JP7162645B2 - ERROR RATE MEASUREMENT DEVICE AND PARAMETER ACQUISITION METHOD - Google Patents
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Description
本発明は、被測定物（ＤＵＴ：Device Under Test ）のビット誤り率（ＢＥＲ：Bit Error Rate）を測定する誤り率測定装置に関し、特に、リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中にパラメータ値の変更指示があったときの応答時間を測定する誤り率測定装置およびパラメータ取得方法に関する。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to an error rate measuring device for measuring a bit error rate (BER) of a device under test (DUT), and more particularly, to an error rate measuring device for measuring a parameter value during link training for managing the state of a link. relates to an error rate measuring device and a parameter acquisition method for measuring a response time when there is an instruction to change the
誤り率測定装置は、例えば下記特許文献１に開示されるように、被測定物（ＤＵＴ）を信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態で固定データを含む既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較してビット誤り率を測定する装置として従来から知られている。 For example, as disclosed in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2002-200012, the error rate measurement device sends a test signal of a known pattern including fixed data to the device under test (DUT) in a state where the device under test (DUT) is transitioned to a state of signal pattern folding. It is conventionally known as a device for measuring a bit error rate by comparing, bit by bit, a signal under test received from a device under test and a reference signal as a reference, which is transmitted back from the device under test along with the transmission of the test signal. .
ところで、この種の誤り率測定装置では、被測定物のビット誤り率を測定する他、リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中にパラメータ値の変更指示があったときの応答時間の測定を行う場合がある。 By the way, this kind of error rate measuring device measures the bit error rate of the device under test, and also measures the response time when there is an instruction to change the parameter value during the link training for managing the state of the link. may do so.
例えばＰＣＩ Ｅｘｐｒｅｓｓ（以下、ＰＣＩｅと略称する）の場合、コンプライアンステスト項目の一つとして、応答時間の試験（Ｔｘ Ｌｉｎｋ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ Ｔｉｍｅ ｔｅｓｔ）がある。この応答時間の試験は、図６のフローチャートに基づく下記（１）～（５）の手順で行われる。 For example, in the case of PCI Express (hereinafter abbreviated as PCIe), one of the compliance test items is a response time test (Tx Link Equalization Response Time test). This response time test is performed according to the following procedures (1) to (5) based on the flow chart of FIG.
（１）被測定物をループバック状態（Ｌｏｏｐｂａｃｋ Ａｃｔｉｖｅ）に設定するためのリンクトレーニングを開始する（ＳＴ１１）。
（２）リンクトレーニング中に図５のＬＴＳＳＭ（Link Training and Status State Machine）における「Ｒｅｃｏｖｅｒｙ」のＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態で誤り率測定装置が被測定物のパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ：プリセット（例えば初期値：Ｐｒｅｓｅｔ０）の変更を指示する（ＳＴ１２）。
（３）被測定物が実際に指示されたＰｒｅｓｅｔ（例えば初期値：Ｐｒｅｓｅｔ０）に変化するまでの応答時間を誤り率測定装置にて測定する（ＳＴ１３）。このとき、指示されたＰｒｅｓｅｔ（例えば初期値：Ｐｒｅｓｅｔ０）に対応するＣｕｒｓｏｒ値：カーソル値を被測定物が誤り率測定装置に返送する（ＳＴ１４）。このＣｕｒｓｏｒ値は被測定物が持つ固有の値であり、この試験を通じて誤り率測定装置はこの値を知ることができる。
（４）ＳＴ１２～ＳＴ１４の処理をパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０（初期値）から順にインクリメントしてＰｒｅｓｅｔ９まで実行し、計１０回の処理を行う（ＳＴ１５）。
（５）ＳＴ１５で得られたＰｒｅｓｅｔ０～９のうち、所望とするＰｒｅｓｅｔに対応するＣｕｒｓｏｒ値を設定し、設定したＣｕｒｓｏｒ値で応答時間の試験を行うためのビットを設定して応答時間を測定する（ＳＴ１６）。
(1) Start link training for setting the DUT to a loopback state (Loopback Active) (ST11).
(2) During link training, the error rate measuring device sets the parameter value of the device under test in the state of
(3) Measure the response time until the device under test changes to the actually designated Preset (eg, initial value: Preset0) with the error rate measuring device (ST13). At this time, the device under test returns a Cursor value corresponding to the designated Preset (eg, initial value: Preset0) to the error rate measuring device (ST14). This Cursor value is a unique value of the device under test, and the error rate measuring device can know this value through this test.
(4) The processing of ST12 to ST14 is performed by incrementing the parameter value from Preset0 (initial value) to Preset9, and the processing is performed a total of 10 times (ST15).
(5) Set a Cursor value corresponding to the desired Preset among the
なお、各Ｃｕｒｓｏｒ値は、予め被測定物と誤り率測定装置がそれぞれ持っており、Ｐｒｅｓｅｔ０～９の各Ｐｒｅｓｅｔ毎に任意に設定可能である。このため、各Ｃｕｒｓｏｒ値は、被測定物と誤り率測定装置がお互いどの値を持っているか判らない。
Each Cursor value is preliminarily held by the device under test and the error rate measuring device, and can be arbitrarily set for each of
しかしながら、従来の誤り率測定装置では、１回のリンクトレーニングに対して１つずつのＰｒｅｓｅｔの試験を行う必要があり、リンクトレーニングの都度Ｃｕｒｓｏｒ値を取得していた。このため、Ｃｕｒｓｏｒによる試験を行うためには、まず事前にＰｒｅｓｅｔによる試験を１０回繰り返さなければならず、操作が煩雑なだけでなく、時間を要するという問題点があった。 However, in the conventional error rate measuring device, it is necessary to test one Preset for each link training, and a Cursor value is acquired each time the link training is performed. For this reason, in order to perform a Cursor test, the Preset test must first be repeated ten times.
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、Ｃｕｒｓｏｒによる試験を行うための操作回数を低減して時間の短縮を図ることができる誤り率測定装置およびパラメータ取得方法を提供することを目的としている。 Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and provides an error rate measurement device and a parameter acquisition method that can reduce the number of operations for performing a test by Cursor and shorten the time. It is intended to
上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された誤り率測定装置は、リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中にパラメータ値の変更指示があったときの応答時間を測定する誤り率測定装置１であって、
タイミング信号としてのトリガを発生するトリガ発生部１２と、
少なくとも１回のリンクトレーニング中のＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態で前記パラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔへの変更指示を被測定物Ｗに順次送信するデータ送信部１１と、
前記データ送信部から順次送信される変更指示による前記全てのＰｒｅｓｅｔに対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を前記被測定物から順次受信して取得するとともに、前記データ送信部が前記パラメータ値の変更指示を前記被測定物に順次送信したときの前記トリガを起点とするパラメータ値変更指示送信時間の測定、前記パラメータ値の変更指示に従って実際にパラメータ値が変更された前記被測定物からデータを受信したデータ受信時間の測定、前記パラメータ値変更指示送信時間から前記データ受信時間までの応答時間の測定を行うデータ受信部１３と、
前記データ受信部が測定した前記パラメータ値変更指示送信時間、前記データ受信時間および前記応答時間をログ情報として記憶する記憶部１４と、
前記被測定物から取得したパラメータ値および前記応答時間を表示する表示部１５と、を備えたことを特徴とする。
In order to achieve the above object, an error rate measuring apparatus according to
a
a
Each Cursor value corresponding to all the presets according to the change instruction sequentially transmitted from the data transmission unit is sequentially received from the device under test and acquired , and the data transmission unit transmits the change instruction of the parameter value to the Measurement of the parameter value change instruction transmission time starting from the trigger when sequentially transmitted to the device under test, and data reception of data received from the device under test, the parameter values of which are actually changed according to the parameter value change instruction. a
a
and a
本発明の請求項２に記載された誤り率測定装置のパラメータ取得方法は、リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中にパラメータ値の変更指示があったときの応答時間を測定する誤り率測定装置のパラメータ取得方法であって、
タイミング信号としてのトリガを発生するステップと、
少なくとも１回のリンクトレーニング中のＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態で前記パラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔへの変更指示を被測定物Ｗに順次送信するステップと、
前記順次送信される変更指示による前記全てのＰｒｅｓｅｔに対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を前記被測定物から順次受信して取得するステップと、
前記被測定物に対してパラメータ値の変更指示を送信した前記トリガを起点とするパラメータ値変更指示送信時間を測定するステップと、
前記パラメータ値の変更指示に従って実際にパラメータ値が変更された前記被測定物からデータを受信したデータ受信時間を測定するステップと、
前記パラメータ値変更指示送信時間から前記データ受信時間までの応答時間を測定するステップと、
前記パラメータ値変更指示送信時間、前記データ受信時間および前記応答時間をログ情報として記憶部１４に記憶するステップと、
前記被測定物から取得したパラメータ値および前記応答時間を表示部１５に表示するステップと、を含むことを特徴とする。
A parameter acquisition method for an error rate measuring apparatus according to
generating a trigger as a timing signal;
a step of sequentially transmitting to the device under test W an instruction to change all the presets as the parameter values in the state of
a step of sequentially receiving and acquiring respective Cursor values corresponding to all the presets according to the sequentially transmitted change instructions from the device under test;
measuring a parameter value change instruction transmission time starting from the trigger that transmitted the parameter value change instruction to the device under test;
a step of measuring a data reception time during which data is received from the device under test whose parameter value is actually changed according to the parameter value change instruction;
measuring a response time from the parameter value change instruction transmission time to the data reception time;
a step of storing the parameter value change instruction transmission time, the data reception time, and the response time as log information in the
and displaying the parameter value obtained from the object to be measured and the response time on the
本発明によれば、リンクトレーニング中に被測定物に対してパラメータ値の変更指示があってから実際に指示されたパラメータ値に変更されるまでの応答時間を測定するにあたって、Ｃｕｒｓｏｒによる試験を行うための操作回数を低減して時間の短縮を図ることができる。これにより、例えば複数の被測定物のＣｕｒｓｏｒ試験のみを連続して行いたい場合などに、作業が効率化でき有用である。さらに、１回のリンクトレーニング中に行えば、一段と作業の効率化が可能である。 According to the present invention, a Cursor test is performed in order to measure the response time from an instruction to change the parameter value to the device under test during link training until the parameter value is changed to the actually instructed parameter value. It is possible to shorten the time by reducing the number of times the operation is performed. This is useful because the work can be made more efficient, for example, when it is desired to continuously perform only cursor tests on a plurality of objects to be measured. Furthermore, if it is performed during one link training, work efficiency can be further improved.
以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。 EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the form for implementing this invention is demonstrated in detail, referring attached drawings.
［本発明の概要について］
本発明に係る誤り率測定装置は、例えば拡張バスや拡張スロットの接続規格であるＰＣＩｅの規格に準拠したデバイスを被測定物（ＤＵＴ）とし、被測定物を信号パターン折り返しのステート（図５のＬＴＳＳＭの「Ｌｏｏｐｂａｃｋ」ステート）に遷移させた状態で固定データを含む既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較してビット誤り率を測定するものである。
[Overview of the present invention]
The error rate measuring apparatus according to the present invention uses, for example, a device under test (DUT) that conforms to the PCIe standard, which is a connection standard for expansion buses and expansion slots, as the device under test (DUT), and the device under test in the state of signal pattern loopback (see FIG. 5). A test signal with a known pattern including fixed data is transmitted to the device under test in the state of transition to the LTSSM "Loopback" state), and the signal under test is returned from the device under test as the test signal is transmitted. The bit error rate is measured by comparing bit by bit with a reference signal that serves as a standard.
特に、本発明は、リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中に被測定物に対してパラメータ値（Ｐｒｅｓｅｔ：プリセットまたはＣｕｒｓｏｒ：カーソル）の変更指示があってから実際に指示されたパラメータ値に変更されるまでの応答時間を測定するにあたって、Ｃｕｒｓｏｒによる試験を行うための操作回数を低減して時間の短縮を図ることを目的としている。 In particular, the present invention relates to an actually instructed parameter value after an instruction to change a parameter value (Preset or Cursor) is given to a device under test during link training for managing the link state. The object is to shorten the time by reducing the number of operations for performing a test using the Cursor in measuring the response time until the change.
なお、パラメータ値は、予め被測定物と誤り率測定装置がそれぞれ持っており、Ｔｒａｎｓｍｉｔｔｅｒ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎの量を決めるための値である。具体的には、例えばタップ毎の振幅（プリシュート、ディエンファシスのエンファシス量）に対応したパラメータ値として、Ｐｒｅｓｅｔ０～９と、Ｐｒｅｓｅｔ０～９の各Ｐｒｅｓｅｔに対応するＣｕｒｓｏｒ値とがある。各Ｃｕｒｓｏｒ値は、Ｐｒｅｓｅｔ０～９の各Ｐｒｅｓｅｔ毎に任意に設定可能であり、被測定物と誤り率測定装置がお互いどの値を持っているか判らないものである。
Note that the parameter value is a value that the device under test and the error rate measuring device have in advance, respectively, and that is used to determine the amount of Transmitter Equalization. Specifically, for example, there are
図１に示すように、誤り測定装置１は、上記目的を達成するため、設定部２、パターン発生器３、エラー検出器４を備えて概略構成され、リンクの状態を管理するための１回のリンクトレーニング中に被測定物Ｗに対してパラメータ値（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更指示を全て送信し、それらに対応するＣｕｒｓｏｒ値を一度に全て取得する機能を有する。なお、この動作は、１回のリンクトレーニング中に限られず、複数回のリンクトレーニング中であってもよい。
As shown in FIG. 1, the
図１に示すように、被測定物Ｗは、リンク状態を管理するリンク状態管理機構として、図５のＬＴＳＳＭ（Link Training and Status State Machine）によるリンク状態管理部Ｗ１を搭載し、データ受信部Ｗ２、データ送信部Ｗ３を備えて概略構成される。以下、被測定物Ｗと誤り率測定装置１の各構成について説明する。
As shown in FIG. 1, the device under test W is equipped with a link state management unit W1 based on the LTSSM (Link Training and Status State Machine) of FIG. , and a data transmission unit W3. Each configuration of the device under test W and the error
［被測定物の構成について］
データ受信部Ｗ２は、応答時間の試験（Ｔｘ Ｌｉｎｋ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ Ｔｉｍｅ ｔｅｓｔ）を行う際に、リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中に誤り率測定装置１のパターン発生器３からのパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）の変更指示を受信する。
[Regarding the configuration of the object to be measured]
Data receiving unit W2 receives a parameter value ( Preset or Cursor) is received.
また、データ受信部Ｗ２は、ビット誤り率の測定を行う際に、信号パターン折り返しのステート（図５のＬＴＳＳＭの「Ｌｏｏｐｂａｃｋ」ステート）に遷移させた状態で固定データを含む既知パターンのテスト信号を誤り率測定装置１のパターン発生器３から受信する。
Further, when measuring the bit error rate, the data receiving unit W2 receives a test signal of a known pattern including fixed data in a state of transition to a signal pattern loopback state (“Loopback” state of LTSSM in FIG. 5). It is received from the
データ送信部Ｗ３は、応答時間の試験を行う際に、データ受信部Ｗ２が誤り率測定装置１のパターン発生器３からパラメータ値として１回のリンクトレーニング中に順次送信される全てのＰｒｅｓｅｔ（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更指示を受信すると、この受信した全てのＰｒｅｓｅｔ（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）に対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値のデータを誤り率測定装置１に順次送信する。すなわち、誤り率測定装置１が被測定物ＷにＰｒｅｓｅｔ０の変更指示を送信してＰｒｅｓｅｔ０に対応するＣｕｒｓｏｒ値を被測定物Ｗが誤り率測定装置１に返信するという手順を、Ｐｒｅｓｅｔ０～９まで１回のリンクトレーニング中に繰り返し行う。なお、この動作は、１回のリンクトレーニング中に限られず、複数回のリンクトレーニング中であってもよい。
When the data transmission unit W3 performs the response time test, the data reception unit W2 receives all preset (Preset0 9), it sequentially transmits to the error
また、データ送信部Ｗ３は、ビット誤り率の測定を行う際に、データ受信部Ｗ２が誤り率測定装置１のパターン発生器３から既知パターンのテスト信号を受信すると、この受信したテスト信号に対する応答信号を被測定信号として誤り率測定装置１に折り返して送信する。
When the data receiver W2 receives a known pattern test signal from the
［誤り率測定装置の構成について］
設定部２は、ビット誤り率の測定に関わる各種設定を行う。具体的に、設定部２は、パラメータ値としてのＰｒｅｓｅｔによる応答時間の試験を行うため、測定条件としてのＰｒｅｓｅｔの初期値とＰｒｅｓｅｔの測定回数を設定する。例えば、Ｐｒｅｓｅｔの初期値を「０」、Ｐｒｅｓｅｔの測定回数を「２」と設定した場合には、Ｐｒｅｓｅｔ０，１による応答時間の試験を１回のリンクトレーニング中に行う。また、Ｐｒｅｓｅｔの初期値を「３」、Ｐｒｅｓｅｔの測定回数を「５」と設定した場合には、Ｐｒｅｓｅｔ３，４，５，６，７による応答時間の試験を１回のリンクトレーニング中に行う。なお、この動作は、１回のリンクトレーニング中に限られず、複数回のリンクトレーニング中であってもよい。
[Regarding the configuration of the error rate measuring device]
The
また、設定部２は、後述するパラメータ取得方法を含む試験手順に基づいて被測定物Ｗから取得したパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９の何れかに対応するＣｕｒｓｏｒ値の設定、設定したＣｕｒｓｏｒ値による応答時間の試験を行うためのビットを設定する。
In addition, the
パターン発生器３は、例えばＰＣＩｅのＬＴＳＳＭの状態に基づくトレーニングシーケンスや既知パターンによるデータを発生するもので、データ送信部１１とトリガ発生部１２を含む。
The
データ送信部１１は、パラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）による応答時間の試験を行う際に、エラー検出器４の後述するリンク状態管理部１３ａからの指示により、パラメータ値による応答時間の試験に必要なトレーニングシーケンス（Training Sequence Ordered Sets：TS OS ）を発生する。
When performing a response time test using a parameter value (Preset or Cursor), the
トレーニングシーケンスは、誤り率測定装置１と被測定物Ｗがパラメータをやり取りするためのデータパターン列であり、被測定物Ｗに対してパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）の変更を指示するデータ、設定部２にて設定される測定条件としてのＰｒｅｓｅｔの初期値とＰｒｅｓｅｔの測定回数のデータ、設定部２にて設定されるＰｒｅｓｅｔ０～９の何れかに対応するＣｕｒｓｏｒ値のデータ、設定したＣｕｒｓｏｒ値による応答時間の試験を行うためのビットのデータなどが含まれる。
The training sequence is a data pattern sequence for exchanging parameters between the error
データ送信部１１は、被測定物Ｗがループバックに遷移した状態で被測定物Ｗのビット誤り率を測定する際に、被測定物Ｗに入力する既知パターンとして、ＰＲＢＳ（疑似ランダム・ビット・シーケンス）パターンや任意のプログラマブルパターンによるパターン信号（テスト信号）を発生する。
トリガ発生部１２は、タイミング信号としてのトリガを発生する。このトリガは、データ送信部１１がパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）の変更指示のデータを含むトレーニングシーケンスを発生した時点で生成され、外部のケーブルまたは内部配線を介してエラー検出器４の後述するデータ受信部１３に入力される。
A
エラー検出器４は、被測定物Ｗからのデータを受信してエラーを検出するもので、データ受信部１３、記憶部１４、表示部１５を含む。
The
データ受信部１３は、パターン発生器３のトリガ発生部１２からトリガが入力しており、リンクトレーニング中に被測定物Ｗに対してパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）の変更指示があってから実際に指示されたパラメータ値に変更されるまでの応答時間を測定する機能を有し、リンク状態管理部１３ａとエラー検出部１３ｂを備える。
The
データ受信部１３は、パターン発生器３のトリガ発生部１２から入力されるトリガを起点として、パターン発生器３のデータ送信部１１が被測定物Ｗに対してパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）の変更指示を送信した時間（パラメータ値変更指示送信時間）を測定し、測定した時間をログ情報として記憶部１４に記憶する。
The
データ受信部１３は、パターン発生器３からのパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）の変更指示に従って実際にパラメータ値が変更された被測定物Ｗからデータを受信した時間（データ受信時間）を測定し、上述したパラメータ値変更指示送信時間からデータ受信時間までの応答時間を測定して測定したデータ受信時間および応答時間をログ情報として記憶部１４に記憶する。
The
リンク状態管理部１３ａは、被検査物Ｗに搭載されたリンク状態管理部Ｗ１と同一または同等の機構としてＬＴＳＳＭを有し、使用する規格（例えばＰＣＩｅ）に従って動作する。 The link state management unit 13a has an LTSSM as a mechanism that is the same as or equivalent to the link state management unit W1 mounted on the object to be inspected W, and operates according to the standard used (for example, PCIe).
リンク状態管理部１３ａは、被測定物Ｗ（データ受信部Ｗ２、データ送信部Ｗ３）との間で通信されるトレーニングシーケンスにより、被測定物Ｗのリンク状態管理部Ｗ１の現在のリンク状態を認識する。具体的には、ＬＴＳＳＭ値、リンク速度、ループバックの有無、ＬＴＳＳＭの遷移パターン、レーンを識別するためのレーン番号、リンク番号、パターン信号の発生時間や発生回数、エンファシス量、受け側のイコライザの調整値などの各種情報を得る。 Link state management section 13a recognizes the current link state of link state management section W1 of device under test W from a training sequence communicated with device under test W (data receiving section W2, data transmitting section W3). do. Specifically, the LTSSM value, link speed, presence/absence of loopback, transition pattern of LTSSM, lane number for identifying lane, link number, generation time and number of generations of pattern signal, amount of emphasis, equalizer on the receiving side. Obtain various information such as adjustment values.
リンク状態管理部１３ａは、誤り率測定装置１と被測定物Ｗとの間の通信において、パターン発生器３からの被測定物Ｗの現在のリンク状態を把握するためのトレーニングシーケンスの送信に伴って被測定物Ｗのデータ送信部Ｗ３から受信するトレーニングシーケンスにより被測定物Ｗの現在のリンク状態を管理し、被測定物Ｗの現在のＬＴＳＳＭの状態に応じて次に発生すべきトレーニングシーケンスをパターン発生器３のデータ送信部１１に指示する。
In communication between the error
エラー検出部１３ｂは、ビット誤り率測定を行う際、被測定物Ｗがループバックに遷移している状態において、パターン発生器３のデータ送信部１１が発生する既知パターンのテスト信号と、このテスト信号の入力に伴って被検査物Ｗから折り返して入力されるパターン信号とを比較してビット誤り率を検出する。
When the bit error rate is measured, the
記憶部１４は、ＬＴＳＳＭのＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態でパラメータ値（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更指示に伴って被測定物Ｗから取得したパラメータ値（Ｐｒｅｓｅｔ０～９に対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値（プリカーソル：Ｃ－１、メインカーソル：Ｃ０、ポストカーソル：Ｃ＋１））、データ受信部１３にて測定したパラメータ値変更指示送信時間、データ受信時間、応答時間をログ情報として記憶する他、エラー検出部１３ｂにて検出したビット誤り率、ビット誤り測定に関する各種設定情報、リンク状態管理部１３ａが管理するＬＴＳＳＭ値やリンク速度を含む各種情報などを記憶する。
The
表示部１５は、例えば液晶などの表示器からなり、被測定物Ｗから取得したパラメータ値（例えば図３に示すようなＰｒｅｓｅｔ０～９に対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値（Ｃ－１、Ｃ０、Ｃ＋１））、データ受信部１３にて測定した応答時間（記憶部１４に記憶された応答時間を含む）、エラー検出部１３ｂにて検出したビット誤り率などを含む測定結果、ビット誤り測定に関わる各種設定画面などを表示する。
The
［応答時間の測定手順について］
次に、上記のように構成される誤り測定装置１によるパラメータ取得方法を含む応答時間の測定手順について図２を参照しながら説明する。ここでは、リンクの状態を管理するためのリンクトレーニング中に被測定物Ｗに対してパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９の変更指示があってから実際に指示されたＰｒｅｓｅｔに変更されるまでの応答時間を測定する場合を例にとって説明する。
[Response time measurement procedure]
Next, the response time measurement procedure including the parameter acquisition method by the
まず、測定条件としてのＰｒｅｓｅｔの初期値とＰｒｅｓｅｔの測定回数を設定する（ＳＴ１）。ここでは、パラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９全てのＰｒｅｓｅｔによる応答時間の試験を行ってＰｒｅｓｅｔ０～９全てに対応するＣｕｒｓｏｒを取得するため、Ｐｒｅｓｅｔの初期値：「０」、Ｐｒｅｓｅｔの測定回数：「１０」をそれぞれ設定する。
First, an initial value of Preset and the number of preset measurements are set as measurement conditions (ST1). Here, in order to test the response time by all
パターン発生器３のデータ送信部１１は、エラー検出器４のリンク状態管理部１３ａからの指示により、ＰＣＩｅのトレーニングシーケンスに基づき被測定物Ｗに対してパラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔ（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更を指示するデータを含むトレーニングシーケンスを発生し、被測定物Ｗをループバック状態に設定するためのリンクトレーニングを開始する（ＳＴ２）。
The
なお、各Ｐｒｅｓｅｔ（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更指示はミリセックオーダーで行うことが規格で決められている。このため、例えばＰｒｅｓｅｔ０の変更を指示するデータを含むトレーニングシーケンスを被測定物Ｗに送信した場合には、ミリセックオーダーで次のＰｒｅｓｅｔ１の変更を指示するデータを含むトレーニングシーケンスが被測定物Ｗに送信される。 Note that the standard stipulates that each Preset (Preset 0 to 9) is instructed to change in millisecond order. Therefore, for example, when a training sequence including data instructing to change Preset0 is transmitted to the device under test W, the training sequence including data instructing to change the next Preset1 in millisecond order is transmitted to the device under test W. sent.
パターン発生器３のデータ送信部１１は、リンクトレーニングを開始すると、１回のリンクトレーニング中にＬＴＳＳＭのＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態で被測定物Ｗに対するＰｒｅｓｅｔの変更指示を設定部２にて設定された測定条件（Ｐｒｅｓｅｔの初期値とＰｒｅｓｅｔの測定回数）に従って被測定物Ｗのパラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔ（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更を順次指示する（ＳＴ３）。なお、この動作は、１回のリンクトレーニング中に限られず、複数回のリンクトレーニング中であってもよい。
When the link training is started, the
そして、被測定物Ｗは、パターン発生器３のデータ送信部１１からパラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔ（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更の指示を順次受信すると、受信した指示に従って該当するパラメータ値としてのＰｒｅｓｅｔを変更する。すなわち、被測定物Ｗは、パターン発生器３のデータ送信部１１からパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０→Ｐｒｅｓｅｔ１→Ｐｒｅｓｅｔ２→…→Ｐｒｅｓｅｔ８→Ｐｒｅｓｅｔ９の順番に変更の指示を順次受信すると、Ｐｒｅｓｅｔ０→Ｐｒｅｓｅｔ１→Ｐｒｅｓｅｔ２→…→Ｐｒｅｓｅｔ８→Ｐｒｅｓｅｔ９の順番にパラメータ値を順次変更する。
Then, when the device under test W sequentially receives instructions to change all of the presets (
このとき、エラー検出器４のデータ受信部１３は、パターン発生器３のトリガ発生部１２から入力されるトリガを起点として、パターン発生器３のデータ送信部１１が被測定物Ｗに対してパラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔ（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更指示を送信した時間（パラメータ値変更指示送信時間）を測定し、測定した時間を記憶部１４に記憶する。
At this time, the
そして、エラー検出器４のデータ受信部１３は、被測定物Ｗが実際に指示されたパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９それぞれに変化するまでの応答時間を測定し（ＳＴ４）、測定したそれぞれの応答時間を記憶部１４に記憶する。
Then, the
このとき、被測定物Ｗは、順次変更を指示されたパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９に対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を誤り率測定装置１に返送し、返送されたそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を誤り率測定装置１（記憶部１４）が保持する（ＳＴ５）。
At this time, the device under test W returns the Cursor values corresponding to Presets 0 to 9 to the error
ここで、図３は指示されたパラメータ値：Ｐｒｅｓｅｔ０～９に対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値の一例を示す。なお、図３ではＰｒｅｓｅｔ０～９をＰ０～９として表記し、Ｃ－１、Ｃ、Ｃ＋１の合計値が６３となるようにＰｒｅｓｅｔ０～９に対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値が予め被測定物Ｗに設定されている。図３において、例えば指示されたパラメータ値がＰｒｅｓｅｔ５の場合には、Ｐｒｅｓｅｔ５に対応するＣｕｒｓｏｒ値としてＣ－１：６、Ｃ：５７、Ｃ＋１：０が被測定物Ｗから返送される。また、指示されたパラメータ値がＰｒｅｓｅｔ７の場合には、Ｐｒｅｓｅｔ７に対応するＣｕｒｓｏｒ値としてＣ－１：７、Ｃ：４５、Ｃ＋１：１１が被測定物Ｗから返送される。
Here, FIG. 3 shows an example of each Cursor value corresponding to the indicated parameter values: Preset 0-9. Note that, in FIG. 3,
そして、エラー検出器４は、ＳＴ５で得られたＰｒｅｓｅｔ０～９のうち、所望とするＰｒｅｓｅｔに対応するＣｕｒｓｏｒ値を設定部２にて設定するとともに、設定したＣｕｒｓｏｒ値で応答時間の試験を行うためのビットを設定部２にて設定してＣｕｒｓｏｒ値による応答時間を測定する（ＳＴ６）。
Then, the
［他の接続構成について］
ところで、図１の接続構成に代えて、図４の接続構成でも同様にパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）による応答時間の試験を行うことができる。なお、図４において、図１と同一または同等の構成要素には同一番号を付している。また、特に図示はしないが、図４の誤り率測定装置１は、パターン発生器３が図１のデータ送信部１１とトリガ発生部１２の機能を備え、エラー検出器４がデータ受信部１３、記憶部１４、表示部１５の機能を備えている。なお、データ送信部１１は、１回のリンクトレーニング中にＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態でパラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔへの変更指示を被測定物Ｗに順次送信する機能を有する。また、データ受信部１３は、データ送信部１１から順次送信される変更指示による全てのＰｒｅｓｅｔに対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を被測定物Ｗから順次受信して取得する機能を有する。なお、この動作は、１回のリンクトレーニング中に限られず、複数回のリンクトレーニング中であってもよい。
[Other connection configurations]
By the way, instead of the connection configuration shown in FIG. 1, the connection configuration shown in FIG. 4 can also be used to test the response time based on the parameter values (Preset or Cursor). In addition, in FIG. 4, the same or equivalent components as those in FIG. 1 are given the same numbers. 4, the
図４の接続構成では、計測器としての誤り率測定装置１のパターン発生器３と波形測定装置（例えばオシロスコープなど）２１との間をケーブルで接続し、パターン発生器３からケーブルを介して波形測定装置２１にトリガを入力する。また、誤り率測定装置１のパターン発生器３は、被測定物Ｗと波形測定装置２１に対し、ディバイダ２２を介してそれぞれケーブルで接続する。さらに、誤り率測定装置１のエラー検出器４は、被測定物Ｗと波形測定装置２１に対し、ディバイダ２３を介してそれぞれケーブルで接続する。
In the connection configuration of FIG. 4, the
図４の接続構成でパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）による応答時間の試験を行う場合には、誤り率測定装置１のパターン発生器３が送信するデータ（パラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９の全ての変更を指示するデータまたは被測定物Ｗから取得するＰｒｅｓｅｔ０～９の何れかのＰｒｅｓｅｔに対応するＣｕｒｓｏｒ値の変更を指示するデータを含む）をディバイダ２２により２つに分岐する。このディバイダ２２により分岐したデータは、一方が波形測定装置２１に入力され、他方が被測定物Ｗに入力される。そして、被測定物Ｗが送信するデータ（パラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９の全てに変更したデータ、Ｐｒｅｓｅｔ０～９に対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を含む）をディバイダ２３により２つに分岐する。このディバイダ２３により分岐したデータは、一方が被測定物Ｗとリンクトレーニングを行うために誤り率測定装置１のエラー検出器４に入力され、他方がパラメータ値の変化を観測するための波形測定装置２１に入力される。そして、波形測定装置２１で取得したデータの波形をデコードすることにより、被測定物Ｗがパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）の変更の指示を受けてから実際にパラメータ値（ＰｒｅｓｅｔまたはＣｕｒｓｏｒ）を変更するまでの応答時間を測定する。
When performing a response time test using parameter values (Preset or Cursor) in the connection configuration of FIG. (including instruction data or data instructing to change the Cursor value corresponding to any one of
また、上述した実施の形態では、規格としてＰＣＩｅを例にとって説明したが、被測定物Ｗとの間のリンクトレーニング中に被測定物Ｗに対してパラメータ値の変更指示があったときの応答時間の測定が要求される規格であれば、ＰＣＩｅのみに限定されるものではない。 In the above-described embodiment, the PCIe standard was used as an example. is not limited to PCIe as long as the standard requires measurement of
このように、本実施の形態によれば、少なくとも１回のリンクトレーニング中のＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態でパラメータ値としてＰｒｅｓｅｔ０～９への変更指示を全て送信し、それらに対応するＣｕｒｓｏｒ値を一度に全て取得する構成なので、従来の手法ではＣｕｒｓｏｒによる試験を行う前にＰｒｅｓｅｔで１０回の試験が必要であったのに対し、Ｐｒｅｓｅｔ１回の試験でＣｕｒｓｏｒによる試験が可能となり、操作回数が低減できるとともに、測定時間が短縮できる。これにより、例えば複数の被測定物のＣｕｒｓｏｒ試験のみを連続して行いたい場合などに、作業が効率化でき有用である。さらに、被測定物に対してパラメータ値（Ｐｒｅｓｅｔ０～９）の変更指示を全て送信し、それらに対応するＣｕｒｓｏｒ値を一度に全て取得する動作を１回のリンクトレーニング中に行えば、一段と作業の効率化が可能である。
Thus, according to the present embodiment, all change instructions to Preset 0 to 9 are transmitted as parameter values in the state of
以上、本発明に係る誤り率測定装置およびパラメータ取得方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。 Although the best mode of the error rate measuring device and parameter acquisition method according to the present invention has been described above, the present invention is not limited by the description and drawings according to this mode. In other words, it goes without saying that other forms, embodiments, operation techniques, etc. made by persons skilled in the art based on this form are all included in the scope of the present invention.
１ 誤り率測定装置
２ 設定部
３ パターン発生器
４ エラー検出器
１１ データ送信部
１２ トリガ発生部
１３ データ受信部
１３ａ リンク状態管理部（ＬＴＳＳＭ）
１３ｂ エラー検出部
１４ 記憶部
１５ 表示部
２１ 波形測定装置
２２，２３ ディバイダ
Ｗ 被測定物（ＤＵＴ）
Ｗ１ リンク状態管理部（ＬＴＳＳＭ）
Ｗ２ データ受信部
Ｗ３ データ送信部
1 error
13b
W1 Link State Manager (LTSSM)
W2 Data receiver W3 Data transmitter
Claims (2)
タイミング信号としてのトリガを発生するトリガ発生部（１２）と、
少なくとも１回のリンクトレーニング中のＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態で前記パラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔへの変更指示を被測定物（Ｗ）に順次送信するデータ送信部（１１）と、
前記データ送信部から順次送信される変更指示による前記全てのＰｒｅｓｅｔに対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を前記被測定物から順次受信して取得するとともに、前記データ送信部が前記パラメータ値の変更指示を前記被測定物に順次送信したときの前記トリガを起点とするパラメータ値変更指示送信時間の測定、前記パラメータ値の変更指示に従って実際にパラメータ値が変更された前記被測定物からデータを受信したデータ受信時間の測定、前記パラメータ値変更指示送信時間から前記データ受信時間までの応答時間の測定を行うデータ受信部（１３）と、
前記データ受信部が測定した前記パラメータ値変更指示送信時間、前記データ受信時間および前記応答時間をログ情報として記憶する記憶部（１４）と、
前記被測定物から取得したパラメータ値および前記応答時間を表示する表示部（１５）と、を備えたことを特徴とする誤り率測定装置。 An error rate measuring device (1) for measuring a response time when a parameter value change instruction is given during link training for managing a link state,
a trigger generator (12) that generates a trigger as a timing signal;
a data transmission unit (11) that sequentially transmits to the device under test (W) an instruction to change all the presets as the parameter values in the state of Recovery Equalization Phase 2 or 3 during link training at least once;
Each Cursor value corresponding to all the presets according to the change instruction sequentially transmitted from the data transmission unit is sequentially received from the device under test and acquired , and the data transmission unit transmits the change instruction of the parameter value to the Measurement of the parameter value change instruction transmission time starting from the trigger when sequentially transmitted to the device under test, and data reception of data received from the device under test, the parameter values of which are actually changed according to the parameter value change instruction. a data receiving unit (13) for measuring time and measuring a response time from the parameter value change instruction transmission time to the data reception time ;
a storage unit (14) for storing the parameter value change instruction transmission time, the data reception time, and the response time measured by the data reception unit as log information;
and a display section (15) for displaying the parameter value obtained from the device under test and the response time .
タイミング信号としてのトリガを発生するステップと、
少なくとも１回のリンクトレーニング中のＲｅｃｏｖｅｒｙ Ｅｑｕａｌｉｚａｔｉｏｎ Ｐｈａｓｅ２または３の状態で前記パラメータ値として全てのＰｒｅｓｅｔへの変更指示を被測定物（Ｗ）に順次送信するステップと、
前記順次送信される変更指示による前記全てのＰｒｅｓｅｔに対応するそれぞれのＣｕｒｓｏｒ値を前記被測定物から順次受信して取得するステップと、
前記被測定物に対してパラメータ値の変更指示を送信した前記トリガを起点とするパラメータ値変更指示送信時間を測定するステップと、
前記パラメータ値の変更指示に従って実際にパラメータ値が変更された前記被測定物からデータを受信したデータ受信時間を測定するステップと、
前記パラメータ値変更指示送信時間から前記データ受信時間までの応答時間を測定するステップと、
前記パラメータ値変更指示送信時間、前記データ受信時間および前記応答時間をログ情報として記憶部（１４）に記憶するステップと、
前記被測定物から取得したパラメータ値および前記応答時間を表示部（１５）に表示するステップと、を含むことを特徴とする誤り率測定装置のパラメータ取得方法。 A parameter acquisition method for an error rate measuring device for measuring a response time when an instruction to change a parameter value is received during link training for managing a link state, comprising:
generating a trigger as a timing signal;
a step of sequentially transmitting to the device under test (W) instructions to change all presets as the parameter values in the state of Recovery Equalization Phase 2 or 3 during link training at least once;
a step of sequentially receiving and acquiring respective Cursor values corresponding to all the presets according to the sequentially transmitted change instructions from the device under test;
measuring a parameter value change instruction transmission time starting from the trigger that transmitted the parameter value change instruction to the device under test;
a step of measuring a data reception time during which data is received from the device under test whose parameter value is actually changed according to the parameter value change instruction;
measuring a response time from the parameter value change instruction transmission time to the data reception time;
a step of storing the parameter value change instruction transmission time, the data reception time and the response time as log information in a storage unit (14);
and a step of displaying the parameter value and the response time obtained from the device under test on a display unit (15) .
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