JPH01219538A - 試験片亀裂観察装置 - Google Patents
試験片亀裂観察装置Info
- Publication number
- JPH01219538A JPH01219538A JP4481888A JP4481888A JPH01219538A JP H01219538 A JPH01219538 A JP H01219538A JP 4481888 A JP4481888 A JP 4481888A JP 4481888 A JP4481888 A JP 4481888A JP H01219538 A JPH01219538 A JP H01219538A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- test information
- image
- piece
- load
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005336 cracking Methods 0.000 title abstract 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 70
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 10
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000004154 testing of material Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
この発明は、材料の破壊しん性試験などにおいて、試験
に発生する亀裂の進展状態などを観察する試験片亀裂観
察装置に関する。
に発生する亀裂の進展状態などを観察する試験片亀裂観
察装置に関する。
B、従来技術
従来、この種の試験片亀裂観察装置としては、繰り返し
負荷などが作用している試験片の表面像をテレビカメラ
で撮像し、その映像をモニタテレビに映し出す装置があ
る。
負荷などが作用している試験片の表面像をテレビカメラ
で撮像し、その映像をモニタテレビに映し出す装置があ
る。
また、最近では、走査形電子顕微鏡(SEM)を用いて
、試験片の微細な亀裂進展状態を観察することができる
装置も開発されている。
、試験片の微細な亀裂進展状態を観察することができる
装置も開発されている。
C0発明が解決しようとする課題
しかしながら、上述した従来装置は試験片の表面像をモ
ニタテレビに単に映し出すだけのものであるため、例え
ば、そのときの負荷繰り返し回数、荷重、変形量などの
情報は、他の計測器の表示内容を確認しなければ判らな
い。
ニタテレビに単に映し出すだけのものであるため、例え
ば、そのときの負荷繰り返し回数、荷重、変形量などの
情報は、他の計測器の表示内容を確認しなければ判らな
い。
そのため、モニタテレビを観察しながら試験条件を確認
したい場合には、その都度、別の試験条件表示用の表示
器を見なければならないという煩わしさがある。また、
観察画像と試験条件とが個別に表示されるので、観察者
がこれらを同時に認識することができず、そのため、観
察画像と試験情報との同時性が保証されないという基本
的な問題点もある。
したい場合には、その都度、別の試験条件表示用の表示
器を見なければならないという煩わしさがある。また、
観察画像と試験条件とが個別に表示されるので、観察者
がこれらを同時に認識することができず、そのため、観
察画像と試験情報との同時性が保証されないという基本
的な問題点もある。
また、映し出された画像をハードコピーする際にも、上
述したような試験情報を別途書き込まなければならない
という煩わしさもある。
述したような試験情報を別途書き込まなければならない
という煩わしさもある。
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであ
って、試験片の観察画像とともに、そのときの試験情報
を容易に認識することができる試験片亀裂観察装置を提
供することを目的としている。
って、試験片の観察画像とともに、そのときの試験情報
を容易に認識することができる試験片亀裂観察装置を提
供することを目的としている。
00課題を解決するための手段
この発明は、上記課題を解決するために次のような構成
を備えている。
を備えている。
即ち、この発明に係る試験片亀裂観察装置は、試験片の
表面状態を撮像する撮像手段と、撮像中の試験情報を出
力する試験情報出力手段と、前記撮像手段からの映像信
号に前記試験情報出力手段からの試験情報を重畳させて
モニタテレビに映し出す画像処理手段とを備えたことを
特徴としている。
表面状態を撮像する撮像手段と、撮像中の試験情報を出
力する試験情報出力手段と、前記撮像手段からの映像信
号に前記試験情報出力手段からの試験情報を重畳させて
モニタテレビに映し出す画像処理手段とを備えたことを
特徴としている。
E9作用
この発明によれば、試験片の観察画像とともに、そのと
きの試験情報がモニタテレビに映し出される。
きの試験情報がモニタテレビに映し出される。
F、実施例
以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は、この発明の一実施例の構成の概略を示したブ
ロック図である。
ロック図である。
図中、符号Sは試験片である。試験片Sは、その表面状
態を撮像する撮像手段としての走査形顕微鏡(SEM)
10内にセットされている。試験片Sは、複動式の油圧
アクチュエータ12によって繰り返し負荷が作用される
。
態を撮像する撮像手段としての走査形顕微鏡(SEM)
10内にセットされている。試験片Sは、複動式の油圧
アクチュエータ12によって繰り返し負荷が作用される
。
試験片Sに加わる負荷荷重は、ロードセル14によって
検出され、その検出信号は、荷重アンプ16で増幅され
た後、A/D変換器18でデジタル信号に変換されて、
試験情報出力手段としての試験機制御B装置20に与え
られる。油圧アクチュエータ12のピストン変位は変位
検出器22で検出されて、その検出信号は変位増幅器2
4で増幅された後、A/D変換器26でデジタル信号に
変換されて、試験機制御装置20に与えられる。
検出され、その検出信号は、荷重アンプ16で増幅され
た後、A/D変換器18でデジタル信号に変換されて、
試験情報出力手段としての試験機制御B装置20に与え
られる。油圧アクチュエータ12のピストン変位は変位
検出器22で検出されて、その検出信号は変位増幅器2
4で増幅された後、A/D変換器26でデジタル信号に
変換されて、試験機制御装置20に与えられる。
試験機制御装置20は、試験片Sに設定すべき負荷荷重
と、ロードセル14によって検出された荷重とを比較し
、その偏差に応じた荷重信号aを出力するとともに、入
力された検出信号などに基づいて負荷荷重や負荷回数な
どの試験情報すを出力する。試験機制御装置20から出
力された荷重信号aは、D/A変換器28でアナログ信
号に変換された後、サーボアンプ30で増幅されてサー
ボ弁32に与えられることより、油圧アクチエエータ1
2へ供給される油量がコントロールされて、試験片Sに
設定荷重が作用するように構成されている。
と、ロードセル14によって検出された荷重とを比較し
、その偏差に応じた荷重信号aを出力するとともに、入
力された検出信号などに基づいて負荷荷重や負荷回数な
どの試験情報すを出力する。試験機制御装置20から出
力された荷重信号aは、D/A変換器28でアナログ信
号に変換された後、サーボアンプ30で増幅されてサー
ボ弁32に与えられることより、油圧アクチエエータ1
2へ供給される油量がコントロールされて、試験片Sに
設定荷重が作用するように構成されている。
走査形顕微鏡lO内の検出器11は、試験片Sから照射
された二次電子を検出する。この検出器11から出力さ
れた試験片Sの表面の走査信号(映像信号)Cは、ビデ
オアンプ34で増幅された後、A/D変換器36でデジ
タル信号に変換されて画像処理装置38に与えられる0
画像処理装置38は、試験片Sの観察画像に、試験機制
御装置20から与えられた、負荷回数や負荷荷重などの
試験情報すを重畳させて、モニタテレビ40に出力する
もので、具体的には、第2図に示すように、CPU38
1.CRTコントローラ382.データメモリ3831
画像メモリ384、キャラクタ・ジェネレータ385.
ビデオスイッチ386.D/A変換器387などから構
成されている。
された二次電子を検出する。この検出器11から出力さ
れた試験片Sの表面の走査信号(映像信号)Cは、ビデ
オアンプ34で増幅された後、A/D変換器36でデジ
タル信号に変換されて画像処理装置38に与えられる0
画像処理装置38は、試験片Sの観察画像に、試験機制
御装置20から与えられた、負荷回数や負荷荷重などの
試験情報すを重畳させて、モニタテレビ40に出力する
もので、具体的には、第2図に示すように、CPU38
1.CRTコントローラ382.データメモリ3831
画像メモリ384、キャラクタ・ジェネレータ385.
ビデオスイッチ386.D/A変換器387などから構
成されている。
以下、実施例の主要な動作を説明する。
画像処理装置38に与えられたれた試験片Sの表面の映
像信号(デジタル信号)Cは、CP U381の制御に
よって、画像メモリ384に格納される。
像信号(デジタル信号)Cは、CP U381の制御に
よって、画像メモリ384に格納される。
一方、試験機制御袋ff20から与えられた負荷荷重や
、負荷回数などの試験情報すは、データメモリ383に
格納される。
、負荷回数などの試験情報すは、データメモリ383に
格納される。
画像メモリ382に格納された映像信号は、CRTコン
トローラ382の制御によって順次に読み出され、ビデ
オスイッチ386を介して出力される。
トローラ382の制御によって順次に読み出され、ビデ
オスイッチ386を介して出力される。
この映像信号が、D/A変換器387でアナログ信号に
変換された後、モニタテレビ40に出力されることによ
って、モニタテレビ40上に試験片Sの観察画像が映し
出される。
変換された後、モニタテレビ40に出力されることによ
って、モニタテレビ40上に試験片Sの観察画像が映し
出される。
一方、モニタテレビ40の水平走査が所定の位置にきた
ときに、CRTコントローラ382からの制御信号によ
って、ビデオスイッチ386がキャラクタ・ジェネレー
タ385側に切り換えられる。その結果、データメモリ
383内に格納されていた試験情報すが、キャラクタ・
ジェネレータ385を介して文字パターンとして取り出
され、この文字パターンがビデオスイッチ386および
D/A変換器387を介して、モニタテレビ40に出力
される。
ときに、CRTコントローラ382からの制御信号によ
って、ビデオスイッチ386がキャラクタ・ジェネレー
タ385側に切り換えられる。その結果、データメモリ
383内に格納されていた試験情報すが、キャラクタ・
ジェネレータ385を介して文字パターンとして取り出
され、この文字パターンがビデオスイッチ386および
D/A変換器387を介して、モニタテレビ40に出力
される。
その結果、モニタテレビ40の画面には、第3図に示す
ように、試験片Sの亀裂部分の観察画像P1とともに、
負荷回数(CYCLE)表示P2や負荷荷重(LOAD
)表示P3さらには基準スケール24などが表示される
。
ように、試験片Sの亀裂部分の観察画像P1とともに、
負荷回数(CYCLE)表示P2や負荷荷重(LOAD
)表示P3さらには基準スケール24などが表示される
。
なお、上述の実施例では走査形電子顕微鏡によって得ら
れた観察画像に、試験情報を重畳させる場合を例にとっ
て説明したが、これはテレビカメラによって得られた観
察画像に試験情報を重畳させるものであってもよい。
れた観察画像に、試験情報を重畳させる場合を例にとっ
て説明したが、これはテレビカメラによって得られた観
察画像に試験情報を重畳させるものであってもよい。
また、試験情報としては、負荷回数や負荷荷重や基準ス
ケールに限られず、試験片Sの名称などの任意の情報を
観察画像に重畳させてもよい。
ケールに限られず、試験片Sの名称などの任意の情報を
観察画像に重畳させてもよい。
G0発明の効果
以上の説明から明らかなように、この発明に係る試験片
亀裂観察装置は、試験片の観察画像に、そのときの試験
情報を重畳してモニタテレビに映し出すようにしたから
、観察画像と試験情報とをを同時に見ることができて、
試験管理上たいへん便利である。また、観察画像をハー
ドコピーする場合においても、試験情報がいっしょにコ
ピーされるから、改めて試験情報を書き込む手間が省け
て好都合である。
亀裂観察装置は、試験片の観察画像に、そのときの試験
情報を重畳してモニタテレビに映し出すようにしたから
、観察画像と試験情報とをを同時に見ることができて、
試験管理上たいへん便利である。また、観察画像をハー
ドコピーする場合においても、試験情報がいっしょにコ
ピーされるから、改めて試験情報を書き込む手間が省け
て好都合である。
第1図〜第3図はこの発明の一実施例に係る試験片亀裂
観察装置の説明図であり、第1図はその概略ブロック図
、第2図は画像処理装置の概略ブロック図、第3図はモ
ニタテレビに映し出された観察画像および試験情報を示
している。 lO・・・走査形電子顕微鏡(撮像手段)20・・・試
験機制御装置(試験情報出力手段)38・・・画像処理
装置(画像処理手段)40・・・モニタテレビ 第2図 第3図
観察装置の説明図であり、第1図はその概略ブロック図
、第2図は画像処理装置の概略ブロック図、第3図はモ
ニタテレビに映し出された観察画像および試験情報を示
している。 lO・・・走査形電子顕微鏡(撮像手段)20・・・試
験機制御装置(試験情報出力手段)38・・・画像処理
装置(画像処理手段)40・・・モニタテレビ 第2図 第3図
Claims (1)
- (1)試験片の表面状態を撮像する撮像手段と、撮像中
の試験情報を出力する試験情報出力手段と、前記撮像手
段からの映像信号に前記試験情報出力手段からの試験情
報を重畳させてモニタテレビに映し出す画像処理手段と
を備えたことを特徴とする試験片亀裂観察装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4481888A JPH01219538A (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 試験片亀裂観察装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4481888A JPH01219538A (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 試験片亀裂観察装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01219538A true JPH01219538A (ja) | 1989-09-01 |
Family
ID=12702022
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4481888A Pending JPH01219538A (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 試験片亀裂観察装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01219538A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010092665A1 (ja) * | 2009-02-10 | 2010-08-19 | 株式会社ヒューブレイン | 光発電セル検査装置 |
USD934633S1 (en) | 2018-11-08 | 2021-11-02 | Yeti Coolers, Llc | Cup |
USD935278S1 (en) | 2018-11-09 | 2021-11-09 | Yeti Coolers, Llc | Cup |
USD997654S1 (en) | 2014-08-29 | 2023-09-05 | Yeti Coolers, Llc | Beverage holder |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5918651A (ja) * | 1982-07-22 | 1984-01-31 | Toshiba Corp | 半導体ウエハ製造方法 |
JPS6131809A (ja) * | 1984-07-23 | 1986-02-14 | Toho Gas Kk | 加熱炉における加熱方法 |
-
1988
- 1988-02-26 JP JP4481888A patent/JPH01219538A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5918651A (ja) * | 1982-07-22 | 1984-01-31 | Toshiba Corp | 半導体ウエハ製造方法 |
JPS6131809A (ja) * | 1984-07-23 | 1986-02-14 | Toho Gas Kk | 加熱炉における加熱方法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010092665A1 (ja) * | 2009-02-10 | 2010-08-19 | 株式会社ヒューブレイン | 光発電セル検査装置 |
JP5261505B2 (ja) * | 2009-02-10 | 2013-08-14 | サムスンテックウィン株式会社 | 光発電セル検査装置 |
USD997654S1 (en) | 2014-08-29 | 2023-09-05 | Yeti Coolers, Llc | Beverage holder |
USD934633S1 (en) | 2018-11-08 | 2021-11-02 | Yeti Coolers, Llc | Cup |
USD935278S1 (en) | 2018-11-09 | 2021-11-09 | Yeti Coolers, Llc | Cup |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2588050B2 (ja) | 超音波映像検査装置 | |
US20050145792A1 (en) | Electron microscope | |
JPH01219538A (ja) | 試験片亀裂観察装置 | |
JP3334021B2 (ja) | 画像処理方法およびその方法を用いた画像処理システム | |
JP3036444B2 (ja) | 収束電子線回折図形を用いた格子歪み評価方法および評価装置 | |
JPH1167136A (ja) | 荷電粒子装置及び荷電粒子装置ネットワークシステム | |
JPH04175648A (ja) | 螢光x線分析装置 | |
JPH0334249A (ja) | 電子線マイクロアナライザー | |
KR970003744A (ko) | 고체촬상소자의 결함 자동판별장치 | |
KR100282000B1 (ko) | 듀얼 비젼 윈도우를 갖는 검사 시스템 및 듀얼 비젼 윈도우 표시방법 | |
JP2939323B2 (ja) | 非金属介在物検査方法並びに非金属介在物検査装置 | |
JPS63214642A (ja) | 亀裂試験装置の亀裂進展追跡装置 | |
JP2002130054A (ja) | 試験のデータ表示装置 | |
JP2002160161A (ja) | ブラスト装置における剥離能力評価方法 | |
JPH03278184A (ja) | 検査装置 | |
JP2660310B2 (ja) | X線テレビジョン透視装置 | |
JPH1038547A (ja) | 表面検査装置 | |
JPH03278188A (ja) | 検査装置 | |
JPH04337235A (ja) | 走査型電子顕微鏡 | |
JPS5910217B2 (ja) | Ct装置 | |
JPH0413901A (ja) | 探針先端形状識別機能付き走査型トンネル顕微鏡及び探針先端形状識別方法 | |
JPH0981735A (ja) | 印刷物の目視検査補助装置 | |
JPH041458B2 (ja) | ||
JPS60209063A (ja) | 織編生地の密度測定方法 | |
JPH02265144A (ja) | Crtのフォーカス測定装置 |