JP7194177B2 - 前区における光学収差を測定するための位相感応光コヒーレンストモグラフィ - Google Patents
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Description
この式で、kは、基準界面50が、測定界面と比較して強い反射器であるという条件で、光波数である。
ψD=ψCW-ψLC= mod2π(4kLCnLCL) (3)
によって与えられる。
この差分位相は、低コヒーレンス光が、基準界面50から、対象サンプル25における測定界面へと通過し、且つ基準界面50に戻るときに、低コヒーレンス光によって取得された位相に対応し、vにおけるジッタの影響は、除去される。サンプルを走査すること及びこの差分位相を測定することによって、距離Lは、サブ波長の精度及び正確性まで測定することができる。
Claims (5)
- 目の前区の光学収差を決定するための方法であって、
測定アームからの光源光が前記目の前記前区に入るように、光コヒーレンストモグラフィ(OCT)干渉機器の前記測定アームに隣接する測定位置に前記目を置くことと、
前記OCT干渉機器から干渉パターンを検出することであって、前記干渉パターンが、前記目から反射された光、及び前記OCT干渉機器の基準アームから反射された光の、前記OCT干渉機器における組み合わせの結果として生じる、干渉パターンを検出することと、
前記検出された干渉パターンに基づいて、前記目の前記前区における基準面と、前記目における測定面との間の光学遅延を計算することであって、前記基準面が、前記目の角膜の前面又は前記目の水晶体の前面であり、前記計算が、前記検出された干渉パターンに基づいて、前記基準面と前記測定面との間の光学位相シフトを測定することを含む、光学遅延を計算することと、
を含み、
前記方法が、前記目における前記測定面にわたる走査パターンにおいて前記光源光を走査することを更に含み、前記検出及び計算が、複数のポイントのそれぞれに対して前記基準面と前記測定面との間の光学遅延を取得するために、前記走査パターンにおける前記複数のポイントのそれぞれに対して繰り返され、
前記基準面が、前記目の角膜の前記前面又は前記目の水晶体の前記前面であり、前記方法が、前記複数のポイントのそれぞれに対して、前記基準面と前記測定面との間の距離に基づいて、前記角膜用の光波面又は前記水晶体用の光波面を計算することを更に含む、方法。 - 前記方法が、前記複数のポイントのそれぞれに対して、前記基準面と前記測定面との間の前記光学遅延に基づいて、且つ更に前記基準面若しくは前記測定面又は両方のためのOCT強度データに基づいて、前記目の構成要素の屈折率の均質性を決定することを更に含む、請求項1に記載の方法。
- 前記方法が、前記目と前記干渉計の前記測定アームとの間にカバーガラスが配置されることなしに実行される、請求項1に記載の方法。
- 前記検出が、時間領域OCTを用いて実行される、請求項1に記載の方法。
- 前記検出が、スペクトル領域OCTを用いて実行される、請求項1に記載の方法。
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