JP7347784B2 - displacement sensor - Google Patents

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Description

本発明は、変位センサの技術に関する。 The present invention relates to displacement sensor technology.

従来、検知対象物が測定子に接触して測定子が回動することによって検知対象物の変位を検知する変位センサは公知となっている(特許文献1参照)。
変位センサは、回動軸の軸線を中心に回動可能に構成される測定子と、測定子に設けられて測定子の回動とともに回動可能に構成される磁石と、磁石の磁界を検知する磁気センサと、を備える。
BACKGROUND ART Displacement sensors that detect the displacement of an object to be detected when the object comes into contact with a probe and rotates the probe are known (see Patent Document 1).
The displacement sensor consists of a probe configured to be rotatable around the axis of a rotating shaft, a magnet attached to the probe that is configured to be rotatable along with the rotation of the probe, and the magnetic field of the magnet. and a magnetic sensor.

特開2002-372403号公報Japanese Patent Application Publication No. 2002-372403

しかしながら、前記変位センサの分野では、検知誤差が生じることを防止する観点から、磁気センサによる出力のリニアリティをより向上させることが求められている。ここで、リニアリティとは、最小二乗法で線形近似した直線と実測値との差を割合(%)で示した値であり、当該値が小さいほど線形性が高いことを示す(図8参照)。 However, in the field of displacement sensors, there is a need to further improve the linearity of output from magnetic sensors in order to prevent detection errors from occurring. Here, linearity is a value expressed as a percentage (%) of the difference between the straight line linearly approximated by the least squares method and the actual measurement value, and the smaller the value, the higher the linearity (see Figure 8). .

本発明は以上の如き状況に鑑みてなされたものであり、磁気センサの出力のリニアリティを最適化することができ、変位センサによる検知誤差が生じることを防止することができる変位センサを提供することを課題とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a displacement sensor that can optimize the linearity of the output of a magnetic sensor and can prevent detection errors caused by the displacement sensor. The task is to

本発明の解決しようとする課題は以上の如くであり、次にこの課題を解決するための手段を説明する。 The problem to be solved by the present invention is as described above, and next, means for solving this problem will be explained.

即ち、請求項1においては、検知対象物が測定子に接触して前記測定子が回動することによって前記検知対象物の変位を検知する変位センサであって、ベースと、前記測定子に設けられて、前記測定子の回動とともに回動可能に構成される磁石と、前記磁石の磁界を検知する磁気センサと、を備え、前記測定子は、弧状部と回動軸を有し、前記ベースに対して前記回動軸を中心に回動可能に構成され、前記磁石は、弧状に湾曲して形成され、前記測定子の前記弧状部に設けられ、前記磁気センサは、前記測定子の前記弧状部と対向するように配置され、前記磁石の外径部の曲率半径と前記磁石の外径部から前記磁気センサまでの最短距離との関係が、一次関数の関係でほぼ表されるものである。
請求項2においては、前記磁気センサは、前記回動軸の軸線方向から見て前記回動軸の軸線と直交する仮想の直線に対して前記磁気センサのセンサ中心と交わるように配置され、前記磁気センサの感磁方向は、前記仮想の直線と平行方向とされ、前記測定子は上流側から下流側に搬送される前記検知対象物に接触するものであり、前記仮想の直線は、前記検知対象物の搬送方向と平行方向とされるものである。
That is, in claim 1, there is provided a displacement sensor that detects the displacement of the object to be detected when the object comes into contact with the measuring point and the measuring point rotates, the displacement sensor comprising: a base and a measuring point provided on the measuring point; and a magnet configured to be rotatable with the rotation of the probe, and a magnetic sensor that detects the magnetic field of the magnet, the probe having an arcuate portion and a rotation axis, The magnet is configured to be rotatable about the rotation axis with respect to the base, the magnet is curved in an arc shape, and is provided in the arc-shaped portion of the probe, and the magnetic sensor is arranged in the arc of the probe. The magnetic sensor is arranged to face the arcuate portion, and the relationship between the radius of curvature of the outer diameter portion of the magnet and the shortest distance from the outer diameter portion of the magnet to the magnetic sensor is approximately expressed by a linear function. It is.
In claim 2, the magnetic sensor is arranged so as to intersect the sensor center of the magnetic sensor with respect to a virtual straight line orthogonal to the axis of the rotation shaft when viewed from the axial direction of the rotation shaft, and the The direction of magnetic sensitivity of the magnetic sensor is parallel to the virtual straight line, and the probe contacts the detection target that is conveyed from the upstream side to the downstream side, and the virtual straight line is parallel to the virtual straight line. The direction is parallel to the conveyance direction of the object.

請求項3においては、前記変位センサの回動範囲内における前記測定子の回動角度と前記磁石から前記磁気センサまでの最短距離との関係が、ほぼ一次関数の関係で表されるものである。 According to a third aspect of the present invention , the relationship between the rotation angle of the probe within the rotation range of the displacement sensor and the shortest distance from the magnet to the magnetic sensor is expressed by a substantially linear function relationship. .

請求項4においては、前記磁石は、前記測定子が回動していない状態において、前記磁石の一端部が前記磁気センサに近接した位置に配置され、前記磁石の他端部が前記磁気センサから離間した位置に配置され、前記磁石の一端部は、前記測定子が回動していない状態において、前記測定子の前記回動軸の軸線と前記磁気センサのセンサ中心とを結ぶ直線よりも前記測定子の一端部側に回動する方向に延出するものである。 In claim 4 , the magnet is arranged such that one end of the magnet is located close to the magnetic sensor and the other end of the magnet is located away from the magnetic sensor when the probe is not rotating. The one end of the magnet is arranged at a distance from a straight line connecting the axis of the rotating shaft of the measuring element and the sensor center of the magnetic sensor when the measuring element is not rotating. It extends in the direction of rotation toward one end of the probe.

請求項5においては、前記検知対象物は厚さ方向が薄いシート状物であり、前記検知対象物の重送状態を検知する重送検知装置として構成されるものである。 In a fifth aspect of the present invention, the object to be detected is a sheet-like object that is thin in the thickness direction, and the apparatus is configured as a double feed detection device that detects a double feed state of the object to be detected.

請求項6においては、検知対象物が測定子に接触して前記測定子が回動することによって前記検知対象物の変位を検知する変位センサであって、ベースと、前記測定子に設けられて、前記測定子の回動とともに回動可能に構成される磁石と、前記磁石の磁界を検知する磁気センサと、を備え、前記測定子は、弧状部と回動軸を有し、前記ベースに対して前記回動軸を中心に回動可能に構成され、前記磁石は、弧状に湾曲して形成され、前記測定子の前記弧状部に設けられ、前記磁気センサは、前記測定子の前記弧状部と対向するように配置され、前記変位センサの回動範囲内における前記測定子の回動角度と前記磁石から前記磁気センサまでの最短距離との関係が、ほぼ一次関数の関係で表されるものである。 According to claim 6 , the displacement sensor detects the displacement of the detection target when the detection target contacts the probe and the probe rotates, the displacement sensor comprising: a base; and a displacement sensor provided on the probe; , a magnet configured to be rotatable with the rotation of the probe, and a magnetic sensor that detects the magnetic field of the magnet, the probe having an arcuate portion and a rotation axis, and a magnet configured to be rotatable with the rotation of the probe, the probe having an arcuate portion and a rotation axis, and a magnet configured to be rotatable with rotation of the probe. The magnetic sensor is configured to be rotatable about the rotation axis, the magnet is curved in an arc shape, and is provided in the arc-shaped portion of the probe. and the relationship between the rotation angle of the probe within the rotation range of the displacement sensor and the shortest distance from the magnet to the magnetic sensor is expressed as a substantially linear function relationship. It is something.

本発明の効果として、以下に示すような効果を奏する。
即ち、本発明によれば、磁気センサの出力のリニアリティを最適化することができ、変位センサによる検知誤差が生じることを防止することができる。
The present invention has the following effects.
That is, according to the present invention, it is possible to optimize the linearity of the output of the magnetic sensor, and it is possible to prevent detection errors caused by the displacement sensor.

本発明の実施形態に係る変位センサの全体的な構成を示す平面断面図。1 is a plan sectional view showing the overall configuration of a displacement sensor according to an embodiment of the present invention. 同じく変位センサを示す側面断面図。FIG. 3 is a side cross-sectional view showing the displacement sensor. 同じく変位センサの測定子と磁石と磁気センサとを示す平面図。FIG. 3 is a plan view showing a measuring element, a magnet, and a magnetic sensor of the displacement sensor. 同じく変位センサの測定子と磁石と磁気センサとを示す側面図。FIG. 3 is a side view showing a measuring element, a magnet, and a magnetic sensor of the displacement sensor. 同じく変位センサの磁石を示す側面図。FIG. 4 is a side view showing the magnet of the displacement sensor. 同じく変位センサの磁石の外径部の曲率半径と磁石の外径部から磁気センサまでの最短距離との関係を示す図。FIG. 6 is a diagram showing the relationship between the radius of curvature of the outer diameter portion of the magnet and the shortest distance from the outer diameter portion of the magnet to the magnetic sensor in the same displacement sensor. 同じく変位センサの磁石の測定子の回動角度と磁石から磁気センサまでの最短距離との関係を示す図。FIG. 6 is a diagram showing the relationship between the rotation angle of the magnet probe of the displacement sensor and the shortest distance from the magnet to the magnetic sensor. リニアリティについて説明する図であり、例示として最小二乗法で線形近似した直線と実測値との関係を示す図。FIG. 3 is a diagram for explaining linearity, and is a diagram showing, as an example, the relationship between a straight line linearly approximated by the least squares method and actual measured values.

次に、本発明の実施形態に係る変位センサ1、および、変位センサ1を備える複合機について図1から図7を用いて説明する。複合機は変位センサ1を備えるシート状物取り扱い装置の一実施形態である。 Next, a displacement sensor 1 according to an embodiment of the present invention and a multifunctional device including the displacement sensor 1 will be described using FIGS. 1 to 7. The multifunction device is an embodiment of a sheet-like object handling device that includes a displacement sensor 1.

変位センサ1は、検知対象物が物理的に接触することによって、検知対象物の変位(厚み、高さ、または動き等)を検知するリニア出力タイプの接触式のセンサである。
なお以下において、変位センサ1は、複合機に備えられて複合機内において搬送されるシート状物(検知対象物)の重なり状態を検知する重送検知装装置であるものとして説明するが、このような構成に限定されず、例えばワークや人体等の移動する各種のものを検知対象物として構成することもできる。
The displacement sensor 1 is a linear output type contact sensor that detects displacement (thickness, height, movement, etc.) of a detection target by physically contacting the detection target.
In the following, the displacement sensor 1 will be described as a multi-feed detection device that is installed in a multifunction device and detects the overlapping state of sheet-like objects (detection objects) that are conveyed within the multifunction device. The present invention is not limited to this configuration, and various moving objects such as a workpiece or a human body may be configured as detection targets.

「シート状物」は長さ方向及び幅方向に比べて厚さ方向が薄い形状の物品を指す。シート状物を構成する材料は、金属材料、樹脂材料、繊維(天然繊維及び合成繊維)その他の材料、あるいはこれらを組み合わせたものでもよい。シート状物の具体例としては紙、布、樹脂製のフィルム、金属箔、金属板、木板、樹脂板等が挙げられる。シート状物は一対のシート面を有する。「一対のシート面」はシート状物の外表面のうち、厚さ方向に垂直な一対の面を指す。シート状物が印刷用紙である場合、印刷用紙の印刷面を成す一対の面(表面及び裏面)が一対のシート面に相当する。 A "sheet-like object" refers to an article that is thinner in the thickness direction than in the length and width directions. The material constituting the sheet-like article may be a metal material, a resin material, fibers (natural fibers and synthetic fibers), other materials, or a combination thereof. Specific examples of sheet-like materials include paper, cloth, resin films, metal foils, metal plates, wooden boards, resin boards, and the like. The sheet-like material has a pair of sheet surfaces. "A pair of sheet surfaces" refers to a pair of surfaces perpendicular to the thickness direction among the outer surfaces of the sheet-like object. When the sheet-like object is printing paper, a pair of surfaces (a front surface and a back surface) forming the printing surface of the printing paper correspond to the pair of sheet surfaces.

「シート状物取り扱い装置」は本実施形態の複合機に限定されず、シート状物を搬送する機能を備える装置を広く含む。「シート状物取り扱い装置」の例としては、原稿及び「原稿の複製物を印刷するための印刷用紙」のうち少なくとも一方を搬送する機能を有する事務機器、紙幣を搬送する機能を有する現金自動預け払い装置(Automated Teller Machine;ATM)等が挙げられる。 The "sheet-like object handling device" is not limited to the multifunctional device of this embodiment, but broadly includes devices having a function of conveying sheet-like objects. Examples of "sheet-like material handling devices" include office equipment that has the function of transporting at least one of a manuscript and "printing paper for printing copies of the manuscript," and automatic teller machines that have the function of transporting banknotes. Examples include automated teller machines (ATMs) and the like.

上記事務機器の具体例としては、以下の(a)~(d)等が挙げられる。
(a)原稿自動送り装置(Auto Document Feeder;ADF)を備えるとともに原稿を読み取る機能及び読み取った原稿に係る情報(以下、画像情報という)を他の機器(例えば、パーソナルコンピュータ)に送信する機能を有するスキャナー。
(b)原稿を読み取る機能、画像情報を通信回線を介して他の機器に送信する機能及び他の機器から取得した画像情報をプリントアウトする機能を有するファクス。
(c)原稿を読み取る機能及び読み取った原稿に係る情報をプリントアウトする機能を備えるコピー機。
(d)上記スキャナー、ファクス及びコピー機としての機能を兼ねる複合機。
Specific examples of the above-mentioned office equipment include the following (a) to (d).
(a) It is equipped with an automatic document feeder (ADF), and also has a function to read the document and a function to send information related to the read document (hereinafter referred to as image information) to other devices (for example, a personal computer). Scanner with.
(b) A fax machine that has a function of reading a document, a function of transmitting image information to another device via a communication line, and a function of printing out image information acquired from another device.
(c) A copy machine that has a function of reading a document and a function of printing out information related to the read document.
(d) A multifunction device that also functions as the above-mentioned scanner, fax, and copy machine.

複合機は、複合機本体、原稿圧着板、及び、変位センサ1を備える。変位センサ1は、搬送経路の中途部に配設されて、搬送経路上を搬送されるシート状物(検知対象物)の厚さを検出する。
複合機本体には、制御装置が配設され、変位センサ1で検出した検出値に基づいて搬送物の重送状態、すなわち、「搬送経路に沿って予め設定された搬送方向に搬送される搬送物」が「一枚のシート状物(本実施形態においては紙7)」であるか、それとも「複数枚(二枚以上)のシート状物が重なったもの」であるか、を判定する。「重送」とは、複数枚のシート状物が重なった状態で搬送されることを指す。
The multifunction device includes a main body of the multifunction device, a document pressure bonding plate, and a displacement sensor 1. The displacement sensor 1 is disposed in the middle of the conveyance path, and detects the thickness of a sheet-like object (detection target object) conveyed on the conveyance path.
A control device is installed in the main body of the multifunction machine, and the control device determines the multifeed state of the conveyed objects based on the detected value detected by the displacement sensor 1, i.e., whether the conveyance is carried in a preset conveyance direction along the conveyance route. It is determined whether the "object" is "a single sheet-like object (paper 7 in this embodiment)" or "a plurality of (two or more) overlapping sheet-like objects.""Doublefeeding" refers to conveying multiple sheets in an overlapping state.

複合機の複合機本体は、本体ケース、原稿読み取り装置、印刷装置、紙供給装置、トレイ、搬送経路、表示装置及び入力装置等を備える。
複合機の原稿圧着板は、複合機本体の上面に配置された原稿読み取り装置の上に載置された原稿を原稿読み取り装置に向かって押さえつける(圧着する)ことにより、原稿読み取り装置が原稿を読み取る際に原稿が動くことを防止する。原稿圧着板は複合機本体の上方に配置され、ヒンジにより複合機本体に回動可能に連結される。
The main body of a multifunction device includes a main body case, a document reading device, a printing device, a paper supply device, a tray, a conveyance path, a display device, an input device, and the like.
The document pressure plate of the multifunction device presses (presses) the document placed on the document reading device placed on the top surface of the device toward the document reading device, so that the document reading device reads the document. This prevents the document from moving when The original pressure bonding plate is disposed above the main body of the multifunction device, and is rotatably connected to the main body of the multifunction device by a hinge.

次に、変位センサ1にいて説明する。なお以下の説明及び図1を除く図面においては便宜上、紙7が搬送される方向(搬送方向)を「後方」と定義することにより「前後方向」を定義し、搬送経路の搬送面(搬送経路に沿って搬送される紙7の一対のシート面に平行となる面)に対して垂直となる方向を「上下方向」と定義し、当該前後方向に対して垂直かつ搬送経路の搬送面に対して平行となる方向(当該前後方向及び当該上下方向に対して垂直となる方向)を「左右方向」と定義し、これら定義された方向を用いて変位センサ1の詳細について説明する。
なお、ここで定義された方向(前後方向、上下方向及び左右方向)は変位センサ1の使用時の姿勢を限定するものではない。すなわち、変位センサ1の使用時の姿勢がここで定義された方向と異なる態様であってもよい。
Next, the displacement sensor 1 will be explained. For convenience, in the following explanation and drawings other than FIG. The direction that is perpendicular to the plane (parallel to the pair of sheet surfaces of the paper 7 that is conveyed along the The direction that is parallel to the front and back directions (the direction that is perpendicular to the front-back direction and the up-down direction) is defined as a "left-right direction", and details of the displacement sensor 1 will be explained using these defined directions.
Note that the directions defined here (front-back direction, up-down direction, and left-right direction) do not limit the posture of the displacement sensor 1 when it is used. That is, the posture of the displacement sensor 1 during use may be in a different direction from the direction defined here.

図1から図5に示すように、変位センサ1は、主な構成要素として、ベース10、測定子20、磁石32、バネ33、及び、磁気センサ60を備える。 As shown in FIGS. 1 to 5, the displacement sensor 1 includes a base 10, a probe 20, a magnet 32, a spring 33, and a magnetic sensor 60 as main components.

ベース10は、変位センサ1の主たる構造体を成す部材である。ベース10はベース本体11及びベースカバー12で構成される。ベース本体11は平面視で概ね正方形状に形成され、上面が開口された概ね直方体形状の箱型部材である。ベース本体11は樹脂材料を成形することにより製造される。ベース本体11には収容室11aが形成される。収容室11aはベース本体11の内部に形成される空間である。収容室11aには、測定子20、磁石32、バネ33、及び、磁気センサ60が収容される。 The base 10 is a member that constitutes the main structure of the displacement sensor 1. The base 10 is composed of a base body 11 and a base cover 12. The base main body 11 is a box-shaped member having a generally rectangular parallelepiped shape and having a generally square shape in plan view and having an open top surface. The base body 11 is manufactured by molding a resin material. A storage chamber 11a is formed in the base body 11. The storage chamber 11a is a space formed inside the base body 11. The measuring element 20, the magnet 32, the spring 33, and the magnetic sensor 60 are housed in the housing chamber 11a.

ベース本体11の底面には、測定子20を下方に延出させるための開口溝11bが形成される。開口溝11bはベース本体11の底面における左右方向中途部において前後方向に長い長孔として形成され、収容室11aとベース本体11の外部とを連通する。ベース本体11の底面における前側には、上方に突出する二個の支持部11c・11cが左右に並んで形成される。支持部11c・11cはそれぞれ測定子20における左右の回動軸23・23を支持することにより、ベース10に対して測定子20を回動可能としている。 An opening groove 11b is formed in the bottom surface of the base body 11 to allow the measuring element 20 to extend downward. The opening groove 11b is formed as a long hole elongated in the front-rear direction in the middle part of the bottom surface of the base body 11 in the left-right direction, and communicates the storage chamber 11a with the outside of the base body 11. On the front side of the bottom surface of the base body 11, two supporting parts 11c, 11c that protrude upward are formed side by side. The support portions 11c, 11c support the left and right rotation shafts 23, 23 of the measuring stylus 20, respectively, thereby enabling the measuring stylus 20 to rotate relative to the base 10.

ベース本体11の底面後側における開口溝11bの左側方には、上方に突出するストッパ(不図示)が形成される。ストッパは測定子20に形成される回動規制部25と当接することにより、測定子20の回動範囲(具体的には、測定子20の回動範囲における下限位置)を規制している。 A stopper (not shown) that projects upward is formed on the left side of the opening groove 11b on the rear side of the bottom surface of the base body 11. The stopper restricts the rotation range of the gauge stylus 20 (specifically, the lower limit position in the rotation range of the gauge stylus 20) by coming into contact with a rotation regulating portion 25 formed on the gauge stylus 20.

ベースカバー12は平面視で概ね正方形状に形成される板状部材であり、ベース本体11の上面の開口部を覆う部材である。ベースカバー12は樹脂材料を成形することにより製造される。ベースカバー12は図示しない固定部材(例えば螺子など)により、ベース本体11に固定される。 The base cover 12 is a plate-like member formed in a generally square shape in a plan view, and is a member that covers an opening on the upper surface of the base main body 11. The base cover 12 is manufactured by molding a resin material. The base cover 12 is fixed to the base body 11 by a fixing member (for example, a screw, etc.) not shown.

測定子20は、当接部21、本体部22、回動軸23、上部20a、下部20b、及び、弧状部20cを備える。測定子20は、側面視で略扇型に屈曲した環状の部分を有する。測定子20は、後方に延びた棒状の上部20aと、上部20aの前端で一体となり後下方に延びた棒状の下部20bと、上部20a及び下部20bのそれぞれの後端を繋ぐ弧状部20cとで環状に形成されている。測定子20において、下部20bと弧状部20cとの接続部分の下側に形成される曲面部は当接部21を成す。 The probe 20 includes a contact portion 21, a main body portion 22, a rotation shaft 23, an upper portion 20a, a lower portion 20b, and an arcuate portion 20c. The measuring element 20 has an annular portion bent into a substantially fan shape when viewed from the side. The measuring element 20 includes a rod-shaped upper part 20a that extends rearward, a rod-shaped lower part 20b that is integrated with the front end of the upper part 20a and extends rearward and downward, and an arc-shaped part 20c that connects the rear ends of the upper part 20a and the lower part 20b. It is formed in a ring shape. In the measuring head 20, a curved surface portion formed below the connecting portion between the lower portion 20b and the arcuate portion 20c constitutes the contact portion 21.

測定子20における上部20aと下部20bとの接続部分は、本体部22と一体的に連結される。本体部22はその中心軸を左右方向に向けて配置された略円筒状の部材である。換言すれば、上部20aと下部20bとの前端部が測定子20の基端部として本体部22に連結され、弧状部20cが測定子20の先端部として後方に延出されている。また、下部20bと弧状部20cとは、その中途部より下側は開口溝11bから延出される。つまり、測定子20の下部はベース本体11の外部に表出しており、当接部21はベース10の下面よりも下側に突出して形成されている。 A connecting portion between the upper portion 20a and the lower portion 20b of the measuring head 20 is integrally connected to the main body portion 22. The main body portion 22 is a substantially cylindrical member disposed with its central axis oriented in the left-right direction. In other words, the front end portions of the upper portion 20a and the lower portion 20b are connected to the main body portion 22 as the proximal end portion of the measuring element 20, and the arcuate portion 20c is extended rearward as the distal end portion of the measuring element 20. Further, the lower part 20b and the arcuate portion 20c extend from the opening groove 11b below the midway portion thereof. That is, the lower part of the measuring element 20 is exposed to the outside of the base body 11, and the contact part 21 is formed to protrude below the lower surface of the base 10.

本体部22の左右両側の底面からは、円柱状の回動軸23・23が延出されている。回動軸23・23はベース10に対する測定子20の回動軸を成す部材である。そして、回動軸23・23は前述のように、ベース本体11の底面に配置された支持部11c・11cに支持されている。つまり、測定子20及び本体部22は、回動軸23・23が支持部11c・11cに支持されることにより、図2中の矢印Sに示すようにベース本体11に対して回動可能に配置される。本実施形態の場合、測定子20がベース本体11に対し回動軸23・23を中心として回動可能に支持されたとき、回動軸23・23の軸線方向(長手方向)は左右方向に平行である。 Cylindrical rotation shafts 23 extend from the bottom surfaces of the left and right sides of the main body portion 22 . The rotation shafts 23 are members that form rotation axes of the probe 20 with respect to the base 10. The rotation shafts 23, 23 are supported by the support portions 11c, 11c disposed on the bottom surface of the base body 11, as described above. In other words, the measuring head 20 and the main body part 22 are rotatable relative to the base main body 11 as shown by the arrow S in FIG. Placed. In the case of this embodiment, when the probe 20 is rotatably supported on the base body 11 about the rotation shafts 23, 23, the axial direction (longitudinal direction) of the rotation shafts 23, 23 is in the left-right direction. parallel.

右側の回動軸23の周囲には金属材料からなる巻きバネであるバネ33が介挿される。バネ33の一端部(前端部)はベース本体11の内面に当接する。そして、圧縮されたバネ33によって本体部22は右側面視で時計回りの方向に付勢される。つまり、バネ33の付勢力によって、測定子20は下方に回動する力(右側面視で時計回りに回動する力)を受けている。 A spring 33, which is a wound spring made of a metal material, is inserted around the right rotation shaft 23. One end (front end) of the spring 33 comes into contact with the inner surface of the base body 11. Then, the compressed spring 33 urges the main body portion 22 in a clockwise direction as viewed from the right side. That is, due to the biasing force of the spring 33, the measuring stylus 20 receives a downward rotating force (a clockwise rotating force when viewed from the right side).

測定子20における上部20aの後端部には、左側方に突出する回動規制部25が形成されている。回動規制部25は、ベース本体11の底面に配置されたストッパと当接することにより、測定子20の回動範囲が規制される。つまり、測定子20はバネ33の付勢力によって下方に回動する力を受けつつ、回動規制部25がストッパに当接することにより、図2に示す位置よりも下方には回動しないように構成されている。そして、測定子20が上向きの力を受けた場合は、測定子20はバネ33の付勢力に反して上方に(右側面視で反時計回りに)回動する。また、測定子20に対する上向きの力がなくなると、測定子20はバネ33の付勢力によって下方に(右側面視で時計回りに)回動し、回動規制部25とストッパとが当接する位置(図1から図4に示す測定子20の位置)に戻る。 A rotation regulating portion 25 is formed at the rear end portion of the upper portion 20a of the measuring element 20 and projects leftward. The rotation restriction portion 25 restricts the rotation range of the probe 20 by coming into contact with a stopper disposed on the bottom surface of the base body 11 . In other words, while the measuring element 20 receives a force to rotate downward due to the biasing force of the spring 33, the rotation regulating portion 25 abuts against the stopper, so that the probe 20 is prevented from rotating downward beyond the position shown in FIG. It is configured. When the measuring element 20 receives an upward force, the measuring element 20 rotates upward (counterclockwise when viewed from the right side) against the biasing force of the spring 33. Furthermore, when the upward force on the measuring element 20 is removed, the measuring element 20 is rotated downward (clockwise when viewed from the right side) by the biasing force of the spring 33 to a position where the rotation regulating part 25 and the stopper abut. Return to (the position of the probe 20 shown in FIGS. 1 to 4).

磁石32は、永久磁石であり、四角柱状のものを弧状に湾曲して形成される。磁石32は、測定子20の弧状部20c内に配置され、測定子20が回動したときに測定子20の回動とともに回動可能に構成される。磁石32の外径部(後方端面)は、測定子20の弧状部20cの外径部(後方端面)と同様の曲率で湾曲されて構成される。
なお、磁石32は、断面形状が四角形以外の形状(例えば、円形)であっても良いものとする。
The magnet 32 is a permanent magnet, and is formed by curving a rectangular column shape into an arc shape. The magnet 32 is disposed within the arcuate portion 20c of the measuring element 20, and is configured to be rotatable together with the rotation of the measuring element 20 when the measuring element 20 rotates. The outer diameter portion (rear end surface) of the magnet 32 is curved with the same curvature as the outer diameter portion (rear end surface) of the arcuate portion 20c of the measuring element 20.
Note that the magnet 32 may have a cross-sectional shape other than a rectangular shape (for example, a circular shape).

「永久磁石」は、自発的に(外部から磁場あるいは電流が供給されない状態で)磁化し、周囲に磁場を発生させる(ひいては、磁力を発生させる)性質を有する物体であり、通常は強磁性体からなる。永久磁石の具体例としては、アルニコ磁石、KS鋼、MK鋼、フェライト磁石、サマリウムコバルト磁石、ネオジム磁石等、既知の種々の磁石が挙げられる。磁石32はネオジム磁石からなる。磁石32の磁極は、N極であっても良く、またS極であっても良いものとする。磁石32は、異方性のものを用いているが、等方性のものであっても良いものとする。 A "permanent magnet" is an object that has the property of spontaneously magnetizing (without an external magnetic field or current supplied) and generating a magnetic field (and thus generating magnetic force) around it, and is usually a ferromagnetic material. Consisting of Specific examples of permanent magnets include various known magnets such as alnico magnets, KS steel, MK steel, ferrite magnets, samarium cobalt magnets, and neodymium magnets. The magnet 32 is made of neodymium magnet. The magnetic pole of the magnet 32 may be a north pole or a south pole. Although the magnet 32 is anisotropic, it may be isotropic.

磁気センサ60は、リニアホールICであり、磁石32の磁界(磁界の大きさ・方向)を検知し、磁場の強さに応じた電気信号を出力する。磁気センサ60は、ベース本体11の収容室11a内に配置される。磁気センサ60は、基板61に設けられ、ベース本体11の後面近傍に配置される。磁気センサ60は、測定子20の弧状部20cと対向するように配置される。
磁気センサ60は、直線Aに対しセンサ中心60aを合わせて(交わるように)配置される。直線Aは、平面視で回動軸23の軸線と直交する直線であって磁石32の左右方向中央を通る仮想の線である。
磁気センサ60は、直線Bに対しセンサ中心60aを合わせて(交わるように)配置される。直線Bは、側面視で回動軸23の軸線と直交する仮想の直線である。
磁気センサ60の感磁方向は、直線A及び直線Bと平行方向とされる。
The magnetic sensor 60 is a linear Hall IC that detects the magnetic field (magnetic field magnitude and direction) of the magnet 32 and outputs an electric signal according to the strength of the magnetic field. The magnetic sensor 60 is arranged within the housing chamber 11a of the base body 11. The magnetic sensor 60 is provided on a substrate 61 and placed near the rear surface of the base body 11. The magnetic sensor 60 is arranged to face the arcuate portion 20c of the probe 20.
The magnetic sensor 60 is arranged so that the sensor center 60a is aligned with (crosses) the straight line A. The straight line A is an imaginary line that is perpendicular to the axis of the rotating shaft 23 in plan view and passes through the center of the magnet 32 in the left-right direction.
The magnetic sensor 60 is arranged so that the sensor center 60a is aligned with (crosses) the straight line B. Straight line B is an imaginary straight line that is orthogonal to the axis of rotation shaft 23 when viewed from the side.
The magnetic sensing direction of the magnetic sensor 60 is parallel to straight lines A and B.

次に、重送検知装置100が搬送経路に沿って搬送される紙7を検知するときの動作について説明する。図1から図5中の矢印Fに示すように、紙7は搬送経路で前方から後方に向かって搬送される。変位センサ1は、複合機本体において、後方に紙7を搬送する搬送経路の中途部かつ搬送経路に対向する位置(本実施形態における「検知位置」)に配置される。 Next, the operation when the double feed detection device 100 detects the paper 7 being conveyed along the conveyance path will be described. As shown by arrow F in FIGS. 1 to 5, the paper 7 is conveyed from the front to the rear along the conveyance path. The displacement sensor 1 is disposed in the main body of the multifunction device at a position (a "detection position" in this embodiment) that is halfway along the conveyance path for conveying the paper 7 rearward and opposite to the conveyance path.

変位センサ1が検知位置に配置された状態では、回動軸23・23の軸線方向(左右方向)は搬送方向(前後方向)に対して垂直である。
変位センサ1が検知位置に配置された状態では、回動軸23・23の軸線方向(左右方向)は搬送経路の搬送面(紙7が搬送経路に沿って搬送されるときに、紙7の一対のシート面のうち下側のシート面が当接する面であり、上下方向に対して垂直な面)に対して平行である。つまり、変位センサ1が検知位置に配置された状態では、回動軸23・23の軸線方向は搬送経路に沿って搬送される紙7の一対のシート面に対して平行である。
When the displacement sensor 1 is placed at the detection position, the axial direction (left-right direction) of the rotation shafts 23 is perpendicular to the conveyance direction (front-back direction).
When the displacement sensor 1 is placed at the detection position, the axial direction (horizontal direction) of the rotation shafts 23 and 23 is on the conveyance surface of the conveyance path (when the paper 7 is conveyed along the conveyance path, This is the surface that the lower sheet surface of the pair of sheet surfaces comes into contact with, and is parallel to the surface perpendicular to the up-down direction. That is, when the displacement sensor 1 is placed at the detection position, the axial direction of the rotation shafts 23 is parallel to the pair of sheet surfaces of the paper 7 conveyed along the conveyance path.

検知位置に配置された変位センサ1の測定子20は、バネ33により当接部21が搬送経路に接近する方向(右側面視で時計回り)に回動するように付勢される。
変位センサ1が検知位置に配置されて測定子20が回動していない状態における測定子の回動角度(仰角)θ=0°とする。本実施形態では、測定子20の測定最大回転角度θ(右側面視で反時計回り方向への回転角度(上方への最大回転角度))は40°に設定される。測定子20が回動していない状態における測定子20の回動角度から測定最大回転角度まで範囲は、変位センサ1の回動範囲とされ、磁石32の基準角RF1とされる。
磁石32は、測定子20が回動していない状態において、磁石32の一端部(上端部)が磁気センサ60に近接した位置に配置され、磁石32の他端部(下端部)が磁気センサ60から離間した位置に配置される。
The measuring stylus 20 of the displacement sensor 1 disposed at the detection position is urged by the spring 33 so that the contact portion 21 rotates in a direction in which the contact portion 21 approaches the conveyance path (clockwise when viewed from the right side).
It is assumed that the rotation angle (elevation angle) θ of the probe in a state where the displacement sensor 1 is placed at the detection position and the probe 20 is not rotated is 0°. In this embodiment, the measurement maximum rotation angle θ (rotation angle in the counterclockwise direction (maximum upward rotation angle) when viewed from the right side) of the tracing stylus 20 is set to 40°. The range from the rotation angle of the measurement element 20 in a state where the measurement element 20 is not rotated to the maximum measurement rotation angle is the rotation range of the displacement sensor 1, and is defined as the reference angle RF1 of the magnet 32.
When the probe 20 is not rotating, the magnet 32 is arranged so that one end (upper end) of the magnet 32 is located close to the magnetic sensor 60, and the other end (lower end) of the magnet 32 is located close to the magnetic sensor 60. 60.

そして、紙7が後方(矢印Fの方向)に搬送されて、その始端部が測定子20の当接部21の下方に到達する。このとき、当接部21は紙7の上側のシート面に当接し、測定子20はバネ33の付勢力に抗して右側面視で反時計回りに回動する。その結果、測定子20に設けられた磁石32は測定子20とともに上方に回動する。 Then, the paper 7 is conveyed backward (in the direction of arrow F), and its starting end reaches below the contact portion 21 of the measuring element 20 . At this time, the contact portion 21 contacts the upper sheet surface of the paper 7, and the probe 20 rotates counterclockwise as viewed from the right side against the biasing force of the spring 33. As a result, the magnet 32 provided on the measuring tip 20 rotates upward together with the measuring tip 20.

測定子20に設けられた磁石32が上方に移動したとき、磁気センサ60が、磁石32から発生する磁場の変化を検知し、当該検知した磁場に関する情報(電気信号)を制御装置に出力する。 When the magnet 32 provided on the probe 20 moves upward, the magnetic sensor 60 detects a change in the magnetic field generated from the magnet 32, and outputs information (electrical signal) regarding the detected magnetic field to the control device.

その後、紙7がさらに後方に搬送されて、その後端部が測定子20の当接部21の下方から離脱する。このとき、当接部21は紙7の上側のシート面から離れ、測定子20はバネ33の付勢力に順じて右側面視で時計回りに回動する。 Thereafter, the paper 7 is further conveyed rearward, and the rear end portion is removed from below the contact portion 21 of the measuring stylus 20. At this time, the contact portion 21 separates from the upper sheet surface of the paper 7, and the probe 20 rotates clockwise as viewed from the right side in accordance with the biasing force of the spring 33.

測定子20に設けられた磁石32が下方に移動したとき、磁気センサ60が、磁石32から発生する磁場の変化を検知し、当該検知した磁場に関する情報(電気信号)を制御装置に出力する。 When the magnet 32 provided on the probe 20 moves downward, the magnetic sensor 60 detects a change in the magnetic field generated from the magnet 32, and outputs information (electrical signal) regarding the detected magnetic field to the control device.

紙7が重送された場合、例えば二枚の紙7・7が重なった状態で搬送された場合も、当接部21は紙7・7の上側のシート面に当接して測定子20が回動する。このとき、測定子20に設けられた磁石32が回動する量は、一枚の紙7が搬送される場合に比べて、紙7・7の重なり分だけ大きくなる。このように、紙7が重送された場合には測定子20に設けられた磁石32が紙7の重なり分だけ大きく上方に移動し、磁気センサ60が、磁石32から発生する磁場の変化を検知し、当該検知した磁場に関する情報(電気信号)を制御装置に出力する。 When the sheets of paper 7 are fed in duplicate, for example, when two sheets of paper 7 and 7 are conveyed in an overlapping state, the contact portion 21 comes into contact with the upper sheet surface of the sheets of paper 7 and the measuring stylus 20 Rotate. At this time, the amount by which the magnet 32 provided on the probe 20 rotates is larger by the amount of overlap between the sheets of paper 7, compared to the case where one sheet of paper 7 is conveyed. In this way, when the sheets of paper 7 are fed double, the magnet 32 provided on the probe 20 moves upward by the amount of overlap of the sheets of paper 7, and the magnetic sensor 60 detects the change in the magnetic field generated from the magnet 32. The magnetic field is detected and information (electrical signals) regarding the detected magnetic field is output to the control device.

そして、制御装置は、磁気センサ60から出力された磁場に関する情報に基づいて、搬送物が一枚のシート状物であるか、複数枚のシート状物が重なったものであるかを判定する。
また、制御装置は、複数枚のシート状物が重なったものであるか否かの判定結果に基づいて複合機の各部の動作を制御する。例えば、「重送である」と判定した場合、原稿読み取り装置、印刷装置、紙供給装置及び搬送経路の動作を中止し、表示装置に警告を表示する。
Based on the information regarding the magnetic field output from the magnetic sensor 60, the control device determines whether the conveyed object is a single sheet-like object or a plurality of overlapping sheet-like objects.
Further, the control device controls the operation of each part of the multifunction device based on the determination result of whether or not a plurality of sheet-like objects are overlapped. For example, if it is determined that "double feeding" is occurring, the operations of the document reading device, printing device, paper feeding device, and transport path are stopped, and a warning is displayed on the display device.

変位センサ1では、磁石32の外径部の曲率半径と磁石32の外径部から磁気センサ60(センサ中心60a)までの最短距離(ギャップG)との関係が、ほぼ一次関数の関係(少なくとも相関係数0.7以上)で表される。
このように構成することによって、磁気センサ60の出力のリニアリティを最適化することができる(図6参照)。したがって、変位センサ1による検知誤差が生じることを防止することができる。
In the displacement sensor 1, the relationship between the radius of curvature of the outer diameter of the magnet 32 and the shortest distance (gap G) from the outer diameter of the magnet 32 to the magnetic sensor 60 (sensor center 60a) is approximately a linear function (at least correlation coefficient of 0.7 or more).
With this configuration, the linearity of the output of the magnetic sensor 60 can be optimized (see FIG. 6). Therefore, detection errors caused by the displacement sensor 1 can be prevented from occurring.

変位センサ1では、変位センサ1の回動範囲内における測定子20の回動角度(仰角)と磁石32外径部から磁気センサ60(センサ中心60a)までの最短距離(ギャップG)との関係が、ほぼ一次関数の関係(少なくとも相関係数0.7以上)で表される。
このように構成することによって、磁気センサ60の出力のリニアリティを最適化することができる(図7参照)。したがって、変位センサ1による検知誤差が生じることを防止することができる。
In the displacement sensor 1, the relationship between the rotation angle (elevation angle) of the probe 20 within the rotation range of the displacement sensor 1 and the shortest distance (gap G) from the outer diameter part of the magnet 32 to the magnetic sensor 60 (sensor center 60a) is expressed by a nearly linear function relationship (at least a correlation coefficient of 0.7 or more).
With this configuration, the linearity of the output of the magnetic sensor 60 can be optimized (see FIG. 7). Therefore, detection errors caused by the displacement sensor 1 can be prevented from occurring.

変位センサ1では、磁石32の一端部(上端部)は、測定子20が回動していない状態(仰角0°)において、直線B(測定子20の回動軸23の軸線と磁気センサ60のセンサ中心60aとを結ぶ直線)よりも測定子20の一端部側に回動する方向(上方)に延出する。前記磁石32の一端部(上端部)の延出する部分は、例えば、測定子20が回動していない状態における測定子20の回動角度θ=0°に対して磁石32の仰角が5°(RF2)分延出する。
このように構成することによって、測定子20の回動開始角度付近においても磁気センサ60の出力のリニアリティを最適化することができる。
リニアリティとは、最小二乗法で線形近似した直線と実測値との差を割合(%)で示した値であり、当該値が小さいほど線形性が高いことを示す(図8参照)。
In the displacement sensor 1, one end (upper end) of the magnet 32 is connected to the straight line B (the axis of the rotating shaft 23 of the measuring element 20 and the magnetic sensor 60) when the measuring element 20 is not rotating (elevation angle 0°). The contact point 20 extends in the direction of rotation (upward) toward one end of the probe 20 than the straight line connecting the probe center 60a and the sensor center 60a. For example, the extending portion of the one end (upper end) of the magnet 32 is such that the elevation angle of the magnet 32 is 5 with respect to the rotation angle θ=0° of the measuring element 20 when the measuring element 20 is not rotating. (RF2).
With this configuration, the linearity of the output of the magnetic sensor 60 can be optimized even near the rotation start angle of the probe 20.
Linearity is a value expressed as a percentage (%) of the difference between a straight line linearly approximated by the least squares method and an actual measurement value, and the smaller the value, the higher the linearity (see FIG. 8).

変位センサ1では、磁石32の他端部(下端部)は、測定子20の測定最大回転角度θ=40°(基準角RF)において、直線B(測定子20の回動軸23の軸線と磁気センサ60のセンサ中心60aとを結ぶ直線)よりも測定子20の他端部側に回動する方向(下方)に延出する。前記磁石32の他端部(下端部)の延出する部分は、例えば、測定子20の測定最大回転角度θ=40°において磁石32の仰角が5°(RF2)分延出する。
このように構成することによって、測定子20の測定最大回転角度付近においても磁気センサ60の出力のリニアリティを最適化することができる。
In the displacement sensor 1, the other end (lower end) of the magnet 32 is aligned with the straight line B (the axis of the rotating shaft 23 of the measuring element 20) at the measurement maximum rotation angle θ = 40° (reference angle RF) of the measuring element 20. It extends in the direction of rotation (downward) toward the other end of the measuring element 20 than the straight line connecting the sensor center 60a of the magnetic sensor 60. The extending portion of the other end (lower end) of the magnet 32 extends by, for example, an elevation angle of 5° (RF2) of the magnet 32 when the measuring maximum rotation angle θ=40° of the measuring stylus 20.
With this configuration, the linearity of the output of the magnetic sensor 60 can be optimized even near the maximum measurement rotation angle of the probe 20.

1 変位センサ
7 紙(シート状物)
10 ベース
11 ベース本体
11a 収容室
11b 開口溝
11c 支持部
12 ベースカバー
20 測定子
20a 上部
20b 下部
20c 弧状部
21 当接部
22 本体部
23 回動軸
25 回動規制部
32 磁石
33 バネ
60 磁気センサ
60a センサ中心
61 基板
1 Displacement sensor 7 Paper (sheet-like material)
10 Base 11 Base main body 11a Storage chamber 11b Opening groove 11c Support part 12 Base cover 20 Measuring element 20a Upper part 20b Lower part 20c Arc-shaped part 21 Contact part 22 Main body part 23 Rotation shaft 25 Rotation restriction part 32 Magnet 33 Spring 60 Magnetic sensor 60a Sensor center 61 Board

Claims (6)

検知対象物が測定子に接触して前記測定子が回動することによって前記検知対象物の変位を検知する変位センサであって、
ベースと、
前記測定子に設けられて、前記測定子の回動とともに回動可能に構成される磁石と、
前記磁石の磁界を検知する磁気センサと、を備え、
前記測定子は、弧状部と回動軸を有し、前記ベースに対して前記回動軸を中心に回動可能に構成され、
前記磁石は、弧状に湾曲して形成され、前記測定子の前記弧状部に設けられ、
前記磁気センサは、前記測定子の前記弧状部と対向するように配置され、
前記磁石の外径部の曲率半径と前記磁石の外径部から前記磁気センサまでの最短距離との関係が、一次関数の関係でほぼ表される、変位センサ。
A displacement sensor that detects displacement of the detection target when the detection target contacts the measurement head and rotates the measurement head,
base and
a magnet provided on the measurement head and configured to be rotatable with rotation of the measurement head;
A magnetic sensor that detects the magnetic field of the magnet,
The measuring element has an arcuate portion and a rotation axis, and is configured to be rotatable about the rotation axis with respect to the base,
The magnet is curved in an arc shape and is provided in the arc portion of the probe,
The magnetic sensor is arranged to face the arcuate portion of the probe,
A displacement sensor, wherein a relationship between a radius of curvature of an outer diameter portion of the magnet and a shortest distance from the outer diameter portion of the magnet to the magnetic sensor is approximately expressed by a linear function.
前記磁気センサは、前記回動軸の軸線方向から見て前記回動軸の軸線と直交する仮想の直線に対して前記磁気センサのセンサ中心と交わるように配置され、The magnetic sensor is arranged so as to intersect the sensor center of the magnetic sensor with respect to a virtual straight line orthogonal to the axis of the rotation axis when viewed from the axial direction of the rotation axis,
前記磁気センサの感磁方向は、前記仮想の直線と平行方向とされ、The magnetic sensing direction of the magnetic sensor is parallel to the virtual straight line,
前記測定子は上流側から下流側に搬送される前記検知対象物に接触するものであり、The measuring element contacts the detection target object conveyed from the upstream side to the downstream side,
前記仮想の直線は、前記検知対象物の搬送方向と平行方向とされる、請求項1に記載の変位センサ。The displacement sensor according to claim 1, wherein the virtual straight line is parallel to a direction in which the detection target is conveyed.
前記変位センサの回動範囲内における前記測定子の回動角度と前記磁石から前記磁気センサまでの最短距離との関係が、ほぼ一次関数の関係で表される、
請求項1または請求項2に記載の変位センサ。
The relationship between the rotation angle of the probe within the rotation range of the displacement sensor and the shortest distance from the magnet to the magnetic sensor is approximately expressed as a linear function.
The displacement sensor according to claim 1 or claim 2 .
前記磁石は、前記測定子が回動していない状態において、前記磁石の一端部が前記磁気センサに近接した位置に配置され、前記磁石の他端部が前記磁気センサから離間した位置に配置され、
前記磁石の一端部は、前記測定子が回動していない状態において、前記測定子の前記回動軸の軸線と前記磁気センサのセンサ中心とを結ぶ直線よりも前記測定子の一端部側に回動する方向に延出する、
請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の変位センサ。
The magnet is configured such that, when the probe is not rotating, one end of the magnet is disposed close to the magnetic sensor, and the other end of the magnet is disposed away from the magnetic sensor. ,
One end of the magnet is located closer to the one end of the measuring element than a straight line connecting the axis of the rotating shaft of the measuring element and the sensor center of the magnetic sensor when the measuring element is not rotating. Extending in the direction of rotation,
The displacement sensor according to any one of claims 1 to 3 .
前記検知対象物は厚さ方向が薄いシート状物であり、
前記検知対象物の重送状態を検知する重送検知装置として構成される、
請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の変位センサ。
The detection target is a sheet-like object that is thin in the thickness direction,
configured as a double-feed detection device that detects a double-feed state of the detection target;
The displacement sensor according to any one of claims 1 to 4 .
検知対象物が測定子に接触して前記測定子が回動することによって前記検知対象物の変位を検知する変位センサであって、
ベースと、
前記測定子に設けられて、前記測定子の回動とともに回動可能に構成される磁石と、
前記磁石の磁界を検知する磁気センサと、を備え、
前記測定子は、弧状部と回動軸を有し、前記ベースに対して前記回動軸を中心に回動可能に構成され、
前記磁石は、弧状に湾曲して形成され、前記測定子の前記弧状部に設けられ、
前記磁気センサは、前記測定子の前記弧状部と対向するように配置され、
前記変位センサの回動範囲内における前記測定子の回動角度と前記磁石から前記磁気センサまでの最短距離との関係が、ほぼ一次関数の関係で表される、変位センサ。
A displacement sensor that detects displacement of the sensing target when the sensing target contacts the measuring head and the measuring head rotates,
base and
a magnet provided on the measurement head and configured to be rotatable with rotation of the measurement head;
A magnetic sensor that detects the magnetic field of the magnet,
The measuring element has an arcuate portion and a rotation axis, and is configured to be rotatable about the rotation axis with respect to the base,
The magnet is curved in an arc shape and is provided in the arc portion of the probe,
The magnetic sensor is arranged to face the arcuate portion of the probe,
A displacement sensor, wherein a relationship between a rotation angle of the probe and a shortest distance from the magnet to the magnetic sensor within a rotation range of the displacement sensor is expressed by a substantially linear function relationship.
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