JP7287625B2 - 異物検査装置 - Google Patents
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Description
従って、本発明は、電磁波を使用して、毛髪等の繊維状物質以外の様々な形状を有する異物も検出することができる異物検査装置を提供することを目的としている。
このように構成された本発明によれば、多数の開口が一定のピッチで形成された薄板により周期構造板が形成されているので、各開口部を透過して回折した電磁波が互いに効果的に干渉を引き起こすことができると共に、精度の高い周期構造板を容易に作成することができる。
このように構成された本発明によれば、周期構造板の開口のピッチが電磁波の波長の1倍乃至100倍に形成されているので、電磁波の干渉を効果的に引き起こすことができ、異物の存在を強調することができる。
このように構成された本発明によれば、周期構造板が導電性材料で構成されているので、周期構造板の非開口部上において電磁波の透過率が低くなることにより、周期構造板の開口部と非開口部における電磁波の透過強度の比を高めて、干渉を効果的に誘発することができる。
本件発明者の研究によれば、周期構造板により誘発された干渉の影響は、周期構造板から電磁波の波長の4倍程度離れると低下し始め、周期構造板を配置した効果が減少する。上記のように構成された本発明によれば、周期構造板と電磁波検出面の間の距離が、電磁波の波長の4倍以下に設定されているので、電磁波検出器によって、異物の存在が強調された電磁波を検出することができ、精度良く異物を検出することができる。
このように構成された本発明においては、電磁波発振器が波長約0.1mm乃至約10mmの電磁波を照射するので、一般的な食料品を適度に透過し、検査対象物を食料品としたとき、異物を効果的に検出することができる。
図1は、本発明の実施形態による異物検査装置の側面図である。図2は、周期構造板を部分的に拡大して示す平面図である。
まず、異物の混入を検査すべき検査対象物Aをトレイ4の上に載せ、検査の準備をする。検査対象物Aはトレイ4の上に概ね均一に配置するのが良く、また、配置される検査対象物Aの厚さは、予め設定された既定値となるようにするのが良い。次いで、トレイ4を電磁波発振器2の上方の所定の位置にセットした後、電磁波発振器2を作動させ、検査対象物Aに電磁波を照射する。検査対象物Aを透過した電磁波は、周期構造板8を透過すると共に、周期構造板8によって干渉が誘発され、周期構造板8の上方に配置された電磁波検出器6によって検出される。
図3は、本発明の実施形態による異物検査装置において、電磁波が照射されたときの電場強度分布を側面から見た図である。図4は、比較例として、周期構造板を配置していない場合における電場強度分布を側面から見た図である。
図5は、本発明の実施形態による異物検査装置において、図3のL1断面における電場強度分布を示す図である。図6は、本発明の実施形態による異物検査装置において、図3のL2断面における電場強度分布を示す図である。図7は、本発明の実施形態による異物検査装置において、図3のL3断面における電場強度分布を示す図である。図8は、比較例として、図4のL1断面における電場強度分布を示す図である。
図9は、図5乃至図7に示したシミュレーションについて、電磁波検出面6aの位置と、検出された全画素の電場強度に基づいて計算された平均二乗誤差との関係を示すグラフである。図10は、図5乃至図7に示したシミュレーションについて、電磁波検出面6aの位置と、検出された電場強度の局所的な二乗誤差の最大値との関係を示すグラフである。
2 電磁波発振器
2a 電磁波射出面
4 トレイ
6 電磁波検出器
6a 電磁波検出面
8 周期構造板
8a 開口
10 演算処理器
Claims (5)
- 電磁波を使用して、検査対象物に混入した異物を検出する異物検査装置であって、
波長約0.1mm乃至約10mmの範囲の単一の波長の電磁波を検査対象物に照射するための電磁波発振器と、
この電磁波発振器から照射され、上記検査対象物を透過した電磁波が入射する電磁波検出面を備えた電磁波検出器と、
上記検査対象物と上記電磁波検出器の間に配置され、上記検査対象物を透過した電磁波を透過させることにより、電磁波を回折させ、回折させた電磁波の干渉を誘発する周期構造板と、
上記電磁波検出器によって検出された電磁波に基づいて、上記検査対象物中の異物の有無を判定する演算処理器と、
を有することを特徴とする異物検査装置。 - 上記周期構造板は、多数の開口が一定のピッチで形成された薄板から形成されている請求項1記載の異物検査装置。
- 上記周期構造板に形成された開口のピッチは、上記電磁波発振器が照射する電磁波の波長の1倍乃至100倍の長さを有する請求項2記載の異物検査装置。
- 上記周期構造板は、導電性材料で構成されている請求項1乃至3の何れか1項に記載の異物検査装置。
- 上記周期構造板と、上記電磁波検出器の上記電磁波検出面との間の距離は、上記電磁波発振器が照射する電磁波の波長の4倍以下である請求項1乃至4の何れか1項に記載の異物検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2019142759A JP7287625B2 (ja) | 2019-08-02 | 2019-08-02 | 異物検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP (1) | JP7287625B2 (ja) |
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CN109283155A (zh) | 2018-11-12 | 2019-01-29 | 桂林电子科技大学 | 一种太赫兹波段超材料传感器 |
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