JP7332770B2 - tactile sensor - Google Patents

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本発明は、触覚センサに関する。 The present invention relates to a tactile sensor.

近年、ロボットハンド等に用いる触覚センサの研究開発が行われており、様々な方式の触覚センサが知られている。 In recent years, research and development of tactile sensors used for robot hands and the like have been carried out, and various types of tactile sensors are known.

例えば、プリント基板の端面からみて、プリント基板の一方の面に、所定方向(X軸方向)に所定ピッチで金属箔が形成され、他方の面に金属箔が全面に貼着されたプリント基板を、その厚さ方向(Y軸方向)に絶縁材を挟んで複数積層した触覚センサが挙げられる。 For example, when viewed from the end face of a printed circuit board, a printed circuit board in which a metal foil is formed on one surface of the printed circuit board in a predetermined direction (X-axis direction) at a predetermined pitch, and the other surface is covered with a metal foil is used. , a tactile sensor in which a plurality of layers are laminated with an insulating material interposed therebetween in the thickness direction (Y-axis direction).

この触覚センサでは、積層されたプリント基板の端面に導電性シートを被着している。そして、導電性シートの一部を加圧すると、加圧された部分のX軸に位置する金属箔部分とY軸に位置する金属箔部分とが導電性シートを介して導通することにより、加圧部分の位置を電気的に検出できる(例えば、特許文献1参照)。 In this tactile sensor, a conductive sheet is attached to the end surfaces of the laminated printed circuit boards. Then, when a part of the conductive sheet is pressed, the metal foil portion located on the X axis and the metal foil portion located on the Y axis of the pressed portion are electrically connected through the conductive sheet. The position of the pressure portion can be detected electrically (see Patent Document 1, for example).

特開平9-14989号公報JP-A-9-14989

しかしながら、上記の触覚センサでは、XY方向の2次元情報は得られるものの、Z方向も含めた3次元情報を得ることはできなかった。 However, although the tactile sensor described above can obtain two-dimensional information in the XY directions, it is not possible to obtain three-dimensional information including the Z direction.

本発明は、上記の点に鑑みてなされたもので、3次元情報が得られる触覚センサを提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a tactile sensor capable of obtaining three-dimensional information.

本触覚センサは、曲面を有する支持部材と、前記支持部材上に配置されたセンサ本体と、前記センサ本体を被覆し、物体に接すると前記物体から受けた力を前記センサ本体に伝達する緩衝部材と、を備え、前記センサ本体は、絶縁層と、前記絶縁層の一方の面に直接、金属、合金、又は、金属の化合物から形成された第1機能層と、前記絶縁層の他方の面に直接、金属、合金、又は、金属の化合物から形成された第2機能層と、前記第1機能層の一方の面に直接形成され、長手方向を第1方向に向けて並置された複数の第1抵抗部と、前記第2機能層の他方の面に直接形成され、長手方向を前記第1方向と交差する第2方向に向けて並置された複数の第2抵抗部と、各々の前記第1抵抗部及び各々の前記第2抵抗部の両端部に設けられた1対の電極と、を有し、前記第1抵抗部及び前記第2抵抗部は、Cr、CrN、及びCrNを含む膜から形成され、前記第1抵抗部及び前記第2抵抗部は、α-Crを主成分とし、前記第1機能層及び前記第2機能層は、前記α-Crの結晶成長を促進させ、前記α-Crを主成分とする膜を成膜する機能を有し、前記物体から受けた力が前記センサ本体に伝達され、前記第1抵抗部及び/又は前記第2抵抗部が押圧されると、押圧された前記第1抵抗部及び/又は前記第2抵抗部の前記1対の電極間の抵抗値が押圧力の大きさに応じて連続的に変化する。 The tactile sensor includes a support member having a curved surface, a sensor body disposed on the support member, and a cushioning member that covers the sensor body and transmits a force received from the object to the sensor body when in contact with the object. and the sensor body comprises an insulating layer, a first functional layer formed directly on one surface of the insulating layer from a metal, an alloy, or a metal compound, and the other surface of the insulating layer. A second functional layer formed directly from a metal, an alloy, or a metal compound, and a plurality of the first functional layer formed directly on one surface and arranged side by side with the longitudinal direction facing the first direction a first resistor portion; a plurality of second resistor portions formed directly on the other surface of the second functional layer and arranged side by side with their longitudinal directions directed in a second direction that intersects with the first direction; and a pair of electrodes provided at opposite ends of each of the first and second resistor portions, wherein the first and second resistor portions are composed of Cr, CrN, and Cr2N . wherein the first resistance portion and the second resistance portion are mainly composed of α-Cr, and the first functional layer and the second functional layer promote crystal growth of the α-Cr and has a function of forming a film containing α-Cr as a main component, the force received from the object is transmitted to the sensor main body, and the first resistance part and/or the second resistance part presses Then, the resistance value between the pair of electrodes of the pressed first resistor and/or the second resistor continuously changes according to the magnitude of the pressing force.

開示の技術によれば、3次元情報が得られる触覚センサを提供できる。 According to the disclosed technology, it is possible to provide a tactile sensor capable of obtaining three-dimensional information.

第1の実施の形態に係る触覚センサを例示する斜視図である。1 is a perspective view illustrating a tactile sensor according to a first embodiment; FIG. 第1の実施の形態に係る触覚センサを例示する分解斜視図である。1 is an exploded perspective view illustrating a tactile sensor according to a first embodiment; FIG. 第1の実施の形態に係る触覚センサのセンサ本体を例示する平面図である。FIG. 2 is a plan view illustrating the sensor main body of the touch sensor according to the first embodiment; 第1の実施の形態に係る触覚センサのセンサ本体を例示する断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a sensor main body of the touch sensor according to the first embodiment; 第1の実施の形態に係る触覚センサモジュールを例示するブロック図である。1 is a block diagram illustrating a tactile sensor module according to a first embodiment; FIG. 第1の実施の形態に係る触覚センサモジュールの制御装置を例示するブロック図である。1 is a block diagram illustrating a control device for a tactile sensor module according to a first embodiment; FIG. 触覚センサが物体に触れたときにセンサ本体に伝達される力を模式的に示す図である。FIG. 4 is a diagram schematically showing force transmitted to a sensor main body when the tactile sensor touches an object; 第1の実施の形態の変形例1に係るセンサ本体を例示する平面図である。FIG. 7 is a plan view illustrating a sensor main body according to Modification 1 of the first embodiment;

以下、図面を参照して発明を実施するための形態について説明する。各図面において、同一構成部分には同一符号を付し、重複した説明を省略する場合がある。 BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments for carrying out the invention will be described with reference to the drawings. In each drawing, the same components are denoted by the same reference numerals, and redundant description may be omitted.

〈第1の実施の形態〉
図1は、第1の実施の形態に係る触覚センサを例示する斜視図である。図2は、第1の実施の形態に係る触覚センサを例示する分解斜視図である。図1及び図2を参照するに、触覚センサ5は、センサ本体1と、支持部材2と、緩衝部材3とを有している。
<First embodiment>
1 is a perspective view illustrating a tactile sensor according to a first embodiment; FIG. FIG. 2 is an exploded perspective view illustrating the tactile sensor according to the first embodiment; FIG. 1 and 2, the tactile sensor 5 has a sensor body 1, a support member 2, and a buffer member 3. As shown in FIG.

触覚センサ5において、センサ本体1は、支持部材2上に配置され、緩衝部材3により被覆されている。つまり、センサ本体1は、支持部材2と緩衝部材3に挟持されている。センサ本体1については後述する。 In the tactile sensor 5 , the sensor body 1 is arranged on the support member 2 and covered with the cushioning member 3 . That is, the sensor main body 1 is sandwiched between the support member 2 and the buffer member 3 . The sensor main body 1 will be described later.

支持部材2は、金属や樹脂等から形成された、曲面を有する部材である。支持部材2の形状は、曲面を有する部材であれば特に限定されないが、例えば半球状とすることができる。支持部材2を人間の指先に近い形状(曲面部や偏平部を有する形状)としてもよい。 The support member 2 is a member having a curved surface made of metal, resin, or the like. The shape of the support member 2 is not particularly limited as long as it is a member having a curved surface, and may be hemispherical, for example. The support member 2 may have a shape similar to that of a human fingertip (a shape having a curved portion or a flat portion).

緩衝部材3は、センサ本体1を被覆して機械的に保護すると共に、物体に接すると物体から受けた力をセンサ本体1に伝達する部材である。緩衝部材3は、弾性体から形成することが好ましく、具体的な材料としては、例えば、シリコーンゴム等のゴムや、ポリウレタン等の高分子材料が挙げられる。なお、弾性体とは、力を加えるとひずみが生じるが、力を除去すれば元の形状に戻る物体を指す。 The buffer member 3 is a member that covers and mechanically protects the sensor main body 1 and that transmits force received from an object to the sensor main body 1 when in contact with the object. The cushioning member 3 is preferably made of an elastic material, and specific materials thereof include, for example, rubber such as silicone rubber, and polymeric materials such as polyurethane. The elastic body refers to an object that is distorted when a force is applied, but returns to its original shape when the force is removed.

図3は、第1の実施の形態に係る触覚センサのセンサ本体を例示する平面図であり、支持部材2に貼り付ける前の状態を示している。図4は、第1の実施の形態に係る触覚センサのセンサ本体を例示する断面図であり、図3のA-A線に沿う断面を示している。 FIG. 3 is a plan view illustrating the sensor main body of the tactile sensor according to the first embodiment, showing a state before being attached to the supporting member 2. FIG. FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating the sensor main body of the touch sensor according to the first embodiment, showing a cross section along line AA in FIG.

図3及び図4を参照するに、センサ本体1は、基材10と、抵抗体30(複数の抵抗部31及び32)と、複数の端子部41及び42とを有している。図3では、便宜上、センサ本体1の平面形状を略正方形としているが、センサ本体1は支持部材2に貼り付けやすいような平面形状に適宜加工することができる。 3 and 4, the sensor main body 1 has a substrate 10, a resistor 30 (a plurality of resistor portions 31 and 32), and a plurality of terminal portions 41 and . In FIG. 3, the sensor main body 1 has a substantially square planar shape for the sake of convenience, but the sensor main body 1 can be appropriately processed into a planar shape that can be easily attached to the support member 2 .

なお、本実施の形態では、便宜上、センサ本体1において、基材10の抵抗部31が設けられている側を上側又は一方の側、抵抗部32が設けられている側を下側又は他方の側とする。又、各部位の抵抗部31が設けられている側の面を一方の面又は上面、抵抗部32が設けられている側の面を他方の面又は下面とする。但し、センサ本体1は天地逆の状態で用いることができ、又は任意の角度で配置することができる。又、平面視とは対象物を基材10の上面10aの法線方向から視ることを指し、平面形状とは対象物を基材10の上面10aの法線方向から視た形状を指すものとする。 In the present embodiment, for the sake of convenience, in the sensor main body 1, the side of the substrate 10 on which the resistance portion 31 is provided is the upper side or one side, and the side on which the resistance portion 32 is provided is the lower side or the other side. side. Also, the surface on which the resistance portion 31 of each portion is provided is defined as one surface or upper surface, and the surface on which the resistance portion 32 is provided is defined as the other surface or lower surface. However, the sensor main body 1 can be used upside down, or can be arranged at an arbitrary angle. Further, the term "planar view" refers to viewing an object from the direction normal to the upper surface 10a of the substrate 10, and the term "planar shape" refers to the shape of the object viewed from the direction normal to the upper surface 10a of the substrate 10. and

基材10は、抵抗体30等を形成するためのベース層となる絶縁性の部材であり、可撓性を有する。基材10の厚さは、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できるが、例えば、5μm~500μm程度とすることができる。特に、基材10の厚さが5μm~200μmであると、抵抗部31及び32のひずみ感度誤差を少なくすることができる点で好ましい。 The base material 10 is an insulating member that serves as a base layer for forming the resistor 30 and the like, and has flexibility. The thickness of the base material 10 is not particularly limited, and can be appropriately selected according to the purpose. In particular, it is preferable that the thickness of the base material 10 is 5 μm to 200 μm in that the strain sensitivity error of the resistance portions 31 and 32 can be reduced.

基材10は、例えば、PI(ポリイミド)樹脂、エポキシ樹脂、PEEK(ポリエーテルエーテルケトン)樹脂、PEN(ポリエチレンナフタレート)樹脂、PET(ポリエチレンテレフタレート)樹脂、PPS(ポリフェニレンサルファイド)樹脂、ポリオレフィン樹脂等の絶縁樹脂フィルムから形成することができる。なお、フィルムとは、厚さが500μm以下程度であり、可撓性を有する部材を指す。 The substrate 10 is made of, for example, PI (polyimide) resin, epoxy resin, PEEK (polyetheretherketone) resin, PEN (polyethylene naphthalate) resin, PET (polyethylene terephthalate) resin, PPS (polyphenylene sulfide) resin, polyolefin resin, or the like. can be formed from an insulating resin film of Note that the film refers to a flexible member having a thickness of about 500 μm or less.

ここで、『絶縁樹脂フィルムから形成する』とは、基材10が絶縁樹脂フィルム中にフィラーや不純物等を含有することを妨げるものではない。基材10は、例えば、シリカやアルミナ等のフィラーを含有する絶縁樹脂フィルムから形成しても構わない。 Here, "formed from an insulating resin film" does not prevent the base material 10 from containing fillers, impurities, etc. in the insulating resin film. The substrate 10 may be formed from, for example, an insulating resin film containing a filler such as silica or alumina.

但し、基材10が可撓性を有する必要がない場合には、基材10に、SiO、ZrO(YSZも含む)、Si、Si、Al(サファイヤも含む)、ZnO、ペロブスカイト系セラミックス(CaTiO、BaTiO)等の材料を用いても構わない。 However, if the substrate 10 does not need to be flexible, the substrate 10 may contain SiO 2 , ZrO 2 (including YSZ), Si, Si 2 N 3 , Al 2 O 3 (including sapphire). , ZnO, and perovskite ceramics (CaTiO 3 , BaTiO 3 ) may be used.

抵抗体30は、基材10上に形成されており、押圧力に応じて連続的に抵抗値が変化する受感部である。抵抗体30は、基材10の上面10a及び下面10bに直接形成されてもよいし、基材10の上面10a及び下面10bに他の層を介して形成されてもよい。 The resistor 30 is formed on the base material 10 and is a sensing part whose resistance value changes continuously according to the pressing force. The resistor 30 may be formed directly on the upper surface 10a and the lower surface 10b of the base material 10, or may be formed on the upper surface 10a and the lower surface 10b of the base material 10 via another layer.

抵抗体30は、基材10を介して積層された複数の抵抗部31及び32を含んでいる。すなわち、抵抗体30は、複数の抵抗部31及び32の総称であり、抵抗部31及び32を特に区別する必要がない場合には抵抗体30と称する。なお、図3では、便宜上、抵抗部31及び32を梨地模様で示している。 The resistor 30 includes a plurality of resistor portions 31 and 32 stacked with the substrate 10 interposed therebetween. That is, the resistor 30 is a generic term for the plurality of resistors 31 and 32, and the resistors 31 and 32 are referred to as the resistor 30 when there is no particular need to distinguish between them. In addition, in FIG. 3, the resistance portions 31 and 32 are shown in a pear-skin pattern for the sake of convenience.

複数の抵抗部31は、基材10の上面10aに、長手方向をX方向に向けて所定間隔でY方向に並置された薄膜である。複数の抵抗部32は、基材10の下面10bに、長手方向をY方向に向けて所定間隔でX方向に並置された薄膜である。但し、複数の抵抗部31と複数の抵抗部32とは平面視で直交している必要はなく、交差していればよい。 A plurality of resistor portions 31 are thin films arranged side by side in the Y direction at predetermined intervals on the upper surface 10a of the base material 10 with the longitudinal direction directed in the X direction. A plurality of resistor portions 32 are thin films arranged side by side in the X direction at predetermined intervals on the lower surface 10b of the base material 10 with the longitudinal direction directed in the Y direction. However, the plurality of resistance portions 31 and the plurality of resistance portions 32 do not have to be orthogonal in plan view, and may intersect.

抵抗体30は、例えば、Cr(クロム)を含む材料、Ni(ニッケル)を含む材料、又はCrとNiの両方を含む材料から形成することができる。すなわち、抵抗体30は、CrとNiの少なくとも一方を含む材料から形成することができる。Crを含む材料としては、例えば、Cr混相膜が挙げられる。Niを含む材料としては、例えば、Cu-Ni(銅ニッケル)が挙げられる。CrとNiの両方を含む材料としては、例えば、Ni-Cr(ニッケルクロム)が挙げられる。 The resistor 30 can be made of, for example, a material containing Cr (chromium), a material containing Ni (nickel), or a material containing both Cr and Ni. That is, the resistor 30 can be made of a material containing at least one of Cr and Ni. Materials containing Cr include, for example, a Cr mixed phase film. Materials containing Ni include, for example, Cu—Ni (copper nickel). Materials containing both Cr and Ni include, for example, Ni—Cr (nickel chromium).

ここで、Cr混相膜とは、Cr、CrN、CrN等が混相した膜である。Cr混相膜は、酸化クロム等の不可避不純物を含んでもよい。 Here, the Cr mixed phase film is a film in which Cr, CrN, Cr 2 N, or the like is mixed. The Cr mixed phase film may contain unavoidable impurities such as chromium oxide.

抵抗体30の厚さは、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できるが、例えば、0.05μm~2μm程度とすることができる。特に、抵抗体30の厚さが0.1μm以上であると、抵抗体30を構成する結晶の結晶性(例えば、α-Crの結晶性)が向上する点で好ましい。又、抵抗体30の厚さが1μm以下であると、抵抗体30を構成する膜の内部応力に起因する膜のクラックや基材10からの反りを低減できる点で更に好ましい。 The thickness of the resistor 30 is not particularly limited, and can be appropriately selected according to the purpose. In particular, it is preferable that the thickness of the resistor 30 is 0.1 μm or more because the crystallinity of the crystal forming the resistor 30 (for example, the crystallinity of α-Cr) is improved. Further, if the thickness of the resistor 30 is 1 μm or less, cracks in the film and warping from the substrate 10 due to internal stress of the film constituting the resistor 30 can be reduced.

抵抗体30の幅は、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できるが、例えば、0.1μm~1000μm程度とすることができる。隣接する抵抗体30のピッチは、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できるが、例えば、1mm~100mm程度とすることができる。なお、図3及び図4では、抵抗部31を10本、抵抗部32を10本図示しているが、抵抗部31及び32は、実際には数100~数1000本程度設けられる。 The width of the resistor 30 is not particularly limited and can be appropriately selected according to the purpose, and can be, for example, about 0.1 μm to 1000 μm. The pitch of the adjacent resistors 30 is not particularly limited and can be appropriately selected according to the purpose, and can be, for example, about 1 mm to 100 mm. Although ten resistor portions 31 and ten resistor portions 32 are shown in FIGS. 3 and 4, several hundred to several thousand resistor portions 31 and 32 are actually provided.

例えば、抵抗体30がCr混相膜である場合、安定な結晶相であるα-Cr(アルファクロム)を主成分とすることで、抵抗体30の温度係数の安定化や、押圧力に対する抵抗体30の感度の向上を実現できる。ここで、主成分とは、対象物質が抵抗体を構成する全物質の50質量%以上を占めることを意味するが、抵抗体30の温度係数の安定化や、押圧力に対する抵抗体30の感度の向上を実現する観点から、抵抗体30はα-Crを80重量%以上含むことが好ましい。なお、α-Crは、bcc構造(体心立方格子構造)のCrである。 For example, when the resistor 30 is a Cr mixed phase film, the main component is α-Cr (alpha chromium), which is a stable crystal phase. A sensitivity improvement of 30 can be realized. Here, the main component means that the target substance occupies 50% by mass or more of all the substances constituting the resistor. From the viewpoint of realizing an improvement in the resistance, the resistor 30 preferably contains 80% by weight or more of α-Cr. Note that α-Cr is Cr with a bcc structure (body-centered cubic lattice structure).

端子部41は、基材10の上面10aにおいて、各々の抵抗部31の両端部から延在しており、平面視において、抵抗部31よりも拡幅して略矩形状に形成されている。端子部41は、押圧力により生じる抵抗部31の抵抗値の変化を外部に出力するための1対の電極であり、例えば、外部接続用のフレキシブル基板やリード線等が接合される。端子部41の上面を、端子部41よりもはんだ付け性が良好な金属で被覆してもよい。なお、抵抗部31と端子部41とは便宜上別符号としているが、両者は同一工程において同一材料により一体に形成することができる。 The terminal portion 41 extends from both ends of each resistance portion 31 on the upper surface 10a of the base material 10, and is formed in a substantially rectangular shape wider than the resistance portion 31 in plan view. The terminal portion 41 is a pair of electrodes for outputting to the outside the change in the resistance value of the resistance portion 31 caused by the pressing force, and for example, a flexible substrate or lead wire for external connection is joined. The upper surface of the terminal portion 41 may be covered with a metal having better solderability than the terminal portion 41 . Although the resistor portion 31 and the terminal portion 41 are denoted by different reference numerals for the sake of convenience, they can be integrally formed from the same material in the same process.

端子部42は、基材10の下面10bにおいて、各々の抵抗部32の両端部から延在しており、平面視において、抵抗部32よりも拡幅して略矩形状に形成されている。端子部42は、押圧力により生じる抵抗部32の抵抗値の変化を外部に出力するための1対の電極であり、例えば、外部接続用のフレキシブル基板やリード線等が接合される。端子部42の上面を、端子部42よりもはんだ付け性が良好な金属で被覆してもよい。なお、抵抗部32と端子部42とは便宜上別符号としているが、両者は同一工程において同一材料により一体に形成することができる。 The terminal portions 42 extend from both ends of each resistance portion 32 on the lower surface 10b of the base material 10, and are formed in a substantially rectangular shape wider than the resistance portions 32 in plan view. The terminal portion 42 is a pair of electrodes for outputting to the outside the change in the resistance value of the resistance portion 32 caused by the pressing force, and for example, a flexible substrate or lead wire for external connection is joined. The upper surface of the terminal portion 42 may be covered with a metal having better solderability than the terminal portion 42 . Although the resistor portion 32 and the terminal portion 42 are given different reference numerals for convenience, they can be integrally formed from the same material in the same process.

なお、基材10を貫通する貫通配線(スルーホール)を設け、端子部41及び42を基材10の上面10a側又は下面10b側に集約してもよい。 A through-wiring (through-hole) penetrating through the substrate 10 may be provided, and the terminal portions 41 and 42 may be concentrated on the upper surface 10a side or the lower surface 10b side of the substrate 10 .

抵抗部31を被覆し端子部41を露出するように基材10の上面10aにカバー層(絶縁樹脂層)を設けても構わない。又、抵抗部32を被覆し端子部42を露出するように基材10の下面10bにカバー層(絶縁樹脂層)を設けても構わない。カバー層を設けることで、抵抗部31及び32に機械的な損傷等が生じることを防止できる。又、カバー層を設けることで、抵抗部31及び32を湿気等から保護することができる。なお、カバー層は、端子部41及び42を除く部分の全体を覆うように設けてもよい。 A cover layer (insulating resin layer) may be provided on the upper surface 10a of the base material 10 so as to cover the resistor portion 31 and expose the terminal portion 41. As shown in FIG. Further, a cover layer (insulating resin layer) may be provided on the lower surface 10b of the base material 10 so as to cover the resistance portion 32 and expose the terminal portion 42. As shown in FIG. By providing the cover layer, it is possible to prevent the resistors 31 and 32 from being mechanically damaged. Also, by providing the cover layer, the resistance portions 31 and 32 can be protected from moisture and the like. Note that the cover layer may be provided so as to cover the entire portion excluding the terminal portions 41 and 42 .

カバー層は、例えば、PI樹脂、エポキシ樹脂、PEEK樹脂、PEN樹脂、PET樹脂、PPS樹脂、複合樹脂(例えば、シリコーン樹脂、ポリオレフィン樹脂)等の絶縁樹脂から形成することができる。カバー層は、フィラーや顔料を含有しても構わない。カバー層の厚さは、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できるが、例えば、2μm~30μm程度とすることができる。 The cover layer can be made of, for example, an insulating resin such as PI resin, epoxy resin, PEEK resin, PEN resin, PET resin, PPS resin, composite resin (eg, silicone resin, polyolefin resin). The cover layer may contain fillers and pigments. The thickness of the cover layer is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the intended purpose.

センサ本体1を製造するためには、まず、基材10を準備し、基材10の上面10aに図3に示す平面形状の抵抗部31及び端子部41を形成する。抵抗部31及び端子部41の材料や厚さは、前述の通りである。抵抗部31と端子部41とは、同一材料により一体に形成することができる。 In order to manufacture the sensor main body 1, first, the substrate 10 is prepared, and the planar resistor portion 31 and the terminal portion 41 shown in FIG. The materials and thicknesses of the resistance portion 31 and the terminal portion 41 are as described above. The resistance portion 31 and the terminal portion 41 can be integrally formed from the same material.

抵抗部31及び端子部41は、例えば、抵抗部31及び端子部41を形成可能な原料をターゲットとしたマグネトロンスパッタ法により成膜し、フォトリソグラフィによってパターニングすることで形成できる。抵抗部31及び端子部41は、マグネトロンスパッタ法に代えて、反応性スパッタ法や蒸着法、アークイオンプレーティング法、パルスレーザー堆積法等を用いて成膜してもよい。 The resistance portion 31 and the terminal portion 41 can be formed by, for example, forming a film by magnetron sputtering using a raw material capable of forming the resistance portion 31 and the terminal portion 41 as a target, and patterning the film by photolithography. The resistor portion 31 and the terminal portion 41 may be formed by using a reactive sputtering method, a vapor deposition method, an arc ion plating method, a pulse laser deposition method, or the like instead of the magnetron sputtering method.

抵抗部31の温度係数の安定化や、押圧力に対する抵抗部31の感度の向上を実現する観点から、抵抗部31及び端子部41を成膜する前に、下地層として膜厚が1nm~100nm程度の機能層を真空成膜することが好ましい。機能層は、例えば、コンベンショナルスパッタ法により成膜できる。なお、機能層は、機能層の上面全体に抵抗部31及び端子部41を形成後、フォトリソグラフィによって抵抗部31及び端子部41と共に図3に示す平面形状にパターニングされる。 From the viewpoint of stabilizing the temperature coefficient of the resistance part 31 and improving the sensitivity of the resistance part 31 to the pressing force, before forming the resistance part 31 and the terminal part 41, a base layer having a thickness of 1 nm to 100 nm is formed. It is preferable to form a functional layer with a thickness of about 100 nm in a vacuum. The functional layer can be deposited, for example, by conventional sputtering. After forming the resistor portion 31 and the terminal portion 41 over the entire upper surface of the functional layer, the functional layer is patterned into a planar shape shown in FIG. 3 together with the resistor portion 31 and the terminal portion 41 by photolithography.

本願において、機能層とは、少なくとも上層である抵抗部の結晶成長を促進する機能を有する層を指す。機能層は、更に、基材10に含まれる酸素や水分による抵抗部の酸化を防止する機能や、基材10と抵抗部との密着性を向上する機能を備えていることが好ましい。機能層は、更に、他の機能を備えていてもよい。 In the present application, the functional layer refers to a layer having a function of promoting crystal growth of at least the upper layer, the resistance portion. The functional layer preferably further has a function of preventing oxidation of the resistance portion due to oxygen and moisture contained in the substrate 10 and a function of improving adhesion between the substrate 10 and the resistance portion. The functional layer may also have other functions.

基材10を構成する絶縁樹脂フィルムは酸素や水分を含むため、特に抵抗部がCrを含む場合、Crは自己酸化膜を形成するため、機能層が抵抗部の酸化を防止する機能を備えることは有効である。 Since the insulating resin film that constitutes the base material 10 contains oxygen and moisture, especially when the resistance section contains Cr, Cr forms a self-oxidizing film. Therefore, the functional layer should have a function of preventing oxidation of the resistance section. is valid.

機能層の材料は、少なくとも上層である抵抗部の結晶成長を促進する機能を有する材料であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できるが、例えば、Cr(クロム)、Ti(チタン)、V(バナジウム)、Nb(ニオブ)、Ta(タンタル)、Ni(ニッケル)、Y(イットリウム)、Zr(ジルコニウム)、Hf(ハフニウム)、Si(シリコン)、C(炭素)、Zn(亜鉛)、Cu(銅)、Bi(ビスマス)、Fe(鉄)、Mo(モリブデン)、W(タングステン)、Ru(ルテニウム)、Rh(ロジウム)、Re(レニウム)、Os(オスミウム)、Ir(イリジウム)、Pt(白金)、Pd(パラジウム)、Ag(銀)、Au(金)、Co(コバルト)、Mn(マンガン)、Al(アルミニウム)からなる群から選択される1種又は複数種の金属、この群の何れかの金属の合金、又は、この群の何れかの金属の化合物が挙げられる。 The material of the functional layer is not particularly limited as long as it has a function of promoting the crystal growth of the resistor portion which is the upper layer, and can be appropriately selected according to the purpose. ), V (vanadium), Nb (niobium), Ta (tantalum), Ni (nickel), Y (yttrium), Zr (zirconium), Hf (hafnium), Si (silicon), C (carbon), Zn (zinc ), Cu (copper), Bi (bismuth), Fe (iron), Mo (molybdenum), W (tungsten), Ru (ruthenium), Rh (rhodium), Re (rhenium), Os (osmium), Ir (iridium ), Pt (platinum), Pd (palladium), Ag (silver), Au (gold), Co (cobalt), Mn (manganese), one or more metals selected from the group consisting of Al (aluminum) , alloys of any metal of this group, or compounds of any metal of this group.

上記の合金としては、例えば、FeCr、TiAl、FeNi、NiCr、CrCu等が挙げられる。又、上記の化合物としては、例えば、TiN、TaN、Si、TiO、Ta、SiO等が挙げられる。 Examples of the above alloy include FeCr, TiAl, FeNi, NiCr, CrCu, and the like. Examples of the above compounds include TiN, TaN , Si3N4 , TiO2 , Ta2O5 , SiO2 and the like.

機能層は、例えば、機能層を形成可能な原料をターゲットとし、チャンバ内にAr(アルゴン)ガスを導入したコンベンショナルスパッタ法により真空成膜することができる。コンベンショナルスパッタ法を用いることにより、基材10の上面10aをArでエッチングしながら機能層が成膜されるため、機能層の成膜量を最小限にして密着性改善効果を得ることができる。 The functional layer can be formed, for example, by a conventional sputtering method in which a raw material capable of forming the functional layer is used as a target and Ar (argon) gas is introduced into the chamber. By using the conventional sputtering method, the functional layer is formed while etching the upper surface 10a of the base material 10 with Ar. Therefore, the amount of film formation of the functional layer can be minimized and an effect of improving adhesion can be obtained.

但し、これは、機能層の成膜方法の一例であり、他の方法により機能層を成膜してもよい。例えば、機能層の成膜の前にAr等を用いたプラズマ処理等により基材10の上面10aを活性化することで密着性改善効果を獲得し、その後マグネトロンスパッタ法により機能層を真空成膜する方法を用いてもよい。 However, this is an example of the method of forming the functional layer, and the functional layer may be formed by another method. For example, before forming the functional layer, the upper surface 10a of the substrate 10 is activated by a plasma treatment using Ar or the like to obtain an effect of improving adhesion, and then the functional layer is vacuum-formed by magnetron sputtering. You may use the method to do.

機能層の材料と抵抗部31及び端子部41の材料との組み合わせは、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択できる。例えば、機能層としてTiを用い、抵抗部31及び端子部41としてα-Cr(アルファクロム)を主成分とするCr混相膜を成膜することが可能である。 The combination of the material of the functional layer and the material of the resistor portion 31 and the terminal portion 41 is not particularly limited and can be appropriately selected according to the purpose. For example, it is possible to use Ti as the functional layer and deposit a Cr mixed phase film containing α-Cr (alpha chromium) as the main component as the resistor portion 31 and the terminal portion 41 .

この場合、例えば、Cr混相膜を形成可能な原料をターゲットとし、チャンバ内にArガスを導入したマグネトロンスパッタ法により、抵抗部31及び端子部41を成膜することができる。或いは、純Crをターゲットとし、チャンバ内にArガスと共に適量の窒素ガスを導入し、反応性スパッタ法により、抵抗部31及び端子部41を成膜してもよい。 In this case, for example, the resistance portion 31 and the terminal portion 41 can be formed by magnetron sputtering using a material capable of forming a Cr mixed phase film as a target and introducing Ar gas into the chamber. Alternatively, the resistive portion 31 and the terminal portion 41 may be formed by reactive sputtering using pure Cr as a target, introducing an appropriate amount of nitrogen gas together with Ar gas into the chamber.

これらの方法では、Tiからなる機能層がきっかけでCr混相膜の成長面が規定され、安定な結晶構造であるα-Crを主成分とするCr混相膜を成膜できる。又、機能層を構成するTiがCr混相膜中に拡散することにより、抵抗部31の温度係数の安定化や、押圧力に対する抵抗部31の感度の向上を実現できる。なお、機能層がTiから形成されている場合、Cr混相膜にTiやTiN(窒化チタン)が含まれる場合がある。 In these methods, the growth surface of the Cr mixed phase film is defined by the functional layer made of Ti, and a Cr mixed phase film containing α-Cr, which has a stable crystal structure, as a main component can be formed. Further, by diffusing Ti constituting the functional layer into the Cr mixed phase film, it is possible to stabilize the temperature coefficient of the resistance portion 31 and improve the sensitivity of the resistance portion 31 to the pressing force. When the functional layer is made of Ti, the Cr mixed phase film may contain Ti or TiN (titanium nitride).

なお、抵抗部31がCr混相膜である場合、Tiからなる機能層は、抵抗部31の結晶成長を促進する機能、基材10に含まれる酸素や水分による抵抗部31の酸化を防止する機能、及び基材10と抵抗部31との密着性を向上する機能の全てを備えている。機能層として、Tiに代えてTa、Si、Al、Feを用いた場合も同様である。 When the resistance portion 31 is a Cr mixed phase film, the functional layer made of Ti has a function of promoting crystal growth of the resistance portion 31 and a function of preventing oxidation of the resistance portion 31 due to oxygen and moisture contained in the base material 10. , and the function of improving the adhesion between the substrate 10 and the resistor portion 31 . The same is true when Ta, Si, Al, or Fe is used as the functional layer instead of Ti.

このように、抵抗部31の下層に機能層を設けることにより、抵抗部31の結晶成長を促進することが可能となり、安定な結晶相からなる抵抗部31を作製できる。その結果、センサ本体1において、抵抗部31の温度係数の安定化や、押圧力に対する抵抗部31の感度の向上を実現することができる。又、機能層を構成する材料が抵抗部31に拡散することにより、センサ本体1において、抵抗部31の温度係数の安定化や、押圧力に対する抵抗部31の感度の向上を実現することができる。 By providing the functional layer below the resistor portion 31 in this way, it is possible to promote the crystal growth of the resistor portion 31, and the resistor portion 31 having a stable crystal phase can be produced. As a result, in the sensor main body 1, it is possible to stabilize the temperature coefficient of the resistance portion 31 and improve the sensitivity of the resistance portion 31 to the pressing force. In addition, by diffusing the material forming the functional layer into the resistance portion 31, it is possible to stabilize the temperature coefficient of the resistance portion 31 and improve the sensitivity of the resistance portion 31 to the pressing force in the sensor body 1. .

次に、基材10の下面10bに図3に示す平面形状の抵抗部32及び端子部42を形成する。抵抗部32及び端子部42は、抵抗部31及び端子部41と同様の方法で形成することができる。抵抗部32及び端子部42を成膜する前に、下地層として、基材10の下面10bに機能層を成膜することが好ましい点も同様である。 Next, on the lower surface 10b of the base material 10, the plane-shaped resistor portion 32 and the terminal portion 42 shown in FIG. 3 are formed. The resistance portion 32 and the terminal portion 42 can be formed by the same method as the resistance portion 31 and the terminal portion 41 . It is also the same that it is preferable to form a functional layer as a base layer on the lower surface 10b of the base material 10 before forming the resistor section 32 and the terminal section 42 into films.

抵抗部31及び端子部41並びに抵抗部32及び端子部42を形成後、必要に応じ、基材10の上面10aに抵抗部31を被覆し端子部41を露出するカバー層を、基材10の下面10bに抵抗部32を被覆し端子部42を露出するカバー層を設けてもよい。これにより、センサ本体1が完成する。 After forming the resistor portion 31 and the terminal portion 41 as well as the resistor portion 32 and the terminal portion 42, a cover layer covering the resistor portion 31 and exposing the terminal portion 41 is formed on the upper surface 10a of the substrate 10, if necessary. A cover layer that covers the resistor portion 32 and exposes the terminal portion 42 may be provided on the lower surface 10b. Thereby, the sensor main body 1 is completed.

カバー層は、例えば、基材10の上面10aに抵抗部31を被覆し端子部41を露出するように半硬化状態の熱硬化性の絶縁樹脂フィルムをラミネートし、加熱して硬化させて作製することができる。又、カバー層は、例えば、基材10の下面10bに抵抗部32を被覆し端子部42を露出するように半硬化状態の熱硬化性の絶縁樹脂フィルムをラミネートし、加熱して硬化させて作製することができる。カバー層は、絶縁樹脂フィルムのラミネートに代えて、液状又はペースト状の熱硬化性の絶縁樹脂を塗布し、加熱して硬化させて作製してもよい。 The cover layer is prepared by, for example, laminating a semi-cured thermosetting insulating resin film so as to cover the upper surface 10a of the base material 10 with the resistor section 31 and exposing the terminal section 41, and curing the film by heating. be able to. The cover layer is formed by, for example, laminating a semi-cured thermosetting insulating resin film so as to cover the resistor portion 32 on the lower surface 10b of the base material 10 and exposing the terminal portion 42, and heat and cure the film. can be made. Instead of laminating an insulating resin film, the cover layer may be produced by applying a thermosetting insulating resin in liquid or paste form and curing the resin by heating.

図5に示すように、触覚センサ5及び制御装置7により触覚センサモジュール8を実現できる。触覚センサモジュール8において、触覚センサ5は、例えば、ロボットハンドの指先に取り付けられ、制御装置7によりロボットが物体を把持した際の物体との接触個所や把持力等を検出することができる。複数の触覚センサ5をロボットハンドの複数の指先に取り付けてもよい。例えば、ロボットハンドの2本の指先の各々に触覚センサ5を取り付け、ロボットハンドの2本の指先で物体を把持した際に、各々の触覚センサ5の出力に基づいて、制御装置7によりロボットが対象物を把持した際の物体との接触位置や把持力等を検出できる。 As shown in FIG. 5, the tactile sensor module 8 can be realized by the tactile sensor 5 and the control device 7 . In the tactile sensor module 8, the tactile sensor 5 is attached, for example, to the fingertip of the robot hand, and the control device 7 can detect the contact point with the object when the robot grips the object, the gripping force, and the like. A plurality of tactile sensors 5 may be attached to a plurality of fingertips of the robot hand. For example, when a tactile sensor 5 is attached to each of the two fingertips of the robot hand and an object is gripped with the two fingertips of the robot hand, the robot is controlled by the controller 7 based on the output of each tactile sensor 5. It is possible to detect the contact position with the object when the object is gripped, the gripping force, and the like.

触覚センサモジュール8において、触覚センサ5におけるセンサ本体1の各々の端子部41及び42は、例えば、フレキシブル基板やリード線等を用いて、制御装置7に接続されている。 In the tactile sensor module 8, the terminal portions 41 and 42 of the sensor body 1 of the tactile sensor 5 are connected to the control device 7 using, for example, flexible substrates or lead wires.

制御装置7は、センサ本体1の端子部41及び42を介して得られた情報に基づいて、触覚センサ5のセンサ本体1が押圧された位置の座標や押圧力の大きさを検出することができる。例えば、センサ本体1の抵抗部31はX座標の検出に用いることができ、抵抗部32はY座標の検出に用いることができる。 Based on the information obtained through the terminal portions 41 and 42 of the sensor body 1, the control device 7 can detect the coordinates of the position where the sensor body 1 of the tactile sensor 5 is pressed and the magnitude of the pressing force. can. For example, the resistance portion 31 of the sensor body 1 can be used to detect the X coordinate, and the resistance portion 32 can be used to detect the Y coordinate.

図6に示すように、制御装置7は、例えば、アナログフロントエンド部71と、信号処理部72とを含む構成とすることができる。 As shown in FIG. 6, the control device 7 can be configured to include, for example, an analog front end section 71 and a signal processing section 72 .

アナログフロントエンド部71は、例えば、入力信号選択スイッチ、ブリッジ回路、増幅器、アナログ/デジタル変換回路(A/D変換回路)等を備えている。アナログフロントエンド部71は、温度補償回路を備えていてもよい。 The analog front end section 71 includes, for example, an input signal selection switch, a bridge circuit, an amplifier, an analog/digital conversion circuit (A/D conversion circuit), and the like. The analog front end section 71 may comprise a temperature compensation circuit.

アナログフロントエンド部71では、例えば、センサ本体1の全ての端子部41及び42が入力信号選択スイッチに接続され、入力信号選択スイッチにより1対の電極が選択される。入力信号選択スイッチで選択された1対の電極は、ブリッジ回路に接続される。 In the analog front end section 71, for example, all the terminal sections 41 and 42 of the sensor main body 1 are connected to an input signal selection switch, and one pair of electrodes is selected by the input signal selection switch. A pair of electrodes selected by the input signal selection switch are connected to a bridge circuit.

すなわち、ブリッジ回路の1辺が入力信号選択スイッチで選択された1対の電極間の抵抗部で構成され、他の3辺が固定抵抗で構成される。これにより、ブリッジ回路の出力として、入力信号選択スイッチで選択された1対の電極間の抵抗部の抵抗値に対応した電圧(アナログ信号)を得ることができる。なお、入力信号選択スイッチは、信号処理部72から制御可能に構成されている。 That is, one side of the bridge circuit is composed of a resistor portion between a pair of electrodes selected by an input signal selection switch, and the other three sides are composed of fixed resistors. As a result, a voltage (analog signal) corresponding to the resistance value of the resistance portion between the pair of electrodes selected by the input signal selection switch can be obtained as the output of the bridge circuit. Note that the input signal selection switch is configured to be controllable from the signal processing section 72 .

ブリッジ回路から出力された電圧は、増幅器で増幅された後、A/D変換回路によりデジタル信号に変換され、信号処理部72に送られる。アナログフロントエンド部71が温度補償回路を備えている場合には、温度補償されたデジタル信号が信号処理部72に送られる。入力信号選択スイッチを高速で切り替えることで、センサ本体1の全ての端子部41及び42の抵抗値に対応するデジタル信号を極短時間で信号処理部72に送ることができる。 The voltage output from the bridge circuit is amplified by an amplifier, converted into a digital signal by an A/D conversion circuit, and sent to the signal processing section 72 . If the analog front end section 71 has a temperature compensation circuit, the temperature compensated digital signal is sent to the signal processing section 72 . By switching the input signal selection switch at high speed, digital signals corresponding to the resistance values of all the terminal portions 41 and 42 of the sensor main body 1 can be sent to the signal processing portion 72 in an extremely short time.

信号処理部72は、アナログフロントエンド部71から送られた情報に基づいて、センサ本体1が押圧された位置の座標や押圧力の大きさを検出することができる。 The signal processing section 72 can detect the coordinates of the position where the sensor body 1 is pressed and the magnitude of the pressing force based on the information sent from the analog front end section 71 .

又、複数の抵抗部31の抵抗値や複数の抵抗部32の抵抗値が変化した場合には、センサ本体1が複数位置で押圧されたことを検出できる。 Moreover, when the resistance values of the plurality of resistance portions 31 and the resistance values of the plurality of resistance portions 32 change, it is possible to detect that the sensor body 1 is pressed at a plurality of positions.

なお、押圧力の大きさが小さい場合等には、抵抗部31及び抵抗部32のうち、押圧される側に近い方の抵抗部のみが押圧され、押圧される側から遠い方の抵抗部は押圧されない場合がある。この場合には、押圧される側に近い方の抵抗部の1対の電極間の抵抗値のみが押圧力の大きさに応じて連続的に変化するが、この場合も、信号処理部72は、押圧される側に近い方の抵抗部の抵抗値の変化の大小に基づいて、押圧力の大きさを検出することができる。 When the magnitude of the pressing force is small, only the resistance portion closer to the side to be pressed out of the resistance portions 31 and 32 is pressed, and the resistance portion farther from the side to be pressed is It may not be pressed. In this case, only the resistance value between the pair of electrodes of the resistor portion closer to the pressed side continuously changes according to the magnitude of the pressing force. , the magnitude of the pressing force can be detected based on the magnitude of change in the resistance value of the resistance portion closer to the pressed side.

つまり、抵抗部31及び/又は抵抗部32が押圧されると、押圧された抵抗部(抵抗部31及び/又は抵抗部32)の1対の電極間の抵抗値が押圧力の大きさに応じて連続的に変化する。そして、信号処理部72は、抵抗部31と抵抗部32の一方が押圧されたか両方が押圧されたかにかかわらず、押圧された抵抗部の抵抗値の変化の大小に基づいて、押圧力の大きさを検出することができる。 In other words, when the resistance section 31 and/or the resistance section 32 is pressed, the resistance value between the pair of electrodes of the pressed resistance section (the resistance section 31 and/or the resistance section 32) varies depending on the magnitude of the pressing force. changes continuously. Then, the signal processing unit 72 determines the magnitude of the pressing force based on the magnitude of the change in the resistance value of the pressed resistor, regardless of whether one or both of the resistors 31 and 32 are pressed. can be detected.

信号処理部72は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、メインメモリ等を含む構成とすることができる。 The signal processing unit 72 can be configured to include, for example, a CPU (Central Processing Unit), a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), a main memory, and the like.

この場合、信号処理部72の各種機能は、ROM等に記録されたプログラムがメインメモリに読み出されてCPUにより実行されることによって実現できる。但し、信号処理部72の一部又は全部は、ハードウェアのみにより実現されてもよい。又、信号処理部72は、物理的に複数の装置等により構成されてもよい。 In this case, various functions of the signal processing unit 72 can be realized by reading a program recorded in a ROM or the like into a main memory and executing it by the CPU. However, part or all of the signal processing unit 72 may be realized only by hardware. Also, the signal processing unit 72 may be physically composed of a plurality of devices or the like.

図7は、触覚センサが物体に触れたときにセンサ本体に伝達される力を模式的に示す図である。図7(a)は斜視図であり、図7(b)はセンサ本体が力を検出する様子を平面図で模式的に示したものである。 FIG. 7 is a diagram schematically showing forces transmitted to the sensor main body when the tactile sensor touches an object. FIG. 7(a) is a perspective view, and FIG. 7(b) is a plan view schematically showing how the sensor main body detects force.

図7(a)に示すように、触覚センサ5が物体300に触れると、緩衝部材3が変形してセンサ本体1に力が伝達される。緩衝部材3が変形することで、図7(b)のB部に示すように、センサ本体1において、力を点データではなく面データとして検出できる。これにより、指先のどの位置で、どの程度の力で物体を把持しているかを検出できる。なお、B部では、中心に近いほど力が大きく、周辺に行くに従って力が小さくなる様子を、異なる梨地模様で模式的に示している。 As shown in FIG. 7( a ), when the tactile sensor 5 touches the object 300 , the cushioning member 3 deforms and the force is transmitted to the sensor main body 1 . By deforming the cushioning member 3, the force can be detected not as point data but as surface data in the sensor main body 1, as shown in part B of FIG. 7(b). As a result, it is possible to detect where the fingertip is gripping the object and with what force. In part B, different pear-skin patterns schematically show how the force increases closer to the center and decreases toward the periphery.

又、ロボットハンドの複数の指先の各々に触覚センサ5を取り付け、ロボットハンドの複数の指先で物体を把持した場合、各々の触覚センサ5の出力に基づいて、ロボットが把持した物体の重心を検出できる。 Further, when a tactile sensor 5 is attached to each of a plurality of fingertips of the robot hand and an object is gripped by the plurality of fingertips of the robot hand, the center of gravity of the gripped object is detected by the robot based on the output of each tactile sensor 5. can.

このように、触覚センサ5において、緩衝部材3が物体に接すると、緩衝部材3が変形して物体から受けた力をセンサ本体1に伝達し、抵抗部31及び32が押圧される。センサ本体1の抵抗部31及び32が押圧されると、押圧された抵抗部31及び32が押圧力に応じて撓み、押圧された抵抗部31及び32の1対の電極間の抵抗値が押圧力の大きさに応じて連続的に変化する。すなわち、触覚センサ5では、3次元情報(押圧された位置の座標と、押圧力の大きさ)を得ることができる。 Thus, in the tactile sensor 5, when the cushioning member 3 comes into contact with an object, the cushioning member 3 deforms and transmits the force received from the object to the sensor main body 1, and the resistance portions 31 and 32 are pressed. When the resistance portions 31 and 32 of the sensor main body 1 are pressed, the pressed resistance portions 31 and 32 bend according to the pressing force, and the resistance value between the pair of electrodes of the pressed resistance portions 31 and 32 changes. It changes continuously according to the magnitude of the pressure. That is, the tactile sensor 5 can obtain three-dimensional information (the coordinates of the pressed position and the magnitude of the pressing force).

触覚センサモジュール8において、センサ本体1で得られた3次元情報は制御装置7に送られ、制御装置7はセンサ本体1で得られた3次元情報に基づいて、センサ本体1が押圧された位置の座標と共に、押圧力の大きさを検出することができる。 In the tactile sensor module 8, the three-dimensional information obtained by the sensor main body 1 is sent to the control device 7, and the control device 7 determines the position where the sensor main body 1 is pressed based on the three-dimensional information obtained by the sensor main body 1. The magnitude of the pressing force can be detected together with the coordinates of .

特に、抵抗部31及び32がCr混相膜から形成されている場合は、抵抗部31及び32がCu-NiやNi-Crから形成されている場合と比べ、力に対する抵抗値の感度(同一の押圧力に対する抵抗部31及び32の抵抗値の変化量)が大幅に向上する。抵抗部31及び32がCr混相膜から形成されている場合、力に対する抵抗値の感度は、抵抗部31及び32がCu-NiやNi-Crから形成されている場合と比べ、おおよそ5~10倍程度となる。そのため、抵抗部31及び32をCr混相膜から形成することで、押圧された位置の座標の検出精度を向上できると共に、力を高感度で検出できる。 In particular, when the resistance portions 31 and 32 are formed from a Cr mixed phase film, the sensitivity of the resistance value to force (the same The amount of change in the resistance values of the resistance portions 31 and 32 with respect to the pressing force) is greatly improved. When the resistance portions 31 and 32 are formed of a Cr mixed phase film, the sensitivity of the resistance value to force is about 5 to 10% higher than when the resistance portions 31 and 32 are formed of Cu—Ni or Ni—Cr. About double. Therefore, by forming the resistance portions 31 and 32 from a Cr mixed phase film, it is possible to improve the detection accuracy of the coordinates of the pressed position and to detect the force with high sensitivity.

又、力に対する抵抗値の感度が高いことで、力が小であることを検出した場合には所定の動作を行い、力が中であることを検出した場合には他の動作を行い、力が大であることを検出した場合には更に他の動作を行うような制御の実現が可能となる。或いは、力が小又は中であることを検出した場合には動作を行わず、力が大であることを検出した場合にのみ所定の動作を行うような制御の実現が可能となる。 Further, due to the high sensitivity of the resistance value to the force, when the force is detected to be small, a predetermined action is performed, and when the force is detected to be medium, another action is performed. When it is detected that is large, it becomes possible to implement control such that another operation is performed. Alternatively, it is possible to implement control such that no action is performed when a small or medium force is detected, and a predetermined action is performed only when a large force is detected.

又、力に対する抵抗値の感度が高いと、S/Nの高い信号を得ることができる。そのため、アナログフロントエンド部71のA/D変換回路において平均化を行う回数を低減しても精度よく信号検出ができる。A/D変換回路において平均化を行う回数を低減することで、1回のA/D変換に必要な時間を短縮できるため、入力信号選択スイッチを更に高速で切り替えることが可能となる。その結果、触覚センサ5に入力される速い動きも検出することができる。 Also, if the sensitivity of the resistance value to force is high, a signal with a high S/N ratio can be obtained. Therefore, even if the number of times of averaging in the A/D conversion circuit of the analog front end section 71 is reduced, the signal can be detected with high accuracy. By reducing the number of times of averaging in the A/D conversion circuit, the time required for one A/D conversion can be shortened, so that the input signal selection switch can be switched at a higher speed. As a result, even a fast motion input to the tactile sensor 5 can be detected.

〈第1の実施の形態の変形例1〉
第1の実施の形態の変形例1では、センサ本体の抵抗部をジグザグパターンにする例を示す。なお、第1の実施の形態の変形例1において、既に説明した実施の形態と同一構成部についての説明は省略する場合がある。
<Modification 1 of the first embodiment>
Modification 1 of the first embodiment shows an example in which the resistance portion of the sensor main body is formed in a zigzag pattern. In addition, in the modification 1 of the first embodiment, the description of the same components as those of the already described embodiment may be omitted.

図8は、第1の実施の形態の変形例1に係るセンサ本体を例示する平面図であり、図3に対応する平面を示している。図8を参照するに、センサ本体1Aは、抵抗体30が抵抗体30Aに置換された点が、センサ本体1(図3及び図4参照)と相違する。 FIG. 8 is a plan view illustrating a sensor main body according to Modification 1 of the first embodiment, showing a plane corresponding to FIG. Referring to FIG. 8, the sensor main body 1A differs from the sensor main body 1 (see FIGS. 3 and 4) in that the resistor 30 is replaced with a resistor 30A.

抵抗体30Aは、抵抗部31A及び32Aを含んでいる。抵抗部31Aは、1対の端子部41の間に形成されたジグザグのパターンである。又、抵抗部32Aは、1対の端子部42の間に形成されたジグザグのパターンである。抵抗部31A及び32Aの材料や厚さは、例えば、抵抗部31及び32の材料や厚さと同様とすることができる。 The resistor 30A includes resistor portions 31A and 32A. The resistor portion 31A is a zigzag pattern formed between a pair of terminal portions 41. As shown in FIG. Also, the resistor portion 32A is a zigzag pattern formed between a pair of terminal portions 42. As shown in FIG. The material and thickness of the resistance portions 31A and 32A can be the same as the material and thickness of the resistance portions 31 and 32, for example.

このように、抵抗部31A及び32Aをジグザグパターンにすることで、直線状のパターンにした場合と比べて、1対の端子部41間の抵抗値及び1対の端子部42間の抵抗値を高くできる。その結果、押圧された際の1対の端子部41間の抵抗値の変化量及び1対の端子部42間の抵抗値の変化量が大きくなるため、押圧された位置の座標の検出精度を更に向上できると共に、力を更に高感度で検出できる。 In this way, by forming the resistance portions 31A and 32A in a zigzag pattern, the resistance value between the pair of terminal portions 41 and the resistance value between the pair of terminal portions 42 are reduced compared to the case where the linear pattern is formed. can be high As a result, the amount of change in the resistance value between the pair of terminal portions 41 and the amount of change in the resistance value between the pair of terminal portions 42 when pressed increases, so the detection accuracy of the coordinates of the pressed position decreases. It can be further improved and the force can be detected with higher sensitivity.

又、1対の端子部41間の抵抗値及び1対の端子部42間の抵抗値を高くできるため、センサ本体1Aを低消費電力化することが可能である。 Moreover, since the resistance value between the pair of terminal portions 41 and the resistance value between the pair of terminal portions 42 can be increased, the power consumption of the sensor body 1A can be reduced.

以上、好ましい実施の形態等について詳説したが、上述した実施の形態等に制限されることはなく、特許請求の範囲に記載された範囲を逸脱することなく、上述した実施の形態等に種々の変形及び置換を加えることができる。 Although the preferred embodiments and the like have been described in detail above, the present invention is not limited to the above-described embodiments and the like, and various modifications can be made to the above-described embodiments and the like without departing from the scope of the claims. Modifications and substitutions can be made.

例えば、センサ本体1では、絶縁層である基材10の上面10aに抵抗部31を設け、下面10bに抵抗部32を設ける例を示したが、絶縁層の一方の側に抵抗部32を設け、他方の側に抵抗部32を設ける構造であれば、これには限定されない。例えば、基材10の上面10aに抵抗部31を設け、基材10の上面10aに抵抗部31を被覆する絶縁層を設け、絶縁層上に抵抗部32を設けてもよい。又、抵抗部31を設けた第1基材と、抵抗部32を設けた第2基材を作製し、抵抗部31と抵抗部32を内側に向けて、絶縁層を挟んで抵抗部31を設けた第1基材と抵抗部32を設けた第2基材を貼り合わせてもよい。又、抵抗部31を設けた第1基材と、抵抗部32を設けた第2基材を作製し、抵抗部31を設けた第1基材と抵抗部32を設けた第2基材を同一方向に積層してもよい。センサ本体1Aについても同様である。 For example, in the sensor main body 1, an example in which the resistance portion 31 is provided on the upper surface 10a of the substrate 10, which is an insulating layer, and the resistance portion 32 is provided on the lower surface 10b, is provided. , as long as the resistor portion 32 is provided on the other side. For example, the resistor portion 31 may be provided on the upper surface 10a of the substrate 10, an insulating layer covering the resistor portion 31 may be provided on the upper surface 10a of the substrate 10, and the resistor portion 32 may be provided on the insulating layer. Also, a first base material provided with the resistance part 31 and a second base material provided with the resistance part 32 were prepared, and the resistance part 31 was sandwiched between the insulating layer with the resistance part 31 and the resistance part 32 facing inward. The provided first base material and the second base material provided with the resistance portion 32 may be bonded together. Also, a first base material provided with the resistance part 31 and a second base material provided with the resistance part 32 are produced, and the first base material provided with the resistance part 31 and the second base material provided with the resistance part 32 are prepared. They may be laminated in the same direction. The same applies to the sensor main body 1A.

1、1A センサ本体、2 支持部材、3 緩衝部材、5 触覚センサ、7 制御装置、8 触覚センサモジュール、10 基材、10a 基材の上面、10b 基材の下面、30、30A 抵抗体、31、31A、32、32A 抵抗部、41、42 端子部、71 アナログフロントエンド部、72 信号処理部 Reference Signs List 1, 1A sensor body 2 support member 3 buffer member 5 tactile sensor 7 control device 8 tactile sensor module 10 substrate 10a upper surface of substrate 10b lower surface of substrate 30, 30A resistor 31 , 31A, 32, 32A resistor section 41, 42 terminal section 71 analog front end section 72 signal processing section

Claims (3)

曲面を有する支持部材と、
前記支持部材上に配置されたセンサ本体と、
前記センサ本体を被覆し、物体に接すると前記物体から受けた力を前記センサ本体に伝達する緩衝部材と、を備え、
前記センサ本体は、
絶縁層と、
前記絶縁層の一方の面に直接、金属、合金、又は、金属の化合物から形成された第1機能層と、
前記絶縁層の他方の面に直接、金属、合金、又は、金属の化合物から形成された第2機能層と、
前記第1機能層の一方の面に直接形成され、長手方向を第1方向に向けて並置された複数の第1抵抗部と、
前記第2機能層の他方の面に直接形成され、長手方向を前記第1方向と交差する第2方向に向けて並置された複数の第2抵抗部と、
各々の前記第1抵抗部及び各々の前記第2抵抗部の両端部に設けられた1対の電極と、を有し、
前記第1抵抗部及び前記第2抵抗部は、Cr、CrN、及びCrNを含む膜から形成され、
前記第1抵抗部及び前記第2抵抗部は、α-Crを主成分とし、
前記第1機能層及び前記第2機能層は、前記α-Crの結晶成長を促進させ、前記α-Crを主成分とする膜を成膜する機能を有し、
前記物体から受けた力が前記センサ本体に伝達され、前記第1抵抗部及び/又は前記第2抵抗部が押圧されると、押圧された前記第1抵抗部及び/又は前記第2抵抗部の前記1対の電極間の抵抗値が押圧力の大きさに応じて連続的に変化する触覚センサ。
a support member having a curved surface;
a sensor body disposed on the support member;
a buffer member that covers the sensor body and transmits a force received from the object to the sensor body when in contact with the object;
The sensor body is
an insulating layer;
a first functional layer formed of a metal, an alloy, or a metal compound directly on one surface of the insulating layer;
a second functional layer formed of a metal, an alloy, or a metal compound directly on the other surface of the insulating layer;
a plurality of first resistor portions directly formed on one surface of the first functional layer and arranged side by side with the longitudinal direction thereof directed in the first direction;
a plurality of second resistance portions directly formed on the other surface of the second functional layer and arranged side by side with the longitudinal direction thereof directed in a second direction intersecting the first direction;
a pair of electrodes provided at both ends of each of the first resistors and each of the second resistors;
The first resistance section and the second resistance section are formed of a film containing Cr, CrN, and Cr 2 N,
The first resistance portion and the second resistance portion are mainly composed of α-Cr,
The first functional layer and the second functional layer have a function of promoting the crystal growth of the α-Cr and forming a film containing the α-Cr as a main component,
When the force received from the object is transmitted to the sensor main body and the first resistance portion and/or the second resistance portion are pressed, the pressed first resistance portion and/or the second resistance portion A tactile sensor in which the resistance value between the pair of electrodes changes continuously according to the magnitude of the pressing force.
前記第1抵抗部の抵抗値の変化及び前記第2抵抗部の抵抗値の変化に基づいて、前記第1方向及び前記第2方向の位置検出が可能である請求項1に記載の触覚センサ。 2. The tactile sensor according to claim 1, wherein position detection in the first direction and the second direction is possible based on a change in the resistance value of the first resistance portion and a change in the resistance value of the second resistance portion. 各々の前記第1抵抗部及び各々の前記第2抵抗部は、前記1対の電極の間に形成されたジグザグのパターンであり、任意の1の前記第1抵抗部は任意の1の前記第2抵抗部と1点のみで交差する請求項1又は2に記載の触覚センサ。 Each of the first resistance sections and each of the second resistance sections is a zigzag pattern formed between the pair of electrodes, and any one of the first resistance sections corresponds to any one of the second resistance sections. 3. The tactile sensor according to claim 1 or 2, which intersects the two resistors at only one point.
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