JP7311702B2 - ガラス板および磁気ディスク - Google Patents
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Description
磁気ディスク用ガラス基板を製造するとき、最終製品である磁気ディスク用ガラス基板の素となる円盤状のガラス素板の端面は、微細なパーティクルが主表面に付着して磁気ディスクの性能に悪影響を与えないためにも、パーティクルの発生しやすい端面の表面を滑らかにすることが好ましい。また、磁気ディスクを精度よくHDD装置に組み込む点から、さらには、ガラス基板の主表面に磁性膜を形成する際にガラス基板の外周端面を把持する治具の把持に適するように、ガラス板の端面を目標形状に揃えることが好ましい。
この面取り加工を行うとき、ガラス部材は、あらかじめ定めた支持台に載せた状態で支持台に固定して加熱した後、レーザー光をガラス部材の角部に照射することが一般的に行われる。
円盤形状のガラス板を基台から浮上させるステップと、
前記ガラス板を浮上させた状態で、前記ガラス板を非接触で加熱しながら、前記ガラス板の端面にレーザー光を照射し、前記端面に対して前記レーザー光を前記円盤形状のガラス板の周方向に相対的に移動しながら、前記端面を目標とする形状に加工するステップと、を含む。
本発明の一態様も、円盤形状のガラス板の端面に対して形状加工を行う処理を含むガラス板の製造方法である。当該製造方法は、
円盤形状のガラス板と基台とが非接触となるように配置するステップと、
前記雰囲気内に配置した前記ガラス板を非接触で加熱しながら、前記ガラス板の端面にレーザー光を照射し、前記端面に対して前記レーザー光を前記円盤形状のガラス板の周方向に相対的に移動しながら、前記端面を目標とする形状に加工するステップと、を含む。
その際、前記面取り面の前記主表面の径方向に沿った長さCの、前記ガラス板の厚さThに対する比であるC/Thが、0.1~0.7となるように、前記条件が設定される、ことが好ましい。
前記端面を目標とする形状に加工した後、前記主表面の研削あるいは研磨の前に、前記端面の研磨を行わない、あるいは、前記端面の研磨を行っても、前記端面の研磨による取り代量は5μm以下である、ことが好ましい。
このガラス板から、端面を目標形状に揃えたガラス板を作製するために、あるいは、ガラス板の端面と主表面の接続部分が角張ったエッジとならないように、ガラス板には、ガラス板の主表面と端面の接続部分に面取りを形成する形状加工が施される。
特に、円孔のあいた円盤形状の磁気ディスク用ガラス基板を製造するとき、最終製品である磁気ディスク用ガラス基板の素となる円盤状のガラス板の端面の形状は、磁気ディスクを精度よくHDD装置に組み込むために、さらには、ガラス基板の主表面に磁性膜を形成する際にガラス基板の端面を治具によって確実に把持するためにも、目標形状に揃えることが望ましい。さらに、微細なパーティクルが主表面に付着して磁気ディスクの性能に悪影響を与えないために、パーティクルの発生しやすい端面の表面を滑らかにすることが望ましい。このために、本実施形態では、面取りのための形状加工を行うために、レーザー光を用いる。
本実施形態では、ガラス板10を水平にした状態で、端面14にレーザー光を照射し、レーザー光Lを、円盤形状のガラス板10の周方向に端面14に対して相対的に移動しながら、端面14を目標形状に加工する。ガラス板10の主表面12を垂直にした状態でレーザー光Lを端面14に照射して端面14を目標形状に加工してもよい。ガラス板10の配置の向きは、特に制限されない。レーザー光Lは、例えば端面14の法線方向から端面14に照射される。レーザー光Lは、後述するレーザー光源20から出射したレーザー光Lを、コリーメータ等を含む光学系22を通して平行光とした後、集束レンズ24を介してレーザー光Lを集束させた後、拡張するレーザー光Lを端面14に照射する。
一方、ガラス板10は、ガラス板10の中心位置を回転中心として一定速度で回転させる。こうして、レーザー光Lと端面14とを、円盤形状のガラス板10の周方向にお互いに相対的に移動させながら、レーザー光Lはガラス板10の端面14の全周を照射する。ガラス板10を回転させる代わりに、レーザー光Lの照射位置を端面14に沿って移動させてもよく、レーザー光Lと端面14とを相対的に移動すればよい。
ここで、レーザー光Lの端面14への照射は、照射される端面14の位置の法線方向から行ってもよいし、法線方向から傾けてもよい。例えば、法線方向から45度以下の角度で傾けることができる。上記法線方向は、完全な法線方向(傾斜角度0度)の他に、法線方向に対する傾斜角度が10度以内の範囲内も許容範囲として含まれる。
上記所定の距離は、ガラス板10を支持台や支持具上に載置する際の位置のバラツキを考慮して、例えば5mm以上とすることができる。仮に所定の距離を5mmとした場合、中周部分は、外周端面から5mm以上離れていて、かつ、内周端面から5mm以上離れている、主表面12上の領域となる。
このようにすることで、支持台や支持具との接触部を通じてガラス板10からの熱の流出がなくなるので、ガラス板10を均一に加熱することが容易となる。その結果、ガラス板10の中周部分の熱履歴が揃いやすくなるので、中周部分における異常な歪みの発生を抑制することができる。
この場合、加工中浮上量が変化することがないように、浮上量を一定にする超音波の制御を行うことが好ましい。
一実施形態によれば、レーザー光Lを用いた形状加工前に行うガラス板10の事前加熱において、ガラス板は、主表面12の面内の中周部における温度差が50℃以下となるように非接触で加熱されることが好ましい。これにより、面取り面の形状を周上で均一に形成することができるとともに、リタデーション値の上記差を低減することができる。上記温度差は、20℃以下となるように非接触で加熱されることがより好ましい。
端面14に照射するレーザー光Lの断面強度分布はシングルモードであることが好ましい。すなわち、レーザー光Lの断面強度分布は、ガウス分布である。このようなレーザー光Lの、端面14における照射位置上の光束のガラス板10の厚さ方向の幅を、図2に示すようにW1[mm]とし、ガラス板10の厚さを図1,3に示すようにTh[mm]とし、レーザー光Lのパワー密度をPd[W/mm2]としたとき、レーザー光Lの照射では、W1>Thであって、Pd×Thは、0.8~3.5[W/mm]である条件を用いることが好ましい。ここで、レーザー光Lの光束は、ガラス板10の厚さ方向の両側にはみ出すように照射される。また、レーザー光Lの端面14の両側にはみ出す幅を同等とすることで、ガラス板10の厚さ方向の両側において面取りを均等に行うことができ、2つの面取り面14cの形状を同等にすることができる。パワー密度Pdは、レーザー光Lの全パワーP[W]を、レーザー光Lの照射する部分における光束の面積で割った値である。レーザー光Lの光束が、短軸半径がW1/2、長軸半径がW2/2である楕円形状(図2参照)を成している場合、パワー密度Pdは4×P/W1/W2/π[W/mm2](πは円周率)と規定される。
ここで、レーザー光Lの一例として、CO2レーザー光を用いるが、ガラスに対し吸収がある発振波長であればよく、CO2レーザー光に制限されない。例えば、COレーザー(発振波長~5μmや~10.6μm)、Er-YAGレーザー(発振波長~2.94μm)等が挙げられる。CO2レーザー光を用いる場合、波長は3μm以上とすることが好ましい。さらに、波長を11μm以下とするとより好ましい。波長が3μmよりも短いと、ガラスがレーザー光Lを吸収しにくくなり、ガラス板10の端面14を十分に加熱できない場合がある。また、波長が11μmより長いと、レーザー装置の入手が困難である場合がある。なお、レーザー光源20の発振形態は特に限定されず、連続発振光(CW光)、パルス発振光、連続発振光の変調光のいずれであってもよい。但し、パルス発振光および連続発振光の変調光の場合、レーザー光Lの相対的な移動速度が速い場合に移動方向に面取り面14cの形状のムラを生じる虞がある。その場合、発振および変調の周波数は1kHz以上が好ましく、より好ましくは5kHz以上、さらに好ましくは10kHz以上である。
光束の幅W1及び後述する長さW2は、レーザー光Lのガラス板10の照射位置を、例えば2枚のシリンドリカルレンズを用いて調整することで設定することができる。また、幅W1はビームプロファイラから求めることができ、長さW2は、ビームプロファイラによるビーム形状とガラス板の直径Dから求めることができる。
レーザー光Lの幅W1の、ガラス板10の厚さThに対する比であるTh/W1を大きくし過ぎる(すなわち、Th/W1が1に近づき過ぎる)と、レーザーの強度分布の勾配が急峻な範囲の影響を受け、ガラス板10のエッジ部分の加熱が弱くなるとともに、ガラス板10の端面14の厚さ方向の中心部分の加熱は強くなる。そのため、後述の球面形状の端面になりやすく好ましくない。また、Th/W1を小さくし過ぎると、端面14へのレーザー光Lによる加熱が小さくなり過ぎて面取り面14cの形成が困難になる場合がある。上記観点より、Th/W1は0.3~0.9の範囲内であることが好ましい。
一方、レーザー光Lのパワー密度Pdが過度に低い場合、端面14の加熱が十分でなく面取り面が形成されない。一方、パワー密度Pdが過度に高い場合、端面14全体が熱によって球形状に丸まり、球形状の厚さ方向の厚さが、ガラス板10の厚さThよりも大きくなる。
このため、照射の条件として、W1>Thとし、Pd×Th=0.8~3.5[W/mm]とすることが好ましい。Pd×Thは、3.0[W/mm]以下であることが好ましく、より好ましくは1.0~2.8[W/mm]であり、よりいっそう好ましくは1.2~2.3[W/mm]である。
Pd×Th=0.8~3.5[W/mm]とするので、ガラス板10の厚さThが薄くなり、照射条件がPd×Th=0.8~3.5[W/mm]からはずれる場合、パワー密度Pdを高めることを意味する。パワー密度Pdを高めることで、レーザー光Lによるガラス板10の照射面積が小さくなった分をパワー密度Pdで補うことができ、面取り面14cを形成することができる。
なお、ガラス板10の厚さ方向の両側に同じ形状の面取り面を同時に形成するために、レーザー光Lの幅方向の光束の中心位置を、ガラス板10の厚さ方向の、ガラス板10の真ん中の位置に合わせることが好ましい。
上述したようにPd×Thの値の範囲を制限して面取り面14cを形成することができるが、Pd×Thの値と移動速度の値とを制御して端面14にレーザー光Lを照射することにより、ガラス板10の端面14に、面取り面14cを効率よく形成することができる。また、Pd×Thの値と移動速度の値とをさらに詳細に制御することにより面取り面14cのみならず、ガラス板10の主表面12に垂直な面、すなわち側壁面14tを形成することができる。これにより、端面14の形状を、目標形状に対してばらつくことなく揃えることができる。しかも、端面14の表面を滑らかにすることができる。この場合、面取り面14c形成前のガラス板10の端面14は、ガラス板10の厚さ方向の少なくとも中心部において主表面12に対して垂直な面を有する。ガラス板10の端面14へのレーザー光Lの照射によってガラス板10の端面14の厚さ方向の両側のエッジ部(主表面12と端面14との境界部分)、例えば直角に曲がった角部を軟化及び/又は溶融させて、端面14のエッジ部を、丸みを帯びた形状に面取りするとともに、面取り後の端面14に、ガラス板10の厚さ方向の両側の面取り面に挟まれた主表面12に垂直な面(側壁面14t)を形成することができる。特に、端面14は、主表面12に垂直な長さが厚さThの10分の1以上の面(側壁面14t)と、面取り面14cとを備えることが好ましい。上記垂直な面(側壁面14t)の長さT(図4参照)は、厚さThの5分の1以上であることがより好ましい。
レーザー光Lの照射により面取り面14cとともに形成される上記垂直な面(側壁面14t)は、一実施形態によれば、レーザー光Lの照射により面取り面14cが形成される前の端面14の主表面12に垂直な面と異なり、新たに形成される面であり、表面粗さRzおよび算術平均粗さRaは、レーザー光Lの照射により低減する。また、円盤形状のガラス板10の中心位置から垂直な面(側壁面14t)までの半径方向の距離は大きくなる。
なお、主表面12に垂直な面(側壁面14t)とは、主表面12に対して90度±2度の範囲を許容範囲とする面である。
磁気ディスク用ガラス基板も、図1に示すガラス板10と同様に、円孔が設けられた円盤形状の薄板のガラス基板である。磁気ディスク用ガラス基板のサイズは問わないが、磁気ディスク用ガラス基板は、例えば、公称直径2.5インチや3.5インチの磁気ディスク用ガラス基板のサイズである。公称直径3.5インチの磁気ディスク用ガラス基板の場合、例えば、外径(公称値)は、95mm~97mmである。公称直径2.5インチの磁気ディスク用ガラス基板の場合、例えば、外径(公称値)は、65mm~67mmである。磁気ディスク用ガラス基板の厚さは、例えば0.20mm~0.65mm、好ましくは0.30mm~0.65mmであり、好ましくは、0.30mm~0.53mmである。このガラス基板の主表面上に磁性層が形成されて磁気ディスクが作られる。
側壁面14tは、主表面12に対して略直交する方向に延びる面である。略直交とは、主表面12に対する側壁面14tの傾斜角度が、88度~92度の範囲にあることをいう。面取り面14cは、主表面12と滑らかに接続されて、側壁面14tに向かって延びている。面取り面14cは、外側に向かって凸の湾曲形状を成して側壁面14tに滑らかに接続している。したがって、図4に示す面取り面14cの、主表面12の径方向に沿った長さC[mm]は、主表面12に対して傾斜角度2度超88度未満の範囲で傾斜した部分の長さである。
面取り面14cを主表面12の径方向及び厚さ方向に沿って切断したときの面取り面14cの曲線形状は、径方向外側に進むほど、面取り面14cの主表面12に対する傾斜角度が連続的に大きくなる形状を成している。
ガラスブランクを切り出す前の大きなシートガラスは、例えば、フローティング法あるいはダウンドロー法を用いて作製された一定の板厚のガラス板である。あるいは、ガラスの塊を、金型を用いてプレス成形したガラス板であってもよい。ガラス板の板厚は、最終製品である磁気ディスク用ガラス基板になる時の目標板厚に対して、研削及び研磨の取り代量の分だけ厚く、例えば、数μm~数100μm程度厚い。
なお、レーザー光を用いてガラスブランクを切り出す方法の他に、従来のように、スクライバを用いてガラス板に切り欠き線を形成し、加熱等によって切り欠き線に沿ってクラックを発生させて割断させる方法を用いてもよい。また、フッ酸等のエッチング液を用いたウェットエッチングによりガラスブランクを切り出してもよい。
この後、欠陥を形成したガラス板の、上記境界線を境にして外側部分と内側部分のうち、外側部分の加熱を、内側部分に比べて高めることにより、あるいは、外側部分を加熱することにより、ガラス板の外側部分と内側部分を分離する。
あるいは、レーザー光の照射によって、切断しようとする境界線上に沿って離散的に形成した欠陥が線状に連続するように、別種のレーザー光を上記境界線に沿って連続的に照射してもよい。例えば、別種のレーザー光として、CO2レーザーを用いることができる。このレーザー光によって、断続的に形成された欠陥をつなぐように線状の欠陥を形成することができる。この場合、必要に応じて、上記境界線を境にして外側部分と内側部分のうち、外側部分の加熱を、内側部分に比べて高めることにより、あるいは、外側部分を加熱することにより、ガラス板の外側部分と内側部分を分離する。こうして、シートガラスから円板形状のガラスブランクを切り出すことができる。このように形成した円板形状のガラスブランクの端面の表面粗さRzは、例えば1~10μmであり、算術平均粗さRaは例えば0.1~1μmである。
また、少なくとも厚さ方向の中心部において主表面12に対して垂直な面を有する面取り前のガラス板10の端面14に、レーザー光Lを照射することによってガラス板10の端面14のエッジ部を軟化及び/又は溶融させて、端面14のエッジ部を、丸みを帯びた形状になるように面取りするために、さらに、面取りをするとともに、面取り後の端面14においてもガラス板10の主表面12に垂直な面(側壁面14t)を形成するために、Pd×Thの値と移動速度の値とを制御して端面14にレーザー光Lを照射する。これにより、ガラス板10の端面14の形状を目標形状に対してばらつくことなく揃えることができ、主表面12に対して垂直な面(側壁面14t)及び面取り面14cを形成することができる。
図5(a)は、レーザー光Lの照射がない状態、すなわち、Pd=0[W/mm2]である例を示している。図5(b)は、Pd=1.9[W/mm2]の照射の条件、図5(c)は、Pd=4.0[W/mm2]の照射の条件における端面14の形状を示している。
図5(c)に示す端面14の部分は、球面形状となって、ガラス板10の外径が小さくなり、その分、ガラス板10の厚さ方向の長さが、ガラス板10の厚さ(主表面間の長さ)に比べて長くなり、一定の厚さを有するガラス基板として好ましくない形状である。
したがって、レーザー光Lの照射の条件は、端面14において、主表面12に対して略直交する側壁面14tと、側壁面14tの両側の端と、主表面12の端とを接続する面取り面14cと、を形成するように、照射の条件は設定される、ことが好ましい。ガラス板10の外径が小さくなり、あるいは、上記球面形状の厚さ方向の長さがガラス板10の厚さ(主表面間の長さ)に比べて長くなることがないように、例えば、パワー密度Pdの範囲は、1.2[W/mm2]~3.0[W/mm2]に設定されることが好ましい。
一実施形態によれば、端面14の目標形状として、側壁面14tの厚さ方向に沿った長さT[mm]の、厚さThに対する比であるT/Thが、0.1~0.8となるように、照射条件を設定することが好ましい。T/Thが、0.1未満の場合、側壁面14tの形成が不十分となり、ガラス板10の外径または内径の測定が難しくなるため、測定バラツキが発生して生産管理が困難になる恐れがある。また、C/Thが0.8超の場合、面取り面14cの形成が不十分となり、後の成膜工程等においてエッジがかけやすくなる恐れがある。
なお、移動速度は20~140mm/秒であるとより好ましい。移動速度が20mm/秒以上であると、Pd×Thの変化に対する端面14の形状の変化が比較的穏やかになる上、加工時間短縮により生産性が向上する。このため、移動速度は20~100mm/秒であるとより好ましい。
研削・研磨処理では、ガラス板10の研削後、研磨が行われる。
研削処理では、遊星歯車機構を備えた両面研削装置を用いて、ガラス板10の主表面12に対して研削加工を行う。具体的には、ガラス板10の外周端部の端面14を、両面研削装置の保持部材に設けられた保持孔内に保持しながらガラス板10の両側の主表面12の研削を行う。両面研削装置は、上下一対の定盤(上定盤および下定盤)を有しており、上定盤および下定盤の間にガラス板10が狭持される。そして、上定盤または下定盤のいずれか一方、または、双方を移動操作させ、クーラントを供給しながらガラス板10と各定盤とを相対的に移動させることにより、ガラス板10の両主表面12を研削することができる。
例えば、ダイヤモンドを樹脂で固定した固定砥粒をシート状に形成した研削部材を定盤に装着して研削処理をすることができる。
なお、化学強化処理の要否については、ガラス組成や必要性を考慮して適宜選択すればよい。第1研磨処理及び第2研磨処理の他にさらに別の研磨処理を加えてもよく、2つの主表面12の研磨処理を1つの研磨処理で済ませてもよい。また、上記各処理の順番は、適宜変更してもよい。
こうして、ガラス板10の主表面12を研磨して、磁気ディスク用ガラス板10に要求される条件を満足した磁気ディスク用ガラス基板を得ることができる。
この後、主表面12が研磨されて作製されたガラス板10に、少なくとも磁性層を形成して磁気ディスクが作製される。
ここで、磁気ディスク用ガラス基板の板厚を薄くすると、ガラス基板の剛性が低下して、大きな振動が発生しやすくなるとともに、その振動が収まり難い。ガラス基板の振動の振幅が大きいと、隣りに並ぶ磁気ディスクと接触する場合が多くなり、また、一定の間隔をあけて配置された複数枚の磁気ディスクの最上部に位置する磁気ディスクは、ハードディスクドライブ装置の磁気ディスク収納容器の天井面と接触する場合もある。このような接触において、磁気ディスクの一部が欠けてパーティクルを発生させる場合もある。
このため、磁気ディスク用ガラス基板の剛性が低いことは好ましくない。この点から、上述の形状加工に用いるガラス板10に関して、一実施形態によれば、ガラス板10のヤング率は、70[GPa]以上であることが好ましく、80[GPa]以上であることがより好ましく、90[GPa]以上であることがより一層好ましい。
また、ガラス板10を磁気ディスク用ガラス基板の素材とする場合、ガラス板10の厚さThは、0.7mm以下であることが好ましく、0.6mm以下であることがより好ましい。厚さThが小さくなるほど、ハードディスクドライブ装置内に搭載される磁気ディスクの枚数を枚増やすことができる。
SiO2 56~80モル%、
Li2O 1~10モル%、
B2O3 0~4モル%、
MgOとCaOの合計含有量(MgO+CaO) 9~40モル%、
である。
ガラス1の比重は2.75g/cm3以下、ガラス転移温度Tgは650℃以上である。
SiO2 56~80モル%、
Li2O 1~10モル%、
B2O3 0~4モル%、
MgOとCaOの合計含有量(MgO+CaO) 4~40モル%、
であり、
Al2O3含有量に対するSiO2とZrO2の合計含有量のモル比((SiO2+ZrO2)/Al2O3)が2~13、
である。
ガラス2の比重は2.50g/cm3以下、ガラス転移温度Tgは500℃以上、20℃における比弾性率は30GPa・cm3/g以上である。
モル%表示にて、
SiO2 56~65%、
Al2O3 5~20%、
B2O3 0~4%、
MgO 3~28%、
Li2O 1~10%、
を含有し、
SiO2とAl2O3 の合計含有量(SiO2+Al2O3) 65~80%、
MgOとCaOの合計含有量(MgO+CaO) 11~30%、
MgO、CaO、SrOおよびBaOの合計含有量(MgO+CaO+SrO+BaO) 12~30%、
MgO含有量、0.7×CaO含有量、Li2O含有量、TiO2含有量およびZrO2含有量の和(MgO+0.7CaO+Li2O+TiO2+ZrO2) 16%以上、
5×Li2O含有量、3×Na2O含有量、3×K2O含有量、2×B2O3含有量、MgO含有量、2×CaO含有量、3×SrO含有量およびBaO含有量の和(5Li2O+3Na2O+3K2O+2B2O3+MgO+2CaO+3SrO+BaO) 32~58%、
SiO2含有量、Al2O3含有量、B2O3含有量、P2O5含有量、1.5×Na2O含有量、1.5×K2O含有量、2×SrO含有量、3×BaO含有量およびZnO含有量の和(SiO2+Al2O3+B2O3+P2O5+1.5Na2O+1.5K2O+2SrO+3BaO+ZnO) 86%以下、及び
SiO2含有量、Al2O3含有量、B2O3含有量、P2O5含有量、Na2O含有量、K2O含有量、CaO含有量、2×SrO含有量および3×BaO含有量の和(SiO2+Al2O3+B2O3+P2O5+Na2O+K2O+CaO+2SrO+3BaO) 92%以下、
含有し、
MgO含有量に対するCaO含有量のモル比(CaO/MgO)が2.5以下、
Li2O含有量に対するNa2O含有量のモル比(Na2O/Li2O)が5以下、
MgOとCaOの合計含有量に対するLi2O含有量のモル比(Li2O/(MgO+CaO))が0.03~0.4、
Li2O、Na2OおよびK2Oの合計含有量に対するSiO2含有量のモル比(SiO2/(Li2O+Na2O+K2O))が4~22、
Al2O3 に対するSiO2とZrO2の合計含有量のモル比((SiO2+ZrO2)/Al2O3 )が2~10、
MgOとCaOの合計含有量に対するTiO2とAl2O3の合計含有量のモル比((TiO2+Al2O3)/(MgO+CaO))が0.35~2、
MgO、CaO、SrOおよびBaOの合計含有量に対するMgOとCaOの合計含有量のモル比((MgO+CaO)/(MgO+CaO+SrO+BaO))が0.7~1、
MgO、CaO、SrOおよびBaOの合計含有量に対するBaO含有量のモル比(BaO/(MgO+CaO+SrO+BaO))が0.1以下、
B2O3、SiO2、Al2O3およびP2O5の合計含有量に対するP2O5含有量のモル比(P2O5/(B2O3+SiO2+Al2O3+P2O5))が0.005以下、
であり、
ガラス転移温度が670℃以上かつヤング率が90GPa以上、
比重が2.75以下、
100~300℃における平均線膨張係数が40×10-7~70×10-7/℃の範囲の非晶質の酸化物ガラス。
本実施形態のガラス板10の製造方法において、レーザー光Lの照射の際にガラス板10を基台の載置面18から浮上させることによって、ガラス板10の主表面12内における面内の歪みの分布を抑制する効果を調べた。ガラス板10の外径は95mm、内孔の内径は25mm、厚さThは0.7mmであった。ガラス板10のガラス組成は、上記ガラス1とした。
レーザー光Lの照射の前、及びレーザー光Lの照射中に行う加熱では、ガラス板10の加熱温度がガラス板10の中心から30mm離れた位置で350℃になるように加熱を調整した。
主表面12の歪み分布では、リタデーション値のばらつきを用いた。リタデーション値のばらつきとして、主表面12の周方向及び径方向の12か所の測定点におけるリタデーション値の最大値と最小値の差を求めた。12か所の測定点の径方向の位置は、円盤形状のガラス板10の内周端面を0%、外周端面を100%の位置として、内周端面から径方向の外側に25%、50%、75%離れた3か所の位置である。一方、測定点の周方向の位置は、90度離れた周上の4か所の位置(0,90,180,270度の位置)とした。上記12か所の測定点に、直線偏光の光を照射し、ガラス板10を透過した偏光した光のリタデーション値を測定した。
加熱されたガラス板10の温度分布については、ガラス板10の計測した温度のばらつきを用いた。温度分布の測定では、レーザー光Lを端面14に照射せずに、レーザー光Lを照射したときと同様の方法でガラス板10を加熱し、このときの、レーザー光Lの照射開始のタイミングと同じタイミングで主表面12の上記12か所の測定点における温度を測定した。温度測定では、非接触温度計(サーモグラフィ)を用いた。12か所の測定点における温度の最高温度と最低温度の差を求め、この差を温度のばらつきとした。
比較例1では、円孔内径45mm、外径75mmの円筒形基台を有するホットプレート型ヒーター上にガラス板10を載置して加熱した。比較例2では、円孔内径35mm、外径85mmの円筒形基台を有するホットプレート型ヒーター上にガラス板10を載置して加熱した。
実施例1,2では、載置面18からガラス板10を浮上させ、上方から加熱領域を調節可能なスポット型のハロゲンランプヒーターを用いてガラス板10を加熱した。実施例1,2の間では、ハロゲンランプヒーターとガラス板10との間の距離と、ハロゲンランプヒーターの投入電力が異なる。
実施例3では、載置面18からガラス板10を浮上させ、上方から加熱領域を調節可能なスポット型のカーボンヒーターを用いてガラス板10を加熱した。
実施例4では、照射領域が直径100mmの円形状をしたレーザー光を主表面12に照射して加熱した。
実施例1~4は、主表面12の下面側にベルヌーイ効果を利用した非接触チャックを基台として配置し、ガラス板10を浮上して固定した。
これより、ガラス板10を基台の載置面18から浮上させることによって、ガラス板10の主表面12内における面内の歪みの分布を抑制することがわかる。
12 主表面
14 端面
14c 面取り面
14t 側壁面
16 円孔
18 載置面
20 レーザー光源
22 光学系
24 集束レンズ
Claims (5)
- 円盤形状のガラス板であって、
前記ガラス板は、磁気ディスク用ガラス基板又は磁気ディスク用ガラス基板の素材であり、
前記ガラス板の中心位置には円孔があり、
前記ガラス板は、一対の主表面と、外周端面と、前記円孔に沿った内周端面とを有し、
前記外周端面及び/又は前記内周端面は、前記主表面に対して略直交する方向に延びる側壁面と、前記側壁面と前記主表面との間に介在し、外側に向かって凸の湾曲形状を成す面取り面と
を有し、
前記面取り面は、熱によって前記外周端面及び/又は前記内周端面を軟化及び/又は溶融させることより形成して成る面であり、
前記ガラス板の厚さThは0.7mm以下であり、
前記主表面において、前記内周端面を0%、前記外周端面を100%の位置として、前記内周端面から径方向の外側に25%、50%、75%離れた3つの半径位置のそれぞれにおいて、90度離れた周上の4か所の位置の、合計12か所におけるリタデーション値の最大値と最小値との差が30nm以下である、ガラス板。 - 円盤形状のガラス板であって、
前記ガラス板は、磁気ディスク用ガラス基板又は磁気ディスク用ガラス基板の素材であり、
前記ガラス板の中心位置には円孔があり、
前記ガラス板は、一対の主表面と、外周端面と、前記円孔に沿った内周端面とを有し、
前記外周端面及び/又は前記内周端面は、前記主表面の間に介在し、外側に向かって凸の湾曲形状を成す面取り面と
を有し、
前記面取り面は、熱によって前記外周端面及び/又は前記内周端面を軟化及び/又は溶融させることより形成して成る面であり、
前記ガラス板の厚さThは0.7mm以下であり、
前記主表面において、前記内周端面を0%、前記外周端面を100%の位置として、前記内周端面から径方向の外側に25%、50%、75%離れた3つの半径位置のそれぞれにおいて、90度離れた周上の4か所の位置の、合計12か所におけるリタデーション値の最大値と最小値との差が30nm以下である、ガラス板。 - 前記面取り面の前記主表面の径方向に沿った長さCの、前記ガラス板の厚さThに対する比であるC/Thが、0.1~0.7である、請求項1又は2に記載のガラス板。
- 前記外周端面及び/又は前記内周端面の算術平均粗さRaは0.02μm以下である、
請求項1~3のいずれか1項に記載のガラス板。 - 請求項1~4のいずれか1項に記載のガラス板の主表面に少なくとも磁性層を有する、
磁気ディスク。
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