JP7452158B2 - センサ装置およびセンサシステム - Google Patents

Description

本発明は、センサ装置およびセンサシステムに関する。

従来、外部の処理装置に、ＳＥＮＴ（登録商標）プロトコル等による信号を出力する圧力センサが知られている（例えば、特許文献１および２参照）。
特許文献１ 特開２０１９－８６４１７号公報
特許文献２ 米国特許第１０１２９３３９号明細書

圧力センサの個数が増大すると、それぞれの圧力センサと処理装置とを接続するハーネス数が増大してしまう。

上記課題を解決するために、本発明の第１の態様においては、物理量を検出する物理量センサを備えるセンサ装置を提供する。センサ装置は、外部から入力された第１信号に含まれる第１データ、および、物理量センサの検出結果を示す第２データを含む第２信号を生成して出力する処理回路を備えてよい。

処理回路は、第１信号と同一のプロトコルの第２信号を生成してよい。

処理回路は、第１信号から第１データを抽出するデコーダを有してよい。

第１信号および第２信号のそれぞれは、データを格納するデータスロットを複数有してよい。処理回路は、第１信号のデータスロットから抽出した第１データと、第２データとを、第２信号の異なるデータスロットに格納してよい。

物理量センサは圧力センサであってよい。

処理回路は、第１信号と同期したクロック信号を受信し、クロック信号に基づいて第１信号を処理してよい。

第１信号および第２信号のそれぞれは、複数のメッセージを有してよい。それぞれのメッセージは、２つ以上のファストデータスロットと、スローデータスロットとを有してよい。第１信号および第２信号のそれぞれは、予め定められたデータが、２つ以上のメッセージにおけるスローデータスロットに分割して格納される信号であってよい。処理回路は、第１データおよび第２データを、第２信号の２つのファストデータスロットに格納してよい。

第１データおよび第２データは、圧力値を示すデータであってよい。処理回路は、スローデータスロットに、温度を示すデータを格納してよい。

処理回路は、第１信号のスローデータスロットに格納されたデータを抽出せず、第１信号のファストデータスロットのうち、第１データが格納されるスロットとして予め設定されたファストデータスロットからデータを抽出してよい。

第１信号および第２信号は、ＳＥＮＴプロトコルに準拠した信号であってよい。

本発明の第２の態様においては、物理量を検出する物理量センサを備えるセンサ装置を提供する。センサ装置は、外部から入力された第１信号に含まれる第１データ、および、物理量センサの検出結果を示す第２データを含む第２信号を生成する第１生成機能と、物理量センサの検出結果を示す第２データを含む第３信号を生成する第２生成機能と、を備えた処理回路を備えてよい。

処理回路は、第１信号と同一のプロトコルに準拠した第２信号を生成してよい。

処理回路は、第１信号から第１データを抽出するデコーダを有してよい。

処理回路は、設定情報を入力することにより第１生成機能と第２生成機能とのいずれかを選択してよい。

センサ装置はメモリを備えてよい。設定情報がメモリに記憶されていてよい。

第１から第３信号は、ＳＥＮＴプロトコルに準拠した信号であってよい。

物理量センサは圧力センサであってよい。

本発明の第３の態様においては、第１センサ装置および第２センサ装置を備えるセンサシステムを提供する。第１センサ装置は、物理量を検出する第１物理量センサを有してよい。第１センサ装置は、第１物理量センサの検出結果を示す第１データを含む第１信号を生成して出力する第１処理回路を有してよい。第２センサ装置は、物理量を検出する第２物理量センサを有してよい。第２センサ装置は、第１信号を受け取り、第１信号に含まれる第１データ、および、第２物理量センサの検出結果を示す第２データを含む第２信号を生成して出力する第２処理回路を有してよい。

第１センサ装置および第２センサ装置は、互いに異なる回路基板に実装されていてよい。

第１処理回路および第２処理回路は、同一プロトコルの第１信号および第２信号を生成してよい。

第２処理回路は、第１信号から第１データを抽出するデコーダを有してよい。

第１センサ装置と第２センサ装置の組を複数備えてよい。

なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。

本発明の一つの実施形態に係るセンサシステム１０の構成例を示す図である。 第１信号Ｓ１および第２信号Ｓ２のデータフォーマットの一例を示す図である。 第２信号Ｓ２のデータフォーマットの一例を示す図である。 センサシステム１０の他の構成例を示す図である。 センサシステム１０の他の構成例を示す図である。 センサシステム１０の他の構成例を示す図である。 第１センサ装置１００－１および第２センサ装置１００－２の配置例を示す図である。 センサシステム２００の一例を示す図である。

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。

図１は、本発明の一つの実施形態に係るセンサシステム１０の構成例を示す図である。センサシステム１０は、周囲環境における圧力または温度等の物理量を検出して、検出結果を示す信号を制御装置２０に出力する。センサシステム１０は、制御装置２０に信号を伝送するハーネスを備えてよい。ハーネスは例えばワイヤーであるが、ワイヤー以外の配線であってもよい。

制御装置２０は、センサシステム１０から受け取った信号を処理する。制御装置２０は、信号処理の結果に基づいて、他の機器を制御してよい。一例として制御装置２０は、車両のエンジンを制御するエンジン制御装置（ＥＣＵ）であり、センサシステム１０は、エンジンのいずれかの領域の圧力を検出する圧力センサである。制御装置２０は、センサシステム１０からの信号に基づいて、車両のエンジンを制御してよい。

センサシステム１０は、物理量を検出する複数のセンサ装置１００を備える。物理量は、例えば周囲環境の圧力、温度、または、湿度等であるが、これらに限定されない。一つのセンサ装置１００が１種類の物理量を検出してよく、複数種類の物理量を検出してもよい。図１の例では、センサシステム１０は、第１センサ装置１００－１および第２センサ装置１００－２を備えている。それぞれのセンサ装置１００は、互いに異なる回路基板に実装された装置であってよい。本明細書において回路基板は、半導体基板、プリント基板、または、フレキシブル基板等であってよい。

それぞれのセンサ装置１００は、物理量センサ１１２、処理回路１１０、端子１１５および端子１１７を有する。同一のセンサ装置１００における物理量センサ１１２および処理回路１１０は、同一の回路基板に実装されてよい。

物理量センサ１１２は、圧力、温度等の物理量を検出する。物理量センサ１１２は、検出した物理量に応じた電気信号を出力してよい。例えば物理量センサ１１２は、圧力センサである。物理量センサ１１２は、検出する圧力値に応じて電気抵抗値が変化する検出部を有し、電気抵抗値に応じたアナログの電気信号を出力してよい。

処理回路１１０は、物理量センサ１１２の検出結果を含む信号を生成する。処理回路１１０は、物理量センサ１１２からのアナログ信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換器１１３と、当該デジタル信号を処理する論理回路１１４を有してよい。本例においては、第１センサ装置１００－１の処理回路１１０－１が出力する信号を第１信号Ｓ１、第２センサ装置１００－２の処理回路１１０－２が出力する信号を第２信号Ｓ２とする。また、第１信号Ｓ１には、第１センサ装置１００－１の物理量センサ１１２－１の検出結果を示す第１データＤ１が含まれており、第２信号Ｓ２には、第２センサ装置１００－２の物理量センサ１１２－２の検出結果を示す第２データＤ２と、第１データＤ１とが含まれている。

本例においては、第１センサ装置１００－１の論理回路１１４－１は、第１信号Ｓ１を第２センサ装置１００－２に出力する。第２センサ装置１００－２は、入力された第１信号Ｓ１に含まれる第１データＤ１を抽出する。処理回路１１０－２は、第１信号Ｓ１から第１データＤ１を抽出するデコーダ１１６－２を有してよい。デコーダ１１６－２には、第１信号Ｓ１のいずれのビットが第１データＤ１に対応するかを示す情報が予め設定されていてよい。

処理回路１１０－２の論理回路１１４－２は、デコーダ１１６－２が抽出した第１データＤ１と、物理量センサ１１２－２の検出結果を示す第２データＤ２を含む第２信号Ｓ２を生成して、制御装置２０に出力する。制御装置２０は、第２信号Ｓ２をデコードすることで、第１データＤ１および第２データＤ２を抽出する。このような構成により、制御装置２０に接続されるハーネスの本数を削減できる。特に、制御装置２０に複数のセンサシステム１０が接続される場合、それぞれのセンサ装置１００を制御装置２０に接続すると、ハーネス本数が多くなってしまう。これに対して本例によれば、一つのセンサシステム１０が一つのハーネスで制御装置２０に接続される。このため、ハーネスが集中しやすい制御装置２０に接続されるハーネス数を低減できる。

本例において第１信号Ｓ１および第２信号Ｓ２はデジタル信号である。処理回路１１０－２は、第１信号Ｓ１と同一のプロトコルに準拠した第２信号Ｓ２を生成してよい。一例として当該プロトコルはＳＥＮＴプロトコルである。

第１信号Ｓ１および第２信号Ｓ２のそれぞれは、データを格納するデータスロットを複数有してよい。スロットとは、信号におけるビット群であってよい。例えば第１信号Ｓ１および第２信号Ｓ２の所定範囲のビットが、データスロットに割り当てられている。デコーダ１１６－２は、第１信号Ｓ１のデータスロットから第１データＤ１を抽出する。論理回路１１４－２は、デコーダ１１６－２が抽出した第１データＤ１と、第２データＤ２とを、第２信号Ｓ２の異なるデータスロットに格納してよい。

図２は、第１信号Ｓ１および第２信号Ｓ２のデータフォーマットの一例を示す図である。データフォーマットとは、信号の各スロットに割り当てられている役割を示す情報である。

本例の第１信号Ｓ１は１つ以上のメッセージＭ１を含み、第２信号Ｓ２は１つ以上のメッセージＭ２を含む。それぞれのメッセージＭは、同期スロットＳｙｎｃ、状態スロットＳｔａ、第１データスロットＤａｔａ１、第２データスロットＤａｔａ２、および、誤り訂正スロットＣＲＣを有する。

同期スロットＳｙｎｃは、当該メッセージと他のメッセージとの境界を示すスロットである。本例の同期スロットＳｙｎｃは、メッセージＭの先頭に配置されており、予め定められたデータ値を格納する。状態スロットＳｔａは、センサシステム１０のいずれかの機器の状態、または、信号Ｓの状態を示すデータを格納する。状態スロットＳｔａは、センサシステム１０のいずれかの機器において異常が検出された場合にエラーデータを格納してよく、データスロットＤａｔａに格納されているデータの物理量の種類、または、物理量センサ１１２の種類等を示すデータを格納してよく、データスロットＤａｔａに格納されているデータの上限値、下限値、または、物理量を算出するのにデータ値に乗ずるべき係数等を示すデータを格納してもよい。状態スロットＳｔａは、信号Ｓのプロトコルのバージョンを示すデータを格納してもよい。

第１データスロットＤａｔａ１および第２データスロットＤａｔａ２は、物理量センサ１１２が検出した物理量に応じたデータＤを格納する。誤り訂正スロットＣＲＣは、メッセージにおけるデータ誤りを訂正するための、ＣＲＣ符号等のデータを格納する。

本例の論理回路１１４－１は、第１信号Ｓ１のいずれかのデータスロット（図２の例では第１データスロットＤａｔａ１）に、第１データＤ１を格納する。デコーダ１１６－２は、第１信号Ｓ１から第１データＤ１を抽出する。論理回路１１４－２は、第２信号Ｓ２のいずれかのデータスロット（図２の例では第１データスロットＤａｔａ１）に第１データＤ１を格納し、他のデータスロット（図２の例では第２データスロットＤａｔａ２）に第２データＤ２を格納する。

これにより、第１データＤ１および第２データＤ２を含む第２信号Ｓ２を生成できる。処理回路１１０－１および処理回路１１０－２は、同一のプロトコル（例えばＳＥＮＴプロトコル）に応じて信号を処理する回路であってよい。

図３は、第２信号Ｓ２のデータフォーマットの一例を示す図である。本例では第２信号Ｓ２のデータフォーマットを説明するが、第１信号Ｓ１も、第２信号Ｓ２と同一のデータフォーマットを有する。本例の第２信号Ｓ２は、ｎ個（ただしｎは２以上の整数）のメッセージＭ２－１～Ｍ２－ｎを含む。

ｎ個のメッセージのそれぞれは、２つ以上のファストデータスロットと、スローデータスロットを有する。本例では、第１データスロットＤａｔａ１および第２データスロットＤａｔａ２が、２つのファストデータスロットに対応する。また、状態スロットＳｔａの一部のビットが、スローデータスロットＳＤに対応する。図３においては、各メッセージの状態スロットＳｔａ１～Ｓｔａｎを並べて示している。破線で示されるように、それぞれの状態スロットＳｔａ１～Ｓｔａｎは、スローデータスロットＳＤ１～ＳＤｎを含む。

第２信号Ｓ２は、予め定められたデータが、２つ以上のメッセージＭにおけるスローデータスロットに分割して格納される信号である。本例では、ｎ個のメッセージＭ２－１～Ｍ２－ｎの各スローデータスロットＳＤ１～ＳＤｎに、所定のデータが分割して格納される。制御装置２０は、第２信号Ｓ２に含まれるｎ個のスローデータスロットＳＤ１～ＳＤｎの各ビットを結合することで、スローデータを検出してよい。つまり、ファストデータは、１つのメッセージから１つのデータが検出されるデータであり、スローデータは、複数のメッセージから１つのデータが検出されるデータである。このため、スローデータは、ファストデータよりもデータの送信速度が遅くなる。

本例の処理回路１１０－１は、第１データＤ１を、第１信号Ｓ１のファストデータスロットに格納する。また、処理回路１１０－２は、第１データＤ１および第２データＤ２を、第２信号Ｓ１のファストデータスロットに格納する。第１データＤ１および第２データＤ２は圧力値を示すデータであってよい。

処理回路１１０－２は、第２信号Ｓ２のスローデータスロットに、第１データＤ１および第２データＤ２とは異なる種類の物理量を示すデータを格納してよい。例えば処理回路１１０－２は、温度を示すデータをスローデータスロットに格納する。当該温度は、第１センサ装置１００－１が検出した温度であってよく、第２センサ装置１００－２が検出した温度であってもよい。この場合、第１センサ装置１００－１および第２センサ装置１００－２の少なくとも一方は、温度センサを有する。

このような構成により、検出周期を短くしたいデータと、比較的に検出周期が長くてもよいデータとを、同一の信号で送信できる。例えば、圧力変動には高速に追従してエンジンを制御したいが、温度変動に対しては比較的に低速な追従でよい場合に、本例の構成が有効である。

一例として、第２センサ装置１００－２の処理回路１１０－２が、第２信号Ｓ２のスローデータスロットに、温度等の物理量のデータを格納してよい。この場合、デコーダ１１６－２は、第１信号Ｓ１のスローデータを抽出しなくてよい。このため、デコーダ１１６－２の回路規模を低減できる。第１センサ装置１００－１の処理回路１１０－１は、第１信号Ｓ１のスローデータスロットにデータを格納してよく、格納しなくてもよい。いずれの場合でも、デコーダ１１６－２は、第１信号Ｓ１のスローデータを抽出しなくてよい。

またデコーダ１１６－２は、複数のファストデータスロットのうち、第１データＤ１が格納されるスロットとして予め設定されたデータスロットのデータを抽出してよい。他のデータスロットのデータを抽出しないことで、デコーダ１１６－２の回路規模を低減できる。

処理回路１１０－１は、第１センサ装置１００－１に異常が生じた場合に、第１データＤ１に代えて、所定のビット値のエラーデータをファストデータスロットに格納してもよい。これにより、回路規模の小さいデコーダ１１６－２によりエラーデータを抽出できる。処理回路１１０－１は、状態スロットＳｔａにエラーデータを格納してもよい。この場合、デコーダ１１６－２は、状態スロットＳｔａのデータも抽出することが好ましい。処理回路１１０－２は、第１センサ装置１００－１および第２センサ装置１００－２のいずれかで異常が生じている場合に、第２信号Ｓ２の状態スロットＳｔａにエラーデータを格納してよい。

図４は、センサシステム１０の他の構成例を示す図である。本例のセンサシステム１０は、第１センサ装置１００－１の論理回路１１４－１が、第１信号Ｓ１とともに、第１信号Ｓ１と同期したクロック信号ＣＬＫを出力する点で、図１から図３において説明した例と相違する。センサシステム１０は、クロック信号ＣＬＫに関する構成以外は、図１から図３において説明した例と同様の構成を有する。

第２センサ装置１００－２のデコーダ１１６－２は、第１信号Ｓ１およびクロック信号ＣＬＫを受信する。デコーダ１１６－２は、クロック信号に応じて第１信号Ｓ１をサンプリングすることで、第１信号Ｓ１における各ビットの値を抽出する。このような構成により、第１信号Ｓ１の値を精度よく検出できる。

第２センサ装置１００－２は、第２信号Ｓ２に同期したクロック信号を、第２信号Ｓ２とあわせて制御装置２０に出力してよい。第２信号Ｓ２の周期は、第１信号Ｓ１と同一であってよく、異なっていてもよい。

図５Ａは、センサシステム１０の他の構成例を示す図である。本例のセンサシステム１０は、第１センサ装置１００－１がデコーダ１１６－１および端子１１７－１を有し、各センサ装置１００がメモリ１１８および端子１１９を有する点で、図１から図４において説明した各例と相違する。つまり、第１センサ装置１００－１と、第２センサ装置１００－２とは、同一の構成を有している。他の構成は、図１から図４において説明したいずれかの例と同様である。

本例では、センサ装置１００のうち、他方のセンサ装置１００に信号Ｓを出力する装置をマスター側装置と称し、制御装置２０に信号を出力する装置をスレーブ側装置と称する。図１から図４の例では、第１センサ装置１００－１がマスター側装置であり、第２センサ装置１００－２がスレーブ側装置である。図５Ａに示した構成により、任意のセンサ装置１００をマスター側装置として機能させることができ、また、スレーブ側装置として機能させることができる。図５Ａの例では、第１センサ装置１００－１がスレーブ側装置であり、第２センサ装置１００－２がマスター側装置である。各センサ装置１００のメモリ１１８には、当該装置がマスター側か、スレーブ側かの設定情報が記憶されており、各センサ装置１００の論理回路１１４は、対応するセンサ装置１００がマスター側であることを示す設定情報Ｓｍｓｔ、または、スレーブ側であることを示す設定情報Ｓｓｌｖを、メモリ１１８から読み込んでよい。端子１１９は、各センサ装置１００がマスター側かスレーブ側かの設定情報を、外部よりメモリ１１８に記憶してよい。また、各センサ装置１００がマスター側か、スレーブ側かの設定情報は、メモリ１１８に記憶せず、外部から直接論理回路１１４に入力されてもよい。各装置を接続するハーネスは、当該設定情報に対応して設けられる。センサシステム１０は、当該設定情報に応じて、いずれのセンサ装置１００の出力端子を、制御装置２０へのハーネスに接続するかを切り替える切替部を備えていてもよい。またこの場合、マスター側装置とスレーブ側装置は、物理的な形状および内部構造が同一となるため、両者を区別するための外観の色彩や形状を異ならせてもよい。また、マスター側装置とスレーブ側装置を逆に接続した場合、各センサ装置１００または制御装置２０は、エラー信号を出力してもよい。

マスター側として設定された論理回路１１４は、対応する物理量センサ１１２からのデータを信号Ｓに格納する。スレーブ側として設定された論理回路１１４は、対応するデコーダ１１６からのデータと、対応する物理量センサ１１２からのデータを信号Ｓに格納する。このような構成により、それぞれのセンサ装置１００を、スレーブ側およびマスター側のいずれの装置としても機能させることができる。

図５Ｂは、図５Ａの例において用いたセンサ装置１００を１つのみ有するものである。この場合、センサ装置１００は第３信号Ｓ３を出力する。本例のセンサ装置１００は、図５Ａに示した第２センサ装置１００－２と同様にメモリ１１８を備える。メモリ１１８には、センサ装置１００が単体で使用されることの設定情報を記憶してよい。論理回路１１４は、センサ装置１００が単体で使用されることの設定情報Ｓｓｇｌを、メモリ１１８から読み込んでよい。端子１１９は、当該装置が単体で使用されることの設定情報を、外部よりメモリ１１８に記憶してよい。論理回路１１４は、物理量センサ１１２からのデータを基に第３信号Ｓ３を生成する。

図５Ａおよび図５Ｂに記載のメモリ１１８には、物理量センサの出力を校正するデータを記憶してよい。また、該メモリ１１８は、フラッシュメモリなどの書き換え可能な不揮発性メモリを用いることができる。

以上のように、マスター側、もしくはスレーブ側として機能させることができるセンサ装置１００を単体で使用させることもできる。よって、センサ装置１００は、マスター側か、スレーブ側か、単体かを選択可能とすることができる。このため、論理回路１１４は、スレーブ側として使用する場合の機能として、外部から入力された第１信号から第１データと物理量センサの検出結果を示す第２データを含む第２信号を生成する第１生成機能を備えている。さらに、論理回路１１４は、マスター側もしくは単体として使用する場合の機能として、物理量センサの検出結果を示す第２データを含む第３信号生成する第２生成機能を備えている。そして、メモリ１１８に記憶させた設定情報により、３つ使用態様を切り替えることができる。なお、マスター側として機能させる場合と単体使用の場合は、同じ設定情報としてもよい。

図６は、第１センサ装置１００－１および第２センサ装置１００－２の配置例を示す図である。本例の第１センサ装置１００－１および第２センサ装置１００－２は、車両のエンジンの吸気ガスまたは排気ガスが通過するガス管４０内のガス圧力を検出する。ガス管４０には、ガス管４０を通過するガスに含まれる異物等を除去するフィルタ３０が設けられている。第１センサ装置１００－１は、フィルタ３０の上流側のガス管４０内のガス圧力を検出する。第２センサ装置１００－２は、フィルタ３０の下流側のガス管４０内のガス圧力を検出する。上流および下流は、ガスが流れる方向に沿った位置を指す。フィルタ３０を挟んだ２つの位置のガス圧力を検出することで、フィルタ３０の目詰まり等を検出できる。また、フィルタ３０の近傍の２つのセンサ装置を、第１センサ装置１００－１および第２センサ装置１００－２として組み合わせることで、センサ装置間の距離を短くして、ハーネス長を短くできる。また、関連する２つの圧力値を、一つの信号に含めて制御装置２０に伝送できる。

図７は、センサシステム２００の一例を示す図である。本例のセンサシステム２００は、図１から図６において説明したセンサシステム１０を複数備える。つまり、センサシステム２００は、第１センサ装置１００－１と、第２センサ装置１００－２の組を複数備える。通常は、センサ装置１００の個数が増大するほど、制御装置２０にはハーネスが集中する。本例によれば、２つのセンサ装置１００を含むセンサシステム１０と、制御装置２０とが一つのハーネスで接続されるので、制御装置２０に接続されるハーネスの本数を半分にできる。

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。

特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。

１０・・・センサシステム、２０・・・制御装置、３０・・・フィルタ、４０・・・ガス管、１００・・・センサ装置、１１０・・・処理回路、１１２・・・物理量センサ、１１３・・・ＡＤ変換器、１１４・・・論理回路、１１５・・・端子、１１６・・・デコーダ、１１７・・・端子、１１８・・・メモリ、１１９・・・端子、２００・・・センサシステム

Claims (17)

1. 物理量を検出する物理量センサと、
   外部から入力された第１信号に含まれる第１データ、および、前記物理量センサの検出結果を示す第２データを含む第２信号を生成して出力する処理回路と
   を備え、
   前記第１信号および前記第２信号のそれぞれは、第１データスロットおよび第２データスロットを有し、
   前記第１信号の前記第１データスロットには、前記第１データが格納され、
   前記処理回路は、前記第１信号のいずれのビットが前記第１データスロットに対応するかを示す情報が予め設定され、前記第１信号から前記第１データを抽出するデコーダを有し、
   前記処理回路は、前記第１信号から抽出した前記第１データを前記第１データスロットに格納し、前記第２データを前記第２データスロットに格納した前記第２信号を生成する
   センサ装置。
2. 前記デコーダは、前記第１信号の前記第２データスロットのデータを抽出しない
   請求項１に記載のセンサ装置。
3. 前記第１信号および前記第２信号のそれぞれは、状態スロットを更に有し、
   前記第１信号を出力する装置に異常が生じた場合に、前記第１信号の前記第１データスロットには、前記第１データに代えてエラーデータが格納され、
   前記処理回路は、前記第１信号を出力する装置に異常が生じている場合に、前記第２信号の前記状態スロットに、前記第１信号を出力する装置に異常が生じている旨のデータを格納する
   請求項１または２に記載のセンサ装置。
4. 前記センサ装置が、マスター側装置およびスレーブ側装置のいずれとして機能するかを示す設定情報を記憶したメモリを更に備え、
   前記設定情報が前記マスター側装置として機能することを示している場合、前記処理回路は、前記物理量センサからの前記第２データを、前記第２データスロットに格納した前記第２信号を生成し、
   前記設定情報が前記スレーブ側装置として機能することを示している場合、前記処理回路は、前記第１信号から抽出した前記第１データを前記第１データスロットに格納し、前記第２データを前記第２データスロットに格納した前記第２信号を生成する
   請求項１から３のいずれか一項に記載のセンサ装置。
5. 前記処理回路は、前記第１信号と同一のプロトコルに準拠した前記第２信号を生成する
   請求項１から４のいずれか一項に記載のセンサ装置。
6. 前記処理回路は、前記第１信号と同期したクロック信号を受信し、前記クロック信号に基づいて前記第１信号を処理する
   請求項１から５のいずれか一項に記載のセンサ装置。
7. 前記第１信号および前記第２信号のそれぞれは、
   複数のメッセージを有し、
   それぞれのメッセージは、２つ以上のファストデータスロットと、スローデータスロットとを有し、
   予め定められたデータが、２つ以上の前記メッセージにおける前記スローデータスロットに分割して格納される信号であり、
   前記処理回路は、前記第１データおよび前記第２データを、前記第２信号の２つの前記ファストデータスロットに格納する
   請求項１から６のいずれか一項に記載のセンサ装置。
8. 前記第１データおよび前記第２データは、圧力値を示すデータであり、
   前記処理回路は、前記スローデータスロットに、温度を示すデータを格納する
   請求項７に記載のセンサ装置。
9. 前記処理回路は、
   前記第１信号のスローデータスロットに格納されたデータを抽出せず、前記第１信号の前記ファストデータスロットのうち、前記第１データが格納されるスロットとして予め設定された前記ファストデータスロットからデータを抽出する
   請求項７または８に記載のセンサ装置。
10. 前記第１信号および前記第２信号は、ＳＥＮＴプロトコルに準拠した信号である
    請求項７から９のいずれか一項に記載のセンサ装置。
11. 第１センサ装置および第２センサ装置を備え、
    前記第１センサ装置は、
    物理量を検出する第１物理量センサと、
    前記第１物理量センサの検出結果を示す第１データを含む第１信号を生成して出力する第１処理回路と
    を有し、
    前記第２センサ装置は、
    物理量を検出する第２物理量センサと、
    前記第１信号を受け取り、
    前記第１信号に含まれる前記第１データ、および、前記第２物理量センサの検出結果を示す第２データを含む第２信号を生成して出力する第２処理回路と
    を備え、
    前記第１信号および前記第２信号のそれぞれは、第１データスロットおよび第２データスロットを有し、
    前記第１信号の前記第１データスロットには、前記第１データが格納され、
    前記第２処理回路は、前記第１信号のいずれのビットが前記第１データスロットに対応するかを示す情報が予め設定され、前記第１信号から前記第１データを抽出するデコーダを有し、
    前記第２処理回路は、前記第１信号から抽出した前記第１データを前記第１データスロットに格納し、前記第２データを前記第２データスロットに格納した前記第２信号を生成するセンサシステム。
12. 前記デコーダは、前記第１信号の前記第２データスロットのデータを抽出しない
    請求項１１に記載のセンサシステム。
13. 前記第１信号および前記第２信号のそれぞれは、状態スロットを更に有し、
    前記第１センサ装置に異常が生じた場合に、前記第１信号の前記第１データスロットには、前記第１データに代えてエラーデータが格納され、
    前記第２処理回路は、前記第１センサ装置に異常が生じている場合に、前記第２信号の前記状態スロットに、前記第１センサ装置に異常が生じている旨のデータを格納する
    請求項１１または１２に記載のセンサシステム。
14. 前記第２センサ装置は、前記第２センサ装置が、マスター側装置およびスレーブ側装置のいずれとして機能するかを示す第２設定情報を記憶した第２メモリを更に有し、
    前記第２設定情報が前記マスター側装置として機能することを示している場合、前記第２処理回路は、前記第２物理量センサからの前記第２データを、前記第２データスロットに格納した前記第２信号を生成して前記第１センサ装置に出力し、
    前記第２設定情報が前記スレーブ側装置として機能することを示している場合、前記第２処理回路は、前記第１信号から抽出した前記第１データを前記第１データスロットに格納し、前記第２データを前記第２データスロットに格納した前記第２信号を生成する
    請求項１１から１３のいずれか一項に記載のセンサシステム。
15. 前記第１センサ装置および前記第２センサ装置は、互いに異なる回路基板に実装されている
    請求項１１から１４のいずれか一項に記載のセンサシステム。
16. 前記第１処理回路および前記第２処理回路は、同一プロトコルに準拠した前記第１信号および前記第２信号を生成する
    請求項１１から１５のいずれか一項に記載のセンサシステム。
17. 前記第１センサ装置と前記第２センサ装置の組を複数備える
    請求項１１から１６のいずれか一項に記載のセンサシステム。

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