JP7331707B2 - 検査方法 - Google Patents

Description

本発明は、検査方法に関し、例えば、電力系統における自動開閉器を制御する制御装置に内蔵されたコンデンサの劣化状態を検査する検査方法に関する。

一般に、発電所、変電所、および送電線等から成る電力系統では、複数の発電所で発電された電力を最も効率的で安定した経路を通して、一般家庭や工場、ビル等のユーザ側の受電設備に供給することが求められる。また、電力系統は、送電線の事故などで停電した場合に、速やかに別の経路に切り替えて電力を供給することにより、停電の範囲を最小限度に止める必要がある。このような電力の供給経路の切り替えを実現するために、電力系統には複数の開閉器が設けられている（例えば、特許文献１参照）。

電力系統において、配電線経路の電柱に設けられる開閉器（柱上開閉器）には、手動により電力の供給経路を切り替える手動開閉器と、遠方にある制御所において監視および制御が行われる自動開閉器とがある。

一般に、自動開閉器は、遠方にある制御所（例えば変電所）の遠制親局との間で有線による通信を行う遠制子局としての制御装置（遠方制御器）とともに電柱上に設置され、制御装置によって制御される。すなわち、制御装置は、制御所の遠制親局からの指示に応じて、制御対象の自動開閉器の開閉を切り替える。

従来、自動開閉器により複数区間に分割された配電系統において線路に故障が発生した場合に、全区間の遮断後に各区間の自動開閉器を順次投入（時限投入）して故障が発生した事故区間を特定し、特定した事故区間を自動開閉器によって切り離し、故障が発生していない健全区間まで送電を行う時限式事故捜査方式が知られている。

時限式事故捜査方式では、配電系統において事故発生した場合、先ず、変電所の保護リレーによって遮断器（ＣＢ）を開放して配電線全体を停電させ、制御装置を介してすべての区間の自動開閉器を開放する。次に、変電所の遮断器が再閉路されて再送電が行われる。その後、各区間における制御装置により、各自動開閉器が一定時間間隔（Ｘ時限）で順次投入され、各区間に順次送電される。

再閉路時に事故が継続している場合には、保護リレーが動作し再度停電が発生する。制御装置は、自動開閉器の投入後の一定時間内（Ｙ時限）に再度停電が発生した場合には、自区間を事故区間と記憶し、制御対象の自動開閉器を開状態にロックする。これにより、次回以降の時限投入時には、自区間を事故区間と記憶した制御装置が制御対象の自動開閉器を閉状態にしない。これにより、事故区間が分離され、事故区間より変電所側の健全区間に送電が行われる。

特開平９－３７４６３号公報

近年、自動開閉器を制御する制御装置を原因とした不要停電が増えつつある。例えば、上述した時限式事故捜査方式による自動開閉器の時限投入時に、その自動開閉器の区間に事故が発生していないにも関わらず、一定時間（Ｘ時限）経過後においても制御装置が自動開閉器を閉状態に切り替えることができず、停電が継続する事象が増えつつある。

本願発明者らが本願に先立って検討したところ、上記事象は、制御装置内において、交流電圧から直流電圧（電源電圧）を生成する電源回路の出力端子に接続されている安定化容量としてのコンデンサの劣化が原因であることが判明した。

しかしながら、制御装置内のコンデンサの劣化状態を把握することは容易ではない。例えば、制御装置内のコンデンサの劣化状態を調査する場合、先ず、調査対象の制御装置を電柱から取り外して作業可能な場所まで移動させる。その後、制御装置を分解して調査対象のコンデンサを回路基板から取り外す。そして、テスタを用いて、取り外したコンデンサの静電容量を充電方式により測定し、コンデンサの劣化状態を判定する。

しかしながら、上述の検査方法では、コンデンサの特性を測定するために、制御装置を分解してコンデンサを取り外す作業等が必要となり、検査に多大な時間を要する。

本発明は、上述した課題に鑑みてなされたものであり、自動開閉器を制御する制御装置に内蔵されたコンデンサの劣化状態を容易に検査できるようにすることを目的とする。

本発明の代表的な実施の形態に係る、自動開閉器を制御する制御装置内のコンデンサの劣化状態を試験装置を用いて検査する検査方法であって、前記制御装置は、電源端子および信号端子と、前記電源端子に供給された電圧に基づいて直流電圧を生成する電源回路と、前記電源回路によって生成された直流電圧が供給される内部配線と、前記内部配線に接続されたコンデンサと、前記直流電圧に応じた信号を前記信号端子から出力する内部回路と、を有し、前記試験装置は、電源入力端子および電源出力端子と、前記電源入力端子に供給された電圧を前記電源出力端子に出力するか否かを切り替える電源スイッチ部と、を備え、前記試験装置の前記電源出力端子と前記制御装置の前記電源端子とを接続する第１ステップと、前記試験装置の前記電源スイッチ部によって、前記試験装置の前記電源出力端子から前記制御装置の前記電源端子へ電圧を供給する第２ステップと、前記第２ステップの後に、前記試験装置の前記電源スイッチ部によって、前記試験装置の前記電源出力端子からの前記電圧の供給を停止する第３ステップと、前記第３ステップの後に、測定装置によって、前記制御装置の前記信号端子の電圧の時間変化を測定する第４ステップと、を含むことを特徴とする。

本発明に係る試験装置によれば、自動開閉器を制御する制御装置に内蔵されたコンデンサの劣化状態を容易に検査することが可能となる。

実施の形態１に係る検査方法による検査対象の制御装置（遠方制御器）を模式的に示す図である。 実施の形態１に係る検査方法による検査対象の制御装置の機能ブロック構成を示す図である。 実施の形態１に係る検査方法において用いられる試験装置の機能ブロック構成を示す図である。 実施の形態１に係る検査方法の流れを示すフロー図である。 実施の形態１に係る制御装置の信号端子から出力される直流電圧の時間的な変化を示す図である。 実施の形態１に係る制御装置の信号端子から出力される直流電圧の時間的な変化を示す図である。 実施の形態２に係る検査方法による検査対象の制御装置の機能ブロック構成を示す図である。 実施の形態２に係る検査方法で用いられる試験装置と制御装置との接続関係を示す図である。 実施の形態２に係る検査方法の流れを示すフロー図である。 実施の形態２に係る制御装置の搬送波出力端子から出力される搬送波の時間的な変化を示す図である。 実施の形態２に係る制御装置の搬送波出力端子から出力される搬送波の時間的な変化を示す図である。

１．実施の形態の概要
先ず、本願において開示される発明の代表的な実施の形態について概要を説明する。なお、以下の説明では、一例として、発明の構成要素に対応する図面上の参照符号を、括弧を付して記載している。

〔１〕本発明の代表的な実施の形態に係る検査方法は、自動開閉器（３）を制御する制御装置（２，２ａ）内のコンデンサ（Ｃ１）の劣化状態を試験装置（１）を用いて検査する検査方法であって、前記制御装置は、電源端子（２７Ａ，２７Ｂ）および信号端子（２３＿１～２３＿４、２４＿１～２４＿３、２９Ａ，２９Ｂ）と、前記電源端子に供給された電圧に基づいて直流電圧（ＶＣＣ，ＶＤＤ）を生成する電源回路（２００，２４１，２０１）と、前記電源回路によって生成された直流電圧が供給される内部配線（ＶＤＣＡ，ＶＤＤ）と、前記内部配線に接続されたコンデンサ（Ｃ１）と、前記直流電圧に応じた信号を前記信号端子から出力する内部回路（２２０，２６０）と、を有し、前記試験装置は、電源入力端子（１５Ａ，１５Ｂ）および電源出力端子（１６Ａ，１６Ｂ）と、前記電源入力端子に供給された電圧を前記電源出力端子に出力するか否かを切り替える電源スイッチ部（１０）と、を備え、前記試験装置の前記電源出力端子と前記制御装置の前記電源端子とを接続する第１ステップ（Ｓ４）と、前記試験装置の前記電源スイッチ部によって、前記試験装置の前記電源出力端子から前記制御装置の前記電源端子へ電圧を供給する第２ステップ（Ｓ８）と、前記第２ステップの後に、前記試験装置の前記電源スイッチ部によって、前記試験装置の前記電源出力端子からの前記電圧の供給を停止する第３ステップ（Ｓ１０）と、前記第３ステップの後に、測定装置によって、前記制御装置の前記信号端子の電圧の時間変化（Ｔａｂ，Ｔｃｄ）を測定する第４ステップ（Ｓ１１，Ｓ１１Ａ）と、を含むことを特徴とする。

〔２〕上記〔１〕に記載の検査方法において、前記制御装置（２）は、電源切替回路（２１０）と、第１電源監視回路（２４０Ａ）と、第２電源監視回路（２４０Ｂ）とを更に備え、前記電源端子として、第１電源端子（２７Ａ）と第２電源端子（２７Ｂ）とを含み、前記電源切替回路は、制御信号（ＳＬ）に基づいて、前記第１電源端子に供給された電圧（Ａ電源）と前記第２電源端子に供給された電圧（Ｂ電源）の何れか一方を選択して出力し、前記電源回路として、前記第１電源端子に入力された電圧に基づいて直流電圧を生成する第１電源回路（２４１）と、前記第２電源端子に入力された電圧に基づいて直流電圧を生成する第２電源回路（２４１）と、前記電源切替回路から出力された電圧に基づいて直流電圧を生成する第３電源回路（２００）とを有し、前記内部配線として、前記第１電源回路によって生成された直流電圧が供給される第１内部配線（ＶＤＣＡ）と、前記第２電源回路によって生成された直流電圧が供給される第２内部配線（ＶＤＣＢ）とを有し、前記コンデンサとして、前記第１内部配線に接続される第１コンデンサ（Ｃ１）と、前記第２内部配線に接続される第２コンデンサ（Ｃ１）とを有し、前記第１電源監視回路は、前記第１内部配線の電圧に基づいて、前記第１電源端子に電圧が供給されているか否かを示す第１判定信号（ＳＶＡ）を出力し、前記第２電源監視回路は、前記第２内部配線の電圧に基づいて、前記第２電源端子に電圧が供給されているか否かを示す第２判定信号（ＳＶＢ）を出力し、前記内部回路は、前記第１電源監視回路から前記第１電源端子に電圧が供給されていることを示す第１判定信号が出力されている場合に、前記第１電源端子に供給された交流電圧を選択することを指示する前記制御信号を出力し、前記第１電源監視回路から前記第１電源端子に電圧が供給されていないことを示す第１判定信号が出力され、且つ前記第２電源監視回路から前記第２電源端子に電圧が供給されていることを示す第２判定信号が出力された場合に、前記第２電源端子に供給された電圧を選択することを指示する前記制御信号を出力し、前記内部回路（２２０）は、前記直流電圧に応じた信号として、前記第３電源回路（２００）によって生成された直流電圧（ＶＣＣ）を前記信号端子（２４＿３）から出力してもよい。

〔３〕上記〔２〕に記載の検査方法において、前記第４ステップは、前記測定装置によって、前記第３ステップにおいて前記第１電源端子への電力供給を停止してから前記制御装置の前記信号端子が上昇するまでの時間（Ｔａｂ）を測定するステップと、を含んでもよい。

〔４〕上記〔１〕に記載の検査方法において、前記内部回路（２６０）は、前記直流電圧に応じた信号として、前記内部配線に供給された直流電圧に応じた振幅を有する搬送波を生成して前記信号端子（２９Ａ，２９Ｂ）から出力し、前記第４ステップにおいて、前記測定装置によって、前記搬送波の時間変化（Ｔｃｄ）を測定してもよい。

〔５〕上記〔４〕に記載の検査方法において、前記第４ステップは、前記測定装置によって、前記第３ステップにおいて、前記試験装置の前記電源出力端子からの電圧の供給を停止してから、前記信号端子（２９Ａ，２９Ｂ）からの前記搬送波の出力が停止するまでの時間（Ｔｃｄ）を測定するステップと、を含んでもよい。

２．実施の形態の具体例
以下、本発明の実施の形態の具体例について図を参照して説明する。なお、以下の説明において、各実施の形態において共通する構成要素には同一の参照符号を付し、繰り返しの説明を省略する。また、図面は模式的なものであり、各要素の寸法の関係、各要素の比率などは、現実と異なる場合があることに留意する必要がある。図面の相互間においても、互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれている場合がある。

≪実施の形態１≫
図１は、実施の形態１に係る検査方法による検査対象の制御装置（遠方制御器）を模式的に示す図である。図１には、一つの電柱上に設けられた自動開閉器３および制御装置２の外観が模式的に示されている。

図２は、実施の形態１に係る検査方法による検査対象の制御装置の機能ブロック構成を示す図である。図２には、自動開閉器３および制御装置２の機能ブロック構成と、制御装置２内の安定化容量としてのコンデンサＣ１の検査時における自動開閉器３と制御装置２との接続関係が示されている。

図１に示すように、一つの電柱８０上に設置された自動開閉器３および制御装置２は、ケーブル７によって互いに接続されている。

自動開閉器３は、制御装置２から制御信号に基づいて、一次側の高圧線４と二次側の高圧線５との間の接続を切り替える装置である。ここで、高圧線４，５は、例えば、三相３線式の配電線である。

制御装置２は、遠方にある制御所の遠制親局との間で有線による通信を行う遠制子局としての装置であり、遠制親局からの指示に応じて、制御対象の自動開閉器３の開閉を切り替える。制御装置２は、電源ケーブル８Ａ，８Ｂを介して接続された電源装置（ＡＣ電源）６Ａ，６Ｂからの給電によって動作する。

電源装置６Ａ，６Ｂは、制御装置２に電力を供給する装置である。電源装置６Ａ，６Ｂは、例えば商用電源であり、より具体的には、自動開閉器３および制御装置２と同一の電柱８０に設置された変圧器である。例えば、電源装置６Ａは、一次側の高圧線４からの電圧を変圧して単相三線式の電圧を出力する変圧器であり、電源装置６Ｂは、二次側の高圧線５からの電圧を変圧して単相三線式の電圧を出力する変圧器である。

以下の説明において、電源装置６Ａから出力される電源電圧（交流電圧）を「Ａ電源」と称し、電源装置６Ｂから出力される電源電圧（交流電圧）を「Ｂ電源」と称する場合がある。

次に、自動開閉器３の具体的な構成について説明する。
図２に示すように、自動開閉器３は、スイッチ回路３０、３１、スイッチ制御部３２、電力供給状態判定部３４、および複数の外部端子を備えている。

複数の外部端子は、一次側電源端子３５＿１～３５＿３、二次側電源端子３６＿１～３６＿３、第１状態信号端子３７＿１～３７＿４、第２状態信号端子３８＿１～３８＿３、制御信号入力端子３９＿１，３９＿２、およびコモン端子４０を含む。

スイッチ回路３０は、一次側電源端子３５＿１～３５＿３に接続された高圧線４と、二次側電源端子３６＿１～３６＿３に接続された高圧線５との間の接続と遮断を切り替える回路である。

スイッチ制御部３２は、スイッチ回路３０の開閉を切り替える機能部である。例えば、スイッチ制御部３２とスイッチ回路３０とは一つのリレー（電磁継電器）を構成している。

スイッチ制御部３２は、例えばコイルＬｐを含む。コイルＬｐの一端は、制御信号入力端子３９＿１に接続され、コイルＬｐの他端は、制御信号入力端子３９＿２に接続されている。制御信号入力端子３９＿１と制御信号入力端子３９＿２との間に、所定の直流電圧（後述する直流電圧ＶＣＣ）が印加されているとき、コイルＬｐに電流が流れる。これにより、コイルＬｐが励磁され、磁力によりスイッチ回路３０が閉（オン）状態となる。一方、制御信号入力端子３９＿１と制御信号入力端子３９＿２との間に所定の直流電圧が印加されていないとき、コイルＬｐに電流が流れないため、コイルＬｐは励磁されず、スイッチ回路３０が開（オフ）状態となる。

スイッチ回路３１は、自動開閉器３の開閉状態を示す開閉状態信号Ｓｃを生成する機能部である。具体的に、スイッチ回路３１は、スイッチＳＷ１，ＳＷ２を含む。スイッチＳＷ１の一端は、第２状態信号端子３８＿３と接続され、スイッチＳＷ１の他端は、第２状態信号端子３８＿１と接続されている。スイッチＳＷ２の一端は、第２状態信号端子３８＿３に接続され、スイッチＳＷ２の他端は、第２状態信号端子３８＿２と接続されている。

スイッチＳＷ１は、スイッチ制御部３２のコイルＬｐが通電して励磁されているときに閉（オン）状態となり、コイルＬｐが励磁していないときに開（オフ）状態となる。一方、スイッチＳＷ２は、スイッチ制御部３２のコイルＬｐが通電して励磁されているときに開状態となり、コイルＬｐが励磁していないときに閉状態となる。

例えば、後述するように、制御装置２によって、第２状態信号端子３８＿１，３８＿２が抵抗を介してグラウンド電位（ＧＮＤ）にプルダウンされ、第２状態信号端子３８＿３に直流電圧ＶＣＣが供給されている場合を考える。

この場合において、自動開閉器３（スイッチ回路３０）が閉状態であるとき、第２状態信号端子３８＿１と第２状態信号端子３８＿３とが短絡し、第２状態信号端子３８＿２が開放となる。これにより、第２状態信号端子３８＿１はハイレベル（直流電圧ＶＣＣ）となり、第２状態信号端子３８＿２はローレベル（グラウンド電位）となる開閉状態信号Ｓｃが生成される。

一方、自動開閉器３（スイッチ回路３０）が開状態であるとき、第２状態信号端子３８＿２と第２状態信号端子３８＿３とが短絡し、第２状態信号端子３８＿１が開放となる。これにより、第２状態信号端子３８＿１はローレベル（グラウンド電位）となり、第２状態信号端子３８＿２はハイレベル（直流電圧ＶＣＣ）となる開閉状態信号Ｓｃが生成される。

このように、コイルＬｐが励磁の有無に応じてスイッチＳＷ１，ＳＷ２の開閉状態が切り替わることによって、開閉状態信号Ｓｃが生成され、第２状態信号端子３８＿１～３８＿３からそれぞれ出力される。

電力供給状態判定部３４は、高圧線４と高圧線５の電圧に基づいて、高圧線４，５に電力が供給されているか否か（高圧線４，５が充電状態または停電状態である）を示す電力供給状態信号Ｓｐを生成する機能部である。

電力供給状態判定部３４は、例えば、高圧線４，５の電圧を変圧（降圧）する変圧器（図示せず）を含み、その変圧器によって変圧された電圧に基づいて電力供給状態信号Ｓｐを生成し、第１状態信号端子３７＿１～３７＿４に出力する。したがって、高圧線４，５に電力が供給されている場合（高圧線４，５が充電されている場合）には、所定の電圧レベル（＞０Ｖ）の交流電圧が電力供給状態信号Ｓｐとして第１状態信号端子３７＿１～３７＿４から出力され、高圧線４，５に電力が供給されていない場合（高圧線４，５が停電している場合）には、０Ｖの電力供給状態信号Ｓｐが第１状態信号端子３７＿１～３７＿４から出力される。

次に、制御装置２について説明する。ここでは、制御装置２の内部構成のうち、コンデンサＣ１周辺の構成について説明し、その他の構成については、説明および図示を省略する。

図２に示すように、制御装置２は、内部回路として、電源回路２００、電源切替回路２１０、データ処理制御部２２０、投入リレー２３０、第１電源監視回路２４０Ａ、および第２電源監視回路２４０Ｂを備えている。

また、制御装置２は、複数の外部端子として、第１信号端子２３＿１～２３＿４、第２信号端子２４＿１～２４＿３、制御端子２６＿１，２６＿２、第１電源端子２７Ａ、第２電源端子２８Ｂ、およびコモン端子２５を備えている。

図２に示すように、電柱８０に自動開閉器３および制御装置２を設置する場合には、制御装置２の第１信号端子２３＿１～２３＿４、第２信号端子２４＿１～２４＿３、コモン端子２５、および制御端子２６＿１，２６＿２は、ケーブル７を介して、自動開閉器３の第１状態信号端子３７＿１～３７＿４、第２状態信号端子３８＿１～３８＿３、コモン端子４０、および制御信号入力端子３９＿１，３９＿２に、それぞれ接続される。

また、第１電源端子２７Ａは、電源装置（ＡＣ電源）６Ａと電源ケーブル８Ａを介して接続されてＡ電源（例えばＡＣ２００Ｖ）が供給され、第２電源端子２７Ｂは、電源装置（ＡＣ電源）６Ｂと電源ケーブル８Ｂを介して接続されてＢ電源（例えばＡＣ２００Ｖ）が供給される。

制御装置２において、第２信号端子２４＿１と第２信号端子２４＿２は、抵抗Ｒを介して制御装置２のグラウンド電位（ＧＮＤ，アース）にプルダウンされている。第２信号端子２４＿３は、後述する電源回路２００によって生成された直流電圧ＶＣＣに接続されている。

電源切替回路２１０は、データ処理制御部２２０からの制御信号ＳＬに基づいて、第１電源端子２７Ａに入力されたＡ電源（交流電圧）と第２電源端子２７Ｂに入力されたＢ電源（交流電圧）の何れか一方を選択して出力する回路である。電源切替回路２１０は、例えばリレー等のスイッチ素子によって構成されている。

例えば、電源切替回路２１０は、通常時、Ａ電源（第１電源端子２７Ａの電圧）を選択して電源回路２００に供給し、制御信号ＳＬによってＡ電源からＢ電源への切り替えが指示された場合に、Ｂ電源（第２電源端子２７Ｂの電圧）を選択して電源回路２００に供給する。

電源回路２００は、外部から供給された電源電圧に基づいて所定の電圧を生成する回路である。具体的に、電源回路２００は、電源切替回路２１０から供給されたＡ電源またはＢ電源としての交流電圧（例えばＡＣ２００Ｖ）に基づいて、直流電圧（例えばＤＣ９０Ｖ）を生成する。より具体的には、電源回路２００は、例えばダイオードから成る２つの整流回路を含み、一方の整流回路によって交流電圧を整流して直流電圧ＶＣＣを生成するとともに、他方の整流回路によって交流電圧を整流して直流電圧ＶＤＤ（＜ＶＣＣ）を生成する。例えば、直流電圧ＶＣＣは９０Ｖであり、直流電圧ＶＤＤは１２Ｖまたは２４Ｖである。

電源回路２００によって生成された直流電圧ＶＣＣは、自動開閉器３の閉（オン）状態を指示する閉信号として投入リレー２３０に供給されるとともに、制御装置２の内部回路の基準電圧としても利用される。一方、電源回路２００によって生成された直流電圧ＶＤＤは、例えばデータ処理制御部２２０（例えばＣＰＵ）の電源電圧として利用される。

投入リレー２３０は、自動開閉器３の開閉状態を制御するための制御信号を出力するための部品である。投入リレー２３０は、例えば電磁継電器である。

投入リレー２３０は、データ処理制御部２２０による制御に応じて、自動開閉器３の閉（オン）状態を指示する閉信号、または自動開閉器３の開（オフ）状態を指示する開信号を制御信号として制御端子２６＿２に出力する。なお、制御端子２６＿１には、開信号および閉信号の基準電圧（コモン）となる制御装置２のグラウンド電位に接続されている。

例えば、自動開閉器３をオンさせるとき、投入リレー２３０は、閉信号として直流電圧ＶＣＣに応じた電圧を制御端子２６＿２から出力する。これにより、自動開閉器３のコイルＬｐが励磁され、スイッチ回路３０が閉（オン）状態となる。一方、自動開閉器３をオフさせるとき、投入リレー２３０は、開信号としてグラウンド電位に応じた電圧を制御端子２６＿２から出力する。これにより、自動開閉器３のコイルＬｐが励磁されず、スイッチ回路３０が開（オフ）状態となる。

第１電源監視回路２４０Ａは、第１電源端子２７Ａを監視し、第１電源端子２７Ａに電源電圧（Ａ電源）が供給されているか否かを判定して、判定結果を示す判定信号ＳＶＡを出力する回路である。第２電源監視回路２４０Ａは、第２電源端子２７Ｂを監視し、第２電源端子２７Ｂに電源電圧（Ｂ電源）が供給されているか否かを判定して、判定結果を示す判定信号ＳＶＢを出力する回路である。

具体的に、第１電源監視回路２４０Ａは、電源回路２４１と、安定化容量としてのコンデンサＣ１と、電圧判定回路２４２とを有している。なお、第１電源監視回路２４０Ａと第２電源監視回路２４０Ｂとは、同一の回路構成を有しているため、以下では、代表的に第１電源監視回路２４０Ａの内部構成について詳細に説明する。

電源回路２４１は、外部から供給された電源電圧（交流電圧）に基づいて所定の電圧（直流電圧）を生成する回路である。例えば、電源回路２４１は、電源回路２００と同様に、第１電源端子２７Ａに供給されたＡ電源としての交流電圧に基づいて直流電圧を生成し、内部配線ＶＤＣＡに供給するＡＣ／ＤＣコンバータである。

コンデンサＣ１は、内部配線ＶＤＣＡとグラウンド電位との間に接続されている。コンデンサＣ１は、内部配線ＶＤＣＡに供給される直流電圧を安定化させるための安定化容量として機能する。なお、図２では、内部配線ＶＤＣＡとグラウンド電位との間に１つのコンデンサＣ１が接続される場合が例示されているが、コンデンサＣ１の個数は適宜変更可能である。

電圧判定回路２４２は、内部配線ＶＤＣＡの電圧に基づいて、第１電源端子２７Ａに電源電圧（Ａ電源）が供給されているか否かを判定し、判定結果を示す判定信号ＳＶＡ（例えば、２値信号）を出力する回路である。例えば、電圧判定回路２４２は、内部配線ＶＤＣＡに所定の閾値以上の直流電圧が供給されている場合に、第１電源端子２７Ａに電源電圧（Ａ電源）が供給されていることを示す判定信号ＳＶＡ（例えば、ハイレベル）を出力し、内部配線ＶＤＣＡに所定の閾値より低い直流電圧が供給されている場合に、第１電源端子２７Ａに電源電圧（Ａ電源）が供給されていないことを示す判定信号ＳＶＡ（例えば、ローレベル）を出力する。電圧判定回路２４２は、例えば、フォトカプラを用いて構成されている。

第２電源監視回路２４０Ｂは、第１電源監視回路２４０Ａと同様の構成を有し、第１電源監視回路２４０Ａと同様の動作を行う。すなわち、第２電源監視回路２４０Ｂは、電源回路２４１（ＡＣ／ＤＣコンバータ）によって、第２電源端子２７Ｂに供給されたＢ電源としての交流電圧に基づいて直流電圧を生成して内部配線ＶＤＣＢに供給するとともに、電圧判定回路２４２によって、内部配線ＶＤＣＢの電圧に基づいて第２電源端子２７Ｂに電源電圧（Ｂ電源）が供給されているか否かを判定し、判定結果を示す判定信号ＳＶＢ（例えば２値信号）を出力する。

データ処理制御部２２０は、制御装置２の統括的な制御を行うための機能部であり、例えば、ＣＰＵ等のプロセッサ、ＲＡＭやＲＯＭ等の各種メモリ、およびＡ／ＤコンバータやＤ／Ａコンバータ等の外部インターフェース回路等を含んで構成されている。例えば、データ処理制御部２２０は、ＭＣＵ（Ｍｉｃｒｏ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ Ｕｎｉｔ）である。

データ処理制御部２２０は、第１信号端子２３＿１～２３＿４に入力された信号（電力供給状態信号Ｓｐ、模擬電力供給状態信号Ｓｐｉ）に基づいて自動開閉器３に対する電力の供給状態を判定する。例えば、データ処理制御部２２０は、第１信号端子２３＿１～２３＿４に所定の電圧以上の交流電圧が印加されている場合に、高圧線４，５が充電されている（高圧線４，５に電力が供給されている）と判定し、第１信号端子２３＿１～２３＿４に所定の電圧以上の交流電圧が印加されていない場合に、高圧線４，５が停電していると判定する。

また、データ処理制御部２２０は、第２信号端子２４＿１～２４＿３に入力された信号（開閉状態信号Ｓｃ、模擬開閉状態信号Ｓｃｉ）に基づいて自動開閉器３の開閉状態を判定する。

上述したように、第２信号端子２４＿１，２４＿２は、それぞれ抵抗Ｒを介してグラウンド電位にプルダウンされている。一方、第２信号端子２４＿３には、直流電圧ＶＣＣが供給されている。したがって、自動開閉器３のスイッチＳＷ１がオンし、且つスイッチＳＷ２がオフしているとき、第２信号端子２４＿１が直流電圧ＶＣＣ（ハイレベル）となり、且つ第２信号端子２４＿２がグラウンド電位（ローレベル）となる。この場合、データ処理制御部２２０は、自動開閉器３が閉（オン）状態であると判定する。

一方、自動開閉器３のスイッチＳＷ１がオフし、且つスイッチＳＷ２がオンしているとき、第２信号端子２４＿１がハイレベルとなり、且つ第２信号端子２４＿２がローレベルとなる。この場合、データ処理制御部２２０は、自動開閉器３が開（オフ）状態であると判定する。

データ処理制御部２２０は、自動開閉器３に対して電力が供給されていると判定した場合に、投入リレー２３０から自動開閉器３の閉（オン）状態を指示する閉信号を出力させる。具体的に、データ処理制御部２２０は、第１信号端子２３＿１～２３＿４に所定の電圧以上の交流電圧が印加されていることを検出した場合に、自動開閉器３に対して電力が供給されていると判定し、投入リレー２３０を制御して、制御端子２６＿２から閉信号としての直流電圧ＶＣＣを出力させる。これにより、自動開閉器３において、コイルＬｐが励磁されてスイッチ回路３０が閉状態となり、高圧線４と高圧線５とが接続される。

一方、第１信号端子２３＿１～２３＿４に所定の電圧以上の交流電圧が印加されていない場合、データ処理制御部２２０は、自動開閉器３に対して電力が供給されていないと判定し、投入リレー２３０を制御して、制御端子２６＿２から開信号としてグラウンド電位（０Ｖ）に対応する電圧を出力させる。これにより、自動開閉器３において、コイルＬｐが励磁されず、スイッチ回路３０が開状態となり、高圧線４と高圧線５とが分離される。

また、データ処理制御部２２０は、第１電源監視回路２４０Ａおよび第２電源監視回路２４０Ｂによる判定信号ＳＶＡ，ＳＶＢに基づいて、電源切替回路２１０に対して選択すべき電源を指示する制御信号ＳＬを生成する。例えば、データ処理制御部２２０は、判定信号ＳＶＡに基づいてＡ電源が供給されていることを検出した場合には、Ａ電源を選択することを指示する制御信号ＳＬを生成して電源切替回路２１０に供給する。一方、データ処理制御部２２０は、判定信号ＳＶＡ，ＳＶＢに基づいて、Ａ電源が供給されておらず、Ｂ電源が供給されていることを検出した場合には、Ｂ電源を選択することを指示する制御信号ＳＬを生成して電源切替回路２１０に供給する。

なお、制御装置２の起動時等の初期状態においては、データ処理制御部２２０は、例えば、Ａ電源を選択することを指示する制御信号ＳＬを出力するものとする。

データ処理制御部２２０は、制御所の遠制親局からの指示に応じて、自動開閉器３の開閉を切り替える。例えば、データ処理制御部２２０は、遠制親局からの指示に応じて時限式事故捜査方式に基づく自動開閉器３の時限投入により、当該自動開閉器３に接続されている区間における事故の有無の判定と、当該判定後の同区間への電力供給の継続と遮断（開状態のロック）を制御する。

具体的に、データ処理制御部２２０は、配電系統において事故発生した場合、遠制親局からの指示に応じて投入リレー２３０を制御することにより、制御対象の自動開閉器３を開放する。次に、データ処理制御部２２０は、第１信号端子２３＿１～２３＿４に入力された電力供給状態信号Ｓｐに基づいて、配電系統の上流側（変電所側）の高圧線４に電力が供給されたことを検出した場合に、一定時間（Ｘ時限）経過後、自動開閉器３をオン状態とする。

次に、データ処理制御部２２０は、自動開閉器の投入後の一定時間（Ｙ時限）内に再度停電が発生するか否かを判定し、停電が発生した場合には自区間を事故区間と記憶し、投入リレー２３０を制御して制御対象の自動開閉器３を開（オフ）状態にロックする。一方、停電が発生しなかった場合には、投入リレー２３０を制御することにより、自動開閉器３を継続して閉（オン）状態とし、後段の区間（高圧線５）への電力供給を継続する。

ここで、制御装置２のコンデンサＣ１が劣化している場合について説明する。
例えば、電源監視回路２４０Ａを構成するコンデンサＣ１が劣化している場合、電源回路２４１から内部配線ＶＤＣＡに供給される直流電圧が安定せず、当該直流電圧が判定閾値を超えない虞がある。この場合、電源監視回路２４０Ａは、Ａ電源が制御装置２の第１電源端子２７Ａに供給されていないことを示す判定信号ＳＶＢ（例えばローレベル）を出力するので、データ処理制御部２２０は、Ａ電源が供給されているにも関わらず、Ｂ電源を選択する制御信号ＳＬを電源切替回路２１０に供給してしまう。

このように、コンデンサＣ１が劣化している場合、データ処理制御部２２０が、電源切替回路２１０に対する電源切替の指示や投入リレー２３０に対する自動開閉器３の開閉制御の指示等を正確に行うことができない虞がある。例えば、上述したように、時限式事故捜査方式による自動開閉器３の時限投入時に、Ａ電源が供給されているにも関わらず、一定時間（Ｘ時限）経過しても、制御装置２が自動開閉器３を閉状態に切り替えることができず、停電が継続する虞がある。

そこで、実施の形態１では、時限式事故捜査方式による自動開閉器３の時限投入時に停電が継続する要因の一つである、制御装置２のコンデンサＣ１の劣化状態を検査するために、試験装置１を用いる。

試験装置１は、制御装置２が自動開閉器３に接続されている状態を模擬した上で、制御装置２への電力の供給と遮断を切り換え可能とする装置である。この試験装置１を自動開閉器３の代わりに制御装置２に接続することにより、制御装置２に対して擬似的に自動開閉器３が接続されていることを認識させた上で、制御装置２への電力の供給と遮断を切り替えて、そのときの自動開閉器３に対する制御信号（直流電圧ＶＣＣ）を測定することにより、コンデンサＣ１の劣化状態を間接的に検査することが可能となる。以下、試験装置１の構成について詳細に説明する。

図３は、実施の形態１に係る検査方法で用いられる試験装置１の機能ブロック構成を示す図である。図３には、試験装置１および制御装置２の機能ブロック構成と、コンデンサＣ１の検査時における試験装置１と制御装置２との接続関係が示されている。

なお、図３では、試験装置１と制御装置２とが端子台９を介して互いに接続されている場合を示しているが、これに限られず、試験装置１と制御装置２とが直接接続されていてもよい。

図３に示すように、試験装置１は、電源スイッチ部１０、第１信号生成部１１、第２信号生成部１２、および複数の外部端子を備えている。ここで、試験装置１の上記機能部（電源スイッチ部１０、第１信号生成部１１、第２信号生成部１２、および複数の外部端子）は、例えば、各種電子部品が少なくとも一つのプリント基板上に配置されて、リード線やプリント配線等によって互いに接続されることにより、実現されている。

上記複数の外部端子は、第１模擬信号端子１３＿１～１３＿４、第２模擬信号端子１４＿１～１４＿３、電源入力端子１５Ａ，１５Ｂ、電源出力端子１６Ａ，１６Ｂ、およびコモン端子１７を含む。

電源スイッチ部１０は、電源入力端子１５Ａ，１５Ｂに供給された電源電圧を電源出力端子１６Ａ，１６Ｂに出力するか否かを切り替える機能部である。本検査時において、電源入力端子１５Ａ，１５Ｂは、上述した電源ケーブル８Ａ，８Ｂを介して電源装置６Ａ，６Ｂにそれぞれ接続される。電源装置６Ａは、Ａ電源としての交流電圧を電源入力端子１５Ａに供給し、電源装置６Ｂは、Ｂ電源としての交流電圧を電源入力端子１５Ｂに供給する。

電源スイッチ部１０は、具体的に、電源装置６Ａ，６Ｂの出力端子数に応じて設けられた複数のスイッチＳＷｐａ，ＳＷｐｂを含む。スイッチＳＷｐａ，ＳＷｐｂは、例えば手動スイッチである。

例えば、手動によりスイッチＳＷｐａをオンすることにより、電源入力端子１５Ａに供給された交流電圧（Ａ電源）が電源出力端子１６Ａに出力され、手動によりスイッチＳＷｐａをオフすることにより、電源入力端子１５Ａから電源出力端子１６Ａへの交流電圧（Ａ電源）の出力が停止する。

同様に、手動によりスイッチＳＷｐｂをオンすることにより、電源入力端子１５Ｂに供給された交流電圧（Ａ電源）が電源出力端子１６Ｂに出力され、手動によりスイッチＳＷｐｂをオフすることにより、電源入力端子１５Ｂから電源出力端子１６Ｂへの交流電圧（Ｂ電源）の出力が停止する。

図３に示すように、コンデンサＣ１の劣化状態の検査時において、試験装置１の電源出力端子１６Ａ，１６Ｂは、端子台９を介して、制御装置２の第１電源端子２７Ａおよび第２電源端子２７Ｂにそれぞれ接続される。また、コモン端子１７は、端子台９を介して、制御装置２のコモン端子２５に接続される。

試験装置１における電源スイッチ部１０のスイッチＳＷｐａ，ＳＷｐｂを切り替えることにより、制御装置２への電力の供給と遮断を切り替えることができる。

第１信号生成部１１は、自動開閉器３に接続されている高圧線４，５対する電力の供給状態を模擬する模擬電力供給状態信号Ｓｐｉを生成する機能部である。第１信号生成部１１は、例えば変圧器１１０を含む。例えば、第１信号生成部１１は、変圧器１１０によって、電源スイッチ部１０から供給された交流電圧をより低い交流電圧に変換し、模擬電力供給状態信号Ｓｐｉとして第１模擬信号端子１３＿１～１３＿４に出力する。これによれば、自動開閉器３から出力される電力供給状態信号Ｓｐを模擬した信号を、簡単な回路構成で、容易に生成することが可能となる。

図３に示すように、コンデンサＣ１の劣化状態の検査時において、試験装置１の第１模擬信号端子１３＿１～１３＿４は、端子台９を介して、制御装置２の第１信号端子２３＿１～２３＿４にそれぞれ接続される。これにより、模擬電力供給状態信号Ｓｐｉが制御装置２のデータ処理制御部２２０に入力され、自動開閉器３に対する電力の供給状態を擬似的に制御装置２に伝えることが可能となる。

第２信号生成部１２は、自動開閉器３の開閉状態を模擬する模擬開閉状態信号Ｓｃｉを生成する機能部である。第２信号生成部１２は、例えば、切替スイッチＳＷｑを含む。切替スイッチＳＷｑは、第１接点Ｔ６、第２接点Ｔ７、および第３接点Ｔ８を有し、第１接点Ｔ６の接続先を、第２接点Ｔ７と第３接点Ｔ８との間で切替可能である。切替スイッチＳＷｑは、例えば手動の三路スイッチである。

切替スイッチＳＷｑにおいて、第１接点Ｔ６、第２接点Ｔ７、および第３接点Ｔ８は、対応する第２模擬信号端子１４＿１～１４＿３にそれぞれ接続されている。すなわち、第１接点Ｔ６は第２模擬信号端子１４＿３に接続され、第２接点Ｔ７は第２模擬信号端子１４＿１に接続され、第３接点Ｔ８は第２模擬信号端子１４＿２に接続されている。

図３に示すように、コンデンサＣ１の劣化状態の検査時において、第２模擬信号端子１４＿１～１４＿３は、端子台９を介して、制御装置２の第２信号端子２４＿１～２４＿３にそれぞれ接続される。

上述したように、制御装置２の第２信号端子２４＿１，２４＿２は、それぞれ抵抗Ｒを介してグラウンド電位にプルダウンされ、第２信号端子２４＿３は、直流電圧ＶＣＣに接続されている。

したがって、試験装置１の切替スイッチＳＷｑにおいて第１接点Ｔ６と第２接点Ｔ７とが接続されたとき、制御装置２の第２信号端子２４＿１は、直流電圧ＶＣＣ（ハイレベル）となる。一方、このとき、切替スイッチＳＷｑの第３接点Ｔ８は開放（オープン）となるので、制御装置２の第２信号端子２４＿２は、グラウンド電位（ローレベル）となる。

このように、第２信号生成部１２を、第１接点Ｔ６の接続先を第２接点Ｔ７と第３接点Ｔ８との間で切替可能な切替スイッチＳＷｑによって構成することにより、自動開閉器３から出力される開閉状態信号Ｓｃを模擬した模擬開閉状態信号Ｓｃｉ信号を、簡単な回路構成で、容易に生成することが可能となる。

コンデンサＣ１の劣化状態の検査時において、図３に示すように、試験装置１とは別に、測定装置５０が制御装置２に接続される。測定装置５０は、コンデンサＣ１の劣化状態を示す信号を測定するための装置である。測定装置５０は、例えばメモリハイコーダである。

測定装置５０は、例えば、制御装置２の第１電源端子２７Ａ（試験装置１の電源出力端子１６Ａ）と制御装置２の第２信号端子２４＿３（試験装置１の第２模擬信号端子１４＿３）とにそれぞれ接続される。これにより、測定装置５０は、Ａ電源の電圧と制御装置２の第２信号端子２４＿３から出力される直流電圧ＶＣＣとを測定することができる。

次に、実施の形態１に係る、制御装置２内部のコンデンサＣ１の劣化状態の検査方法の流れを説明する。

図４は、実施の形態１に係る検査方法の流れを示すフロー図である。
先ず、図１に示したような検査対象の制御装置２と自動開閉器３とが設置された電柱８０がある現場において、自動開閉器３を自動制御モードから手動制御モードに切り替える（ステップＳ１）。これにより、自動開閉器３は、制御装置２からの制御信号によらず、自動開閉器３に設けられた手動操作部（例えばスイッチやレバー等）によって、スイッチ回路３０の開閉制御が可能となる。

ここでは、スイッチ回路３０が閉状態、すなわち高圧線４、５が互いに接続されている状態において、自動開閉器３を自動制御から手動制御に切り替える。これにより、ステップＳ１の作業後においても、高圧線４、５が互いに接続されている状態が維持される。

次に、制御装置２に接続されている各種ケーブルを取り外す（ステップＳ２）。具体的には、制御装置２の電源を落とし、制御装置２と自動開閉器３とを接続しているケーブル７および制御装置２と電源装置６Ａ，６Ｂとを接続している電源ケーブル８Ａ，８Ｂ等を制御装置２から取り外す。

次に、制御装置２と端子台９とを試験用のケーブルによって接続する（ステップＳ３）。このとき、端子台９は、例えば地上に設置され、試験用のケーブルによって電柱に設置されている制御装置２と接続される。

次に、試験装置１と端子台９とを別の試験用のケーブルによって接続する（ステップＳ４）。これにより、端子台９を介して、制御装置２の第１信号端子２３＿１～２３＿４と試験装置１の第１模擬信号端子１３＿１～１３＿４とが互いに接続され、制御装置２の第２信号端子２４＿１～２４＿３と試験装置１の第２模擬信号端子１４＿１～１４＿３とが互いに接続され、制御装置２の第１電源端子２７Ａおよび第２電源端子２７Ｂと試験装置１の電源出力端子１６Ａおよび電源出力端子１６Ｂと、制御装置２のコモン端子２５と試験装置１のコモン端子１７とが互いに接続される。

なお、このとき、試験装置１の電源スイッチ部１０（スイッチＳＷｐａ，ＳＷｐｂ）を開（オフ）状態にしておく。また、第２信号生成部１２の切替スイッチＳＷｑの第１接点Ｔ６と第２接点Ｔ７とを接続しておくことが好ましい。

次に、測定装置５０を端子台９に接続する（ステップＳ５）。具体的には、端子台９を介して、制御装置２の第１電源端子２７Ａと第２状態信号端子３８＿３が、測定装置５０にそれぞれ接続される。

次に、電源ケーブルによって、試験装置１と電源装置６Ａ，６Ｂとを接続する（ステップＳ６）。具体的には、電源装置６Ａの出力端子と試験装置１の電源入力端子１５Ａとを電源ケーブルによって接続し、電源装置６Ｂの出力端子と試験装置１の電源入力端子１５Ｂとを電源ケーブルによって接続する。
以上のステップにより、制御装置２の検査に必要な試験装置１等との接続作業が完了する。なお、上述したステップＳ３～Ｓ５は、適宜順番を入れ替えてもよい。

次に、制御装置２を起動する（ステップＳ７）。例えば、制御装置２の起動用レバーおよびブレーカ用レバーを切り替えて、制御装置２を起動する。

次に、試験装置１の電源スイッチ部１０の各スイッチＳＷｐａ，ＳＷｐｂを“開（オフ）状態”から“閉（オン）状態”に切り替える（ステップＳ８）。これにより、試験装置１を介してＡ電源およびＢ電源（交流電圧）が制御装置２の電源回路２００に供給される。このとき、電源切替回路２１０は、Ａ電源を選択して電源回路２００に供給し、電源回路２００は、入力されたＡ電源に基づいて直流電圧ＶＣＣ，ＶＤＤを生成し、制御装置２の内部回路に供給する。これにより、データ処理制御部２２０等の内部回路が動作を開始する。

また、制御装置２において、電源監視回路２４０Ａは、第１電源端子２７ＡにＡ電源が供給されていることを示す判定信号ＳＶＡをデータ処理制御部２２０に対して出力する。同様に、電源監視回路２４０Ｂは、第２電源端子２７ＢにＢ電源が供給されていることを示す判定信号ＳＶＢをデータ処理制御部２２０に対して出力する。

データ処理制御部２２０は、判定信号ＳＶＡ，ＳＶＢに基づいて、Ａ電源およびＢ電源が制御装置２に供給されていると判定し、Ａ電源の選択を指示する制御信号ＳＬを電源切替回路２１０に出力する。これにより、電源切替回路２１０は、引き続き、Ａ電源を選択して電源回路２００に供給する。

また、このとき、試験装置１から出力された各種模擬信号が制御装置２に入力される。
具体的には、試験装置１の第１信号生成部１１によって模擬電力供給状態信号Ｓｐｉとして所定の大きさの交流電圧が生成され、試験装置１の第１模擬信号端子１３＿１～１３＿４から制御装置２の第１信号端子２３＿１～２３＿４に入力される。これにより、制御装置２のデータ処理制御部２２０は、高圧線４，５に電力が供給されている状態であると認識する。

また、試験装置１の第２信号生成部１２によって模擬開閉状態信号Ｓｃｉが生成され、試験装置１の第２模擬信号端子１４＿１，１４＿２から制御装置２の第２信号端子２４＿１，２４＿２に入力される。例えば、第２信号生成部１２の切替スイッチＳＷｑの第１接点Ｔ６と第２接点Ｔ７とを短絡し、第３接点Ｔ８を開放状態とすることにより、制御装置２の第２信号端子２４＿１が直流電圧ＶＣＣ（ハイレベル）、第２信号端子２４＿２がグラウンド電位（ローレベル）となる。これにより、制御装置２のデータ処理制御部２２０は、自動開閉器３（スイッチ回路３０）が閉（オン）状態であると認識する。

このように試験装置１の各種模擬信号が制御装置２に入力されることにより、データ処理制御部２２０は、高圧線４，５に電力が供給された状態であると判定し、投入リレー２３０を閉状態に制御する。すなわち、データ処理制御部２２０は、投入リレー２３０を制御して制御端子２６＿２から直流電圧ＶＣＣに相当する電圧レベルの閉信号（制御信号）を出力させる。

次に、測定装置５０を用いて、閉信号として直流電圧ＶＣＣに相当する電圧（例えば、約９０Ｖ）が制御装置２の制御端子２６＿２から出力されていることを確認する（ステップＳ９）。

次に、試験装置１の電源スイッチ部１０のスイッチＳＷｐａを“閉（オン）状態”から“開（オフ）状態”に切り替える（ステップＳ１０）。これにより、試験装置１の電源出力端子１６Ａから制御装置２の第１電源端子２７ＡへのＡ電源の供給が停止する。このとき、試験装置１の電源スイッチ部１０のスイッチＳＷｐ２は“閉（オン）状態”であるので、試験装置１の電源出力端子１６Ｂから制御装置２の第２電源端子２７ＢへのＢ電源の供給は継続して行われる。

次に、測定装置５０によって信号端子２４＿３の電圧の時間変化を測定する（ステップＳ１１）。具体的には、ステップＳ１０において制御装置２へのＡ電源の供給を停止してから、信号端子２４＿３に電圧が再投入されるまでの時間、すなわちＡ電源に基づいて生成されていた直流電圧ＶＣＣがＢ電源に基づいて生成された直流電圧ＶＣＣに切り替わるまでの時間を計測する。より具体的には、ステップＳ１１において、ステップＳ１０で制御装置２へのＡ電源の供給を停止した時刻ｔａから、制御端子２６＿１の電圧が再び上昇する時刻ｔｂまでの時間を測定し、その時間を“Ｔａｂ”とする。

図５Ａおよび図５Ｂは、実施の形態１に係る制御装置２の信号端子２４＿３から出力される直流電圧ＶＣＣの時間的な変化を示す図である。

図５Ａおよび図５Ｂにおいて、縦軸は電圧を表し、横軸は時間を表している。参照符号５００，５０１は、制御装置２の第１電源端子２７Ａに入力される交流電圧、すなわちＡ電源（ＡＣ２００Ｖ）の波形を表している。参照符号５０２，５０３は、制御装置２の信号端子２４＿３から出力される電圧、すなわち直流電圧ＶＣＣ（ＤＣ９０Ｖ）を表している。図５Ａには、コンデンサＣ１が劣化していない場合の波形が示され、図５Ｂには、コンデンサＣ１の劣化が進んだ場合の波形が示されている。

図５Ａおよび図５Ｂに示すように、時刻ｔａにおいて、試験装置１のスイッチＳＷｐａが“閉（オン）”から“開（オフ）”に切り替わったとき、制御装置２へのＡ電源（ＡＣ２００Ｖ）の供給が停止する。これにより、制御装置２において、電源切替回路２１０から電源回路２００への交流電圧（Ａ電源）の供給が停止するため、電源切替回路２１０は、直流電圧ＶＣＣを生成することができず、信号端子２４＿３から出力される直流電圧ＶＣＣが低下し始める。

同様に、電源監視回路２４０Ａにおいても交流電圧（Ａ電源）の供給が停止するため、電源回路２４１が直流電圧を生成することができない。その結果、内部配線ＶＤＣＡの直流電圧は、コンデンサＣ１の放電に伴い、低下する。これにより、電源監視回路２４０Ａの電圧判定回路２４２は、Ａ電源が制御装置２に供給されていないことを示す判定信号ＳＶＡをデータ処理制御部２２０に対して出力する。一方、Ｂ電源は制御装置２に供給され続けているので、電源監視回路２４０Ｂの電圧判定回路２４２は、Ｂ電源が制御装置２に供給されていることを示す判定信号ＳＶＢを、データ処理制御部２２０に対して引き続き出力する。

データ処理制御部２２０は、Ａ電源が制御装置２に供給されていないことを示す判定信号ＳＶＡとＢ電源が制御装置２に供給されていることを示す判定信号ＳＶＢに基づいて、制御信号ＳＬを切り替える。具体的には、データ処理制御部２２０は、Ａ電源を選択することを示す制御信号ＳＬ（例えばハイレベル）から、Ｂ電源を選択することを指示する制御信号ＳＬ（ローレベル）に切り替える。電源切替回路２１０は、制御信号ＳＬの切り替わりに応じて、第２電源端子２７Ｂに供給されている交流電圧（Ｂ電源）を選択し、電源回路２００に供給する。これにより、電源回路２００は、Ｂ電源に基づいて直流電圧ＶＣＣの生成を再開する。

電源回路２００によって生成された直流電圧ＶＣＣは、再び、制御装置２の内部回路に供給される。これにより、信号端子２４＿３に直流電圧ＶＣＣが再び供給され、信号端子２４＿３の電圧が上昇する。例えば、図５Ａおよび図５Ｂの参照符号５０２および５０３に示すように、時刻ｔａにおいて、試験装置１におけるスイッチＳＷｐ１の“閉（オン）”から“開（オフ）”への切り替わりによってＡ電源の供給が停止した後、上述したように電源回路２００がソースとなる交流電圧をＡ電源からＢ電源に切り替えて直流電圧ＶＣＣの生成を再開することにより、時刻ｔｂにおいて、信号端子２４＿３への直流電圧ＶＣＣが上昇する。

ここで、制御装置２においてＡ電源の供給が停止してから信号端子２４＿３への電圧（直流電圧ＶＣＣ）が上昇するまでの時間Ｔａｂは、コンデンサＣ１が劣化する程、短くなる。その理由を以下に示す。

コンデンサＣ１が劣化して容量が低下している場合、Ａ電源の停止後にコンデンサＣ１が内部配線ＶＤＣＡの電圧を維持できる能力が低下するため、当該電圧が低下する速度が速くなる。これにより、第１電源監視回路２４０Ａの電圧判定回路２４２による判定信号ＳＶＡの論理レベルが切り替わるタイミングが速まるので、データ処理制御部２２０は、コンデンサＣ１が劣化していない場合に比べて、より速やかに、Ａ電源の供給が停止したことを認識し、電源切替回路２１０に対して電源の切り替え指示を出力する。その結果、電源回路２００がＡ電源に基づく直流電圧ＶＣＣの生成を停止してからＢ電源に基づく直流電圧ＶＣＣの生成を再開するまでの時間、すなわち時間Ｔａｂが短くなる。

このように、時間Ｔａｂは制御装置２内のコンデンサＣ１の静電容量に依存するので、時間Ｔａｂを測定することにより、間接的に、コンデンサＣ１の劣化状態を検査することができる。

例えば、コンデンサＣ１が劣化していない制御装置２において測定した時間Ｔｂを基準値とし、検査対象の制御装置２において測定した時間Ｔａｂと上記基準値とを比較して、時間Ｔａｂが上記基準値に対してどの程度短くなっているかを調査することにより、コンデンサＣ１の劣化の程度を推定することができる。

以上、実施の形態１に係る、制御装置２のコンデンサＣ１の劣化状態の検査方法によれば、従来技術のように制御装置２を分解してコンデンサＣ１を取り外すことなく、コンデンサＣ１の劣化状態を容易に検査することが可能となる。

具体的には、先ず、電源入力端子１５Ａ，１５Ｂおよび電源出力端子１６Ａ，１６Ｂと、電源入力端子１５Ａ，１５Ｂに供給された電圧を電源出力端子１６Ａ，１６Ｂに出力するか否かを切り替える電源スイッチ部１０とを備える試験装置１を、制御装置２に接続する。
これによれば、制御装置２に対して、Ａ電源およびＢ電源が制御装置２に供給されている状態からＡ電源のみを遮断させる状況を作り出すことが容易となる。

また、試験装置１に、自動開閉器３に接続される高圧線４，５に対する電力の供給状態を模擬する模擬電力供給状態信号Ｓｐｉを生成する第１信号生成部１１と、自動開閉器３の開閉状態を模擬する模擬開閉状態信号Ｓｃｉを生成する第２信号生成部１２とを更に設けた上で、試験装置１と制御装置２とを接続する。
これによれば、制御装置２に対して、擬似的に、自動開閉器３が接続されている状態を認識させることが可能となる。

より具体的には、試験装置１の第１信号生成部１１によって生成された模擬電力供給状態信号Ｓｐｉを制御装置２に入力することにより、自動開閉器３に接続される高圧線４，５に電力が供給されていること（非停電状態）を、擬似的に、制御装置２のデータ処理制御部２２０に認識させることができる。また、試験装置１の第２信号生成部１２によって生成された模擬開閉状態信号Ｓｃｉを制御装置２に入力することにより、自動開閉器３（スイッチ回路３０）が閉（オン）状態であることを、擬似的に、制御装置２のデータ処理制御部２２０に認識させることができる。

次に、上述したように、試験装置１の電源スイッチ部１０を切り替えることにより、制御装置２にＡ電源とＢ電源が供給されている状態において、制御装置２へのＡ電源の供給を遮断する。これによれば、制御装置２に対して、自動開閉器３が接続されている状態を認識させた上で、自動開閉器３の制御中にＡ電源の供給が遮断され、Ｂ電源のみが供給されている状況を擬似的に作り出すことができる。

更に、その状況下において、測定装置５０によって、制御装置２の信号端子２４＿３から出力される直流電圧ＶＣＣの時間変化を測定することにより、コンデンサＣ１の劣化状態を容易に検査することが可能となる。
すなわち、上述したように、Ａ電源の遮断後の直流電圧ＶＣＣの時間変化はコンデンサＣ１の静電容量に依存するので、直流電圧ＶＣＣの時間変化を測定することにより、コンデンサＣ１の静電容量の劣化状態を容易に検査することができる。

より具体的には、上述したように、試験装置１の電源スイッチ部１０によって制御装置２へのＡ電源の供給を停止してから信号端子２４＿３から出力される直流電圧ＶＣＣが上昇するまでの時間Ｔａｂを計測することにより、制御装置２を分解してコンデンサＣ１を制御装置２から取り外してコンデンサＣ１単体の特性を測定することなく、間接的にコンデンサＣ１の劣化状態を容易に検査することが可能となる。

≪実施の形態２≫
図６は、実施の形態２に係る検査方法による検査対象の制御装置の機能ブロック構成を示す図である。図６には、実施の形態２に係る制御装置２ａと自動開閉器３の機能ブロック構成と、制御装置２ａ内の安定化容量としてのコンデンサＣ１の検査時における自動開閉器３と制御装置２ａとの接続関係が示されている。

図６に示すように、実施の形態２に係る制御装置２ａは、実施の形態１に係る制御装置２と、内部回路の構成の一部が相違する。具体的には、制御装置２ａは、内部回路として、電源回路２０１、データ処理制御部２２１、投入リレー２３０、および搬送波生成回路２６０を有する。また、制御装置２ａは、外部端子として、後述する搬送波を出力するための搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂを更に有している。

電源回路２０１は、第１電源端子２７Ａに供給されたＡ電源または第２電源端子２７Ｂに供給されたＢ電源の何れか一方の電圧（交流電圧）に基づいて、直流電圧ＶＣＣおよび直流電圧ＶＤＤ（＜ＶＣＣ）を生成する。電源回路２０１は、例えばＡＣ／ＤＣコンバータである。

電源回路２０１によって生成された直流電圧ＶＣＣは、自動開閉器３の閉（オン）状態を指示する閉信号として投入リレー２３０に供給されるとともに、制御装置２ａの内部回路の基準電圧としても利用される。

電源回路２０１によって生成された直流電圧ＶＤＤは、内部配線に供給され、当該内部配線を介してデータ処理制御部２２１や搬送波生成回路２６０等の電源電圧として供給される。

以下の説明において、参照符号「ＶＤＤ」は、直流電圧のみならず、当該直流電圧が供給される内部配線を示すものとする。

内部配線ＶＤＤとグラウンド電位ＧＮＤとの間にコンデンサＣ１が接続されている。コンデンサＣ１は、内部配線ＶＤＤに供給される直流電圧を安定化させるための安定化容量として機能する。なお、図６では、内部配線ＶＤＤとグラウンド電位との間に１つのコンデンサＣ１が接続される場合が例示されているが、コンデンサＣ１の個数は適宜変更可能である。

データ処理制御部２２１は、実施の形態１に係るデータ処理制御部２２０と同様に、制御装置２ａの統括的な制御を行うための機能部であり、例えば、ＭＣＵである。データ処理制御部２２１は、データ処理制御部２２０と同様に、電力供給状態信号Ｓｐ、模擬電力供給状態信号Ｓｐｉに基づいて自動開閉器３に対する電力の供給状態を判定するとともに、投入リレー２３０を制御して自動開閉器３の開閉を制御する。

搬送波生成回路２６０は、外部に自動開閉器３および制御装置２ａの状態を通知するための搬送波を生成する回路である。搬送波生成回路２６０は、内部配線ＶＤＤに供給された直流電圧ＶＤＤに応じた振幅を有する搬送波を生成して搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂから出力する。

ここで、実施の形態２に係る制御装置２ａのコンデンサＣ１が劣化している場合について説明する。
例えば、コンデンサＣ１が劣化している場合、電源回路２０１から内部配線ＶＤＤに供給される直流電圧ＶＤＤが安定しない。これにより、直流電圧ＶＤＤから給電を受けるデータ処理制御部２２１は正常に動作することができず、投入リレー２３０に対する自動開閉器３の開閉制御の指示等を正確に行うことができない虞がある。例えば、上述したように、時限式事故捜査方式による自動開閉器３の時限投入時に、Ａ電源が供給されているにも関わらず、一定時間（Ｘ時限）経過しても、制御装置２ａが自動開閉器３を閉状態に切り替えることができず、停電が継続する虞がある。

そこで、実施の形態２では、実施の形態１と同様に、制御装置２ａのコンデンサＣ１の劣化状態を検査するために試験装置１を用いる。以下、試験装置１を用いた、実施の形態２に係る制御装置２ａのコンデンサＣ１の劣化状態の検査方法について説明する。

図７は、実施の形態２に係る検査方法で用いられる試験装置１と制御装置２ａとの接続関係を示す図である。
図８は、実施の形態２に係る検査方法の流れを示すフロー図である。

先ず、実施の形態２に係る検査方法において、図１に示す現場において制御装置２ａと自動開閉器３とを電気的に切り離し、試験装置１を接続した制御装置２ａを再起動するまでの手順は、実施の形態２に係る検査方法におけるステップＳ１～ステップＳ８と同様である。ただし、ステップＳ５では、端子台９を介して、制御装置２ａの搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂおよび信号端子２４＿３が、測定装置５０にそれぞれ接続される。

ステップＳ８において、試験装置１の電源スイッチ部１０の各スイッチＳＷｐａ，ＳＷｐｂを“開（オフ）状態”から“閉（オン）状態”に切り替えたとき、試験装置１を介してＡ電源およびＢ電源（交流電圧）が制御装置２ａの電源回路２０１に供給される。

電源回路２０１は、入力されたＡ電源およびＢ電源のうちＡ電源に基づいて、直流電圧ＶＣＣ，ＶＤＤを生成し、制御装置２ａの内部回路に供給する。これにより、データ処理制御部２２１等の内部回路が動作を開始する。このとき、搬送波生成回路２６０は、直流電圧ＶＤＤに応じた搬送波を生成して搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂに出力する。

ステップＳ８の後、測定装置５０を用いて、搬送波が制御装置２ａの搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂから出力されていることを確認する（ステップＳ９Ａ）。

次に、試験装置１ａの電源スイッチ部１０のスイッチＳＷｐａ，ＳＷｐｂを“閉（オン）状態”から“開（オフ）状態”に切り替える（ステップＳ１０）。これにより、試験装置１ａの電源出力端子１６Ａ，電源出力端子１６Ｂから制御装置２ａの第１電源端子２７Ａおよび第２電源端子２７ＢへのＡ電源およびＢ電源の供給が停止する。

次に、測定装置５０によって搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂから出力されている搬送波の時間変化を測定する（ステップＳ１１Ａ）。具体的には、ステップＳ１０において制御装置２ａへのＡ電源およびＢ電源の供給を停止してから、搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂからの搬送波の出力が停止するまでの時間を測定する。

図９Ａおよび図９Ｂは、実施の形態２に係る制御装置２ａの搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂから出力される搬送波の時間的な変化を示す図である。図９Ａには、コンデンサＣ１が劣化していない場合の搬送波（搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂ間の電圧）の波形が示され、図９Ｂには、コンデンサＣ１の劣化が進んだ場合の搬送波（搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂ間の電圧）の波形が示されている。

図９Ａおよび図９Ｂにおいて、縦軸は電圧を表し、横軸は時間を表している。参照符号９００，９０１は、制御装置２ａの第１電源端子２７Ａに入力される交流電圧、すなわちＡ電源（ＡＣ２００Ｖ）の波形を表している。参照符号９０２，９０３は、制御装置２ａの搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂ間の電圧、すなわち搬送波を表している。

図９Ａおよび図９Ｂに示すように、時刻ｔｃにおいて、試験装置１のスイッチＳＷｐａ，ＳＷｐｂが“閉（オン）”から“開（オフ）”に切り替わったとき、制御装置２ａへのＡ電源の供給が停止する。これにより、制御装置２ａにおいて、電源回路２０１による直流電圧ＶＤＤの生成が停止し、コンデンサＣ１からの放電により直流電圧ＶＤＤが徐々に低下し、搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂから出力される搬送波の振幅が低下し始める。

その後、直流電圧ＶＤＤが更に低下し、搬送波生成回路２６０が動作可能な電圧を下回ったとき、搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂからの搬送波の出力が停止する。例えば、図９Ａおよび図９Ｂに示すように、搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂの電圧が急峻に変化した時刻ｔｄにおいて、搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂからの搬送波の出力が停止したと判定し、時刻ｔｃから時刻ｔｄまでの時間Ｔｃｄを測定する。

ここで、図９Ａおよび図９Ｂにおける時刻ｔｃから時刻ｔｄまでの時間Ｔｃｄは、制御装置２ａへのＡ電源およびＢ電源（ＡＣ２００Ｖ）の遮断によって直流電圧ＶＤＤの生成が停止してから、直流電圧ＶＤＤが搬送波生成回路２６０の動作可能な電圧を下回った時点までの時間を表している。

この時間Ｔａｂは、電源回路２０１から直流電圧ＶＤＤが供給される内部配線ＶＤＤに接続されるコンデンサＣ１の容量に依存する。すなわち、コンデンサＣ１が劣化して容量が低下すると、制御装置２ａへのＡ電源およびＢ電源の停止後に、電源回路２０１から内部配線ＶＤＤに供給される直流電圧ＶＤＤを維持可能な時間、すなわち時間Ｔｃｄが短くなる。

例えば、図９Ａおよび図９Ｂに示すように、コンデンサＣ１が劣化した制御装置２ａの搬送波（直流電圧ＶＤＤ）に係る時間Ｔｃｄは、コンデンサＣ１が劣化していない制御装置２ａの搬送波（直流電圧ＶＤＤ）に係る時間Ｔｃｄに比べて短くなる。
したがって、時間Ｔｃｄを測定することにより、間接的に、制御装置２ａ内部のコンデンサＣ１の劣化状態を検査することが可能となる。

例えば、コンデンサＣ１が劣化していない制御装置２ａにおいて測定した時間Ｔｃｄを基準値とし、検査対象の制御装置２ａにおいて測定した時間Ｔｃｄと上記基準値とを比較して、時間Ｔｃｄが上記基準値に対してどの程度短くなっているかを調査することにより、コンデンサＣ１の劣化の程度を推定することができる。

以上、実施の形態２に係る、制御装置２ａのコンデンサＣ１の劣化状態の検査方法によれば、試験装置１の第１信号生成部１１によって生成された模擬電力供給状態信号Ｓｐｉを制御装置２ａに入力し、試験装置１の第２信号生成部１２によって生成された模擬開閉状態信号Ｓｃｉを制御装置２ａに入力した上で、試験装置１の電源スイッチ部１０を閉状態から開状態に切り替えることにより、制御装置２ａに自動開閉器３が接続されている状態において、制御装置２ａへのＡ電源およびＢ電源の供給を遮断した状況を擬似的に作り出すことができる。

更に、制御装置２ａへのＡ電源およびＢ電源の供給の遮断後に、制御装置２ａの搬送波生成回路２６０によって生成されて搬送波出力端子２９Ａ，２９Ｂから出力される直流電圧ＶＤＤに応じた振幅を有する搬送波の時間変化（時間Ｔｃｄ）を測定することにより、コンデンサＣ１の劣化状態を容易に検査することが可能となる。

具体的には、上述したように、制御装置２ａへのＡ電源およびＢ電源の供給が停止してから搬送波の出力が停止するまでの時間Ｔｃｄは、制御装置２ａへのＡ電源およびＢ電源の供給停止後にコンデンサＣ１が直流電圧ＶＤＤを維持できる能力、すなわちコンデンサＣ１の静電容量に依存するので、測定装置５０によって搬送波の時間変化（時間Ｔｃｄ）を測定することにより、制御装置２ａを分解してコンデンサＣ１を取り外してコンデンサＣ１単体の特性を測定することなく、コンデンサＣ１の劣化状態を容易に検査することが可能となる。

≪実施の形態の拡張≫
以上、本発明者らによってなされた発明を実施の形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。

例えば、上記実施の形態では、試験装置１における電源スイッチ部１０のスイッチＳＷｐａ，ＳＷｐｂや第２信号生成部１２の切替スイッチＳＷｑを手動により切り替える場合を例示したが、これに限れられず、スイッチＳＷｐａ，ＳＷｐｂや切替スイッチＳＷｑを外部から入力された信号によって切り替えてもよい。

例えば、試験装置１をパーソナルコンピュータ等の情報処理装置と接続し、その情報処理装置が試験装置１に信号を送信することにより、スイッチＳＷｐａ，ＳＷｐｂや切替スイッチＳＷｑのオン／オフを切り替えるようにしてもよい。この場合、測定装置５０も上記情報処理装置に接続し、上記情報処理装置が測定装置５０から測定結果のデータを取得するようにしてもよい。これによれば、瞬時停電の発生から時間Ｔａｂの測定までの処理（例えば、図４におけるステップＳ８～Ｓ１１と図８におけるステップＳ８～Ｓ１１Ａ）を上記情報処理装置によって自動的に行うことが可能となる。

１…試験装置、２…制御装置、３…自動開閉器、４，５…高圧線、６Ａ，６Ｂ…電源装置、７…ケーブル、８Ａ，８Ｂ…電源ケーブル、９…端子台、１０…電源スイッチ部、１１…第１信号生成部、１２…第２信号生成部、１３＿１～１３＿４…第１模擬信号端子、１４＿１～１４＿３…第２模擬信号端子、１５Ａ，１５Ｂ…電源入力端子、１６Ａ，１６Ｂ…電源出力端子、１７…コモン端子、２３＿１～２３＿４…第１信号端子、２４＿１～２４＿３…第２信号端子、２５…コモン端子、２６＿１，２６＿２…制御端子、２７Ａ…第１電源端子、２７Ｂ…第２電源端子、２９Ａ，２９Ｂ…搬送波出力端子（信号端子）、３０，３１…スイッチ回路、３２…スイッチ制御部、３４…電力供給状態判定部、３５＿１～３５＿３…一次側電源端子、３６＿１～３６＿３…二次側電源端子、３７＿１～３７＿４…第１状態信号端子、３８＿１～３８＿３…第２状態信号端子、３９＿１，３９＿２…制御信号入力端子、４０…コモン端子、５０…測定装置、８０…電柱、１１０…変圧器、２００，２０１，２４１…電源回路、２１０…電源切替回路、２２０，２２１…データ処理制御部、２３０…投入リレー、２４０Ａ…第１電源監視回路、２４０Ｂ…第２電源監視回路、２４２…電圧判定回路、２６０…搬送波生成回路、Ｃ１…コンデンサ、Ｌｐ…コイル、Ｓｃ…開閉状態信号、Ｓｃｉ…模擬開閉状態信号、ＳＬ…制御信号、Ｓｐ…電力供給状態信号、Ｓｐｉ…模擬電力供給状態信号、ＳＶＡ，ＳＶＢ…判定信号、ＶＣＣ…直流電圧、ＶＤＣＡ，ＶＤＣＢ…内部配線、ＶＤＤ…直流電圧（内部配線）。

Claims (5)

1. 自動開閉器を制御する制御装置内のコンデンサの劣化状態を試験装置を用いて検査する検査方法であって、
   前記制御装置は、
   電源端子および信号端子と、
   前記電源端子に供給された電圧に基づいて直流電圧を生成する電源回路と、
   前記電源回路によって生成された直流電圧が供給される内部配線と、
   前記内部配線に接続されたコンデンサと、
   前記直流電圧に応じた信号を前記信号端子から出力する内部回路と、を有し、
   前記試験装置は、
   電源入力端子および電源出力端子と
   前記電源入力端子に供給された電圧を前記電源出力端子に出力するか否かを切り替える電源スイッチ部と、を備え、
   前記試験装置の前記電源出力端子と前記制御装置の前記電源端子とを接続する第１ステップと、
   前記試験装置の前記電源スイッチ部によって、前記試験装置の前記電源出力端子から前記制御装置の前記電源端子へ電圧を供給する第２ステップと、
   前記第２ステップの後に、前記試験装置の前記電源スイッチ部によって、前記試験装置の前記電源出力端子からの前記電圧の供給を停止する第３ステップと、
   前記第３ステップの後に、測定装置によって、前記制御装置の前記信号端子の電圧の時間変化を測定する第４ステップと、を含む
   検査方法。
2. 請求項１に記載の検査方法において、
   前記制御装置は、
   電源切替回路と、第１電源監視回路と、第２電源監視回路とを更に備え、
   前記電源端子として、第１電源端子と第２電源端子とを含み、
   前記電源切替回路は、制御信号に基づいて、前記第１電源端子に供給された電圧と前記第２電源端子に供給された電圧の何れか一方を選択して出力し、
   前記電源回路として、前記第１電源端子に入力された電圧に基づいて直流電圧を生成する第１電源回路と、前記第２電源端子に入力された電圧に基づいて直流電圧を生成する第２電源回路と、前記電源切替回路から出力された電圧に基づいて直流電圧を生成する第３電源回路とを有し、
   前記内部配線として、前記第１電源回路によって生成された直流電圧が供給される第１内部配線と、前記第２電源回路によって生成された直流電圧が供給される第２内部配線とを有し、
   前記コンデンサとして、前記第１内部配線に接続される第１コンデンサと、前記第２内部配線に接続される第２コンデンサとを有し、
   前記第１電源監視回路は、前記第１内部配線の電圧に基づいて、前記第１電源端子に電圧が供給されているか否かを示す第１判定信号を出力し、
   前記第２電源監視回路は、前記第２内部配線の電圧に基づいて、前記第２電源端子に電圧が供給されているか否かを示す第２判定信号を出力し、
   前記内部回路は、前記第１電源監視回路から前記第１電源端子に電圧が供給されていることを示す第１判定信号が出力されている場合に、前記第１電源端子に供給された交流電圧を選択することを指示する前記制御信号を出力し、前記第１電源監視回路から前記第１電源端子に電圧が供給されていないことを示す第１判定信号が出力され、且つ前記第２電源監視回路から前記第２電源端子に電圧が供給されていることを示す第２判定信号が出力された場合に、前記第２電源端子に供給された電圧を選択することを指示する前記制御信号を出力し、
   前記内部回路は、前記直流電圧に応じた信号として、前記第３電源回路によって生成された直流電圧を前記信号端子から出力する
   ことを特徴とする検査方法。
3. 請求項２に記載の検査方法において、
   前記第４ステップは、前記測定装置によって、前記第３ステップにおいて前記第１電源端子への電力供給を停止してから前記制御装置の前記信号端子が上昇するまでの時間を測定するステップと、を含む
   ことを特徴とする検査方法。
4. 請求項１に記載の検査方法において、
   前記内部回路は、前記直流電圧に応じた信号として、前記内部配線に供給された直流電圧に応じた振幅を有する搬送波を生成して前記信号端子から出力し、
   前記第４ステップにおいて、前記測定装置によって、前記搬送波の時間変化を測定する
   ことを特徴とする検査方法。
5. 請求項４に記載の検査方法において、
   前記第４ステップは、前記測定装置によって、前記第３ステップにおいて、前記試験装置の前記電源出力端子からの電圧の供給を停止してから、前記信号端子からの前記搬送波の出力が停止するまでの時間を測定するステップと、を含む
   ことを特徴とする検査方法。
   

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