JPH01150842A - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置

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JPH01150842A
JPH01150842A JP30954187A JP30954187A JPH01150842A JP H01150842 A JPH01150842 A JP H01150842A JP 30954187 A JP30954187 A JP 30954187A JP 30954187 A JP30954187 A JP 30954187A JP H01150842 A JPH01150842 A JP H01150842A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photometry
wavelength
light
reaction
reaction vessel
Prior art date
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Pending
Application number
JP30954187A
Other languages
English (en)
Inventor
Sugio Mabe
杉夫 間部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
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Publication of JPH01150842A publication Critical patent/JPH01150842A/ja
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  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、エンドレスの反応ラインに沿って搬送され
る反応容器列の各反応容器に収容された被検液を反応容
器を通して測光して分析するようにした自動分析装置に
関する。
〔従来の技術〕
従来の自動分析装置として、例えば特開昭56−245
55号公報、同56−24554号公報に開示されたも
のがある。前者のものは、第3図AおよびBに示すよう
に、円状の反応ライン1に沿って間欠的に搬送される反
応容器列2の回転中心軸上に光源3を設け、この光源3
からの光束を反応容器列2とは異なる速度で回転する反
射プリズム4およびこれら反応容器列2、反射プリズム
4とは異なる速度で回転する波長選択フィルタ5を経て
径方向に回転走査し、これにより所定の複数の測光位置
にある反応容器に順次測定項目に応じた波長の光を照射
して、その透過光をそれぞれ受光素子6 1. 6−2
.−−−−6−nで受光するようにしている。
また、後者のもは、同様に円状の反応ラインに沿って間
欠的に搬送される反応容器列の回転中心軸上に光源を設
け、この光源からの光束を反応容器列とは異なる速度で
回転する第1の反射プリズムにより径方向に回転走査し
、これにより所定の複数の測光位置にある反応容器に順
次光を照射すると共に、各測光位置には反応容器を透過
した光を回転中心に導くための第2の反射プリズムを設
け、これら第2の反射プリズムで順次反射される被検液
の透過光を第1の反射プリズムと一体に回転する第3の
反射プリズムおよび、これら第1゜第3の反射プリズム
とは異なる速度で回転する波長選択フィルタを介して共
通の1個の受光素子で受光するようにしている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上述した特開昭56−24555号公報
に開示された自動分析装置にあっては、1つの反応容器
に着目し、反応過程をより精密に観測しようとすると、
多くの受光素子を配置しなければならないと共に、順次
具なる受光素子からの測光データを使用することから、
各受光素子の特性を合わせる必要があり、装置全体が高
価になるという問題がある。
また、特開昭56−24F154号公報に開示された自
動分析装置にあっては、反応容器透過後の光路が長いた
め、光束の拡がりや被検液に濁りがある場合の光散乱等
の影響を受は易く、測定精度が低下するとい問題がある
さらに、上述した従来の自動分析装置においては、いず
れも複数の測光位置に光束を走査しながら波長選択フィ
ルタを回転させて、その各測光位置において該測光位置
にある反応容器内の被検液の測定項目に応じた波長を選
択するようにしているため、各測定項目を共存物質によ
る影響を低減するために2波長で測定しようとすると、
全体での波長切換の回数が多くなり、高速処理が困難に
なると共に、このように波長選択フィルタを回転させな
がら測光する場合にあっては干渉フィルタの部分的特性
の差の影響を受は易くなる等の問題がある。
この発明は、このような従来の問題点に着目してなされ
たもので、安価な構成で、2波長測光を精度良く行うこ
とができると共に、被検液を高速処理することができる
よう適切に構成した自動分析装置を提供することを目的
とする。
〔問題点を解決するための手段および作用〕上記目的を
達成するため、この発明ではエンドレスの反応ラインに
沿って搬送される反応容器列の各反応容器に収容された
被検液を反応容器を通して測光して分析するようにした
自動分析装置において、前記反応容器列を1動作周期内
に複数回のステップ送りを含んで1反応容器分搬送する
搬送手段と、それぞれ複数の干渉フィルタを有する2組
の波長選択フィルタおよびこれら波長選択フィルタに対
応する2個の受光素子を有し、反応容器のステップ送り
の停止位置に対応する2つの測光位置において各ステッ
プ送りの停止期間中にそれぞれ被検液を反応容器を通し
て測光する測光手段とを具え、各反応容器に収容された
被検液を2つの測光位置で2波長測光するよう構成した
ことを特徴とするものである。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例を示すものである。
この実施例では、円状の反応ライン11に多数の反応容
器12を等しいピッチで保持し、これら反応容器12を
4ピツチを1ステツプとして搬送手段13により1動作
周期内すなわち反応容器12が反応ライン11をほぼ1
回転する間に複数のステップ送りを含んで1反応容器分
搬送する。また、各反応容器12に収容された被検液を
2波長測光するため光源14を設け、この光源14がら
の白色光を、その光路に挿脱可能な光路切換ミラー15
により反射させた後、反射ミラー16および複数の干渉
フィノ1夕を同一円周上に配置した回転可能な波長選択
フィルタ17を経て反応容器12の所定の停止位置(測
光位置)に投射するようにすると共に、光路切換ミラー
15を退却させた状態で波長選択フィルタ17と同様の
構成より成る波長選択フィルタ18を経て、反射ミラー
16を介しての反応容器12の測光位置よりも4ピツチ
分、すなわち1ステップ移動分手前の反応容器12の停
止位置(測光位置)に投射するようにし、これら各測光
位置にある反応容器を透過した光束を受光素子19およ
び20でそれぞれ受光するようにする。
以下、この実施例の動作を第2図に示すタイミングチャ
ートを参照しながら説明する。この実施例では、反応容
器12を4ピツチを1ステツプとして搬送手段13によ
り矢印方向にステップ送りし、その各ステップ送りの停
止状態下で受光素子19.20と対向する各測光位置に
ある反応容器12を測光する。この測光においては、先
ず受光素子19と対向する測光位置にある反応容器12
に、光源14からの光を光路切換ミラー15および反射
ミラー16を経て波長選択フィルタ17に入射させてそ
の測定項目に応じた波長の単色光を投射して測光する。
次に、光路切換ミラー15を光路から退却させ、受光素
子20と対向する測光位置にある反応容器12に、光源
14からの光を波長選択フィルタ18に入射させてその
測定項目に応じた波長の単色光を投射して測光する。そ
の後、反応容器12を4個分1ステツプ移送する。
このlステップの移送期間中においては、波長選択フィ
ルタ17.18を回転させて次に受光素子19.20と
対向する各測光位置に来る反応容器12内の被検液の測
定項目に対応する波長のフィルタを選択すると共に、光
路切換ミラー15を光路中に挿入する。このように、反
応容器12が1ステツプ移送されると、受光素子20の
測光位置にあった反応容器12が受光素子19の測光位
置に移送されるので、これを停止状態下で前の測光にお
ける波長とは異なる波長の単色光で測光する。
以上の動作を繰り返すことにより、1動作周期で所要の
数の反応容器内の被検液を2波長測光し、その後の順次
の動作周期でそれぞれ他の反応容器群内の被検液を同様
に2波長測光する。
この実施例によれば、2個の波長選択フィルタ17.1
8を設けるようにしたので、測定に必要な波長数をこれ
ら2個の波長選択フィルタ17゜18に分割することが
でき、したがって各波長選択フィルタ17.18を小型
にできる。また、これら波長選択フィルタ17.18に
おけるフィルタの選択や光路切換ミラー15の復帰動作
を、反応容器12のステップ移動中に行うようにしたの
で、それらが安定するまでの時間をステップ送りの動作
期間中に吸収することができ、したがって停止時に実際
に測定する時間を有効に使用でき、処理スピードを上げ
ることができると共に精度の高い測定を行うことができ
る。更に、受光素子は2個で済むので安価にできると共
に、反応過程をモニタする場合でも各被検液に対する2
波長を、一方の波長の光は一方の受光素子19で、他方
の波長の光は他方の受光素子20で常に受光することが
できるので、2個の受光素子19.20の特性を揃える
必要もない。
なお、この発明は上述した実施例にのみ限定されるもの
ではなく、幾多の変形または変更が可能である。例えば
上述した実施例では、4個分の反応容器12を1ステツ
プとして移送するようにしたが、1ステツプで移送する
反応容器数は任意の複数個とすることができ、それに応
じて反応ライン11上の反応容器数を設定することがで
きる。
また、上述した実施例では光路切換ミラー15により2
つの測光位置に光束を選択的に導くようにしたが、光路
切換ミラー15に代えてハーフミラ−を用いて2つの測
光位置に測光光束を同時に導くよう構成することもでき
る。更に、波長選択フィルタ17.18は回転式に限ら
ず、スライド式のものを用いることもできると共に、こ
れらを反応ライン11と受光素子19.20との間に配
置することもできる。また、受光素子19.20を配置
する測光位置は、順次のステップ送りの停止位置に限ら
ず、任意のステップ送りの停止位置に設けることができ
る。
〔発明の効果] 以上述べたように、この発明によればエンドレスの反応
ラインに沿って、反応容器列を1動作周期内に複数回の
ステップ送りを含んで1反応容器分搬送すると共に、各
ステップ送りの停止期間中に反応容器のステップ送りの
停止位置に対応して設けたそれぞれ波長選択フィルタお
よび受光素子を有する2つの測光位置で測光して被検液
を2波長測光するようにしたので、安価な構成で、2波
長測光を精度良(行うことができると共に、被検液を高
速処理することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す図、第2図はその動
作を説明するためのタイムチャート、 第3図AおよびBは従来の技術を示す図である。 11・・・反応ライン   12・・・反応容器13・
・・搬送手段    工4・・・光源15・・・光路切
換ミラー 16・・・反射ミラー17.18・・・波長
選択フィルタ 19.20・・・受光素子 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、エンドレスの反応ラインに沿って搬送される反応容
    器列の各反応容器に収容された被検液を反応容器を通し
    て測光して分析するようにした自動分析装置において、
    前記反応容器列を1動作周期内に複数回のステップ送り
    を含んで1反応容器分搬送する搬送手段と、それぞれ複
    数の干渉フィルタを有する2組の波長選択フィルタおよ
    びこれら波長選択フィルタに対応する2個の受光素子を
    有し、反応容器のステップ送りの停止位置に対応する2
    つの測光位置において各ステップ送りの停止期間中にそ
    れぞれ被検液を反応容器を通して測光する測光手段とを
    具え、各反応容器に収容された被検液を2つの測光位置
    で2波長測光するよう構成したことを特徴とする自動分
    析装置。
JP30954187A 1987-12-09 1987-12-09 自動分析装置 Pending JPH01150842A (ja)

Priority Applications (1)

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JP30954187A JPH01150842A (ja) 1987-12-09 1987-12-09 自動分析装置

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JP30954187A JPH01150842A (ja) 1987-12-09 1987-12-09 自動分析装置

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JPH01150842A true JPH01150842A (ja) 1989-06-13

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ID=17994257

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JP30954187A Pending JPH01150842A (ja) 1987-12-09 1987-12-09 自動分析装置

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JP (1) JPH01150842A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007135923A1 (ja) * 2006-05-23 2007-11-29 Olympus Corporation 自動分析装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007135923A1 (ja) * 2006-05-23 2007-11-29 Olympus Corporation 自動分析装置

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