JP7509365B2 - 試験測定装置を被試験デバイスに結合する装置、試験測定システム及び被試験デバイスの動作モードを設定する方法 - Google Patents
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Description
導電性の第1端部と、導電性の第2端部と、上記第1及び第2端部を接続する非導電性部材とを有するクリップであって、上記被試験デバイスの2つの導電部分の間に取り付けられて、上記2つの導電部分の間の非導電性ギャップにブリッジを形成するよう構成される上記クリップと、
該クリップに取り外し可能に装着されて、上記被試験デバイスの上記2つの導電部分の間に、インピーダンスが実質的にない電流パスを提供する第1挿入物と、
上記クリップに取り外し可能に装着されて、上記試験測定装置を結合するための1対の信号測定ポイントを提供する第2挿入物と
を具えている。
導電性の第1端部と、導電性の第2端部と、上記第1及び第2端部を接続する非導電体部材とを有するクリップであって、上記被試験デバイスの2つの導電部分の間に取り付けられて、上記2つの導電部分の間の非導電性ギャップにブリッジを形成するよう構成される上記クリップと、
上記クリップに取り外し可能に装着されて、上記被試験デバイスの上記2つの導電部分の間に、インピーダンスが実質的にない電流パスを提供する第1挿入物と、
オシロスコープと、
プローブと
を具え、
該プローブのプローブ・チップには、上記クリップに取り外し可能に装着される第2挿入物が含まれ、上記プローブ・チップは、上記第2挿入物を流れる電流を示す電圧信号を出力するよう構成され、上記プローブは、上記プローブ・チップの出力信号を上記オシロスコープの入力端子に供給する。
導電性の第1端部と、導電性の第2端部と、上記第1及び第2端部を接続する非導電性部材とを有するクリップを上記DUTの2つの導電部分の間に取り付けることで、上記クリップによって上記2つの導電部分の間の非導電性ギャップにブリッジを形成し、
上記DUTの通常動作モードの場合には、上記被試験デバイスの上記2つの導電部分の間に、インピーダンスが実質的にない電流パスを提供する第1挿入物を上記クリップに取り外し可能に装着し、
上記DUTの測定動作モードの場合には、試験測定装置を結合するための1対の信号測定ポイントを提供する第2挿入物を上記クリップに取り外し可能に装着する。
102 樽型部品
104 プランジャ基部部品
106 抵抗性要素
108 チップ部品
200 試験プローブ・チップ
202 樽型部品
204 プランジャ基部部品
206 抵抗性要素
208 チップ部品
300 単一チップ試験プローブ
302 試験プローブ本体
304 試験プローブ・チップ
400 差動プローブ
402 プローブ本体
404 試験プローブ・チップ
406 試験プローブ・チップ
600 抵抗性要素(抵抗器)
602 構造部材
604a 金属レイヤ
604b 金属レイヤ
606 抵抗性レイヤ
700 抵抗性要素(抵抗器)
702 構造部材
702a 第1構造部材
702b 第2構造部材
704a 金属レイヤ
704b 金属レイヤ
706 抵抗性レイヤ
800 クリップ/挿入物システム
802 被試験デバイス(DUT)又はプリント回路基板(PCB)
804 表面トレース
804a 表面トレースの第1部分
804b 表面トレースの第2部分
810 クリップ
812a 導電性第1端部
812b 導電性第2端部
814 非導電性部材
815 挿入物
820 ゼロ・オーム挿入物
830 非ゼロ・オーム抵抗性挿入物
840 電流測定用挿入物
900 クリップ/挿入物システム
910 クリップ
920 ゼロ・オーム挿入物
1000 クリップ/挿入物システム
1010 クリップ
1020 挿入物
1026 マイクロ・コイル
1110 ピン・ゲージ
Claims (7)
- 導電性の第1端部と、導電性の第2端部と、上記第1及び第2端部を接続する非導電性部材とを有するクリップであって、被試験デバイスの2つの導電部分の間に取り付けられて、上記2つの導電部分の間の非導電性ギャップにブリッジを形成するよう構成される上記クリップと、
上記クリップに取り外し可能に装着されて、上記被試験デバイスの上記2つの導電部分の間に、インピーダンスが実質的にない電流パスを提供する第1挿入物と、
上記クリップに取り外し可能に装着されて、試験測定装置を結合するための1対の信号測定ポイントを提供する第2挿入物と
を具える試験測定装置を被試験デバイスに結合する装置。 - 上記第2挿入物が、ゼロより大きい抵抗値Rを有する抵抗性要素を含む請求項1の試験測定装置を被試験デバイスに結合する装置。
- 上記抵抗性要素の2つの端部が、上記1対の信号測定ポイントを提供し、上記1対の信号測定ポイントは、プローブによって試験測定装置に結合される請求項2の試験測定装置を被試験デバイスに結合する装置。
- 上記抵抗性要素の周囲にループを形成したマイクロ・コイルを更に具え、該マイクロ・コイルが、上記1対の信号測定ポイントを提供する一対のリードを有する請求項2の試験測定装置を被試験デバイスに結合する装置。
- 上記第2挿入物が、上記被試験デバイスの上記2つの導電部分の間に実質的にインピーダンスのない電流パスを提供する導電性ワイヤのループを含む電流測定用挿入物と、上記ループを流れる電流を検出するホール・デバイスとを有し、該ホール・デバイスの出力端子が上記一対の信号測定ポイントを提供する請求項1の試験測定装置を被試験デバイスに結合する装置。
- 導電性の第1端部と、導電性の第2端部と、上記第1及び第2端部を接続する非導電体部材とを有するクリップであって、被試験デバイスの2つの導電部分の間に取り付けられて、上記2つの導電部分の間の非導電性ギャップにブリッジを形成するよう構成される上記クリップと、
上記クリップに取り外し可能に装着されて、上記被試験デバイスの上記2つの導電部分の間に、インピーダンスが実質的にない電流パスを提供する第1挿入物と、
オシロスコープと、
プローブと
を具え、
該プローブのプローブ・チップには、上記クリップに取り外し可能に装着される第2挿入物が含まれ、上記プローブ・チップは、上記第2挿入物を流れる電流を示す電圧信号を出力するよう構成され、上記プローブは、上記プローブ・チップの出力信号を上記オシロスコープの入力端子に結合する試験測定システム。 - 被試験デバイス(DUT)の動作モードを設定する方法であって、
導電性の第1端部と、導電性の第2端部と、上記第1及び第2端部を接続する非導電性部材とを有するクリップを上記DUTの2つの導電部分の間に取り付けることで、上記クリップで上記2つの導電部分の間の非導電性ギャップにブリッジを形成し、
上記DUTの通常動作モードの場合には、上記被試験デバイスの上記2つの導電部分の間に、インピーダンスが実質的にない電流パスを提供する第1挿入物を上記クリップに取り外し可能に装着し、
上記DUTの測定動作モードの場合には、試験測定装置を結合するための1対の信号測定ポイントを提供する第2挿入物を上記クリップに取り外し可能に装着する
被試験デバイス(DUT)の動作モードを設定する方法。
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