JP7285104B2 - アンモニアの製造方法、および、アンモニアの製造装置 - Google Patents

アンモニアの製造方法、および、アンモニアの製造装置 Download PDF

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Description

本明細書に開示される技術は、アンモニアの製造方法に関する。
従来、ヒドリドイオン(H)を含有するチタン含有ペロブスカイト型酸水素化物に、Ru、Feなどの触媒活性を示す金属を担持させて形成された触媒を用いて、水素(H)と窒素(N)とを反応させてアンモニア(NH)を製造する方法が知られている。ヒドリドイオンは、活性が高く、窒素分子における非常に強い窒素原子間の三重結合を解離するため、アンモニアを効率的に製造することができる(下記特許文献1参照)。
国際公開第2015/136954号
しかし、上述した従来のアンモニアの製造方法では、例えば、ヒドリドを含有するチタン含有ペロブスカイト型酸水素化物が窒素と反応し、アンモニアの製造に寄与しない酸窒化物が生成されやすいなどの課題があり、改善の余地があった。
本明細書では、上述した課題を解決することが可能な技術を開示する。
本明細書に開示される技術は、以下の形態として実現することが可能である。
(1)本明細書に開示されるアンモニアの製造方法は、酸素イオン伝導性を有する伝導体と、前記伝導体に配置された電極と、前記伝導体に配置された導電性酸化物と、を備える複合物を準備する工程と、前記複合物における前記導電性酸化物に水素元素を含む第1のガスと窒素とを含む混合ガスが供給される状態で、前記導電性酸化物の電位が前記電極の電位より低くなるように前記導電性酸化物と前記電極との間に電圧を印加する工程と、を備える。
本アンモニアの製造方法では、複合物における導電性酸化物の電位が電極の電位より低くなるように導電性酸化物と電極との間に電圧が印加されることで、導電性酸化物を構成していた酸素イオンが伝導体を介して電極側に移動し、その結果、導電性酸化物に酸素欠損が生じる。また、導電性酸化物に水素元素を含む第1のガスが供給されるため、その第1のガスに含まれる水素元素と、電圧印加によって導電性酸化物に流れる電子との反応によってヒドリドイオン(H)が生成され、導電性酸化物の酸素欠損に入る。ヒドリドイオンは、活性が高く、窒素分子における非常に強い窒素原子間の三重結合を解離する。解離された窒素原子は、ヒドリドイオンと反応し、その結果、アンモニアが製造される。このように、本アンモニアの製造方法によれば、導電性酸化物への電圧印加と、水素元素を含む第1のガスおよび窒素を含む混合ガスの供給とによって、アンモニアを製造することができる。
(2)上記アンモニアの製造方法において、前記第1のガスには、水蒸気が含まれていてもよい。本アンモニアの製造方法では、第1のガスには、水蒸気が含まれるため、アンモニアの生成過程において、第1のガスに含まれる水蒸気から水素と酸素とが生成される吸熱反応が起きる。このため、第1のガスが水蒸気を含まない場合に比べて、ヒドリドイオンの触媒効果(活性)が比較的に高い高温域でアンモニアを効率良く製造することができる。
(3)上記アンモニアの製造方法において、前記導電性酸化物に対して、前記第1のガスの供給を開始した後に、窒素の供給を開始することにより、前記導電性酸化物に前記混合ガスが供給される状態にしてもよい。仮に、水素元素を含む第1のガスの供給の開始前に、窒素の供給を開始すると、ヒドリドイオンが生成される前に窒素が無駄に供給されることになる。これに対して、本本アンモニアの製造方法では、窒素の供給を開始する前に、水素元素を含む第1のガスの供給を開始することで、窒素が供給される前に導電性酸化物にヒドリドイオンを生成することができる。このため、本アンモニアの製造方法によれば、窒素の無駄な供給を抑制しつつ、アンモニアを効率的に製造することができる。
(4)上記アンモニアの製造方法において、前記伝導体は、さらに、電子伝導性およびホール伝導性の少なくとも一方を有してもよい。本アンモニアの製造方法では、伝導体が、酸素イオン伝導性に加えて、電子伝導性およびホール伝導性の少なくとも一方を有する。このため、伝導体が電子伝導性およびホール伝導性のいずれも有しない場合に比べて、多くの電子が導電性酸化物に供給されることにより、ヒドリドイオンの生成が促進されるため、アンモニアを、より効率的に製造することができる。
(5)本明細書に開示されるアンモニアの製造装置は、酸素イオン伝導性を有する伝導体と、前記伝導体に配置された電極と、前記伝導体に配置される導電性酸化物と前記電極との間に電圧を印加する電圧印加部と、前記導電性酸化物に水素元素を含む第1のガスと窒素とを含む混合ガスを供給するガス供給部と、を備える。本アンモニアの製造装置によれば、導電性酸化物への電圧印加と、水素元素を含む第1のガスの供給とによって、アンモニアを製造することができる。
本明細書によって開示される技術は、種々の形態で実現することが可能であり、例えば、アンモニアの製造方法および製造装置、それらの方法または装置の機能を実現するためのコンピュータプログラム、そのコンピュータプログラムを記録した記録媒体等の形態で実現することが可能である。
実施形態におけるアンモニアの製造方法の原理を説明するための模式図である。 実施形態におけるアンモニア製造装置100の構成を模式的に示す説明図である。 性能評価の結果を示す説明図である。
A.実施形態:
A-1.アンモニア(NH)の製造方法の原理:
図1は、本実施形態におけるアンモニアの製造方法の原理を説明するための模式図である。図1(A)に示すように、まず、複合物1を準備する。複合物1は、酸素イオン伝導性を有する伝導体10と、伝導体10に配置された電極20と、伝導体10に配置された導電性酸化物30と、を備える。具体的には、伝導体10は、酸素イオン伝導性を有する材料(例えば、YSZ(イットリア安定化ジルコニア))により形成された平板状部材である。電極20は、導電性材料(例えばPt(白金))により形成されており、伝導体10の一方の面(下面)に配置されている。なお、電極20は、例えば、箔状でもよいし、板状であってもよい。導電性酸化物30は、ヒドリドイオン(H)を含有でき、かつ、導電性を有する酸化物(例えば、GDC(ガドリニウムドープセリア))により形成されており、伝導体10の他方の面(上面)に配置されている。なお、導電性酸化物30は、例えば、粉状であってもよいし、固形状(板状)であってもよい。
次に、図1(B)に示すように、複合物1における導電性酸化物30に水素(H)と窒素(N)とを含む混合ガスGinが供給された状態で、導電性酸化物30の電位が電極20の電位より低くなるように導電性酸化物30と電極20との間に電圧を印加する。具体的には、導電性酸化物30の少なくとも一部が混合ガスGinに面するように導電性酸化物30を配置する。また、電源41のプラス端子を電極20に電気的に接続し、電源41のマイナス端子を導電性酸化物30に電気的に接続する。
このように導電性酸化物30と電極20との間に電圧が印加されると、導電性酸化物30を構成していた酸素イオン(O2-)が伝導体10を介して電極20側に移動し(電圧印加による酸素イオンのポンピング)、その結果、導電性酸化物30に酸素欠損が生じる。また、導電性酸化物30に混合ガスGinが供給されると、その混合ガスGinに含まれる水素元素(H)と、電圧印加によって導電性酸化物30に流れる電子(e)との反応によってヒドリドイオン(H)が生成される。生成されたヒドリドイオンは、導電性酸化物30の酸素欠損に入る。ヒドリドイオンは、活性が高く、窒素分子における非常に強い窒素原子間の三重結合を解離する。解離された窒素原子は、ヒドリドイオンと反応し、その結果、アンモニアを含む生成ガスGoutが生成される。このように、本実施形態におけるアンモニアの製造方法によれば、導電性酸化物30への電圧印加と、導電性酸化物30への混合ガスGinの供給とによって、アンモニアを製造することができる。なお、混合ガスGinにおける窒素と水素とを過不足なく利用するために、混合ガスGinにおける窒素と水素との割合は、1:3であることが好ましい。また、混合ガスGinは、特許請求の範囲における「混合ガス」に相当する。
A-2.アンモニア製造装置100について:
(アンモニア製造装置100の構成)
図2は、本実施形態におけるアンモニア製造装置100の構成を模式的に示す説明図である。図2には、方向を特定するためのZ軸が示されている。本明細書では、便宜的に、Z軸正方向を「上方向」といい、Z軸負方向を「下方向」というものとするが、アンモニア製造装置100は実際にはそのような向きとは異なる向きで設置されてもよい。
図2に示すように、アンモニア製造装置100は、チューブ10aと、外側電極20aと、GDC粉末30aと、電圧印加部40と、ガス供給部50と、ガス排出部56と、を備える。
チューブ10aは、一端が開放し、他端が閉塞した筒状の収容管であり、酸素イオン伝導性を有する材料(例えば、YSZ)により形成されている。チューブ10aとしては、例えば、ニッカトー製YSZ-8保護管(φ13×φ9×250mm)を用いることができる。アンモニア製造装置100では、チューブ10aは、開放端部が上方を向くように配置されている。チューブ10aは、上述のアンモニアの製造方法における伝導体10に対応し、また、特許請求の範囲における伝導体に相当する。
外側電極20aは、導電性材料(例えば、Pt)により形成された導電性部材であり、チューブ10aにおける閉塞端部の外面側に配置されている。具体的には、外側電極20aは、チューブ10aにおける閉塞端部の外面に接触するように薄膜状に形成されている。なお、本実施形態では、アンモニア製造装置100は、さらに、内側電極22を備える。内側電極22は、外側電極20aと同じ導電性材料により形成された導電性部材であり、チューブ10aにおける閉塞端部の内面側に配置されている。具体的には、内側電極22は、チューブ10aにおける閉塞端部の内面に接触するように薄膜状に形成されている。外側電極20aは、上述のアンモニアの製造方法における電極20に対応し、また、特許請求の範囲における電極に相当する。
GDC粉末30aは、導電性酸化物であるGDC(n型半導体のセリウム化合物(GDC-Ce0.8Gd0.21.9) 信越化学製)の粉末であり、共沈法で作成されたBET比表面積が30m-1のものを用いた。粉末は微細である方が良く、比表面積は1~500m-1のものが好ましい。なお、ここでは、導電性酸化物として、共沈法で作製されたものを用いたが、液相法や固相法で作製されてもよい。粉末の充填率は粉末同士が良好に接触し、ガスが透過する30%以上、90%以下が好ましい。導電性酸化物が固体で形成される場合は、気孔率10%以上、70%以下が好ましい。導電性酸化物の電気伝導度は、1000℃で測定された値が0.25Scm-1程度であるが、0.01Scm-1以上のものが好ましい。なお、GDCのGdのドープ量は、Ce0.6Gd0.41.8まで任意のものを利用でき、GDCにおけるGdのドープ量が多い方が、導電性酸化物の伝導度が高くなるため好ましい。チューブ10a内に導入されている。具体的には、GDC粉末30aは、チューブ10a内において、該チューブ10aにおける閉塞端部の内面(底面)に形成された上記内側電極22上に配置されている。GDC粉末30aは、水素雰囲気で導電性が比較的に高い、n型半導体であることが好ましい。なお、チューブ10a内に導入されたGDC粉末30aの量は、例えば略1gである。GDC粉末30aは、上述のアンモニアの製造方法における導電性酸化物30に対応し、また、特許請求の範囲における導電性酸化物に相当する。
以上により、アンモニア製造装置100では、チューブ10aにおける閉塞端部の内面上に、内側電極22を介してGDC粉末30aが配置され、チューブ10aにおける閉塞端部の外面上に外側電極20aが配置されている。したがって、チューブ10aと内側電極22とGDC粉末30aとは、上述のアンモニアの製造方法における複合物1に対応し、また、特許請求の範囲における複合物に相当する。
電圧印加部40は、上述の電源41と、一対の電線42,44(例えば白金ロジウム線)と、を備える。一方の電線42は、電源41のマイナス端子から、チューブ10aの開放端部を介してチューブ10a内に導入され、チューブ10a内に導入されたGDC粉末30aに電気的に接続されている。また、他方の電線44は、電源41のプラス端子から、チューブ10aの外周面に巻かれるように配置され、チューブ10aにおける閉塞端部の外面に形成された外側電極20aに電気的に接続されている。これにより、電圧印加部40は、GDC粉末30aと外側電極20aとの間に電圧を印加することができる。なお、他方の電線44には、GDC粉末30aに流れる電流の量を測定するための電流計46が電気的に接続されている。このため、電圧印加部40は、電流計46の測定結果に基づき、一定量の電流がGDC粉末30aに流れるように定電流制御を行いつつ、GDC粉末30aと外側電極20aとの間に電圧を印加することができる。
ガス供給部50は、ガス導入管52と、ガス導入部54と、ガス拡散部58と、第1のガス供給路R1と、第2のガス供給路R2と、第3のガス供給路R3と、調整弁59と、を備える。
ガス導入管52は、上下方向に延び、両端が開放した筒状である。ガス導入管52の外径は、チューブ10aの内径より小さく、ガス導入管52の上下方向の長さは、チューブ10aの上下方向の長さより長い。ガス導入管52の一部は、チューブ10a内に収容され、ガス導入管52の下端は、チューブ10a内に配置されたGDC粉末30aに向けられている。ガス導入管52の上端は、チューブ10aの開放端部から上方に突出するように配置されている。また、ガス導入管52は、チューブ10a内に配置された上述の一方の電線42の周囲を囲むように配置されている。換言すれば、一方の電線42は、ガス導入管52内に挿通され、該一方の電線42の下端がGDC粉末30aに電気的に接続されている。
ガス導入部54は、ガス導入管52の内、チューブ10aの開放端部から上方に突出した突出部分に設けられている。ガス導入部54は、ガス導入管52に上下方向に貫かれている。ガス導入部54には、導入孔55が形成されており、導入孔55は、ガス導入管52内の第1の空間S1に連通している。
ガス排出部56は、上下方向においてガス導入部54とチューブ10aとの間に位置し、チューブ10aの開放端部を塞ぐように配置されている。ガス排出部56は、ガス導入管52に上下方向に貫かれている。ガス排出部56には、排出孔57が形成されており、排出孔57は、チューブ10a内におけるガス導入管52の外側の第2の空間S2に連通している。
第1のガス供給路R1は、水素元素を含む第1のガスG1を供給するための供給路であり、ガス拡散部58の入口側に連通している。本実施形態では、第1のガスG1には、水素元素に加えて、水蒸気(HO)が含まれている。第2のガス供給路R2は、窒素を供給するための供給路であり、第1のガス供給路R1の途中に合流するように連通している。また、第2のガス供給路R2には、調整弁59が設けられており、第1のガス供給路R1に流れる第1のガスG1に対する窒素の混合割合を調整可能とされている。ガス拡散部58の出口側は、第3のガス供給路R3を介して、ガス導入部54の導入孔55に連通している。
このような構成により、ガス供給部50では、第1のガス供給路R1に流れる第1のガスG1に対して、窒素が第2のガス供給路R2を介して混合される。第1のガスG1と窒素との混合ガスGinは、ガス拡散部58内で拡散され、第3のガス供給路R3とガス導入管52の導入孔55とを介して、ガス導入管52内の第1の空間S1に導入される。第1の空間S1に導入された混合ガスGinは、ガス導入管52によって下方に導かれ、ガス導入管52の下端からGDC粉末30aに向けて供給される。GDC粉末30aにて生成された生成ガスGoutは、チューブ10a内の第2の空間S2に流れ出し、後述する電気炉60によって温められて上方に移動し、ガス排出部56の排出孔57を介して、チューブ10aの外部に排出される。
また、アンモニア製造装置100は、さらに、電気炉60と熱電対70とを備える。電気炉60は、チューブ10aの下側部分の周囲に配置されている。熱電対70は、チューブ10aの閉塞端部の近傍に配置されている。アンモニア製造装置100では、熱電対70によってGDC粉末30aの近傍の温度が測定され、その測定結果に基づき、電気炉60の温度が制御される。
(アンモニア製造装置100の作用)
アンモニア製造装置100が起動されると、まず電気炉60によってチューブ10aの温度が所定温度(例えば400℃以上、1000℃以下)まで昇温される。チューブ10aの温度が所定温度に達した後、電圧印加部40によって、GDC粉末30aと電極20との間に電圧が印加される。これにより、GDC粉末30aを構成していた酸素イオンがチューブ10aを介して外側電極20a側に移動し、その結果、GDC粉末30aに酸素欠損が生じる。なお、電圧印加部40により印加される電圧は、電圧が印加されてない状態で発生する開回路電圧に対して0.01V~10Vだけ加えた値が好ましく、混合ガスGinに水蒸気を添加された場合は、電圧印加部40により印加される電圧は、水の解離電圧以上(例えば1.3V以上)であることが好ましい。
電圧印加部40による電圧印加と同時、または、その後に、ガス供給部50によって、まず、調整弁59が閉状態とされ窒素の供給が停止された状態で第1のガスG1の供給が開始される。このため、窒素を含まず、水素元素および水蒸気を含む第1のガスG1がGDC粉末30aに供給されることになる。その結果、第1のガスG1に含まれる水素元素と、電圧印加によってGDC粉末30aに流れる電子との反応によってヒドリドイオンが生成される。生成されたヒドリドイオンは、GDC粉末30aの酸素欠損に入る。その結果、GDC粉末30aは、ヒドリド含有化合物(例えば、酸素イオンに対するヒドリドイオンの含有率が1%以上である化合物)になる。
第1のガスG1の供給開始から所定時間(例えば1時間)経過後に、調整弁59が開状態とされて窒素の供給が開始される。このため、水素および水蒸気に加えて、窒素を含む混合ガスGinがGDC粉末30aに供給されることになる。その結果、供給された窒素分子における窒素原子間の三重結合が、GDC粉末30a(ヒドリド含有化合物)に含まれるヒドリドイオンによって解離され、その解離された窒素原子がヒドリドイオンと反応する。その結果、アンモニアを含む生成ガスGoutが製造される。このように、本実施形態におけるアンモニア製造装置100によれば、GDC粉末30aへの電圧印加と混合ガスGinの供給とによって、アンモニアを製造することができる。また、本実施形態では、比較的に低い圧力(例えば常圧)下でアンモニアを製造することができる。すなわち、ハーバー・ボッシュ法とは異なり、高圧ではない範囲かつエネルギー効率が大幅に悪化しない範囲(例えば1~10気圧)で圧力を加えることにより、アンモニアの製造速度を向上することができる。また、本実施形態では、アンモニアの製造に寄与しない酸窒化物が生成されることを抑制することができる。
ここで、仮に、水素元素を含む第1のガスG1の供給の開始前に、窒素の供給が開始されると、GDC粉末30aにヒドリドイオンが生成される前に窒素が無駄に供給されることになる。これに対して、本アンモニア製造装置100によれば、既にヒドリドイオンがGDC粉末30aに生成された状態とし、その後に、そのGDC粉末30aに対する窒素の供給が開始されるため、窒素の無駄な供給を抑制しつつ、アンモニアを効率的に製造することができる。
また、仮に、第1のガスG1に、水蒸気が含めないとすると、混合ガスGinに含まれる窒素と水素とが、次の化学式1で示す発熱反応によってアンモニアが生成される。
<化学式1>
+3H=NH+92kJ
このように、アンモニアの生成に水蒸気を用いない場合、発熱反応による温度上昇を抑制するために、チューブ10aの温度は、比較的に低い温度(例えば300℃)にすることが好ましい。しかし、チューブ10aの温度を低くするほど、ヒドリドイオンの触媒効果(活性)が低下するため、アンモニアの製造効率が低下する。これに対して、本実施形態におけるアンモニア製造装置100では、アンモニアの生成に、窒素と水素に加えて、水蒸気を用いるため、次の化学式2に示す吸熱反応によってアンモニアが生成される。
<化学式2>
+3HO-(3/2)O=2NH-766kJ
アンモニアの生成反応が吸熱反応になる理由は、アンモニアの生成過程で、上記化学式1に示す発熱反応に加えて、次の化学式3に示す水蒸気の電気分解反応が起きるからであると考えられる。
<化学式3>
0=H+(1/2)O-286kJ
このように、アンモニアの生成に水蒸気を用いる場合、非常に大きな吸熱反応が起きるため、チューブ10aの温度を、比較的に高い温度(例えば600℃以上、1000℃以下)にし、ヒドリドイオンの触媒効果が比較的に高い高温域でアンモニアを効率良く製造することができる。
A-3.性能評価について:
図3は、性能評価の結果を示す説明図である。本性能評価では、上述のアンモニア製造装置100を用いて、本実施形態におけるアンモニアの製造方法によるアンモニアの生成量(mmolg-1-1)について評価を行った。アンモニアの生成量は、アンモニア製造装置100により生成された生成ガスGoutについて、公知のガスクロマトグラフ(Gas Chromatography,GC)分析により、絶対検量線法を用いて測定した。分析条件は、次の通りである。
分析装置:Agilent 490マイクロGC
カラム:ジーエルサイエンス社製 Porapak Q4
キャリアガス:Heガス カラム温度80℃
本性能評価には、4つのサンプル(サンプル1~4)が用いられた。4つのサンプルは、アンモニアの製法条件として、混合ガスGinの組成(sccm)と、電圧印加の有無との少なくとも一方が互いに異なる。すなわち、サンプル1では、アンモニア製造装置100を用いて、まず、電気炉60によってチューブ10aの温度を略650℃まで昇温し、650℃に達した後、ガス供給部50によって、10sccmの窒素と30sccmの水素との混合ガスGinを、GDC粉末30aに供給した。サンプル1では、電圧印加部40による電圧印加せずに、ガス供給部50による混合ガスGinの供給を行った。その結果、アンモニアの生成速度は、0.0mmolg-1-1であった。
サンプル2は、サンプル1に対して、電圧印加部40によってGDC粉末30aと電極20との間に電圧を印加する点で異なる。なお、本性能評価では、100mAの一定量の電流がGDC粉末30aに流れるように定電流制御を行った。その結果、アンモニアの生成速度は、0.10mmolg-1-1であった。このことは、本実施形態におけるアンモニアの製造方法により、アンモニアを製造することができることを意味する。
サンプル3では、サンプル2に対して、混合ガスGinに水蒸気が添加されている点で異なる。その結果、サンプル3におけるアンモニアの生成速度は、0.18mmolg-1-1であり、サンプル2におけるアンモニアの生成速度より多かった。サンプル3では、上述したように、混合ガスGinに水蒸気が添加されたことにより、大きな吸熱反応が起きる。この吸熱反応では、ヒドリドイオンの触媒効果に加えて、酸素イオンがチューブ10aを介して外側電極20a側に移動することが促進されるため、単位時間当たりに生成されるアンモニアの生成量が増加する。このため、サンプル3におけるアンモニアの生成速度が多くなったと考えられる。
サンプル4では、サンプル3に対して、混合ガスGinに窒素と水蒸気は含まれるが、水素が含まれない点で異なる。その結果、サンプル4におけるアンモニアの生成速度は、0.59mmolg-1-1であり、サンプル3におけるアンモニアの生成速度より多かった。これは、混合ガスGinに水素が含まれなくても、アンモニアを生成できることを意味する。水蒸気が電気分解されることにより生成された水素と、電圧印加によってGDC粉末30aに流れる電子との反応によってヒドリドイオンが生成され、GDC粉末30aの酸素欠損に入ることにより、ヒドリド化合物が生成される。そして、ヒドリド化合物と窒素とが反応して、アンモニアが生成される、と考えられる。また、サンプル4では、水素を用いない分だけ、上述の化学式2の吸熱反応における吸熱量がより多くなる。このため、酸素イオンの外側電極20a側への移動の更なる促進と共に、一般的にアンモニアの生成に不利といわれる高温域においてヒドリドイオンの触媒効果の向上を図ることにより、アンモニアの生成効率を向上させることができる。このため、サンプル4におけるアンモニアの生成速度がさらに多くなったと考えられる。
なお、混合ガスGinに水蒸気が添加されないサンプル2では、略12時間、連続的かつ安定的にアンモニアを製造することができた。このようにアンモニアを連続的に長時間製造できる理由は、GDC粉末30aに含まれるヒドリドイオンが窒素との反応によりアンモニアの生成に利用されても、電圧印加による電子の供給および酸素のポンピングによって、ヒドリド含有化合物(ヒドリドイオンを含有するGDC粉末30a)が再生されるからである。また、混合ガスGinに水蒸気が添加されたサンプル3,4では、略20時間、連続的かつ安定的にアンモニアを製造することができた。これには、上述の吸熱反応により、酸素イオンの外側電極20a側への移動の更なる促進と共に、ヒドリドイオンの触媒効果の向上を図ることができたからである、と考えられる。
したがって、本製造方法(アンモニア製造装置100)によれば、ハーバー・ボッシュ法のような高圧(例えば100~300気圧)にすることなくアンモニアを製造することができる。また、一般的にアンモニアの製造に不適とされていた高温域でアンモニアを製造することができる。
B.変形例:
本明細書で開示される技術は、上述の実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の形態に変形することができ、例えば次のような変形も可能である。
上記実施形態におけるアンモニアの製造方法やアンモニア製造装置100の構成は、あくまで一例であり、種々変形可能である。例えば、上記実施形態では、複合物として、電極20と導電性酸化物30との間に伝導体10が配置された構成を例示したが、複合物は、例えば、電極20と導電性酸化物30とが伝導体10の同一面上において互いに離間して配置された構成であってもよい。
上記実施形態では、伝導体として、平板状の伝導体10や、一端が開口したチューブ10aを例示したが、他の形状(例えば両端が開口した筒状)のものであってもよい。また、上記実施形態では、伝導体として、YSZにより形成された伝導体10を例示したが、YSZ以外の酸素イオン伝導性を有する材料、例えば、ScSZ(スカンジア安定化ジルコニア)、CSZ(カルシウム安定化ジルコニア)、SDC(サマリウムドープセリア)、GDC、LSGM(ランタンガレート)、ペロブスカイト型酸化物等の固体酸化物により形成されたものでもよい。
また、伝導体は、酸素イオン伝導性に加えて、電子伝導性およびホール伝導性の少なくとも一方を有するものであってもよい。例えば、伝導体は、酸素イオン伝導性を有する材料と、電子伝導性を有する材料(例えば、Pt、Au等の貴金属やn型酸化物半導体、Ni、Fe、Ru、Mn、Co、Cu等)およびホール伝導性を有する材料(例えばアルカリ土類をドープしたランタンクロマイト)との少なくとも一方との混合材料により形成された混合伝導体であってもよい。また、酸素イオンと電子またはホールとの混合伝導性を有するBSCF(Ba0.5Sr0.5Co0.8Fe0.23-δ)やLSGF(La0.7Sr0.3Ga0.6Fe0.4)等の、酸素透過膜として用いられるような種々の酸素イオンと電子またはホールとの混合伝導体を用いてもよい。このように、伝導体が、酸素イオン伝導性に加えて、電子伝導性およびホール伝導性の少なくとも一方を有する場合、伝導体が電子伝導性およびホール伝導性のいずれも有しない場合に比べて、多くの電子が導電性酸化物に供給されることにより、ヒドリドイオンの生成が促進されるため、アンモニアを、より効率的に製造することができる。また、仮に、例えば導電性酸化物における酸素の減少によって導電性酸化物から電極20側に酸素イオンを移動させるポンピングができなくなったとしても、伝導体が有する電子伝導性またはホール伝導性によって導電性酸化物に電子が供給され、ヒドリドイオンの生成が継続されるため、アンモニアの連続的な製造を継続することができる。
上記実施形態では、電極として、Ptにより形成された電極20(外側電極20a)を例示したが、他の導電性材料(例えば、Ag、Au、Pd、Ni等の金属や、LSCF(ランタンストロンチウムコバルト鉄酸化物)、LSM(ランタンストロンチウムマンガン酸化物)等の導電性酸化物)により形成されたものであってもよい。また、上記実施形態におけるアンモニア製造装置100において、GDC粉末30a自体が導電性を有することによって電極としても機能するため、内側電極22を備えない構成であってもよい。
また、上記実施形態では、導電性酸化物として、GDC(酸素イオン伝導性とn型半導性とを示すセリウム化合物(GDC-Ce0.8Gd0.21.9))を例示したが、導電性酸化物は、導電性酸化物は、水素元素を含む第1のガスが供給される状態で、導電性酸化物の電位が電極の電位よりも低くなるように導電性酸化物と電極との間に電圧を印加することにより、ヒドリドイオンを含有できる導電性酸化物であればよく、n型半導体にも限られない。例えば、導電性酸化物は、CeO、SDC(サマリウムドープセリア)、YDC(イットリアドープセリア)、LDC(ランタンドープセリア)等のランタノイド含有化合物や、A1-XTi1-Y(A:Ba,Sr,Ca、B:ランタノイド、C:Sc,Y,Ga)等のペロブスカイト酸化物や、LaSrCoO等のKNiO型の酸化物でもあってもよい。なお、Gd、YやLa等のドープ量は限定されない。また、導電性酸化物に、貴金属(例えばRu、Pd、Rh、Pt、Au)や金属(例えばFe、Ni、Co、Cu)を触媒として混合したり担持させたりすることにより、アンモニアの生成速度をさらに向上させることができる。
上記実施形態におけるアンモニア製造装置100において、例えば、水蒸気を含まず、水素と窒素との混合ガスをGDC粉末30aに供給するとしてもよいし、水素を含めずに、水蒸気と窒素との混合ガスをGDC粉末30aに供給するとしてもよい。要するに、水素元素と窒素とを含む混合ガスを導電性酸化物(GDC粉末30a)に供給すればよい。
10:伝導体 10a:チューブ 20:電極 20a:外側電極 22:内側電極 30:導電性酸化物 30a:GDC粉末 40:電圧印加部 41:電源 42,44:電線 46:電流計 50:ガス供給部 52:ガス導入管 54:ガス導入部 55:導入孔 56:ガス排出部 57:排出孔 58:ガス拡散部 59:調整弁 60:電気炉 70:熱電対 100:アンモニア製造装置 G1:第1のガス G2:第2のガス Gin:混合ガス Gout:生成ガス R1:第1のガス供給路 R2:第2のガス供給路 R3:第3のガス供給路 S1:第1の空間 S2:第2の空間

Claims (4)

  1. 酸素イオン伝導性を有する伝導体と、前記伝導体に配置された電極と、前記伝導体に配置された導電性酸化物と、を備える複合物を準備する工程と、
    前記複合物における前記導電性酸化物に水素元素を含む第1のガスと窒素と水蒸気とを含む混合ガスが供給される状態で、前記導電性酸化物の電位が前記電極の電位より低くなるように前記導電性酸化物と前記電極との間に電圧を印加する工程と、
    を備える、
    ことを特徴とするアンモニアの製造方法。
  2. 請求項1に記載のアンモニアの製造方法において、
    前記導電性酸化物に対して、前記第1のガスの供給を開始した後に、窒素の供給を開始することにより、前記導電性酸化物に前記混合ガスが供給される状態にする、
    ことを特徴とするアンモニアの製造方法。
  3. 請求項1または請求項2に記載のアンモニアの製造方法において、
    前記伝導体は、さらに、電子伝導性およびホール伝導性の少なくとも一方を有する、
    ことを特徴とするアンモニアの製造方法。
  4. 酸素イオン伝導性を有する伝導体と、
    前記伝導体に配置された電極と、
    前記伝導体に配置される導電性酸化物と前記電極との間に電圧を印加する電圧印加部と、
    前記導電性酸化物に水素元素を含む第1のガスと窒素と水蒸気とを含む混合ガスを供給するガス供給部と、
    を備える、
    ことを特徴とするアンモニアの製造装置。
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