JPH01205071A - 多層膜形成装置 - Google Patents

多層膜形成装置

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Publication number
JPH01205071A
JPH01205071A JP63028836A JP2883688A JPH01205071A JP H01205071 A JPH01205071 A JP H01205071A JP 63028836 A JP63028836 A JP 63028836A JP 2883688 A JP2883688 A JP 2883688A JP H01205071 A JPH01205071 A JP H01205071A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
targets
target
film
substrate
sputtering
Prior art date
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Pending
Application number
JP63028836A
Other languages
English (en)
Inventor
Akio Tago
田子 章男
Keiichi Yanagisawa
佳一 柳沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分腎] 本発明は多層1摸形成装置に関し、特にイオンビームス
パッタ法により金属膜、絶縁膜等を基板上に多層に形成
する場合に、ブリスパッタを効率よく行い得る構造を持
つ多層膜形成装置に関するものである。
[従来の技術1 まず、4層の膜を基板上に形成する場合を例にとり説明
する。
従来の多層膜形成装置の一例を第5図に示す。
排気系22を有するチャンバ21内にターゲットホルダ
4が設けられている。イオンビームスパッタ装置を用い
て多層膜を形成する場合、図示するように、イオンガン
1で作られたイオンビーム3がグリッド2から第1のタ
ーゲット5に照射され、スパッタされた粒子が基板15
に付着する構造であ)たため、膜形成に先立ち第1のタ
ーゲット5の表面を清浄にするためのブリスパッタを行
う間、シャッタ16で基板を覆う必要があった。
さらに、次の第2のターゲット6の膜を基板上に形成す
る場合は、ターゲットホルダ4を左に回転させてターゲ
ット6がイオンビームに当たる位置とした後、シャッタ
16を閉じてブリスパッタを行ってからターゲット6の
膜を形成していた。以後、ターゲット7とターゲット8
の膜を形成する場合も同様である。
[発明が解決しようとする課題] 従って、従来の装置においては、多層膜を形成するに際
してターゲットを回転させる毎にブリスパッタの時間が
余分にかかるのみならず、基板上でシャッタを開閉する
必要があった。
本発明の目的は、膜形成時に次に堆積すべき膜のターゲ
ットのブリスパッタを同時に行うと共に、基板上のシャ
ツタ板の開閉を最初の膜形成前のみの1回ですむように
し、多層膜を連続的に効率よく行うイオンビームスパッ
タ装置を提供することにある。
[課題を解決するだめの手段] このような目的を達成するために、本発明は基板上に多
層膜を形成する装置において、複数のターゲットを装着
でき、かつ回転可能なターゲットホルダと、ターゲット
ボルダに装着された複数のターゲットのうち相隣る2個
のターゲットに同時にイオンビームを照射するための少
なくとも1個のイオンガンと、2個のターゲットからス
パッタされた粒子のうち、一方のターゲットからのスパ
ッタ粒子が基板に到達するのを妨げるための隔壁とを具
えたことを特徴とする。
[作 用] 本発明においては、隣接する相異なるターゲットの中間
点付近とイオンビームの照射方向とを結ぶ位置に隔壁が
設けられ、イオンビームがそれぞれ独立に2個以上のタ
ーゲットに照射される。このため、多層膜を形成する場
合の形成時間の短縮を図ることができ、シャッタの開閉
を第1の膜のブリスパッタ時のみの1回とすること、が
できる。
[実施例] 以下に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の第1の実施例を示す図であって、装置
にはチャンバ21.真空排気系22の他、2個のイオン
ガン1および51が設備されている。第1のスパッタ用
ガン1で作製されたイオンはグリッド2を通り、イオン
ビーム3となって第1の膜形成用ターゲット5に照射さ
れる。第1の膜形成前にはブリスパッタの必要があるた
め、シャッタ16を閉じておく。所定のプリスパッタの
後、シャッタを開いて基板15上に膜を所定の厚さに形
成する。ここまでの工程中、第2の膜形成用ターゲット
に同時にプリスパッタを行うための第2のガン51でイ
オンを作製し、グリッド52からイオンビーム53を第
2の膜形成用ターゲット6に照射する。
ターゲット5とターゲット6を照射するイオンによりス
パッタされた粒子が同時に基板上に飛来するのを避ける
ため、第1のガン1と第2のガン51の中間付近とター
ゲット5とターゲット6とを結ぶ位置に隔壁13が用意
されている。このためターゲット6からスパッタされた
粒子は基板15には到達しないので、基板にはターゲッ
ト5からの粒子のみが堆積する。
次に、基板上に第2の膜を形成するために、ターゲット
ホルダ4を回転して第1のガンのビームが第2の膜形成
用ターゲット6に当たるようにする。この時第3の膜形
成用ターゲット7は第2のブリスパッタ用ガン51から
のイオンビームが照射されるようになる。この工程中、
第2の膜形成用ターゲット6はすでに十分ブリスパッタ
されているので、シャッタ16は開いたまま即座に第2
の膜を基板15上に形成できる。
同様にして第3.第4の膜も形成される。またこの4層
の膜を繰り返して積層させた膜もこの工程を繰り返して
行えば形成可能である。
第2図は本発明の他の実施例を示すものである。
この場合、第1の膜形成用のターゲット5のスパッタ用
イオンビームと、S2の膜形成用ターゲット6のブリス
パッタ用イオンビームは同一のイオンガン1から照射さ
れる構造である。イオンビーム3の進行方向の2つのタ
ーゲットの中間付近に隔壁13があり、両ターゲットへ
照射するビームを分ける構造となっている。この場合に
も第2の膜形成用ターゲットのブリスパッタされた粒子
が基板へ飛来することがなく、第1の膜のみが基板上に
形成される。ターゲットホルダ4を回転することにより
第2.第3および第4の膜を順次基板上へ形成すること
ができる。
第3図は本発明のさらに他の実施例の1つを示すもので
ある。
この場合には第2の膜形成用ターゲットブリスパッタ用
のガンはチャンバ21内に装着されたいわゆる据置き形
イオンガン61である。スパッタ方法は前述の第1図お
よび第2図の実施例で説明したものと同様に行うことが
できる。
以上、第1図、第2図および第3図に示した実施例にお
いては多層膜形成用のターゲットは4種である。この場
合、形成される膜の種類は反応ガスイオンを用いれば4
種のターゲット材料以外の他の種類の膜形成も可能であ
る。ターゲットボルダを変更すれば多層膜形成用に使用
できるターゲットの枚数はさらに増加させることも可能
である。
第4図はそのような実施例の1つを説明するも  ゛の
であって、6枚のターゲットの装着が可能である。同様
に、チャンバ21の大きさを大きくすればさらに多数枚
のターゲットを装着させることができ、多種の多層膜が
形成できる。
次に本発明装置による多層膜形成の例について述べる。
FeNi系磁性膜を多層化することにより、BS:約2
T、 Ile : l Oe以下、Hk:50e以下で
、しかも磁歪がほぼゼロの膜をイオンビームスパッタを
用いて作製が可能である。すでに特願昭62−1949
85号に示されているように too−200℃の基板
上にFeとNiを交互にそれぞれ10nm、 2nmず
つ50層重ね、総厚を0.6μmとした多層膜は上記の
特性を示す。
このような膜の作製において本発明の装置を用い、第1
図のターゲット5および7にFeターゲットを、ターゲ
ット6および8にNiターゲットを置き、基板上に上記
の多層膜を形成する場合を説明する。
まず、チャンバ21を排気し、シャッタ16を閉じたま
まターゲット5.6および7.8をそれぞれ10分ずつ
ブリスパッタする(計20分)。その後、シャッタ16
を開け、Feを10r+m (スパッタ時間約2分)、
Niを2nm(約15秒)ずつ基板に形成する。本方法
によれば、最初のブリスパッタ以外のブリスパッタは必
要なく0.6μmの多層膜を形成するのに20分+2.
25分x 50= 132.5分となる。一方、第5図
に示した従来例の場合、4枚のターゲットのブリスパッ
タに計40分、膜の形成時間は上記と同じであるが(1
12,5分)、それぞれの膜形成前に10秒程度のブリ
スパッタが必要であり、その場合ブリスパッタの前後に
シャッタの開閉が必要である。これを併せて15秒とす
れば、15秒X100=25分となる。計177.5分
となり、0.6μmのFeNi系多層膜を作製するのに
45分の時間が節約できる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、1つのターゲッ
トをスパッタして基板上に膜を形成する時に、次の膜の
形成のためのターゲットを同時にブリスパッタすること
ができる。そのために、ブリスパッタのための時間とシ
ャッタの開閉を省略でき、簡単な構成で高速の多層膜形
成が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図および第4図はそれぞれ本発明
の実施例を示す図、 第5図は従来の多層膜形成装置を示す図である。 1.51.61・・・イオンガン、 2.52・・・グリッド、 3.53.63・・・イオンビーム、 4・・・ターゲットホルダ、 5.8,7,8,9.10・・・ターゲット、15・・
・基板、 l6・・・シャッタ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)基板上に多層膜を形成する装置において、複数のタ
    ーゲットを装着でき、かつ回転可能なターゲットホルダ
    と、 該ターゲットホルダに装着された複数のターゲットのう
    ち相隣る2個のターゲットに同時にイオンビームを照射
    するための少なくとも1個のイオンガンと、 前記2個のターゲットからスパッタされた粒子のうち、
    一方のターゲットからのスパッタ粒子が前記基板に到達
    するのを妨げるための隔壁とを具えたことを特徴とする
    多層膜形成装置。
JP63028836A 1988-02-12 1988-02-12 多層膜形成装置 Pending JPH01205071A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63028836A JPH01205071A (ja) 1988-02-12 1988-02-12 多層膜形成装置

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JP63028836A JPH01205071A (ja) 1988-02-12 1988-02-12 多層膜形成装置

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Publication Number Publication Date
JPH01205071A true JPH01205071A (ja) 1989-08-17

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ID=12259461

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63028836A Pending JPH01205071A (ja) 1988-02-12 1988-02-12 多層膜形成装置

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JP (1) JPH01205071A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0417672A (ja) * 1990-05-10 1992-01-22 Hitachi Ltd イオンビームスパッタ装置および運転方法
US6238531B1 (en) 1998-06-05 2001-05-29 International Business Machines Corporation Method and apparatus to improve the properties of ion beam deposited films in an ion beam sputtering system
JP2007077493A (ja) * 2005-09-15 2007-03-29 Applied Materials Gmbh & Co Kg コーティング機及びコーティング機の動作方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0417672A (ja) * 1990-05-10 1992-01-22 Hitachi Ltd イオンビームスパッタ装置および運転方法
US6238531B1 (en) 1998-06-05 2001-05-29 International Business Machines Corporation Method and apparatus to improve the properties of ion beam deposited films in an ion beam sputtering system
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