JP7396560B2 - X線撮像装置及びx線撮像装置の制御方法 - Google Patents
X線撮像装置及びx線撮像装置の制御方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7396560B2 JP7396560B2 JP2021095281A JP2021095281A JP7396560B2 JP 7396560 B2 JP7396560 B2 JP 7396560B2 JP 2021095281 A JP2021095281 A JP 2021095281A JP 2021095281 A JP2021095281 A JP 2021095281A JP 7396560 B2 JP7396560 B2 JP 7396560B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gate
- film transistor
- thin film
- voltage
- ray
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 123
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 40
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 71
- 206010027146 Melanoderma Diseases 0.000 claims description 61
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 48
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 32
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 26
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 25
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 24
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 24
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 40
- 230000008569 process Effects 0.000 description 9
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B42/00—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means
- G03B42/02—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means using X-rays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
- H01L27/14658—X-ray, gamma-ray or corpuscular radiation imagers
- H01L27/14663—Indirect radiation imagers, e.g. using luminescent members
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/48—Diagnostic techniques
- A61B6/485—Diagnostic techniques involving fluorescence X-ray imaging
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
- A61B6/548—Remote control of the apparatus or devices
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/58—Testing, adjusting or calibrating thereof
- A61B6/582—Calibration
- A61B6/585—Calibration of detector units
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/208—Circuits specially adapted for scintillation detectors, e.g. for the photo-multiplier section
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/14—Picture signal circuitry for video frequency region
- H04N5/20—Circuitry for controlling amplitude response
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/58—Testing, adjusting or calibrating thereof
- A61B6/586—Detection of faults or malfunction of the device
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Public Health (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
図1は、第1実施形態におけるX線撮像装置100を示す模式図である。X線撮像装置100は、光電変換パネル1とシンチレータ2とを含むX線撮像パネル10と、制御部3と、X線源4と、記憶部5と、操作部6とを備える。
次に、図10を参照して、第1実施形態によるX線撮像装置100の制御方法について説明する。図10は、X線撮像装置100の制御処理を示すフロー図である。下記の制御処理(閾値補正モード)は、制御回路33により実行される。なお、通常の撮像モードにおける制御処理の説明は省略する。
図11~図14を参照して、第2実施形態におけるX線撮像装置200の構成について説明する。図11は、第2実施形態におけるX線撮像装置200のブロック図である。図12は、第2実施形態における黒点画素B1及びB2の検出を説明するための図である。図13は、黒点画素B1及びB2の座標情報251を説明するための図である。図14は、第2実施形態によるTFT14のプラスシフトを説明するための図である。第2実施形態では、X線撮像装置200は、マイナスシフトの度合が異なる黒点画素B1及びB2を検出し、マイナスシフトの度合に応じたプラスシフト電圧Vh1及びVh2を、TFT14に印加する。なお、第1実施形態と同様の構成には、第1実施形態と同じ符号を用い説明を省略する。
図15~図17を参照して、第3実施形態におけるX線撮像装置300の構成について説明する。図15は、第3実施形態におけるX線撮像装置300のブロック図である。図16Aは、検査電圧値Vb1を用いて生成された検査撮像画像R1の例の図であり、図16Bは、検査電圧値Vb2を用いて生成された検査撮像画像R2の例の図である。図17は、黒点画素B11及びB12の座標情報351を説明するための図である。図18は、第3実施形態によるTFT14のプラスシフトを説明するための図である。第3実施態では、X線撮像装置300は、2段階の検査電圧値Vb1及びVb2を用いて、検査撮像画像R1及びR2を生成し、マイナスシフトの度合が異なる黒点画素B11及びB12を検出する。なお、第1又は第2実施形態と同様の構成には、第1又は第2実施形態と同じ符号を用い説明を省略する。
次に、図19を参照して、第3実施形態によるX線撮像装置300の制御方法について説明する。図19は、X線撮像装置300の制御処理を示すフロー図である。下記の制御処理は、制御回路333により実行される。
Claims (8)
- X線源と、
前記X線源から照射されるX線を光に変換するシンチレータと、当該シンチレータからの光を電気信号に変換する光電変換素子と、当該光電変換素子に接続された薄膜トランジスタと、を含む、X線撮像パネルと、
前記X線源によるX線の照射、及び前記X線撮像パネルによる撮像を制御する制御部と、
前記薄膜トランジスタのゲートに電圧を印加するゲート駆動回路と、を備え、
前記制御部は、
前記薄膜トランジスタにゲート信号を供給し、前記薄膜トランジスタから読み出したデータ信号に基づいて、前記X線源と前記X線撮像パネルとの間に被写体を配置しない状態で撮像された撮像画像である検査撮像画像を生成する画像処理部と、
前記検査撮像画像から黒点画素を検出する検出制御部と、
前記ゲート駆動回路から、前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのゲートに、当該薄膜トランジスタのゲートオフ閾値電圧を上昇させるプラスシフト電圧を印加させる閾値補正部と、を含む、X線撮像装置。 - 前記薄膜トランジスタのソースに読み出し電圧を印加する信号読出回路をさらに備え、
前記閾値補正部は、前記ゲート駆動回路から、前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのゲートに、前記プラスシフト電圧を印加させるとともに、前記信号読出回路から、前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのソースに、前記読み出し電圧を印加させる、請求項1に記載のX線撮像装置。 - X線源と、
前記X線源から照射されるX線を光に変換するシンチレータと、当該シンチレータからの光を電気信号に変換する光電変換素子と、当該光電変換素子に接続された薄膜トランジスタと、を含む、X線撮像パネルと、
前記X線源によるX線の照射、及び前記X線撮像パネルによる撮像を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記薄膜トランジスタにゲート信号を供給し、前記薄膜トランジスタから読み出したデータ信号に基づいて、前記X線源と前記X線撮像パネルとの間に被写体を配置しない状態で撮像された撮像画像である検査撮像画像を生成する画像処理部と、
前記検査撮像画像から黒点画素を検出する検出制御部と、
前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのゲートに、当該薄膜トランジスタのゲートオフ閾値電圧を上昇させるプラスシフト電圧を印加する閾値補正部と、を含み、
前記画像処理部は、被写体を撮像する場合に前記薄膜トランジスタに供給されるゲートオフ電圧よりも高いゲートオフ電圧である検査電圧値を有するゲート信号を、前記薄膜トランジスタに供給し、前記薄膜トランジスタから読み出したデータ信号に基づいて、前記検査撮像画像を生成する、X線撮像装置。 - 記憶部をさらに備え、
前記検出制御部は、前記黒点画素に対応する座標の情報を、前記記憶部に記憶させ、
前記閾値補正部は、前記座標の情報に基づく薄膜トランジスタのゲートに、前記プラスシフト電圧を印加する、請求項1~3のいずれか1項に記載のX線撮像装置。 - 前記検出制御部は、前記撮像画像における2つ以上の画素の画素値の平均値、中央値又は最頻値のうちのいずれかの値よりも所定の値以上小さい画素を、前記黒点画素として検出する、請求項1~4のいずれか1項に記載のX線撮像装置。
- X線源と、
前記X線源から照射されるX線を光に変換するシンチレータと、当該シンチレータからの光を電気信号に変換する光電変換素子と、当該光電変換素子に接続された薄膜トランジスタと、を含む、X線撮像パネルと、前記薄膜トランジスタのゲートに電圧を印加するゲート駆動回路と、を備えたX線撮像装置の制御方法であって、
前記X線源から前記X線撮像パネルにX線を照射するステップと、
前記薄膜トランジスタにゲート信号を供給し、前記薄膜トランジスタから読み出したデータ信号に基づいて、前記X線源と前記X線撮像パネルとの間に被写体を配置しない状態で撮像された撮像画像である検査撮像画像を取得するステップと、
前記検査撮像画像から黒点画素を検出するステップと、
前記ゲート駆動回路から、前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのゲートに、当該薄膜トランジスタのゲートオフ閾値電圧を上昇させるプラスシフト電圧を印加するステップと、を備える、X線撮像装置の制御方法。 - 前記X線撮像装置は、前記薄膜トランジスタのソースに読み出し電圧を印加する信号読出回路をさらに備え、
前記プラスシフト電圧を印加するステップは、前記ゲート駆動回路から、前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのゲートに、前記プラスシフト電圧を印加するとともに、前記信号読出回路から、前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのソースに、前記読み出し電圧を印加するステップである、請求項6に記載のX線撮像装置の制御方法。 - X線源と、
前記X線源から照射されるX線を光に変換するシンチレータと、当該シンチレータからの光を電気信号に変換する光電変換素子と、当該光電変換素子に接続された薄膜トランジスタと、を含む、X線撮像パネルと、を備えたX線撮像装置の制御方法であって、
前記X線源から前記X線撮像パネルにX線を照射するステップと、
前記薄膜トランジスタにゲート信号を供給し、前記薄膜トランジスタから読み出したデータ信号に基づいて、前記X線源と前記X線撮像パネルとの間に被写体を配置しない状態で撮像された撮像画像である検査撮像画像を取得するステップと、
前記検査撮像画像から黒点画素を検出するステップと、
前記黒点画素に対応する薄膜トランジスタのゲートに、当該薄膜トランジスタのゲートオフ閾値電圧を上昇させるプラスシフト電圧を印加するステップと、を備え、
前記検査撮像画像を取得するステップは、被写体を撮像する場合に前記薄膜トランジスタに供給されるゲートオフ電圧よりも高いゲートオフ電圧である検査電圧値を有するゲート信号を、前記薄膜トランジスタに供給し、前記薄膜トランジスタから読み出したデータ信号に基づいて、前記検査撮像画像を生成することを含む、X線撮像装置の制御方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021095281A JP7396560B2 (ja) | 2021-06-07 | 2021-06-07 | X線撮像装置及びx線撮像装置の制御方法 |
CN202210598927.4A CN115460360A (zh) | 2021-06-07 | 2022-05-30 | X射线摄像装置和x射线摄像装置的控制方法 |
US17/830,479 US11754728B2 (en) | 2021-06-07 | 2022-06-02 | X-ray imaging apparatus and control method of X-ray imaging apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021095281A JP7396560B2 (ja) | 2021-06-07 | 2021-06-07 | X線撮像装置及びx線撮像装置の制御方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022187308A JP2022187308A (ja) | 2022-12-19 |
JP7396560B2 true JP7396560B2 (ja) | 2023-12-12 |
Family
ID=84284062
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021095281A Active JP7396560B2 (ja) | 2021-06-07 | 2021-06-07 | X線撮像装置及びx線撮像装置の制御方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11754728B2 (ja) |
JP (1) | JP7396560B2 (ja) |
CN (1) | CN115460360A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117237366B (zh) * | 2023-11-16 | 2024-02-06 | 福建凯达集团有限公司 | 一种薄膜防雾性能检测方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011176235A (ja) | 2010-02-25 | 2011-09-08 | Sony Corp | 放射線撮像装置およびその駆動方法 |
JP2012124778A (ja) | 2010-12-09 | 2012-06-28 | Canon Inc | 撮像装置、撮像処理方法、及びコンピュータプログラム |
JP2012134781A (ja) | 2010-12-22 | 2012-07-12 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | 欠陥画素マップ作成方法、欠陥画素マップ作成システム、コンソールおよび放射線画像撮影装置 |
WO2015151961A1 (ja) | 2014-04-03 | 2015-10-08 | シャープ株式会社 | X線撮像装置 |
US20160178759A1 (en) | 2014-12-17 | 2016-06-23 | Carestream Health, Inc. | Compensation circuit for an x-ray detector |
JP2018007213A (ja) | 2016-07-08 | 2018-01-11 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像システム |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6623161B2 (en) | 2001-08-28 | 2003-09-23 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Method and apparatus for identifying and correcting line artifacts in a solid state X-ray detector |
JP4307230B2 (ja) * | 2003-12-05 | 2009-08-05 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像方法 |
KR101377115B1 (ko) * | 2012-09-11 | 2014-06-12 | 주식회사 뷰웍스 | X선 영상 촬영 장치 및 그 방법 |
US10269839B2 (en) * | 2015-03-26 | 2019-04-23 | Carestream Health, Inc. | Apparatus and method using a dual gate TFT structure |
-
2021
- 2021-06-07 JP JP2021095281A patent/JP7396560B2/ja active Active
-
2022
- 2022-05-30 CN CN202210598927.4A patent/CN115460360A/zh active Pending
- 2022-06-02 US US17/830,479 patent/US11754728B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011176235A (ja) | 2010-02-25 | 2011-09-08 | Sony Corp | 放射線撮像装置およびその駆動方法 |
JP2012124778A (ja) | 2010-12-09 | 2012-06-28 | Canon Inc | 撮像装置、撮像処理方法、及びコンピュータプログラム |
JP2012134781A (ja) | 2010-12-22 | 2012-07-12 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | 欠陥画素マップ作成方法、欠陥画素マップ作成システム、コンソールおよび放射線画像撮影装置 |
WO2015151961A1 (ja) | 2014-04-03 | 2015-10-08 | シャープ株式会社 | X線撮像装置 |
US20160178759A1 (en) | 2014-12-17 | 2016-06-23 | Carestream Health, Inc. | Compensation circuit for an x-ray detector |
JP2018007213A (ja) | 2016-07-08 | 2018-01-11 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US11754728B2 (en) | 2023-09-12 |
JP2022187308A (ja) | 2022-12-19 |
US20220390626A1 (en) | 2022-12-08 |
CN115460360A (zh) | 2022-12-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7732776B2 (en) | Radiation imaging apparatus, drive method and program of the radiation imaging apparatus | |
US9569829B2 (en) | Image processing apparatus, radiation imaging apparatus, control methods for them, gain image creation method, radiation imaging system, and storage medium | |
US7683337B2 (en) | Radiographic apparatus and control method therefor | |
US7227926B2 (en) | Imaging apparatus and imaging system | |
US10653372B2 (en) | Radiation imaging system | |
JP4346968B2 (ja) | 放射線撮影方法、放射線撮影装置、及びコンピュータプログラム | |
US6404853B1 (en) | Method for identifying and correcting pixels with excess pixel lag in a solid state x-ray detector | |
US6623161B2 (en) | Method and apparatus for identifying and correcting line artifacts in a solid state X-ray detector | |
WO2006013975A1 (ja) | 撮像装置、撮像システム、撮像方法、およびコンピュータプログラム | |
JP6238604B2 (ja) | 放射線撮像システム | |
US20120075600A1 (en) | Imaging apparatus, imaging system, and method for controlling imaging apparatus | |
JP7396560B2 (ja) | X線撮像装置及びx線撮像装置の制御方法 | |
US7455454B2 (en) | X-ray detector methods and apparatus | |
US20130336452A1 (en) | Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, radiation imaging method, and program | |
US7915594B2 (en) | X-ray detector and method of driving the same | |
JP2006239117A (ja) | 放射線撮像装置 | |
KR20110005776A (ko) | 별 추적기용 능동 픽셀 센서 장치 | |
JP6320155B2 (ja) | 画像処理装置、放射線撮影装置、それらの制御方法、放射線撮影システムおよびプログラム | |
JP6041856B2 (ja) | 放射線撮影システム、制御方法、記録媒体及びプログラム | |
CN111317491B (zh) | 平板探测器的刷新时间的确定方法及装置 | |
JP2006135748A (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
US20240168180A1 (en) | Radiation imaging apparatus and radiation imaging system | |
JP6169148B2 (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像方法、記録媒体及びプログラム | |
JP2023095507A (ja) | 放射線撮像装置の作動方法、放射線撮像装置およびプログラム | |
JP5615396B2 (ja) | 画像処理装置、放射線撮影システム、放射線撮像方法及びプログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220526 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230620 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230810 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20231031 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20231115 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7396560 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |