JP7363448B2 - 電子装置 - Google Patents

Description

この明細書における開示は、移動体に用いられる電子装置に関する。

特許文献１は、故障予測機能を有する電子装置を開示している。先行技術文献の記載内容は、この明細書における技術的要素の説明として、参照により援用される。

特開２０１９－５２９２３号公報

特許文献１の電子装置は、絶縁抵抗を検出するための検査用配線を備えており、検査用配線に電圧を印加して絶縁抵抗値を検出する。検出した絶縁抵抗値と初期値との比率が所定値以下であると、故障に至る恐れ有りの警報信号を発生する。

初期値との比較のみで故障を予測するため、市場において周囲環境の変動が大きい移動体、たとえば車両の用途では予測精度が低い。特に、カーシェアリングにおいて用いられる車両（シェアリングカー）のように、複数人で共有され、一台ごとに使われ方が大きく異なる用途では、故障時期を精度よく予測することができない。上述の観点において、または言及されていない他の観点において、電子装置にはさらなる改良が求められている。

開示されるひとつの目的は、故障予測精度の高い電子装置を提供することにある。

ここに開示された電子装置は、移動体に用いられる。

この電子装置は、
所定機能の回路を構成する通常配線（１６）と、
通常配線よりも劣化の進行が早く、かつ、進行の早さが相互に異なる複数の検査用配線（１７Ｈ、１７Ｌ）と、
少なくとも２つの検査用配線の故障を検出する故障検出部（２０）と、
検査用配線に故障が生じた時期を記憶する記憶部（３０）と、
少なくとも２つの検査用配線の故障時期に基づいて、通常配線に故障が生じる時期を予測する予測部（４０）と、
通常配線の故障予測時期を外部に通知する通知部（５０）と、を備え、
複数の検査用配線は、第１検査用配線（１７Ｈ）と、第１検査用配線よりも劣化の進行が遅い第２検査用配線（１７Ｌ）と、を含み、
予測部は、第１検査用配線に故障が生じた第１故障時期と、第２検査用配線に故障が生じた第２故障時期との差分を入力変数とする予測関数に基づき、通常配線に故障が生じる時期を予測し、
検査用配線は、絶縁抵抗検出用の配線であり、
故障検出部は、検査用配線の絶縁抵抗値を検出する絶縁抵抗検出部（２２Ｈ、２２Ｌ）と、絶縁抵抗値と所定の閾値とを比較し、絶縁抵抗値が閾値を下回ると故障が生じたと判定する故障判定部（２３）と、を含み、
第１検査用配線および第２検査用配線は、通常配線における最小間隔よりも配線間隔が狭いことで通常配線よりも劣化の進行が早く、
第１検査用配線に、電子装置内の最大電圧よりも低い第１電圧が印加され、第２検査用配線に、第１電圧よりも低い第２電圧が印加され、
回路に、最大電圧、第１電圧、第２電圧が供給される。

開示された電子装置は、複数の検査用配線を備えている。複数の検査用配線は、通常配線よりも劣化の進行が早く、かつ、進行の早さが相互に異なる。予測に用いる少なくとも２つの検査用配線の故障時期には、ずれが生じる。少なくとも２つの検査用配線の故障時期を用いることで、通常配線の故障時期を、市場での周囲環境を踏まえて精度よく予測することができる。この結果、故障予測度精度の高い電子装置を提供することができる。

この明細書における開示された複数の態様は、それぞれの目的を達成するために、互いに異なる技術的手段を採用する。請求の範囲及びこの項に記載した括弧内の符号は、後述する実施形態の部分との対応関係を例示的に示すものであって、技術的範囲を限定することを意図するものではない。この明細書に開示される目的、特徴、及び効果は、後続の詳細な説明、及び添付の図面を参照することによってより明確になる。

第１実施形態に係る電子制御装置のハードウェア構成を示す図である。 電子制御装置の機能ブロックを示す図である。 機能故障時期予測部が用いる予測モデルを示す図である。 故障予測処理を実行する際の動作フローを示す図である。 機能故障時期の予測方法を示す図である。 第２実施形態に係る電子制御装置の機能ブロックを示す図である。 機能故障時期予測部が用いる予測モデルを示す図である。 故障予測処理を実行する際の動作フローを示す図である。 変形例を示す図である。 第３実施形態に係る電子制御装置の機能ブロックを示す図である。 機能故障時期予測部が用いる予測モデルを示す図である。 故障予測処理を実行する際の動作フローを示す図である。 第４実施形態に係る電子制御装置の機能ブロックを示す図である。 故障予測処理を実行する際の動作フローを示す図である。

図面を参照しながら、複数の実施形態を説明する。複数の実施形態において、機能的に及び／又は構造的に対応する部分には同一の参照符号を付与する。

＜第１実施形態＞
以下に示す電子制御装置は、移動体に適用可能である。移動体は、たとえば電気自動車（ＥＶ）、ハイブリッド自動車（ＨＶ）、燃料電池車（ＦＣＶ）などの車両、ドローンなどの飛行体、船舶、建設機械、農業機械である。本実施形態の電子制御装置は、カーシェアリングにおいて用いられる車両（シェアリングカー）に搭載される車載ＥＣＵである。ＥＣＵは、Electronic Control Unitの略称である。

電子制御装置は、外部からの入力信号を用いて所定の演算を実行し、制御対象を制御するための信号を出力する。電子制御装置は、たとえばエンジンＥＣＵである。エンジンＥＣＵは、インジェクタ、点火プラグ、及び電子スロットル用モータの駆動を制御する。電子制御装置は、たとえばエンジンＥＣＵに対して上位のＥＣＵである。

電子制御装置は、たとえば自動駐車ＥＣＵである。入力信号は、たとえば車両周辺の画像（静止画または動画）である。自動駐車ＥＣＵは、入力された車両周辺の画像に基づいて車両周囲の駐車スペースの状態を解析し、解析結果を出力する。この出力信号に基づいて、車輪の角度や車両速度が制御され、車両が適切な位置に駐車する。

＜電子制御装置のハードウェア構成＞
先ず、図１を参照して、電子制御装置のハードウェア構成について説明する。図１に示す電子制御装置１０（ＥＣＵ）は、電源回路部１１と、制御部１２と、外部メモリ１３と、通信Ｉ／Ｆ回路部１４を備えている。電子制御装置が、電子装置に相当する。

電源回路部１１は、車両に搭載された図示しないバッテリ（直流電源）から供給されるバッテリ電圧を、電子制御装置１０内で必要とされる所定の電圧に変換して出力するＤＣ－ＤＣ変換部である。本実施形態の電源回路部１１は、バッテリ電圧を降圧して出力する。具体的には、バッテリ電圧から、バッテリ電圧よりも低い電圧ＶＨ（たとえば５Ｖ）と、電圧ＶＨよりも低い電圧ＶＬ（たとえば１Ｖ）とを生成し、出力する。電圧ＶＨが第１電圧に相当し、電圧ＶＬが第２電圧に相当する。

制御部１２は、制御対象を制御するための所定の演算を実行するように構成された集積回路である。制御部１２は、プロセッサ１２ａ、メモリ１２ｂ、Ａ／Ｄ変換部１２ｃ、タイマ１２ｄ等を備えたコンピュータを主体として含む構成である。制御部１２として、たとえばマイコン（マイクロコンピュータ）、ＳｏＣ（System on a Chip）を採用することができる。

プロセッサ１２ａは、演算処理のためのハードウェアである。プロセッサ１２ａは、たとえばＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）、およびＲＩＳＣ（Reduced Instruction Set Computer）－ＣＰＵ等のうち、少なくとも一種類をコアとして含む。プロセッサ１２ａは、メモリに格納されたプログラムを読み込んで実行することで、入力信号を処理して出力信号に変換する。

メモリ１２ｂおよび外部メモリ１３は、コンピュータにより読み取り可能なプログラムおよびデータ等を非一時的に格納または記憶する。メモリ１２ｂおよび外部メモリ１３の少なくとも一方は、プロセッサ１２ａによって実行される種々のプログラムを格納している。種々のプログラムとして、制御対象を制御するためもプログラムと、後述する通常配線１６の故障を予測するプログラムを含む。メモリ１２ｂおよび外部メモリ１３は、半導体メモリ等の少なくとも一種類の非遷移的実体的記憶媒体（non-transitory tangible storage medium）である。

Ａ／Ｄ変換部１２ｃは、後述する検査用配線１７Ｈ、１７Ｌの絶縁抵抗を検出する。通信Ｉ／Ｆ回路部１４は、たとえば車内ＬＡＮ（Local Area Network）を介して、制御対象、他のＥＣＵ、センサ等に接続されている。なお、外部メモリ１３のメモリ機能を、制御部１２に集積化してもよい。また、通信Ｉ／Ｆ回路部１４も、制御部１２に集積化してもよい。

電子制御装置１０は、図示しない回路基板を備えている。回路基板は、プリント基板に電子部品が実装されてなる。プリント基板は、Ｃｕなどの導電性に優れる金属材料を用いて形成された配線１５を有している。配線１５は、通常配線１６と、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌを有している。通常配線１６は、電子部品とともに所定機能の回路を構成している。通常配線１６および電子部品により、上記した電子制御装置１０が構成されている。

通常配線１６は、電子制御装置１０の端子１８ａに接続された電源配線１６ａと、端子１８ｂに接続されたグランド配線１６ｂを有している。電源配線１６ａは、端子１８ａを介してバッテリの正極（バッテリ電源）に接続される。端子１８ａは、常時もしくは車両の起動スイッチのオン期間のみ、バッテリ（直流電源）の正極に接続される。起動スイッチは、ＩＧスイッチと称されることがある。電源配線１６ａには、バッテリ電圧（たとえば１４Ｖ）が印加される。グランド配線１６ｂは、端子１８ｂを介してバッテリの負極（バッテリＧＮＤ）に接続される。バッテリ電圧が、最大電圧に相当する。

通常配線１６は、電源回路部１１に接続された高電位線１６ｃおよび低電位線１６ｄを有している。高電位線１６ｃは、電源回路部１１の電圧ＶＨの出力端子に接続されている。高電位線１６ｃは、電圧ＶＨを制御部１２等に供給する配線である。低電位線１６ｄは、電源回路部１１の電圧ＶＬの出力端子に接続されている。低電位線１６ｄは、電圧ＶＬを制御部１２等に供給する配線である。

配線１５は、プリント基板において配策されている。たがいに隣接する通常配線１６の電位が異なる場合、イオンマイグレーション等による絶縁不良が問題となる。絶縁不良は、配線間隔が狭く、かつ、電位差（電圧ＶＦ）が大きい箇所で生じやすい。電源配線１６ａの少なくとも一部は、グランド配線１６ｂと隣接している。電源配線１６ａとグランド配線１６ｂとの隣接部分の少なくとも一部において、配線間隔（配線ピッチ）は、所定機能を実現する通常配線１６の最小間隔（たとえば０．２ｍｍ）となっている。

検査用配線１７Ｈ、１７Ｌは、通常配線１６の故障時期、すなわち機能故障時期を予測するために設けられた配線１５である。通常配線１６は機能配線であり、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌは非機能配線である。検査用配線１７Ｈ、１７Ｌは、電気的な接続機能を提供しない検査専用の配線１５である。

検査用配線１７Ｈは、高電位線１６ｃとグランド配線１６ｂの間に設けられている。検査用配線１７Ｈは、通常配線１６の最小間隔よりも狭い所定の配線間隔Ｐ１（たとえば０．０５ｍｍ）を有するように設けられた高電位配線部１７０Ｈと、低電位配線部１７１Ｈを有している。高電位配線部１７０Ｈは、抵抗ＲＨを介して高電位線１６ｃに接続されている。低電位配線部１７１Ｈは、グランド配線１６ｂに接続されている。高電位配線部１７０Ｈの一部が低電位配線部１７１Ｈに対して配線間隔Ｐ１で隣接している。抵抗ＲＨは、高電位配線部１７０Ｈにおいて、低電位配線部１７１Ｈと隣接していない部分に設けられている。抵抗ＲＨは、たとえば、高電位配線部１７０Ｈと低電位配線部１７１Ｈとの間に形成される絶縁抵抗の劣化前の初期値に較べて、十分に大きい値とされる。そして、検査用配線１７Ｈの絶縁抵抗と抵抗ＲＨとの接続点であるノードＮ１が、Ａ／Ｄ変換部１２ｃと接続されている。

検査用配線１７Ｌは、低電位線１６ｄとグランド配線１６ｂの間に設けられている。検査用配線１７Ｌは、通常配線１６の最小間隔よりも狭い所定の配線間隔Ｐ２（たとえば０．０５ｍｍ）を有するように設けられた高電位配線部１７０Ｌと、低電位配線部１７１Ｌを有している。高電位配線部１７０Ｌは、抵抗ＲＬを介して低電位線１６ｄに接続されている。低電位配線部１７１Ｌは、グランド配線１６ｂに接続されている。高電位配線部１７０Ｌの一部が低電位配線部１７１Ｌに対して配線間隔Ｐ２で隣接している。抵抗ＲＬは、高電位配線部１７０Ｌにおいて、低電位配線部１７１Ｌと隣接していない部分に設けられている。抵抗ＲＬは、たとえば、高電位配線部１７０Ｌと低電位配線部１７１Ｌとの間に形成される絶縁抵抗の劣化前の初期値に較べて、十分に大きい値とされる。そして、検査用配線１７Ｌの絶縁抵抗と抵抗ＲＬとの接続点であるノードＮ２が、Ａ／Ｄ変換部１２ｃと接続されている。

配線間隔と印加電圧とを加味した、配線１５にかかるストレスは、通常配線１６よりも検査用配線１７Ｈ、１７Ｌのほうが高い。このため、通常配線１６よりも先に、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌに故障（絶縁不良）が生じる。また、検査用配線１７Ｌよりも先に、検査用配線１７Ｈに故障（絶縁不良）が生じる。検査用配線１７Ｈが第１検査用配線に相当し、検査用配線１７Ｌが第２検査用配線に相当する。

＜電子制御装置の機能構成＞
次いで、図２および図３を参照して、電子制御装置１００が故障予測装置として作動するときの機能を説明する。図２に示すように、電子制御装置１００は、機能ブロックとして、検査用配線故障検出部２０と、故障時期記憶部３０と、機能故障時期予測部４０と、通知部５０を備えている。検査用配線故障検出部２０が、故障検出部に相当する。故障時期記憶部３０が、記憶部に相当する。機能故障時期予測部４０が、予測部に相当する。

検査用配線故障検出部２０は、電圧印加部２１Ｈ、２１Ｌと、絶縁抵抗検出部２２Ｈ、２２Ｌと、検査用配線故障判定部２３と、閾値記憶部２４を備えている。電圧印加部２１Ｈ、２１Ｌは、電源回路部１１を含んで構成される。電圧印加部２１Ｈは、検査用配線１７Ｈの高電位配線部１７０Ｈに電圧ＶＨを印加する。電圧印加部２１Ｌは、検査用配線１７Ｌの高電位配線部１７０Ｌに電圧ＶＬを印加する。

絶縁抵抗検出部２２Ｈ、２２Ｌは、制御部１２のＡ／Ｄ変換部１２ｃを含んで構成される。絶縁抵抗検出部２２Ｈは、検査用配線１７Ｈの絶縁抵抗と抵抗ＲＨとにより抵抗分圧されたノードＮ１の電圧を、検査用配線１７Ｈの絶縁抵抗値に相関する物理量として検出する。絶縁抵抗検出部２２Ｌは、検査用配線１７Ｌの絶縁抵抗と抵抗ＲＬとにより抵抗分圧されたノードＮ２の電圧を、検査用配線１７Ｌの絶縁抵抗値に相関する物理量として検出する。

検査用配線故障判定部２３は、プロセッサ１２ａと、メモリ１２ｂおよび外部メモリ１３の少なくとも一方と、を含んで構成される。検査用配線故障判定部２３は、閾値記憶部２４に予め記憶された閾値と、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌの絶縁抵抗値とを比較し、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌに故障が生じているか否かを判定する。検査用配線故障判定部２３が、故障判定部に相当する。イオンマイグレーション等の劣化が進行すると、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌの絶縁抵抗値が小さくなり、ノードＮ１、Ｎ２の電圧は低下する。検査用配線故障判定部２３は、検査用配線１７Ｈの絶縁抵抗値に相関するノードＮ１の電圧が閾値（第１閾値）を下回ると、検査用配線１７Ｈに故障が生じたと判定する。検査用配線故障判定部２３は、検査用配線１７Ｌの絶縁抵抗値に相関するノードＮ２の電圧が閾値（第２閾値）を下回ると、検査用配線１７Ｌに故障が生じたと判定する。

故障時期記憶部３０は、メモリ１２ｂおよび外部メモリ１３の少なくとも一方を含んで構成される。故障時期記憶部３０は、検査用配線故障判定部２３により検査用配線１７Ｈ、１７Ｌの故障が判定（検出）された時期をそれぞれ記憶する。

機能故障時期予測部４０は、プロセッサ１２ａを含んで構成される。機能故障時期予測部４０は、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌの故障時期ＣＨ、ＣＬを少なくとも入力信号として、所定の演算を実行し、機能を実現する通常配線１６の絶縁不良（ショート）に関する故障時期である機能故障時期ＣＳを予測する。具体的には、図３に示す予測モデルを用いた演算により、機能故障時期ＣＳを予測する。予測モデルは、メモリ１２ｂおよび外部メモリ１３の少なくとも一方に格納されている。予測モデルが有する故障時期予測関数ｆは、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌの故障時期ＣＨ、ＣＬの差分ΔＣＮ（＝ＣＬ－ＣＨ）を入力変数とする一次関数である。機能故障時期ＣＳは、故障時期の差分ΔＣＮに定数Ａを乗算し、この乗算値Ａ×ΔＣＮに定数Ｂを加算することで得られる。定数Ａ、Ｂは、試作時等の事前試験によって、あらかじめ決定されている。ΔＣＮが小さいほど機能故障時期ＣＳをより早い時期として予測し、ΔＣＮが大きいほど機能故障時期ＣＳを遅い時期として予測する関数とすることで、事前試験時の前提と実市場でのストレスの差を踏まえた正確な補正ができる。

通知部５０は、通信Ｉ／Ｆ回路部１４を含んで構成される。通知部５０は、たとえば車内ＬＡＮを介して、機能故障時期を電子制御装置１０の外部に通知する。電子制御装置１０の外部とは、他の電子制御装置や車載表示装置等である。

なお、本明細書において、時期とは、時刻または日を示す。

＜故障予測装置としての動作フロー＞
次に、図４を参照して、電子制御装置１０が故障予測処理を実行する際の具体的な動作フローについて説明する。電子制御装置１０に電源が供給されると、電子制御装置１０は、以下に示す処理を実行する。

先ず、電子制御装置１０は、絶縁抵抗値を検出する（ステップＳ１０）。絶縁抵抗検出部２２Ｈ、２２Ｌは、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌの絶縁抵抗値に相関する物理量として、ノードＮ１、Ｎ２の電圧を検出する。以下では、絶縁抵抗値に相関する物理量（ノードの電圧）を、便宜上、絶縁抵抗値と示す。

次いで、電子制御装置１０は、絶縁抵抗値の少なくともひとつが対応する閾値を下回ったか否かを判定する（ステップＳ２０）。検査用配線故障判定部２３は、絶縁抵抗値と対応する閾値とを比較し、絶縁抵抗値が閾値を下回ると検査用配線１７Ｈ、１７Ｌの少なくともひとつに故障が生じたと判定する。ステップＳ２０において、絶縁抵抗値のいずれも対応する閾値を下回らない場合、ステップＳ１０に戻る。電子制御装置１０は、絶縁抵抗値の少なくともひとつが対応する閾値を下回るまで、ステップＳ１０、Ｓ２０を繰り返す。

絶縁抵抗値の少なくともひとつが対応する閾値を下回ると、電子制御装置１０は、故障時期ＣＮを記憶する（ステップＳ３０）。故障時期記憶部３０は、ステップＳ２０において故障が生じたと判定された時期（時刻）を、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌの故障時期ＣＮとして記憶する。たとえばステップＳ２０において、検査用配線１７Ｈに故障が生じたと判定されると、ステップＳ３０では、検査用配線１７Ｈの故障時期ＣＨを記憶する。同様に、検査用配線１７Ｌに故障が生じたと判定されると、検査用配線１７Ｌの故障時期ＣＬを記憶する。故障時期ＣＨが第１故障時期に相当し、故障時期ＣＬが第２故障時期に相当する。

次いで、電子制御装置１０は、複数の故障が検出されているか否かを判定する（ステップＳ４０）。電子制御装置１０の使用環境を推定するには、複数の故障時期ＣＮが必要である。機能故障時期予測部４０は、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌそれぞれの故障が検出されているか否かを判定する。すなわち、複数の故障時期ＣＨ、ＣＬが記憶されているか否かを判定する。ステップＳ４０において、複数の故障が検出されない場合、ステップＳ１０に戻る。電子制御装置１０は、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌの一方の故障が検出された状態において、他方の故障が検出されるまで、ステップＳ１０～Ｓ４０を繰り返す。

複数の故障が検出されると、電子制御装置１０は、機能故障時期ＣＳを予測する（ステップＳ５０）。機能故障時期予測部４０は、上記したように、故障時期の差分ΔＣＮを入力変数として、機能故障時期ＣＳを予測する。

次いで、電子制御装置１０は、機能故障時期ＣＳを外部へ通知する（ステップＳ６０）。通知部５０は、車内ＬＡＮ等を介して、他の電子制御装置、表示装置等へ機能故障時期ＣＳを送信する。電子制御装置１０は、ステップＳ６０の処理が終了すると、一連の処理を終了する。

＜第１実施形態のまとめ＞
図５は、機能故障時期ＣＳの予測方法を説明するための図である。上記したように、本実施形態では、複数の検査用配線１７Ｈ、１７Ｌについて、その故障時期ＣＨ、ＣＬを検出する。検査用配線１７Ｈ、１７Ｌは、通常配線１６よりも劣化の進行が早く、進行の早さが相互に異なる。図５に示すように、まず検査用配線１７Ｈに故障が生じ、次いで、検査用配線１７Ｌに故障が生じる。配線にかかるストレスは、検査用配線１７Ｈ＞検査用配線１７Ｌ＞通常配線１６の関係を満たす。なお、図５において、通常配線１６の印加ストレスｍａｘとは、通常配線１６のうち、ストレスが最大となる箇所の印加ストレスである。上記したように、電源配線１６ａにおいて、グランド配線１６ｂと隣接し、かつ、配線ピッチが通常配線１６の最小間隔（０．２ｍｍ）の部分で、印加ストレスがｍａｘとなる。

このように、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌは、互いに異なるタイミングで故障する。複数の故障時期ＣＮ（ＣＨ、ＣＬ）は、電子制御装置１０の周囲環境に応じて変化する。複数の故障時期ＣＮ（ＣＨ、ＣＬ）を用いることで、機能故障時期ＣＳを、市場における電子制御装置１０の周囲環境を踏まえて精度よく予測することができる。この結果、故障予測度精度の高い電子制御装置１０を提供することができる。

移動体の場合、電子制御装置１０の周囲環境の変動が大きい。たとえば、温度、湿度が大きく変動する。具体的には、日時、場所、エンジンなどの走行駆動源の動作状態、カーエアコンの動作状態などにより周囲環境が変動する。本実施形態によれば、周囲環境を踏まえた予測ができる。したがって、本来の寿命よりも早期に警告することで過剰なメンテナンス費用が生じたり、警告前に機能故障が生じる、のを抑制することができる。したがって、電子制御装置１０は、移動体に好適である。

特に、カーシェアリングにおいて用いられる車両（シェアリングカー）の場合、複数人で共有され、一台ごとに使われ方が大きく異なる。本実施形態によれば、一台ごとに周囲環境を踏まえた予測ができるため、シェアリングカーにも好適である。たとえば、車両管理事業者のメンテナンス費用を低減することができる。

本実施形態では、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌの故障時期の差分ΔＣＮを入力変数とする予測関数に基づいて、機能故障時期ＣＳを予測する。故障時期ＣＨ、ＣＬには時間のずれがあるため、その差分ΔＣＮは、周囲環境を反映した値をとる。したがって、故障時期の差分ΔＣＮを用いると、機能故障時期ＣＳを精度よく予測することができる。

経年劣化の主要因として、イオンマイグレーションによる隣接配線間の絶縁不良（ショート）がある。本実施形態では、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌとして、絶縁抵抗検出を検出すべく所定の配線間隔Ｐ１、Ｐ２を有する配線を用いている。よって、絶縁不良による機能故障時期ＣＳを精度よく予測することができる。

本実施形態では、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌの配線間隔Ｐ１、Ｐ２を、通常配線１６の配線間隔の最小値よりも狭くしている。これにより、通常配線１６の一部（電源配線１６ａ）に印加される電圧が検査用配線１７Ｈ、１７Ｌに印加される電圧より高くても、通常配線１６より前に、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌに絶縁不良を生じさせることができる。また、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌの印加電圧を互いに異ならせている。これにより、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌに、互いに異なるタイミングで絶縁不良を生じさせることができる。特に本実施形態では、印加する電圧ＶＨ、ＶＬとして、電子制御装置１０内部の回路で使用する電圧（動作電圧）を用いるため、構成を簡素化することができる。

＜第２実施形態＞
この実施形態は、先行する実施形態を基礎的形態とする変形例であり、先行実施形態の記載を援用できる。先行実施形態では、故障時期ＣＨ、ＣＬをそのまま用いて機能故障時期ＣＳを予測した。これに代えて、電圧印加時間によって故障時期ＣＨ、ＣＬを補正し、補正した故障時期を用いて機能故障時期ＣＳを予測するようにしてもよい。

図６に示すように、本実施形態の電子制御装置１０は、故障予測装置として作動するために、先行実施形態に記載の構成（図２参照）に対して、印加時間計測部６０をさらに備えている。印加時間計測部６０が、印加時間取得部に相当する。印加時間計測部６０以外の構成は、先行実施形態と同じである。

印加時間計測部６０は、上記したタイマ１２ｄを含んで構成されている。印加時間計測部６０は、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌに電圧ＶＨ、ＶＬを印加した累積時間ＴＨ、ＴＬを計測する。以下では、電圧印加の累積時間ＴＨ、ＴＬを単に電圧印加時間ＴＨ、ＴＬと示す。

機能故障時期予測部４０は、図７に示す予測モデルを用いた演算により、機能故障時期ＣＳを予測する。機能故障時期予測部４０は、印加時間計測部６０から電圧印加時間ＴＨ、ＴＬを取得し、故障時期ＣＨ、ＣＬを補正する。補正後の故障時期ＣＨ１は、ベース時間ＴＢ１に対する電圧印加時間ＴＨの比率に、故障時期ＣＨを乗算することにより得られる。同様に、補正後の故障時期ＣＬ１は、ベース時間ＴＢ２に対する電圧印加時間ＴＬの比率に、故障時期ＣＬを乗算することにより得られる。ベース時間ＴＢ１、ＴＢ２は、定数Ａ、Ｂを定める事前試験時における電圧印加時間である。機能故障時期予測部４０は、故障時期ＣＨ、ＣＬに代えて、補正後の故障時期ＣＨ１、ＣＬ１の差分をΔＣＮ（＝ＣＬ１－ＣＨ１）とし、上記した故障時期予測関数ｆにより機能故障時期ＣＳを算出する。なお、ベース時間ＴＢ１、ＴＢ２は、互いに同じ値でもよいし、異なる値でもよい。本実施形態では、互いにほぼ同じ値となる。機能故障時期予測部４０は、ＴＨ＞ＴＢ１のときに故障時期ＣＨが遅くなるように補正し、ＴＨ＜ＴＢ１のときに故障時期ＣＨが早くなるように補正する。これにより、市場での印加時間と事前試験時の前提とした印加時間に差があるときに正確に補正ができる。

図８は、電子制御装置１０が故障予測処理を実行する際の具体的な動作フローを示している。先行実施形態に記載の動作フロー（図４参照）に対して、ステップＳ３２の処理が追加されている。図８に示すように、ステップＳ３０において故障時期ＣＮを記憶すると、電子制御装置１０は、故障時期ＣＮに対応する電圧印加時間ＴＮを取得する（ステップＳ３２）。上記したように、機能故障時期予測部４０は、印加時間計測部６０から、電圧印加時間ＴＮとして、電圧ＶＨの累積の印加時間である電圧印加時間ＴＨと、電圧ＶＬの累積の印加時間である電圧印加時間ＴＬを取得する。機能故障時期予測部４０は、故障時期ＣＨを記憶するタイミングで電圧印加時間ＴＨを取得し、故障時期ＣＬを記憶するタイミングで電圧印加時間ＴＬを取得する。そして、ステップＳ４０以降の処理を実行する。ステップＳ５０では、上記したように電圧印加時間ＴＨ、ＴＬにより故障時期ＣＨ、ＣＬを補正した上で、機能故障時期ＣＳを算出する。

＜第２実施形態のまとめ＞
本実施形態では、電圧印加時間ＴＨ、ＴＬにより故障時期ＣＨ、ＣＬを補正し、補正後の故障時期ＣＨ１、ＣＬ１の差分ΔＣＮを入力変数として、機能故障時期ＣＳを予測する。印加時間が長いほど配線１５に劣化（絶縁不良）が生じやすくなる。ベース時間ＴＢ１、ＴＢ２に対する電圧印加時間ＴＨ、ＴＬのずれにより故障時期ＣＨ、ＣＬを補正するため、市場での使用状態を反映することができる。特に、シェアリングカーのように、一台ごとに使われ方が大きく異なる移動体でも、機能故障時期ＣＳを精度よく予測することができる。

＜変形例＞
図９に示すように、電子制御装置１０は、検査用配線１７Ｈ、１７Ｌの電圧印加時間に関する情報を、電子制御装置１０の外部から取得してもよい。電子制御装置１０は、印加時間計測部６０に代えて、印加時間取得部６１を備えている。印加時間取得部６１は、上記した通信Ｉ／Ｆ回路部１４を含んで構成されている。印加時間取得部６１は、たとえば車内ＬＡＮを介して、他の電子制御装置２００に接続されている。電子制御装置２００は、たとえば車両の電源を制御する装置である。電子制御装置２００には、たとえばバッテリ２０１および起動スイッチ２０２の少なくともひとつが接続されている。

印加時間取得部６１は、車内ＬＡＮなどを介して、電子制御装置２００から電圧印加時間ＴＨ、ＴＬに相関する時間を取得する。具体的には、バッテリ接続時間および起動スイッチオン時間の少なくとも一方を取得する。そして、取得したバッテリ接続時間および起動スイッチオン時間の少なくとも一方により故障時期ＣＨ、ＣＬを補正して、機能故障時期ＣＳを予測する。これによっても、機能故障時期ＣＳを精度よく予測することができる。また、電圧印加時間を計測するためのタイマ追加が不要となる。

＜第３実施形態＞
この実施形態は、先行する実施形態を基礎的形態とする変形例であり、先行実施形態の記載を援用できる。先行実施形態では、故障時期予測関数ｆにより算出した機能故障時期ＣＳを予測した。これに代えて、算出した機能故障時期ＣＳを、温度および湿度の少なくとも一方に関する補正情報により補正してもよい。

図１０に示すように、本実施形態の電子制御装置１０は、故障予測装置として作動するために、先行実施形態に記載の構成（図６参照）に対して、補正情報取得部７０をさらに備えている。補正情報取得部７０は、補正情報として、電子制御装置１０の外部から、周囲環境の温度および湿度の少なくとも一方を取得する。補正情報取得部７０以外の構成は、先行実施形態と同じである。

補正情報取得部７０は、上記した通信Ｉ／Ｆ回路部１４を含んで構成されている。補正情報取得部７０は、たとえば車内ＬＡＮを介して、他の電子制御装置３００に接続されている。電子制御装置３００は、エンジンなどの走行駆動源を制御する装置（たとえばエンジンＥＣＵ）、および、エアコン（空調装置）を制御する装置（エアコンＥＣＵ）の少なくともひとつである。すなわち、電子制御装置３００は、電子制御装置１０の周辺に配置される発熱体を制御する装置である。電子制御装置３００には、たとえばエンジン冷却水の水温を検出する水温センサ３０１、車室内の温度を検出する温度センサ３０２、およびエアコン制御用の湿度センサ３０３の少なくともひとつ接続がされている。

補正情報取得部７０は、車内ＬＡＮなどを介して、電子制御装置３００から電子制御装置１０周辺の温度および湿度の少なくとも一方に関する情報（補正情報）を取得する。たとえば車室内の温度情報とエアコン制御用の湿度情報を取得する。これら温度情報、湿度を、以下において周辺温度情報ＴＥＭＰ、周辺湿度情報ＨＵＭＤと示すことがある。

機能故障時期予測部４０は、図１１に示す予測モデルを用いた演算により、機能故障時期ＣＳを予測する。機能故障時期予測部４０は、故障時期予測関数ｆにより算出した故障時期ＣＳ１を、補正情報取得部７０が取得した周辺温度情報ＴＥＭＰ、周辺湿度情報ＨＵＭＤを用いて補正する。故障時期ＣＳ１は、先行実施形態（図７参照）に記載の故障時期ＣＳに相当し、本実施形態では、周辺温度情報ＴＥＭＰ、周辺湿度情報ＨＵＭＤによる補正前の故障時期である。

機能故障時期予測部４０は、機能故障を予測した時期、すなわち故障時期ＣＬまでの温湿度負荷（第１温湿度負荷）と、故障時期ＣＬから現時点Ｃｎｏｗまでの温湿度負荷（第２温湿度負荷）との差に基づいて機能故障時期ＣＳ１を補正し、機能故障時期ＣＳを予測する。機能故障時期予測部４０は、電源投入直後（０）から故障時期ＣＬまでの周辺温度情報ＴＥＭＰの積分値を、電源投入直後から故障時期ＣＬまでの時間（ＣＬ）で除算し、第１温度負荷ＴＥＭＰ１を算出する。同様に、電源投入直後から故障時期ＣＬまでの周辺湿度情報ＨＵＭＤの積分値を、電源投入直後から故障時期ＣＬまでの時間（ＣＬ）で除算し、第１湿度負荷ＨＵＭＤ１を算出する。

また、機能故障時期予測部４０は、故障時期ＣＬから現時点（Ｃｎｏｗ）までの周辺温度情報ＴＥＭＰの積分値を、故障時期ＣＬから現時点Ｃｎｏｗまでの時間（Ｃｎｏｗ－ＣＬ）で除算し、第２温度負荷ＴＥＭＰ２を算出する。同様に、故障時期ＣＬから現時点Ｃｎｏｗまでの周辺湿度情報ＨＵＭＤの積分値を、故障時期ＣＬから現時点Ｃｎｏｗまでの時間（Ｃｎｏｗ－ＣＬ）で除算し、第２湿度負荷ＨＵＭＤ２を算出する。このようにして、機能故障時期予測部４０は、電子制御装置１０の配線寿命に影響を及ぼす温湿度負荷（単位時間当たりの平均値）を推定する。

機能故障時期予測部４０は、第２温度負荷ＴＥＭＰ２と第１温度負荷ＴＥＭＰ１との差分ΔＴＥＭＰと、第２湿度負荷ＨＵＭＤ２と第１湿度負荷ＨＵＭＤ１との差分ΔＨＵＭＤをもとに、故障時期ＣＳ１を補正する。具体的には、故障時期ＣＳ１から、差分ΔＴＥＭＰに係数Ｋ１を乗算した値と差分ΔＨＵＭＤに係数Ｋ２を乗算した値とを減算し、機能故障時期ＣＳを算出する。係数Ｋ１、Ｋ２は、上記した定数Ａ、Ｂ同様、事前試験によってあらかじめ決定されている。

図１２は、電子制御装置１０が故障予測処理を実行する際の具体的な動作フローを示している。先行実施形態に記載の動作フロー（図８参照）に対して、ステップＳ２、Ｓ４の処理が追加されている。電子制御装置１０は、電源が供給されている間、図１２に示すフローを繰り返し実行する。

図１２に示すように、電子制御装置１０は、電源が投入されると、温度、湿度情報を取得する（ステップＳ２）。ステップＳ２の処理を実行するごとに、周辺温度情報ＴＥＭＰ、周辺湿度情報ＨＵＭＤが、メモリ１２ｂまたは外部メモリ１３に格納される。次いで、電子制御装置１０（機能故障時期予測部４０）は、複数の故障が未検出であるか否かを判定する（ステップＳ４）。

複数の故障が未検出の場合には、機能故障時期ＣＳを予測するために必要なすべての故障時期ＣＮ（ＣＨ、ＣＮ）、すべての電圧印加時間ＴＮ（ＴＨ、ＴＬ）が揃っていない。よって、電子制御装置１０は、ステップＳ１０以降の処理を実行する。電子制御装置１０は、ステップＳ４０において複数の故障を検出すると、次いでステップＳ５０の処理を実行する。ここでは、電圧印加時間ＴＮ（ＴＨ、ＴＬ）により故障時期ＣＮ（ＣＨ、ＣＬ）を補正して機能故障時期ＣＳ１を算出するとともに、メモリに格納された周辺温度情報ＴＥＭＰ、周辺湿度情報ＨＵＭＤを用いて上記した温湿度負荷を推定し、温湿度負荷により機能故障時期ＣＳ１を補正する。算出した機能故障時期ＣＳ１は、メモリに格納される。推定した第１温度負荷ＴＥＭＰ１、第１湿度負荷ＨＵＭＤ１は、メモリに格納される。

ステップＳ４において複数の故障が検出済みの場合、電子制御装置１０は、次いでステップＳ５０の処理を実行する。ここでは、すでに算出された機能故障時期ＣＳ１を、推定した温湿度負荷により補正して機能故障時期ＣＳを予測する。電子制御装置１０は、電源が供給されている間、ステップＳ６０までの処理を実行して一連の処理を終了すると、ステップＳ２からの処理を繰り返し実行する。

＜第３実施形態のまとめ＞
たとえば温度および／または湿度が高いほど、イオンマイグレーション等により、絶縁不良が生じやすくなる。本実施形態では、電子制御装置１０周辺の温度および湿度の少なくとも一方に関する情報に基づいて、機能故障時期ＣＳを補正する。したがって、周囲環境を反映することができる。特に、シェアリングカーのように、一台ごとに使われ方が大きく異なる移動体でも、機能故障時期ＣＳを精度よく予測することができる。

本実施形態に示す補正方法によれば、故障時期ＣＬまでの温湿度負荷と、故障時期ＣＬ以降の温湿度負荷を補正に用いる。したがって、故障時期ＣＬまでの周囲環境を反映するとともに、故障時期ＣＬ以降の周囲環境も、機能故障時期ＣＳに反映させることができる。すなわち、機能故障時期ＣＳを更新する。たとえば故障時期ＣＬにおいて機能故障時期ＣＳ１を算出した後に湿度が急に高くなった場合でも、湿度変動に伴う寿命減少を考慮した機能故障時期ＣＳを予測することができる。

＜変形例＞
電子制御装置１０が、外部から温度および湿度の少なくとも一方に関する情報を取得する例を示したが、これに限定されない。電子制御装置１０が、温度センサおよび湿度センサの少なくとも一方を備えてもよい。

温度および／または湿度を用いた補正方法は、上記した例に限定されない。たとえば故障時期ＣＬまでの周囲環境を考慮し、故障時期ＣＬ以降の周囲環境は考慮しない構成としてもよい。この場合、温度および／または湿度を用いて故障時期ＣＨ、ＣＬ（または故障時期ＣＨ１、ＣＬ１）を補正すればよい。

＜第４実施形態＞
この実施形態は、先行する実施形態を基礎的形態とする変形例であり、先行実施形態の記載を援用できる。先行実施形態では、機能故障時期ＣＳを予測して外部に通知した。これに代えて、機能故障時期ＣＳを通知するとともに、温度および／または湿度の急変を抑制するための要求信号を、他の電子制御装置に対して出力するようにしてもよい。

図１３に示すように、本実施形態の電子制御装置１０の基本構成は、先行実施形態（図１０参照）と同じである。電子制御装置１０は、たとえば車内ＬＡＮを介して、他の電子制御装置と通信可能に接続されている。他の電子制御装置とは、電子制御装置１０の周辺に配置された発熱体を制御する装置である。発熱体は、周囲環境の温度、湿度に影響を及ぼす。図１３では、発熱体を制御する装置として、エンジンＥＣＵ４００と、エアコンＥＣＵ５００を例示している。エンジンＥＣＵ４００は、発熱体であるエンジン４０１を制御する。エアコンＥＣＵ５００は、発熱体であるコンプレッサ５０１、ヒータ５０２を制御する。電子制御装置１０の通知部５０は、エンジンＥＣＵ４００およびエアコンＥＣＵ５００に対して、要求信号を出力する。

図１４は、電子制御装置１０が故障予測処理を実行する際の具体的な動作フローを示している。先行実施形態に記載の動作フロー（図１２参照）に対して、ステップＳ７０、Ｓ８０の処理が追加されている。電源が供給されている間、電子制御装置１０は、図１４に示すフローを繰り返し実行する。図１４に示すように、ステップＳ６０の処理（外部通知処理）を終了すると、電子制御装置１０は、ステップＳ７０の処理を実行する。ステップＳ７０において、電子制御装置１０（機能故障時期予測部４０）は、ステップＳ５０において予測した機能故障時期ＣＳと現時点Ｃｎｏｗとの差分（＝ＣＳ－Ｃｎｏｗ）が、あらかじめ設定された所定期間（所定時間）を下回ったか否かを判定する。

差分（＝ＣＳ－Ｃｎｏｗ）が所定期間を下回ると、次いで、電子制御装置１０は、発熱体を制御するエンジンＥＣＵ４００およびエアコンＥＣＵ５００に、温度および／または湿度の急変を抑制するための要求信号を出力し（ステップＳ８０）、一連の処理を終了する。要求信号を取得すると、たとえばエンジンＥＣＵ４００は、温度が急変しないように、エンジン４０１の回転数を通常よりも狭い回転域で制御する。たとえばエアコンＥＣＵ５００は、温度および／または湿度が急変しないように、コンプレッサ５０１および／またはヒータ５０２を制御する。

＜第４実施形態のまとめ＞
本実施形態では、機能故障時期ＣＳまでの残期間が所定の期間を下回ると、電子制御装置１０の周辺に配置された発熱体を制御する電子制御装置（エンジンＥＣＵ４００、エアコンＥＣＵ５００）に対し、温度および湿度の少なくとも一方の急変を抑制する要求信号を出力する。これにより、周囲環境の温度、湿度の急変が抑制され、たとえばマイグレーションの進展を抑制することができる。この結果、機能故障時期ＣＳを延ばすことができる。よって、シェアリングカーの場合、車両管理事業者のメンテナンス計画の自由度を向上することができる。

＜変形例＞
温度および湿度の急変を抑制する要求信号を出力する例を示したが、これに加えて、湿度の上昇抑制を要求してもよい。湿度が高いとイオンマイグレーションの進展速度が増すため、湿度を下げるように要求することで、通常配線１６が機能故障するまでの寿命を延ばすことができる。

＜他の実施形態＞
この明細書及び図面等における開示は、例示された実施形態に制限されない。開示は、例示された実施形態と、それらに基づく当業者による変形態様を包含する。たとえば、開示は、実施形態において示された部品及び／又は要素の組み合わせに限定されない。開示は、多様な組み合わせによって実施可能である。開示は、実施形態に追加可能な追加的な部分をもつことができる。開示は、実施形態の部品及び／又は要素が省略されたものを包含する。開示は、ひとつの実施形態と他の実施形態との間における部品及び／又は要素の置き換え、又は組み合わせを包含する。開示される技術的範囲は、実施形態の記載に限定されない。開示されるいくつかの技術的範囲は、請求の範囲の記載によって示され、さらに請求の範囲の記載と均等の意味及び範囲内でのすべての変更を含むものと解されるべきである。

明細書及び図面等における開示は、請求の範囲の記載によって限定されない。明細書及び図面等における開示は、請求の範囲に記載された技術的思想を包含し、さらに請求の範囲に記載された技術的思想より多様で広範な技術的思想に及んでいる。よって、請求の範囲の記載に拘束されることなく、明細書及び図面等の開示から、多様な技術的思想を抽出することができる。

検査用配線は２つに限定されない。３つ以上備えてもよい。３つ以上備える構成において、少なくとも２つの検査用配線の故障時期から、機能故障時期ＣＳを予測してもよい。たとえば、３つ以上の検査用配線の故障時期から、機能故障時期ＣＳを予測してもよい。故障時期予測関数ｆは、一次関数に限定されない。

検査用配線として、絶縁抵抗検出用の配線の例を示したが、これに限定されない。たとえば、通常配線１６よりも線幅を細くすることで、通常配線１６よりも先に故障が生じるようにしてもよい。

１０…電子制御装置（ＥＣＵ）、１１…電源回路部、１２…制御部、１２ａ…プロセッサ、１２ｂ…メモリ、１２ｃ…Ａ／Ｄ変換部、１２ｄ…タイマ、１３…外部メモリ、１４…通信Ｉ／Ｆ回路部、１５…配線、１６…通常配線、１６ａ…電源配線、１６ｂ…グランド配線、１６ｃ…高電位線、１６ｃ…低電位線、１７Ｈ、１７Ｌ…検査用配線、１７０Ｈ、１７０Ｌ…高電位配線部、１７１Ｈ、１７１Ｌ…低電位配線部、Ｎ１、Ｎ２…ノード、ＲＨ、ＲＬ…抵抗、２０…検査用配線故障検出部、２１Ｈ、２１Ｌ…電圧印加部、２２Ｈ、２２Ｌ…絶縁抵抗検出部、２３…検査用配線故障判定部、２４…閾値記憶部、３０…故障時期記憶部、４０…機能故障時期予測部、５０…通知部、６０…印加時間計測部、６１…印加時間取得部、７０…補正情報取得部

Claims (7)

1. 移動体に用いられる電子装置であって、
   所定機能の回路を構成する通常配線（１６）と、
   前記通常配線よりも劣化の進行が早く、かつ、進行の早さが相互に異なる複数の検査用配線（１７Ｈ、１７Ｌ）と、
   少なくとも２つの前記検査用配線の故障を検出する故障検出部（２０）と、
   前記検査用配線に故障が生じた時期を記憶する記憶部（３０）と、
   少なくとも２つの前記検査用配線の故障時期に基づいて、前記通常配線に故障が生じる時期を予測する予測部（４０）と、
   前記通常配線の故障予測時期を外部に通知する通知部（５０）と、を備え、
   前記複数の検査用配線は、第１検査用配線（１７Ｈ）と、前記第１検査用配線よりも劣化の進行が遅い第２検査用配線（１７Ｌ）と、を含み、
   前記予測部は、前記第１検査用配線に故障が生じた第１故障時期と、前記第２検査用配線に故障が生じた第２故障時期との差分を入力変数とする予測関数に基づき、前記通常配線に故障が生じる時期を予測し、
   前記検査用配線は、絶縁抵抗検出用の配線であり、
   前記故障検出部は、前記検査用配線の絶縁抵抗値を検出する絶縁抵抗検出部（２２Ｈ、２２Ｌ）と、前記絶縁抵抗値と所定の閾値とを比較し、前記絶縁抵抗値が前記閾値を下回ると故障が生じたと判定する故障判定部（２３）と、を含み、
   前記第１検査用配線および前記第２検査用配線は、前記通常配線における最小間隔よりも配線間隔が狭いことで前記通常配線よりも劣化の進行が早く、
   前記第１検査用配線に、前記電子装置内の最大電圧よりも低い第１電圧が印加され、前記第２検査用配線に、前記第１電圧よりも低い第２電圧が印加され、
   前記回路に、前記最大電圧、前記第１電圧、前記第２電圧が供給される電子装置。
2. 前記検査用配線に電圧が印加されている印加時間に関する情報を取得する印加時間取得部（６０、６１）をさらに備え、
   前記予測部は、
   前記印加時間により前記第１故障時期および前記第２故障時期を補正し、
   補正後の前記第１故障時期および前記第２故障時期の差分を入力変数として、前記通常配線に故障が生じる時期を予測する請求項１に記載の電子装置。
3. 前記電子装置周辺の温度および湿度の少なくとも一方に関する補正情報を取得する補正情報取得部（７０）をさらに備え、
   前記予測部は、前記補正情報に基づいて、前記通常配線に故障が生じる時期を補正する請求項１に記載の電子装置。
4. 前記通知部は、予測された前記通常配線の故障時期と現在の時期との差が所定の閾値を下回ると、前記電子装置の周辺に配置された発熱体を制御する他の電子装置に対し、温度および湿度の少なくとも一方の急変を抑制する要求信号を出力する請求項１～３いずれか１項に記載の電子装置。
5. 移動体に用いられる電子装置であって、
   所定機能の回路を構成する通常配線（１６）と、
   前記通常配線よりも劣化の進行が早く、かつ、進行の早さが相互に異なる複数の検査用配線（１７Ｈ、１７Ｌ）と、
   少なくとも２つの前記検査用配線の故障を検出する故障検出部（２０）と、
   前記検査用配線に故障が生じた時期を記憶する記憶部（３０）と、
   少なくとも２つの前記検査用配線の故障時期に基づいて、前記通常配線に故障が生じる時期を予測する予測部（４０）と、
   前記通常配線の故障予測時期を外部に通知する通知部（５０）と、を備え、
   前記通知部は、予測された前記通常配線の故障時期と現在の時期との差が所定の閾値を下回ると、前記電子装置の周辺に配置された発熱体を制御する他の電子装置に対し、温度および湿度の少なくとも一方の急変を抑制する要求信号を出力する電子装置。
6. 前記複数の検査用配線は、第１検査用配線（１７Ｈ）と、前記第１検査用配線よりも劣化の進行が遅い第２検査用配線（１７Ｌ）と、を含み、
   前記予測部は、前記第１検査用配線に故障が生じた第１故障時期と、前記第２検査用配線に故障が生じた第２故障時期との差分を入力変数とする予測関数に基づき、前記通常配線に故障が生じる時期を予測する請求項５に記載の電子装置。
7. 前記検査用配線は、絶縁抵抗検出用の配線であり、
   前記故障検出部は、
   前記検査用配線の絶縁抵抗値を検出する絶縁抵抗検出部（２２Ｈ、２２Ｌ）と、
   前記絶縁抵抗値と所定の閾値とを比較し、前記絶縁抵抗値が前記閾値を下回ると故障が生じたと判定する故障判定部（２３）と、を含む請求項６に記載の電子装置。

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