JP7308218B2 - 統合された低費用のカーテン板、オリフィスpcb、およびイオンレンズアセンブリ - Google Patents
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Description
本願は、参照することによってその全体として本明細書に組み込まれる2018年3月2日に出願され、「Integrated Low Cost Curtain Plate and Orifice PCB Assembly」と題された米国仮出願第62/637,710号、および参照することによってその全体として本明細書に組み込まれる2019年2月28日に出願され、「Integrated Low Cost Curtain Plate,Orifice PCB and Ion Lens Assembly」と題された米国仮出願第62/811,867号の優先権を主張する。
本発明は、概して、質量分析計における使用のための統合カーテン板/オリフィス板アセンブリを対象とする。さらに、本開示は、堆積物がレンズ上に形成されることを防止すること、および/またはレンズの表面から堆積した汚染を除去することを行うためのレンズの直接加熱のための装置および方法に関する。
本明細書は、例えば、以下の項目も提供する。
(項目1)
質量分析システムにおける使用のためのカーテンおよびオリフィス板アセンブリであって、前記アセンブリでは、
第1のプリント回路基板(PCB)を備えているカーテン板であって、前記第1のPCBは、前記質量分析システムのイオン源によって発生させられたイオンを受け取るために構成された開口と、少なくとも1つのガス流チャネルとを有し、前記第1のPCBは、その少なくとも一部上に配置された少なくとも1つの金属コーティングを有する、カーテン板と、
前記カーテン板に結合されたオリフィス板と
を備え、
前記オリフィス板は、前記開口と実質的に整列させられたオリフィスを提供する第2のプリント回路基板を備え、それによって、前記カーテン板の前記開口を介して前記アセンブリに入射する前記イオンは、前記オリフィスを介して前記アセンブリから出射可能であり、前記第2のPCBは、その少なくとも一部上に配置された少なくとも1つの金属コーティングを有し、
前記オリフィス板は、前記チャネルが前記カーテン板と前記オリフィス板との間の間隙を提供し、前記間隙を通して、ガス流が前記板間に確立されることが可能であるように、前記カーテン板に結合されている、アセンブリ。
(項目2)
前記カーテン板および前記オリフィス板の前記金属コーティングは、前記板間に電圧差を印加することを可能にするように構成されている、項目1に記載のアセンブリ。
(項目3)
前記電圧差は、前記カーテン板の前記開口から前記オリフィス板の前記オリフィスへの前記アセンブリを通した前記イオンの通過を促進するように構成されている、項目2に記載のアセンブリ。
(項目4)
前記カーテン板は、ガスを受け取るための入口ポートを備え、前記ガスは、前記カーテン板の前記開口を介して前記アセンブリから退出する、項目1に記載のアセンブリ。
(項目5)
前記カーテン板の前記金属コーティングは、前記カーテン板の前記イオン受け取り開口を実質的に包囲している、項目1に記載のアセンブリ。
(項目6)
前記第1のPCBは、前面と後面とを備え、前記開口は、前記前面から前記後面まで延びている、項目1に記載のアセンブリ。
(項目7)
前記カーテン板の前記少なくとも1つの金属コーティングは、前記カーテン板の前記前面の少なくとも一部を被覆し、前記開口を少なくとも部分的に包囲している第1の金属コーティングを備えている、項目6に記載のアセンブリ。
(項目8)
前記カーテン板の前記少なくとも1つの金属コーティングは、前記カーテン板の前記後面の少なくとも一部を被覆し、前記開口を少なくとも部分的に包囲している第2の金属コーティングを備えている、項目7に記載のアセンブリ。
(項目9)
前記カーテン板の前記第2の金属コーティングは、前記開口を包囲している第1の金属部分と、前記第1の部分から半径方向に間隔を置かれ、前記第1の部分を包囲している第2の金属部分とを備え、前記少なくとも1つのチャネルは、前記第1の金属部分と前記第2の金属部分との間に電気接続を提供するために金属化されている、項目8に記載のアセンブリ。
(項目10)
前記少なくとも1つのチャネルは、前記カーテン板の前記開口の周囲に配置された螺旋チャネルを備えている、項目1に記載のアセンブリ。
(項目11)
前記カーテン板は、前記第1および前記第2の金属コーティングのうちの少なくとも1つを電圧源に電気的に接続するための少なくとも1つの金属化タブを備えている、項目8に記載のアセンブリ。
(項目12)
前記オリフィス板は、前面と後面とを備え、前記オリフィス板の前記前面は、前記アセンブリにおいて前記カーテン板の前記後面に面している、項目1に記載のアセンブリ。
(項目13)
前記オリフィス板の前記少なくとも1つの金属コーティングは、前記オリフィス板の前記前面上に配置された第1の金属コーティングと、前記オリフィス板の前記後面上に配置された第2の金属コーティングとを備えている、項目12に記載のアセンブリ。
(項目14)
前記第1の金属コーティングは、第1の部分と、前記第1の部分から半径方向に分離され、前記第1の部分から電気的に絶縁された第2の部分とを備え、前記第1および第2の部分の各々は、少なくとも部分的に前記オリフィス板の前記オリフィスを包囲している、項目13に記載のアセンブリ。
(項目15)
前記オリフィス板の前記第2の金属コーティングは、第1の部分と、前記第1の部分から半径方向に分離された第2の部分とを備え、前記第1および第2の部分の各々は、少なくとも部分的に前記オリフィスを包囲している、項目14に記載のアセンブリ。
(項目16)
前記カーテン板の前記少なくとも1つの金属コーティングは、約20ミクロン~約40ミクロンの範囲内の厚さを有する、項目1に記載のアセンブリ。
(項目17)
前記オリフィス板の前記少なくとも1つの金属コーティングは、約20ミクロン~約40ミクロンの範囲内の厚さを有する、項目1に記載のアセンブリ。
(項目18)
前記カーテン板および前記オリフィス板のうちのいずれかの前記少なくとも1つの金属コーティングは、金めっきされた銅または銀を備えている、項目1に記載のアセンブリ。
(項目19)
質量分析計であって、前記質量分析計は、
複数のイオンを発生させるためのイオン源と、
前記イオンを受け取るためのカーテン板/オリフィス板アセンブリと、
前記アセンブリを通過するイオンを受け取り、前記イオンの質量電荷比に基づいて前記イオンを分析するために前記カーテン板/オリフィス板アセンブリの下流に配置された質量分析器と
を備え、
前記カーテン板/オリフィス板アセンブリは、
第1のプリント回路基板(PCB)を備えているカーテン板であって、前記第1のPCBは、前記イオン源によって発生させられた前記複数のイオンを受け取るために構成された開口を有し、前記第1のPCBは、その少なくとも一部上に配置された少なくとも1つの金属コーティングを有する、カーテン板と、
前記カーテン板に結合されたオリフィス板と
を備え、
前記オリフィス板は、前記開口と実質的に整列させられたオリフィスを提供する第2のPCBを備え、それによって、前記カーテン板の前記開口を介して前記アセンブリに入射する前記イオンの少なくとも一部は、前記オリフィス板の前記オリフィスを介して前記アセンブリから出射することが可能であり、前記第2のPCBは、その少なくとも一部上に配置された少なくとも1つの金属コーティングを有する、質量分析計。
(項目20)
前記カーテン板および前記オリフィス板の前記金属コーティングのうちのいずれかに電圧を印加するための電圧源をさらに備えている、項目19に記載の質量分析計。
(項目21)
質量分析システムにおける使用のためのイオンレンズアセンブリであって、前記イオンレンズアセンブリは、複数の層を備え、前記複数の層は、
入射イオンに面するように配置された前方面を有する前部キャップ層と、
後部層と、
前記前部キャップ層と前記後部層との間に配置された加熱要素と
を備え、
前記複数の層の各層は、開口部を備え、各層の前記開口部は、実質的に整列させられており、前記イオンレンズアセンブリを通したイオンの通過を可能にするようにサイズを決定されている、イオンレンズアセンブリ。
(項目22)
前記加熱要素は、前記前部キャップ層および前記後部層から電気的に隔離されている、項目21に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目23)
前記前部キャップ層と前記加熱要素との間に配置された第1の絶縁層と、
前記加熱要素と前記後部層との間に配置された第2の絶縁層と
をさらに備えている、項目22に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目24)
前記第1および第2の絶縁層は、誘電材料:ガラス、プラスチック、セラミック、天然結晶、紙、天然または合成ポリマー材料、石、および/または、非導電性金属酸化物フィルムを備えている、項目23に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目25)
前記複数の層のうちの層は、薄フィルムコーティングを備えている、項目21に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目26)
前記前部キャップ層および前記後部層は、導電性である、項目21に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目27)
前記前部キャップ層と前記後部層とは、同じ電圧を受け取るように構成されている、項目21に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目28)
前記前部キャップ層および前記後部層は、アルミニウム、セラミック、銅、金、および/または、ステンレス鋼を備えている、項目21に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目29)
前記加熱要素は、電力を前記加熱要素に印加するように構成された電気接続をさらに備えている、項目21に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目30)
前記イオンレンズアセンブリは、約0.2mm~約10mmの厚さを有し、前記厚さは、前記前部キャップ層の前方面から前記後部層の後方面までである、項目21に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目31)
前記加熱要素は、抵抗性電気トレースまたは可撓性加熱器を備えている、項目21に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目32)
前記加熱要素は、前記イオンレンズアセンブリを約100℃~約300℃の温度に加熱するように設計および構築されている、項目21に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目33)
前記複数の層のうちの少なくとも1つの層における前記開口部は、ほぼ円形である、項目21に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目34)
各層における前記開口部は、少なくとも1つの寸法において、約0.1mm~約10mmである、項目21に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目35)
前記前部キャップ層と前記後部層との間に配置されたフィードバック要素をさらに備え、前記フィードバック要素は、前記イオンレンズアセンブリの温度を測定する、項目21に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目36)
前記フィードバック要素は、抵抗性電気トレースを備えている、項目35に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目37)
前記フィードバック要素は、抵抗温度検出器(RTD)を備えている、項目35に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目38)
前記加熱要素は、電気接続のための複数のピンを備えている、項目21に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目39)
前記ピンのうちの少なくとも1つは、前記加熱要素を外部温度センサに接続するように構成されている、項目38に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目40)
質量分析システムであって、前記質量分析システムは、
イオンを発生させるためのイオン源と、
イオンを受け取るために前記イオン源から下流に位置付けられた1つ以上のイオンガイドチャンバであって、前記1つ以上のイオンガイドチャンバは、
前記イオン源から発生させられたイオンを受け取るための入口オリフィスと、
イオンを質量分析器に透過させるための少なくとも1つの出射オリフィスと
を備えている、1つ以上のイオンガイドチャンバと、
前記1つ以上のイオンガイドチャンバのうちの少なくとも1つの前記入口オリフィスから下流に位置付けられたイオンレンズアセンブリと
を備え、
前記イオンレンズアセンブリは、複数の層を備え、前記複数の層は、
入射イオンに面するように配置された前方面を有する前部キャップ層と、
後部層と、
前記前部キャップ層と前記後部層との間に配置された加熱要素と
を備え、
前記複数の層の各層は、開口部を備え、各層の前記開口部は、実質的に整列させられており、前記イオンレンズアセンブリを通したイオンの通過を可能にするようにサイズを決定されている、質量分析システム。
(項目41)
質量分析システムであって、前記質量分析システムは、
イオンを発生させるためのイオン源と、
イオンを受け取るために前記イオン源から下流に位置付けられた1つ以上のイオンガイドチャンバであって、前記1つ以上のイオンガイドチャンバは、
前記イオン源から発生させられたイオンを受け取るための入口オリフィスと、
イオンを質量分析器に透過させるための少なくとも1つの出射オリフィスと
を備えている、1つ以上のイオンガイドチャンバと、
前記1つ以上のイオンガイドチャンバのうちの少なくとも1つから下流に位置付けられた前記項目のいずれかに記載のイオンレンズアセンブリと
を備えている、質量分析システム。
(項目42)
前記加熱要素は、前記イオンレンズアセンブリを約100℃~約300℃の範囲内の温度に加熱するように設計および構築されている、項目41に記載の質量分析システム。
(項目43)
前記イオンレンズアセンブリの加熱要素と通信している加熱器回路をさらに備え、前記加熱器回路は、前記加熱要素に電力を印加するように構成されている、項目42に記載の質量分析システム。
(項目44)
前記加熱要素と通信しているフィードバック要素をさらに備え、前記フィードバック要素は、前記イオンレンズアセンブリの温度を測定するように構成されている、項目43に記載の質量分析システム。
(項目45)
前記フィードバック要素および前記加熱器回路と通信しているコントローラをさらに備え、前記コントローラは、前記フィードバック要素から温度データを受信し、前記イオンレンズアセンブリの温度を所望の温度範囲内に調整する、項目44に記載の質量分析システム。
(項目46)
前記イオンレンズアセンブリは、前記イオンレンズアセンブリが100~300℃の温度にあるとき、前記前部キャップ層の前方面におけるイオンおよび中性種の付着係数が低減させられるように構成されている、項目40に記載の質量分析システム。
(項目47)
イオンレンズアセンブリを作製する方法であって、前記方法は、
後部層を提供するステップと、
加熱要素を前記後部層と結合するステップと、
前部キャップ層を前記加熱要素と結合するステップと
を含み、
前記前部キャップ層は、入射イオンに面するように配置された前方面を有し、
各層は、開口部を備え、各層の前記開口部は、実質的に整列させられ、前記イオンレンズアセンブリを通したイオンの通過を可能にするようにサイズを決定される、方法。
(項目48)
前記加熱要素を前記後部層と結合するステップは、
第1の絶縁層を前記後部層の前方面に適用するステップと、
加熱要素を前記第1の絶縁層と接触させるステップと、
第2の絶縁層を前記加熱要素に適用するステップと、
導電性層を前記第2の絶縁層と接触させるステップと
を含む、項目47に記載の方法。
(項目49)
前記適用するステップは、堆積させることおよび/またはコーティングすることを含む、項目48に記載の方法。
(項目50)
加熱器回路を提供するステップと、
前記加熱要素を前記加熱器回路と接続するステップと、
フィードバック要素を提供するステップと、
前記イオンレンズアセンブリの前記前部キャップ層と前記後部層との間に前記フィードバック要素を結合するステップと、
前記フィードバック要素を前記加熱器回路と接続するステップと
をさらに含む、項目49に記載の方法。
(項目51)
質量分析システムにおけるイオンレンズアセンブリ汚染を低減させる方法であって、前記方法は、
イオンレンズアセンブリを提供するステップであって、前記イオンレンズアセンブリは、加熱要素とフィードバック要素とを有し、前記加熱要素およびフィードバック要素は、前部キャップ層と後部層との間に配置され、前記加熱要素は、加熱器回路に電気的に接続される、ステップと、
前記加熱器回路を使用して電流を前記加熱要素に印加するステップであって、前記加熱要素の少なくとも一部は、前記イオンレンズアセンブリを直接加熱するために、前記印加された電流に応答して熱を発生させる電気抵抗を示す、ステップと、
前記イオンレンズアセンブリの温度を制御するステップと
を含み、
前記制御するステップは、
コントローラを提供するステップと、
前記コントローラが前記加熱要素および前記フィードバック要素と通信するように、前記コントローラを前記加熱器回路および前記フィードバック要素と接続するステップと、
前記コントローラによって、前記フィードバック要素から温度データを受信するステップと、
前記コントローラによって、前記温度データに応答して前記加熱器回路を制御し、前記イオンレンズアセンブリの温度を所望の温度範囲内に調整するステップと
を含む、方法。
(項目52)
前記所望の温度範囲は、約100℃~約300℃である、項目51に記載の方法。
(項目53)
前記加熱要素は、流体のために配管された少なくとも1つの導管を備え、前記流体は、前記少なくとも1つの導管を通して流動する、項目51に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目54)
前記流体は、予熱された流体である、項目53に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目55)
前記流体は、2つ以上の試薬であり、前記2つ以上の試薬は、接触時、および/または混合時、熱を発熱的に発生させる、項目53に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目56)
前記加熱要素は、熱電性デバイスを備えている、項目51に記載のイオンレンズアセンブリ。
(項目57)
前記前部キャップ層または前記後部層に搭載された少なくとも1つの温度センサをさらに備えている、項目51に記載のイオンレンズアセンブリ。
本開示がより容易に理解されるために、ある用語が、最初に、下で定義される。以下の用語および他の用語に関する追加の定義が、本明細書全体を通して記載される。
図1、2A、2B、2C、3A、および3Bを参照すると、質量分析システムにおける使用のための統合カーテン板/オリフィス板アセンブリ10が、開示され、それは、オリフィス板14に結合されるカーテン板12を含む。カーテン板12は、入射イオン(これらの図に図示せず)に面する前面18と、反対の後面20とを有するプリント回路基板(PCB)16を含む。プリント回路基板16は、統合カーテン板/オリフィス板アセンブリ10が組み込まれる質量分析計の上流イオン源からイオンを受け取るために、前面18から後面20まで延びている中心開口22を含む。開口の形状および/またはサイズは、統合カーテン板/オリフィス板アセンブリの意図される用途に基づいて選択されることができる。例として、カーテン板の開口は、例えば、約1~約6mmの範囲内の直径を伴う円形であり得る。さらに、いくつかの実施形態において、オリフィス板の開口(オリフィス)は、例えば、約100ミクロン(μm)~約2ミリメートル(mm)の範囲内の直径を伴う円形であり得る。
アセンブリ10と関連して上で議論される設計に基づくプロトタイプカーテン板/オリフィス板アセンブリが、製作された。プロトタイプアセンブリは、三連四重極質量分析計内に組み込まれた。質量分析計は、レセルピンの質量スペクトルを取得するために使用された。比較の目的のために、レセルピンの質量スペクトルは、従来の金属円錐形カーテン板および標準的オリフィス板を伴う同じ質量分析計も使用して取得された。同じ処理パラメータが、それぞれの質量スペクトルを取得するために、両方の事例において採用された。
いくつかの実施形態において、本開示の装置、システム、および方法は、着目イオンを下流質量分析器に導き、および/または集中させ、不要なイオンおよび/または中性種を除外するためのレンズとして有用である。いくつかの実施形態において、質量分析システムにおいて採用される少なくとも1つのレンズは、高い温度まで直接加熱される。例えば、いくつかの実施形態において、質量分析システムにおいて採用される少なくとも1つのレンズは、レンズ表面に衝突するイオンおよび/または中性種からの汚染および/または堆積物を制御、阻止、および/または低減させるように、約100℃~約300℃の温度まで直接加熱される。いくつかの実施形態において、少なくとも1つのイオンレンズは、その部分の直接抵抗加熱を引き起こし、それによって、レンズ温度を上昇させるように、電流がレンズの少なくとも一部に通され得るように形成されることができる。いくつかの実施形態において、レンズの直接加熱は、イオンおよび/または中性種からの堆積物による汚染に関する少なくとも1つのレンズ表面の付着係数が低減させられるまで、または排除されさえする点までその温度値を上昇させることができる。いくつかの実施形態において、直接加熱されたレンズは、イオンおよび/または中性種からのいかなる先の汚染および/または堆積物も脱離させる。
以下の実施例は、本開示のいくつかの実施形態および側面を例証する。種々の修正、追加、代用等が、本開示の精神または範囲を改変することなく実施され得、そのような修正および変形例は、続く請求項に定義されるような本開示の範囲内に包含されることが、当業者に明白であろう。本開示は、これらの例を参照することによってより完全に理解されるであろう。以下の実施例は、本開示または請求される開示をいかようにも限定せず、それらは、範囲を限定するとして解釈されるべきではない。
(材料および方法)
(質量分析システム)
イオン駆動源を伴う6500+QTRAP器具が、全ての実験のために使用された。この分光計は、イオンガイド(Q0)を含み、本教示による加熱されたイオンレンズアセンブリが続き、それは、Q0とQ1との間で使用された。レンズアセンブリは、銀パラジウム合金の導電性コーティングから形成される前部層と、Dupont多層誘電体(P/N 5704)から形成される絶縁層とを含んでいた。Heraeus C4082厚フィルムインクから成る抵抗性加熱要素が、レンズアセンブリ内において、前部層と後部層との間に組み込まれた。
標準的抗凍結緩衝液中に調製された10pg/μLのレセルピンが、器具をベースライン設定し、汚染実験中、強度変化を追跡するために使用された。
本実施例は、本開示の種々の実施形態の一側面によるイオンレンズアセンブリに関する動作および性能パラメータを開示する。
本実施例は、本開示の種々の実施形態の一側面によるイオンレンズアセンブリに関する加速ロバスト性データを開示する。
Claims (20)
- 質量分析システムにおける使用のためのカーテンおよびオリフィス板アセンブリであって、前記アセンブリは、
第1のプリント回路基板(PCB)を備えているカーテン板であって、前記第1のPCBは、前記質量分析システムのイオン源によって発生させられたイオンを受け取るために構成された開口と、少なくとも1つのガス流チャネルとを有し、前記第1のPCBは、その少なくとも一部上に配置された少なくとも1つの金属コーティングを有する、カーテン板と、
前記カーテン板に結合されたオリフィス板と
を備え、
前記オリフィス板は、前記開口と実質的に整列させられたオリフィスを提供する第2のプリント回路基板を備え、それによって、前記カーテン板の前記開口を介して前記アセンブリに入射する前記イオンは、前記オリフィスを介して前記アセンブリから出射可能であり、前記第2のPCBは、その少なくとも一部上に配置された少なくとも1つの金属コーティングを有し、
前記オリフィス板は、前記チャネルが前記カーテン板と前記オリフィス板との間の間隙を提供し、前記間隙を通して、ガス流が前記板間に確立されることが可能であるように、前記カーテン板に結合されている、アセンブリ。 - 前記カーテン板および前記オリフィス板の前記金属コーティングは、前記板間に電圧差を印加することを可能にするように構成されている、請求項1に記載のアセンブリ。
- 前記電圧差は、前記カーテン板の前記開口から前記オリフィス板の前記オリフィスへの前記アセンブリを通した前記イオンの通過を促進するように構成されている、請求項2に記載のアセンブリ。
- 前記カーテン板は、ガスを受け取るための入口ポートを備え、前記ガスは、前記カーテン板の前記開口を介して前記アセンブリから退出する、請求項1に記載のアセンブリ。
- 前記カーテン板の前記金属コーティングは、前記カーテン板の前記イオン受け取り開口を実質的に包囲している、請求項1に記載のアセンブリ。
- 前記第1のPCBは、前面と後面とを備え、前記開口は、前記前面から前記後面まで延びている、請求項1に記載のアセンブリ。
- 前記カーテン板の前記少なくとも1つの金属コーティングは、前記カーテン板の前記前面の少なくとも一部を被覆し、前記開口を少なくとも部分的に包囲している第1の金属コーティングを備えている、請求項6に記載のアセンブリ。
- 前記カーテン板の前記少なくとも1つの金属コーティングは、前記カーテン板の前記後面の少なくとも一部を被覆し、前記開口を少なくとも部分的に包囲している第2の金属コーティングを備えている、請求項7に記載のアセンブリ。
- 前記カーテン板の前記第2の金属コーティングは、前記開口を包囲している第1の金属部分と、前記第1の部分から半径方向に間隔を置かれ、前記第1の部分を包囲している第2の金属部分とを備え、前記少なくとも1つのチャネルは、前記第1の金属部分と前記第2の金属部分との間に電気接続を提供するために金属化されている、請求項8に記載のアセンブリ。
- 前記少なくとも1つのチャネルは、前記カーテン板の前記開口の周囲に配置された螺旋チャネルを備えている、請求項1に記載のアセンブリ。
- 前記カーテン板は、前記第1および前記第2の金属コーティングのうちの少なくとも1つを電圧源に電気的に接続するための少なくとも1つの金属化タブを備えている、請求項8に記載のアセンブリ。
- 前記オリフィス板は、前面と後面とを備え、前記オリフィス板の前記前面は、前記アセンブリにおいて前記カーテン板の前記後面に面している、請求項1に記載のアセンブリ。
- 前記オリフィス板の前記少なくとも1つの金属コーティングは、前記オリフィス板の前記前面上に配置された第1の金属コーティングと、前記オリフィス板の前記後面上に配置された第2の金属コーティングとを備えている、請求項12に記載のアセンブリ。
- 前記第1の金属コーティングは、第1の部分と、前記第1の部分から半径方向に分離され、前記第1の部分から電気的に絶縁された第2の部分とを備え、前記第1および第2の部分の各々は、少なくとも部分的に前記オリフィス板の前記オリフィスを包囲している、請求項13に記載のアセンブリ。
- 前記オリフィス板の前記第2の金属コーティングは、第1の部分と、前記第1の部分から半径方向に分離された第2の部分とを備え、前記第1および第2の部分の各々は、少なくとも部分的に前記オリフィスを包囲している、請求項14に記載のアセンブリ。
- 前記カーテン板の前記少なくとも1つの金属コーティングは、約20ミクロン~約40ミクロンの範囲内の厚さを有する、請求項1に記載のアセンブリ。
- 前記オリフィス板の前記少なくとも1つの金属コーティングは、約20ミクロン~約40ミクロンの範囲内の厚さを有する、請求項1に記載のアセンブリ。
- 前記カーテン板および前記オリフィス板のうちのいずれかの前記少なくとも1つの金属コーティングは、金めっきされた銅または銀を備えている、請求項1に記載のアセンブリ。
- 質量分析計であって、前記質量分析計は、
複数のイオンを発生させるためのイオン源と、
前記イオンを受け取るためのカーテン板/オリフィス板アセンブリと、
前記アセンブリを通過するイオンを受け取り、前記イオンの質量電荷比に基づいて前記イオンを分析するために前記カーテン板/オリフィス板アセンブリの下流に配置された質量分析器と
を備え、
前記カーテン板/オリフィス板アセンブリは、
第1のプリント回路基板(PCB)を備えているカーテン板であって、前記第1のPCBは、前記イオン源によって発生させられた前記複数のイオンを受け取るために構成された開口を有し、前記第1のPCBは、その少なくとも一部上に配置された少なくとも1つの金属コーティングを有する、カーテン板と、
前記カーテン板に結合されたオリフィス板と
を備え、
前記オリフィス板は、前記開口と実質的に整列させられたオリフィスを提供する第2のPCBを備え、それによって、前記カーテン板の前記開口を介して前記アセンブリに入射する前記イオンの少なくとも一部は、前記オリフィス板の前記オリフィスを介して前記アセンブリから出射することが可能であり、前記第2のPCBは、その少なくとも一部上に配置された少なくとも1つの金属コーティングを有する、質量分析計。 - 前記カーテン板および前記オリフィス板の前記金属コーティングのうちのいずれかに電圧を印加するための電圧源をさらに備えている、請求項19に記載の質量分析計。
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Citations (4)
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---|---|---|---|---|
US20040245458A1 (en) | 2003-06-07 | 2004-12-09 | Sheehan Edward W. | Ion enrichment aperture arrays |
US20120292500A1 (en) | 2009-05-13 | 2012-11-22 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer sampling cone with coating |
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---|---|---|---|---|
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---|---|---|---|---|
US20040245458A1 (en) | 2003-06-07 | 2004-12-09 | Sheehan Edward W. | Ion enrichment aperture arrays |
US20120292500A1 (en) | 2009-05-13 | 2012-11-22 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer sampling cone with coating |
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