JP7311038B2 - イオン分析装置 - Google Patents
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Description
イオン流出口に対して固定され、該イオン流出口を挟む一方に固定ピンが、他方にピン穴が、それぞれ設けられた第1部材と、
前記イオン流出口から流出するイオンの動きを制御するためのイオン流制御部を含む、前記第1部材に固定されるべき部材であって、前記固定ピンに該固定ピンの軸に垂直な第1方向から係合するための第1凹部と、前記ピン穴に挿入される挿入ピンに前記第1方向とは異なる第2方向から係合するための第2凹部とを有する第2部材と、
前記ピン穴に挿入される挿入ピンと、前記第1部材との間で前記第2凹部を挟んで固定するための頭部とを有するピン部材と
を備える。
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
一態様に係るイオン分析装置は、
イオン流出口に対して固定され、該イオン流出口を挟む一方に固定ピンが、他方にピン穴が、それぞれ設けられた第1部材と、
前記イオン流出口から流出するイオンの動きを制御するためのイオン流制御部を含む、前記第1部材に固定されるべき部材であって、前記固定ピンに該固定ピンの軸に垂直な第1方向から係合するための第1凹部と、前記ピン穴に挿入される挿入ピンに前記第1方向とは異なる第2方向から係合するための第2凹部とを有する第2部材と、
前記ピン穴に挿入される挿入ピンと、前記第1部材との間で前記第2凹部を挟んで固定するための頭部とを有するピン部材と
を備える。
第1項に記載のイオン化装置において、
前記第1部材はイオン化プローブに固定された部材であり、
前記第2部材が、前記イオン化プローブからの噴流を通過させる開口が形成された接地電極である。
第1項又は第2項に記載のイオン化装置において、
前記第1凹部が、前記第2凹部が形成されている側と反対側に開口した切り欠きである。
第1項から第3項のいずれかに記載のイオン化装置において、
前記第2凹部が、前記第2部材を前記第1部材に取り付けた状態において鉛直下方に開口した切り欠きである。
第1項から第4項のいずれかに記載のイオン化装置において、
前記第2凹部が、前記第1凹部が形成されている側において反対側よりも浅く形成されたJ字状の切り欠きを有する。
第1項から第5項のいずれかに記載のイオン化装置において、
前記第2凹部が、前記第1凹部が形成されている側で前記第2部材を前記第1部材に取り付けた状態において下方に傾斜した切り欠きを有する。
10…イオン化室
11…ESI用イオン化プローブ
111…ESIノズル
112…アシストガスノズル
12、212、312、…接地電極
121…開口部
122…本体部
123…第1延設部
1231…第1切り欠き(第1凹部)
124…第2延設部
1241…第2切り欠き(第2凹部)
1242…傾斜部
125…延設部
13…押し込み電極
14…収束電極
141…開口部
15…加熱キャピラリ
16…補助部材
161…本体部
1611…開口部
162…第1延設部
1621…固定ピン
163…第2延設部
1631…開口部
17…ピン部材
171…頭部
172…挿入ピン
Claims (6)
- イオン流出口に対して固定され、該イオン流出口を挟む一方に固定ピンが、他方にピン穴が、それぞれ設けられた第1部材と、
前記イオン流出口から流出するイオンの動きを制御するためのイオン流制御部を含む、前記第1部材に固定されるべき部材であって、前記固定ピンに該固定ピンの軸に垂直な第1方向から係合するための第1凹部と、前記ピン穴に挿入される挿入ピンに前記第1方向とは異なる第2方向から係合するための第2凹部とを有する第2部材と、
前記ピン穴に挿入される挿入ピンと、前記第1部材との間で前記第2凹部を挟んで固定するための頭部とを有するピン部材と
を備えるイオン分析装置。 - 前記第1部材はイオン化プローブに固定された部材であり、
前記第2部材が、前記イオン化プローブからの噴流を通過させる開口が形成された接地電極である、請求項1に記載のイオン分析装置。 - 前記第1凹部が、前記第2凹部が形成されている側と反対側に開口した切り欠きである、請求項1に記載のイオン分析装置。
- 前記第2凹部が、前記第2部材を前記第1部材に取り付けた状態において鉛直下方に開口した切り欠きである、請求項1に記載のイオン分析装置。
- 前記第2凹部が、前記第1凹部が形成されている側において反対側よりも浅く形成されたJ字状の切り欠きを有する、請求項1に記載のイオン分析装置。
- 前記第2凹部が、前記第1凹部が形成されている側で前記第2部材を前記第1部材に取り付けた状態において下方に傾斜した切り欠きを有する、請求項1に記載のイオン分析装置。
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JP2013507739A (ja) | 2009-10-08 | 2013-03-04 | パーキンエルマー・ヘルス・サイエンシズ・インコーポレーテッド | 結合装置および結合装置の使用法 |
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Family Cites Families (3)
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---|---|---|---|---|
JP3335028B2 (ja) * | 1995-01-13 | 2002-10-15 | 東京エレクトロン株式会社 | イオン注入装置 |
US5925266A (en) * | 1997-10-15 | 1999-07-20 | The Perkin-Elmer Corporation | Mounting apparatus for induction coupled plasma torch |
EP2489059B1 (en) * | 2009-10-12 | 2019-12-04 | PerkinElmer Health Sciences, Inc. | Assemblies for ion and electron sources |
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- 2020-04-24 WO PCT/JP2020/017639 patent/WO2021214965A1/ja active Application Filing
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---|---|---|---|---|
US4745277A (en) | 1986-10-06 | 1988-05-17 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Rotary turret and reusable specimen holder for mass spectrometer |
JP2013507739A (ja) | 2009-10-08 | 2013-03-04 | パーキンエルマー・ヘルス・サイエンシズ・インコーポレーテッド | 結合装置および結合装置の使用法 |
JP2013507751A5 (ja) | 2010-10-12 | 2013-11-28 | イオン源および電子源のためのアセンブリ |
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