JP7290221B2 - 余寿命予測システム、余寿命予測装置、および余寿命予測プログラム - Google Patents
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Description
各種統計量などを選定して用いることができる。統計量の具体的な特徴量としては、実効値、最大値、波高率、尖度、歪度などである。また、時間領域情報をバンドパスフィルタなどを用いて複数の周波数帯域に区分し、それぞれの区分について周波数領域情報、ケフレンシ領域情報を生成し、これらそれぞれについて算出された統計量を特徴量としてもかまわない。
101 学習装置
109 余寿命推定装置
110 学習情報取得部
120 第一回帰モデル育成部
130 評価情報取得部
140 余寿命導出部
150 第二回帰モデル育成部
200 学習用動作機構
201 学習用第一部材
202 学習用第二部材
300 学習情報生成装置
301 軸体
302 駆動装置
305 固定部材
306 記録装置
321 第一センサ
322 第二センサ
330 駆動制御装置
400 実機
Claims (3)
- 第一部材、および第二部材が相対的に動作する動作機構の動作限界までの時間である余寿命を予測する余寿命予測システムであって、
学習用動作機構を動作限界まで動作させ、動作限界までの各時刻における学習用第一部材、および学習用第二部材の少なくとも一方における動作により生じる劣化の量を示す学習劣化量情報、前記学習用動作機構の動作から得られる学習特徴量ベクトル、および情報を取得した時刻から動作限界までの時間である学習余寿命を取得する学習情報取得部と、
前記学習特徴量ベクトル、および前記学習劣化量情報に基づき劣化量を推定する第一回帰モデルを育成する第一回帰モデル育成部と、
前記学習劣化量情報、および前記学習余寿命に基づき余寿命を推定する第二回帰モデルを育成する第二回帰モデル育成部と、
前記学習用動作機構と同種の評価用動作機構の動作から得られる評価特徴量ベクトルを取得する評価情報取得部と、
前記評価特徴量ベクトルを入力とし、前記第一回帰モデル育成部により育成された前記第一回帰モデルにより前記評価用動作機構の評価劣化量情報を推定し、得られた前記評価劣化量情報を入力とし、前記第二回帰モデル育成部により育成された前記第二回帰モデルにより前記評価用動作機構の余寿命を導出する余寿命導出部と、
を備える余寿命予測システム。 - 第一部材、および第二部材が相対的に動作する動作機構の動作限界までの時間である余寿命を予測する余寿命予測装置であって、
評価用動作機構の動作から得られる評価特徴量ベクトルを取得する評価情報取得部と、
前記評価特徴量ベクトルを入力とし、学習用動作機構の動作から得られる学習特徴量ベクトル、および動作限界までの各時刻における学習用第一部材、および学習用第二部材の少なくとも一方における動作により生じる劣化の量を示す学習劣化量情報に基づき育成された第一回帰モデルにより前記評価用動作機構の評価劣化量情報を推定し、得られた前記評価劣化量情報を入力とし、前記学習劣化量情報、および情報を取得した時刻から動作限界までの時間である学習余寿命に基づき育成された第二回帰モデルにより前記評価用動作機構の余寿命を導出する余寿命導出部と、
を備える余寿命予測装置。 - 第一部材、および第二部材が相対的に動作する動作機構の動作限界までの時間である余寿命を予測する余寿命予測プログラムであって、
コンピュータを、
評価用動作機構の動作から得られる評価特徴量ベクトルを取得する評価情報取得部と、
前記評価特徴量ベクトルを入力とし、学習用動作機構の動作から得られる学習特徴量ベクトル、および動作限界までの各時刻における学習用第一部材、および学習用第二部材の少なくとも一方における動作により生じる劣化の量を示す学習劣化量情報に基づき育成された第一回帰モデルにより前記評価用動作機構の評価劣化量情報を推定し、得られた前記評価劣化量情報を入力とし、前記学習劣化量情報、および情報を取得した時刻から動作限界までの時間である学習余寿命に基づき育成された第二回帰モデルにより前記評価用動作機構の余寿命を導出する余寿命導出部として
機能させるための余寿命予測プログラム。
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