JP7271119B2 - デプス画像取得装置、制御方法、およびデプス画像取得システム - Google Patents
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Description
図1は、本技術を適用したデプス画像取得装置の第1の実施の形態の構成例を示すブロック図である。
図4は、本技術を適用したデプス画像取得装置の第2の実施の形態の構成例を示すブロック図である。なお、図4に示すデプス画像取得装置11Aにおいて、図1のデプス画像取得装置11と共通する構成については同一の符号を付し、その詳細な説明は省略する。
図5は、本技術を適用したデプス画像取得装置の第3の実施の形態の構成例を示すブロック図である。なお、図5に示すデプス画像取得装置11Bにおいて、図4のデプス画像取得装置11Aと共通する構成については同一の符号を付し、その詳細な説明は省略する。
図8は、本技術を適用したデプス画像取得装置の第4の実施の形態の構成例を示すブロック図である。なお、図8に示すデプス画像取得装置11Cにおいて、図1のデプス画像取得装置11および図5のデプス画像取得装置11Bと共通する構成については同一の符号を付し、その詳細な説明は省略する。
同様に、光変調部21、発光ダイオード22、投光レンズ23、受光レンズ24、TOFセンサ26、画像記憶部27、同期処理部28、距離情報演算部29、およびデプス画像生成部30を備えて構成される。また、デプス画像取得装置11Cは、図5のデプス画像取得装置11Bと同様に、連動制御部31を備えて構成されており、環境センサ41から連動制御部31にセンサ情報が供給される。
図10は、本技術を適用したデプス画像取得装置の第5の実施の形態の構成例を示すブロック図である。なお、図10に示すデプス画像取得装置11Dにおいて、図8のデプス画像取得装置11Cと共通する構成については同一の符号を付し、その詳細な説明は省略する。
図11乃至図17を参照して、TOFセンサ26の受光面に対するフィルタ25-1および25-2の配置例と、それぞれの配置において取得されるデプス画像について説明する。
図18を参照して、発光ダイオード22の温度を一定に維持するための制御について説明する。
図19乃至図22を参照して、デプス画像取得装置11の利用例について説明する。
図23乃至図31を参照して、TOFセンサ26の構成例について説明する。
なお、上述のフローチャートを参照して説明した各処理は、必ずしもフローチャートとして記載された順序に沿って時系列に処理する必要はなく、並列的あるいは個別に実行される処理(例えば、並列処理あるいはオブジェクトによる処理)も含むものである。また、プログラムは、単一のCPUにより処理されるものであっても良いし、複数のCPUによって分散処理されるものであっても良い。
本開示に係る技術(本技術)は、様々な製品へ応用することができる。例えば、本開示に係る技術は、自動車、電気自動車、ハイブリッド電気自動車、自動二輪車、自転車、パーソナルモビリティ、飛行機、ドローン、船舶、ロボット等のいずれかの種類の移動体に搭載される装置として実現されてもよい。
図35は、本開示に係る技術を適用し得る積層型の固体撮像装置の構成例の概要を示す図である。
なお、本技術は以下のような構成も取ることができる。
(1)
デプス画像を取得して距離を検出する領域となる検出領域に向かって、変調された光を照射する光源と、
前記光源から照射された光が前記検出領域にある物体に反射して入射する光を受光して、前記デプス画像を生成するための信号を出力するセンサと、
前記センサに向かって入射してくる光のうち、所定の通過帯域の波長の光を、前記所定の通過帯域以外の波長の光よりも多く通過させるフィルタと、
前記光源または前記センサの環境情報を取得する環境センサと、
前記環境センサによって取得された前記環境情報に従って、前記光源と、前記センサと、前記フィルタの配置とのうち、少なくともいずれか1つを制御する連動制御部と
を備えるデプス画像取得装置。
(2)
前記環境センサは、前記光源の温度を取得する温度センサである
上記(1)に記載のデプス画像取得装置。
(3)
前記連動制御部は、前記環境情報に従って、前記光源が照射する光の波長、および、前記フィルタの通過帯域のうちの、少なくとも一方を、他方に連動させて選択する制御を実行する
上記(1)または(2)に記載のデプス画像取得装置。
(4)
前記光源は、温度変化に応じて波長シフトが発生する温度特性を有し、それぞれ異なる波長のピークを有する光を発光する複数の光源であり、
前記連動制御部は、前記温度に従って、前記複数の光源のうちの少なくともいずれか1つを選択する
上記(2)に記載のデプス画像取得装置。
(5)
前記フィルタは、それぞれ異なる通過帯域を有する複数のフィルタであり、
前記光源は、温度変化に応じて波長シフトが発生する温度特性を有しており、
前記連動制御部は、前記温度に従って、前記複数のフィルタのうちの少なくともいずれか1つを選択する
上記(2)に記載のデプス画像取得装置。
(6)
前記フィルタは、それぞれ異なる通過帯域を有する複数のフィルタであり、
前記複数のフィルタが前記センサの受光面に対して積層して配置されており、
前記光源は、温度変化に応じて波長シフトが発生する温度特性を有しており、
前記連動制御部は、前記温度に従って、前記複数のフィルタが配置されている複数の領域のうち少なくともいずれか1つを選択して前記信号を出力するように前記センサに対する制御を行う
上記(2)に記載のデプス画像取得装置。
(7)
前記複数のフィルタは、第1の通過帯域を有する所定数の第1のフィルタと、第2の通過帯域を有する前記所定数の第2のフィルタとを有し、
前記第1および第2のフィルタが、前記センサの受光面の縦幅に応じた長さ、かつ、横幅を前記所定数の2倍の数で等分割するような幅となる矩形形状で、前記センサの受光面の横方向に交互に配置されている
上記(6)に記載のデプス画像取得装置。
(8)
前記複数のフィルタは、第1の通過帯域を有する所定数の第1のフィルタと、第2の通過帯域を有する前記所定数の第2のフィルタとを有し、
前記第1および第2のフィルタが、前記センサの複数の画素が矩形に配置された分割領域ごとに、前記センサの受光面の縦方向および横方向に交互に配置されている
上記(7)に記載のデプス画像取得装置。
(9)
前記第1のフィルタが配置されている前記分割領域に対応する前記デプス画像と、前記第2のフィルタが配置されている前記分割領域に対応する前記デプス画像とのうち、正常に取得することができた一方の前記デプス画像から、正常に取得することができなかった他方の前記デプス画像を復元する
上記(8)に記載のデプス画像取得装置。
(10)
前記センサは、前記連動制御部により選択されなかった前記フィルタが配置されている領域の画素からの前記信号を読み出すのに用いる素子の駆動を停止する
上記(6)から(9)までのいずれかに記載のデプス画像取得装置。
(11)
前記光源の近傍に前記センサが配置され、前記センサが有する複数の画素のうち、前記光源の温度の上昇に対応させて、ダミー動作を行わせる前記画素の個数を減少させ、前記光源の温度の低下に対応させて、ダミー動作を行わせる前記画素の個数を増加させる
上記(2)から(10)までのいずれかに記載のデプス画像取得装置。
(12)
前記センサから出力される信号から生成される前記デプス画像に基づいて、前記検出領域にある所定の対象物が検出されると、前記所定の対象物を検出したことを外部に通知する通知手段に対して、前記所定の対象物を検出したことを示す信号を供給する
上記(1)から(11)までのいずれかに記載のデプス画像取得装置。
(13)
前記フィルタは、それぞれ異なる通過帯域を有する複数のフィルタを有し、
前記複数のフィルタが、前記センサの受光面側にモジュールとして外付けで配置される
上記(1)から(12)までのいずれかに記載のデプス画像取得装置。
(14)
前記連動制御部は、前記複数の光源のうち、選択された光源から前記光を照射させ、選択されなかった光源からの照射を停止させる
上記(4)から(13)までのいずれかに記載のデプス画像取得装置。
(15)
前記光源は、100度の温度変化に応じて所定の変動幅の波長シフトが発生し、
前記フィルタにおける前記所定の通過帯域の幅の1/2は、前記所定の変動幅よりも狭い
上記(4)から(14)までのいずれかに記載のデプス画像取得装置。
(16)
前記光源は、100度の温度変化に応じて少なくとも10nmの波長シフトが発生し、
前記フィルタにおける前記所定の通過帯域の幅の1/2は、10nm未満である
上記(15)に記載のデプス画像取得装置。
(17)
前記所定の通過帯域の中心波長は、920nm乃至960nmの間である
上記(1)から(16)までのいずれかに記載のデプス画像取得装置。
(18)
前記フィルタは、前記所定の通過帯域の波長の光を60%以上透過し、前記所定の通過帯域以外の波長の光を30%未満透過する
上記(1)から(17)までのいずれかに記載のデプス画像取得装置。
(19)
デプス画像を取得して距離を検出する領域となる検出領域に向かって、変調された光を照射する光源と、
前記光源から照射された光が前記検出領域にある物体に反射して入射する光を受光して、前記デプス画像を生成するための信号を出力するセンサと、
前記センサに向かって入射してくる光のうち、所定の通過帯域の波長の光を、前記所定の通過帯域以外の波長の光よりも多く通過させるフィルタと
を備えるデプス画像取得装置が、
前記光源または前記センサの環境情報を取得することと、
前記環境情報に従って、前記光源と、前記センサと、前記フィルタの配置とのうち、少なくともいずれか1つを制御することと
を含むデプス画像取得装置の制御方法。
(20)
デプス画像を取得して距離を検出する領域となる検出領域に向かって、変調された光を照射する光源、
または、前記光源から照射された光が前記検出領域にある物体に反射する光のうち、所定の通過帯域の波長の光を、前記所定の通過帯域以外の波長の光よりも多く光のみを通過させるフィルタを介して入射する光を受光して、前記デプス画像を生成するための信号を出力するセンサ
の環境情報を取得する環境センサによって取得された前記環境情報に従って、前記光源と、前記センサと、前記フィルタの配置とのうち、少なくともいずれか1つを制御する連動制御部
を備えるデプス画像取得システム。
Claims (18)
- デプス画像を取得して距離を検出する領域となる検出領域に向かって、変調された光を照射する光源と、
前記光源から照射された光が前記検出領域にある物体に反射して入射する光を受光して、前記デプス画像を生成するための信号を出力するセンサと、
前記センサに向かって入射してくる光のうち、所定の通過帯域の波長の光を、前記所定の通過帯域以外の波長の光よりも多く通過させるフィルタと、
前記光源または前記センサの温度を取得する温度センサと、
前記温度センサによって取得された前記温度に従って、前記光源と、前記センサと、前記フィルタの配置とのうち、少なくともいずれか1つを制御する連動制御部と
を備え、
前記光源は、温度変化に応じて波長シフトが発生する温度特性を有し、それぞれ異なる波長のピークを有する光を発光する複数の光源であり、
前記連動制御部は、前記温度に従って、前記複数の光源のうちの少なくともいずれか1つを選択する
デプス画像取得装置。 - 前記連動制御部は、前記温度に従って、前記光源が照射する光の波長、および、前記フィルタの通過帯域のうちの、少なくとも一方を、他方に連動させて選択する制御を実行する
請求項1に記載のデプス画像取得装置。 - 前記フィルタは、それぞれ異なる通過帯域を有する複数のフィルタであり、
前記光源は、温度変化に応じて波長シフトが発生する温度特性を有しており、
前記連動制御部は、前記温度に従って、前記複数のフィルタのうちの少なくともいずれか1つを選択する
請求項1に記載のデプス画像取得装置。 - 前記フィルタは、それぞれ異なる通過帯域を有する複数のフィルタであり、
前記複数のフィルタが前記センサの受光面に対して積層して配置されており、
前記光源は、温度変化に応じて波長シフトが発生する温度特性を有しており、
前記連動制御部は、前記温度に従って、前記複数のフィルタが配置されている複数の領域のうち少なくともいずれか1つを選択して前記信号を出力するように前記センサに対する制御を行う
請求項1に記載のデプス画像取得装置。 - 前記複数のフィルタは、第1の通過帯域を有する所定数の第1のフィルタと、第2の通過帯域を有する前記所定数の第2のフィルタとを有し、
前記第1および第2のフィルタが、前記センサの受光面の縦幅に応じた長さ、かつ、横幅を前記所定数の2倍の数で等分割するような幅となる矩形形状で、前記センサの受光面の横方向に交互に配置されている
請求項4に記載のデプス画像取得装置。 - 前記複数のフィルタは、第1の通過帯域を有する所定数の第1のフィルタと、第2の通過帯域を有する前記所定数の第2のフィルタとを有し、
前記第1および第2のフィルタが、前記センサの複数の画素が矩形に配置された分割領域ごとに、前記センサの受光面の縦方向および横方向に交互に配置されている
請求項4に記載のデプス画像取得装置。 - 前記第1のフィルタが配置されている前記分割領域に対応する前記デプス画像と、前記第2のフィルタが配置されている前記分割領域に対応する前記デプス画像とのうち、正常に取得することができた一方の前記デプス画像から、正常に取得することができなかった他方の前記デプス画像を復元する
請求項6に記載のデプス画像取得装置。 - 前記センサは、前記連動制御部により選択されなかった前記フィルタが配置されている領域の画素からの前記信号を読み出すのに用いる素子の駆動を停止する
請求項4に記載のデプス画像取得装置。 - 前記光源の近傍に前記センサが配置され、前記センサが有する複数の画素のうち、前記光源の温度の上昇に対応させて、ダミー動作を行わせる前記画素の個数を減少させ、前記光源の温度の低下に対応させて、ダミー動作を行わせる前記画素の個数を増加させる
請求項1に記載のデプス画像取得装置。 - 前記センサから出力される信号から生成される前記デプス画像に基づいて、前記検出領域にある所定の対象物が検出されると、前記所定の対象物を検出したことを外部に通知する通知手段に対して、前記所定の対象物を検出したことを示す信号を供給する
請求項1に記載のデプス画像取得装置。 - 前記フィルタは、それぞれ異なる通過帯域を有する複数のフィルタを有し、
前記複数のフィルタが、前記センサの受光面側にモジュールとして外付けで配置される
請求項1に記載のデプス画像取得装置。 - 前記連動制御部は、前記複数の光源のうち、選択された光源から前記光を照射させ、選択されなかった光源からの照射を停止させる
請求項1に記載のデプス画像取得装置。 - 前記光源は、100度の温度変化に応じて所定の変動幅の波長シフトが発生し、
前記フィルタにおける前記所定の通過帯域の幅の1/2は、前記所定の変動幅よりも狭い
請求項1に記載のデプス画像取得装置。 - 前記光源は、100度の温度変化に応じて少なくとも10nmの波長シフトが発生し、
前記フィルタにおける前記所定の通過帯域の幅の1/2は、10nm未満である
請求項13に記載のデプス画像取得装置。 - 前記所定の通過帯域の中心波長は、920nm乃至960nmの間である
請求項1に記載のデプス画像取得装置。 - 前記フィルタは、前記所定の通過帯域の波長の光を60%以上透過し、前記所定の通過帯域以外の波長の光を30%未満透過する
請求項1に記載のデプス画像取得装置。 - デプス画像を取得して距離を検出する領域となる検出領域に向かって、変調された光を照射する光源と、
前記光源から照射された光が前記検出領域にある物体に反射して入射する光を受光して、前記デプス画像を生成するための信号を出力するセンサと、
前記センサに向かって入射してくる光のうち、所定の通過帯域の波長の光を、前記所定の通過帯域以外の波長の光よりも多く通過させるフィルタと
を備えるデプス画像取得装置が、
前記光源または前記センサの温度を取得することと、
前記温度に従って、前記光源と、前記センサと、前記フィルタの配置とのうち、少なくともいずれか1つを制御することと
を含み、
前記光源は、温度変化に応じて波長シフトが発生する温度特性を有し、それぞれ異なる波長のピークを有する光を発光する複数の光源であり、
前記温度に従って、前記複数の光源のうちの少なくともいずれか1つを選択する
デプス画像取得装置の制御方法。 - デプス画像を取得して距離を検出する領域となる検出領域に向かって、変調された光を照射する光源と、
前記光源から照射された光が前記検出領域にある物体に反射する光のうち、所定の通過帯域の波長の光を、前記所定の通過帯域以外の波長の光よりも多く光のみを通過させるフィルタを介して入射する光を受光して、前記デプス画像を生成するための信号を出力するセンサと
のうち、いずれか一方の温度を取得する温度センサによって取得された前記温度に従って、前記光源と、前記センサと、前記フィルタの配置とのうち、少なくともいずれか1つを制御する連動制御部
を備え、
前記光源は、温度変化に応じて波長シフトが発生する温度特性を有し、それぞれ異なる波長のピークを有する光を発光する複数の光源であり、
前記連動制御部は、前記温度に従って、前記複数の光源のうちの少なくともいずれか1つを選択する
デプス画像取得システム。
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