JP7176356B2 - 計測装置、計測方法、及びプログラム - Google Patents
計測装置、計測方法、及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP7176356B2 JP7176356B2 JP2018206802A JP2018206802A JP7176356B2 JP 7176356 B2 JP7176356 B2 JP 7176356B2 JP 2018206802 A JP2018206802 A JP 2018206802A JP 2018206802 A JP2018206802 A JP 2018206802A JP 7176356 B2 JP7176356 B2 JP 7176356B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coating film
- temperature
- basis weight
- time
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
第1の実施の形態では、塗工膜の目付量及び密度の両方を算出する。
<計測装置>
まず、計測装置について説明する。
図1は本発明の実施の形態に係る計測装置の構成の一例を示す概略図である。計測装置10は、塗工膜12の温度を調整する温度調整部20、塗工膜12の温度を計測する温度計測部30、及び装置全体を制御する制御部40を備えている。温度計測部30が赤外線を利用して塗工膜12の温度を測定する場合、計測装置10は暗室14内に配置される。
ここで、温度計測部により得られる「計測データ」について説明する。
計測データは、塗工膜の温度の時間変化を表すデータである。計測データは、サンプル毎に取得される。図4は計測データの一例を示すグラフである。縦軸は、時刻tのときの塗工膜の温度Ttを表す。横軸は、時刻tを表す。時刻t=0に塗工膜の加熱を開始する。例えば、フラッシュランプの照射時刻を0秒とする。
次に、利用者により実施される「準備処理」について説明する。
図5は「準備処理」の手順の一例を示すフローチャートである。図5に示すように、まず、ステップ100で、目付量w及び密度ρの各々が既知の複数の塗工膜(以下、「既知塗工膜」という。)を用意する。以下では、目付量w及び密度ρが既知の塗工膜を「既知塗工膜」と称して、計測対象となる塗工膜と区別する。
以下、準備処理の具体例について説明する。
図6は目付量及び密度の組合せが異なる複数の既知塗工膜の一例を示す表である。図示した例では、既知塗工膜は、銅箔上に塗工された黒鉛層とする。図示した例では、目付量w及び密度ρの組合せが異なる9種類の既知塗工膜が用意されている。
次に、塗工膜の目付量等を計測する「計測処理」について説明する。
図12は「計測処理」の流れの一例を示すフローチャートである。「計測処理」を実行するためのプログラムは、塗工膜を備えた板状部材が計測位置に配置された状態で、利用者によりプログラムの実行が指示されると、計測装置のCPU40AによりROM40Bから読み出されて実行される。同じ種類の複数の塗工膜について計測を行う場合は、塗工膜毎に「計測処理」を実行する。
第2の実施の形態では、目付量wだけを求める点が、第1の実施の形態とは異なる。また、第2の実施の形態では、目付量wの算出方法(準備処理と計測処理)が、第1の実施の形態とは異なる。準備処理で、加熱直後の特定の時刻tmの温度上昇値ΔTmと目付量wとの関係を予め求めておく。
計測処理で、特定の時刻tmの塗工膜の温度Tmを計測し、予め求めた関係を用いて、計測された温度Tmに対応する目付量wを算出する。第1の実施の形態では、時刻t=0の塗工膜の温度T0の推定値から目付量wを算出するが、第2の実施の形態では、特定の時刻tmの塗工膜の温度Tmの実測値から目付量wを算出する。その他の部分は、第1の実施の形態と同様であるため説明を省略し、相違点のみ説明する。
第2の実施の形態では、準備処理において、複数の既知塗工膜の各々について、塗工膜を加熱し、時刻tmでの温度Tmを計測する。準備処理で求める塗工膜の温度Tmは、時刻tmに計測された実測値でもよく、時刻tmの前後の計測値から推定された推定値でもよい。1つの計測値(実測値)を用いるよりも、複数の計測値から推定された推定値とする方が、温度Tmの正確な値を求めることができる。
温度Tmの推定値を求める場合は、例えば、第1の実施の形態と同様に、ニュートンの冷却の法則に係る「第1関係式」で計測データを近似することにより、各計測データについて最高温度T0、周囲の温度T∞等を求める。計測期間は、第1の実施の形態と同様に、加熱直前から塗工膜の温度が周囲の温度T∞に収束するまでの期間としてもよい。例えば、加熱直前から15秒間が経過するまでの期間とする。
なお、後述する通り、加熱直後の特定の期間の計測データを使用して、温度Tmの推定値を求めてもよい。また、後述する通り、計測データを直線で近似して、温度Tmの推定値を求めてもよい。
特定の時刻tmは、加熱直後の時刻とする。加熱開始から短時間での計測結果を用いて、目付量wの計測精度を向上させる。特定の時刻tmは、利用者により少なくとも1つ設定される。例えば、温度計測部による計測間隔を0.01秒(100Hz)とした場合、特定の時刻tmは、0.03秒、0.05秒、0.07秒、0.1秒、0.5秒等としてもよい。
図5に示すフローチャートを用いて、第2の実施の形態に係る準備処理の手順について説明する。第2の実施の形態に係る準備処理の手順は、ステップ104までは、図5に示す「準備処理」の手順と同じである。ステップ104で、複数の既知塗工膜の各々について、計測データを上記式(1)で近似して、最高温度T0と周囲の温度T∞とを取得する。
第2の実施の形態では、計測処理において、計測対象の塗工膜を加熱し、時刻tmでの塗工膜の温度Tmを計測する。時刻tmでの塗工膜の温度Tmの実測値と、別途計測された周囲の温度T∞とから、時刻tmの温度上昇値ΔTmを求める。また、準備処理で求めた「第4関係式」を用いて、時刻tmの温度上昇値ΔTmに対応する目付量wを求める。第2の実施の形態では、第1の実施の形態とは異なり、計測処理では「第1関係式」による近似は行わない。
次に、塗工膜の目付量等を計測する「計測処理」について説明する。
図13は第2の実施の形態に係る「計測処理」の流れの一例を示すフローチャートである。「計測処理」を実行するためのプログラムは、塗工膜を備えた板状部材が計測位置に配置された状態で、利用者によりプログラムの実行が指示されると、計測装置のCPU40AによりROM40Bから読み出されて実行される。同じ種類の複数の塗工膜について計測を行う場合は、塗工膜毎に「計測処理」を実行する。
以下、具体例について説明する。
(準備処理)
図14は目付量及び密度の組合せが異なる複数の既知塗工膜の他の一例を示す表である。図示した例では、既知塗工膜は、銅箔上に塗工された黒鉛層とする。図示した例では、目付量w及び密度ρの組合せが異なる9種類の既知塗工膜が用意されている。
目付量w及び密度ρが未知の塗工膜(計測対象)を、既知塗工膜と同じ条件で加熱して、加熱直後の時刻tmの塗工膜の温度分布を取得する。準備処理で求めた「第4関係式」を用いて、温度分布を目付量分布に変換する。
第3の実施の形態では、目付量wの算出方法(準備処理と計測処理)が、第1及び第2の実施の形態とは異なる。準備処理及び計測処理で計測データを曲線近似するときに、加熱直後の特定の期間(時刻tmから時刻teまで)の計測データを使用する。計測期間も時刻teまでとしてもよい。その他の部分は、第1の実施の形態と同様であるため説明を省略し、相違点のみ説明する。
第3の実施の形態では、準備処理において、複数の既知塗工膜の各々について、塗工膜を加熱し、特定の期間(tm-te)の計測データを取得する。
得られた最高温度T0、周囲の温度T∞及び既知の目付量wから、温度上昇値ΔT0と目付量wとの関係を表す「第2関係式」と、冷却特性(hA/C)と目付量w及び密度ρの積との関係を表す「第3関係式」とを求める。
特定の期間(tm-te)は、加熱直後の短期間とする。加熱開始から短期間での計測結果を用いて、目付量wの計測精度を向上させる。特定の期間(tm-te)は、利用者により少なくとも1つ設定される。時刻tm以降の計測データを使用するのは、第1の実施の形態と同様に、加熱の瞬間の温度は正確に計測できないためである。特定の時刻tmは、0.03秒等である。
第3の実施の形態では、計測処理において、計測対象の塗工膜を加熱し、準備処理と同様に特定の期間(tm-te)の計測データを取得する。曲線近似に使用する期間が短くなる以外は、第1の実施の形態と同様にする。ニュートンの冷却の法則に係る「第1関係式」で近似することにより、各計測データについて最高温度T0、周囲の温度T∞、及び冷却特性(hA/C)を求める。得られた最高温度T0と周囲の温度T∞とから、温度上昇値ΔT0を求める。
以下、具体例について説明する。
(準備処理)
図14に示す9種類の既知塗工膜の各々について、加熱直前から10秒後までの期間の計測データを取得した。図18は計測データの一例を示すグラフである。ここでは、加熱直前から1秒後までの計測データを図示する。この計測データは、目付量w=7.24mg/cm2、プレスなしの既知塗工膜の計測データである。
目付量w及び密度ρが未知の塗工膜(計測対象)を、既知塗工膜と同じ条件で加熱して、加熱直前から10秒までの期間の計測データを取得した。塗工膜の部位による温度変化の違いの一例を図20に示す。第2の実施形態で使用した塗工膜を計測対象とした。図20(A)は、加熱後0.03秒後の塗工膜の温度分布から得られた目付量分布(図17(A)に参照)に重ねて、一例であるサンプル中央の目付量が少ない領域内の計測点αの位置と、目付量が多い領域内の計測点βの位置とを示す画像である。
第4の実施の形態では、加熱直後の特定の期間(tm-te)の計測データを使用する点は、第3の実施形態と同じである。第4の実施の形態では、計測データを直線近似する点で、曲線近似する第3の実施の形態とは相違している。また、第4の実施の形態では、原則として目付量wだけを求める点が、第3の実施の形態とは異なる。その他の部分は、第3の実施の形態と同様であるため説明を省略し、相違点のみ説明する。
第4の実施の形態では、準備処理において、複数の既知塗工膜の各々について、既知塗工膜を加熱し、特定の期間(tm-te)の計測データを取得する。特定の期間(tm-te)は、例えば、0.03秒から1秒までの短期間とする。
第4の実施の形態では、計測処理において、計測対象の塗工膜を加熱し、特定の期間(tm-te)の計測データを取得する。準備処理と同様に、上記式(9)で表される直線で近似し、近似式を求める。
以下、具体例について説明する。
(準備処理)
図14に示す9種類の既知塗工膜の各々について、加熱直前から1秒後までの期間の計測データを取得した。図22は計測データの一例を示すグラフである。この計測データは、目付量w=7.24mg/cm2、プレスなしの既知塗工膜の計測データである。
目付量w及び密度ρが未知の塗工膜(計測対象)を、既知塗工膜と同じ条件で加熱して、特定の期間(tm-te)の計測データを取得した。計測データから温度上昇値ΔT0を求め、得られた温度上昇値ΔT0から「第2関係式」を用いて対応する目付量wT0を求めた。時刻tmを0.03秒とした。
第5の実施の形態では、計測データを取得するときの計測間隔(サンプリングの間隔)を長くする点で、第4の実施の形態とは相違している。その他の部分は、第4の実施の形態と同様であるため説明を省略し、相違点のみ説明する。
以下、具体例について説明する。
(準備処理)
図14に示す9種類の既知塗工膜の各々について、加熱直前から1秒後までの期間の計測データを取得した。図25は計測データの一例を示すグラフである。この計測データは、目付量w=7.24mg/cm2、プレスなしの既知塗工膜の計測データである。第1から第4の実施の形態では、0.01秒間隔(100Hz)の計測間隔で計測値を取得していた。第5の実施の形態では、0.05秒間隔(20Hz)の計測間隔で計測値を取得する。第5の実施の形態では、他の実施の形態に比べて計測点は(1/5)に減少する。
目付量w及び密度ρが未知の塗工膜(計測対象)を、既知塗工膜と同じ条件で加熱して、特定の期間(tm-te)の計測データを取得した。計測データから最高温度T0を求めた。「最高温度T0」は、時刻t=0のときの塗工膜の温度の推定値である。最高温度T0と別途得られた周囲の温度T∞とから、温度上昇値ΔT0を求めた。得られた温度上昇値ΔT0から「第2関係式」を用いて対応する目付量wT0を求めた。時刻tmを0.05秒とした。
なお、上記実施の形態で説明した計測装置、計測方法、及びプログラムの構成は一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内においてその構成を変更してもよいことは言うまでもない。
12 塗工膜
14 暗室
16 搬送ベルト
18 板状部材
20 温度調整部
30 温度計測部
40 制御部
42 表示部
44 入力部
46 通信部
48 記憶部
Claims (12)
- 板状部材の表面に塗工された塗工膜が加熱または冷却されたときの、前記塗工膜の予め定めた位置での、前記加熱または冷却が開始された時刻における前記塗工膜の温度の推定値を特定値として取得する取得手段と、
前記特定値を取得した場合に、前記特定値に応じた時刻の前記塗工膜の温度と前記塗工膜の目付量との予め定めた関係を用いて、前記取得手段で取得された特定値に対応する、前記塗工膜の予め定めた位置での目付量を求めて出力する出力手段と、
を備え、
前記時刻の前記塗工膜の温度の推定値は、
前記塗工膜の温度の時間変化を曲線または直線で近似して求める、
計測装置。 - 前記曲線が、ニュートンの冷却の法則を表す指数関数式で表される、
請求項1に記載の計測装置。 - 前記加熱または冷却の開始後で且つ前記塗工膜の温度が収束する前の予め定めた期間の前記塗工膜の温度の時間変化を、前記曲線または前記直線で近似する、
請求項1または請求項2に記載の計測装置。 - 前記予め定めた期間を、前記加熱または冷却の開始後1秒以内の期間とする、
請求項3に記載の計測装置。 - 前記時刻における前記塗工膜の温度の推定値は、
前記予め定めた関係を求める際に、目付量が既知の複数の塗工膜の各々について前記時刻の前記塗工膜の温度を推定したときと同じ方法で推定する、
請求項1から請求項4までのいずれか1項に記載の計測装置。 - 前記取得手段が、前記時刻における前記塗工膜の温度の推定値と共に、前記塗工膜の冷却特性を更に取得する場合に、
前記出力手段は、前記塗工膜の冷却特性、前記塗工膜の目付量、及び前記塗工膜の密度の予め定めた関係を用いて、前記取得手段で取得された前記塗工膜の冷却特性及び前記出力手段で取得された前記塗工膜の目付量に対応する、前記塗工膜の予め定めた位置での密度を出力する、
請求項1から請求項5までのいずれか1項に記載の計測装置。 - 前記塗工膜の温度の時間変化を直線で近似する場合に、前記塗工膜の温度の時間変化のサンプリング間隔を広くする、請求項1に記載の計測装置。
- 前記塗工膜が、銅箔に塗工された黒鉛層である、
請求項1から請求項7までのいずれか1項に記載の計測装置。 - 前記予め定めた位置が複数あり、
前記取得手段は、前記塗工膜の温度分布の時間変化を取得する、
請求項1から請求項8までのいずれか1項に記載の計測装置。 - 前記塗工膜の温度分布が赤外線カメラから取得される、
請求項9に記載の計測装置。 - 板状部材の表面に塗工された塗工膜が加熱または冷却されたときの、前記塗工膜の予め定めた位置での、前記加熱または冷却が開始された時刻における前記塗工膜の温度の推定値を特定値として取得し、
前記特定値を取得した場合に、前記特定値に応じた時刻の前記塗工膜の温度と前記塗工膜の目付量との予め定めた関係を用いて、取得された特定値に対応する、前記塗工膜の予め定めた位置での目付量を求めて出力し、
前記時刻の前記塗工膜の温度の推定値は、
前記塗工膜の温度の時間変化を曲線または直線で近似して求める、
計測方法。 - コンピュータを、
板状部材の表面に塗工された塗工膜が加熱または冷却されたときの、前記塗工膜の予め定めた位置での、前記加熱または冷却が開始された時刻における前記塗工膜の温度の推定値を特定値として取得する取得手段、
前記特定値を取得した場合に、前記特定値に応じた時刻の前記塗工膜の温度と前記塗工膜の目付量との予め定めた関係を用いて、前記取得手段で取得された特定値に対応する、前記塗工膜の予め定めた位置での目付量を求めて出力する出力手段、
として機能させるためのプログラムであって、
前記時刻の前記塗工膜の温度の推定値が、
前記塗工膜の温度の時間変化を曲線または直線で近似して求められている、
プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022120027A JP7363989B2 (ja) | 2017-11-27 | 2022-07-27 | 計測装置、計測方法、及びプログラム |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017226997 | 2017-11-27 | ||
JP2017226997 | 2017-11-27 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022120027A Division JP7363989B2 (ja) | 2017-11-27 | 2022-07-27 | 計測装置、計測方法、及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019095436A JP2019095436A (ja) | 2019-06-20 |
JP7176356B2 true JP7176356B2 (ja) | 2022-11-22 |
Family
ID=66972932
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018206802A Active JP7176356B2 (ja) | 2017-11-27 | 2018-11-01 | 計測装置、計測方法、及びプログラム |
JP2022120027A Active JP7363989B2 (ja) | 2017-11-27 | 2022-07-27 | 計測装置、計測方法、及びプログラム |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022120027A Active JP7363989B2 (ja) | 2017-11-27 | 2022-07-27 | 計測装置、計測方法、及びプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP7176356B2 (ja) |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002187731A (ja) | 2000-12-19 | 2002-07-05 | Canon Inc | ガラス基板加熱処理装置及びガラス基板加熱処理方法 |
US20030108661A1 (en) | 1999-12-09 | 2003-06-12 | Jukka Linnonmaa | Method and arrangement for determining the profile of a coating layer |
JP2007178429A (ja) | 2005-12-16 | 2007-07-12 | General Electric Co <Ge> | 絶縁塗膜の非破壊評価の装置 |
JP2009538247A (ja) | 2006-05-26 | 2009-11-05 | ペラ イノベーション リミテッド | 成形可能な製品の製造方法及び製造装置 |
JP2010112806A (ja) | 2008-11-05 | 2010-05-20 | Toyota Motor Corp | 塗布分布測定方法 |
US20110189379A1 (en) | 2008-03-28 | 2011-08-04 | Andreas Ortner | Method for the thermographic inspection of nonmetallic materials, particularly coated nonmetallic materials, as well as method for the production thereof and an object produced according to the method |
WO2013081151A1 (ja) | 2011-11-30 | 2013-06-06 | ダイハツ工業株式会社 | ワックスの塗布膜厚並びに塗布範囲評価方法、及び塗布検査システム |
JP2016051642A (ja) | 2014-09-01 | 2016-04-11 | 株式会社コベルコ科研 | 電池の評価方法及びこれに用いる評価用セル |
CN107289870A (zh) | 2017-06-02 | 2017-10-24 | 华能国际电力股份有限公司 | 热障涂层厚度激光透射法激励红外热波检测装置及方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4634291A (en) * | 1984-11-26 | 1987-01-06 | General Electric Company | Coating thickness measurement |
JPH02309205A (ja) * | 1989-05-24 | 1990-12-25 | Hitachi Shonan Denshi Co Ltd | 粘着テープの厚み検査装置 |
DE602004030728D1 (de) * | 2004-10-04 | 2011-02-03 | Siemens Ag | Verfahren zur Bestimmung von Materialparametern eines Objekts von Temperature-versus-Time-Daten |
JP2006242721A (ja) | 2005-03-02 | 2006-09-14 | Kagawa Univ | 膜厚測定装置および膜厚測定方法 |
US8692887B2 (en) | 2010-08-27 | 2014-04-08 | General Electric Company | Thermal imaging method and apparatus for evaluating coatings |
-
2018
- 2018-11-01 JP JP2018206802A patent/JP7176356B2/ja active Active
-
2022
- 2022-07-27 JP JP2022120027A patent/JP7363989B2/ja active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20030108661A1 (en) | 1999-12-09 | 2003-06-12 | Jukka Linnonmaa | Method and arrangement for determining the profile of a coating layer |
JP2002187731A (ja) | 2000-12-19 | 2002-07-05 | Canon Inc | ガラス基板加熱処理装置及びガラス基板加熱処理方法 |
JP2007178429A (ja) | 2005-12-16 | 2007-07-12 | General Electric Co <Ge> | 絶縁塗膜の非破壊評価の装置 |
JP2009538247A (ja) | 2006-05-26 | 2009-11-05 | ペラ イノベーション リミテッド | 成形可能な製品の製造方法及び製造装置 |
US20110189379A1 (en) | 2008-03-28 | 2011-08-04 | Andreas Ortner | Method for the thermographic inspection of nonmetallic materials, particularly coated nonmetallic materials, as well as method for the production thereof and an object produced according to the method |
JP2010112806A (ja) | 2008-11-05 | 2010-05-20 | Toyota Motor Corp | 塗布分布測定方法 |
WO2013081151A1 (ja) | 2011-11-30 | 2013-06-06 | ダイハツ工業株式会社 | ワックスの塗布膜厚並びに塗布範囲評価方法、及び塗布検査システム |
JP2016051642A (ja) | 2014-09-01 | 2016-04-11 | 株式会社コベルコ科研 | 電池の評価方法及びこれに用いる評価用セル |
CN107289870A (zh) | 2017-06-02 | 2017-10-24 | 华能国际电力股份有限公司 | 热障涂层厚度激光透射法激励红外热波检测装置及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7363989B2 (ja) | 2023-10-18 |
JP2022136245A (ja) | 2022-09-15 |
JP2019095436A (ja) | 2019-06-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8692887B2 (en) | Thermal imaging method and apparatus for evaluating coatings | |
CN108303443B (zh) | 一种薄片材料面向导热性能稳态测试方法 | |
US7409313B2 (en) | Method and apparatus for nondestructive evaluation of insulative coating | |
US6394646B1 (en) | Method and apparatus for quantitative nondestructive evaluation of metal airfoils using high resolution transient thermography | |
US10546207B2 (en) | Normalized defect characterization of pulse thermographic nondestructive evaluation | |
CN109060822B (zh) | 长脉冲红外无损检测序列图像处理方法与*** | |
JP6628113B2 (ja) | 厚み計測方法及び厚み計測装置、並びに欠陥検出方法及び欠陥検出装置 | |
US20080317090A1 (en) | Method and apparatus for thermographic nondestructive evaluation of an object | |
WO2012167403A1 (zh) | 脉冲红外热波技术测厚方法 | |
RU2701775C1 (ru) | Способ определения кинетических теплофизических свойств твердых материалов | |
Hayabusa et al. | Estimation of fatigue limits from temperature data measured by IR thermography | |
Cannas et al. | Modeling of active infrared thermography for defect detection in concrete structures | |
JP2018025560A (ja) | 熱拡散率測定装置 | |
US11022574B2 (en) | Method and apparatus for rapid measurement of thermal conductivity of a thin film material | |
JP7176356B2 (ja) | 計測装置、計測方法、及びプログラム | |
Tao et al. | Analysis of step-heating thermography methods for defect depth prediction | |
Li et al. | Thickness measurement research using transmission step-heating thermography | |
Golovin et al. | Determination of the thermal diffusivity of materials by a nondestructive express method with the use of step-by-step local heating of the surface and high-speed thermography | |
Kochanowski et al. | Determination of thermal diffusivity of austenitic steel using pulsed infrared thermography | |
CN106679818B (zh) | 光滑表面温度分布的测量装置及方法 | |
Dikić et al. | Characterization of periodic cylindrical subsurface defects by pulsed flash thermography | |
RU2480739C1 (ru) | Способ теплового неразрушающего контроля сопротивления теплопередаче строительной конструкции | |
JPWO2020162121A1 (ja) | 厚み計測方法及び厚み計測装置、並びに欠陥検出方法及び欠陥検出装置 | |
RU2616343C1 (ru) | Способ определения параметров теплофизических характеристик слоя сыпучих технологических материалов | |
Tao et al. | Determination of temperature sequence length in pulse phase thermography |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210629 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220527 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220614 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220727 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20221011 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20221024 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7176356 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |