JPH01143936A - Ｉｃｐ発光分光分析方法 - Google Patents
Ｉｃｐ発光分光分析方法Info
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- JPH01143936A JPH01143936A JP30398987A JP30398987A JPH01143936A JP H01143936 A JPH01143936 A JP H01143936A JP 30398987 A JP30398987 A JP 30398987A JP 30398987 A JP30398987 A JP 30398987A JP H01143936 A JPH01143936 A JP H01143936A
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Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
本発明は１０２発光分光分析方法に関する。
口、従来の技術
ＩＣＰ発光分光分析法で定量を行う場合、従来は被検試
料と共に、定量しようとする元素を訝知量増量した試料
を複数用意し、夫／／について発光分析を行い、検量線
を引（と云う方法が用いられていた。例えば被検試料を
３００ｃｃ用い、これを３等分して被検試料だけのもの
１００ｃｃ、被検試料１００ｃｃに目的光＊ ５ ｐ
ｐ ｍ添加した試料、１０ｐｐｍ添加した試料の三種類
のコ（料を用意し夫々について目的元素のＩＣＰ発光に
よる輝線光強度を測定すると、夫々の測定結果の差は目
的元素の濃度差５ ｐ ｐｍに対応している。１．１っ
て横軸上に目的元素の添加量をとり、縦軸に目的元素の
輝線強度をとって検量線を引き、その検量線を横軸に交
わるまで延長して横軸との交点を求めると、その交点か
ら１！ｌ【添加の被測定試料までの距離が、被測定試料
における目的元素の濃度を表わすことになる。
料と共に、定量しようとする元素を訝知量増量した試料
を複数用意し、夫／／について発光分析を行い、検量線
を引（と云う方法が用いられていた。例えば被検試料を
３００ｃｃ用い、これを３等分して被検試料だけのもの
１００ｃｃ、被検試料１００ｃｃに目的光＊ ５ ｐ
ｐ ｍ添加した試料、１０ｐｐｍ添加した試料の三種類
のコ（料を用意し夫々について目的元素のＩＣＰ発光に
よる輝線光強度を測定すると、夫々の測定結果の差は目
的元素の濃度差５ ｐ ｐｍに対応している。１．１っ
て横軸上に目的元素の添加量をとり、縦軸に目的元素の
輝線強度をとって検量線を引き、その検量線を横軸に交
わるまで延長して横軸との交点を求めると、その交点か
ら１！ｌ【添加の被測定試料までの距離が、被測定試料
における目的元素の濃度を表わすことになる。
ハ１発明が解決しようとする問題点
上述した従来方法は予め検量線を作ってお（方法に比し
、被検試料毎に検量線を作成していることになるので、
検量線作成時と被検試料測定時との間に時間的ずれがな
く、両者の測定条件が同一であるから精度が高いと云う
利点があるが、予め検量線を作ってお（方法では被検試
料が１００ｃＣですむ所を上述した従来方法では例えば
３００ｃｃと大量に必要であり、また測定の度に定量添
加操作を行わねばならなくて、この定量添加操作は分析
を行う者にとって大へんな労力負ＪＨとなると云う問題
があった。本発明は被検試料の測定毎に検量線を作成す
ることの利点を失うことなく、被検試料の節約２分析担
当者の労力負担の軽減を計るものである。
、被検試料毎に検量線を作成していることになるので、
検量線作成時と被検試料測定時との間に時間的ずれがな
く、両者の測定条件が同一であるから精度が高いと云う
利点があるが、予め検量線を作ってお（方法では被検試
料が１００ｃＣですむ所を上述した従来方法では例えば
３００ｃｃと大量に必要であり、また測定の度に定量添
加操作を行わねばならなくて、この定量添加操作は分析
を行う者にとって大へんな労力負ＪＨとなると云う問題
があった。本発明は被検試料の測定毎に検量線を作成す
ることの利点を失うことなく、被検試料の節約２分析担
当者の労力負担の軽減を計るものである。
二０問題点解決のための手段
ファセル型三重管プラズマトーヂの中心管を二重にして
全体を四重管構造としたプラズマトーチを用い、予めブ
ラ・ンク試料と濃度既知の標準試料を作っておき、まず
二重中心管の一方にブランク、他方に標準試料を導入し
たとき、および一方に標準試料、他方にブランクを導入
したときの目的元素の輝線強度、ＩＩ、１２を測定しｒ
＝１１／１２を求める。次に二重中心管の一方に被検試
料を導入しつ＼他方にブランクを導入したときおよび標
準試料を導入したときの輝線光強度ｉｏ。
全体を四重管構造としたプラズマトーチを用い、予めブ
ラ・ンク試料と濃度既知の標準試料を作っておき、まず
二重中心管の一方にブランク、他方に標準試料を導入し
たとき、および一方に標準試料、他方にブランクを導入
したときの目的元素の輝線強度、ＩＩ、１２を測定しｒ
＝１１／１２を求める。次に二重中心管の一方に被検試
料を導入しつ＼他方にブランクを導入したときおよび標
準試料を導入したときの輝線光強度ｉｏ。
！Ｓを測定する。そうすると目的元素の濃度Ｃは標準試
料の濃度をＣｏとして で与えられる。
料の濃度をＣｏとして で与えられる。
ホ０作用
ファセル型プラズマトーチの中心管を二重にして夫々に
試料を導入し得るようにすると、同時に二ｇｔ類の試料
をプラズマに導入することができ、しかもこのとき二種
類の試料はプラズマの中で混合されるのであって、予め
調合しておく必要がない。
試料を導入し得るようにすると、同時に二ｇｔ類の試料
をプラズマに導入することができ、しかもこのとき二種
類の試料はプラズマの中で混合されるのであって、予め
調合しておく必要がない。
本発明においてはまず二重中心管の一方例えば内側にブ
ランク、外側に既知濃度Ｃｏの標準試料を導入したとき
の輝線強度１１と逆に内側に標準試料、外側にブランク
を導入したときの輝線強度■２を測定し、その比ｒ ＝
１１ ／ Ｅ ２を求める。
ランク、外側に既知濃度Ｃｏの標準試料を導入したとき
の輝線強度１１と逆に内側に標準試料、外側にブランク
を導入したときの輝線強度■２を測定し、その比ｒ ＝
１１ ／ Ｅ ２を求める。
二重中心管の内外何れにおいても、試料は霧化器によっ
て導入されており、夫々の霧化器は同一に作ってあり、
キャリヤ流量を同一にしても、試料導入量は完全に同一
にすることは困難であるから、上述した比ｒは必ずしも
１にはならない。
て導入されており、夫々の霧化器は同一に作ってあり、
キャリヤ流量を同一にしても、試料導入量は完全に同一
にすることは困難であるから、上述した比ｒは必ずしも
１にはならない。
従ってまず上述した測定を行う。但し、充分な注意の許
に、或は格別な高情度は要求がなくて、ｒ＝１とみなせ
る場合は、本発明の原理上、上の操作は不要である。次
に二重中心管の内側に被検試料を導入し、外側にブラン
クを導入したときの輝線強度！０および外側に濃度ＣＯ
の標準試料を導入したときの輝線強度Ｉｓを測定する。
に、或は格別な高情度は要求がなくて、ｒ＝１とみなせ
る場合は、本発明の原理上、上の操作は不要である。次
に二重中心管の内側に被検試料を導入し、外側にブラン
クを導入したときの輝線強度！０および外側に濃度ＣＯ
の標準試料を導入したときの輝線強度Ｉｓを測定する。
このときｌ５−１ｏは外側において、目的元素の導入量
が標準試料の濃度Ｃｏに相当する分増加した場合の輝線
強度増加であるから、（Ｉ ｓ −１ｏ ） ／ Ｃ。
が標準試料の濃度Ｃｏに相当する分増加した場合の輝線
強度増加であるから、（Ｉ ｓ −１ｏ ） ／ Ｃ。
は単位温度当たりの輝線強度に相当する。他方ＩＯは被
検試料を内側に導入した場合の濃度Ｃに相当する輝線強
度であるから、前述ｒを１とみなせない場合には、これ
を直接上記した（Ｉｓ−１ｏ ） ／ Ｃｏで割算して
も被検試料の濃度にはならない。１ｏを被検試料を外側
に導入したときの値に換算する必要がある。この換算比
率は先に求めたｒでＩｏ’＝＝１ｏ／ｒが被検試料を外
側、ブランクを内側にしたときの輝線強度である。従っ
て被検試料の濃度Ｃは で与えられることになる。ｒ ＝ １とみなせる場合に
はＣはもちろん で与えられる。
検試料を内側に導入した場合の濃度Ｃに相当する輝線強
度であるから、前述ｒを１とみなせない場合には、これ
を直接上記した（Ｉｓ−１ｏ ） ／ Ｃｏで割算して
も被検試料の濃度にはならない。１ｏを被検試料を外側
に導入したときの値に換算する必要がある。この換算比
率は先に求めたｒでＩｏ’＝＝１ｏ／ｒが被検試料を外
側、ブランクを内側にしたときの輝線強度である。従っ
て被検試料の濃度Ｃは で与えられることになる。ｒ ＝ １とみなせる場合に
はＣはもちろん で与えられる。
へ、実施例
図に本発明の一実施例を示す。Ｔはプラズマトーチで、
ｌは外套管、２は中骨、３が二重中心管の内側、４が同
じ（内側の管で、これらの外管は四重管を構成している
。外套管１には冷却用のガスが送入され、中管にプラズ
マ形成用ガスが送入され、二重中心管の内外側３，４に
は夫々試料霧化器５，６を通してキャリヤガスが送られ
ている。これらのガスは全て例えばアルゴンが用いられ
る。試料霧化器は霧吹きの原理により、キャリヤガスに
よって試料溶液を吸引霧化するもので、霧化された試料
がキャリヤガスの流れに乗ってプラズマトーチに送られ
る。Ｉくはプラズマ！・−チＴの上部に配置された励起
用高周波コイルで、Ｆはプラズマ炎を示す。７，８は試
料霧化器５．６用の試料容器である。
ｌは外套管、２は中骨、３が二重中心管の内側、４が同
じ（内側の管で、これらの外管は四重管を構成している
。外套管１には冷却用のガスが送入され、中管にプラズ
マ形成用ガスが送入され、二重中心管の内外側３，４に
は夫々試料霧化器５，６を通してキャリヤガスが送られ
ている。これらのガスは全て例えばアルゴンが用いられ
る。試料霧化器は霧吹きの原理により、キャリヤガスに
よって試料溶液を吸引霧化するもので、霧化された試料
がキャリヤガスの流れに乗ってプラズマトーチに送られ
る。Ｉくはプラズマ！・−チＴの上部に配置された励起
用高周波コイルで、Ｆはプラズマ炎を示す。７，８は試
料霧化器５．６用の試料容器である。
測定は次のように行われる。予めブランク試料と定量目
的元素の標や試料として例えば１０１） ｌ）ｍ溶液を
用意する。まず容器７にブランク、容器８に標準試料を
入れ、輝線強度１１を測定、次に容器７と８を交換して
輝線強度Ｉ２を測定する。
的元素の標や試料として例えば１０１） ｌ）ｍ溶液を
用意する。まず容器７にブランク、容器８に標準試料を
入れ、輝線強度１１を測定、次に容器７と８を交換して
輝線強度Ｉ２を測定する。
次に容器７を被検試料を入れたものとし、容器８をブラ
ンクを入れたものにして輝線強度１ｏを測定し、最後に
容器８を標準試料を入れたものと変えて輝線強度Ｉｓを
測定する。濃度Ｃは（１）式により で求められる。
ンクを入れたものにして輝線強度１ｏを測定し、最後に
容器８を標準試料を入れたものと変えて輝線強度Ｉｓを
測定する。濃度Ｃは（１）式により で求められる。
ト、効果
本発明によればブランク試料と標準試料は用意するが被
検試料に目的元素を醍知量添加した試料を作る必要がな
いから、その添加作業がなくなり、被検試料も少くてす
み、機能的には従来の標準添加法と同じである。添加作
業がないから分析操作の能率も向上する。
検試料に目的元素を醍知量添加した試料を作る必要がな
いから、その添加作業がなくなり、被検試料も少くてす
み、機能的には従来の標準添加法と同じである。添加作
業がないから分析操作の能率も向上する。
図面は本発明方法を実行する装置の位置例の側面図であ
る。 Ｔ・・・プラズマトーチ、１・・・外套管、２・・・中
管、３・・・内側中心管、４・・・外側中心管、５，６
・・・試料霧化器、７．８・・・試料容器。 代理人 弁理士 縣 浩 介
る。 Ｔ・・・プラズマトーチ、１・・・外套管、２・・・中
管、３・・・内側中心管、４・・・外側中心管、５，６
・・・試料霧化器、７．８・・・試料容器。 代理人 弁理士 縣 浩 介
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 試料導入用中心管を内外二重管としたプラズマトーチを
用い、上記内外両管夫々に試料導入手段を接続し、その
一方に被検試料を導入しつつ他方にブランク試料、濃度
Ｃｏの標準試料を順次導入したときの目的元素の輝線光
強度Ｉｏ、Ｉｓを測定し、被検試料の濃度Ｃを Ｃ＝［Ｉｏ／（Ｉｓ−Ｉｏ）］×Ｃｏ として算出することを特徴とするＩＣＰ発光分光分析方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30398987A JP2600220B2 (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | Ｉｃｐ発光分光分析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30398987A JP2600220B2 (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | Ｉｃｐ発光分光分析方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01143936A true JPH01143936A (ja) | 1989-06-06 |
| JP2600220B2 JP2600220B2 (ja) | 1997-04-16 |
Family
ID=17927704
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30398987A Expired - Lifetime JP2600220B2 (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | Ｉｃｐ発光分光分析方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2600220B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04110653A (ja) * | 1990-08-31 | 1992-04-13 | Hitachi Ltd | プラズマを用いた気体試料の分析方法 |
| JPH05228005A (ja) * | 1991-09-27 | 1993-09-07 | Converse Inc | 反作用エネルギ流体充満トロイド装置を持つ靴底 |
| JPH06249783A (ja) * | 1993-02-24 | 1994-09-09 | Shimadzu Corp | Ｉｃｐ発光分光分析装置 |
-
1987
- 1987-11-30 JP JP30398987A patent/JP2600220B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04110653A (ja) * | 1990-08-31 | 1992-04-13 | Hitachi Ltd | プラズマを用いた気体試料の分析方法 |
| JPH05228005A (ja) * | 1991-09-27 | 1993-09-07 | Converse Inc | 反作用エネルギ流体充満トロイド装置を持つ靴底 |
| JPH06249783A (ja) * | 1993-02-24 | 1994-09-09 | Shimadzu Corp | Ｉｃｐ発光分光分析装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2600220B2 (ja) | 1997-04-16 |
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