JPH01205465A - 固体撮像装置及びその製造方法 - Google Patents
固体撮像装置及びその製造方法Info
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- JPH01205465A JPH01205465A JP63029715A JP2971588A JPH01205465A JP H01205465 A JPH01205465 A JP H01205465A JP 63029715 A JP63029715 A JP 63029715A JP 2971588 A JP2971588 A JP 2971588A JP H01205465 A JPH01205465 A JP H01205465A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は受光部及び電荷転送部を有した固体撮像装置及
びその製造方法に関し、特に画素数が数十万画素以上の
集積度の高い固体撮像装置及びその製造方法に関する。
びその製造方法に関し、特に画素数が数十万画素以上の
集積度の高い固体撮像装置及びその製造方法に関する。
本発明は、受光部及び電荷転送部が設けられる固体撮像
装置において、第1の基板に受光部、第2の基板に電荷
転送部がそれぞれ設けられ、その第2の基板が第1の基
板の裏面に張り合わされると共に、上記受光部からの電
荷を第1の基板を貫通して上記電荷転送部に転送するよ
うにすることにより、高密度に各画素が配置されるよう
にしたものである。また、さらに本発明は、そのような
固体撮像装置を製造する方法にかかり、第1の基板の各
受光素子毎に貫通電荷取り出し領域を設Jlると共にそ
の貫通電荷取り出し領域に対応した第1の電極を設+J
る工程と、第2の基板には一ヒ記第]の電極に対応した
第2の電極及び電荷転送部を形成ずろ工程と、両端板の
画電極を張り合わせる工程とによって、高密度の固体1
最像装置を製造する方法である。
装置において、第1の基板に受光部、第2の基板に電荷
転送部がそれぞれ設けられ、その第2の基板が第1の基
板の裏面に張り合わされると共に、上記受光部からの電
荷を第1の基板を貫通して上記電荷転送部に転送するよ
うにすることにより、高密度に各画素が配置されるよう
にしたものである。また、さらに本発明は、そのような
固体撮像装置を製造する方法にかかり、第1の基板の各
受光素子毎に貫通電荷取り出し領域を設Jlると共にそ
の貫通電荷取り出し領域に対応した第1の電極を設+J
る工程と、第2の基板には一ヒ記第]の電極に対応した
第2の電極及び電荷転送部を形成ずろ工程と、両端板の
画電極を張り合わせる工程とによって、高密度の固体1
最像装置を製造する方法である。
CCI)(電荷結合素子)等の構造を有する固体撮像装
置ては、画素を高密度に配置する要求があり、そのため
に、単に画素′リーイズを小さくして多画素化しただi
Jては、受光面積が縮小化した分だり取り扱い電荷量が
小さくなり、その分の感度が劣化する。
置ては、画素を高密度に配置する要求があり、そのため
に、単に画素′リーイズを小さくして多画素化しただi
Jては、受光面積が縮小化した分だり取り扱い電荷量が
小さくなり、その分の感度が劣化する。
そこ−(、従来、受光部の開口率を大きく採るために、
電荷転送部の上層に受光部を設りた積層構造とするもの
や、微小な集光レンズ等を受光部の受光素子に対して配
列した構造のものがある。また、開口率の低下もなく、
過剰−)−ヤリアを吸収してブルーミングの問題を解決
する技術としては、縦型オーバーフロー]・レイン技術
かある。
電荷転送部の上層に受光部を設りた積層構造とするもの
や、微小な集光レンズ等を受光部の受光素子に対して配
列した構造のものがある。また、開口率の低下もなく、
過剰−)−ヤリアを吸収してブルーミングの問題を解決
する技術としては、縦型オーバーフロー]・レイン技術
かある。
しかしなから、積層型構造や集光[/ンス等を積層した
構造の固体撮像装置てあっても、その茜密度化が容易で
はない。
構造の固体撮像装置てあっても、その茜密度化が容易で
はない。
すなわち、積層型構造の場合には、L層に複数の受光素
子を配列した受光部を設けろことで、それたり各受光素
子の開し]率を人きくするごとがてきる。しかし、受光
部をソリコン基板等の半導体結晶領域に形成することが
困難であり、十分な感度か(i)られない。また、微小
な集光レンス笠を受光部に設りた場合や縦型オーバーフ
ロートレイン技術を用いた場合でも、基板トには電荷転
送部が設けられ、開口率を向上さ・Uるに&;1111
1J度かある。
子を配列した受光部を設けろことで、それたり各受光素
子の開し]率を人きくするごとがてきる。しかし、受光
部をソリコン基板等の半導体結晶領域に形成することが
困難であり、十分な感度か(i)られない。また、微小
な集光レンス笠を受光部に設りた場合や縦型オーバーフ
ロートレイン技術を用いた場合でも、基板トには電荷転
送部が設けられ、開口率を向上さ・Uるに&;1111
1J度かある。
そこで、本発明目高密度に受光素子を配置し且つ十分な
感度の得られる固体撮像装置及びその製造方法を提供す
ることを「1的とする。
感度の得られる固体撮像装置及びその製造方法を提供す
ることを「1的とする。
〔課題を解決するための手段]
上1i1eの目的を達成するために、本発明の固体撮像
装置ε1、第1の基板表面に受光部が設のられ、該第]
の基板と張り合わされた第2の基板に電荷転送部が設け
られてなり、」二記受光部からの電荷しI該第]の基板
を貫通して十記電荷転送部に転送されることを特徴とす
る。
装置ε1、第1の基板表面に受光部が設のられ、該第]
の基板と張り合わされた第2の基板に電荷転送部が設け
られてなり、」二記受光部からの電荷しI該第]の基板
を貫通して十記電荷転送部に転送されることを特徴とす
る。
また、本発明の固体撮像装置の製造方法は、第1の基板
の表面に複数の受光素子を形成し、各受光素子毎に該第
1の基板を貫通ずる貫通電荷取り出し領域を設け、該第
1の基板の裏面に該貫通電荷取り出し領域に対応した第
1の電極を形成する]上程と、第2の基板の表面に上記
第1の電極に対応する位置で第2の電極を形成すると共
に、該第2の基板に該第2の電極からの電荷を転送して
出力する電荷転送部を形成する工程と、上記第1の基板
の裏面の第1の電極と、上記第2の基板の表面の第2の
電極とを張り合わせる工程とによって、」−9述の課題
を解決する。
の表面に複数の受光素子を形成し、各受光素子毎に該第
1の基板を貫通ずる貫通電荷取り出し領域を設け、該第
1の基板の裏面に該貫通電荷取り出し領域に対応した第
1の電極を形成する]上程と、第2の基板の表面に上記
第1の電極に対応する位置で第2の電極を形成すると共
に、該第2の基板に該第2の電極からの電荷を転送して
出力する電荷転送部を形成する工程と、上記第1の基板
の裏面の第1の電極と、上記第2の基板の表面の第2の
電極とを張り合わせる工程とによって、」−9述の課題
を解決する。
r作用]
本発明の固体撮像装置では、第1の基板表面に受光部が
形成され、電荷転送部は異なる基板である第2の基板に
形成される。そして、第1の基板を貫通して電荷を転送
できる構成とするごとにより、二つの基板を張り合わセ
で装置を構成しても受光部から電荷転送部への電荷の転
送が可能となる。このため第1の基板」二にむ1受光素
子のみを配列させることができる。
形成され、電荷転送部は異なる基板である第2の基板に
形成される。そして、第1の基板を貫通して電荷を転送
できる構成とするごとにより、二つの基板を張り合わセ
で装置を構成しても受光部から電荷転送部への電荷の転
送が可能となる。このため第1の基板」二にむ1受光素
子のみを配列させることができる。
また、本発明の固体撮像装置の製造方法においては、第
1の基板に第1の電極を設(」、さらに第2の基板に第
2の電極を設けて、これらを張り合わ−lる。このため
、上述のような固体撮像装置を容易に製造することがで
きる。
1の基板に第1の電極を設(」、さらに第2の基板に第
2の電極を設けて、これらを張り合わ−lる。このため
、上述のような固体撮像装置を容易に製造することがで
きる。
本発明の好適な実施例を図面を参照しながら説明する。
第1の実施例
木実力m例は、2つの基板の張り合わせ構造によってC
CDを構成した例である。
CDを構成した例である。
その構造の第1の基板10側は、第1図に示すように、
P型のシリコン基板である第1の基板10の表面]、
Oaに、受光部を構成する受光素子となり柱つ複数の画
素に対応したN−型の不純物領域12か形成されている
。上記表面10 a I、Jシリコン酸化膜13が形成
され、このシリコン酸化膜13+:I上記表面]、 O
aの保護膜として機能する。
P型のシリコン基板である第1の基板10の表面]、
Oaに、受光部を構成する受光素子となり柱つ複数の画
素に対応したN−型の不純物領域12か形成されている
。上記表面10 a I、Jシリコン酸化膜13が形成
され、このシリコン酸化膜13+:I上記表面]、 O
aの保護膜として機能する。
各N−型の不純物領域]2の下部からは、第1の基板1
0を貫通ずるような溝部13がそれぞれ形成されている
。これら溝部13ば、それぞれ基板10の主面に対して
垂直な方向に該基板10を貫通ずるように形成され、該
溝部13の上端は上記各N−型の不純物1】M域I2に
電気的に接続する。
0を貫通ずるような溝部13がそれぞれ形成されている
。これら溝部13ば、それぞれ基板10の主面に対して
垂直な方向に該基板10を貫通ずるように形成され、該
溝部13の上端は上記各N−型の不純物1】M域I2に
電気的に接続する。
これら)14部13の内部には、例えば選択エピクキソ
ヤル成長法によって形成された貫通電荷取り出し領域1
4がそれぞれ設りられている。これら貫通電荷取り出し
領域14はN−型の領域とされ、これら各貫通電荷取り
出し領域14の中央部には、その貫通電荷取り出し領域
14による溝を埋めるように例えば多結晶シリコン層か
らなる充@NI5が形成されている。
ヤル成長法によって形成された貫通電荷取り出し領域1
4がそれぞれ設りられている。これら貫通電荷取り出し
領域14はN−型の領域とされ、これら各貫通電荷取り
出し領域14の中央部には、その貫通電荷取り出し領域
14による溝を埋めるように例えば多結晶シリコン層か
らなる充@NI5が形成されている。
上記各N−型の不純物領域12の下部から第1の基板1
0を貫通して設DJられた各t’1通電通電荷出し領域
14及び充填層15の下部には、さらに複数の第1の電
極21か設りられている。これら第1の電極21は、上
記第1の基板10の裏面]obに設Gjられた層間絶縁
膜16の一部を、」上記名貫通電荷取り出し領域I4に
対応して開口したところでそれぞれ突出するよ・うに形
成されている。
0を貫通して設DJられた各t’1通電通電荷出し領域
14及び充填層15の下部には、さらに複数の第1の電
極21か設りられている。これら第1の電極21は、上
記第1の基板10の裏面]obに設Gjられた層間絶縁
膜16の一部を、」上記名貫通電荷取り出し領域I4に
対応して開口したところでそれぞれ突出するよ・うに形
成されている。
これら第1の電極21は、例えばアルミニコーム等の金
属+A11tによって形成されている。
属+A11tによって形成されている。
次に、第2の基板11例の構造は、1)型のソリコン基
板である該第2の基板11の表面に臨んで複数のN−型
の不純物領域31が形成されている。
板である該第2の基板11の表面に臨んで複数のN−型
の不純物領域31が形成されている。
これらN−型の不純物領域31上には、層間絶縁膜35
を開口した開口部36が形成され、それら開口部36内
から突出するように、第2の電極22が形成されている
。そして、これら第2の電極22は、それぞれ」−記第
1の基板10の裏面から突出する」−記第1の電極21
と突き合わされて接続している。このような第2の電極
22の下部のN−型の不純物領域31に隣接した領域に
は、電荷転送部が形成される。電荷転送部は読み出しデ
ー1−電極33と、転送電極34が形成され、−」上記
転送電極34の下部の」−記第2の基板11の主面には
ケート絶縁膜を介してN−型の不純物領域32か形成さ
れる。
を開口した開口部36が形成され、それら開口部36内
から突出するように、第2の電極22が形成されている
。そして、これら第2の電極22は、それぞれ」−記第
1の基板10の裏面から突出する」−記第1の電極21
と突き合わされて接続している。このような第2の電極
22の下部のN−型の不純物領域31に隣接した領域に
は、電荷転送部が形成される。電荷転送部は読み出しデ
ー1−電極33と、転送電極34が形成され、−」上記
転送電極34の下部の」−記第2の基板11の主面には
ケート絶縁膜を介してN−型の不純物領域32か形成さ
れる。
上述の構造を有する本実施例の固体撮像装置は、上記第
]の基板11の受光部に光が入射し、上記N−型の不純
物領域12を用いて光電変換される。
]の基板11の受光部に光が入射し、上記N−型の不純
物領域12を用いて光電変換される。
光から変化した電荷は、上記貫通電荷取り出し領域14
及び充填層15を介して上記第1の電極21に送られる
。ここで、第1の電極21は第2の電極22と張り合わ
されて電気的に接続しており、従って、」上記電荷は第
1の電極21から第2の電1萌22に至る。上記第2の
電極22は上記N−型の不純物領域31に接続しており
、」上記読み出しケーI−電極33.lx記転送電極3
4の動作によって、」1記光電変換された電荷は順次転
送されて読のだされて行くごとになる。
及び充填層15を介して上記第1の電極21に送られる
。ここで、第1の電極21は第2の電極22と張り合わ
されて電気的に接続しており、従って、」上記電荷は第
1の電極21から第2の電1萌22に至る。上記第2の
電極22は上記N−型の不純物領域31に接続しており
、」上記読み出しケーI−電極33.lx記転送電極3
4の動作によって、」1記光電変換された電荷は順次転
送されて読のだされて行くごとになる。
このような機能を有し7た本実施例の固体撮像装置は、
受光部と電荷転送部かそれぞれ第1の基板10と第2の
基板11に別れて形成される。このため受光部におりる
各受光素子の開[」率を高くすることができ、また、結
晶性の良好な半導体基板を用いて光電変換されることか
ら、その感度を高めることができる。また、取り扱い電
荷量が増加するために、感度の劣化なくしての高密度化
か可能である。−例としては、50万画素程度のものは
容易に得られることになる。また、第1の基板10と第
2の基板11は張り合わされて構成されるものであるた
めに、製造時に番才、それぞれ第1の基板10と第2の
基板11を独立した工程で形成することができ、高密度
化や生産性向」−に好適である。
受光部と電荷転送部かそれぞれ第1の基板10と第2の
基板11に別れて形成される。このため受光部におりる
各受光素子の開[」率を高くすることができ、また、結
晶性の良好な半導体基板を用いて光電変換されることか
ら、その感度を高めることができる。また、取り扱い電
荷量が増加するために、感度の劣化なくしての高密度化
か可能である。−例としては、50万画素程度のものは
容易に得られることになる。また、第1の基板10と第
2の基板11は張り合わされて構成されるものであるた
めに、製造時に番才、それぞれ第1の基板10と第2の
基板11を独立した工程で形成することができ、高密度
化や生産性向」−に好適である。
なお、本発明の固体撮像装置の電荷転送部や受光部の構
造については、−」二連の実施例に限定されず、種々の
変更が可能である。
造については、−」二連の実施例に限定されず、種々の
変更が可能である。
第2の実施例
本実施例は、上述のような固体撮像装置の製造方法であ
り、本実施例を第2図a〜第2図C1第3図a〜第3図
すおよび第4回を参照しながら説明する。
り、本実施例を第2図a〜第2図C1第3図a〜第3図
すおよび第4回を参照しながら説明する。
まず、受光部を有する第1の基板側の製造工程について
は、第2図aに示すように、例えばP型のシリコン基板
である第1の基板41の表面41aに、不純物を導入し
て各画素に対応した受光素子となる複数のN−型の不純
物領域42を形成する。これら第]の基板41の表面4
1aには、シリコン酸化膜43が被覆される。
は、第2図aに示すように、例えばP型のシリコン基板
である第1の基板41の表面41aに、不純物を導入し
て各画素に対応した受光素子となる複数のN−型の不純
物領域42を形成する。これら第]の基板41の表面4
1aには、シリコン酸化膜43が被覆される。
続いて、]二上記第の基板41の裏面41bより、溝部
/ldを形成する。この溝部44の形成は、例えばRI
E法等によって行うことができ、上記第1の基板41を
貫通して上記N−型の不純物領域42に至るよ・うな深
さに形成される。ずなわち、ごれら溝部44の位置は、
−に記複数のN−型の不鈍物領域42の位置に対応して
いる。このような溝部44の形成の後、第211bに示
すように、第1の基板41の裏面全面に、選択エピタキ
シャル成長法により、N−型の不純物を含有したエピタ
キシャル層45を形成する。ごのエピタキシャル層45
は、貫通電荷取り出し領域として機能する。
/ldを形成する。この溝部44の形成は、例えばRI
E法等によって行うことができ、上記第1の基板41を
貫通して上記N−型の不純物領域42に至るよ・うな深
さに形成される。ずなわち、ごれら溝部44の位置は、
−に記複数のN−型の不鈍物領域42の位置に対応して
いる。このような溝部44の形成の後、第211bに示
すように、第1の基板41の裏面全面に、選択エピタキ
シャル成長法により、N−型の不純物を含有したエピタ
キシャル層45を形成する。ごのエピタキシャル層45
は、貫通電荷取り出し領域として機能する。
また、このとき、溝内部のエピタキシャル層45の中心
部に良好な結晶性を有する領域が形成されない場合があ
り、その場合には、所要の導電材料例えば多結晶シリコ
ン層等を充填して充填層4Gを形成することができる。
部に良好な結晶性を有する領域が形成されない場合があ
り、その場合には、所要の導電材料例えば多結晶シリコ
ン層等を充填して充填層4Gを形成することができる。
なお、その時、酸化等の手段により結晶性の劣化した部
分を除去するようQこしても良い。
分を除去するようQこしても良い。
このようなエピタキシャル層45を形成した後、第2図
Cに示すように、上記エピタキシャル層45を各画素に
対応してパターニングし、上記第1の基板41の裏面/
Ilb側で、各画素毎の領域になるように分離して貫通
電荷取り出し領域4日を形成する。続いて、その貫通電
荷取り出し領域48に層間絶縁膜47を形成し、その層
間絶に3膜4]2 7を開[」シて開口部49を得る。さらに、上記第2の
基板4■の裏面41b全面に、アルミ配線層を形成し、
これを上記開口部49毎に電極を形成するようにパター
ニングし、各画素に対応した位置に配設される第1の電
極50を形成する。
Cに示すように、上記エピタキシャル層45を各画素に
対応してパターニングし、上記第1の基板41の裏面/
Ilb側で、各画素毎の領域になるように分離して貫通
電荷取り出し領域4日を形成する。続いて、その貫通電
荷取り出し領域48に層間絶縁膜47を形成し、その層
間絶に3膜4]2 7を開[」シて開口部49を得る。さらに、上記第2の
基板4■の裏面41b全面に、アルミ配線層を形成し、
これを上記開口部49毎に電極を形成するようにパター
ニングし、各画素に対応した位置に配設される第1の電
極50を形成する。
なお、溝部44や貫通電荷取り出し領域48を形成した
後、受光部を構成するN−型の不純物領域42を形成し
ても良い。
後、受光部を構成するN−型の不純物領域42を形成し
ても良い。
次に、第3図a及び第3図すを参照しながら、電荷転送
部を有する第2の基板51側について説明すると、まず
、第3図aに示すように、第2の基板51の工面に臨ん
で、N−型の不純物領域52.53が形成され、その上
部にはゲーI・絶縁膜を介して読み出しゲーI・電極5
4.転送電極55等が形成される。」上記N−型の不純
物領+A52は、各画素Qこ対応した位置に形成され、
上記読の出しケ−1・電極54.転送電極55等は層間
絶縁膜58に被覆される。
部を有する第2の基板51側について説明すると、まず
、第3図aに示すように、第2の基板51の工面に臨ん
で、N−型の不純物領域52.53が形成され、その上
部にはゲーI・絶縁膜を介して読み出しゲーI・電極5
4.転送電極55等が形成される。」上記N−型の不純
物領+A52は、各画素Qこ対応した位置に形成され、
上記読の出しケ−1・電極54.転送電極55等は層間
絶縁膜58に被覆される。
さらに、第3図すに示すように、上記N−型の不純物領
域52の上部が開口され開口部56が形成される。続い
て、その開LI部56にアルミ配線層が形成され、その
アルミ配線層がパターニングされて第2の電極57が上
記開口部56がら突設するように形成される。これら突
設されて形成される第2の電極57は、各画素に対応し
たものとなる。
域52の上部が開口され開口部56が形成される。続い
て、その開LI部56にアルミ配線層が形成され、その
アルミ配線層がパターニングされて第2の電極57が上
記開口部56がら突設するように形成される。これら突
設されて形成される第2の電極57は、各画素に対応し
たものとなる。
これら別個の工程にて、第1の基板41の表面に受光部
を形成すると共に裏面に第1の電極5゜を形成し、第2
の基板51に電荷転送部及び第2の電極57を形成した
ところで、第4図に示すように、両基板41.51の張
り合わせを行う。両基板41.51の張り合わせは、上
記第1の電極50と、第2の電極57の同し画素に対応
した電極同士をもって張り合わせる。
を形成すると共に裏面に第1の電極5゜を形成し、第2
の基板51に電荷転送部及び第2の電極57を形成した
ところで、第4図に示すように、両基板41.51の張
り合わせを行う。両基板41.51の張り合わせは、上
記第1の電極50と、第2の電極57の同し画素に対応
した電極同士をもって張り合わせる。
このように別個の工程において、それぞれの基板に受光
部と電荷転送部を個別に形成し、これらを各電極50.
57を利用して張り合わせる方法によって、容易に高密
度、高感度の固体撮像装置を製造することができる。
部と電荷転送部を個別に形成し、これらを各電極50.
57を利用して張り合わせる方法によって、容易に高密
度、高感度の固体撮像装置を製造することができる。
なお、本発明は上述の実施例に限定されることなく、そ
の要旨を逸脱しない範囲での種々の変更が可能である。
の要旨を逸脱しない範囲での種々の変更が可能である。
[発明の効果〕
本発明の固体撮像装置においては、第1の基板に受光部
か形成され、第2の暴仮に電荷転送部が形成される。こ
のため受光素子の開口率を高くすることかでき、同時に
結晶性の良好な基板を利用して受光素子を形成している
ために、高密度化と共に高感度化を図ることができる。
か形成され、第2の暴仮に電荷転送部が形成される。こ
のため受光素子の開口率を高くすることかでき、同時に
結晶性の良好な基板を利用して受光素子を形成している
ために、高密度化と共に高感度化を図ることができる。
また、製造方法においては、第1の基板に貫通電荷取り
出し領域を設り、第1及び第2の電極を以て張り合わせ
る構造とすることにより、容易に上述の固体撮像装置を
製造することが可能となる。
出し領域を設り、第1及び第2の電極を以て張り合わせ
る構造とすることにより、容易に上述の固体撮像装置を
製造することが可能となる。
第1図は本発明の固体撮像装置の一例の概略断面図、第
2図a〜第2図Cは本発明の固体撮像装置の製造方法の
一例の第1の基板にかかるそれぞれ工程断面図、第3図
a及び第3図すは本発明の固体撮像装置の製造方法の一
例の第2の基板にかかるそれぞれ工程断面図、第4図番
J木発明の固体撮像装置の製造方法の一例の上記両基板
の張り合わせ工程にかかる工程断面図である。 10.41・・・第1の基板 11.51・・・第2の基板 ]、4.48・・・貫通電荷取り出し領域21.50・
・・第1の電極 22.57・・・第2の電極 特許出願人 ソニー株式会社 代理人弁理士 小池 晃(他2名) m ぢ 8 巧
2図a〜第2図Cは本発明の固体撮像装置の製造方法の
一例の第1の基板にかかるそれぞれ工程断面図、第3図
a及び第3図すは本発明の固体撮像装置の製造方法の一
例の第2の基板にかかるそれぞれ工程断面図、第4図番
J木発明の固体撮像装置の製造方法の一例の上記両基板
の張り合わせ工程にかかる工程断面図である。 10.41・・・第1の基板 11.51・・・第2の基板 ]、4.48・・・貫通電荷取り出し領域21.50・
・・第1の電極 22.57・・・第2の電極 特許出願人 ソニー株式会社 代理人弁理士 小池 晃(他2名) m ぢ 8 巧
Claims (2)
- (1)第1の基板表面に受光部が設けられ、該第1の基
板と張り合わされた第2の基板に電荷転送部が設けられ
てなり、上記受光部からの電荷は該第1の基板を貫通し
て上記電荷転送部に転送されることを特徴とする固体撮
像装置。 - (2)第1の基板の表面に複数の受光素子を形成し、各
受光素子毎に該第1の基板を貫通する貫通電荷取り出し
領域を設け、該第1の基板の裏面に該貫通電荷取り出し
領域に対応した第1の電極を形成する工程と、 第2の基板の表面に上記第1の電極に対応する位置で第
2の電極を形成すると共に、該第2の基板に該第2の電
極からの電荷を転送して出力する電荷転送部を形成する
工程と、 上記第1の基板の裏面の第1の電極と、上記第2の基板
の表面の第2の電極とを張り合わせる工程とからなる固
体撮像装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63029715A JPH01205465A (ja) | 1988-02-10 | 1988-02-10 | 固体撮像装置及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63029715A JPH01205465A (ja) | 1988-02-10 | 1988-02-10 | 固体撮像装置及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01205465A true JPH01205465A (ja) | 1989-08-17 |
Family
ID=12283806
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63029715A Pending JPH01205465A (ja) | 1988-02-10 | 1988-02-10 | 固体撮像装置及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01205465A (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1988
- 1988-02-10 JP JP63029715A patent/JPH01205465A/ja active Pending
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