JP7374272B2 - 眼科装置 - Google Patents

Description

この発明は、眼科装置に関する。

近年、光の干渉を利用して物体の表面形態や内部形態を画像化するＯＣＴ（Ｏｐｃｉｔａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）が注目を集めている。ＯＣＴは、Ｘ線ＣＴのような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における展開が期待されている。例えば、眼科分野においては、眼底や角膜を画像化する装置が実用化されている。

ＯＣＴを用いた眼科装置では、被検眼の注目部位がＯＣＴ計測による画像化範囲の好適な位置に描出されるように、測定光の光路長と参照光の光路長との差が調整される。

例えば、特許文献１には、ＯＣＴ計測による画像化範囲に注目部位が描出されるように好適な光路長差を探索する自動処理（オートＺ）を実行する眼科装置が開示されている。この眼科装置では、オートＺにより得られた好適な描出位置を維持する自動処理（Ｚロック）を実行することで、注目部位が画像化範囲の所定のｚ位置（深さ位置）に描出されている状態が維持されるように光路長差の制御が行われる。

特開２０１６－０４１２２１号公報

しかしながら、従来の技術ではｚロックで維持されているｚ位置が固定されている。それにより、ＯＣＴ計測による計測範囲がｘｙ方向に広くなったりｚ方向に深くなったりすると、眼球の湾曲状態によっては注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする。

特に、強度近視眼に対して広い範囲でＯＣＴ計測を行う場合、画像化範囲の上端又は下端で途切れてしまったり、折り返して表示されたりする。従って、検者がＯＣＴ計測の様子を注視し続ける必要があり、ＯＣＴ計測を行う検者の負担が重くなる。或いは、計測結果を確認して必要に応じて再計測を行ったりする必要があり、ＯＣＴ計測を受ける被検者の負担が重くなる。

本発明は、このような事情を鑑みてなされたものであり、その目的は、ＯＣＴ計測を行う場合の検者又は被検者の負担を軽減するための新たな技術を提供することにある。

実施形態の１つの態様は、測定光路と参照光路との光路長差を変更可能に構成され、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光路を経由した前記測定光を被検眼に照射し、前記被検眼からの戻り光と前記参照光路を経由した前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する画像形成部と、前記画像形成部により形成された前記画像中の網膜色素上皮層に基づいて前記被検眼に対する第１のＢスキャンの深さ方向の第１基準位置を特定すると共に、前記第１基準位置を基準に前記被検眼の屈折度に応じて前記被検眼に対する第２のＢスキャンの深さ方向の第２基準位置を特定する解析部と、前記被検眼のスキャン範囲に対して前記第１のＢスキャンと前記第２のＢスキャンとを含む複数のＢスキャンを実行する場合に、前記干渉光の検出結果に基づく像が前記第１基準位置に配置されるように前記干渉光学系を制御して前記光路長差を変更することにより前記被検眼のスキャン範囲に対して前記第１のＢスキャンを実行させ、前記像が前記第２基準位置に配置されるように前記干渉光学系を制御して前記光路長差を変更することにより前記被検眼のスキャン範囲に対して前記第２のＢスキャンを実行させる制御部と、を含む眼科装置である。

本発明によれば、ＯＣＴ計測を行う場合の検者又は被検者の負担を軽減することができるようになる。

実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略ブロック図である。 実施形態に係る眼科装置の構成の一例を表す概略ブロック図である。 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置が実行する処理を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を表すフローチャートである。

この発明に係る眼科装置の実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。

実施形態に係る眼科装置は、ＯＣＴを用いて被検眼の断層像、正面画像、及び３次元画像を形成することが可能である。この明細書では、ＯＣＴによって取得される画像をＯＣＴ画像と総称することがある。また、ＯＣＴ画像を形成するための計測動作をＯＣＴ計測と呼ぶことがある。

いくつかの実施形態に係る眼科装置は、眼科撮影装置と、眼科測定装置と、眼科治療装置とのうちのいずれか１つ以上を含む。いくつかの実施形態の眼科装置に含まれる眼科撮影装置は、例えば、眼底カメラ、走査型レーザ検眼鏡、スリットランプ検眼鏡、手術用顕微鏡等のうちのいずれか１つ以上である。また、いくつかの実施形態の眼科装置に含まれる眼科測定装置は、例えば、眼屈折検査装置、眼圧計、スペキュラーマイクロスコープ、ウェーブフロントアナライザ、視野計、マイクロペリメータ等のうちのいずれか１つ以上である。また、いくつかの実施形態の眼科装置に含まれる眼科治療装置は、例えば、レーザ治療装置、手術装置、手術用顕微鏡等のうちのいずれか１つ以上である。

以下の実施形態に係る眼科装置は、ＯＣＴ計測が可能なＯＣＴ装置と眼底カメラとを含む。このＯＣＴ装置にはスウェプトソースＯＣＴが適用されているが、ＯＣＴのタイプはこれに限定されず、他のタイプのＯＣＴ（スペクトラルドメインＯＣＴ、タイムドメインＯＣＴ、アンファスＯＣＴ等）が適用されてもよい。また、以下の実施形態に係る構成を、単体のＯＣＴ装置に組み込むことも可能である。

以下においては、眼底の画像を取得する場合について詳しく説明するが、撮影対象である眼の部位は眼底に限定されない。例えば、角膜等の前眼部のＯＣＴ計測を行うための装置に、この実施形態に係る構成を適用することが可能である。また、眼底と前眼部の双方のＯＣＴ計測が可能な装置に対してこの実施形態の構成を適用することも可能である。この場合の例として、以下に説明する眼底撮影用の装置に、前眼部撮影用のアタッチメント（対物レンズ、前置レンズ等）を加えた構成を採用することができる。

＜構成＞
〔光学系〕
図１に示すように、眼科装置１は、眼底カメラユニット２、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００を含む。眼底カメラユニット２には、被検眼Ｅの正面画像を取得するための光学系や機構が設けられている。ＯＣＴユニット１００には、ＯＣＴを実行するための光学系や機構の一部が設けられている。ＯＣＴを実行するための光学系や機構の他の一部は、眼底カメラユニット２に設けられている。演算制御ユニット２００は、各種の演算や制御を実行する１以上のプロセッサを含む。これらに加え、被検者の顔を支持するための部材（顎受け、額当て等）や、ＯＣＴの対象部位を切り替えるためのレンズユニット（例えば、前眼部ＯＣＴ用アタッチメント）等の任意の要素やユニットが眼科装置１に設けられてもよい。

本明細書において「プロセッサ」は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（Ｓｉｍｐｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ））等の回路を意味する。プロセッサは、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。

［眼底カメラユニット］
眼底カメラユニット２には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆを撮影するための光学系が設けられている。取得される眼底Ｅｆの画像（眼底像、眼底写真等と呼ばれる）は、観察画像、撮影画像等の正面画像である。観察画像は、近赤外光を用いた動画撮影により得られる。撮影画像は、フラッシュ光を用いた静止画像である。更に、眼底カメラユニット２は、被検眼Ｅの前眼部Ｅａを撮影して正面画像（前眼部像）を取得することができる。

眼底カメラユニット２は、照明光学系１０と撮影光学系３０とを含む。照明光学系１０は被検眼Ｅに照明光を照射する。撮影光学系３０は、被検眼Ｅからの照明光の戻り光を検出する。ＯＣＴユニット１００からの測定光は、眼底カメラユニット２内の光路を通じて被検眼Ｅに導かれ、その戻り光は、同じ光路を通じてＯＣＴユニット１００に導かれる。

照明光学系１０の観察光源１１から出力された光（観察照明光）は、曲面状の反射面を有する反射ミラー１２により反射され、集光レンズ１３を経由し、可視カットフィルタ１４を透過して近赤外光となる。更に、観察照明光は、撮影光源１５の近傍にて一旦集束し、ミラー１６により反射され、リレーレンズ１７、１８、絞り１９及びリレーレンズ２０を経由する。そして、観察照明光は、孔開きミラー２１の周辺部（孔部の周囲の領域）にて反射され、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により屈折されて被検眼Ｅ（眼底Ｅｆ又は前眼部Ｅａ）を照明する。被検眼Ｅからの観察照明光の戻り光は、対物レンズ２２により屈折され、ダイクロイックミラー４６を透過し、孔開きミラー２１の中心領域に形成された孔部を通過し、ダイクロイックミラー５５を透過する。ダイクロイックミラー５５を透過した戻り光は、撮影合焦レンズ３１を経由し、ミラー３２により反射される。更に、この戻り光は、ハーフミラー３３Ａを透過し、ダイクロイックミラー３３により反射され、集光レンズ３４によりイメージセンサ３５の受光面に結像される。イメージセンサ３５は、所定のフレームレートで戻り光を検出する。なお、撮影光学系３０のフォーカスは、眼底Ｅｆ又は前眼部Ｅａに合致するように調整される。

撮影光源１５から出力された光（撮影照明光）は、観察照明光と同様の経路を通って眼底Ｅｆに照射される。被検眼Ｅからの撮影照明光の戻り光は、観察照明光の戻り光と同じ経路を通ってダイクロイックミラー３３まで導かれ、ダイクロイックミラー３３を透過し、ミラー３６により反射され、集光レンズ３７によりイメージセンサ３８の受光面に結像される。

ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）３９は固視標や視力測定用視標を表示する。ＬＣＤ３９から出力された光束は、その一部がハーフミラー３３Ａにて反射され、ミラー３２に反射され、撮影合焦レンズ３１及びダイクロイックミラー５５を経由し、孔開きミラー２１の孔部を通過する。孔開きミラー２１の孔部を通過した光束は、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投射される。

ＬＣＤ３９の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更できる。固視位置の例として、黄斑を中心とする画像を取得するための固視位置や、視神経乳頭を中心とする画像を取得するための固視位置や、黄斑と視神経乳頭との間の眼底中心を中心とする画像を取得するための固視位置や、黄斑から大きく離れた部位（眼底周辺部）の画像を取得するための固視位置などがある。いくつかの実施形態に係る眼科装置１は、このような固視位置の少なくとも１つを指定するためのＧＵＩ（Ｇｒａｐｈｉｃａｌ Ｕｓｅｒ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）等を含む。いくつかの実施形態に係る眼科装置１は、固視位置（固視標の表示位置）をマニュアルで移動するためのＧＵＩ等を含む。

移動可能な固視標を被検眼Ｅに提示するための構成はＬＣＤ等の表示装置には限定されない。例えば、光源アレイ（発光ダイオード（ＬＥＤ）アレイ等）における複数の光源を選択的に点灯させることにより、移動可能な固視標を生成することができる。また、移動可能な１以上の光源により、移動可能な固視標を生成することができる。

また、眼科装置１には、１以上の外部固視光源が設けられてもよい。１以上の外部固視光源の１つは、被検眼Ｅの僚眼に固視光を投射することが可能である。僚眼における固視光の投射位置は、変更可能である。僚眼に対する固視光の投射位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更することができる。外部固視光源による固視位置は、ＬＣＤ３９を用いた被検眼Ｅの固視位置と同様であってよい。例えば、複数の外部固視光源を選択的に点灯させることにより、移動可能な固視標を生成することができる。また、移動可能な１以上の外部固視光源により、移動可能な固視標を生成することができる。

アライメント光学系５０は、被検眼Ｅに対する光学系のアライメントに用いられるアライメント指標を生成する。ＬＥＤ５１から出力されたアライメント光は、絞り５２及び５３並びにリレーレンズ５４を経由し、ダイクロイックミラー５５により反射され、孔開きミラー２１の孔部を通過する。孔開きミラー２１の孔部を通過した光は、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により被検眼Ｅに投射される。アライメント光の角膜反射光は、観察照明光の戻り光と同じ経路を通ってイメージセンサ３５に導かれる。その受光像（アライメント指標像）に基づいてマニュアルアライメントやオートアライメントを実行できる。

フォーカス光学系６０は、被検眼Ｅに対するフォーカス調整に用いられるスプリット指標を生成する。フォーカス光学系６０は、撮影光学系３０の光路（撮影光路）に沿った撮影合焦レンズ３１の移動に連動して、照明光学系１０の光路（照明光路）に沿って移動される。反射棒６７は、照明光路に対して挿脱可能である。フォーカス調整を行う際には、反射棒６７の反射面が照明光路に傾斜配置される。ＬＥＤ６１から出力されたフォーカス光は、リレーレンズ６２を通過し、スプリット指標板６３により２つの光束に分離され、二孔絞り６４を通過し、ミラー６５により反射され、集光レンズ６６により反射棒６７の反射面に一旦結像されて反射される。更に、フォーカス光は、リレーレンズ２０を経由し、孔開きミラー２１に反射され、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投射される。フォーカス光の眼底反射光は、アライメント光の角膜反射光と同じ経路を通ってイメージセンサ３５に導かれる。その受光像（スプリット指標像）に基づいてマニュアルフォーカスやオートフォーカスを実行できる。

ダイクロイックミラー４６は、眼底撮影用光路とＯＣＴ用光路とを合成する。ダイクロイックミラー４６は、ＯＣＴに用いられる波長帯の光を反射し、眼底撮影用の光を透過させる。ＯＣＴ用光路（測定光の光路）には、ＯＣＴユニット１００側からダイクロイックミラー４６側に向かって順に、コリメータレンズユニット４０、光路長変更部４１、光スキャナ４２、ＯＣＴ合焦レンズ４３、ミラー４４、及びリレーレンズ４５が設けられている。

光路長変更部４１は、図１に示す矢印の方向に移動可能とされ、ＯＣＴ用光路の長さを変更する。この光路長の変更は、眼軸長に応じた光路長補正や、干渉状態の調整などに利用される。光路長変更部４１は、コーナーキューブと、これを移動する機構とを含む。

光スキャナ４２は、被検眼Ｅの瞳孔と光学的に共役な位置に配置される。光スキャナ４２は、ＯＣＴ用光路を通過する測定光ＬＳを偏向する。光スキャナ４２は、例えば、２次元走査が可能なガルバノスキャナである。

ＯＣＴ合焦レンズ４３は、ＯＣＴ用の光学系のフォーカス調整を行うために、測定光ＬＳの光路に沿って移動される。撮影合焦レンズ３１の移動、フォーカス光学系６０の移動、及びＯＣＴ合焦レンズ４３の移動を連係的に制御することができる。

［ＯＣＴユニット］
図２に例示するように、ＯＣＴユニット１００には、スウェプトソースＯＣＴを実行するための光学系が設けられている。この光学系は、干渉光学系を含む。この干渉光学系は、波長可変光源（波長掃引型光源）からの光を測定光と参照光とに分割する機能と、被検眼Ｅからの測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光とを重ね合わせて干渉光を生成する機能と、この干渉光を検出する機能とを備える。干渉光学系により得られた干渉光の検出結果（検出信号）は、干渉光のスペクトルを示す信号であり、演算制御ユニット２００に送られる。

光源ユニット１０１は、例えば、出射光の波長を高速で変化させる近赤外波長可変レーザを含む。光源ユニット１０１から出力された光Ｌ０は、光ファイバ１０２により偏波コントローラ１０３に導かれてその偏光状態が調整される。偏光状態が調整された光Ｌ０は、光ファイバ１０４によりファイバカプラ１０５に導かれて測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。

参照光ＬＲは、光ファイバ１１０によりコリメータ１１１に導かれて平行光束に変換され、光路長補正部材１１２及び分散補償部材１１３を経由し、コーナーキューブ１１４に導かれる。光路長補正部材１１２は、参照光ＬＲの光路長と測定光ＬＳの光路長とを合わせるよう作用する。分散補償部材１１３は、参照光ＬＲと測定光ＬＳとの間の分散特性を合わせるよう作用する。コーナーキューブ１１４は、参照光ＬＲの入射方向に移動可能であり、それにより参照光ＬＲの光路長が変更される。

コーナーキューブ１１４を経由した参照光ＬＲは、分散補償部材１１３及び光路長補正部材１１２を経由し、コリメータ１１６によって平行光束から集束光束に変換され、光ファイバ１１７に入射する。光ファイバ１１７に入射した参照光ＬＲは、偏波コントローラ１１８に導かれてその偏光状態が調整され、光ファイバ１１９によりアッテネータ１２０に導かれて光量が調整され、光ファイバ１２１によりファイバカプラ１２２に導かれる。

一方、ファイバカプラ１０５により生成された測定光ＬＳは、光ファイバ１２７により導かれてコリメータレンズユニット４０により平行光束に変換され、光路長変更部４１、光スキャナ４２、ＯＣＴ合焦レンズ４３、ミラー４４及びリレーレンズ４５を経由する。リレーレンズ４５を経由した測定光ＬＳは、ダイクロイックミラー４６により反射され、対物レンズ２２により屈折されて被検眼Ｅに入射する。測定光ＬＳは、被検眼Ｅの様々な深さ位置において散乱・反射される。被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ１０５に導かれ、光ファイバ１２８を経由してファイバカプラ１２２に到達する。

ファイバカプラ１２２は、光ファイバ１２８を介して入射された測定光ＬＳと、光ファイバ１２１を介して入射された参照光ＬＲとを合成して（干渉させて）干渉光を生成する。ファイバカプラ１２２は、所定の分岐比（例えば１：１）で干渉光を分岐することにより、一対の干渉光ＬＣを生成する。一対の干渉光ＬＣは、それぞれ光ファイバ１２３及び１２４を通じて検出器１２５に導かれる。

検出器１２５は、例えばバランスドフォトダイオードである。バランスドフォトダイオードは、一対の干渉光ＬＣをそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを含み、これらフォトディテクタにより得られた一対の検出結果の差分を出力する。検出器１２５は、この出力（検出信号）をＤＡＱ（Ｄａｔａ Ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）１３０に送る。

ＤＡＱ１３０には、光源ユニット１０１からクロックＫＣが供給される。クロックＫＣは、光源ユニット１０１において、波長可変光源により所定の波長範囲内で掃引される各波長の出力タイミングに同期して生成される。光源ユニット１０１は、例えば、各出力波長の光Ｌ０を分岐することにより得られた２つの分岐光の一方を光学的に遅延させた後、これらの合成光を検出した結果に基づいてクロックＫＣを生成する。ＤＡＱ１３０は、検出器１２５から入力される検出信号をクロックＫＣに基づきサンプリングする。ＤＡＱ１３０は、検出器１２５からの検出信号のサンプリング結果を演算制御ユニット２００に送る。

本例では、測定光ＬＳの光路（測定光路、測定アーム）の長さを変更するための光路長変更部４１と、参照光ＬＲの光路（参照光路、参照アーム）の長さを変更するためのコーナーキューブ１１４の双方が設けられている。しかしながら、光路長変更部４１とコーナーキューブ１１４のいずれか一方のみが設けられもよい。また、これら以外の光学部材を用いて、測定光路長と参照光路長との差を変更することも可能である。

［演算制御ユニット］
演算制御ユニット２００は、ＤＡＱ１３０から入力される検出信号を解析して眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。そのための演算処理は、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様である。

また、演算制御ユニット２００は、眼底カメラユニット２、表示装置３、及びＯＣＴユニット１００の各部を制御する。

眼底カメラユニット２の制御として、演算制御ユニット２００は、観察光源１１、撮影光源１５、及びＬＥＤ５１、６１の動作制御、ＬＣＤ３９の動作制御、撮影合焦レンズ３１の移動制御、ＯＣＴ合焦レンズ４３の移動制御、反射棒６７の移動制御、フォーカス光学系６０の移動制御、光路長変更部４１の移動制御、光スキャナ４２の動作制御などを行う。

ＯＣＴユニット１００の制御として、演算制御ユニット２００は、光源ユニット１０１の動作制御、偏波コントローラ１０３、１１８の動作制御、アッテネータ１２０の動作制御、検出器１２５の動作制御、ＤＡＱ１３０の動作制御などを行う。

演算制御ユニット２００は、例えば、従来のコンピュータと同様に、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイスなどを含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、眼科装置１を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。演算制御ユニット２００は、各種の回路基板、例えばＯＣＴ画像を形成するための回路基板を備えていてもよい。また、演算制御ユニット２００は、キーボードやマウス等の操作デバイス（入力デバイス）や、ＬＣＤ等の表示デバイスを備えていてもよい。

眼底カメラユニット２、表示装置３、ＯＣＴユニット１００、及び演算制御ユニット２００は、一体的に（つまり単一の筺体内に）構成されていてもよいし、２つ以上の筐体に別れて構成されていてもよい。

〔制御系〕
図３及び図４に、眼科装置１の制御系の構成例を示す。図３及び図４において、眼科装置１に含まれる構成要素の一部が省略されている。制御部２１０、画像形成部２２０及びデータ処理部２３０は、例えば、演算制御ユニット２００に設けられる。

（制御部）
制御部２１０は、各種の制御を実行する。制御部２１０は、主制御部２１１と記憶部２１２とを含む。

（主制御部）
主制御部２１１は、プロセッサを含み、眼科装置１の各部を制御する。例えば、主制御部２１１は、眼底カメラユニット２の光路長変更部４１、光スキャナ４２、撮影合焦レンズ３１（合焦駆動部３１Ａ）、及びフォーカス光学系６０、ＯＣＴ合焦レンズ４３（合焦駆動部４３Ａ）、イメージセンサ３５、３８、ＬＣＤ３９、光学系全体（移動機構１５０）などを制御する。さらに、主制御部２１１は、ＯＣＴユニット１００の光源ユニット１０１、コーナーキューブ１１４（参照駆動部１１４Ａ）、アッテネータ１２０、偏波コントローラ１０３、１１８、検出器１２５、ＤＡＱ１３０などを制御する。

例えば、主制御部２１１は、手動又は自動で設定された固視位置に対応するＬＣＤ３９の画面上の位置に固視標を表示する。また、主制御部２１１は、ＬＣＤ３９に表示されている固視標の表示位置を（連続的に又は段階的に）変更することができる。それにより、固視標を移動することができる（つまり、固視位置を変更することができる）。固視標の表示位置や移動態様は、マニュアルで又は自動的に設定される。マニュアルでの設定は、例えばＧＵＩを用いて行われる。自動的な設定は、例えば、データ処理部２３０により行われる。

合焦駆動部３１Ａは、撮影光学系３０の光軸方向に撮影合焦レンズ３１を移動させるとともに、照明光学系１０の光軸方向にフォーカス光学系６０を移動させる。それにより、撮影光学系３００の合焦位置が変更される。合焦駆動部３１Ａは、撮影合焦レンズ３１を移動させる機構と、フォーカス光学系６０を移動させる機構とを個別に有していてよい。合焦駆動部３１Ａは、フォーカス調整を行うときなどに制御される。

合焦駆動部４３Ａは、測定光路の光軸方向にＯＣＴ合焦レンズ４３を移動させる。それにより、測定光ＬＳの合焦位置が変更される。測定光ＬＳの合焦位置は、測定光ＬＳのビームウェストの深さ位置（ｚ位置）に相当する。

移動機構１５０は、例えば、少なくとも眼底カメラユニット２（光学系）を３次元的に移動する。典型的な例において、移動機構１５０は、少なくとも眼底カメラユニット２をｘ方向（左右方向）に移動するための機構と、ｙ方向（上下方向）に移動するための機構と、ｚ方向（奥行き方向、前後方向）に移動するための機構とを含む。ｘ方向に移動するための機構は、例えば、ｘ方向に移動可能なｘステージと、ｘステージを移動するｘ移動機構とを含む。ｙ方向に移動するための機構は、例えば、例えば、ｙ方向に移動可能なｙステージと、ｙステージを移動するｙ移動機構とを含む。ｚ方向に移動するための機構は、例えば、ｚ方向に移動可能なｚステージと、ｚステージを移動するｚ移動機構とを含む。各移動機構は、パルスモータ等のアクチュエータを含み、主制御部２１１からの制御を受けて動作する。

移動機構１５０に対する制御は、アライメントやトラッキングにおいて用いられる。トラッキングとは、被検眼Ｅの眼球運動に合わせて装置光学系を移動させるものである。トラッキングを行う場合には、事前にアライメントとフォーカス調整が実行される。トラッキングは、装置光学系の位置を眼球運動に追従させることにより、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持する機能である。いくつかの実施形態では、参照光の光路長（よって、測定光の光路と参照光の光路との間の光路長差）を変更するために移動機構１５０の制御を行うように構成される。

マニュアルアライメントの場合、光学系に対する被検眼Ｅの変位がキャンセルされるようにユーザが後述のユーザインターフェイス２４０に対して操作することにより光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。例えば、主制御部２１１は、ユーザインターフェイス２４０に対する操作内容に対応した制御信号を移動機構１５０に出力することにより移動機構１５０を制御して光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。

オートアライメントの場合、光学系に対する被検眼Ｅの変位がキャンセルされるように主制御部２１１が移動機構１５０を制御することにより光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、光学系の光軸が被検眼Ｅの軸に略一致し、かつ、被検眼Ｅに対する光学系の距離が所定の作動距離になるように制御信号を移動機構１５０に出力することにより移動機構１５０を制御して光学系と被検眼Ｅとを相対移動させる。ここで、作動距離とは、対物レンズ２２のワーキングディスタンスとも呼ばれる既定値であり、光学系を用いた測定時（撮影時）における被検眼Ｅと光学系との間の距離に相当する。

主制御部２１１は、眼底カメラユニット２等を制御することにより眼底撮影を制御する。また、主制御部２１１は、眼底カメラユニット２及びＯＣＴユニット１００等を制御することによりＯＣＴ計測を制御する。主制御部２１１は、ＯＣＴ計測を行う前に複数の予備的な動作を実行可能である。予備的な動作としては、アライメント、フォーカス粗調整、光路長差調整、偏光調整、フォーカス微調整などがある。複数の予備的な動作は、所定の順序で実行される。いくつかの実施形態では、複数の予備的な動作は、上記の順序で実行される。

なお、予備的な動作の種別や順序はこれに限定されるものではなく、任意である。例えば、被検眼Ｅが小瞳孔眼であるか否か判定するための予備動作（小瞳孔判定）を予備的な動作に加えることができる。小瞳孔判定は、例えば、フォーカス粗調整と光路長差調整との間に実行される。いくつかの実施形態では、小瞳孔判定は、以下の一連の処理を含む：被検眼Ｅの正面画像（前眼部像）の取得する処理；瞳孔に相当する画像領域を特定する処理；特定された瞳孔領域のサイズ（径、周長など）を求める処理；求められたサイズに基づき小瞳孔眼か否か判定する処理（閾値処理）；小瞳孔眼であると判定された場合に絞り１９を制御する処理。いくつかの実施形態では、瞳孔サイズを求めるために瞳孔領域を円近似または楕円近似する処理を更に含む。

フォーカス粗調整は、前述のスプリット指標を用いたフォーカス調整である。なお、あらかじめ取得された眼屈折力と撮影合焦レンズ３１の位置とを関連付けた情報と、被検眼Ｅの屈折力の測定値とに基づいて撮影合焦レンズ３１の位置を決定することにより、フォーカス粗調整を行うこともできる。

一方、フォーカス微調整は、ＯＣＴ計測の干渉感度に基づいて行われる。例えば、被検眼ＥのＯＣＴ計測を行って干渉信号を取得して干渉強度（干渉感度）をモニタすることにより、干渉強度が最大となるようなＯＣＴ合焦レンズ４３の位置を求め、その位置にＯＣＴ合焦レンズ４３を移動させることにより、フォーカス微調整を実行することができる。

光路長差調整においては、被検眼Ｅの対象部位がＯＣＴ画像のフレーム内における所定のｚ位置に描出されるように制御される。この制御は、光路長変更部４１及び参照駆動部１１４Ａの少なくとも一方に対して行われる。それにより、測定光路と参照光路との間の光路長差が調整される。光路長差調整の基準となる対象部位としては、ＯＣＴ画像において特徴的な輝度を呈する部位（或いは、反射強度プロファイルにおいて特徴的な反射強度を呈する部位）があらかじめ設定される。具体例として、眼底のＯＣＴ計測においては網膜色素上皮層を基準として設定することができ、前眼部のＯＣＴ計測においては角膜表面を基準として設定することができる。このように好適な光路長差を探索する自動処理はオートＺと呼ばれる。

光路長差調整はオートＺには限定されない。例えば、オートＺにより達成された好適な画像描出位置を維持する自動処理を実行することが可能である。このような処理はＺロックと呼ばれる。Ｚロックにおいては、例えば、光路長差調整の基準となる対象部位がフレーム内の所定のｚ位置に描出されている状態が維持されるように光路長変更部４１及び参照駆動部１１４Ａの少なくとも一方の制御が行われる。

この実施形態では、Ｚロックの基準位置（ｚ位置）を指定可能である。すなわち、指定された基準位置（又は当該基準位置に基づいて特定されたＺロック位置）に被検眼の対象部位が描出されている状態が維持されるように光路長差調整が行われる。いくつかの実施形態では、ＯＣＴ仮計測等により得られた干渉光の検出結果に基づいてＺロックの基準位置が設定される。いくつかの実施形態では、干渉光の検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像の解析結果に基づいてＺロックの基準位置が設定される。いくつかの実施形態では、ＯＣＴ画像を解析することにより特定されたアーチファクトに基づいてＺロックの基準位置が設定される。なお、表示部２４０Ａに表示されたＯＣＴ画像に対して操作部２４０Ｂを用いてＺロックの基準位置が指定可能であってもよい。

偏光調整においては、測定光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉効率を最適化するために参照光ＬＲの偏光状態が調整される。

（記憶部）
記憶部２１２は、各種のデータを記憶する。記憶部２１２に記憶されるデータとしては、例えば、ＯＣＴ画像の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。また、記憶部２１２には、眼科装置１を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。

（画像形成部）
画像形成部２２０は、検出器１２５からの検出信号をＤＡＱ１３０でサンプリングすることにより得られたサンプリングデータに基づいて、被検眼ＥのＯＣＴ画像を形成する。画像形成部２２０により形成されるＯＣＴ画像には、Ａスキャン画像、Ｂスキャン画像（断層像）、Ｃスキャン画像などがある。この処理には、従来のスウェプトソースタイプの光コヒーレンストモグラフィと同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルタ処理、分散補償、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。他のタイプのＯＣＴ装置の場合、画像形成部２２０は、そのタイプに応じた公知の処理を実行する。

画像形成部２２０は、例えば、前述の回路基板を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づく「画像」とを同一視することがある。

（データ処理部）
データ処理部２３０は、被検眼Ｅの撮影やＯＣＴ計測により取得されたデータを処理する。例えば、データ処理部２３０は、画像形成部２２０により形成された画像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。例えば、データ処理部２３０は、画像の輝度補正等の各種補正処理を実行する。また、データ処理部２３０は、眼底カメラユニット２により得られた画像（眼底像、前眼部像等）に対して各種の画像処理や解析処理を施す。

データ処理部２３０は、断層像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行して、眼底Ｅｆの３次元画像の画像データを形成する。なお、３次元画像の画像データとは、３次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。３次元画像の画像データとしては、３次元的に配列されたボクセルからなる画像データがある。この画像データは、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部２３０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理（ボリュームレンダリングやＭＩＰ（Ｍａｘｉｍｕｍ Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ：最大値投影）など）を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像の画像データを形成する。表示部２４０Ａ等の表示デバイスには、この擬似的な３次元画像が表示される。

また、３次元画像の画像データとして、複数の断層像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数のスキャンラインに沿って得られた複数の断層像を、スキャンラインの位置関係に基づいて３次元的に配列させることで得られる画像データである。すなわち、スタックデータは、元々個別の２次元座標系により定義されていた複数の断層像を、１つの３次元座標系により表現する（つまり１つの３次元空間に埋め込む）ことにより得られる画像データである。

データ処理部２３０は、取得された３次元データセット（ボリュームデータ、スタックデータ等）に各種のレンダリングを施すことで、任意断面におけるＢモード画像（縦断面像、軸方向断面像）、任意断面におけるＣモード画像（横断面像、水平断面像）、プロジェクション画像、シャドウグラムなどを形成することができる。Ｂモード画像やＣモード画像のような任意断面の画像は、指定された断面上の画素（ピクセル、ボクセル）を３次元データセットから選択することにより形成される。プロジェクション画像は、３次元データセットを所定方向（Ｚ方向、深さ方向、軸方向）に投影することによって形成される。シャドウグラムは、３次元データセットの一部（たとえば特定層に相当する部分データ）を所定方向に投影することによって形成される。Ｃモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラムのような、被検眼の正面側を視点とする画像を正面画像（ｅｎ－ｆａｃｅ画像）と呼ぶ。いくつかの実施形態では、画像形成部２２０が被検眼Ｅの正面画像を形成する。

データ処理部２３０は、ＯＣＴにより時系列に収集されたデータ（例えば、Ｂスキャン画像データ）に基づいて、網膜血管や脈絡膜血管が強調されたＢモード画像や正面画像（血管強調画像、アンギオグラム）を構築することができる。例えば、被検眼Ｅの略同一部位を反復的にスキャンすることにより、時系列のＯＣＴデータを収集することができる。

データ処理部２３０は、部位特定部２３１と、アーチファクト特定部２３２と、Ｚロック位置取得部２３３と、光路長差変更量取得部２３４とを含む。

部位特定部２３１は、ＯＣＴユニット１００により得られた干渉光の検出結果を解析することにより被検眼Ｅの所定の部位を特定し、特定された部位のｚ位置（深さ位置）を特定する。この実施形態では、部位特定部２３１は、干渉光の検出結果に基づいて画像形成部２２０において形成されたＯＣＴ画像を解析して、所定の部位のｚ位置を特定する。所定の部位として、被検眼Ｅにおいて干渉強度が高い部位が望ましい。いくつかの実施形態では、所定の部位は、眼底Ｅｆにおける網膜色素上皮層である。いくつかの実施形態では、所定の部位は、前眼部における角膜前面である。

アーチファクト特定部２３２は、ＯＣＴユニット１００により得られた干渉光の検出結果を解析することによりアーチファクトを特定し、アーチファクトの描出位置に基づいてＺロックの基準位置を求める。この実施形態では、アーチファクト特定部２３２は、干渉光の検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像を解析してアーチファクトを特定し、Ｚロックの基準位置を求める。いくつかの実施形態では、複数のＢスキャンにより得られたスキャン結果に基づいてスキャン範囲に対応した被検眼Ｅの正面画像（プロジェクション画像等）が形成される。アーチファクト特定部２３２は、形成された被検眼Ｅの正面画像に基づいてアーチファクトを特定し、特定されたアーチファクトの描出位置に基づいてＺロックの基準位置を求める。アーチファクト特定部２３２は、正面画像に描出されたＯＣＴ画像（Ｂスキャン画像）における所定の部位（網膜、網膜色素上皮層等）の折り返しに起因した折り返しアーチファクトを特定する。いくつかの実施形態では、所定の部位は、部位特定部２３１により特定される。

図５に、実施形態に係るアーチファクト特定部２３２の動作説明図を示す。図５は、所定のスキャンエリア内で複数のＢスキャンＢ１、Ｂ２、Ｂ３、・・・が実行されたときの折り返しに起因したアーチファクトを模式的に表したものである。

Ｚロック位置が好適でない場合、ＢスキャンＢ１、Ｂ２、Ｂ３、・・・により得られたスキャン結果に基づいて画像形成部２２０により形成されたＢスキャン画像では、網膜等の所定の部位が折り返して表示される。この場合、Ｚロック位置（又はＺロックの基準位置）を変更することで、折り返しの発生しない画像を取得することができる。

データ処理部２３０は、各Ｂスキャン画像の上端における折り返し位置Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、・・・の少なくとも１つの深さ位置を含む深さ方向のプロジェクション画像等の正面画像ＦＩ０を、複数のＢスキャンＢ１、Ｂ２、Ｂ３、・・・により得られたスキャン結果に基づいて形成する。正面画像ＦＩ０の周辺領域には、各Ｂスキャンにおける折り返し位置の軌跡に対応した折り返しアーチファクトが描出される。周辺領域には、右上領域、右領域、右下領域、下領域、左下領域、左領域、左上領域、上領域などがある。アーチファクト特定部２３２は、正面画像ＦＩ０の左端又は右端を基準に、正面画像ＦＩ０の上端又は下端におけるアーチファクトの折り返し位置までの距離ＬＬに基づいてＺロックの基準位置を特定する。アーチファクト特定部２３２は、正面画像等の輝度情報に基づいてアーチファクトの折り返し位置を特定することが可能である。いくつかの実施形態では、距離ＬＬに対応してＺロックの基準位置が関連付けられた制御情報が、例えばアーチファクト特定部２３２又は記憶部２１２にあらかじめ記憶される。アーチファクト特定部２３２は、当該制御情報を参照することによりＺロックの基準位置を求める。

いくつかの実施形態では、アーチファクト特定部２３２は、画像形成部２２０により形成された被検眼Ｅの断層像に基づいてＺロックの基準位置を求める。アーチファクト特定部２３２は、取得された断層像に基づいて被検眼Ｅの網膜における所定の層領域（例えば、網膜色素上皮層）を特定し、断層像の上端から上記の特定された所定の層領域までの距離に基づいてＺロック位置の基準位置を求めることができる。

Ｚロック位置取得部２３３は、事前に設定されるスキャンエリアにおけるＢスキャンに対するＺロック位置（ｚ位置）を取得（特定）する。前述のように、この実施形態では、Ｚロックの基準位置が指定可能である。当該スキャンエリアにおいて複数のＢスキャンが行われる場合に、少なくとも１つのＢスキャンに対して指定されたＺロックの基準位置に基づいて他のＢスキャンのＺロック位置が取得される。いくつかの実施形態では、Ｚロック位置取得部２３３は、Ｚロックの基準位置ｚ０が指定されたとき、他のＢスキャンのいずれかに対してＺロック位置（ｚ０＋Δｚ）及び（ｚ０－Δｚ）の少なくとも１つを取得する。残りのＢスキャンのＺロック位置は、指定されたＺロックの基準位置又はＺロック位置取得部２３３により取得されたＺロック位置に基づいて特定される。このＺロック位置は、線形補間、２次以上のスプライン曲線、又は所定の関数に従って特定される。

いくつかの実施形態では、Δｚは固定値である。いくつかの実施形態では、Δｚは、スキャン位置、スキャン範囲、被検眼Ｅの屈折度、被検眼Ｅが強度近視眼か否かを示す情報、被検眼ＥのＯＣＴ画像（Ｂスキャン画像）、及び当該Ｂスキャンに交差する方向のＢスキャンにより得られた被検眼ＥのＢスキャン画像の少なくとも１つに応じて設定される。例えば、スキャン位置等に対応してΔｚが関連付けられた制御情報が、例えばＺロック位置取得部２３３又は記憶部２１２にあらかじめ記憶される。Ｚロック位置取得部２３３は、当該制御情報を参照することによりＺロック位置を取得する。

光路長差変更量取得部２３４は、オートＺ又はＺロックの制御を行うために、測定光路の光路長と参照光路の光路長との差の変更量を特定する。

オートＺを行うとき、眼科装置１は、光学系を制御して被検眼Ｅ（例えば、眼底Ｅｆ）のＯＣＴ計測を実行する。このＯＣＴ計測においては、例えば、被検眼Ｅが所定の周波数で反復的にスキャンされる。すなわち、固視標が提示されている被検眼Ｅに対し、同じスキャンパターンでのＯＣＴ計測が繰り返し実行される。いくつかの実施形態では、被検眼Ｅの実質的に同じ断面がスキャンされる。光路長差変更量取得部２３４は、このＯＣＴ計測により繰り返し取得される干渉光ＬＣの検出結果（反射強度プロファイル、ＯＣＴ画像など）を解析することで、当該検出結果に基づく像（眼底Ｅｆの像）をフレームの特定位置に配置させるための光路長差の変更量を取得する。

いくつかの実施形態では、光路長差変更量取得部２３４は、部位特定部２３１により特定された所定の部位のｚ位置とＺロック位置との差分を求め、求められた差分に対応した光路長差の変更量を取得する。

なお、光路長差変更量取得部２３４により取得される情報は、光路長差（光路長）の変更量そのものには限定されない。例えば、光路長変更部４１又は参照駆動部１１４Ａの制御内容（送信パルス数など）や、この変更量を取得する処理の途中で得られる情報（フレーム内における画像のｚ方向の位置のずれ量など）のように、光路長差の変更量と実質的に同値な情報であってよい。

いくつかの実施形態では、Ｚロック位置に対する所定の部位のｚ位置との差分に対応して光路長差の変更量（又は当該変更量に対応した制御情報）があらかじめ関連付けられた制御情報が光路長差変更量取得部２３４（又は記憶部２１２）に記憶されている。光路長差変更量取得部２３４は、制御情報を参照することにより、変更すべき光路長差の変更量を取得する。

主制御部２１１は、光路長差変更量取得部２３４により取得された変更量に基づいて光路長変更部４１及び参照駆動部１１４Ａの少なくとも一方を制御することでオートＺを実行する。このようなオートＺの制御については、特開２０１６－０４１２２１号公報と同様であるため、詳細な説明を省略する。

Ｚロックにおいても、オートＺの場合と同様に、被検眼Ｅ（例えば、眼底Ｅｆ）の断面が所定の周波数で反復的にスキャンされる。いくつかの実施形態では、被検眼Ｅの実質的に同じ断面がスキャンされる。さらに、光路長差変更量取得部２３４は、このＯＣＴ計測により繰り返し取得される干渉光ＬＣの検出結果を解析することで、Ｚロック位置に所定の部位の像を配置させるための光路長差の変更量を取得する。

いくつかの実施形態では、光路長差変更量取得部２３４は、直前に行われたスキャンに対して設定されたＺロック位置と当該スキャンに設定されたＺロック位置との差分を求め、求められた当該差分に対応した光路長差の変更量を取得する。いくつかの実施形態では、光路長差変更量取得部２３４は、部位特定部２３１により特定された所定の部位のｚ位置とＺロック位置との差分をスキャン毎に求め、求められた差分に対応した光路長差の変更量を取得する。

主制御部２１１は、光路長差変更量取得部２３４により取得された変更量に基づいて光路長変更部４１及び参照駆動部１１４Ａの少なくとも一方を制御することでＺロックを実行する。このようなＺロックの制御については、特開２０１６－０４１２２１号公報と同様であるため、詳細な説明を省略する。

以上のように機能するデータ処理部２３０は、例えば、前述のマイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、回路基板等を含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、上記機能をマイクロプロセッサに実行させるコンピュータプログラムがあらかじめ格納されている。

（ユーザインターフェイス）
ユーザインターフェイス２４０には、表示部２４０Ａと操作部２４０Ｂとが含まれる。表示部２４０Ａは、前述した演算制御ユニット２００の表示デバイスや表示装置３を含んで構成される。操作部２４０Ｂは、前述した演算制御ユニット２００の操作デバイスを含んで構成される。操作部２４０Ｂには、眼科装置１の筐体や外部に設けられた各種のボタンやキーが含まれていてもよい。例えば眼底カメラユニット２が従来の眼底カメラと同様の筺体を有する場合、操作部２４０Ｂは、この筺体に設けられたジョイスティックや操作パネル等を含んでいてもよい。また、表示部２４０Ａは、眼底カメラユニット２の筺体に設けられたタッチパネルなどの各種表示デバイスを含んでいてもよい。

なお、表示部２４０Ａと操作部２４０Ｂは、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。例えばタッチパネルのように、表示機能と操作機能とが一体化されたデバイスを用いることも可能である。その場合、操作部２４０Ｂは、このタッチパネルとコンピュータプログラムとを含んで構成される。操作部２４０Ｂに対する操作内容は、電気信号として制御部２１０に入力される。また、表示部２４０Ａに表示されたグラフィカルユーザインターフェイス（ＧＵＩ）と、操作部２４０Ｂとを用いて、操作や情報入力を行うようにしてもよい。

〔測定光のスキャン及びＯＣＴ画像について〕
ここで、測定光ＬＳのスキャンおよびＯＣＴ画像について説明しておく。

眼科装置１による測定光ＬＳのスキャン態様としては、例えば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋（渦巻）スキャンなどがある。これらのスキャン態様は、被検眼Ｅの観察部位、解析対象（網膜厚など）、スキャンに要する時間、スキャンの精密さなどを考慮して適宜に選択的に使用される。

水平スキャンは、スキャン部位を測定光ＬＳで水平方向（ｘ方向）にスキャンさせるものである。水平スキャンには、垂直方向（ｙ方向）に配列された複数の水平方向に延びるスキャンラインに沿って測定光ＬＳでスキャンさせる態様も含まれる。この態様においては、スキャンラインの間隔を任意に設定することが可能である。また、隣接するスキャンラインの間隔を十分に狭くすることにより、前述の３次元画像を形成することができる（３次元スキャン）。垂直スキャンについても同様である。

十字スキャンは、互いに直交する２本の直線状の軌跡（直線軌跡）からなる十字型の軌跡に沿って測定光ＬＳでスキャン部位をスキャンさせるものである。放射スキャンは、所定の角度を介して配列された複数の直線軌跡からなる放射状の軌跡に沿って測定光ＬＳでスキャン部位をスキャンさせるものである。なお、十字スキャンは放射スキャンの一例である。

円スキャンは、円形状の軌跡に沿ってスキャン部位を測定光ＬＳでスキャンさるものである。同心円スキャンは、所定の中心位置の周りに同心円状に配列された複数の円形状の軌跡に沿ってスキャン部位を測定光ＬＳでスキャンさせるものである。円スキャンは同心円スキャンの一例である。螺旋スキャンは、回転半径を次第に小さく（または大きく）させながら螺旋状（渦巻状）の軌跡に沿ってスキャン部位を測定光ＬＳでスキャンさせるものである。

光スキャナ４２は、互いに直交する方向にスキャン部位を測定光ＬＳでスキャンするように構成されているので、測定光ＬＳでｘ方向およびｙ方向にそれぞれ独立にスキャンできる。さらに、光スキャナ４２に含まれる２つのガルバノミラーの向きを同時に制御することで、ｘｙ面上の任意の軌跡に沿って測定光ＬＳでスキャンすることが可能である。それにより、上記のような各種のスキャン態様を実現できる。

上記のような態様で測定光ＬＳでスキャンすることにより、スキャンライン（走査軌跡）に沿う方向と眼底深度方向（ｚ方向）とにより張られる面における断層像を取得することができる。また、特にスキャンラインの間隔が狭い場合には、前述の３次元画像を取得することができる。

上記のような測定光ＬＳの走査対象となる被検眼Ｅ上の領域、つまりＯＣＴ計測の対象となる被検眼Ｅ上の領域をスキャンエリアと呼ぶ。３次元スキャンにおけるスキャンエリアは、複数の水平スキャンが配列された矩形の領域である。また、同心円スキャンにおけるスキャンエリアは、最大径の円スキャンの軌跡により囲まれる円盤状の領域である。また、放射スキャンにおけるスキャンエリアは、各スキャンラインの両端位置を結んだ円盤状（或いは多角形状）の領域である。

〔Ｚロック位置の指定について〕
例えば、主制御部２１１は、当該スキャン中の画像を表示部２４０Ａにライブ表示させる。

図６に、表示部２４０Ａに表示される画像の一例を示す。図６は、表示部２４０Ａの表示画面における表示領域ＤＲに設けられた断層像表示領域ＤＲ１と正面画像表示領域ＤＲ２とを模式的に表したものである。

例えば、主制御部２１１は、眼底カメラユニット２を制御することにより取得された眼底像を表示部２４０Ａに表示させる。ユーザは、操作部２４０Ｂに対して所定の操作を行うことにより、表示部２４０Ａに表示された眼底像における所望の位置にスキャンエリアを指定することが可能である。主制御部２１１は、ＯＣＴユニット１００等を制御することにより、指定されたスキャンエリアに対してＯＣＴ計測を実行する。主制御部２１１は、得られたスキャン結果（干渉光の検出結果）に基づいてＢスキャン画像を画像形成部２２０に形成させると共に、当該スキャン結果を用いてプロジェクション画像をデータ処理部２３０に形成させる。主制御部２１１は、形成されたＢスキャン画像を断層像表示領域ＤＲ１にライブ表示させる。また、主制御部２１１は、形成されたプロジェクション画像を正面画像表示領域ＤＲ２に表示させる。

いくつかの実施形態では、正面画像表示領域ＤＲ２に表示された眼底像又はプロジェクション画像に対し、操作部２４０Ｂに対する操作によりスキャンエリアが指定される。

以下、アーチファクト特定部２３２により指定されるＺロックの基準位置と、Ｚロック位置取得部２３３により指定されるＺロック位置について説明する。

（Ｚロック位置の第１指定例）
図７に、実施形態に係るＺロック位置の指定例を説明するための概略図を示す。

例えば、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの正面画像（眼底像、又はプロジェクション画像）ＦＩに対してスキャンエリアＳＡと、スキャンエリアＳＡ内で行われる複数のＢスキャンＢ１～ＢＮ（Ｎは２以上の整数）のスキャン位置とが設定される。各Ｂスキャンは、ラインスキャンであるものとする。主制御部２１１は、設定されたスキャンエリアＳＡに対応した部位に対して複数のＢスキャンＢ１～ＢＮ（Ｎは２以上の整数）を順次に実行する。説明の便宜上、ＢスキャンＢ１からＢスキャンＢＮの順序で実行されるものとする。アーチファクト特定部２３２は、ＯＣＴ仮計測等により得られた正面画像に基づいて、複数のＢスキャンＢ１～ＢＮの１つであるＢスキャンＢｊ（１≦ｊ≦Ｎ、ｊは整数）に対してＺロックの基準位置ｚｊを指定する。いくつかの実施形態では、アーチファクト特定部２３２は、事前のＯＣＴ仮計測等により得られた断層像に基づいてＺロックの基準位置ｚｊを指定する。

主制御部２１１は、指定されたＺロックの基準位置ｚｊに基づいて、他のＢスキャンＢ１～Ｂ（ｊ－１）、Ｂ（ｊ＋１）～ＢＮに対してＺロック位置ｚｊを設定する。光路長差変更量取得部２３４は、指定されたＺロックの位置ｚｊに所定の部位の像を配置させるための光路長差の変更量を取得する。主制御部２１１は、各Ｂスキャンにおいて、取得された変更量に基づいて光路長変更部４１及び参照駆動部１１４Ａの少なくとも一方を制御することで複数のＢスキャンＢ１～ＢＮを順次に実行する。

（Ｚロック位置の第２指定例）
図８に、実施形態に係るＺロック位置の指定例を説明するための概略図を示す。

本指定例においても、第１指定例と同様に、アーチファクト特定部２３２は、複数のＢスキャンＢ１～ＢＮの１つであるＢスキャンＢｊに対してＺロックの基準位置ｚｊを指定する。

Ｚロック位置取得部２３３は、指定されたＺロックの基準位置ｚｊに基づいて、ＢスキャンＢｉ（１≦ｉ＜ｊ、ｉは整数）とＢスキャンｋ（ｊ＜ｋ≦Ｎ、ｋは整数）に対するＺロック位置（ｚｊ－Δｚ）（Δｚは正の数）（又は（ｚｊ＋Δｚ））を取得する。Ｚロック位置取得部２３３は、ＢスキャンＢｉに設定されたｚロック位置（ｚｊ－Δｚ）、ＢスキャンＢｊに設定されたｚロック位置ｚｊ、及びＢスキャンＢｋに設定されたｚロック位置（ｚｊ－Δｚ）に基づいて所定の補間処理（例えば、線形補間、スプライン補間）を行うことにより残りのＢスキャンに対するＺロック位置を取得する。ここで、残りのＢスキャンは、ＢスキャンＢ１～Ｂ（ｉ－１）、Ｂ（ｉ＋１）～Ｂ（ｊ－１）、Ｂ（ｊ＋１）～Ｂ（ｋ－１）、Ｂ（ｋ＋１）～ＢＮである。

すなわち、ＢスキャンＢｊ（第１のＢスキャン）に対してＺロックの基準位置ｚｊ（第１基準位置）が設定された場合、ＢスキャンＢｉ（第２のＢスキャン）に対し、基準位置ｚｊに対し深さ方向にシフトしたＺロック位置ｚｉ（第２基準位置）が設定され、ＢスキャンＢｋ（第３のＢスキャン）に対し、基準位置ｚｊとＺロック位置ｚｉとに基づいてＺロック位置Ｚｋ（第３基準位置）が設定される。

主制御部２１１は、指定されたＺロックの基準位置ｚｊと取得されたＺロック位置と基づいて、他のＢスキャンＢ１～Ｂ（ｉ－１）、Ｂ（ｉ＋１）～Ｂ（ｊ－１）、Ｂ（ｊ＋１）～Ｂ（ｋ－１）、Ｂ（ｋ＋１）～ＢＮに対してＺロック位置を設定する。光路長差変更量取得部２３４は、Ｂスキャン毎に、指定されたＺロックの位置に所定の部位の像を配置させるための光路長差の変更量を取得する。主制御部２１１は、各Ｂスキャンにおいて、取得された変更量に基づいて光路長変更部４１及び参照駆動部１１４Ａの少なくとも一方を制御することで複数のＢスキャンＢ１～ＢＮを順次に実行する。

前述のように、Δｚは、固定値又は可変値である。

（Ｚロック位置の第３指定例）
図９に、実施形態に係るＺロック位置の指定例を説明するための概略図を示す。

本指定例においては、アーチファクト特定部２３２は、複数のＢスキャンＢ１～ＢＮのいずれか２つであるＢスキャンＢｉ、Ｂｋに対して、それぞれＺロックの基準位置ｚｉ、ｚｋを指定する。

Ｚロック位置取得部２３３は、指定されたＺロックの基準位置ｚｉ、ｚｋに対して、ＢスキャンＢｊに対するＺロック位置ｚｊを取得する。Ｚロック位置取得部２３３は、ＢスキャンＢｉに設定されたｚロック位置ｚｉと、ＢスキャンＢｋに設定されたｚロック位置ｚｋとに基づいて所定の補間処理（例えば、線形補間、スプライン補間）を行うことによりＢスキャンＢｊのＺロック位置ｚｊを取得する。同様に、Ｚロック位置取得部２３３は、ＢスキャンＢ１～Ｂ（ｉ－１）、Ｂ（ｉ＋１）～Ｂ（ｊ－１）、Ｂ（ｊ＋１）～Ｂ（ｋ－１）、Ｂ（ｋ＋１）～ＢＮに対して、それぞれＺロック位置を取得する。

すなわち、ＢスキャンＢｉ（第１のＢスキャン）に対してＺロックの基準位置ｚｉ（第１基準位置）が設定され、ＢスキャンＢｋ（第２のＢスキャン）に対してＺロックの基準位置ｚｋ（第２基準位置）が設定される。また、ＢスキャンＢｊ（第３のＢスキャン）に対して、基準位置ｚｉ、ｚｋに基づいて特定されたＺロック位置ｚｊ（第３基準位置）が設定される。

主制御部２１１は、指定されたＺロックの基準位置ｚｉ、ｚｋと取得されたＺロック位置と基づいて、他のＢスキャンＢ１～Ｂ（ｉ－１）、Ｂ（ｉ＋１）～Ｂ（ｋ－１）、Ｂ（ｋ＋１）～ＢＮに対してＺロック位置を設定する。光路長差変更量取得部２３４は、Ｂスキャン毎に、指定されたＺロックの位置に所定の部位の像を配置させるための光路長差の変更量を取得する。主制御部２１１は、各Ｂスキャンにおいて、取得された変更量に基づいて光路長変更部４１及び参照駆動部１１４Ａの少なくとも一方を制御することで複数のＢスキャンＢ１～ＢＮを順次に実行する。

（Ｚロック位置の第４指定例）
図１０に、実施形態に係るＺロック位置の指定例を説明するための概略図を示す。

本指定例においては、アーチファクト特定部２３２は、複数のＢスキャンＢ１～ＢＮのいずれか３つであるＢスキャンＢｉ、Ｂｊ、Ｂｋに対して、それぞれＺロックの基準位置ｚｉ、ｚｊ、ｚｋを指定する。例えば、順次に実行される複数のＢスキャンＢ１～ＢＮを前期、中期、後期に分割した場合、前期に実行されるＢスキャンＢｉに対してＺロックの基準位置ｚｉを指定し、中期に実行されるＢスキャンＢｊに対してＺロックの基準位置ｚｊを指定し、後期に実行されるＢスキャンＢｋに対してＺロックの基準位置ｚｋを指定する。

いくつかの実施形態では、第２指定例において、中期に実行されるＢスキャンＢｊに対してＺロックの基準位置ｚｊが指定されたとき、前期に実行されるＢスキャンＢｉに対してＺロックの基準位置ｚｉとしてＺロック位置（ｚｊ－Δｚ１）（又は（ｚｊ＋Δｚ１））が設定され、後期に実行されるＢスキャンＢｋに対してＺロックの基準位置ｚｋとしてＺロック位置（ｚｊ－Δｚ２）（又は（ｚｊ＋Δｚ２））が設定されてもよい。いくつかの実施形態では、Δｚ１はΔｚ２と等しい。Δｚと同様に、Δｚ１、Δｚ２は、固定値又は可変値であってよい。

残りのＢスキャンのＺロック位置は、指定されたＺロックの基準位置又はＺロック位置取得部２３３により取得されたＺロック位置に基づいて特定される。

すなわち、ＢスキャンＢｊ（第１のＢスキャン）に対してＺロックの基準位置ｚｊ（第１基準位置）が設定され、ＢスキャンＢｋ（第２のＢスキャン）に対してＺロックの基準位置ｚｋ（第２基準位置）が設定される。また、ＢスキャンＢ（ｊ＋１）～Ｂ（ｋ－１）のいずれか（第３のＢスキャン）に対して、基準位置ｚｊ、ｚｋに基づいて特定されたＺロック位置（第３基準位置）が設定される。

主制御部２１１は、指定されたＺロックの基準位置ｚｉ、ｚｊ、ｚｋと、取得されたＺロック位置と基づいて、他のＢスキャンＢ１～Ｂ（ｉ－１）、Ｂ（ｉ＋１）～Ｂ（ｊ－１）、Ｂ（ｊ＋１）～Ｂ（ｋ－１）、Ｂ（ｋ＋１）～ＢＮに対してＺロック位置を設定する。光路長差変更量取得部２３４は、Ｂスキャン毎に、指定されたＺロックの位置に所定の部位の像を配置させるための光路長差の変更量を取得する。主制御部２１１は、各Ｂスキャンにおいて、取得された変更量に基づいて光路長変更部４１及び参照駆動部１１４Ａの少なくとも一方を制御することで複数のＢスキャンＢ１～ＢＮを順次に実行する。

（その他）
いくつかの実施形態では、上記のΔｚ、Δｚ１、Δｚ２は、前述のように、スキャン位置、スキャン範囲、被検眼Ｅの屈折度、被検眼Ｅが強度近視眼か否かを示す情報、被検眼ＥのＯＣＴ画像（Ｂスキャン画像）、及び当該Ｂスキャンに交差する方向のＢスキャンにより得られた被検眼ＥのＢスキャン画像の少なくとも１つに応じて設定される。

実施形態に係る眼科装置１は、被検眼Ｅに対する装置光学系のアライメント完了後におけるスキャン中心位置に対し、スキャン中心位置が変位した１以上のスキャンエリアを設けることで、より広範囲のスキャンデータを収集することが可能である。

図１１～図１３に、実施形態に係る眼科装置１により設定可能なスキャン範囲の一例を示す。

図１１では、アライメント完了後のスキャン中心位置Ｏにより規定されるスキャンエリアＳＣ０に対し、スキャン中心位置Ｏを含むようにスキャンエリアＳＣ１～ＳＣ４が設定される。各スキャンエリアは、周辺領域が隣接するスキャンエリアの周辺領域と重複するように配置される。いくつかの実施形態では、スキャンエリアＳＣ０～ＳＣ５のスキャンエリアのサイズは同一である。

図１２では、アライメント完了後のスキャン中心位置Ｏにより規定されるスキャンエリアＳＣ０の周辺領域が重複するようにスキャンエリアＳＣ１～ＳＣ４が設定される。いくつかの実施形態では、スキャンエリアＳＣ０～ＳＣ５のスキャンエリアのサイズは同一である。

図１３では、図１２と同様に、アライメント完了後のスキャン中心位置Ｏにより規定されるスキャンエリアＳＣ０の周辺領域が重複するようにスキャンエリアＳＣ１～ＳＣ４が設定される。なお、スキャンエリアＳＣ３の右辺側の周辺領域は、スキャンエリアＳＣ２、ＳＣ４の左辺側の周辺領域と重複するように配置される。スキャンエリアＳＣ１の左辺側の周辺領域は、スキャンエリアＳＣ２、ＳＣ４の右辺側の周辺領域と重複するように配置される。いくつかの実施形態では、スキャンエリアＳＣ０、ＳＣ２、ＳＣ４のスキャンエリアのサイズは同一であり、スキャンエリアＳＣ１、ＳＣ３のスキャンエリアのサイズは同一であり、スキャンエリアＳＣ１のサイズはスキャンエリアＳＣ０のサイズより大きい。

いくつかの実施形態では、上記のΔｚ、Δｚ１、Δｚ２は、図１１～図１３に示すスキャンエリアの位置（スキャン位置、撮影位置、撮影部位）に対応してあらかじめ決められている。

いくつかの実施形態では、スキャンエリアＳＣ１～ＳＣ４のいずれかにおけるＢスキャンに対してＺロック位置を設定するためのΔｚ、Δｚ１、Δｚ２は、スキャンエリアＳＣ０における所定のＢスキャンのスキャン位置と当該Ｂスキャンのスキャン位置との距離に応じて設定される。

いくつかの実施形態では、スキャンエリアＳＣ１～ＳＣ４のいずれかにおけるＢスキャンに対してＺロック位置を設定するためのΔｚ、Δｚ１、Δｚ２は、スキャンエリアＳＣ０の代表位置（例えば、スキャン中心位置Ｏ）と当該スキャンエリアの代表位置との距離に応じて設定される。

いくつかの実施形態では、スキャンエリアＳＣ１～ＳＣ４のいずれかにおけるＢスキャンに対してＺロック位置を設定するためのΔｚ、Δｚ１、Δｚ２は、スキャンエリアＳＣ１～ＳＣ４をスキャンするための眼科装置１の制御情報に応じて設定される。当該制御情報の例として、スキャンエリアＳＣ１～ＳＣ４をスキャンするために固視位置を変更するためのＬＣＤ３９に対する制御情報、スキャンエリアＳＣ１～ＳＣ４をスキャンするために光スキャナ４２を制御するための制御情報がある。

図１４に、実施形態に係る眼科装置１により設定可能なスキャン範囲の他の例を示す。

図１４では、アライメント完了後のスキャン中心位置Ｏにより規定されるスキャンエリアＳＣ０に対し、スキャン中心位置Ｏを含むようにスキャンエリアＳＣ１が設定される。スキャンエリアＳＣ１のサイズは、スキャンエリアＳＣ０のサイズより大きい。

いくつかの実施形態では、上記のΔｚ、Δｚ１、Δｚ２は、スキャンエリアのサイズに対応してあらかじめ決められている。

いくつかの実施形態では、スキャンエリアＳＣ１におけるＢスキャンに対してＺロック位置を設定するためのΔｚ、Δｚ１、Δｚ２は、スキャンエリアＳＣ０のサイズ（３次元スキャン範囲）に対するスキャンエリアＳＣ１のサイズ（３次元スキャン範囲）に応じて設定される。図１３においても、同様に、スキャンエリアＳＣ１（ＳＣ３）におけるＢスキャンに対してＺロック位置を設定するためのΔｚ、Δｚ１、Δｚ２は、スキャンエリアＳＣ０のサイズ（３次元スキャン範囲）に対するスキャンエリアＳＣ１（ＳＣ３）のサイズ（３次元スキャン範囲）に応じて設定される。

いくつかの実施形態では、上記のΔｚ、Δｚ１、Δｚ２は、被検眼Ｅの情報に対応してあらかじめ決められている。被検眼Ｅの情報として、例えば、別途に被検眼Ｅに対して行われたレフ測定により得られたレフ測定結果（屈折度）、被検眼Ｅが強度近視眼であるか否かを示す情報などがある。すなわち、Ｚロックの基準位置ｚ０が設定されたＢスキャン以外のＢスキャンに対し、被検眼Ｅが強度近視眼であるとき基準位置ｚ０に対して第１シフト値だけシフトした位置にＺロック位置が設定され、被検眼Ｅが強度近視眼ではないとき基準位置ｚ０に対して第１シフト値より小さい第２シフト値だけシフトしたＺロック位置が設定される。いくつかの実施形態では、レフ測定結果又は被検眼Ｅが強度近視眼であるか否かを示す情報は、被検眼情報に含まれる。

いくつかの実施形態では、上記のΔｚ、Δｚ１、Δｚ２は、多数の正常眼の測定結果から統計的に導出された標準データに基づいて取得される。

いくつかの実施形態では、Ｚロックの基準位置ｚ０が設定されたＢスキャン以外のＢスキャンに対し、基準位置ｚ０に対して、あらかじめ決められた複数のシフト値から選択されたシフト値だけシフトするように設定される。複数のシフト値は、上記の標準データに基づいてあらかじめ決定されてよい。

いくつかの実施形態では、上記のΔｚ、Δｚ１、Δｚ２は、被検眼ＥのＯＣＴ画像（Ｂスキャン画像）の解析結果に対応してあらかじめ決められている。被検眼ＥのＯＣＴ画像として、例えば、当該３次元スキャン中に実行されたＢスキャンにより得られたＢスキャン画像、当該Ｂスキャンに交差する方向のＢスキャンにより得られた被検眼ＥのＢスキャン画像などがある。すなわち、いくつかの実施形態では、Ｚロックの基準位置ｚ０が設定されたＢスキャン以外のＢスキャンに対し、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果に基づく像に基づいてＺロック位置が設定される。また、いくつかの実施形態では、Ｚロックの基準位置ｚ０が設定されたＢスキャン以外のＢスキャンに対し、Ｚロックの基準位置ｚ０が設定されたＢスキャンのスキャン方向と交差する方向のスキャンにより得られた干渉光の検出結果に基づいて設定される。当該Ｂスキャンに交差する方向のＢスキャンのスキャン態様として、例えば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋（渦巻）スキャンなどが用いられる。

上記の実施形態において、画像形成部２２０又はデータ処理部２３０は、実施形態に係る「画像形成部」の一例である。また、データ処理部２３０は、実施形態に係る「解析部」の一例である。
［動作］
実施形態に係る眼科装置１の動作について説明する。

図１５に、実施形態に係る眼科装置１の動作例のフローチャートを示す。

（Ｓ１：スキャンエリアを設定）
まず、ユーザは、操作部２４０Ｂを用いて被検眼Ｅに対してスキャンエリアを設定する。

（Ｓ２：アライメント）
主制御部２１１は、アライメントを実行する。すなわち、主制御部２１１は、アライメント光学系５０を制御して、被検眼Ｅにアライメント指標を投影させる。このとき、被検眼Ｅには、ＬＣＤ３９による固視標も投影される。主制御部２１１は、例えばイメージセンサ３５により取得された受光像に基づいて特定された光学系の移動量に基づいて移動機構１５０を制御し、被検眼Ｅに対して光学系を当該移動量だけ相対的に移動させる。主制御部２１１は、この処理を繰り返し実行させる。

（Ｓ３：フォーカス）
アライメントが終了すると、主制御部２１１は、フォーカス調整を開始する。例えば、主制御部２１１は、眼底Ｅｆの正面画像の取得を開始させ、フォーカス光学系６０を制御して眼底Ｅｆにスプリット指標を投影させる。主制御部２１１は、例えばイメージセンサ３５により取得された受光像に基づいて特定された光学系の移動量に基づいて合焦駆動部３１Ａを制御し、撮影合焦レンズ３１を当該移動量だけ移動させる。ここで、主制御部２１１は、合焦駆動部４３Ａを制御してＯＣＴ合焦レンズ４３を当該移動量だけ移動させる。主制御部２１１は、この処理を繰り返し実行させる。

いくつかの実施形態では、ステップＳ２又はステップＳ３において、複数の予備的な動作が実行される。予備的な動作としては、アライメント、フォーカス粗調整、光路長差調整、偏光調整、フォーカス微調整などがある。

（Ｓ４：オートＺ）
主制御部２１１は、ＯＣＴ計測を開始させる。このＯＣＴ計測においては、被検眼Ｅ（例えば、眼底Ｅｆ）の実質的に同じ断面が所定の周波数で反復的にスキャンされる。続いて、主制御部２１１は、特開２０１６－０４１２２１号公報で開示された手法と同様に、取得されたＯＣＴ画像（または反射強度プロファイルなど）に基づいてオートＺを実行する。

ここで、主制御部２１１は、ＯＣＴ画像を表示部２４０Ａにライブ表示させる。

（Ｓ５：ＯＣＴ仮計測）
次に、主制御部２１１は、ＯＣＴユニット１００等を制御することによりＯＣＴ仮計測を実行する。続いて、主制御部２１１は、画像形成部２２０及びデータ処理部２３０を制御することにより、被検眼Ｅのプロジェクション画像を形成させる。

（Ｓ６：Ｚロックの基準位置を指定）
続いて、主制御部２１１は、ステップＳ５において形成されたプロジェクション画像に基づいて折り返しに起因したアーチファクトを特定し、特定されたアーチファクトの描出位置に対応したＺロックの基準位置を所定のＢスキャンに対して設定する。

なお、ステップＳ６においてアーチファクトが特定されない場合、所定のＢスキャンに対して予め決められたＺロックの基準位置が設定される。

（Ｓ７：Ｚロック位置を取得）
主制御部２１１は、ステップＳ６において指定されたＺロックの基準位置に基づいて、上記のように他のＢスキャンに対するＺロック位置をＺロック位置取得部２３３に取得させる。

（Ｓ８：光路長差を変更）
続いて、主制御部２１１は、順次にＢスキャンを実行する。例えば、主制御部２１１は、ステップＳ７において取得されたＺロック位置に基づいて光路長差の変更量を光路長差変更量取得部２３４に取得させる。その後、主制御部２１１は、取得された光路長差の変更量に基づいて光路長変更部４１及び参照駆動部１１４Ａの少なくとも一方を制御する。

（Ｓ９：スキャン）
主制御部２１１は、光スキャナ４２を制御することにより測定光ＬＳを偏向し、被検眼Ｅに対してＢスキャンを実行する。

（Ｓ１０：断層像を形成）
主制御部２１１は、ステップＳ９により得られたスキャン結果に基づいて断層像を画像形成部２２０に形成させる。

（Ｓ１１：表示）
主制御部２１１は、ステップＳ１０において形成された断層像を表示部２４０Ａの断層像表示領域ＤＲ１に表示させる。

（Ｓ１２：次？）
主制御部２１１は、次のＢスキャンを実行するか否かを判定する。主制御部２１１は、ステップＳ１において設定されたスキャンエリア、又は操作部２４０Ｂに対する操作内容に基づいて、次のＢスキャンを実行するか否かを判別する。

次のＢスキャンを実行すると判別されたとき（Ｓ１２：Ｙ）、眼科装置１の動作は、ステップＳ８に移行する。次のＢスキャンを実行しないと判別されたとき（Ｓ１２：Ｎ）、眼科装置１の動作は、ステップＳ１３に移行する。

（Ｓ１３：正面画像を形成）
ステップＳ１２において次のＢスキャンを実行しないと判別されたとき（Ｓ１２：Ｎ）、主制御部２１１は、ステップＳ１において設定されたスキャンエリアのスキャンデータに基づいてプロジェクション画像をデータ処理部２３０に形成させる。

（Ｓ１４：表示）
続いて、主制御部２１１は、ステップＳ１３において形成されたプロジェクション画像を表示部２４０Ａの正面画像表示領域ＤＲ２に表示させる。以上で、眼科装置１の動作は終了である（エンド）。

［効果］
実施形態に係る眼科装置、及びその制御方法について説明する。

いくつかの実施形態は、干渉光学系（ＯＣＴユニット１００に含まれる光学系）と、画像形成部（２２０、データ処理部２３０）と、解析部（データ処理部２３０）と、制御部（２１０）と、を含む眼科装置（１）である。干渉光学系は、測定光路と参照光路との光路長差を変更可能に構成される。干渉光学系は、光源（光源ユニット１０１）からの光（Ｌ０）を測定光（ＬＳ）と参照光（ＬＲ）とに分割し、測定光路を経由した測定光を被検眼（Ｅ）に照射し、被検眼からの戻り光と参照光路を経由した参照光との干渉光（ＬＣ）を検出する。画像形成部は、干渉光の検出結果に基づいて被検眼の画像を形成する。解析部は、画像形成部により形成された画像（プロジェクション画像、断層像）を解析することにより、被検眼に対するＢスキャンの深さ方向の基準位置（Ｚロックの基準位置）を特定する。制御部は、干渉光の検出結果に基づく像が基準位置に配置されるように各Ｂスキャンにおいて干渉光学系を制御して光路長差を変更することにより、被検眼のスキャン範囲に対して複数のＢスキャンを実行させる。

このような構成では、被検眼に対して実行されるＢスキャンに対して、被検眼の画像に基づいて深さ方向の基準位置を特定し、干渉光の検出結果に基づく像が基準位置に配置されるように被検眼に対して複数のＢスキャンを実行させる。それにより、ＯＣＴ計測による計測範囲がｘｙ方向に広くなったりｚ方向に深くなったりした場合でも、眼球の湾曲状態によっては注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を回避することができるようになる。その結果、ＯＣＴ計測を行う場合の検者や被検者の負担を軽減することが可能になる。

いくつかの実施形態では、解析部は、複数のＢスキャンにより得られたスキャン結果に基づいてスキャン範囲に対応した被検眼の正面画像に基づいて基準位置を特定する。

このような構成によれば、被検眼の正面画像に基づいてＺロックの基準位置を特定するようにしたので、眼球の湾曲状態によっては注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を確実に回避することができるようになる。

いくつかの実施形態では、解析部は、正面画像に描出されたＢスキャン画像における折り返しに起因したアーチファクトに基づいて基準位置を特定する。

このような構成によれば、折り返しの発生しないＢスキャン画像を容易に取得することが可能になり、ＯＣＴ計測を行う場合の検者や被検者の負担を軽減することが可能になる。

いくつかの実施形態では、解析部は、正面画像の左端又は右端から正面画像の上端又は下端におけるアーチファクトの位置までの距離に基づいて基準位置を特定する。

このような構成によれば、非常に簡素な処理でアーチファクトを特定することが可能になり、ＯＣＴ計測を行う場合の検者や被検者の負担を容易に軽減することが可能になる。

いくつかの実施形態では、画像形成部は、干渉光の検出結果に基づいて被検眼の断層像を形成し、解析部は、断層像に基づいて基準位置を特定する。

このような構成によれば、被検眼の断層像に基づいてＺロックの基準位置を特定するようにしたので、眼球の湾曲状態によっては注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を確実に回避することができるようになる。

いくつかの実施形態では、解析部は、断層像に基づいて被検眼の網膜における所定の層領域を特定し、断層像の上端から上記の特定された所定の層領域までの距離に基づいて基準位置を特定する。

このような構成によれば、非常に簡素な処理でアーチファクトを特定することが可能になり、ＯＣＴ計測を行う場合の検者や被検者の負担を容易に軽減することが可能になる。

いくつかの実施形態では、複数のＢスキャンは、第１のＢスキャンと、第２のＢスキャンと、第３のＢスキャンとを含み、解析部は、第１のＢスキャンに対して第１基準位置を特定し、第２のＢスキャンに対して第２基準位置を特定し、第３のＢスキャンに対して第１基準位置と第２基準位置とに基づいて第３基準位置を特定し、制御部は、干渉光学系を制御することにより第１のＢスキャン、第２のＢスキャン、及び第３のＢスキャンを実行させる。

このような構成によれば、少なくとも２つの基準位置を指定することができるようになるため、眼球の湾曲状態によっては注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を容易に回避することができるようになる。その結果、ＯＣＴ計測を行う場合の検者や被検者の負担を軽減することができるようになる。

いくつかの実施形態では、解析部は、第２のＢスキャンに対して、第１基準位置に対し深さ方向にシフトすることにより第２基準位置を設定する。

このような構成によれば、複数のＢスキャンに対して複数のＺロックの基準位置を設定することができるので、眼球の湾曲状態によっては注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を回避することができるようになる。その結果、ＯＣＴ計測を行う場合の検者や被検者の負担を軽減することが可能になる。

いくつかの実施形態では、解析部は、第１のＢスキャンのスキャン位置と第２のＢスキャンのスキャン位置との距離に応じて第２基準位置を設定する。

このような構成によれば、スキャン位置に応じてＺロック位置が設定されるため、計測範囲が広くなったり、強度近視眼のように眼球の湾曲度が大きくなったりした場合でも、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を回避することが可能になる。

いくつかの実施形態では、解析部は、第１のＢスキャンを含む３次元スキャン範囲に対する第２のＢスキャンを含む３次元スキャン範囲に応じて第２基準位置を設定する。

このような構成によれば、スキャン範囲に応じてＺロック位置が設定されるため、計測範囲が広くなったり、強度近視眼のように眼球の湾曲度が大きくなったりした場合でも、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を回避することが可能になる。

いくつかの実施形態では、解析部は、被検眼の屈折度に応じて第２基準位置を設定する。

このような構成によれば、被検眼の屈折度に応じてＺロック位置が設定されるため、計測範囲が広くなったり、強度近視眼のように眼球の湾曲度が大きくなったりした場合でも、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を回避することが可能になる。

いくつかの実施形態では、解析部は、被検眼が強度近視眼であるとき第１基準位置に対して第１シフト値だけシフトした位置に第２基準位置を設定し、被検眼が強度近視眼ではないとき第２基準位置に対して第１シフト値より小さい第２シフト値だけシフとした位置に第２基準位置を設定する。

このような構成によれば、被検眼が強度近視眼であるか否かを示す情報に応じてＺロック位置が設定されるため、計測範囲が広くなったり、強度近視眼のように眼球の湾曲度が大きくなったりした場合でも、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を回避することが可能になる。

いくつかの実施形態では、解析部は、第１基準位置に対して、あらかじめ決められた複数のシフト値から選択されたシフト値だけシフトするように第２基準位置を設定する。

このような構成によれば、あらかじめ決められた複数のシフト値の中から選択されたシフト値を用いてＺロック位置が設定されるため、計測範囲が広くなったり、強度近視眼のように眼球の湾曲度が大きくなったりした場合でも、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を容易に回避することが可能になる。

いくつかの実施形態では、解析部は、第１のＢスキャンのスキャン方向と交差する方向のスキャンにより得られた干渉光の検出結果に基づいて第２基準位置を設定する。

このような構成によれば、第１のＢスキャンのスキャン方向と交差する方向のスキャンにより得られた干渉光の検出結果に基づいてＺロック位置が設定されるため、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を推測しやすくなる。それにより、計測範囲が広くなったり、強度近視眼のように眼球の湾曲度が大きくなったりした場合でも、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を確実に回避することが可能になる。

いくつかの実施形態では、制御部は、第１のＢスキャンのスキャン方向と交差する方向に、第１のＢスキャン、第３のＢスキャン、及び第２のＢスキャンの順序で実行させる。

このような構成によれば、第３のＢスキャンに対して特定された基準位置を用いた場合でも、注目部位が画像化範囲の端に描出されたり、画像化範囲から外れたりする事態を回避し易くなる。

上記の実施形態は、スキャンエリア中の任意の数のＢスキャンに対してＺロックの基準位置を指定する場合に適用することが可能である。例えば、４以上の任意のＢスキャンに対してＺロックの基準位置を指定することが可能である。

上記の実施形態を実現するためのコンピュータプログラムを、コンピュータによって読み取り可能な任意の記録媒体に記憶させることができる。この記録媒体としては、例えば、半導体メモリ、光ディスク、光磁気ディスク（ＣＤ－ＲＯＭ／ＤＶＤ－ＲＡＭ／ＤＶＤ－ＲＯＭ／ＭＯ等）、磁気記憶媒体（ハードディスク／フロッピー（登録商標）ディスク／ＺＩＰ等）などを用いることが可能である。

また、インターネットやＬＡＮ等のネットワークを通じてこのプログラムを送受信することも可能である。

１ 眼科装置
２ 眼底カメラユニット
１０ 照明光学系
３０ 撮影光学系
３１ 撮影合焦レンズ
４１ 光路長変更部
４２ 光スキャナ
５０ アライメント光学系
６０ フォーカス光学系
１００ ＯＣＴユニット
１０１ 光源ユニット
２００ 演算制御ユニット
２１０ 制御部
２１１ 主制御部
２１２ 記憶部
２２０ 画像形成部
２３０ データ処理部
２３１ 部位特定部
２３２ アーチファクト特定部
２３３ Ｚロック位置取得部
２３４ 光路長差変更量取得部
２４０Ａ 表示部
２４０Ｂ 操作部
Ｅ 被検眼
ＬＳ 測定光
ＬＲ 参照光
ＬＣ 干渉光

Claims (2)

1. 測定光路と参照光路との光路長差を変更可能に構成され、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光路を経由した前記測定光を被検眼に照射し、前記被検眼からの戻り光と前記参照光路を経由した前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、
   前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する画像形成部と、
   前記画像形成部により形成された前記画像中の網膜色素上皮層に基づいて前記被検眼に対する第１のＢスキャンの深さ方向の第１基準位置を特定すると共に、前記第１基準位置を基準に前記被検眼の屈折度に応じて前記被検眼に対する第２のＢスキャンの深さ方向の第２基準位置を特定する解析部と、
   前記被検眼のスキャン範囲に対して前記第１のＢスキャンと前記第２のＢスキャンとを含む複数のＢスキャンを実行する場合に、前記干渉光の検出結果に基づく像が前記第１基準位置に配置されるように前記干渉光学系を制御して前記光路長差を変更することにより前記被検眼のスキャン範囲に対して前記第１のＢスキャンを実行させ、前記像が前記第２基準位置に配置されるように前記干渉光学系を制御して前記光路長差を変更することにより前記被検眼のスキャン範囲に対して前記第２のＢスキャンを実行させる制御部と、
   を含む眼科装置。
2. 前記解析部は、前記被検眼が強度近視眼であるとき前記第１基準位置に対して第１シフト値だけシフトした位置に前記第２基準位置を設定し、前記被検眼が強度近視眼ではないとき前記第２基準位置に対して前記第１シフト値より小さい第２シフト値だけシフトした位置に前記第２基準位置を設定する
   ことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。

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