
の全ての値との組み合わせを作成する。これを、組み合
わせCとする。残りの全てのパラメータについて、次の
処理を行う。処理が完了すれば、■の処理に移る。
イ)それらのパラメータの全ての値と組み合わせCとを
さらに組み合わせて、これを組み合わせCとする。
さらに組み合わせて、これを組み合わせCとする。
口)次のパラメータについて、イ)の処理を行う。
■組み合わせCの組み合わせごとに、その値を基本PD
Uに設定して、試験PDUを作成する。試験シー・ケン
スをこの組み合わせCの個数分コピーして、それぞれの
試験シーケンスに対して、各試験PDUを各試験シーケ
ンス上に対応付ける。
Uに設定して、試験PDUを作成する。試験シー・ケン
スをこの組み合わせCの個数分コピーして、それぞれの
試験シーケンスに対して、各試験PDUを各試験シーケ
ンス上に対応付ける。
■応答PDUがある場合には、上記のように設定した試
験PDUのパラメータに対し、PDU間の因果関係より
、応答PDUに設定すべきパラメータを取り出すととも
に、ライブラリより任意の値を付与し、各試験シーケン
ス上に対応付ける。
験PDUのパラメータに対し、PDU間の因果関係より
、応答PDUに設定すべきパラメータを取り出すととも
に、ライブラリより任意の値を付与し、各試験シーケン
ス上に対応付ける。
(vi−4)試験データ作成後、トリー構造となってい
る試験シーケンスをトレースして、リーフを全て取り出
す。それらのリーフには、試験結果の判定条件に従って
、゛合格″あるいは′不合格′を対応付ける。最後に、
試験結果が設定されていないリーフをチエツクし、その
リーフには1不確定′を対応付ける。
る試験シーケンスをトレースして、リーフを全て取り出
す。それらのリーフには、試験結果の判定条件に従って
、゛合格″あるいは′不合格′を対応付ける。最後に、
試験結果が設定されていないリーフをチエツクし、その
リーフには1不確定′を対応付ける。
(vii)異常試験
(vfi−1)試験シーケンスの作成については、上記
(vi−1)および(vi−2)と同じである。ただし
。
(vi−1)および(vi−2)と同じである。ただし
。
正常試験を異常試験と読み替える。
(vfi−2)試験シーケンス上の各PDUの取るべき
値を次の2つの場合について、作成する。
値を次の2つの場合について、作成する。
(vii−2−1)上記(報−1)で取り出されたパラ
メータに対して、それらのパラメータの個数に応じて次
の処理を行う。
メータに対して、それらのパラメータの個数に応じて次
の処理を行う。
(vfi−2−1−1)パラメータが1個の場合、■そ
のパラメータに関して、上記ライブラリの中で記述され
ている任意の値を1個取り出す。
のパラメータに関して、上記ライブラリの中で記述され
ている任意の値を1個取り出す。
■上記各値に関して、その値を基本PDUに設定して、
パラメータ値ごとに試験PDUを作成す乞。
パラメータ値ごとに試験PDUを作成す乞。
試験シーケンスをこの値の個数分だけコピーして。
それぞれの試験シーケンスに対して、各試験PDUを各
試験シーケンス上に対応付ける。
試験シーケンス上に対応付ける。
■応答PDUがある場合には、上記で設定した試験PD
Uのパラメータに対して、PDU間の因果関係より、応
答PDUに設定すべきパラメータを取り出すとともに、
ライブラリより任意の値を付与して、各試験シーケンス
上に対応付ける。
Uのパラメータに対して、PDU間の因果関係より、応
答PDUに設定すべきパラメータを取り出すとともに、
ライブラリより任意の値を付与して、各試験シーケンス
上に対応付ける。
(煽−2−1−2)パラメータが複数個(N個)の場合
、 ■上記パラメータの1個からN個までの組み合わせを全
て作成する。ただし、排他的なパラメータ間の組み合わ
せは、上記組み合わせから除外する。
、 ■上記パラメータの1個からN個までの組み合わせを全
て作成する。ただし、排他的なパラメータ間の組み合わ
せは、上記組み合わせから除外する。
■それらの組み合わせに対して、各組み合わせを構成す
るパラメータの全てについて、ライブラリの各パラメー
タの任意の値を1つずつ取り出す。
るパラメータの全てについて、ライブラリの各パラメー
タの任意の値を1つずつ取り出す。
■これらの値を基本PDUに設定して、試験PDUを作
成する。そして、試験PDUを試験シーケンス上に対応
付ける。
成する。そして、試験PDUを試験シーケンス上に対応
付ける。
■応答PDUがある場合には、上記で設定した試験PD
Uのパラメータに対して、PDU間の因果関係より応答
PDUに設定すべきパラメータを取り出すとともに、ラ
イブラリより任意の値を付与し、各試験シーケンス上に
対応付ける。
Uのパラメータに対して、PDU間の因果関係より応答
PDUに設定すべきパラメータを取り出すとともに、ラ
イブラリより任意の値を付与し、各試験シーケンス上に
対応付ける。
(vi−2−2)試験対象のプロトコルエレメントが′
必須′のパラメータの場合には、そのプロトコルエレメ
ントを省略した場合についても、試験PDUを作成する
。そして、試験PDUを試験シーケンス上に対応付ける
。
必須′のパラメータの場合には、そのプロトコルエレメ
ントを省略した場合についても、試験PDUを作成する
。そして、試験PDUを試験シーケンス上に対応付ける
。
(報−3)試験結果の作成については、上記(iv−4
)と同じである。
)と同じである。
以上により作成された試験シーケンス、試験データおよ
び試験結果を、試験項目ごとに操作者に出力する。
び試験結果を、試験項目ごとに操作者に出力する。
このように、本発明においては、試験項目を機械処理に
より自動作成することができる。
より自動作成することができる。
第1図は、本発明の一実施例を示す試験項目生成装置の
構成図であり、第7図は第1図の処理フローチャートで
ある。
構成図であり、第7図は第1図の処理フローチャートで
ある。
本発明の試験項目生成装置は、乱数発生部1と、ライブ
ラリ作成部2と、基本PDU作成部3と、入力処理部4
と、試験機能設定部5と、試験シーケンス作成部6と、
試験PDU作成部7と、試験結果作成部8と、出力処理
部9とからなる。
ラリ作成部2と、基本PDU作成部3と、入力処理部4
と、試験機能設定部5と、試験シーケンス作成部6と、
試験PDU作成部7と、試験結果作成部8と、出力処理
部9とからなる。
プロトコル仕様書の中から、サービス項目、試験構成、
サービスレベル、PDU定義とパラメータの実装上のク
ラス分け、サービス項目とそれを実現するためのPDU
との対応関係、基本シーケンスおよび試験結果の判定条
件を抽出し、これらの情報をデイスプレィ端末等を通じ
て、試験項目生成装置(入力処理部4)に入力する(ス
テップ101)。
サービスレベル、PDU定義とパラメータの実装上のク
ラス分け、サービス項目とそれを実現するためのPDU
との対応関係、基本シーケンスおよび試験結果の判定条
件を抽出し、これらの情報をデイスプレィ端末等を通じ
て、試験項目生成装置(入力処理部4)に入力する(ス
テップ101)。
入力処理部4では、上記PDU定義とそのパラメータの
実装上のクラス分けをライブラリ作成部2に引き渡す(
ステップ102)。ライブラリ作成部2では、先ず、パ
ラメータの正常値に着目し、PDU定義を展開して行き
、全てのPDUのパラメータについて次の処理を行う、
すなわち、各パラメータに関し、取るべき具体的な値が
プロトコル仕様で規定されているパラメータの場合には
。
実装上のクラス分けをライブラリ作成部2に引き渡す(
ステップ102)。ライブラリ作成部2では、先ず、パ
ラメータの正常値に着目し、PDU定義を展開して行き
、全てのPDUのパラメータについて次の処理を行う、
すなわち、各パラメータに関し、取るべき具体的な値が
プロトコル仕様で規定されているパラメータの場合には
。
規定されている全ての値について、取るべき範囲は規定
されているが、具体的な値までは規定されていないパラ
メータについては、その範囲に合致した値を乱数発生部
1により乱数を発生させることにより選択し作成する(
ステップ103−4)。
されているが、具体的な値までは規定されていないパラ
メータについては、その範囲に合致した値を乱数発生部
1により乱数を発生させることにより選択し作成する(
ステップ103−4)。
次に、異常値に着目し、パラメータのPDU定義を展開
して、取るべき値がプロトコル仕様で規定されているパ
ラメータの場合には、規定されてぃな、い値を乱数を用
いて選択し、取るべき範囲は規定されているが取るべき
具体的な値までは規定されていないパラメータについて
は、その範囲に違反した値を乱数を用いて作成する(ス
テップ1゜3−2)。そして、ここで作成したライブラ
リを入力処理部4に引き渡す(ステップ1o4)。
して、取るべき値がプロトコル仕様で規定されているパ
ラメータの場合には、規定されてぃな、い値を乱数を用
いて選択し、取るべき範囲は規定されているが取るべき
具体的な値までは規定されていないパラメータについて
は、その範囲に違反した値を乱数を用いて作成する(ス
テップ1゜3−2)。そして、ここで作成したライブラ
リを入力処理部4に引き渡す(ステップ1o4)。
入力処理部4では、そのライブラリおよびPDU定義と
そのパラメータの実装上のクラス分けを、基本PDU作
成部3に引き渡す(ステップ1o5)。
そのパラメータの実装上のクラス分けを、基本PDU作
成部3に引き渡す(ステップ1o5)。
基本PDU作成部3では、パラメータの実装上のクラス
分けより、そのクラス分けが必須のパラメータについて
は、上記ライブラリの中から乱数により任意の値を選択
して設定し、オプションのパラメータについては設定せ
ずに、基本PDUを作成し、入力処理部3に引き渡す(
ステップ106)。
分けより、そのクラス分けが必須のパラメータについて
は、上記ライブラリの中から乱数により任意の値を選択
して設定し、オプションのパラメータについては設定せ
ずに、基本PDUを作成し、入力処理部3に引き渡す(
ステップ106)。
入力処理部4では、上記各種情報を、試験機能選定部5
に引き渡す(ステップ107)。
に引き渡す(ステップ107)。
試験機能選定部5では、先ず、あるサービス項目を選択
し、そのサービス項目に関する各試験構成におけるサー
ビスレベルを取り出し、ある試験構成におけるサービス
レベルをチエツクし、インプリメントしないのであれば
、そのサービス項目における試験構成では試験すべき項
目はないので。
し、そのサービス項目に関する各試験構成におけるサー
ビスレベルを取り出し、ある試験構成におけるサービス
レベルをチエツクし、インプリメントしないのであれば
、そのサービス項目における試験構成では試験すべき項
目はないので。
次の試験構成についてチエツクする。また、もしインプ
リメントするのであれば、試験シーケンス作成部6にそ
のサービス項目、試験構成、サービス項目とそれを実現
するためのPDUとの対応関係、基本シーケンスおよび
試験結果の判定条件を引き継ぐ(ステップ108)。全
ての試験構成について、前のサービス項目の処理が完了
すれば、次のサービス項目について同じような処理を行
う(ステップ109)。
リメントするのであれば、試験シーケンス作成部6にそ
のサービス項目、試験構成、サービス項目とそれを実現
するためのPDUとの対応関係、基本シーケンスおよび
試験結果の判定条件を引き継ぐ(ステップ108)。全
ての試験構成について、前のサービス項目の処理が完了
すれば、次のサービス項目について同じような処理を行
う(ステップ109)。
試験シーケンス作成部6では、先ず、正常項目に関して
処理を行う(ステップ110)、すなわち、サービス項
目からそのサービス項目を実現するためのPDUを取り
出し、そのPDU種別および正常項目から対応する基本
シーケンスを取り出す。
処理を行う(ステップ110)、すなわち、サービス項
目からそのサービス項目を実現するためのPDUを取り
出し、そのPDU種別および正常項目から対応する基本
シーケンスを取り出す。
次に、このサービス項目から正常項目に対応する試験結
果の判定条件を取り出す。そして、基本シーケンスに対
して、試験結果の判定条件からサービス項目対応の試験
シーケンスを、次の論理により作成する。
果の判定条件を取り出す。そして、基本シーケンスに対
して、試験結果の判定条件からサービス項目対応の試験
シーケンスを、次の論理により作成する。
試験結果の判定条件から
■複数のPDUを転送するのであれば、基本シーケンス
に設定されていないPDUを、試験結果の判定条件で示
されている時系列性に基づいて追加する。
に設定されていないPDUを、試験結果の判定条件で示
されている時系列性に基づいて追加する。
■複数のPDUを転送し、それらのPDUの転送に順序
逆転が許されるのであれば、順序逆転が起きた場合のシ
ーケンスも追加する。
逆転が許されるのであれば、順序逆転が起きた場合のシ
ーケンスも追加する。
■途中のPDUまでで試験結果が判定できれば、基本シ
ーケンス上のそのPDU以降に転送されるPDUを全て
削除する(ステップ110−1)。
ーケンス上のそのPDU以降に転送されるPDUを全て
削除する(ステップ110−1)。
次に、異常項目については、正常項目と同じように、異
常項目に対応する基本シーケンスを取り出して、試験シ
ーケンスを作成する。そして1次段の試験PDU作成部
7に引き渡す(ステップ110−2)。
常項目に対応する基本シーケンスを取り出して、試験シ
ーケンスを作成する。そして1次段の試験PDU作成部
7に引き渡す(ステップ110−2)。
試験PDU作成部7では、先ず、正常項目の試験に着目
する(ステップ112)、サービス項目とそれを実現す
るためのPDUとの対応関係より、このサービス項目に
対応するパラメータを取り出す。そのパラメータの個数
に応じて1次の処理を行う(ステップ112−1)。す
なわち、パラメータの数により、パラメータが1個の場
合には、上記ライブラリの中で記述されている値を全て
取り出す。上記各値に関して、その値を基本PDUに設
定して、パラメータ値ごとに試験PDUを作成する。そ
して、試験PDUを試験シーケンス上に対応付ける。こ
の結果、パラメータ値の個数分、試験項目が作成される
。応答PDUがある場合には、上記で設定した試験PD
Uのパラメータに対して、PDU間の因果関係より、応
答PDUに設定すべきパラメータを取り出すとともに、
ライブラリより任意の値を付与し、各試験シーケンス上
に対応付ける(ステップ112−2)。
する(ステップ112)、サービス項目とそれを実現す
るためのPDUとの対応関係より、このサービス項目に
対応するパラメータを取り出す。そのパラメータの個数
に応じて1次の処理を行う(ステップ112−1)。す
なわち、パラメータの数により、パラメータが1個の場
合には、上記ライブラリの中で記述されている値を全て
取り出す。上記各値に関して、その値を基本PDUに設
定して、パラメータ値ごとに試験PDUを作成する。そ
して、試験PDUを試験シーケンス上に対応付ける。こ
の結果、パラメータ値の個数分、試験項目が作成される
。応答PDUがある場合には、上記で設定した試験PD
Uのパラメータに対して、PDU間の因果関係より、応
答PDUに設定すべきパラメータを取り出すとともに、
ライブラリより任意の値を付与し、各試験シーケンス上
に対応付ける(ステップ112−2)。
パラメータが複数個(N個)の場合には、パラメータの
組み合わせを全て作成する。すなわち、上記パラメータ
の1個からN個の組み合わせ数に応じた個数の試験項目
が作成される。応答PDUがある場合には、上記で設定
した試験PDUのパラメータに対して、PDU間の因果
関係より、応答PDUに設定すべきパラメータを取り出
すとともに、ライブラリより任意の値を付与して、各試
験シーケンス上に対応付ける(ステップ112−3)。
組み合わせを全て作成する。すなわち、上記パラメータ
の1個からN個の組み合わせ数に応じた個数の試験項目
が作成される。応答PDUがある場合には、上記で設定
した試験PDUのパラメータに対して、PDU間の因果
関係より、応答PDUに設定すべきパラメータを取り出
すとともに、ライブラリより任意の値を付与して、各試
験シーケンス上に対応付ける(ステップ112−3)。
なお、ここで、上記値の作成に関して、試験結果の判定
条件で、取るべき範囲が規定されていれば。
条件で、取るべき範囲が規定されていれば。
その範囲内の値とする。
次に、異常項目については、サービス項目から対応する
パラメータを取り出し、そのパラメータの個数に応じて
、次の処理を行う(ステップ112−4)、先ず、パラ
メータが1個の場合には、そのパラメータに関し、上記
ライブラリの中で記述されている任意の値を1つ取り出
す。上記の値を基本PDUに設定して、試験PDUを作
成する。
パラメータを取り出し、そのパラメータの個数に応じて
、次の処理を行う(ステップ112−4)、先ず、パラ
メータが1個の場合には、そのパラメータに関し、上記
ライブラリの中で記述されている任意の値を1つ取り出
す。上記の値を基本PDUに設定して、試験PDUを作
成する。
試験PDUを試験シーケンス上に対応付ける。応答PD
Uがある場合には、上記で設定した試験PDUのパラメ
ータに対し、PDU間の因果関係より応答PDUに設定
すべきパラメータを取り出すとともに、ライブラリより
任意の値を付与し、各試験シーケンス上に対応付ける(
ステップ112−5)。次に、パラメータが複数(N個
)の場合には、パラメータの組み合わせを全て作成する
。
Uがある場合には、上記で設定した試験PDUのパラメ
ータに対し、PDU間の因果関係より応答PDUに設定
すべきパラメータを取り出すとともに、ライブラリより
任意の値を付与し、各試験シーケンス上に対応付ける(
ステップ112−5)。次に、パラメータが複数(N個
)の場合には、パラメータの組み合わせを全て作成する
。
すなわち、上記パラメータの1個からN個の組み合わせ
を作成する。ただし、排他的なパラメータ間の組み合わ
せは、上記組み合わせから除外する。
を作成する。ただし、排他的なパラメータ間の組み合わ
せは、上記組み合わせから除外する。
このパラメータの組み合わせの全てに関し、以下の処理
を行う。その組み合わせについて、その組み合わせを構
成するパラメータの全てに対し、ライブラリの各パラメ
ータの任意の値を1つずつ取り出す。この値に基本PD
Uに設定して、試験PDUを作成する。試験PDUを、
試験シーケンス上に対応付ける。この結果、パラメータ
の組み合わせ数に応じた個数の試験項目が作成される。
を行う。その組み合わせについて、その組み合わせを構
成するパラメータの全てに対し、ライブラリの各パラメ
ータの任意の値を1つずつ取り出す。この値に基本PD
Uに設定して、試験PDUを作成する。試験PDUを、
試験シーケンス上に対応付ける。この結果、パラメータ
の組み合わせ数に応じた個数の試験項目が作成される。
応答PDUがある場合には、上記で設定した試験PDU
のパラメータに対し、PDU間の因果関係より、応答P
DUに設定すべきパラメータを取り出すとともに、ライ
ブラリより任意の値を付与して、各試験シーケンス上に
対応付ける。さらに、必須のパラメータの試験について
は、そのパラメータを省略した場合についても、試験P
DUを作成する(ステップ112−6)。
のパラメータに対し、PDU間の因果関係より、応答P
DUに設定すべきパラメータを取り出すとともに、ライ
ブラリより任意の値を付与して、各試験シーケンス上に
対応付ける。さらに、必須のパラメータの試験について
は、そのパラメータを省略した場合についても、試験P
DUを作成する(ステップ112−6)。
次に、試験結果作成部8では、先ず、正常項目に着目し
くステップ113)、対応する試験シーケンスをトレー
スして、リーフを全て取り出す。そのリーフには、試験
結果の判定条件に従って、″試験合格′あるいは′試験
不合格′を対応付ける。試験結果が設定されていないリ
ーフがあれば。
くステップ113)、対応する試験シーケンスをトレー
スして、リーフを全て取り出す。そのリーフには、試験
結果の判定条件に従って、″試験合格′あるいは′試験
不合格′を対応付ける。試験結果が設定されていないリ
ーフがあれば。
そのリーフには、′不確定′を対応付ける(ステップ1
13−1)。次に、異常項目については、同じように、
試験シーケンス上に試験結果の判定条件を基にして、試
験結果を設定する(ステップ113−2)。上記処理を
全てのサービス項目について行い、処理が完了すれば、
作成された全情報を出力処理部9に引き渡す(ステップ
114)。
13−1)。次に、異常項目については、同じように、
試験シーケンス上に試験結果の判定条件を基にして、試
験結果を設定する(ステップ113−2)。上記処理を
全てのサービス項目について行い、処理が完了すれば、
作成された全情報を出力処理部9に引き渡す(ステップ
114)。
出力処理部9では、上記試験項目対応の試験シーケンス
、試験データおよび試験結果を、操作者に出力する(ス
テップ115)。
、試験データおよび試験結果を、操作者に出力する(ス
テップ115)。
第2図は、本発明の一実施例を示す基本シーケンスの内
容の図であり、第3図は1本発明の試験項目生成装置で
生成された試験シーケンスの内容を示す図である。
容の図であり、第3図は1本発明の試験項目生成装置で
生成された試験シーケンスの内容を示す図である。
MH8(Message Handling Sy
stem)のP2プロトコルのサービス項目であるI
P messageidentificationの
発信機能における正常試験を例にとって、具体的に説明
する。
stem)のP2プロトコルのサービス項目であるI
P messageidentificationの
発信機能における正常試験を例にとって、具体的に説明
する。
入力情報は、次の通りである。
■サービス項目→I P −message 1den
tification■試験構成→発信機能、着信機能
、 ■各試験構成におけるサービスレベル 発信機能→インプリメントする。
tification■試験構成→発信機能、着信機能
、 ■各試験構成におけるサービスレベル 発信機能→インプリメントする。
着信機能→インプリメントする。
■PDU定義4CCITT X、400シリーズ(1
984年版)に示されている通りである。
984年版)に示されている通りである。
■PDUのパラメータの実装上のクラス分け→CCIT
T X、400シリーズ(1984年版)に示される
通りである。
T X、400シリーズ(1984年版)に示される
通りである。
■サービス項目とそれを実現するためのPDUとの対応
関係→エト−message 1dentifica
tionロー・・・・IM−UAPDU、 IPM
essageId(ここで、′、′は、左のPDUある
いはパラメータの配下のパラメータが右であることとす
る)。
関係→エト−message 1dentifica
tionロー・・・・IM−UAPDU、 IPM
essageId(ここで、′、′は、左のPDUある
いはパラメータの配下のパラメータが右であることとす
る)。
■基本シーケンス→サービス項目’ I P −mes
sageidentification ’の正常項目
に対応する基本シーケンスは、第2図に示す通りである
。第2図の具体例では、基本シーケンスおよび試験シー
ケンスは、時系列性を表現するために、各イベントの行
頭を左から右にずらして記述するものとしく左が早い時
刻であり、右に移るに従って後の時刻となる)、行頭が
同位置にあるイベントはそのうちのいずれかが起こるも
のとする。記号の意味としては、′T′は試験装置側で
のイベント発生を、′I′は被試験装置側でのイベント
発生を、それぞれ示し、イベントの内容としては、′!
′は送信を、′?′は受信を、それぞれ示す。また、0
THERWISEは、IM−UAPDUx以外のイベン
ト発生であることを示している。さらに、本実施例では
、PDU受信を監視するためのタイマを記述しており、
’ j 5tart’、’ ? Timeout’
は、タイマのスタート、タイムアウトをそれぞれ示して
いる。
sageidentification ’の正常項目
に対応する基本シーケンスは、第2図に示す通りである
。第2図の具体例では、基本シーケンスおよび試験シー
ケンスは、時系列性を表現するために、各イベントの行
頭を左から右にずらして記述するものとしく左が早い時
刻であり、右に移るに従って後の時刻となる)、行頭が
同位置にあるイベントはそのうちのいずれかが起こるも
のとする。記号の意味としては、′T′は試験装置側で
のイベント発生を、′I′は被試験装置側でのイベント
発生を、それぞれ示し、イベントの内容としては、′!
′は送信を、′?′は受信を、それぞれ示す。また、0
THERWISEは、IM−UAPDUx以外のイベン
ト発生であることを示している。さらに、本実施例では
、PDU受信を監視するためのタイマを記述しており、
’ j 5tart’、’ ? Timeout’
は、タイマのスタート、タイムアウトをそれぞれ示して
いる。
■試験結果の判定条件→サービス項目’IP −mes
sage 1dentification’の正常項
目に対応する試験結果の判定条件は、次の通りである。
sage 1dentification’の正常項
目に対応する試験結果の判定条件は、次の通りである。
ffIPメツセージ送受信後、再度IPメツセージを転
送し、それらのIPメツセージに関して、合格→それぞ
れ、送信側のIP MessageIdの値がそのまま
転送され、かつそれらが互いに異なる。不合格→I P
MessageIdの値に関して上記合格の条件以外
、あるいは途中でタイムアウト、である。」上記の入力
情報に対して、次のようにして試験項目を作成する。
送し、それらのIPメツセージに関して、合格→それぞ
れ、送信側のIP MessageIdの値がそのまま
転送され、かつそれらが互いに異なる。不合格→I P
MessageIdの値に関して上記合格の条件以外
、あるいは途中でタイムアウト、である。」上記の入力
情報に対して、次のようにして試験項目を作成する。
先ず、試験すべき機能の抽出では、サービス項目1エト
−message 1dentification’
の発信機能は、上記記載よりインプリメントするので、
この機能の試験項目を次のように作成する。
−message 1dentification’
の発信機能は、上記記載よりインプリメントするので、
この機能の試験項目を次のように作成する。
第2図の基本シーケンスに対して、上記試験結果の判定
条件を基にして改造を加える。試験結果の判定条件で、
2つのIM−UAPDUを転送するので、基本シーケン
スに対してIM−UAr’DUを送受を追加する。この
ようにして、生成された試験シーケンスが第3図である
。
条件を基にして改造を加える。試験結果の判定条件で、
2つのIM−UAPDUを転送するので、基本シーケン
スに対してIM−UAr’DUを送受を追加する。この
ようにして、生成された試験シーケンスが第3図である
。
第4図は、基本IM−UAPDUの例を示す図であり、
第5図は第3図において参照される試験IM−UAPD
Uのテーブルを示す図であり、第6図は第5図において
参照されるライブラリの例を示す図である。
第5図は第3図において参照される試験IM−UAPD
Uのテーブルを示す図であり、第6図は第5図において
参照されるライブラリの例を示す図である。
サービス項目とそれを実現するためのPDUとの対応関
係より、試験対象のパラメータは、IM−UAPDU、
I PMessageIdである。
係より、試験対象のパラメータは、IM−UAPDU、
I PMessageIdである。
I P M essageIdは、PDU定義よりOR
NameとP rintable S tringから
構成される。ORNameはオプションのパラメータで
あるため、ここではPr1ntable S trin
gのみについて説明する。 P rintable S
tringは、PDU定義より、O〜9.A−Z。
NameとP rintable S tringから
構成される。ORNameはオプションのパラメータで
あるため、ここではPr1ntable S trin
gのみについて説明する。 P rintable S
tringは、PDU定義より、O〜9.A−Z。
a ” z等の文字の集合であるため、これらの文字か
ら乱数を用いて任意の文字を選択し、値を設定する。す
なわち、第6図(a)に示すように、値として、Msg
Idlを設定し、ライブラリを作成する。
ら乱数を用いて任意の文字を選択し、値を設定する。す
なわち、第6図(a)に示すように、値として、Msg
Idlを設定し、ライブラリを作成する。
B odyについても、全く同じようにして第6図(b
)に示すように、値を設定することにより、ライブラリ
を作成する。
)に示すように、値を設定することにより、ライブラリ
を作成する。
基本IM−UAPDUは、第4図に示すように、IM−
UAPDUのフォーマット定義より、必須のパラメータ
はI P Message I dとB odyのみで
あるため、これらのパラメータに関して、ライブラリを
参照することにより、任意の値を設定して作成する。こ
こでは、I P Message I d 1 お
よびBody 1が設定されている。
UAPDUのフォーマット定義より、必須のパラメータ
はI P Message I dとB odyのみで
あるため、これらのパラメータに関して、ライブラリを
参照することにより、任意の値を設定して作成する。こ
こでは、I P Message I d 1 お
よびBody 1が設定されている。
IM−UAPDUIは、第5図に示すようにして作成さ
れる。すなわち、サービス項目’IP−message
1dentification’を実現するための
パラメータは、対応表よりI P Message I
dであり、I P Message I dは必須の
パラメータであるから、既に基本IM−UADPUに設
定されていることにより、初めに送受するIM−UAP
DUIは、基本IM−UAPDUと同じでよい。2番目
に送受するIM−UAPDUのI P Message
I dは、試験結果の判定条件からIM−UAPDU
IのI P Message I dと異なる値でなけ
ればならない。
れる。すなわち、サービス項目’IP−message
1dentification’を実現するための
パラメータは、対応表よりI P Message I
dであり、I P Message I dは必須の
パラメータであるから、既に基本IM−UADPUに設
定されていることにより、初めに送受するIM−UAP
DUIは、基本IM−UAPDUと同じでよい。2番目
に送受するIM−UAPDUのI P Message
I dは、試験結果の判定条件からIM−UAPDU
IのI P Message I dと異なる値でなけ
ればならない。
従って、第5図の2段目に示すように、’MsgId2
’を有するIM−UAPDU2を設定する。
’を有するIM−UAPDU2を設定する。
上記試験シーケンスに対して、次のように試験結果を設
定する。
定する。
試験シーケンスをトレースして、トリー・構造のリーフ
を全て取り出す。期待するフォーマット通りのIM−U
APDU受信のリーフに対応するところに合格を設定す
る。期待通りでないIM−UAPDU受信、あるいはタ
イムアウトのリーフに対応するところには不合格を設定
する。
を全て取り出す。期待するフォーマット通りのIM−U
APDU受信のリーフに対応するところに合格を設定す
る。期待通りでないIM−UAPDU受信、あるいはタ
イムアウトのリーフに対応するところには不合格を設定
する。
また、試験シーケンスと試験結果が上記と同じで、試験
データの値が上記と異なる試験も1作成することができ
る。例えば、IM−UAPDU−2の代りにIM−UA
PDUN等の試験である。
データの値が上記と異なる試験も1作成することができ
る。例えば、IM−UAPDU−2の代りにIM−UA
PDUN等の試験である。
このように、本発明においては、プロトコル仕様から、
そのインプリチージョンを試験するための試験項目を自
動生成することができるので、人手による膨大な作業量
を削減することが可能となるとともに、試験項目の誤り
も防止できる。また、本発明においては、試験項目を生
成する際に、サービスレベルを入力する方法を用いるの
で、インプリメントしていない機能の試験は除外して出
力される。さらに、本発明においては、特定のプロトコ
ルのみにだけでなく、プロトコル仕様を上記の入力条件
のように整理することにより、各種のプロトコル仕様に
対して、適用することができる。
そのインプリチージョンを試験するための試験項目を自
動生成することができるので、人手による膨大な作業量
を削減することが可能となるとともに、試験項目の誤り
も防止できる。また、本発明においては、試験項目を生
成する際に、サービスレベルを入力する方法を用いるの
で、インプリメントしていない機能の試験は除外して出
力される。さらに、本発明においては、特定のプロトコ
ルのみにだけでなく、プロトコル仕様を上記の入力条件
のように整理することにより、各種のプロトコル仕様に
対して、適用することができる。
以上説明したように、本発明によれば、入力されたプロ
トコル仕様から、その試験回目を自動的に生成すること
ができるので、人手による作業量を削減することが可能
となり、かつ試験項目の誤りを防止することも可能であ
り、迅速にシステム開発を行うことができる。
トコル仕様から、その試験回目を自動的に生成すること
ができるので、人手による作業量を削減することが可能
となり、かつ試験項目の誤りを防止することも可能であ
り、迅速にシステム開発を行うことができる。
第1図は本発明の一実施例を示す試験項目生成装置の構
成図、第2図は本発明における入力情報として必要な基
本シーケンス例を示す図、第3図は第2図の入力に対し
て生成された試験シーケンスを示す図、第4図は基本I
M−UAPDUの例を示す図、第5図は第3図において
参照される試験IM−UAPDUの例を示す図、第6図
は第5図において参照されるライブラリの例を示す図、
第7図は第1図の処理フローチャートである。 1:乱数発生部、2ニライブラリ作成部、3:基本PD
U作成部、4:入力処理部、5:試験機能選定部、6:
試験シーケンス作成部、7:試験PDU作成部、8:試
験結果作成部、9:出力処理部。 特許出願人 日本電信電話株式会社 代理人 弁理士 磯 村 雅 俊
成図、第2図は本発明における入力情報として必要な基
本シーケンス例を示す図、第3図は第2図の入力に対し
て生成された試験シーケンスを示す図、第4図は基本I
M−UAPDUの例を示す図、第5図は第3図において
参照される試験IM−UAPDUの例を示す図、第6図
は第5図において参照されるライブラリの例を示す図、
第7図は第1図の処理フローチャートである。 1:乱数発生部、2ニライブラリ作成部、3:基本PD
U作成部、4:入力処理部、5:試験機能選定部、6:
試験シーケンス作成部、7:試験PDU作成部、8:試
験結果作成部、9:出力処理部。 特許出願人 日本電信電話株式会社 代理人 弁理士 磯 村 雅 俊
Claims (1)
- (1)通信プロトコルのインプリメンテーシヨンがプロ
トコル仕様に対して適合しているか否かを確認するため
の試験項目生成方式において、上記プロトコル仕様から
抽出された各種のサービス項目、発信側や着信側を含む
試験構成および各サービスを行うか否かを定めたサービ
スレベルに基づいて、該プロトコル仕様から抽出された
基本シーケンスおよび試験結果の判定条件から試験シー
ケンスを作成する手段と、該プロトコル仕様から抽出さ
れたPDU定義、該PDUのパラメータの実装上のクラ
ス分け、上記サービス項目と、該サービス項目を実現す
るためのPDU間の対応関係、ならびに該PDU間の相
互関係から、上記試験シーケンスに対応して、かつ正常
および異常試験を含む試験データを作成する手段と、該
プロトコル仕様から抽出された試験結果の判定条件から
上記試験シーケンスに対応する試験結果を作成する手段
とを有することを特徴とする試験項目生成方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63047242A JPH01221962A (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 試験項目生成方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63047242A JPH01221962A (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 試験項目生成方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01221962A true JPH01221962A (ja) | 1989-09-05 |
Family
ID=12769757
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63047242A Pending JPH01221962A (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 試験項目生成方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01221962A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06205083A (ja) * | 1991-09-05 | 1994-07-22 | Mitsubishi Electric Corp | 試験データの仕様記述システム、作成システム、及び、解析システム |
WO2018011957A1 (ja) * | 2016-07-14 | 2018-01-18 | 三菱電機株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法及び情報処理プログラム |
CN108270640A (zh) * | 2017-09-09 | 2018-07-10 | 国网浙江省电力公司杭州供电公司 | 一种智能营配信息集成***信息互操作一致性测试方法 |
-
1988
- 1988-02-29 JP JP63047242A patent/JPH01221962A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH06205083A (ja) * | 1991-09-05 | 1994-07-22 | Mitsubishi Electric Corp | 試験データの仕様記述システム、作成システム、及び、解析システム |
WO2018011957A1 (ja) * | 2016-07-14 | 2018-01-18 | 三菱電機株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法及び情報処理プログラム |
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