JP7293311B2 - Electromagnetic field probe marker - Google Patents

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Description

特許法第３０条第２項適用 令和３年８月３０日にサンプルを出荷Article 30, Paragraph 2 of the Patent Act applies Samples will be shipped on August 30, 2021

本発明は、電磁界プローブ用マーカーに関する。 The present invention relates to markers for electromagnetic field probes.

従来、評価対象物が発する電磁波ノイズを検出して可視化する電磁界可視化装置が知られている（たとえば、特許文献１参照）。 2. Description of the Related Art Conventionally, there is known an electromagnetic field visualization device that detects and visualizes electromagnetic noise emitted by an evaluation target (see Patent Document 1, for example).

特許文献１の電磁界可視化装置は、電磁界プローブと、スペクトラムアナライザと、撮像装置と、ＰＣ（パーソナルコンピュータ）と、表示装置とを備えている。電磁界プローブは、評価対象物が発する電磁波ノイズを検出するために設けられている。スペクトラムアナライザは、電磁界プローブにより検出される電磁波ノイズの周波数特性を測定するように構成されている。撮像装置は、評価対象物を撮像するとともに、その評価対象物上で走査される電磁界プローブを撮像するために設けられている。ＰＣは、スペクトラムアナライザおよび撮像装置からの入力に基づいて、評価対象物の電磁波ノイズの発生状況を表示装置に表示させるように構成されている。 The electromagnetic field visualization device of Patent Document 1 includes an electromagnetic field probe, a spectrum analyzer, an imaging device, a PC (personal computer), and a display device. An electromagnetic field probe is provided to detect electromagnetic noise emitted by an evaluation object. The spectrum analyzer is configured to measure frequency characteristics of electromagnetic noise detected by the electromagnetic field probe. The imaging device is provided for imaging the evaluation object and for imaging the electromagnetic field probe scanned over the evaluation object. The PC is configured to display the electromagnetic noise generation status of the evaluation object on the display device based on the inputs from the spectrum analyzer and imaging device.

電磁界プローブは、円環状のループアンテナを有する。ループアンテナには、撮像画像上での目印とされるループ閉塞体（電磁界プローブ用マーカー）が設けられている。 The electromagnetic field probe has an annular loop antenna. The loop antenna is provided with a loop blocker (electromagnetic field probe marker) that serves as a mark on the captured image.

また、電磁波ノイズ解析対象の信号であるターゲット信号とプローブ信号とをそれぞれ検出して、プローブ信号のターゲット信号におけるパワースペクトルの割合を算出する信号源推定装置も知られている（たとえば、特許文献２参照）。この信号源推定装置においても、プローブ信号を検出する円環状のループアンテナが設けられている。 Also known is a signal source estimation device that detects a target signal and a probe signal, which are signals to be subjected to electromagnetic noise analysis, and calculates the ratio of the power spectrum of the probe signal to the target signal (for example, Patent Document 2 reference). This signal source estimating apparatus is also provided with an annular loop antenna for detecting probe signals.

特開２０１７－９６８６０号公報JP 2017-96860 A 特開２０２１－０３９０７４号公報JP 2021-039074 A

ここで、本出願人が製造販売する既製品であるペン型電磁界プローブにおいて、電磁界プローブ用マーカーの標識部を撮像画像上で適切に識別させることについて改善の余地がある。 Here, in the ready-made pen-type electromagnetic field probe manufactured and sold by the present applicant, there is room for improvement in appropriately identifying the marking portion of the marker for the electromagnetic field probe on the captured image.

本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであり、本発明の目的は、撮像画像上で標識部を適切に識別させることが可能な電磁界プローブ用マーカーを提供することである。 The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an electromagnetic field probe marker capable of appropriately identifying a labeling portion on a captured image. .

本発明による電磁界プローブ用マーカーは、電磁界可視化装置の電磁界プローブの位置を示すためのものであり、本体部と、電磁界プローブに対して本体部を着脱するためのクリップ部と、電磁界可視化装置の撮像装置に撮像され、その撮像画像上での目印とされる標識部とを備える。標識部の寸法は、撮像装置の撮像範囲に応じて設定される。電磁界プローブ用マーカーは、撮像範囲に応じてユーザによって交換することができる。 An electromagnetic field probe marker according to the present invention is for indicating the position of an electromagnetic field probe of an electromagnetic field visualization device, and includes a main body, a clip for attaching and detaching the main body to and from the electromagnetic field probe, and an electromagnetic field probe. and a marking portion that is imaged by the imaging device of the field visualization device and that serves as a mark on the captured image. The dimensions of the marking portion are set according to the imaging range of the imaging device. The electromagnetic field probe marker can be replaced by the user according to the imaging range .

このように、標識部の寸法が撮像装置の撮像範囲に応じて設定されることにより、撮像画像上で標識部を適切に識別させることができる。 In this way, by setting the dimensions of the marker according to the imaging range of the imaging device, the marker can be appropriately identified on the captured image.

上記電磁界プローブ用マーカーにおいて、電磁界プローブに対して本体部を位置決めする位置決め部を備えていてもよい。 The electromagnetic field probe marker may include a positioning portion for positioning the body portion with respect to the electromagnetic field probe.

上記電磁界プローブ用マーカーにおいて、電磁界プローブは、既製品であってもよい。 In the electromagnetic field probe marker, the electromagnetic field probe may be a ready-made product.

上記電磁界プローブ用マーカーにおいて、標識部は、Ｖ字状の板体で構成されていてもよい。 In the electromagnetic field probe marker, the label portion may be formed of a V-shaped plate.

上記電磁界プローブ用マーカーにおいて、標識部は、球体で構成されていてもよい。 In the electromagnetic field probe marker, the label portion may be formed of a sphere.

上記電磁界プローブ用マーカーにおいて、標識部は、球体と円環体とで構成されていてもよい。 In the electromagnetic field probe marker, the labeling portion may be composed of a sphere and a torus.

本発明の電磁界プローブ用マーカーによれば、撮像画像上で標識部を適切に識別させることができる。 According to the electromagnetic field probe marker of the present invention, the labeling portion can be appropriately identified on the captured image.

電磁界プローブ用マーカーが適用される電磁界可視化装置を説明するためのブロック図である。1 is a block diagram for explaining an electromagnetic field visualization device to which an electromagnetic field probe marker is applied; FIG. 第１実施形態の電磁界プローブ用マーカーが電磁界プローブに取り付けられた状態を示した側面図である。FIG. 2 is a side view showing a state in which the electromagnetic field probe marker of the first embodiment is attached to the electromagnetic field probe; 図２の電磁界プローブ用マーカーを示した斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing the electromagnetic field probe marker of FIG. 2 ; 図２の電磁界プローブ用マーカーを別の角度から示した斜視図である。3 is a perspective view showing the electromagnetic field probe marker of FIG. 2 from another angle; FIG. 第２実施形態の電磁界プローブ用マーカーが電磁界プローブに取り付けられた状態を示した側面図である。FIG. 10 is a side view showing a state in which the electromagnetic field probe marker of the second embodiment is attached to the electromagnetic field probe; 図５の電磁界プローブ用マーカーを示した斜視図である。FIG. 6 is a perspective view showing the electromagnetic field probe marker of FIG. 5 ; 図５の電磁界プローブ用マーカーを別の角度から示した斜視図である。6 is a perspective view showing the electromagnetic field probe marker of FIG. 5 from another angle; FIG. 第３実施形態の電磁界プローブ用マーカーが電磁界プローブに取り付けられた状態を示した側面図である。FIG. 11 is a side view showing a state in which the electromagnetic field probe marker of the third embodiment is attached to the electromagnetic field probe; 第３実施形態の電磁界プローブ用マーカーが電磁界プローブに取り付けられた状態を示した平面図である。FIG. 11 is a plan view showing a state in which the electromagnetic field probe marker of the third embodiment is attached to the electromagnetic field probe; 図８の電磁界プローブ用マーカーを示した斜視図である。FIG. 9 is a perspective view showing the electromagnetic field probe marker of FIG. 8; 図８の電磁界プローブ用マーカーを別の角度から示した斜視図である。FIG. 9 is a perspective view showing the electromagnetic field probe marker of FIG. 8 from another angle;

以下、本発明の実施形態を説明する。 Embodiments of the present invention will be described below.

（第１実施形態）
まず、図１および図２を参照して、本発明の第１実施形態による電磁界プローブ用マーカー（以下、単に「マーカー」という）１０が適用される電磁界可視化装置１００の概略について説明する。 (First embodiment)
First, referring to FIGS. 1 and 2, an outline of an electromagnetic field visualization device 100 to which an electromagnetic field probe marker (hereinafter simply referred to as "marker") 10 according to a first embodiment of the present invention is applied will be described.

電磁界可視化装置１００は、評価対象物１５０が発する電磁波ノイズを検出して可視化するように構成されている。電磁界可視化装置１００は、図１に示すように、電磁界プローブ１０１と、アンテナ１０２と、信号源推定装置１０３と、撮像装置１０４と、ＰＣ（パーソナルコンピュータ）１０５と、表示装置１０６とを備えている。 The electromagnetic field visualization device 100 is configured to detect and visualize electromagnetic noise emitted by the evaluation object 150 . The electromagnetic field visualization device 100 includes an electromagnetic field probe 101, an antenna 102, a signal source estimation device 103, an imaging device 104, a PC (personal computer) 105, and a display device 106, as shown in FIG. ing.

電磁界プローブ１０１、アンテナ１０２および信号源推定装置１０３は、評価対象物１５０（図２参照）が発する電磁波ノイズを検出するために設けられている。電磁界プローブ１０１およびアンテナ１０２は、信号源推定装置１０３と接続されている。なお、評価対象物１５０は、たとえば電子回路基板である。 Electromagnetic field probe 101, antenna 102, and signal source estimating device 103 are provided to detect electromagnetic noise emitted by evaluation object 150 (see FIG. 2). Electromagnetic field probe 101 and antenna 102 are connected to signal source estimation device 103 . Note that the evaluation object 150 is, for example, an electronic circuit board.

電磁界プローブ１０１は、作業者またはロボットにより評価対象物１５０上で走査されるようになっている。電磁界プローブ１０１は、プローブ信号を検出するように構成されている。アンテナ１０２は、たとえば所定の位置に固定され、ターゲット信号を検出するように構成されている。ターゲット信号は、評価対象物１５０が発する信号であり、評価対象物１５０におけるノイズ源のノイズ信号が含まれている。信号源推定装置１０３は、電磁界プローブ１０１からのプローブ信号とアンテナ１０２からのターゲット信号とに基づいて、ターゲット信号に占めるノイズ信号の割合を算出するように構成されている。すなわち、プローブ信号は、ターゲット信号に占めるノイズ信号の割合を算出するためのものである。 The electromagnetic field probe 101 is designed to be scanned over the evaluation object 150 by an operator or robot. Electromagnetic field probe 101 is configured to detect a probe signal. Antenna 102 is, for example, fixed in place and configured to detect a target signal. A target signal is a signal emitted by the evaluation object 150 and includes a noise signal of a noise source in the evaluation object 150 . The signal source estimation device 103 is configured to calculate the ratio of the noise signal in the target signal based on the probe signal from the electromagnetic field probe 101 and the target signal from the antenna 102 . That is, the probe signal is for calculating the ratio of the noise signal to the target signal.

ここで、電磁界プローブ１０１は、本出願人が製造販売する既製品である。電磁界プローブ１０１は、図２に示すように、ペン型であり、先端にセンサ部１０１ａが設けられ、基端に接続部１０１ｂが設けられている。接続部１０１ｂにはケーブル（図示省略）が接続され、そのケーブルにより電磁界プローブ１０１が信号源推定装置１０３と接続されている。 Here, the electromagnetic field probe 101 is a ready-made product manufactured and sold by the present applicant. As shown in FIG. 2, the electromagnetic field probe 101 is pen-shaped and has a sensor section 101a at its distal end and a connection section 101b at its proximal end. A cable (not shown) is connected to the connecting portion 101b, and the electromagnetic field probe 101 is connected to the signal source estimating device 103 by the cable.

また、電磁界プローブ１０１には、スライド式のカバー１０１ｃが設けられている。カバー１０１ｃは、電磁界プローブ１０１の不使用時にセンサ部１０１ａを覆うとともに、電磁界プローブ１０１の使用時に基端側に移動されてセンサ部１０１ａを露出させるように構成されている。なお、電磁界プローブ１０１の使用時には、カバー１０１ｃがフランジ１０１ｄに当接されている。フランジ１０１ｄは、外側に張り出すように形成され、カバー１０１ｃの基端側へのスライド移動を規制するストッパとして機能する。 Further, the electromagnetic field probe 101 is provided with a slide-type cover 101c. The cover 101c is configured to cover the sensor portion 101a when the electromagnetic field probe 101 is not in use, and to be moved toward the base end to expose the sensor portion 101a when the electromagnetic field probe 101 is in use. When the electromagnetic field probe 101 is used, the cover 101c is in contact with the flange 101d. The flange 101d is formed to protrude outward and functions as a stopper that restricts the sliding movement of the cover 101c toward the base end side.

撮像装置１０４は、評価対象物１５０を撮像するとともに、その評価対象物１５０上で走査される電磁界プローブ１０１を撮像するために設けられている。撮像装置１０４の撮像画像は、ＰＣ１０５で画像処理されて電磁界プローブ１０１の位置を特定するために用いられる。すなわち、撮像装置１０４の撮像画像は、電磁界プローブ１０１によるプローブ信号の検出位置を特定するために用いられる。撮像装置１０４は、電磁界プローブ１０１に装着された後述するマーカー１０を撮像するように構成されている。 The imaging device 104 is provided for imaging the evaluation object 150 and for imaging the electromagnetic field probe 101 scanned over the evaluation object 150 . The image captured by the imaging device 104 is image-processed by the PC 105 and used to identify the position of the electromagnetic field probe 101 . That is, the captured image of the imaging device 104 is used to specify the detection position of the probe signal by the electromagnetic field probe 101 . The imaging device 104 is configured to capture an image of the marker 10 attached to the electromagnetic field probe 101, which will be described later.

たとえば、撮像装置１０４は、評価対象物１５０を上方から撮像するために、評価対象物１５０が載置される載置台（図示省略）の上方に設置されている。この撮像装置１０４は、評価対象物１５０の大きさに応じて撮像範囲を調整可能に構成されている。このため、撮像範囲が広い場合には、撮像範囲が狭い場合に比べて、撮像装置１０４の撮像画像の分解能が低くなる。 For example, the imaging device 104 is installed above a mounting table (not shown) on which the evaluation object 150 is mounted in order to image the evaluation object 150 from above. The imaging device 104 is configured so that the imaging range can be adjusted according to the size of the evaluation object 150 . Therefore, when the imaging range is wide, the resolution of the captured image of the imaging device 104 is lower than when the imaging range is narrow.

ＰＣ１０５には、信号源推定装置１０３、撮像装置１０４および表示装置１０６が接続されている。ＰＣ１０５は、信号源推定装置１０３および撮像装置１０４からの入力に基づいて、評価対象物１５０の電磁波ノイズの発生状況を表示装置１０６に表示させるように構成されている。 A signal source estimation device 103 , an imaging device 104 and a display device 106 are connected to the PC 105 . The PC 105 is configured to cause the display device 106 to display the electromagnetic noise generation status of the evaluation object 150 based on the inputs from the signal source estimation device 103 and the imaging device 104 .

－マーカー－
次に、図２～図４を参照して、第１実施形態のマーカー１０について説明する。 -marker-
Next, the marker 10 of the first embodiment will be described with reference to FIGS. 2 to 4. FIG.

マーカー１０は、図２に示すように、電磁界プローブ１０１の位置を示すためのものであり、電磁界プローブ１０１に着脱可能に構成されている。マーカー１０は、本体部１１と、クリップ部１２と、位置決め部１３と、標識部１４とを備えている。たとえば、マーカー１０は樹脂成型品であり、本体部１１、クリップ部１２、位置決め部１３および標識部１４が一体的に形成されている。 The marker 10 is for indicating the position of the electromagnetic field probe 101, as shown in FIG. The marker 10 includes a body portion 11, a clip portion 12, a positioning portion 13, and a marking portion 14. As shown in FIG. For example, the marker 10 is a resin-molded product, in which a body portion 11, a clip portion 12, a positioning portion 13, and a label portion 14 are integrally formed.

本体部１１は、図３および図４に示すように、長方形の平板状に形成されている。本体部１１の一方面には、クリップ部１２が形成されている。本体部１１の長手方向の一方端部には、位置決め部１３が形成され、本体部１１の長手方向の他方端部には、標識部１４が形成されている。 As shown in FIGS. 3 and 4, the body portion 11 is formed in a rectangular flat plate shape. A clip portion 12 is formed on one surface of the body portion 11 . A positioning portion 13 is formed at one end portion in the longitudinal direction of the body portion 11 , and a label portion 14 is formed at the other end portion in the longitudinal direction of the body portion 11 .

クリップ部１２は、電磁界プローブ１０１に対して本体部１１を着脱するために設けられている。クリップ部１２は、スナップリング状であり、電磁界プローブ１０１のカバー１０１ｃを保持可能に構成されている。クリップ部１２は、本体部１１の長手方向に間隔を隔てて複数（たとえば３つ）設けられている。各クリップ部１２は、本体部１１の短手方向の両端部から延びる一対の弧状アーム１２ａと、弧状アーム１２ａの先端に形成された爪部１２ｂとを有する。爪部１２ｂは、弧状アーム１２ａから内側に突出するように形成されている。 The clip portion 12 is provided for attaching and detaching the body portion 11 to and from the electromagnetic field probe 101 . The clip portion 12 has a snap ring shape and is configured to be able to hold the cover 101c of the electromagnetic field probe 101 . A plurality of (for example, three) clip portions 12 are provided at intervals in the longitudinal direction of the body portion 11 . Each clip portion 12 has a pair of arcuate arms 12a extending from both ends in the short direction of the body portion 11 and claw portions 12b formed at the tips of the arcuate arms 12a. The claw portion 12b is formed to protrude inward from the arcuate arm 12a.

位置決め部１３は、電磁界プローブ１０１に対して本体部１１を位置決めするために設けられている。位置決め部１３は、本体部１１の長手方向に延びるアーム１３ａと、アーム１３ａの先端に形成された爪部１３ｂとを有する。爪部１３ｂは、本体部１１の一方面側に突出するように形成され、電磁界プローブ１０１のフランジ１０１ｄと係合可能に構成されている。 The positioning portion 13 is provided to position the body portion 11 with respect to the electromagnetic field probe 101 . The positioning portion 13 has an arm 13a extending in the longitudinal direction of the body portion 11 and a claw portion 13b formed at the tip of the arm 13a. The claw portion 13b is formed so as to protrude from one side of the body portion 11, and is configured to be engageable with the flange 101d of the electromagnetic field probe 101. As shown in FIG.

標識部１４は、撮像装置１０４（図１参照）に撮像され、その撮像画像上での目印とされるものである。標識部１４は、Ｖ字状の板体で構成されており、屈曲部１４ａを有する。屈曲部１４ａは、本体部１１の短手方向に延びるように形成されている。このため、標識部１４の表面は、屈曲部１４ａに対して一方側に配置される第１面１４ｂと、屈曲部１４ａに対して他方側に配置される第２面１４ｃとを有する。なお、標識部１４の裏面側には、三角形のリブ１４ｄ（図４参照）が形成されている。 The marking portion 14 is captured by the imaging device 104 (see FIG. 1) and serves as a mark on the captured image. The label portion 14 is formed of a V-shaped plate and has a bent portion 14a. The bent portion 14 a is formed to extend in the lateral direction of the body portion 11 . Therefore, the surface of the label portion 14 has a first surface 14b arranged on one side with respect to the bent portion 14a and a second surface 14c arranged on the other side with respect to the bent portion 14a. A triangular rib 14d (see FIG. 4) is formed on the back side of the label portion 14. As shown in FIG.

このようなマーカー１０では、図２に示すように、クリップ部１２がカバー１０１ｃに嵌め合わされることにより、マーカー１０が電磁界プローブ１０１に取り付けられている。また、位置決め部１３がフランジ１０１ｄに係合されることにより、電磁界プローブ１０１に対してマーカー１０が位置決めされている。このとき、カバー１０１ｃがフランジ１０１ｄに当接されている。なお、クリップ部１２がカバー１０１ｃを保持しているため、カバー１０１ｃが先端側に移動されないようになっている。 As shown in FIG. 2, such a marker 10 is attached to the electromagnetic field probe 101 by fitting the clip portion 12 to the cover 101c. Further, the marker 10 is positioned with respect to the electromagnetic field probe 101 by engaging the positioning portion 13 with the flange 101d. At this time, the cover 101c is in contact with the flange 101d. Since the clip portion 12 holds the cover 101c, the cover 101c is prevented from being moved to the distal end side.

そして、電磁界プローブ１０１にマーカー１０が装着された状態で、電磁界プローブ１０１が評価対象物１５０上で走査される。そのとき、電磁界プローブ１０１によるプローブ信号の検出が行われるとともに、撮像装置１０４の撮像画像上での標識部１４を用いた位置の算出が行われる。 Then, the electromagnetic field probe 101 is scanned over the evaluation object 150 with the marker 10 attached to the electromagnetic field probe 101 . At that time, the probe signal is detected by the electromagnetic field probe 101, and the position on the captured image of the imaging device 104 is calculated using the marker section 14. FIG.

ここで、電磁界プローブ１０１が走査されるときには、図２に示すような予め設定された検出姿勢で走査される。この検出姿勢では、電磁界プローブ１０１が鉛直方向に対して傾斜されており、センサ部１０１ａと屈曲部１４ａとが同一の鉛直線上に配置されている。すなわち、検出姿勢では、センサ部１０１ａを通過する鉛直線に対して第１面１４ｂおよび第２面１４ｃが対称に配置されている。これにより、標識部１４に対するセンサ部１０１ａの位置を把握することが可能である。また、電磁界プローブ１０１が走査されているときに、屈曲部１４ａの延長方向（本体部１１の短手方向）と交差する面内で電磁界プローブ１０１が検出姿勢から傾いた場合には、第１面１４ｂおよび第２面１４ｃでの反射光の態様が変化するため、検出姿勢からの変動を検知することが可能である。 Here, when the electromagnetic field probe 101 is scanned, it is scanned in a preset detection posture as shown in FIG. In this detection posture, the electromagnetic field probe 101 is tilted with respect to the vertical direction, and the sensor portion 101a and the bending portion 14a are arranged on the same vertical line. That is, in the detection posture, the first surface 14b and the second surface 14c are arranged symmetrically with respect to the vertical line passing through the sensor section 101a. Thereby, it is possible to grasp the position of the sensor portion 101a with respect to the marker portion 14. FIG. Further, when the electromagnetic field probe 101 is scanned, if the electromagnetic field probe 101 is tilted from the detection posture within a plane that intersects with the extension direction of the bent portion 14a (the lateral direction of the main body portion 11), the Since the modes of reflected light on the first surface 14b and the second surface 14c change, it is possible to detect a change from the detected orientation.

また、標識部１４の寸法は、撮像装置１０４の撮像範囲に応じて設定されている。このため、たとえば、撮像装置１０４の撮像範囲が広い場合には、標識部１４の寸法が大きいマーカー１０が用いられ、撮像装置１０４の撮像範囲が狭い場合には、標識部１４の寸法が小さいマーカー１０が用いられるようになっている。すなわち、標識部１４の寸法（第１面１４ｂおよび第２面１４ｃの面積）が異なる複数のマーカー１０が準備されており、撮像装置１０４の撮像範囲に応じて適したマーカー１０が利用される。 Also, the dimensions of the label portion 14 are set according to the imaging range of the imaging device 104 . Therefore, for example, when the imaging range of the imaging device 104 is wide, the marker 10 having the large size of the label portion 14 is used, and when the imaging range of the imaging device 104 is narrow, the marker 10 having the small size of the label portion 14 is used. 10 is now used. That is, a plurality of markers 10 having different dimensions (areas of the first surface 14b and the second surface 14c) of the marker portion 14 are prepared, and the marker 10 suitable for the imaging range of the imaging device 104 is used.

－効果－
第１実施形態では、上記のように、標識部１４の寸法が撮像装置１０４の撮像範囲に応じて設定されている。たとえば、撮像範囲が広い場合に標識部１４が大きいマーカー１０を用いるとともに、撮像範囲が狭い場合に標識部１４が小さいマーカー１０を用いることにより、撮像画像上で標識部１４を適切に識別させることができる。つまり、撮像範囲が広く、撮像画像の分解能が低い場合には、標識部１４が大きいマーカー１０を用いることにより、撮像画像上で標識部１４を適切に識別させることができる。 -effect-
In the first embodiment, as described above, the dimensions of the label portion 14 are set according to the imaging range of the imaging device 104 . For example, by using a marker 10 with a large labeling portion 14 when the imaging range is wide and using a marker 10 with a small labeling portion 14 when the imaging range is narrow, the labeling portion 14 can be appropriately identified on the captured image. can be done. In other words, when the imaging range is wide and the resolution of the captured image is low, the marker 10 having the large marking portion 14 can be used to appropriately identify the marking portion 14 on the captured image.

また、第１実施形態では、クリップ部１２が設けられることによって、電磁界プローブ１０１に対してマーカー１０を容易に着脱することができるので、撮像範囲に応じてマーカー１０を容易に交換することができる。 Further, in the first embodiment, since the clip portion 12 is provided, the marker 10 can be easily attached to and detached from the electromagnetic field probe 101, so that the marker 10 can be easily replaced according to the imaging range. can.

また、第１実施形態では、位置決め部１３が設けられることによって、電磁界プローブ１０１に対してマーカー１０を位置決めすることができる。 Further, in the first embodiment, the marker 10 can be positioned with respect to the electromagnetic field probe 101 by providing the positioning portion 13 .

また、第１実施形態では、標識部１４がＶ字状の板体で構成されることによって、予め設定された検出姿勢からの変動を検知することができる。 In addition, in the first embodiment, since the marker portion 14 is formed of a V-shaped plate, it is possible to detect a change from a preset detection posture.

（第２実施形態）
次に、図５～図７を参照して、第２実施形態のマーカー２０について説明する。 (Second embodiment)
Next, the marker 20 of the second embodiment will be described with reference to FIGS. 5 to 7. FIG.

マーカー２０は、図５に示すように、電磁界プローブ１０１の位置を示すためのものであり、電磁界プローブ１０１に着脱可能に構成されている。マーカー２０は、本体部２１と、クリップ部２２と、位置決め部２３と、標識部２４とを備えている。たとえば、マーカー２０は樹脂成型品であり、本体部２１、クリップ部２２、位置決め部２３および標識部２４が一体的に形成されている。 The marker 20 is for indicating the position of the electromagnetic field probe 101, as shown in FIG. The marker 20 includes a body portion 21 , a clip portion 22 , a positioning portion 23 and a marking portion 24 . For example, the marker 20 is a resin-molded product, in which a body portion 21, a clip portion 22, a positioning portion 23, and a label portion 24 are integrally formed.

本体部２１は、図６および図７に示すように、長方形の平板状に形成されている。本体部２１の一方面には、クリップ部２２が形成されている。本体部２１の長手方向の一方端部には、位置決め部２３が形成されている。本体部２１の長手方向の他方端部側には、他方面に標識部２４が形成されている。クリップ部２２および位置決め部２３は、それぞれ、上記したクリップ部１２および位置決め部１３と同様に構成されている。標識部２４は、撮像装置１０４（図１参照）に撮像され、その撮像画像上での目印とされるものである。標識部２４は、球体で構成されている。 As shown in FIGS. 6 and 7, the body portion 21 is formed in a rectangular flat plate shape. A clip portion 22 is formed on one surface of the body portion 21 . A positioning portion 23 is formed at one end in the longitudinal direction of the body portion 21 . A label portion 24 is formed on the other side of the body portion 21 on the other end side in the longitudinal direction. The clip portion 22 and the positioning portion 23 are configured in the same manner as the clip portion 12 and the positioning portion 13 described above, respectively. The marking portion 24 is captured by the imaging device 104 (see FIG. 1) and serves as a mark on the captured image. The label portion 24 is configured as a sphere.

このようなマーカー２０では、図５に示すように、クリップ部２２がカバー１０１ｃに嵌め合わされることにより、マーカー２０が電磁界プローブ１０１に取り付けられている。また、位置決め部２３がフランジ１０１ｄに係合されることにより、電磁界プローブ１０１に対してマーカー２０が位置決めされている。このとき、カバー１０１ｃがフランジ１０１ｄに当接されている。なお、クリップ部２２がカバー１０１ｃを保持しているため、カバー１０１ｃが先端側に移動されないようになっている。 In such a marker 20, as shown in FIG. 5, the marker 20 is attached to the electromagnetic field probe 101 by fitting the clip portion 22 to the cover 101c. Further, the marker 20 is positioned with respect to the electromagnetic field probe 101 by engaging the positioning portion 23 with the flange 101d. At this time, the cover 101c is in contact with the flange 101d. Since the clip portion 22 holds the cover 101c, the cover 101c is prevented from being moved to the distal end side.

そして、電磁界プローブ１０１にマーカー２０が装着された状態で、電磁界プローブ１０１が評価対象物１５０上で走査される。そのとき、電磁界プローブ１０１によるプローブ信号の検出が行われるとともに、撮像装置１０４の撮像画像上での標識部２４を用いた位置の算出が行われる。 Then, the electromagnetic field probe 101 is scanned over the evaluation object 150 with the marker 20 attached to the electromagnetic field probe 101 . At that time, the probe signal is detected by the electromagnetic field probe 101, and the position on the captured image of the imaging device 104 is calculated using the marker portion 24. FIG.

ここで、電磁界プローブ１０１が走査されるときには、図５に示すような予め設定された検出姿勢で走査される。この検出姿勢では、電磁界プローブ１０１が鉛直方向に対して傾斜されており、センサ部１０１ａと球状の標識部２４の中心とが同一の鉛直線上に配置されている。これにより、標識部２４に対するセンサ部１０１ａの位置を把握することが可能である。 Here, when the electromagnetic field probe 101 is scanned, it is scanned in a preset detection posture as shown in FIG. In this detection posture, the electromagnetic field probe 101 is tilted with respect to the vertical direction, and the sensor portion 101a and the center of the spherical marker portion 24 are arranged on the same vertical line. Thereby, it is possible to grasp the position of the sensor portion 101a with respect to the marker portion 24. FIG.

また、標識部２４の寸法は、撮像装置１０４の撮像範囲に応じて設定されている。このため、たとえば、撮像装置１０４の撮像範囲が広い場合には、標識部２４の寸法が大きいマーカー２０が用いられ、撮像装置１０４の撮像範囲が狭い場合には、標識部２４の寸法が小さいマーカー２０が用いられるようになっている。すなわち、標識部２４の寸法（直径）が異なる複数のマーカー２０が準備されており、撮像装置１０４の撮像範囲に応じて適したマーカー２０が利用される。 In addition, the dimensions of the label portion 24 are set according to the imaging range of the imaging device 104 . For this reason, for example, when the imaging range of the imaging device 104 is wide, the marker 20 having the large size of the labeling portion 24 is used, and when the imaging range of the imaging device 104 is narrow, the marker 20 having the small size of the labeling portion 24 is used. 20 are to be used. In other words, a plurality of markers 20 having different dimensions (diameters) of the marking portions 24 are prepared, and the appropriate marker 20 is used according to the imaging range of the imaging device 104 .

－効果－
第２実施形態では、上記のように、標識部２４の寸法が撮像装置１０４の撮像範囲に応じて設定されている。たとえば、撮像範囲が広い場合に標識部２４が大きいマーカー２０を用いるとともに、撮像範囲が狭い場合に標識部２４が小さいマーカー２０を用いることにより、撮像画像上で標識部２４を適切に識別させることができる。つまり、撮像範囲が広く、撮像画像の分解能が低い場合には、標識部２４が大きいマーカー２０を用いることにより、撮像画像上で標識部２４を適切に識別させることができる。 -effect-
In the second embodiment, as described above, the dimensions of the label portion 24 are set according to the imaging range of the imaging device 104 . For example, by using a marker 20 with a large labeling portion 24 when the imaging range is wide and using a marker 20 with a small labeling portion 24 when the imaging range is narrow, the labeling portion 24 can be appropriately identified on the captured image. can be done. That is, when the imaging range is wide and the resolution of the captured image is low, the marker 20 having the large labeling portion 24 can be used to appropriately identify the labeling portion 24 on the captured image.

また、第２実施形態では、クリップ部２２が設けられることによって、電磁界プローブ１０１に対してマーカー２０を容易に着脱することができるので、撮像範囲に応じてマーカー２０を容易に交換することができる。 Further, in the second embodiment, since the clip portion 22 is provided, the marker 20 can be easily attached to and detached from the electromagnetic field probe 101, so that the marker 20 can be easily replaced according to the imaging range. can.

また、第２実施形態では、位置決め部２３が設けられることによって、電磁界プローブ１０１に対してマーカー２０を位置決めすることができる。 Further, in the second embodiment, the marker 20 can be positioned with respect to the electromagnetic field probe 101 by providing the positioning portion 23 .

（第３実施形態）
次に、図８～図１１を参照して、第３実施形態のマーカー３０について説明する。 (Third embodiment)
Next, the marker 30 of the third embodiment will be described with reference to FIGS. 8 to 11. FIG.

マーカー３０は、図８および図９に示すように、電磁界プローブ１０１の位置を示すためのものであり、電磁界プローブ１０１に着脱可能に構成されている。マーカー３０は、本体部３１と、クリップ部３２と、位置決め部３３と、標識部３４とを備えている。たとえば、マーカー３０は樹脂成型品であり、本体部３１、クリップ部３２、位置決め部３３および標識部３４が一体的に形成されている。 The marker 30 is for indicating the position of the electromagnetic field probe 101 as shown in FIGS. The marker 30 includes a body portion 31 , a clip portion 32 , a positioning portion 33 and a label portion 34 . For example, the marker 30 is a resin-molded product, in which a body portion 31, a clip portion 32, a positioning portion 33 and a label portion 34 are integrally formed.

本体部３１は、図１０および図１１に示すように、長方形の平板状に形成されている。本体部３１の一方面には、クリップ部３２が形成されている。本体部３１の長手方向の一方端部には、位置決め部３３が形成されている。本体部３１の他方面には、標識部３４が形成されている。クリップ部３２および位置決め部３３は、それぞれ、上記したクリップ部１２および位置決め部１３と同様に構成されている。 As shown in FIGS. 10 and 11, the body portion 31 is formed in a rectangular flat plate shape. A clip portion 32 is formed on one surface of the body portion 31 . A positioning portion 33 is formed at one end portion of the body portion 31 in the longitudinal direction. A label portion 34 is formed on the other surface of the body portion 31 . The clip portion 32 and the positioning portion 33 are configured in the same manner as the clip portion 12 and the positioning portion 13 described above, respectively.

標識部３４は、撮像装置１０４（図１参照）に撮像され、その撮像画像上での目印とされるものである。標識部３４は、球体３４１と円環体３４２とで構成されている。球体３４１は、本体部３１の長手方向の他方端部側に配置されている。円環体３４２は、本体部３１の長手方向の中間部から延びる連結板部３４２ａと、連結板部３４２ａの先端に形成された円環板部３４２ｂとを有する。連結板部３４２ａは、本体部３１の他方端部側とのなす角が鋭角になるように傾斜されている。円環板部３４２ｂは、円形の開口を有し、その開口の直径が球体３４１の直径よりも大きくされている。 The marking portion 34 is captured by the imaging device 104 (see FIG. 1) and serves as a mark on the captured image. The label portion 34 is composed of a sphere 341 and a torus 342 . The sphere 341 is arranged on the other end side in the longitudinal direction of the body portion 31 . The annular body 342 has a connecting plate portion 342a extending from a longitudinal intermediate portion of the body portion 31, and an annular plate portion 342b formed at the tip of the connecting plate portion 342a. The connecting plate portion 342a is inclined so that the angle formed with the other end portion of the main body portion 31 is an acute angle. The annular plate portion 342 b has a circular opening with a diameter larger than that of the sphere 341 .

このようなマーカー３０では、図８に示すように、クリップ部３２がカバー１０１ｃに嵌め合わされることにより、マーカー３０が電磁界プローブ１０１に取り付けられている。また、位置決め部３３がフランジ１０１ｄに係合されることにより、電磁界プローブ１０１に対してマーカー３０が位置決めされている。このとき、カバー１０１ｃがフランジ１０１ｄに当接されている。なお、クリップ部３２がカバー１０１ｃを保持しているため、カバー１０１ｃが先端側に移動されないようになっている。 In such a marker 30, as shown in FIG. 8, the marker 30 is attached to the electromagnetic field probe 101 by fitting the clip portion 32 to the cover 101c. Further, the marker 30 is positioned with respect to the electromagnetic field probe 101 by engaging the positioning portion 33 with the flange 101d. At this time, the cover 101c is in contact with the flange 101d. Since the clip portion 32 holds the cover 101c, the cover 101c is prevented from being moved to the distal end side.

そして、電磁界プローブ１０１にマーカー３０が装着された状態で、電磁界プローブ１０１が評価対象物１５０上で走査される。そのとき、電磁界プローブ１０１によるプローブ信号の検出が行われるとともに、撮像装置１０４の撮像画像上での標識部３４を用いた位置の算出が行われる。 Then, the electromagnetic field probe 101 is scanned over the evaluation object 150 with the marker 30 attached to the electromagnetic field probe 101 . At this time, the probe signal is detected by the electromagnetic field probe 101, and the position on the captured image of the imaging device 104 is calculated using the marker section 34. FIG.

ここで、電磁界プローブ１０１が走査されるときには、図８に示すような予め設定された検出姿勢で走査される。この検出姿勢では、電磁界プローブ１０１が鉛直方向に対して傾斜されるとともに、円環体３４２が水平に配置されており、センサ部１０１ａと球体３４１の中心と円環板部３４２ｂの開口の中心とが同一の鉛直線上に配置されている。これにより、標識部３４に対するセンサ部１０１ａの位置を把握することが可能である。また、電磁界プローブ１０１が走査されているときに、電磁界プローブ１０１が検出姿勢から傾いた場合には、撮像画像上における円環板部３４２ｂに対する球体３４１の位置（平面的に見た場合の円環板部３４２ｂと球体３４１との隙間）が変化するため、検出姿勢からの変動を精度よく検知することが可能である。 Here, when the electromagnetic field probe 101 is scanned, it is scanned in a preset detection attitude as shown in FIG. In this detection posture, the electromagnetic field probe 101 is tilted with respect to the vertical direction, and the annular body 342 is horizontally arranged. are arranged on the same vertical line. Thereby, it is possible to grasp the position of the sensor portion 101a with respect to the marker portion 34. FIG. Further, when the electromagnetic field probe 101 is tilted from the detection posture while the electromagnetic field probe 101 is being scanned, the position of the sphere 341 with respect to the annular plate portion 342b on the captured image (when viewed in plan) Since the gap between the annular plate portion 342b and the spherical body 341) changes, it is possible to accurately detect a change from the detected posture.

また、標識部３４の寸法は、撮像装置１０４の撮像範囲に応じて設定されている。このため、たとえば、撮像装置１０４の撮像範囲が広い場合には、標識部３４の寸法が大きいマーカー３０が用いられ、撮像装置１０４の撮像範囲が狭い場合には、標識部３４の寸法が小さいマーカー３０が用いられるようになっている。すなわち、標識部３４の寸法（球体３４１および円環板部３４２ｂの直径）が異なる複数のマーカー３０が準備されており、撮像装置１０４の撮像範囲に応じて適したマーカー３０が利用される。 In addition, the dimensions of the label portion 34 are set according to the imaging range of the imaging device 104 . For this reason, for example, when the imaging range of the imaging device 104 is wide, the marker 30 with the large size of the labeling portion 34 is used, and when the imaging range of the imaging device 104 is narrow, the marker with the small size of the labeling portion 34 is used. 30 are to be used. That is, a plurality of markers 30 having different dimensions of the marker portion 34 (diameters of the sphere 341 and the annular plate portion 342b) are prepared, and the marker 30 suitable for the imaging range of the imaging device 104 is used.

－効果－
第３実施形態では、上記のように、標識部３４の寸法が撮像装置１０４の撮像範囲に応じて設定されている。たとえば、撮像範囲が広い場合に標識部３４が大きいマーカー３０を用いるとともに、撮像範囲が狭い場合に標識部３４が小さいマーカー３０を用いることにより、撮像画像上で標識部３４を適切に識別させることができる。つまり、撮像範囲が広く、撮像画像の分解能が低い場合には、標識部３４が大きいマーカー３０を用いることにより、撮像画像上で標識部３４を適切に識別させることができる。 -effect-
In the third embodiment, as described above, the dimensions of the label portion 34 are set according to the imaging range of the imaging device 104 . For example, by using a marker 30 having a large labeling portion 34 when the imaging range is wide and using a marker 30 having a small labeling portion 34 when the imaging range is narrow, the labeling portion 34 can be appropriately identified on the captured image. can be done. In other words, when the imaging range is wide and the resolution of the captured image is low, the marker 30 having the large marking portion 34 can be used to appropriately identify the marking portion 34 on the captured image.

また、第３実施形態では、クリップ部３２が設けられることによって、電磁界プローブ１０１に対してマーカー３０を容易に着脱することができるので、撮像範囲に応じてマーカー３０を容易に交換することができる。 Further, in the third embodiment, since the clip portion 32 is provided, the marker 30 can be easily attached to and detached from the electromagnetic field probe 101, so that the marker 30 can be easily replaced according to the imaging range. can.

また、第３実施形態では、位置決め部３３が設けられることによって、電磁界プローブ１０１に対してマーカー３０を位置決めすることができる。 Further, in the third embodiment, the marker 30 can be positioned with respect to the electromagnetic field probe 101 by providing the positioning portion 33 .

また、第３実施形態では、標識部３４が球体３４１と円環体３４２とで構成されることによって、予め設定された検出姿勢からの変動を精度よく検知することができる。 In addition, in the third embodiment, since the marker part 34 is composed of the sphere 341 and the torus 342, it is possible to accurately detect the change from the preset detection posture.

（他の実施形態）
なお、今回開示した実施形態は、すべての点で例示であって、限定的な解釈の根拠となるものではない。したがって、本発明の技術的範囲は、上記した実施形態のみによって解釈されるものではなく、特許請求の範囲の記載に基づいて画定される。また、本発明の技術的範囲には、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。 (Other embodiments)
In addition, the embodiment disclosed this time is an example in all respects, and does not serve as a basis for a restrictive interpretation. Therefore, the technical scope of the present invention is not to be interpreted only by the above-described embodiments, but is defined based on the claims. In addition, the technical scope of the present invention includes all modifications within the meaning and range of equivalence to the claims.

本発明は、電磁界可視化装置の電磁界プローブの位置を示すためのマーカーに利用可能である。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be used as a marker for indicating the position of an electromagnetic field probe of an electromagnetic field visualization device.

１０、２０、３０ マーカー（電磁界プローブ用マーカー）
１１、２１、３１ 本体部
１２、２２、３２ クリップ部
１３、２３、３３ 位置決め部
１４、２４、３４ 標識部
１００ 電磁界可視化装置
１０１ 電磁界プローブ
１０４ 撮像装置
３４１ 球体
３４２ 円環体 10, 20, 30 markers (markers for electromagnetic field probes)
Reference Signs List 11, 21, 31 body section 12, 22, 32 clip section 13, 23, 33 positioning section 14, 24, 34 label section 100 electromagnetic field visualization device 101 electromagnetic field probe 104 imaging device 341 sphere 342 torus

Claims (6)

電磁界可視化装置の電磁界プローブの位置を示すための電磁界プローブ用マーカーであって、
本体部と、
前記電磁界プローブに対して前記本体部を着脱するためのクリップ部と、
前記電磁界可視化装置の撮像装置に撮像され、その撮像画像上での目印とされる標識部とを備え、
前記標識部の寸法は、前記撮像装置の撮像範囲に応じて設定され、
撮像範囲に応じてユーザによって交換することができることを特徴とする電磁界プローブ用マーカー。 An electromagnetic field probe marker for indicating the position of an electromagnetic field probe of an electromagnetic field visualization device,
a main body;
a clip portion for attaching and detaching the body portion to and from the electromagnetic field probe;
and a marker part that is imaged by the imaging device of the electromagnetic field visualization device and serves as a mark on the captured image,
The dimensions of the marking part are set according to the imaging range of the imaging device,
An electromagnetic field probe marker that can be replaced by a user according to an imaging range. 請求項１に記載の電磁界プローブ用マーカーにおいて、
前記電磁界プローブに対して前記本体部を位置決めする位置決め部を備えることを特徴とする電磁界プローブ用マーカー。 In the electromagnetic field probe marker according to claim 1,
A marker for an electromagnetic field probe, comprising a positioning portion for positioning the body portion with respect to the electromagnetic field probe. 請求項１または２に記載の電磁界プローブ用マーカーにおいて、
前記電磁界プローブは、既製品であることを特徴とする電磁界プローブ用マーカー。 In the electromagnetic field probe marker according to claim 1 or 2,
An electromagnetic field probe marker, wherein the electromagnetic field probe is a ready-made product. 請求項１～３のいずれか１つに記載の電磁界プローブ用マーカーにおいて、
前記標識部は、Ｖ字状の板体で構成されていることを特徴とする電磁界プローブ用マーカー。 In the electromagnetic field probe marker according to any one of claims 1 to 3,
A marker for an electromagnetic field probe, wherein the label portion is composed of a V-shaped plate. 請求項１～３のいずれか１つに記載の電磁界プローブ用マーカーにおいて、
前記標識部は、球体で構成されていることを特徴とする電磁界プローブ用マーカー。 In the electromagnetic field probe marker according to any one of claims 1 to 3,
A marker for an electromagnetic field probe, wherein the label portion is formed of a sphere. 請求項１～３のいずれか１つに記載の電磁界プローブ用マーカーにおいて、
前記標識部は、球体と円環体とで構成されていることを特徴とする電磁界プローブ用マーカー。 In the electromagnetic field probe marker according to any one of claims 1 to 3,
A marker for an electromagnetic field probe, wherein the label portion is composed of a sphere and a torus.
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002331796A (en) 2001-05-09 2002-11-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electronic whiteboard
JP2010175351A (en) 2009-01-29 2010-08-12 Nec Tokin Corp Portable electromagnetic field sensor
WO2014002466A1 (en) 2012-06-25 2014-01-03 国立大学法人金沢大学 Electromagnetic field measuring and display device, electromagnetic measuring and display method, program, and recording medium
JP2016132835A (en) 2015-01-16 2016-07-25 株式会社タニタ Measuring apparatus and mounting system

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0446589U (en) * 1990-08-27 1992-04-21

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002331796A (en) 2001-05-09 2002-11-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electronic whiteboard
JP2010175351A (en) 2009-01-29 2010-08-12 Nec Tokin Corp Portable electromagnetic field sensor
WO2014002466A1 (en) 2012-06-25 2014-01-03 国立大学法人金沢大学 Electromagnetic field measuring and display device, electromagnetic measuring and display method, program, and recording medium
JP2016132835A (en) 2015-01-16 2016-07-25 株式会社タニタ Measuring apparatus and mounting system

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