JP7207627B2 - 高耐性電子透かし法 - Google Patents
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Description
グリーンノイズ拡散法は埋め込みは実空間で,抽出はスペクトル空間で行われる非対称型で,かつ,グリーンノイズパターンはランダムドットが拡散したパターンのためスペクトラム拡散と同じ様に完全に除去することは一般に難しい.アルゴリズムを公開したとしても,埋め込みの各種パラメータは秘密情報として「秘密鍵」の形で受領者に渡される。秘密性はこの鍵に集約され、安全性が担保され、通常は、この鍵がなければ透かしの除去はできない様になっている。
ここで,まず本発明に用いられるグリーンノイズ特性を示すドットパターンの生成について図3に沿って説明する.
今,マトリックスサイズをR画素×R画素 ( R=2^m ここで^はべき乗)として,その中に1画素サイズの黒ドットを埋め込むものとする。黒ドットの面積率をg(0≦g≦1:g =1が全黒,g =0 が全白)とする。点(x,y)におけるドットパターンを p(x,y)として、g=1/2のグリーンノイズ特性を示すドットパターンを以下の様にして求める。
(工程1) まず,疑似乱数発生器により、ランダムドットp(x,y)を生成する(20)。この時,疑似乱数発生器のSEED値を変えることにより初期状態を変更可能である。
(工程2) p(x,y)を二次元フーリエ変換を行いスペクトルP(u,v)を得る(21)。ここで、(x,y)は空間座標、(u,v)は空間周波数座標を表す。g=0.5 の場合、(R^2)/2個のランダムドット(初期状態はホワイトノイズ)を発生させ、p(x,y)とする.
(工程3) P(u,v)にフィルタD(u,v)を掛けて新たなP'(u,v)を得る(22)。すなわち、
P’(u,v)=P(u,v)・D(u,v)
(工程4) P'(u,v)に逆フーリエ変換を行い,多値の点プロファイルp'(x,y)を得る(23)。
(工程5)誤差関数e(x,y)=p'(x,y)-p(x,y)を求め(24),各画素位置での誤差の大きい順に白,黒同数反転する(25)。
(工程6)工程2から工程5までの操作を誤差が許容量以内になるまで繰り返し,最終的にg=1/2のドットパターンを得る。
f0=√g・fn=√(1/2)・fn
で与えられ,fmax及びfminはf0を基準として,
a≡(fmax - f0)/fn
b≡(fmin - f0)/fn
として、パラメータ(a,b)を定義する。ここで,fnはナイキスト周波数を示す。かかる(a,b)を変化させて、視覚特性に合わせてクラスターサイズの異なるドットパターンを得ることができる。
W(x,y)=I(x,y)+gain・Pi(x,y) (i=0,1,2,3) ------(1)
ただし、
b=(00) の時 Pi(x,y)はパターン0
b=(01) の時 Pi(x,y)はパターン1
b=(10) の時 Pi(x,y)はパターン2
b=(11) の時 Pi(x,y)はパターン3
となる。Piは(1,0)の二値であるが,平均輝度を保存するため(1/2,-1/2)とする。埋め込んだ結果、画素データがダイナミックレンジを超えてオーバーフローやアンダーフローが生じることがあるため、あらかじめ画像データに以下の線形変換を施した画像I’(x,y)にて行うこともある。
I’(x,y)=(1-gain)・I(x,y)+gain/2 -----(2)
この処理は後述の透かし情報を完全に除去する場合には必須であるが、除去を必要としない場合や、オーバーフローやアンダーフローの頻度が低い場合は省略しても構わない。
全ブロックが終了かを判断し(26)、終了でない場合は次のブロックへ移る(27)。
埋め込まれた画像は、Pi(x,y)はランダムドットであるため,ブロック境界は目立たない。グリーンノイズ特性を示すドットパターンは、印刷におけるFMスクリーンとしても用いられ、分散性ドットで均一性にすぐれているため視覚的にも一様で粒状性も感じさせない。
図9に戻って、i番目のマスクをMiとして、Wnとのマッチングの出力Qiは、
Qi=(1/Zi)ΣMi・Wn (i=0,1,2,3) --------(3)
ただし Zi=ΣMi
として求められる(42)。ただし、Σはブロック内の各画素(今の場合は空間周波数に対応)について行われる。その結果、各マスクに対応した出力(Q0,Q1,Q2,Q3)が得られる。この4つの出力のうち最も大きいものをQmaxとして、
Qmax=Q0 の時、b=00
Qmax=Q1 の時、b=01
Qmax=Q2 の時、b=10
Qmax=Q3 の時、b=11
となる2ビットの透かし情報bを得る(43および44a、44b、 44c、 44d)。
rel=Qmax-Qnext ------------(4)
で表される。すなわちQnextがQmaxに非常に近い値の場合は誤判定の確率が高く、QmaxとQnextとの差が大きい程信頼性は高い。この差を信頼度の指標とすることができる。
以上のようにして、2ビットの埋め込み情報bと信頼度relが求まる。
I(x,y)=W(x,y)-gain・Pi(x,y) (i=0,1,2,3) -------------(5)
となり、透かし埋め込み画像から埋め込みパターンにgainを乗じて引くことで、完全に原画に戻すことが可能である。ただし、埋め込み時にオーバーフローやアンダーフローを避けるために線形ダイナミックレンジ補正を行った場合は、逆補正をする必要がある。
以上のようにして透かし除去が可能であるが、埋め込みパターン(パターン0、パターン1、パターン2、パターン3)およびgainが必要となる。
Pi(x,y)はグリーンノイズパターンであるため、境界がない。このため位相シフトしたパターンも目立たない特徴がある。そこでこのパターンの位相をシフトしたパターンPi’(x,y)を生成する。
今、R×Rの基本パターンPi(x,y)の位相をx方向にx0, y方向にy0だけシフトしたものをP’i(x,y)とする。ただし、シフト量は、0≦x0,y0<R であるとする。P’i(x,y)は以下の式で表される。
P'i(x,y)=Pi((x+x0) mod R, (y+y0) mod R) ----------(6)
ここで、mod R はRを法とした剰余を表す。つまり、x+x0 ,y+y0 の値がRを超えた場合は先頭に戻り、位相シフトしたパターンが得られる。
W(x,y)=I(x,y)+gain・P'i(x,y) -------(7)
ただし、P'i(x,y)は式(6)で示されたものである
4096個のパターンが可能である。しかし、細かなシフト量は攻撃に弱いため、状態数を減らして大きなシフト量で構成することが好ましい。
I(x,y)=W(x,y)-gain・P'i(x,y) --------(8)
として、除去が可能である。完全に原画に戻すためには整数型の演算で丸め誤差を考慮した演算が必要である。埋め込みパターンP'i(x,y)は、式(6)に示すように基本パターンPi(x,y)と位相シフト量から求まるため、鍵には基本パターンPi(x,y)、埋め込み強度gain、および位相シフトリストL(n)を格納する。
Ci(x,y)=(1/N)ΣWi(x,y)
= (1/N)ΣIi(x,y)+gain・(1/N)ΣPi(x,y) ----(8)
となる。ここで、NはPi(x,y)に対応するブロックの数、ΣWi(x,y)は透かしの埋め込まれた画像データの加算、ΣIi(x,y)はブロック分割された画像データの加算を示す。ここでNを無限にすると、
(1/N)ΣIi(x,y)→const(画像のDC成分) ------(9)
(1/N)ΣPi(x,y) →Pi(x,y) -----(10)
となり、したがって、Ci(x,y)は、
Ci(x,y)=gain・Pi(x,y)+const -----(11)
となり、Pi(x,y)が抽出されてしまう。
一方、位相シフトを行った埋め込み画像においては,P'i(x,y)は位相がランダムに変わるため、
(1/N)ΣP'i(x,y) →const -------(12)
となり、埋め込みパターンPi(x,y)は抽出できない。
また、元々グリーンノイズ拡散法は、各種編集や加工に対する耐性が高いため、本手法による結託攻撃に対する耐性も加わり、あらゆる攻撃に対して強靭であるといえる。
この改ざん検知手法は,電子透かし技術が完全に可逆な手法に限る。埋め込んだ結果,画像データが変わるとHash値が変化するからである。結託攻撃による鍵の解読は、このようなシステムを根底から覆すもので有り、それを防ぐためにも本手法が有効である。
Claims (1)
- 画像データI(x,y)をR× Rのブロックに分割し、ブロック毎に透かし情報ビットに対応した異なるパターンを埋め込む電子透かし法において、
埋め込みパターンはグリーンノイズ特性を示す複数の異なる基本パターンPi(x,y)を、ブロック毎に異なる位相シフト量 (x0,y0)( ただし、 0≦ x0,y0< R )を用いて、x方向にx0、y方向にy0だけシフトさせたもので、
P'i(x,y) = Pi((x+x0) mod R, (y+y0) mod R)
(ここで、P’i(x,y)はシフト後のパターン、mod RはRを法とする剰余)
なる演算式で求められ、
透かしの埋め込みは、かかるパターンP’i(x,y)を用いて、
W(x,y)=I(x,y)+ gain・P'i(x,y) (ここで、gainは埋め込み強度)
なる演算にて行い、
前記位相シフト量(x0,y0)は、乱数発生器で発生し位相シフトリストL(n) (nはブロック番号)に記憶し、
鍵として、基本パターンPi(x,y)、埋め込み強度(gain)及び位相シフトリストL(n)を保管し、
透かし情報の抽出は、透かしの埋め込まれた画像データをブロックに分割し、ブロックのフーリエスペクトルパターンの形状から、埋め込みビット情報を抽出するもので、位相シフト量によらず同じ抽出ソフトウェアで実行可能であり、
透かしの除去は、透かしの埋め込まれた画像W(x,y)に、鍵を用いて、
I(x,y)=W(x,y)-gain・P'i(x,y)
なる演算にて除去を行い原画に戻すことや新たな情報を埋め込むことが可能な可逆型電子透かし方法。
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