JPH01161178A - 磁性体の磁気特性測定装置 - Google Patents
磁性体の磁気特性測定装置Info
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- JPH01161178A JPH01161178A JP32214987A JP32214987A JPH01161178A JP H01161178 A JPH01161178 A JP H01161178A JP 32214987 A JP32214987 A JP 32214987A JP 32214987 A JP32214987 A JP 32214987A JP H01161178 A JPH01161178 A JP H01161178A
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- magnetizing
- coil
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- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
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- 238000004804 winding Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
この発明は磁性体の磁気特性の測定装置に関する。
第4図は例えば共立全書磁気工学の基礎157頁〜63
頁に示された磁気ヘットを測定する従来の磁気特性測定
装置のブロック回路図である。図において(1)は磁気
ヘッドのコア、(2)はコア(1)を磁化する磁化コイ
ル、(3)はコア(11を通る磁束Φを検出するさぐり
コイル、(4)は磁化コイル(2)に交流電源を流す信
号源、(5)は磁化コイル(2)に流れる電流波形を測
定する電流計、(6)はさぐりコイル(3)に発生ずる
起電力の波形を測定する電圧計、(7)は電流計(5)
で測定された電流波形と電圧計(6)で測定された電圧
波形よりコア(1)の磁気特性を計算する計算機である
。
頁に示された磁気ヘットを測定する従来の磁気特性測定
装置のブロック回路図である。図において(1)は磁気
ヘッドのコア、(2)はコア(1)を磁化する磁化コイ
ル、(3)はコア(11を通る磁束Φを検出するさぐり
コイル、(4)は磁化コイル(2)に交流電源を流す信
号源、(5)は磁化コイル(2)に流れる電流波形を測
定する電流計、(6)はさぐりコイル(3)に発生ずる
起電力の波形を測定する電圧計、(7)は電流計(5)
で測定された電流波形と電圧計(6)で測定された電圧
波形よりコア(1)の磁気特性を計算する計算機である
。
第6図に第5図の等何回路を示す。図においてR2は磁
化コイル(2)の抵抗成分、1.2は磁化:】イル(2
)のインダクタンス成分、[く3はさぐりコイル(3)
の抵抗成分、I、1はさぐりコイル(3)のインダクタ
ンス成分、rE4は信弓源(4)の内部起電力、Z4は
信号源(4)の内部インピーダンス、12は磁化コイル
(2)に流れる電流(以下、「磁化電流]という)、[
・1.(はさぐりコイル(3)の内金11.;に発生す
る電I「、1.E :+ IはインダクタンスL、lに
発生する市川−である。磁化コイル(2)の巻数をN、
!、さぐりコイル(3)の巻数をNIとすれば、磁気ヘ
ラ1〜コア(1)に加えられる起磁力Nlは(1)式て
表わされる。
化コイル(2)の抵抗成分、1.2は磁化:】イル(2
)のインダクタンス成分、[く3はさぐりコイル(3)
の抵抗成分、I、1はさぐりコイル(3)のインダクタ
ンス成分、rE4は信弓源(4)の内部起電力、Z4は
信号源(4)の内部インピーダンス、12は磁化コイル
(2)に流れる電流(以下、「磁化電流]という)、[
・1.(はさぐりコイル(3)の内金11.;に発生す
る電I「、1.E :+ IはインダクタンスL、lに
発生する市川−である。磁化コイル(2)の巻数をN、
!、さぐりコイル(3)の巻数をNIとすれば、磁気ヘ
ラ1〜コア(1)に加えられる起磁力Nlは(1)式て
表わされる。
NI=N21□ ・・・・・・(1)起磁力
Nlによつと、磁気へットコア(1)に磁束(])が流
れ、そのためインダクタンスL、に丁a己の(2)式て
表わされる起電カド;3.が発生ずる。なさくりコイル
(3)の両端に発生する電圧E、lを測定する電圧;i
l (6)の人力インピーダンスが、抵抗成分R1に比
へ一1分人きい場合は、抵抗成分R6による影響が無視
てきるため(2)式は(3))式になる。
Nlによつと、磁気へットコア(1)に磁束(])が流
れ、そのためインダクタンスL、に丁a己の(2)式て
表わされる起電カド;3.が発生ずる。なさくりコイル
(3)の両端に発生する電圧E、lを測定する電圧;i
l (6)の人力インピーダンスが、抵抗成分R1に比
へ一1分人きい場合は、抵抗成分R6による影響が無視
てきるため(2)式は(3))式になる。
(3)式を磁束Φについて解けば、
となる。(1)式と(4)式より磁化電流I2の波形を
電流形(5)で、電圧1・、1の波形を′■1テ月形(
6)で、それぞれ同時に測定し、計q機(7)でfil
算することにより起磁力NIと磁束(])が求まる。
電流形(5)で、電圧1・、1の波形を′■1テ月形(
6)で、それぞれ同時に測定し、計q機(7)でfil
算することにより起磁力NIと磁束(])が求まる。
測定結果例として第6図に起磁力Nlと電圧r=: 、
、と磁束Φの波形を示し、第7図に起磁力Nlと磁束Φ
のヒスプリシスループ特性を小す。
、と磁束Φの波形を示し、第7図に起磁力Nlと磁束Φ
のヒスプリシスループ特性を小す。
[発明が解決しようとする問題点]
従来の磁気特性測定装置は以1−のように構成されてい
るので、磁化コイル(2)と、さぐりコイル(3)の2
つのコイルが必要である9、コア(1)に?つのコイル
が容易に巻くことができる場合は、従来の方法で問題は
ないが、磁気ヘットのように、巻線窓が非常に小さく、
巻線モールドにより巻線窓がふさがれている場合もある
ため、あらかしめ巻かれているコイルの他に別のコイル
を巻くことは困難であり、従来のさぐりコイルを必要と
する測定装置ては測定出来ない場合があるという問題点
かあった。
るので、磁化コイル(2)と、さぐりコイル(3)の2
つのコイルが必要である9、コア(1)に?つのコイル
が容易に巻くことができる場合は、従来の方法で問題は
ないが、磁気ヘットのように、巻線窓が非常に小さく、
巻線モールドにより巻線窓がふさがれている場合もある
ため、あらかしめ巻かれているコイルの他に別のコイル
を巻くことは困難であり、従来のさぐりコイルを必要と
する測定装置ては測定出来ない場合があるという問題点
かあった。
また、さぐりコイルを巻回する必要があるため、測定に
長時間を要するという問題点もあった。この発明は−に
記のような問題点を解消するためになされたもので、1
つの磁化コイルだけて磁気特性が測定てきる磁気特性測
定装置を得ることを「i的としている。。
長時間を要するという問題点もあった。この発明は−に
記のような問題点を解消するためになされたもので、1
つの磁化コイルだけて磁気特性が測定てきる磁気特性測
定装置を得ることを「i的としている。。
L問題点を解決するだめの手段〕
この発明に係る磁気特性測定装置は、1つの磁化コイル
に流れる磁化電流波形と、その磁化コイルの両端の電圧
波形を測定する手段と、この測定した電流・電圧波形デ
ータから当該磁化コイルの抵抗成分による影響を補正し
て起磁力および磁束データを算出する演算手段とを備え
たものである。
に流れる磁化電流波形と、その磁化コイルの両端の電圧
波形を測定する手段と、この測定した電流・電圧波形デ
ータから当該磁化コイルの抵抗成分による影響を補正し
て起磁力および磁束データを算出する演算手段とを備え
たものである。
[作用]
この発明における演算手段は、磁化電流データから起磁
力を算出し、磁化コイルの両端の市用゛データと磁化電
流データから当該磁化コイルに発生する抵抗成分による
影響が補正された内部起電力を算出し、この起電力から
磁束Φを算出する。
力を算出し、磁化コイルの両端の市用゛データと磁化電
流データから当該磁化コイルに発生する抵抗成分による
影響が補正された内部起電力を算出し、この起電力から
磁束Φを算出する。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図はこの実施例の構成を示すブロック回路図で、第
5図の従来例と同一部分には同一符号を付しており、従
来例と異なる点はさぐりコイル(3)を除いて電圧計(
6)で磁化コイル(2)の両端の電圧を測定するように
構成されている点である。なお、この実施例では計算精
度の白土を図るため、電流計(5)、および電圧計(6
)は、測定波形をディジタル信号に変換するA/[)コ
ンバータと、メモリとを内蔵しており、測定した波形デ
ータをディジタルデータとして記憶する。ill、 W
機(7)はディジタル−コンピューターであり電流計(
5)と電圧計(6)のメモリに記憶されているデータを
読み出して磁気特性を計算する。
5図の従来例と同一部分には同一符号を付しており、従
来例と異なる点はさぐりコイル(3)を除いて電圧計(
6)で磁化コイル(2)の両端の電圧を測定するように
構成されている点である。なお、この実施例では計算精
度の白土を図るため、電流計(5)、および電圧計(6
)は、測定波形をディジタル信号に変換するA/[)コ
ンバータと、メモリとを内蔵しており、測定した波形デ
ータをディジタルデータとして記憶する。ill、 W
機(7)はディジタル−コンピューターであり電流計(
5)と電圧計(6)のメモリに記憶されているデータを
読み出して磁気特性を計算する。
第2図は第1図の等価回路図で、第6図と同−符zJは
同一要素を示しており、R2は磁化コイル(2)の両端
の電圧で、磁化コイル(2)の抵抗成分l<2によって
生じる電圧E2□と、インダクタンス成分I、2によ−
って生じる電圧IE21とを加算したものである。
同一要素を示しており、R2は磁化コイル(2)の両端
の電圧で、磁化コイル(2)の抵抗成分l<2によって
生じる電圧E2□と、インダクタンス成分I、2によ−
って生じる電圧IE21とを加算したものである。
磁化コイル(2)の巻数をNとすると、インダクタンス
成分1,2によって生じる電圧[52+は(5)式で表
わされ、抵抗成分にJ:って生じる電圧ト;22は(5
)式で表わされる。磁化コイル(2)の両端の電11ト
:2はI’: 21 + E 2□であるため(7)式
で表わされる。
成分1,2によって生じる電圧[52+は(5)式で表
わされ、抵抗成分にJ:って生じる電圧ト;22は(5
)式で表わされる。磁化コイル(2)の両端の電11ト
:2はI’: 21 + E 2□であるため(7)式
で表わされる。
lミ2□=I2R□ ・・・(6)E:
2=lシ2.+E、、□ (7)式を磁束Φについて解けば = (R212R2) dし十定数 ・・・(8)と
なる。また起磁力Nlは(1)式と同様にNI=NI2
・・・(9)となる。(8)式と
(9)式より、磁化コイル(2)の巻数Nと抵抗分R2
とをあらかじめ求めておけば、磁化コイル(2)に流れ
る電流I2の波形データと、磁化コイル(2)の両端の
電圧E2の波形データをそれぞれ電流計(5)と電圧計
(6)で同時に測定し、測定データを計算器(7)に送
り計算することにより磁束Φと起磁力NTの波形データ
を求めることができる。
2=lシ2.+E、、□ (7)式を磁束Φについて解けば = (R212R2) dし十定数 ・・・(8)と
なる。また起磁力Nlは(1)式と同様にNI=NI2
・・・(9)となる。(8)式と
(9)式より、磁化コイル(2)の巻数Nと抵抗分R2
とをあらかじめ求めておけば、磁化コイル(2)に流れ
る電流I2の波形データと、磁化コイル(2)の両端の
電圧E2の波形データをそれぞれ電流計(5)と電圧計
(6)で同時に測定し、測定データを計算器(7)に送
り計算することにより磁束Φと起磁力NTの波形データ
を求めることができる。
測定結果例として第3図に起磁力N+と電圧■:、2と
磁束Φの波形を示す。起磁力N+と磁束Φのヒスプリシ
スループは、第7図と同様にある。
磁束Φの波形を示す。起磁力N+と磁束Φのヒスプリシ
スループは、第7図と同様にある。
なお、上記実施例では、電流計(5)と電圧計(6)に
ディジタルデータが出力できるものを使い計算機(7)
にディジタルコンピューターを使用したが、電流計(5
)と電圧計(6)にアナログ出力のものを使いアナログ
の演算回路によって計算してもよい。
ディジタルデータが出力できるものを使い計算機(7)
にディジタルコンピューターを使用したが、電流計(5
)と電圧計(6)にアナログ出力のものを使いアナログ
の演算回路によって計算してもよい。
また、I−記実施例では、測定対象が磁気ヘッドであっ
たが他の磁性体でもよく例えばリング状磁性体のB −
H特性の測定に用いてもよい。
たが他の磁性体でもよく例えばリング状磁性体のB −
H特性の測定に用いてもよい。
また、上記実施例では、測定用伝号として正弦波を用い
たが、矩形波、三角波など他の波形信号であってもよい
。
たが、矩形波、三角波など他の波形信号であってもよい
。
また、L記実施例では、コイル(2)の抵抗成分R2を
あらかじめ求めたが、磁気特性の測定結果より磁気コア
のヒスプリシス・ループが妥当になるように定めること
によって求めてもよい。
あらかじめ求めたが、磁気特性の測定結果より磁気コア
のヒスプリシス・ループが妥当になるように定めること
によって求めてもよい。
以にのように、この発明によれば磁性体の磁気特性を測
定するために、磁化コイルが1つでよいので、例えば磁
気ヘッドの場合には、記録再生用にあらかじめ巻いであ
るコイルを磁化コイルとして用いて磁気特性が測定でき
るので、巻線窓の小さい磁性体の測定を行うことができ
る。
定するために、磁化コイルが1つでよいので、例えば磁
気ヘッドの場合には、記録再生用にあらかじめ巻いであ
るコイルを磁化コイルとして用いて磁気特性が測定でき
るので、巻線窓の小さい磁性体の測定を行うことができ
る。
また、従来の装置のようにさぐりコイルを巻く必要がな
いので、測定時間の短縮が図れる効果がある。
いので、測定時間の短縮が図れる効果がある。
第1図はこの発明の一実施例の構成を示すブロック回路
図、第2図は第1図の等価回路図、第3図はこの実施例
における磁化電流、磁化電圧および磁束波形を示す図、
第4図は従来の磁気特性測定装置の構成を示すブロック
回路図、第5図は第4図の等価回路図、第6図は従来の
装置における磁化電流、さぐりコイル発生電圧および磁
束波形を示す図、第7図は磁性体のヒスプリシス・ルー
プ特性を示す図である。 (1)・・・磁気へラドコア、(2)・・・磁化コイル
、(4)・・・信号源、(5)・・・電流計、(6)・
・・電圧計、(7)・・・計算機。 なお、各図中、同一符号は同一、または相当部分を示す
。 第5TEJ 第6図 第7図 手続補正書(自発) 昭和 年 月 日 2、発明の名称 磁性体の磁気特性測定装置 3、補正をする者 代表者志岐守哉 4、代理人 5、補正の対象 明細書の「特許請求の範囲」および「発明の詳細な説明
」の各欄 6、補正の内容 A、明細書: (1)特許請求の範囲を別紙のとおり訂正しまず。 (2)第2頁第6行目: 「された」のつぎに「方法により」を加入します。 (3)第2頁第11行目: 「電源」とあるのを「電流」と訂正しまず。 (4)第2頁第18行目、第7頁第4行目:「第6図」
とあるのを「第5図」と訂正します。 (5)第2頁第18行目、第6頁第12行目:「第5図
」とあるのを「第4図」と訂正します。 (6)第3頁第12行目; 「よつと」とあるのを「よってjと訂正します。 (7)第4頁第6行目: と訂正しまず。 (8)第8頁第3行目: iE Lまず。 (9)第8頁下から第3行目ないし第2行目:「ある。 」とあるのを「なる。」と訂正しまず。 以」ニ 別紙 補正後の特許請求の範囲 「(1)被測定磁性体に巻かれた磁化コイルと、この磁
化コイルに交流電流を流す信号源と、−に記磁化コイル
に流れる電流波形を測定する手段と、上記磁化コイルの
両端の電圧波形を測定する手段と、上記計測した電流波
形データおよび電圧波形データにもとづいて各時刻にお
ける磁束Φ、起磁力NTを下式 %式% ただし、N−磁化コイルの巻数、R2:磁化コイルの両
端の電圧、■2:磁化コイルに流れる電流、R2:磁化
コイルの抵抗成分 にもとづいて算出する演算手段とを備えた磁性体の磁気
特性測定装置。」
図、第2図は第1図の等価回路図、第3図はこの実施例
における磁化電流、磁化電圧および磁束波形を示す図、
第4図は従来の磁気特性測定装置の構成を示すブロック
回路図、第5図は第4図の等価回路図、第6図は従来の
装置における磁化電流、さぐりコイル発生電圧および磁
束波形を示す図、第7図は磁性体のヒスプリシス・ルー
プ特性を示す図である。 (1)・・・磁気へラドコア、(2)・・・磁化コイル
、(4)・・・信号源、(5)・・・電流計、(6)・
・・電圧計、(7)・・・計算機。 なお、各図中、同一符号は同一、または相当部分を示す
。 第5TEJ 第6図 第7図 手続補正書(自発) 昭和 年 月 日 2、発明の名称 磁性体の磁気特性測定装置 3、補正をする者 代表者志岐守哉 4、代理人 5、補正の対象 明細書の「特許請求の範囲」および「発明の詳細な説明
」の各欄 6、補正の内容 A、明細書: (1)特許請求の範囲を別紙のとおり訂正しまず。 (2)第2頁第6行目: 「された」のつぎに「方法により」を加入します。 (3)第2頁第11行目: 「電源」とあるのを「電流」と訂正しまず。 (4)第2頁第18行目、第7頁第4行目:「第6図」
とあるのを「第5図」と訂正します。 (5)第2頁第18行目、第6頁第12行目:「第5図
」とあるのを「第4図」と訂正します。 (6)第3頁第12行目; 「よつと」とあるのを「よってjと訂正します。 (7)第4頁第6行目: と訂正しまず。 (8)第8頁第3行目: iE Lまず。 (9)第8頁下から第3行目ないし第2行目:「ある。 」とあるのを「なる。」と訂正しまず。 以」ニ 別紙 補正後の特許請求の範囲 「(1)被測定磁性体に巻かれた磁化コイルと、この磁
化コイルに交流電流を流す信号源と、−に記磁化コイル
に流れる電流波形を測定する手段と、上記磁化コイルの
両端の電圧波形を測定する手段と、上記計測した電流波
形データおよび電圧波形データにもとづいて各時刻にお
ける磁束Φ、起磁力NTを下式 %式% ただし、N−磁化コイルの巻数、R2:磁化コイルの両
端の電圧、■2:磁化コイルに流れる電流、R2:磁化
コイルの抵抗成分 にもとづいて算出する演算手段とを備えた磁性体の磁気
特性測定装置。」
Claims (1)
- (1)被測定磁性体に巻かれた磁化コイルと、この磁化
コイルに交流電流を流す信号源と、上記磁化コイルに流
れる電流波形を測定する手段と、上記磁化コイルの両端
の電圧波形を測定する手段と、上記計測した電流波形デ
ータおよび電圧波形データにもとづいて各時刻における
磁束Φ、起磁力NIを下式 ▲数式、化学式、表等があります▼ NI=NI_2 ただし、N=磁化コイルの巻数、E_2:磁化コイルの
両端の電圧、I_2:磁化コイルに流れる電流、R_2
:磁化コイルの抵抗成分 にもとづいて算出する演算手段とを備えた磁性体の磁気
特性測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32214987A JPH01161178A (ja) | 1987-12-17 | 1987-12-17 | 磁性体の磁気特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32214987A JPH01161178A (ja) | 1987-12-17 | 1987-12-17 | 磁性体の磁気特性測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01161178A true JPH01161178A (ja) | 1989-06-23 |
Family
ID=18140478
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32214987A Pending JPH01161178A (ja) | 1987-12-17 | 1987-12-17 | 磁性体の磁気特性測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01161178A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5132608A (en) * | 1989-11-06 | 1992-07-21 | Katsuyuki Nishifuji | Current measuring method and apparatus therefor |
JP2014098710A (ja) * | 2012-01-25 | 2014-05-29 | Toyota Industries Corp | 漏電検出装置 |
US11001784B2 (en) | 2012-09-13 | 2021-05-11 | Ecolab Usa Inc. | Detergent composition comprising phosphinosuccinic acid adducts and methods of use |
US11053458B2 (en) | 2012-09-13 | 2021-07-06 | Ecolab Usa Inc. | Hard surface cleaning compositions comprising phosphinosuccinic acid adducts and methods of use |
US11865219B2 (en) | 2013-04-15 | 2024-01-09 | Ecolab Usa Inc. | Peroxycarboxylic acid based sanitizing rinse additives for use in ware washing |
Citations (1)
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---|---|---|---|---|
JPS5253502U (ja) * | 1975-02-15 | 1977-04-16 |
-
1987
- 1987-12-17 JP JP32214987A patent/JPH01161178A/ja active Pending
Patent Citations (1)
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JPS5253502U (ja) * | 1975-02-15 | 1977-04-16 |
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US5132608A (en) * | 1989-11-06 | 1992-07-21 | Katsuyuki Nishifuji | Current measuring method and apparatus therefor |
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