JP7157132B2 - 測定方法 - Google Patents
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Description
また、測定工程において、基板の下方に設けられた磁石によって、基板に載置された複合体を基板の所定箇所に収集し、撮像手段によって、収集された複合体を撮像し、撮像手段にて撮像された撮像画像に基づいて、非磁性粒子の個数を測定するので、多数の非磁性粒子を効率的に測定することができ、測定作業の効率化を図ることが可能となる。
また、磁性粒子の粒径を、撮像画像から視認不可能な大きさとし、非磁性粒子の粒径を、撮像画像から視認可能な大きさとしたので、非磁性粒子を正確に識別することができ、測定工程において非磁性粒子の個数を正確に測定することが可能となる。
また、流路内において容器に収容された複合体の少なくとも一部を所定方向に向けて流し、撮像手段によって、流路を流れる前記複合体を撮像し、撮像手段にて撮像された撮像画像に基づいて、非磁性粒子の個数を測定するので、非磁性粒子の個数を比較的正確に測定することができ、測定精度を向上させることが可能となる。
また、磁性粒子の粒径を、撮像画像から視認不可能な大きさとし、非磁性粒子の粒径を、撮像画像から視認可能な大きさとしたので、非磁性粒子を正確に識別することができ、測定工程において非磁性粒子の個数を正確に測定することが可能となる。
まず、実施の形態の基本的概念について説明する。実施の形態は、概略的に、試料に含まれる測定対象を測定するための測定方法に関するものである。
次に、実施の形態の具体的内容について説明する。
まず、実施の形態1について説明する。この実施の形態1は、後述する撮像装置にて撮像された撮像画像であって、基板に載置された複合体を含む撮像画像に基づいて、非磁性粒子の個数を測定する形態である。
最初に、実施の形態1に係る測定システムの構成について説明する。図1は、本発明の実施の形態1に係る測定システムを例示する概要図である。以下の説明では、図1のX方向を測定システムの左右方向(-X方向を測定システムの左方向、+X方向を測定システムの右方向)、図1のY方向を測定システムの上下方向(+Y方向を測定システムの上方向、-Y方向を測定システムの下方向)、X方向及びY方向に直交する方向を前後方向(図1の紙面の手前側に至る方向を測定システムの前方向、図1の紙面の奥側に至る方向を測定システムの後方向)と称する。図1に示すように、測定システム1は、概略的に、後述する図2の反応槽10、載置台20、基板30、第1磁石(図示省略)、第2磁石40、撮像装置50、及び制御装置60を備えている。また、これら構成要素のうち、撮像装置50と制御装置60とは、配線2を介して電気的に接続されている。
後述する図2の反応槽10は、後述する図2の測定対象71と、後述する図2の磁性粒子72と、後述する図2の非磁性粒子73とを反応させることにより、複合体74を生成するための容器である。この反応槽10は、例えば、ガラス材料、樹脂材料、セラミックス(窒化ケイ素、塩化ケイ素等)、金属材料、無機材料や有機材料等にて形成された公知の反応槽等を用いて構成されており、基板30の近傍位置に設けられている。
図1に戻り、載置台20は、基板30を載置するための台であり、例えば、公知の載置台等を用いて構成されており、図示しない設置面上に設けられている。
基板30は、複合体74を載置するための板である。図1に示すように、この基板30は、略平坦状の板状体にて形成されており、載置台20の上面に載置されている。また、基板30の具体的な形状及び大きさについては任意であるが、実施の形態1では、図1に示すように、基板30の平面形状については、測定対象71の測定を効率的に行うことができるように、所望の量の複合体74及び溶媒75を基板30上に載置可能な面積を有する長尺な矩形状に設定している。また、基板30の厚さについては、所定の強度を確保できる厚さに設定している。また、この基板30の材質については、耐薬品性に優れ、且つ磁気を通すことが可能な材質である限り任意に形成することができ、例えば、ガラス材料や樹脂材料等にて形成されてもよい。
第1磁石は、反応槽10に収容された後述する図2の測定対象71及び後述する図2の非磁性粒子73のうち、複合体74の生成の際に反応しなかった測定対象71及び非磁性粒子73を除去する除去手段である。この第1磁石は、例えば公知の磁石(一例として、フェライト磁石等)を用いて構成されており、後述する図2の反応槽10の近傍に設けられている。
図1に戻り、第2磁石40は、基板30に載置された複合体74を基板30の所定箇所に収集するための磁石である。この第2磁石40は、例えば公知の磁石(一例として、フェライト磁石等)を用いて構成されており、図1に示すように、基板30の下方に設けられている。また、この第2磁石40の具体的な形状及び大きさについては任意であるが、実施の形態1では、基板30の平面形状については、図1に示すように、基板30の平面形状よりも小さい矩形状に設定している。また、第2磁石40の厚さについては、所定の磁力を確保できる厚さに設定している。
撮像装置50は、第2磁石40によって収集された複合体74を撮像するための撮像手段である。この撮像装置50は、例えば公知の顕微鏡(一例として、光学顕微鏡)を用いて構成されており、図1に示すように、基板30の上方に設けられている。
制御装置60は、測定システム1を制御するための装置であり、図1に示すように、操作部61、通信部62、出力部63、電源部64、制御部65、及び記憶部66を備えている。なお、この制御装置60は、例えば公知のパーソナルコンピュータ等によって構成することができるので、その詳細な説明は省略する。
操作部61は、各種の情報に関する操作入力を受け付けるための操作手段である。この操作部61は、例えば、タッチパッド、リモートコントローラの如き遠隔操作手段、あるいはハードスイッチ等、公知の操作手段を用いて構成されている。
通信部62は、撮像装置50との間で配線2を介して通信を行うための通信手段である。
出力部63は、制御部65の制御に基づいて各種の情報を出力する出力手段であり、例えば液晶ディスプレイや有機ELディスプレイの如きフラットパネルディスプレイ等の公知の表示手段やスピーカー等の公知の音声出力手段等を用いて構成されている。
電源部64は、商用電源(図示省略)から供給された電力又は当該電源部64に蓄電された電力を撮像装置50及び制御装置60の各部に供給する電力供給手段である。
制御部65は、制御装置60の各部を制御する制御手段である。この制御部65は、具体的には、CPU、当該CPU上で解釈実行される各種のプログラム(OSなどの基本制御プログラムや、OS上で起動され特定機能を実現するアプリケーションプログラムを含む)、及びプログラムや各種のデータを格納するためのRAMの如き内部メモリを備えて構成されるコンピュータである。
図1に戻り、記憶部66は、制御装置60の動作に必要なプログラム及び各種のデータを記録する記録手段であり、例えば、外部記録装置としてのハードディスク(図示省略)を用いて構成されている。ただし、ハードディスクに代えてあるいはハードディスクと共に、磁気ディスクの如き磁気的記録媒体、DVDやブルーレイディスクの如き光学的記録媒体、又はFlash Rom、USBメモリ、SDカードの如き電気的記録媒体を含む、その他の任意の記録媒体を用いることができる。
次に、このように構成された測定システム1を用いて行われる測定方法について説明する。図2は、第1生成工程の概要を示す概要図である。図3は、第2生成工程の概要を示す概要図であり、(a)は非磁性側抗体73aと結合された非磁性粒子73を加える前の状態を示す図であり、(b)は非磁性側抗体73aと結合された非磁性粒子73を加えた後の状態を示す図である。図4は、測定工程の概要を示す概要図であり、(a)は複合体74を収集する前の状態を示す図であり、(b)は複合体74を収集した後の状態を示す図である。実施の形態1に係る測定方法は、上述したように、第1生成工程、第1除去工程、第2生成工程、第2除去工程、測定工程、及び特定工程を含んでいる。以下では、各工程の詳細な内容について説明する。
最初に、第1生成工程について説明する。第1生成工程は、試料70に含まれる測定対象71を磁性粒子72に結合させるために、以下の手順で行われる。すなわち、まず、図2に示すように、測定対象71と溶媒75から構成される試料70が収容されている反応槽10の中に、磁性側抗体72aと結合された磁性粒子72を加えた後、この磁性粒子72が加えられた試料70を攪拌する。この磁性粒子72を加える量については任意であるが、例えば、試料70に含まれる測定対象71のすべてが磁性側抗体72aと反応(抗原抗体反応)することが可能な量に設定しており、一例として、上記反応の効率を向上させるために、測定対象71の量に対して磁性粒子72の量を過剰な量(例えば、測定対象71の量に対して100倍の量等)に設定している(なお、後述する第2生成工程の非磁性粒子73を加える量についても同様とする)。次いで、上記磁性粒子72が加えられてから所定時間が経過するまで、上記攪拌した試料70を所定温度(例えば、37℃)で放置する。この所定時間については、例えば、測定対象71を磁性側抗体72aと反応させるまでに要すると一般的に想定される時間以上の時間に設定している。
次に、第1除去工程について説明する。第1除去工程は、試料70に含まれる測定対象71のうち、第1生成工程において反応しなかった測定対象71を除去するために、以下の手順で行われる。すなわち、反応槽10の一部(一例として反応槽10の側部等)に第1磁石を取り付け、当該反応槽10の一部に測定対象71と反応した磁性粒子72と、測定対象71と反応しなかった磁性粒子72とを集磁させた状態で、溶媒75等によって試料70のうち磁性粒子72と反応しなかった測定対象71等を洗い流すことにより、除去する(なお、後述する第2除去工程についても同様とする)。
次いで、第2生成工程について説明する。第2生成工程は、第1生成工程において反応された測定対象71を非磁性粒子73に結合させるために、以下の手順で行われる。すなわち、まず、図3(a)に示すように、反応槽10の中に非磁性側抗体73aと結合された非磁性粒子73を加えた後、この非磁性粒子73が加えられた試料70を攪拌する。次いで、非磁性粒子73が加えられてから所定時間が経過するまで、上記攪拌した試料70を所定温度(例えば、37℃)で放置する。この所定時間については、例えば、測定対象71を非磁性側抗体73aと反応させるまでに要すると一般的に想定される時間以上の時間に設定している。これにて、図3(b)に示すように、複合体74(磁性粒子72、磁性側抗体72a、測定対象71、非磁性側抗体73a、及び非磁性粒子73)が生成される。
次に、第2除去工程について説明する。第2除去工程は、試料70に含まれる非磁性粒子73のうち、第2生成工程において反応しなかった非磁性粒子73を除去するために、第1除去工程と略同一の方法で行われる。
次いで、測定工程について説明する。測定工程は、第2除去工程の後に、反応槽10に収容された非磁性粒子73の個数を測定するために、以下の手順で行われる。
続いて、特定工程について説明する。特定工程は、測定対象71の個数を特定するために、以下の手順で行われる。すなわち、まず、制御装置60の特定部65bによって、測定工程において測定された非磁性粒子73の数を、特定すべき測定対象71の個数として特定する。次いで、制御装置60の制御部65によって、上記特定された測定対象71の個数を出力部63に出力させる。この測定対象71の個数の出力方法については任意であるが、例えば、出力部63(表示手段)の画面上に測定対象71の個数を表示させてもよい。あるいは、測定対象71の個数を示す音声データ(一例として、「試料に含まれる測定対象の個数が×××個でした」との定型メッセージを含む音声データ等)を出力部63(音声出力手段)を介して音声出力してもよい。
次に、本件出願人が行った各種の試験結果について説明する。ここでは、本発明の実施の形態1に係る非磁性粒子73及び磁性粒子72が撮像画像から確認できるか否かを検証する試験の試験結果について説明する。
まず、試験例1について説明する。
次に、試験例2について説明する。
50mMMES(pH=5.5)200μLに懸濁させたラテックス粒子(invitrogen社製Carboxyl latex、商品番号:C37274、粒径1.0μm)4mgに、1M エチル(ジメチルアミノプロピル) カルボジイミド 8μLおよび1M N-ヒドロキシスクシンイミド 8μLを加え、室温で30分間転倒混和した。200μLの50mMMES(pH=5.5)で1回洗浄した後、50mMMES(pH=5.5)に0.4mg/mLで溶解した抗IL-6抗体(Clone HH61-2、自社製)を200μL加え、室温で60分間転倒混和することで、ラテックス粒子上に抗IL-6抗体を結合させた。200μLの2%BSAを含む炭酸Bufferで2回洗浄することで、抗IL-6抗体結合ラテックス粒子を得た。
磁性粒子(micromod社製nanomag-D,COOH、商品番号:09-02-132、粒径0.13μm)および抗IL-6抗体(Clone HH61-10、自社製)を用いて、(1)と同様の方法で抗IL-6抗体結合磁性粒子を調製した。
hIL-6(Human Interleukin-6)抗原溶液(Cell Signaling社製、商品番号:8904)を、2%BSAを含むTBSで希釈し、0、1000pg/mLのIL-6溶液(それぞれ陰性溶液、陽性溶液)を調製した。25μLの陰性溶液または陽性溶液と、125μLの0.015%抗IL-6抗体結合磁性粒子を含有する溶液とを、37℃で30分間反応させ、抗IL-6抗体結合磁性粒子上にhIL-6抗原を捕捉した。250μLのPBS-Tで未結合物質を3回洗浄した後、125μLの0.015%抗IL-6抗体結合ラテックス粒子を含有する溶液を加え、37℃で30分間反応させた。250μLのPBS-Tで6回洗浄した後、10μLのPBSに懸濁し、オリンパス社製倒立型顕微鏡IX71(CCDカメラシステム:DP80)を用いて対物レンズ100倍、接眼レンズ10倍の組合せで各調製サンプルを観察した。
図6は、試験例2の撮像画像を示す図であり、(a)は陽性溶液を用いて調製したサンプルを示す図、(b)は陰性溶液を用いて調製したサンプルを示す図である。図6に示すように、陽性溶液を用いて調製したサンプルでは、ラテックス粒子(invitrogen社製Carboxyl latex、商品番号:C37274、粒径1.0μm)とほぼ同じ粒径の粒子像が確認できたのに対し、陰性溶液を用いて調製したサンプルでは同粒径の粒子像が確認できなかった。このことから、抗原の有無がラテックス粒子の個数と関係していることがわかり、実施の形態1に係る測定方法の有効性が確認できた。
次に、試験例3について説明する。
次に、実施の形態2について説明する。この実施の形態2は、後述する流路の一部に対してレーザ光を照射した際の反射光の大きさに基づいて、非磁性粒子の個数を測定する形態である。ただし、この実施の形態2の構成は、特記する場合を除いて、実施の形態1の構成と略同一であり、実施の形態1の構成と略同一の構成についてはこの実施の形態1で用いたものと同一の符号及び/又は名称を必要に応じて付して、その説明を省略する。
最初に、実施の形態2に係る測定システムの構成について説明する。図9は、実施の形態2に係る測定システムを例示する概要図である。実施の形態2に係る測定システム100は、図9に示すように、概略的に、反応槽10、流路110、レーザ光源120、受光部130、及び制御装置60を備えている。また、これら構成要素のうち、レーザ光源120及び受光部130の各々と制御装置60とは、配線2を介して電気的に接続されている。
流路110は、反応槽10に収容された複合体74の少なくとも一部を所定方向(図9では、下方)に向けて流すためのものである。この流路110は、例えば長尺な管状体(図9では、両端部が開放端である管状体)にて形成されており、図9に示すように、流路110の長手方向が上下方向に略沿うように配置されており、図示しない固定部材に対して固定されている(なお、流路110の下方側の開放端の近傍には、流路110から流出した複合体74及び溶媒75を収容する収容槽(図示省略)が設けられている。また、流路110の具体的な大きさについては任意であるが、実施の形態2では、流路110の流路径、及び流路110の下方側の開放端の径については、流路110を流れる複合体74の流速が所定流速になる大きさに設定している。この所定流速については、例えば、後述する制御装置60の第2測定部65cによって流路110を流れる複合体74を1つずつ特定することが可能な流速に設定している。また、流路110の厚さについては、所定の強度を確保できる厚さに設定している。また、この流路110の材質については、耐薬品性に優れ、且つ光を通すことが可能な材質である限り任意に形成することができ、例えば、ガラス材料や樹脂材料等にて形成されてもよい。
レーザ光源120は、複合体74が流れる流路110の一部に対してレーザ光LL(例えば、紫外線レーザ光、可視光線レーザ光等)を照射する照射手段である。このレーザ光源120は、例えば公知のレーザ発振器を用いて構成されており、図9に示すように、流路110の近傍位置(図9では、流路110の左側)に配置されている。
受光部130は、レーザ光源120からレーザ光LLを照射した際の反射光RLを受光する受光手段である。この受光部130は、例えば公知の受光器を用いて構成されており、図9に示すように、流路110の近傍位置であり、且つ流路110を介してレーザ光源120と対向する位置(図9では、流路110の右側)に配置されている。
制御装置60は、図9に示すように、操作部61、通信部62、出力部63、電源部64、制御部65、及び記憶部66を備えている。また、制御部65は、図9に示すように、機能概念的に、第2測定部65c及び特定部65bを備えている。ここで、第2測定部65cは、受光部130によって受光された反射光RLの大きさに基づいて、非磁性粒子73の個数を測定する第2測定手段である。
次に、このように構成された測定システム100を用いて行われる測定方法について説明する。図9は、測定工程の概要を示す概要図である。実施の形態2に係る測定方法は、実施の形態1に係る測定方法とほぼ同様に行われる。ただし、測定工程については、下記に示す工夫が施されている。
測定工程は、第2除去工程の後に、反応槽10に収容された非磁性粒子73の個数を測定するために、以下の手順で行われる。
次に、実施の形態3について説明する。この実施の形態3は、後述する流路を流れる複合体が後述のポアを通過した際の電気的変化に基づいて、非磁性粒子の個数を測定する形態である。ただし、この実施の形態3の構成は、特記する場合を除いて、実施の形態1の構成と略同一であり、実施の形態1の構成と略同一の構成についてはこの実施の形態1で用いたものと同一の符号及び/又は名称を必要に応じて付して、その説明を省略する。
最初に、実施の形態3に係る測定システムの構成について説明する。図10は、実施の形態3に係る測定システムを例示する概要図である。実施の形態3に係る測定システム200は、図10に示すように、概略的に、反応槽10、検出機構210、及び制御装置60を備えている。また、これら構成要素のうち、検出機構210の後述する第1電極部、後述する第2電極部、及び検出部214の各々と制御装置60とは、配線2を介して電気的に接続されている。
検出機構210は、流路211内の電気的変化(例えば、電流の変化等)を検出する機構であり、流路211、通過部(図示省略)、及び検出部214を備えている。
流路211は、反応槽10に収容された複合体74の少なくとも一部を所定方向(図10では、下方)に向けて流すためのものであり、実施の形態2に係る流路110と略同様に構成されている(なお、流路211の材質については、電気を通すことが可能なガラス材料や樹脂材料等にて形成されている)。また、図10に示すように、この流路211内には、仕切板212が設けられており、この仕切板212にはポア213が形成されている。ポア213は、複合体74を通過させるための貫通孔であり、図10に示すように、仕切板212の中央部分に配置されている。また、このポア213の具体的な形状及び大きさについては任意であるが、実施の形態3では、複合体74を確実に通過させることができると共に、検出部214の検出感度を所定値以上に維持できるように、複合体74の最大径と略同一又は若干大きな円形状に設定している。
通過部は、複合体74をポア213に通過させる通過手段である。通過部は、好適には、複合体74を電気泳動によってポア213に通過させる構成を有し、第1電極部及び第2電極部を備える(いずれも図示省略)。
検出部214は、流路211内の電気的変化(実施の形態3では、電流の変化等)を検出する検出手段である。この検出部214は、例えば公知の電流計測センサ等を用いて構成されており、図10に示すように、流路211の外部(又は流路211の内部)においてポア213近傍に設けられており、流路211に対して固定されている。
制御装置60は、操作部61、通信部62、出力部63、電源部64、制御部65、及び記憶部66を備えている。また、制御部65は、図10に示すように、機能概念的に、第3測定部65d及び特定部65bを備えている。ここで、第3測定部65dは、流路211を流れる複合体74がポア213を通過した際の電気的変化に基づいて、非磁性粒子73の個数を測定する第3測定手段である。
次に、このように構成された測定システム200を用いて行われる測定方法について説明する。図11は、測定工程の概要を示す概要図である。実施の形態3に係る測定方法は、実施の形態1に係る測定方法とほぼ同様に行われる。ただし、測定工程については、下記に示す工夫が施されている。
測定工程は、第2除去工程の後に、反応槽10に収容された非磁性粒子73の個数を測定するために、以下の手順で行われる。
次に、実施の形態4について説明する。この実施の形態4は、この撮像された撮像画像であって、流路を流れる複合体を含む撮像画像に基づいて、非磁性粒子の個数を測定する形態である。ただし、この実施の形態4の構成は、特記する場合を除いて、実施の形態2の構成と略同一であり、実施の形態2の構成と略同一の構成についてはこの実施の形態2で用いたものと同一の符号及び/又は名称を必要に応じて付して、その説明を省略する。
最初に、実施の形態4に係る測定システムの構成について説明する。図12は、実施の形態4に係る測定システムを例示する概要図である。実施の形態4に係る測定システム300は、図12に示すように、概略的に、反応槽10、流路110、撮像装置310、及び制御装置60を備えている。また、これら構成要素のうち、撮像装置130と制御装置60とは、配線2を介して電気的に接続されている。
撮像装置310は、流路110を流れる複合体74を撮像するための撮像手段である。この撮像装置310は、実施の形態1の撮像装置50と略同様に構成されており、図12に示すように、流路110の近傍位置に配置されている。
制御装置60は、図12に示すように、操作部61、通信部62、出力部63、電源部64、制御部65、及び記憶部66を備えている。また、制御部65は、図12に示すように、機能概念的に、第4測定部65e及び特定部65bを備えている。ここで、第4測定部65eは、撮像装置310にて撮像された撮像画像に基づいて、非磁性粒子73の個数を測定する第4測定手段である。
次に、このように構成された測定システム300を用いて行われる測定方法について説明する。実施の形態4に係る測定方法は、実施の形態2に係る測定方法とほぼ同様に行われる。ただし、測定工程については、下記に示す工夫が施されている。
測定工程は、第2除去工程の後に、反応槽10に収容された非磁性粒子73の個数を測定するために、以下の手順で行われる。
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明の具体的な構成及び手段は、特許請求の範囲に記載した各発明の技術的思想の範囲内において、任意に改変及び改良することができる。以下、このような変形例について説明する。
まず、発明が解決しようとする課題や発明の効果は、前記した内容に限定されるものではなく、本発明によって、前記に記載されていない課題を解決したり、前記に記載されていない効果を奏することもでき、また、記載されている課題の一部のみを解決したり、記載されている効果の一部のみを奏することがある。例えば、本発明に係る測定方法の測定作業の迅速化及び簡易化が従来と同程度であっても、従来と異なる方法により従来と同程度の測定作業の迅速化及び簡易化を有している場合には、本願発明の課題は解決されている。
また、上述した各電気的構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各部の分散や統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散又は統合して構成できる。例えば、制御装置60を、相互に通信可能に構成された複数の装置に分散して構成し、これら複数の装置の一部に制御部65を設けると共に、これら複数の装置の他の一部に記憶部66を設けてもよい。
実施の形態や図面において例示した構成要素に関して、形状、数値、又は複数の構成要素の構造若しくは時系列の相互関係については、本発明の技術的思想の範囲内において、任意に改変及び改良することができる。
上記実施の形態1から4では、磁性粒子72の粒径が、測定対象71の粒径よりも大きく設定されていると説明したが、これに限らず、例えば、測定対象71の粒径と略同一に設定されてもよい。
上記実施の形態1では、測定システム1が第2磁石40を備えていると説明したが、これに限らず、例えば、第2磁石40を省略してもよい。この場合には、測定方法の測定工程において、反応槽10に収容された複合体74の少なくとも一部を基板30上に載置した後に、撮像装置50によって、上記載置された複合体74を所定の倍率で撮像する。
付記1の測定方法は、試料に含まれる測定対象を測定する測定方法であって、容器内において、前記測定対象と、磁性粒子と、前記測定対象及び前記磁性粒子よりも粒径が大きく、且つ所定方法にて識別可能な非磁性粒子とを反応させることにより、複合体を生成する生成工程と、前記生成工程中又は前記生成工程後に、前記容器に収容された前記測定対象及び前記非磁性粒子のうち、前記生成工程において反応しなかった前記測定対象及び前記非磁性粒子を除去する除去工程と、前記除去工程の後に、前記容器に収容された前記非磁性粒子の個数を測定する測定工程と、前記測定工程において測定された前記非磁性粒子の個数に基づいて、前記測定対象の個数を特定する特定工程と、を含む。
付記1に記載の効果によれば、容器内において、測定対象と、磁性粒子と、磁性粒子よりも粒径が大きく、且つ所定方法にて識別可能な非磁性粒子とを反応させることにより、複合体を生成する生成工程と、生成工程中又は生成工程後に、生成工程において反応しなかった測定対象及び非磁性粒子を除去する除去工程と、除去工程の後に、容器に収容された非磁性粒子の個数を測定する測定工程と、測定工程において測定された非磁性粒子の個数に基づいて、測定対象の個数を特定する特定工程と、を含む。この方法によれば、目的物質に対して十分に大きな粒径を有する非磁性粒子を、測定対象の量に対して十分多数に反応系に存在させることで、原則的に目的物質一分子に対して非磁性粒子を1つ結合させることができる。そして、この測定対象に結合した非磁性粒子を計数することで、測定対象を一分子レベルで検出することが可能となる。この方法は、従来技術(複数のウェル内にそれぞれ分離して配置された複数の生体分子の個数を測定する技術)に比べて、煩雑な作業を要することなく、測定対象の個数を簡易且つ迅速に測定することができ、測定作業の効率化を図ることを可能とする。
2 配線
10 反応槽
20 載置台
30 基板
40 第2磁石
50 撮像装置
60 制御装置
61 操作部
62 通信部
63 出力部
64 電源部
65 制御部
65a 第1測定部
65b 特定部
65c 第2測定部
65d 第3測定部
65e 第4測定部
66 記憶部
70 試料
71 測定対象
72 磁性粒子
72a 磁性側抗体
73 非磁性粒子
73a 非磁性側抗体
74 複合体
75 溶媒
100 測定システム
110 流路
120 レーザ光源
130 受光部
200 測定システム
210 検出機構
211 流路
212 仕切板
213 ポア
214 検出部
300 測定システム
310 撮像装置
C 電流
LL レーザ光
RL 反射光
Claims (4)
- 試料に含まれる測定対象を測定する測定方法であって、
容器内において、前記測定対象と、磁性粒子と、前記測定対象及び前記磁性粒子よりも粒径が大きく、且つ所定方法にて識別可能な非磁性粒子とを反応させることにより、複合体を生成する生成工程と、
前記生成工程中又は前記生成工程後に、前記容器に収容された前記測定対象及び前記非磁性粒子のうち、前記生成工程において反応しなかった前記測定対象及び前記非磁性粒子を除去する除去工程と、
前記除去工程の後に、前記容器に収容された前記非磁性粒子の個数を測定する測定工程と、
前記測定工程において測定された前記非磁性粒子の個数に基づいて、前記測定対象の個数を特定する特定工程と、を含み、
前記測定工程において、
前記容器に収容された前記複合体の少なくとも一部を基板上に載置し、
前記基板の下方に設けられた磁石によって、前記載置された前記複合体を前記基板の所定箇所に収集し、
光学顕微鏡である撮像手段によって、前記収集された前記複合体を撮像し、
前記撮像手段にて撮像された撮像画像に基づいて、前記非磁性粒子の個数を測定し、
前記磁性粒子の粒径を、前記撮像画像から視認不可能な大きさとし、
前記非磁性粒子の粒径を、前記撮像画像から視認可能な大きさとした、
測定方法。 - 試料に含まれる測定対象を測定する測定方法であって、
容器内において、前記測定対象と、磁性粒子と、前記測定対象及び前記磁性粒子よりも粒径が大きく、且つ所定方法にて識別可能な非磁性粒子とを反応させることにより、複合体を生成する生成工程と、
前記生成工程中又は前記生成工程後に、前記容器に収容された前記測定対象及び前記非磁性粒子のうち、前記生成工程において反応しなかった前記測定対象及び前記非磁性粒子を除去する除去工程と、
前記除去工程の後に、前記容器に収容された前記非磁性粒子の個数を測定する測定工程と、
前記測定工程において測定された前記非磁性粒子の個数に基づいて、前記測定対象の個数を特定する特定工程と、を含み、
前記測定工程において、
流路内において前記容器に収容された前記複合体の少なくとも一部を所定方向に向けて流し、
光学顕微鏡である撮像手段によって、前記流路を流れる前記複合体を撮像し、
前記撮像手段にて撮像された撮像画像に基づいて、前記非磁性粒子の個数を測定し、
前記磁性粒子の粒径を、前記撮像画像から視認不可能な大きさとし、
前記非磁性粒子の粒径を、前記撮像画像から視認可能な大きさとした、
測定方法。 - 前記非磁性粒子の粒径を、前記磁性粒子の粒径の1.5倍以上とした、
請求項1又は2に記載の測定方法。 - 前記非磁性粒子の形状、色彩、蛍光、酵素標識、同位体標識、又は粒径を、2種類以上とした、
請求項1から3のいずれか一項に記載の測定方法。
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