JP7148939B1 - 推算方法、肌状態評価方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】本発明は、肌に直接接触させる電極を備えた専用測定機器を用いることなく角層水分量または経表皮水分蒸散量（TEWL）の推算を行うことができる推算方法を提供することを目的とする。【解決手段】 対象者の角層水分量を推定する推算方法であって、対象者の肌のレプリカから、肌表面の凹凸情報に関するレプリカ由来パラメータを算出するレプリカ由来パラメータ算出工程と、前記対象者の皮膚から採取した角層を染色する染色工程と、前記染色工程によって染色された前記角層の染色画像に基づき、前記角層の剥離状態に関する角層由来パラメータを算出する角層由来パラメータ算出工程と、予め取得された、前記レプリカ由来パラメータ及び前記角層由来パラメータと、角層水分量と、の相関関係を示す予測式を用いて、前記対象者の角層水分量を推算する推算工程と、を備えることを特徴とする推算方法。【選択図】図１
Description
本発明は、対象者の角層水分量及び／またはTEWLを推算する推算方法及び該推算方法の結果に基づく肌状態評価方法に関する。
肌の健康上、肌の状態に合わせて適切な化粧料を選択することは、非常に重要である。適切な化粧料を選択するうえで、肌の状態を定量的に評価することは、きわめて大切である。
肌の状態を定量的に評価するためのパラメータとして、角層水分量や経表皮水分蒸散量（TEWL）が用いられる。角層水分量は、角層中に含まれる水分量を示す値であり、この値が大きいほど角層中の水分量が多く、肌が良好な状態であることを示す。経表皮水分蒸散量（TEWL）は、単位時間・単位面積当たりに体内から表皮を介して失われた水分量を示す値であり、この値が小さいほど、皮膚バリア機能が高く、肌が良好な状態であることを示す。
従来、角層水分量や経表皮水分蒸散量（TEWL）を推算する推算方法が種々提案されている。
特許文献１には、被検者の皮膚に電極を接触させて交流信号を肌に透過させ、該肌から検出した信号から角層の皮膚インピーダンス値を算出し、この皮膚インピーダンス値から角層水分量を推算する推算方法が提案されている。
特許文献２には、被検者の皮膚に電極を接触させて複数の交流電圧を印加することで測定されるサセプタンス（Ｂ）、アドミタンス（Ｙ）またはコンダクタンス（Ｇ）のいずれかに基づいて、皮膚表面の電解質成分による影響度合いとしての特性値（Ｐ）を算出し、この特性値（Ｐ）から経表皮水分蒸散量（TEWL）を推算する推算方法が提案されている。
特許文献１には、被検者の皮膚に電極を接触させて交流信号を肌に透過させ、該肌から検出した信号から角層の皮膚インピーダンス値を算出し、この皮膚インピーダンス値から角層水分量を推算する推算方法が提案されている。
特許文献２には、被検者の皮膚に電極を接触させて複数の交流電圧を印加することで測定されるサセプタンス（Ｂ）、アドミタンス（Ｙ）またはコンダクタンス（Ｇ）のいずれかに基づいて、皮膚表面の電解質成分による影響度合いとしての特性値（Ｐ）を算出し、この特性値（Ｐ）から経表皮水分蒸散量（TEWL）を推算する推算方法が提案されている。
特許文献１に開示された角層水分量の推算方法及び特許文献２に開示された経表皮水分蒸散量（TEWL）の推算方法では、対象者の皮膚に接触させる電極を備えた専用測定機器を用いる必要がある。この専用測定機器は、一般的に非常に高価である。また、この専用測定機器を用いる場合、測定自体に過大な時間を要することがある。
上記点に鑑み、本発明は、肌に直接接触させる電極を備えた専用測定機器を用いることなく、角層水分量または経表皮水分蒸散量（TEWL）の推算を行うことができる推算方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明に係る推算方法は、（１）対象者の角層水分量を推算する推算方法であって、対象者の肌のレプリカから、肌表面の凹凸情報に関するレプリカ由来パラメータを算出するレプリカ由来パラメータ算出工程と、前記対象者の皮膚から採取した角層を染色する染色工程と、前記染色工程によって染色された前記角層の染色画像に基づき、前記角層の剥離状態に関する角層由来パラメータを算出する角層由来パラメータ算出工程と、予め取得された、前記レプリカ由来パラメータ及び前記角層由来パラメータと、角層水分量と、の相関関係を示す予測式を用いて、前記対象者の角層水分量を推算する推算工程と、を備えることを特徴とする推算方法。
（２） 前記レプリカ由来パラメータ算出工程において、前記レプリカ由来パラメータとして、肌表面の凹凸数を算出し、前記角層由来パラメータ算出工程において、前記角層由来パラメータとして、角層ダメージ面積及び角層ダメージ率を算出することを特徴とする、（１）に記載の推算方法。
（３） 前記予測式は、標本集団で実測して得られた角層水分量と、該標本集団の肌のレプリカから算出された前記レプリカ由来パラメータ、及び、該標本集団の皮膚から採取した角層を染色して得られた染色画像に基づいて算出された前記角層由来パラメータと、を用いた重回帰分析により予め取得された重回帰式であることを特徴とする、（１）または（２）に記載の推算方法。
（４） 対象者のTEWLを推算する推算方法であって、対象者の肌のレプリカから、肌表面の凹凸情報に関するレプリカ由来パラメータを算出するレプリカ由来パラメータ算出工程と、前記対象者の皮膚から採取した角層を染色する染色工程と、前記染色工程によって染色された前記角層の染色画像に基づき、前記角層の剥離状態に関する角層由来パラメータを算出する角層由来パラメータ算出工程と、予め取得された、前記レプリカ由来パラメータ及び前記角層由来パラメータと、TEWLと、の相関関係を示す予測式を用いて、前記対象者のTEWLを推算する推算工程と、を備えることを特徴とする推算方法。
（５） 前記レプリカ由来パラメータ算出工程において、前記レプリカ由来パラメータとして、肌表面の凹凸数を算出し、前記角層由来パラメータ算出工程において、前記角層由来パラメータとして、角層ダメージ面積及び角層ダメージ率を算出することを特徴とする、（４）に記載の推算方法。
（６） 前記レプリカ由来パラメータ算出工程において、前記レプリカ由来パラメータとして、さらに肌表面の凹凸長さを算出することを特徴とする、（５）に記載の推算方法。
（７） 前記予測式は、標本集団で実測して得られたTEWLと、該標本集団の肌のレプリカから算出された前記レプリカ由来パラメータ、及び、該標本集団の皮膚から採取した角層を染色して得られた染色画像に基づいて算出された前記角層由来パラメータと、を用いた重回帰分析により予め取得された重回帰式であることを特徴とする、（４）ないし（６）のいずれか１つに記載の推算方法。
（８） （１）ないし（７）のうちいずれか１つに記載の推算方法による推算結果に基づき、前記対象者の肌の状態を評価する、肌状態評価方法。
本発明によれば、対象者の肌のレプリカ及び角層から得られたパラメータに基づいて、角層水分量（TEWL）の推算を行うことができるため、専用測定機器を用いることなく、角層水分量（または経表皮水分蒸散量（TEWL））の推算を行うことができる。
（第１実施形態）
第１実施形態に係る推算方法について、図１を用いて説明する。図１は、第１実施形態に係る推算方法を示すフローチャートである。第１実施形態に係る推算方法は、工程Ｓ１→Ｓ２→Ｓ３→Ｓ４を経て、対象者の角層水分量及び／または経表皮水分蒸散量（TEWL）を推算する。以下、各工程について、簡単に説明する
第１実施形態に係る推算方法について、図１を用いて説明する。図１は、第１実施形態に係る推算方法を示すフローチャートである。第１実施形態に係る推算方法は、工程Ｓ１→Ｓ２→Ｓ３→Ｓ４を経て、対象者の角層水分量及び／または経表皮水分蒸散量（TEWL）を推算する。以下、各工程について、簡単に説明する
（工程Ｓ１について）
工程Ｓ１は、対象者の肌のレプリカから、肌表面の凹凸情報に関するレプリカ由来パラメータを算出する、レプリカ由来パラメータ算出工程である。工程Ｓ１（レプリカ由来パラメータ算出工程）では、レプリカ由来パラメータとして、肌表面の凹凸数（個）を算出する。
工程Ｓ１は、対象者の肌のレプリカから、肌表面の凹凸情報に関するレプリカ由来パラメータを算出する、レプリカ由来パラメータ算出工程である。工程Ｓ１（レプリカ由来パラメータ算出工程）では、レプリカ由来パラメータとして、肌表面の凹凸数（個）を算出する。
（工程Ｓ２について）
工程Ｓ２は、対象者の皮膚から採取した角層を染色する染色工程である。
工程Ｓ２は、対象者の皮膚から採取した角層を染色する染色工程である。
（工程Ｓ３について）
工程Ｓ３は、工程Ｓ２（染色工程）で得られた染色された角層から、角層由来パラメータを算出する、角層由来パラメータ算出工程である。工程Ｓ３（角層由来パラメータ算出工程）では、角層由来パラメータとして、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）を算出する。
工程Ｓ３は、工程Ｓ２（染色工程）で得られた染色された角層から、角層由来パラメータを算出する、角層由来パラメータ算出工程である。工程Ｓ３（角層由来パラメータ算出工程）では、角層由来パラメータとして、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）を算出する。
（工程Ｓ４について）
工程Ｓ４は、レプリカ由来パラメータ（肌表面の凹凸数（個））及び角層由来パラメータ（角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％））と、角層水分量（またはTEWL）と、の相関関係を示す予測式を予め取得しておき、該予測式に、工程Ｓ１で得られたレプリカ由来パラメータの値（肌表面の凹凸数（個））及び工程Ｓ３で得られた角層由来パラメータの値（角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％））を代入して、対象者の角層水分量（またはTEWL）を推算する推算工程である。
工程Ｓ４は、レプリカ由来パラメータ（肌表面の凹凸数（個））及び角層由来パラメータ（角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％））と、角層水分量（またはTEWL）と、の相関関係を示す予測式を予め取得しておき、該予測式に、工程Ｓ１で得られたレプリカ由来パラメータの値（肌表面の凹凸数（個））及び工程Ｓ３で得られた角層由来パラメータの値（角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％））を代入して、対象者の角層水分量（またはTEWL）を推算する推算工程である。
以下、上記各工程Ｓ１～Ｓ４について、詳細に説明する。
（工程Ｓ１の詳細）
第１実施形態に係る工程Ｓ１（レプリカ由来パラメータ算出工程）では、工程Ｓ１１～工程Ｓ１８を経て、レプリカ由来パラメータを算出する。図２は、第１実施形態に係る工程Ｓ１（レプリカ由来パラメータ算出工程）を示すフローチャートである。
第１実施形態に係る工程Ｓ１（レプリカ由来パラメータ算出工程）では、工程Ｓ１１～工程Ｓ１８を経て、レプリカ由来パラメータを算出する。図２は、第１実施形態に係る工程Ｓ１（レプリカ由来パラメータ算出工程）を示すフローチャートである。
工程Ｓ１１では、対象者の肌のレプリカを採取する。対象領域にレプリカ剤を塗布し、硬化した後で肌からはがすことによって、レプリカを得る。レプリカ剤としては、例えば2液性シリコンゴムを用いることができるが、これに限られない。
工程Ｓ１２では、工程Ｓ１１で採取されたレプリカに光を照射する。光の照射方法としては、落射光や側射光を用いる方法を採用することができるが、これに限られない。
工程Ｓ１３では、工程Ｓ１２で光を照射されたレプリカの画像をデータ化する。汎用の画像入力ボードに接続されたカメラによって、光を照射されたレプリカを上方から撮像し、撮像されたレプリカ画像を画像入力ボードでデータ化する。
工程Ｓ１４では、工程Ｓ１３でデータ化されたレプリカ画像をグレースケールに変換する。レプリカ画像をグレースケールに変換する処理は、種々の既知の方法によって実行される。
工程Ｓ１５では、工程Ｓ１４でグレースケールに変換されたレプリカ画像に設定された輝度記録線に沿って輝度を記録する。図３は、グレースケールに変換されたレプリカ画像に設定された輝度記録線を示す概略図である。図３を参照して、グレースケールに変換されたレプリカ画像内に、円状の輝度記録線Ｇを任意の位置に設定し、この輝度記録線Ｇに等間隔に５１２点の輝度記録点を取り、該５１２点の輝度記録点それぞれの位置における輝度を記録する。なお、輝度は０～２５５の２５６段階で記録し、０に近づくほど黒色を示し、２５５に近づくほど白色を示す。輝度の測定には、例えば汎用の画像入力ボード及びソフトウェアを用いることができる。
工程Ｓ１６では、工程Ｓ１５で得られた輝度記録点ごとの輝度を反転させた値を算出する。具体的には、工程Ｓ１５の輝度記録点それぞれについて、「２５５－輝度」の計算を行うことにより、各輝度記録点における輝度を反転させた値（輝度反転値）を算出する。輝度反転値の算出は、画像入力ボードに組み込まれたプログラムによって実行される。
工程Ｓ１７では、工程１６で得られた輝度反転値に基づき、各輝度記録点における輝度反転値を、折れ線グラフの形式で作成する。図４は、各輝度記録点における輝度反転値の折れ線グラフを示す。図４において、横軸は各輝度記録点の番号（１～５１２）を示し、縦軸は輝度反転値を示す。各輝度記録点の番号（１～５１２）は、５１２点の輝度記録点のうち、任意の輝度記録点に番号「１」を付与し、そこから輝度記録線Ｇ（図３参照）に沿って順に２～５１２を付与する。
工程Ｓ１８では、工程Ｓ１７で得られた折れ線グラフに基づき、レプリカ由来パラメータを算出する。第１実施形態では、レプリカ由来パラメータとして、肌表面の凹凸数（個）を算出する。肌表面の凹凸数の算出方法について、以下に説明する。
＜肌表面の凹凸数＞
まず、輝度反転値に第１閾値Ａ及び第２閾値Ｂ（ただしＡ＜Ｂ）を設ける（図４参照）。次に、図４の折れ線グラフのうち、第２閾値Ｂで区切られて輝度反転値＞Ｂに位置するグラフ部分のそれぞれにおいて、輝度反転値が最大となる点を、それぞれ上ピーク点Ｓとする。また、図４の折れ線グラフのうち、第１閾値Ａで区切られて輝度反転値＜Ａに位置するグラフ部分のそれぞれにおいて、輝度反転値が最小となる点を、それぞれ下ピーク点Ｔとする。ただし、図４の左から数えてｊ番目（ｊ≧１）の下ピーク点Ｔからｊ＋１番目の下ピーク点Ｔまでを結ぶ折れ線グラフ部分に、複数の上ピーク点Ｓが存する場合には、該複数の上ピーク点Ｓのうち輝度反転値が最大の点のみを、上ピーク点Ｓとしてカウントする。同様に、図４の左から数えてｋ番目（ｋ≧１）の上ピーク点Ｓからｋ＋１番目の上ピーク点Ｓまでを結ぶ折れ線グラフ部分に、複数の下ピーク点Ｔが存する場合には、該複数の下ピーク点Ｔのうち輝度反転値が最小の点のみを、下ピーク点Ｔとしてカウントする。そして、上ピーク点Ｓ及び下ピーク点Ｔの個数の総和を、肌表面の凹凸数（個）として算出する。なお、輝度記録点５１２と輝度記録点１とは繋がっているものとみなす。本実施形態（図４）では、上ピーク点Ｓが１２個、下ピーク点Ｔが１２個存するため、肌表面の凹凸数は「２４」と算出される。なお、第１閾値Ａ及び第２閾値Ｂは、工程Ｓ１７で得られた折れ線グラフの形状及び各輝度記録点における輝度反転値に基づき、適宜な値に設定することができる。
まず、輝度反転値に第１閾値Ａ及び第２閾値Ｂ（ただしＡ＜Ｂ）を設ける（図４参照）。次に、図４の折れ線グラフのうち、第２閾値Ｂで区切られて輝度反転値＞Ｂに位置するグラフ部分のそれぞれにおいて、輝度反転値が最大となる点を、それぞれ上ピーク点Ｓとする。また、図４の折れ線グラフのうち、第１閾値Ａで区切られて輝度反転値＜Ａに位置するグラフ部分のそれぞれにおいて、輝度反転値が最小となる点を、それぞれ下ピーク点Ｔとする。ただし、図４の左から数えてｊ番目（ｊ≧１）の下ピーク点Ｔからｊ＋１番目の下ピーク点Ｔまでを結ぶ折れ線グラフ部分に、複数の上ピーク点Ｓが存する場合には、該複数の上ピーク点Ｓのうち輝度反転値が最大の点のみを、上ピーク点Ｓとしてカウントする。同様に、図４の左から数えてｋ番目（ｋ≧１）の上ピーク点Ｓからｋ＋１番目の上ピーク点Ｓまでを結ぶ折れ線グラフ部分に、複数の下ピーク点Ｔが存する場合には、該複数の下ピーク点Ｔのうち輝度反転値が最小の点のみを、下ピーク点Ｔとしてカウントする。そして、上ピーク点Ｓ及び下ピーク点Ｔの個数の総和を、肌表面の凹凸数（個）として算出する。なお、輝度記録点５１２と輝度記録点１とは繋がっているものとみなす。本実施形態（図４）では、上ピーク点Ｓが１２個、下ピーク点Ｔが１２個存するため、肌表面の凹凸数は「２４」と算出される。なお、第１閾値Ａ及び第２閾値Ｂは、工程Ｓ１７で得られた折れ線グラフの形状及び各輝度記録点における輝度反転値に基づき、適宜な値に設定することができる。
（工程Ｓ２の詳細）
第１実施形態に係る工程Ｓ２（染色工程）は、工程Ｓ２１、工程Ｓ２２を経て、対象者の皮膚から角層を採取して染色する。図５は、第１実施形態に係る工程Ｓ２（染色工程）を示すフローチャートである。
第１実施形態に係る工程Ｓ２（染色工程）は、工程Ｓ２１、工程Ｓ２２を経て、対象者の皮膚から角層を採取して染色する。図５は、第１実施形態に係る工程Ｓ２（染色工程）を示すフローチャートである。
工程Ｓ２１では、対象者の皮膚の角層を採取する。角層採取手段としては、テープストリッピング法（粘着剤を皮膚に貼り付けて剥がすことによって皮膚の角層を採取する方法）など、既知の採取手段が用いられる。粘着剤としては、天然ゴム、ポリイソブチレン、ポリブタジエン、シリコーンゴム、ポリイソプレン、スチレン－イソプレン－スチレンブロック共重合体等の合成ゴム、ポリプロピレン、ポリスチレン、アクリル酸エステル共重合体等の合成樹脂等が用いられている。テープストリッピング法には、市販の粘着テープを使用しても良い。
工程Ｓ２２では、工程Ｓ２１で得られた対象者の皮膚の角層を、染色液で染色する。染色液としては、例えば、ゲンチアナバイオレット溶液、ブリリアントグリーン溶液、エオジン染色液や、特開２０１９－１０１０２５号公報に記載された蛍光標識ポリリジン溶液など、既知の染色液を用いることができる。
（工程Ｓ３の詳細）
第１実施形態に係る工程Ｓ３（角層由来パラメータ算出工程）は、工程Ｓ３１～工程Ｓ３４を経て、角層由来パラメータを算出する。図６は、第１実施形態に係る工程Ｓ３（角層由来パラメータ算出工程）を示すフローチャートである。
第１実施形態に係る工程Ｓ３（角層由来パラメータ算出工程）は、工程Ｓ３１～工程Ｓ３４を経て、角層由来パラメータを算出する。図６は、第１実施形態に係る工程Ｓ３（角層由来パラメータ算出工程）を示すフローチャートである。
工程Ｓ３１では、工程Ｓ２で染色された対象者の角層を洗浄する。工程Ｓ２２で用いられた染色液のうち、対象者の角層と未反応であった染色液（すなわち、余分な染色液）を洗浄する。染色された角層の洗浄には、例えば、超純水、純水等が用いられる。
工程Ｓ３２では、工程Ｓ３１で洗浄された対象者の角層を撮像して角層画像を取得する。工程Ｓ３１の後、水気を取って乾燥させた角層を、蛍光顕微鏡を用いて観察し、無作為に複数個所を撮像することにより、角層画像を複数取得する。蛍光顕微鏡としては、BZ-X810（キーエンス社）を用いることができるが、これに限られない。
工程Ｓ３３では、工程Ｓ３２で得られた角層画像について、各角層画像に基づき、第１輝度閾値以上の輝度を有する部分を抽出した角層画像と、第２輝度閾値以上の輝度を有する部分を抽出した角層画像と、を作成する（ただし、第１輝度閾値＞第２輝度閾値）。図７（ａ）は、工程Ｓ３２で得られた角層画像（すなわち元の角層画像）である。図７（ｂ）は、図７（ａ）のうち、第１輝度閾値以上の輝度を有する部分Ｕを抽出した角層画像である。図７（ｃ）は、図７（ａ）のうち、第２輝度閾値以上の輝度を有する部分Ｖを抽出した角層画像である。第１輝度閾値及び第２輝度閾値は、工程Ｓ３２で得られた角層画像に基づいて適宜設定することができるが、第１実施形態では、第１輝度閾値を９０、第２輝度閾値を２０に設定した。
工程Ｓ３４では、工程Ｓ３３で得られた各角層画像に基づき、角層由来パラメータを算出する。角層由来パラメータとして、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）を算出する。各角層由来パラメータの算出方法について、図７を参照して以下に説明する。
＜角層ダメージ面積＞
各角層画像の角層ダメージ面積（μm2）は、工程Ｓ３２で得られた各角層画像における、第１輝度閾値以上の輝度を有する部分の面積の和として表される。図７（ｂ）に示す、９０以上の輝度を有する部分Ｕの面積の和が、図７（ａ）に示す角層画像における角層ダメージ面積（μm2）である。工程Ｓ３２で得られた各角層画像における角層ダメージ面積（μm2）を相加平均することにより、角層由来パラメータとしての角層ダメージ面積（μm2）を算出する。
各角層画像の角層ダメージ面積（μm2）は、工程Ｓ３２で得られた各角層画像における、第１輝度閾値以上の輝度を有する部分の面積の和として表される。図７（ｂ）に示す、９０以上の輝度を有する部分Ｕの面積の和が、図７（ａ）に示す角層画像における角層ダメージ面積（μm2）である。工程Ｓ３２で得られた各角層画像における角層ダメージ面積（μm2）を相加平均することにより、角層由来パラメータとしての角層ダメージ面積（μm2）を算出する。
＜角層ダメージ率＞
各角層画像の角層ダメージ率（％）を算出するために、工程Ｓ３２で得られた各角層画像において、角層ダメージ面積（μm2）に加え、総染色面積（μm2）を算出する。「総染色面積」は、工程Ｓ３２で得られた各角層画像における、第２輝度閾値以上の輝度を有する部分の面積の和として表される。図７（ｃ）に示す、２０以上の輝度を有する部分Ｖの面積の和が、図７（ａ）に示す角層画像における総染色面積（μm2）である。工程Ｓ３２で得られた各角層画像における総染色面積を相加平均し、この平均値で角層ダメージ面積を除する（すなわち、各角層画像における角層ダメージ面積の相加平均値÷ 各角層画像における総染色面積の相加平均値）ことにより、角層由来パラメータとしての角層ダメージ率（％）を算出する。
各角層画像の角層ダメージ率（％）を算出するために、工程Ｓ３２で得られた各角層画像において、角層ダメージ面積（μm2）に加え、総染色面積（μm2）を算出する。「総染色面積」は、工程Ｓ３２で得られた各角層画像における、第２輝度閾値以上の輝度を有する部分の面積の和として表される。図７（ｃ）に示す、２０以上の輝度を有する部分Ｖの面積の和が、図７（ａ）に示す角層画像における総染色面積（μm2）である。工程Ｓ３２で得られた各角層画像における総染色面積を相加平均し、この平均値で角層ダメージ面積を除する（すなわち、各角層画像における角層ダメージ面積の相加平均値÷ 各角層画像における総染色面積の相加平均値）ことにより、角層由来パラメータとしての角層ダメージ率（％）を算出する。
（工程Ｓ４の詳細）
工程Ｓ４において、肌表面の凹凸数（個）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、角層水分量（またはTEWL）と、の相関関係を示す予測式に、工程Ｓ１８で得られた対象者の肌表面の凹凸数（個）と、工程Ｓ３４で得られた対象者の角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、を代入して、対象者の角層水分量（またはTEWL）を推算する。
対象者の角層水分量（またはTEWL）の推算に用いられる予測式は、標本集団（複数人のモニターそれぞれにおける肌の同一箇所のサンプルや、１人のモニターにおいて一定の測定期間ごとに測定した肌の同一箇所のサンプル等）において、角層水分量（またはTEWL）を実測するとともに、上述の工程Ｓ１～Ｓ３を実施し、標本集団で実測して得られた角層水分量（またはTEWL）と、工程Ｓ１８で得られた該標本集団の肌表面の凹凸数（個）と工程Ｓ３４で得られた該標本集団の角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、を用いた重回帰分析を行うことによって作成される。
工程Ｓ４において、肌表面の凹凸数（個）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、角層水分量（またはTEWL）と、の相関関係を示す予測式に、工程Ｓ１８で得られた対象者の肌表面の凹凸数（個）と、工程Ｓ３４で得られた対象者の角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、を代入して、対象者の角層水分量（またはTEWL）を推算する。
対象者の角層水分量（またはTEWL）の推算に用いられる予測式は、標本集団（複数人のモニターそれぞれにおける肌の同一箇所のサンプルや、１人のモニターにおいて一定の測定期間ごとに測定した肌の同一箇所のサンプル等）において、角層水分量（またはTEWL）を実測するとともに、上述の工程Ｓ１～Ｓ３を実施し、標本集団で実測して得られた角層水分量（またはTEWL）と、工程Ｓ１８で得られた該標本集団の肌表面の凹凸数（個）と工程Ｓ３４で得られた該標本集団の角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、を用いた重回帰分析を行うことによって作成される。
このように、工程Ｓ１～Ｓ４を経ることによって、対象者の肌のレプリカ及び角層から得られたパラメータに基づいて、角層水分量（TEWL）の推算を行うことができる。すなわち、肌に直接接触させる電極を備えた専用測定機器を用いることなく、角層水分量（TEWL）の推算を行うことができる。
角層水分量（またはTEWL）の推算結果は、対象者の肌の状態の評価に用いることができる。ここで、従来、角層水分量（またはTEWL）を推算する際には、肌のレプリカに基づくパラメータまたは角層の染色画像に基づくパラメータのいずれか一方のみを用いていた。しかしながら、これらの方法では、対象者の肌状態を正確に捉えることができなかった。
そこで、本発明者らは鋭意検討を重ね、レプリカ由来パラメータ及び角層由来パラメータの双方を用い、レプリカ由来パラメータ及び角層由来パラメータと、角層水分量（またはTEWL）と、の相関関係を示す予測式に基づいて、角層水分量（またはTEWL）を推算する推算方法に想到した。この方法によれば、肌のレプリカから得られたパラメータと、皮膚の角層から得られたパラメータと、の２つの因子に基づいた推算を行うことができるため、対象者の肌の状態をより正確に評価することができる。
そこで、本発明者らは鋭意検討を重ね、レプリカ由来パラメータ及び角層由来パラメータの双方を用い、レプリカ由来パラメータ及び角層由来パラメータと、角層水分量（またはTEWL）と、の相関関係を示す予測式に基づいて、角層水分量（またはTEWL）を推算する推算方法に想到した。この方法によれば、肌のレプリカから得られたパラメータと、皮膚の角層から得られたパラメータと、の２つの因子に基づいた推算を行うことができるため、対象者の肌の状態をより正確に評価することができる。
本発明者らは、「レプリカ由来パラメータ及び角層由来パラメータと、角層水分量（またはTEWL）と、の相関関係を示す予測式」に基づいて、角層水分量（またはTEWL）をより精確に推定するために、種々様々なレプリカ由来パラメータ及び角層由来パラメータについて鋭意検討を重ねた。しかしながら、角層水分量（またはTEWL）との相関が知られている既知のパラメータを用いるだけでは、推定の精度は上がらなかった。
そこで、本発明者らは、新たに独自のパラメータを作り出すことに想到した。その結果、レプリカ由来パラメータとして肌表面の凹凸数を用い、角層由来パラメータとして角層ダメージ面積及び角層ダメージ率を用いることで、角層水分量（またはTEWL）をより精確に推定できることを見出した。これら独自のパラメータを用いた推算方法による推算精度については、実施例において後述する。
そこで、本発明者らは、新たに独自のパラメータを作り出すことに想到した。その結果、レプリカ由来パラメータとして肌表面の凹凸数を用い、角層由来パラメータとして角層ダメージ面積及び角層ダメージ率を用いることで、角層水分量（またはTEWL）をより精確に推定できることを見出した。これら独自のパラメータを用いた推算方法による推算精度については、実施例において後述する。
なお、工程Ｓ４において、（１）肌表面の凹凸数（個）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、角層水分量と、の相関関係を示す予測式と、（２）肌表面の凹凸数（個）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、TEWLと、の相関関係を示す予測式と、の２つの予測式を予め求めておき、それぞれの予測式に、対象者の肌表面の凹凸数（個）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）を代入して、対象者の角層水分量及びTEWLを推算してもよい。対象者の角層水分量及びTEWLの双方を推算することにより、推算結果を用いて対象者の肌状態をより正確に評価することができる。
（第２実施形態）
上述の実施形態では、対象者のTEWLを推算する際、工程Ｓ１（レプリカ由来パラメータ算出工程）で肌表面の凹凸数（個）のみを算出したが、工程Ｓ１で、レプリカ由来パラメータとして、さらに、肌表面の凹凸長さ（－）を算出してもよい。第２実施形態では、肌表面の凹凸長さの算出方法（工程Ｓ１８）及びレプリカ由来パラメータとして肌表面の凹凸長さを追加した場合における対象者のTEWLの推算方法（工程Ｓ４）について説明する。なお、レプリカ由来パラメータとして肌表面の凹凸長さ（－）を追加した場合であっても、Ｓ１１～Ｓ１７、Ｓ２１、Ｓ２２、Ｓ３１～Ｓ３４の各工程には変化がないため、説明を省略する。肌表面の凹凸長さ（－）も、本発明者らが独自に検討を重ねて作り出したパラメータである。
上述の実施形態では、対象者のTEWLを推算する際、工程Ｓ１（レプリカ由来パラメータ算出工程）で肌表面の凹凸数（個）のみを算出したが、工程Ｓ１で、レプリカ由来パラメータとして、さらに、肌表面の凹凸長さ（－）を算出してもよい。第２実施形態では、肌表面の凹凸長さの算出方法（工程Ｓ１８）及びレプリカ由来パラメータとして肌表面の凹凸長さを追加した場合における対象者のTEWLの推算方法（工程Ｓ４）について説明する。なお、レプリカ由来パラメータとして肌表面の凹凸長さ（－）を追加した場合であっても、Ｓ１１～Ｓ１７、Ｓ２１、Ｓ２２、Ｓ３１～Ｓ３４の各工程には変化がないため、説明を省略する。肌表面の凹凸長さ（－）も、本発明者らが独自に検討を重ねて作り出したパラメータである。
＜肌表面の凹凸長さ＞
図４を参照して、肌表面の凹凸長さ（－）は、隣り合う輝度記録点間の折れ線グラフの長さの総和（すなわち、折れ線グラフ自体の全長）で表される。図８を参照して、肌表面の凹凸長さの算出方法について、さらに詳細に説明する。図８は、図４に示す折れ線グラフのうち、輝度記録点１及び輝度記録点２における折れ線グラフの拡大図である。図８を参照して、輝度記録点１から輝度記録点２までの折れ線グラフの長さＬ１（－）は、次の式を用いて表すことができる。ここで、Ｄ（ｍｍ）は輝度記録線Ｇに沿った輝度記録点の間隔（ｍｍ）を表し、Ｅ１は番号１の輝度記録点における輝度反転値（－）を表し、Ｅ２は番号２の輝度記録点における輝度反転値（－）を表す。なお、輝度記録点は輝度記録線Ｇに沿って等間隔に形成されるため、Ｄは、グラフ自体（図４）の横幅に関わらず、（輝度記録線Ｇの全長）÷（輝度記録点の総数（５１２））で算出する。
図４を参照して、肌表面の凹凸長さ（－）は、隣り合う輝度記録点間の折れ線グラフの長さの総和（すなわち、折れ線グラフ自体の全長）で表される。図８を参照して、肌表面の凹凸長さの算出方法について、さらに詳細に説明する。図８は、図４に示す折れ線グラフのうち、輝度記録点１及び輝度記録点２における折れ線グラフの拡大図である。図８を参照して、輝度記録点１から輝度記録点２までの折れ線グラフの長さＬ１（－）は、次の式を用いて表すことができる。ここで、Ｄ（ｍｍ）は輝度記録線Ｇに沿った輝度記録点の間隔（ｍｍ）を表し、Ｅ１は番号１の輝度記録点における輝度反転値（－）を表し、Ｅ２は番号２の輝度記録点における輝度反転値（－）を表す。なお、輝度記録点は輝度記録線Ｇに沿って等間隔に形成されるため、Ｄは、グラフ自体（図４）の横幅に関わらず、（輝度記録線Ｇの全長）÷（輝度記録点の総数（５１２））で算出する。
肌表面の凹凸長さをＬ（－）とすると、Ｌ（－）は、輝度記録点ｘから輝度記録点ｘ＋１までの折れ線グラフの長さＬｘ（－）の総和である。すなわち、肌表面の凹凸長さＬ（－）は、次の式を用いて表すことができる。Ｅｘは番号ｘの輝度記録点における輝度反転値を表す。なお、Ｌ５１２（ｘ＝５１２のとき）は、輝度記録点１を仮想の輝度記録点５１３として、輝度記録点５１２から輝度記録点５１３までの折れ線グラフの長さを求める。
（工程Ｓ４の詳細）
工程Ｓ４において、肌表面の凹凸数（個）、肌表面の凹凸長さ（－）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、TEWLと、の相関関係を示す予測式に、工程Ｓ１８で得られた対象者の肌表面の凹凸数（個）及び肌表面の凹凸長さ（－）と、工程Ｓ３４で得られた対象者の角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、を代入して、対象者のTEWLを推算する。
対象者のTEWLの推算に用いられる予測式は、標本集団（複数人のモニターそれぞれにおける肌の同一箇所のサンプルや、１人のモニターにおいて一定の測定期間ごとに測定した肌の同一箇所のサンプル等）において、TEWLを実測するとともに、上述の工程Ｓ１～Ｓ３を実施し、標本集団で実測して得られたTEWLと、工程Ｓ１８で得られた該標本集団の肌表面の凹凸数（個）及び肌表面の凹凸長さ（－）と工程Ｓ３４で得られた該標本集団の角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、を用いた重回帰分析を行うことによって作成される。
工程Ｓ４において、肌表面の凹凸数（個）、肌表面の凹凸長さ（－）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、TEWLと、の相関関係を示す予測式に、工程Ｓ１８で得られた対象者の肌表面の凹凸数（個）及び肌表面の凹凸長さ（－）と、工程Ｓ３４で得られた対象者の角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、を代入して、対象者のTEWLを推算する。
対象者のTEWLの推算に用いられる予測式は、標本集団（複数人のモニターそれぞれにおける肌の同一箇所のサンプルや、１人のモニターにおいて一定の測定期間ごとに測定した肌の同一箇所のサンプル等）において、TEWLを実測するとともに、上述の工程Ｓ１～Ｓ３を実施し、標本集団で実測して得られたTEWLと、工程Ｓ１８で得られた該標本集団の肌表面の凹凸数（個）及び肌表面の凹凸長さ（－）と工程Ｓ３４で得られた該標本集団の角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、を用いた重回帰分析を行うことによって作成される。
肌表面の凹凸数（個）、角層ダメージ面積（μm2）、角層ダメージ率（％）に加え、肌表面の凹凸長さ（－）もパラメータとして用いて対象者のTEWLを推算することにより、対象者のTEWLをより精度よく推算することができる。この点については、後述の実施例２にて示す。
以下に、本発明について、実施例を参照して詳細に説明する。
３０代～６０代のモニター１３人（うち女性９人）を対象に、１週間ごとに、本発明に係る推算方法によって角層水分量及びTEWLを推算し（ｎ＝４４）、実測値との相関関係を調べた。実施例１では、レプリカ由来パラメータとして肌表面の凹凸数（個）のみを用い、角層由来パラメータとして角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）を用いた。すなわち、実施例１は、第１実施形態に相当する実施例である。
（肌表面の凹凸数の算出）
対象者の左頬部（左頬骨に相当する部分）に、直径２ｃｍの円状の対象領域を設定し、洗顔後安静１５分後に、該対象領域に2液性シリコンゴムを塗布し、硬化した後で肌からはがすことによって、レプリカを得た（上述の第１実施形態の工程Ｓ１１）。得られたレプリカを、肌表面の凹凸が転写された面を上向きにして試料台に乗せ、レプリカの上方より落射光、レプリカの側方より側射光を照射した（上述の第１実施形態の工程Ｓ１２）。光を照射されたレプリカを、汎用の画像入力ボードに接続されたカメラによって上方から撮像し、撮像されたレプリカ画像を画像入力ボードでデータ化した（上述の第１実施形態の工程Ｓ１３）。データ化されたレプリカ画像をグレースケールに変換した（上述の第１実施形態の工程Ｓ１４）。
グレースケールに変換されたレプリカ画像内に、直径１．４ｍｍの円状の輝度記録線を任意の位置に設定して、この輝度記録線に等間隔に５１２点の輝度記録点を取り、該５１２点の輝度記録点それぞれの位置における輝度を記録した（上述の第１実施形態の工程Ｓ１５）。得られた輝度記録線上の輝度を反転させた値を算出し（上述の第１実施形態の工程Ｓ１６）、この輝度反転値に基づき、各輝度記録点における輝度反転値を、折れ線グラフの形式で作成した（上述の第１実施形態の工程Ｓ１７）。得られた折れ線グラフに基づき、肌表面の凹凸数（個）を算出した（上述の第１実施形態の工程Ｓ１８）。肌表面の凹凸数（個）の算出方法については、上述したため、説明を省略する。
対象者の左頬部（左頬骨に相当する部分）に、直径２ｃｍの円状の対象領域を設定し、洗顔後安静１５分後に、該対象領域に2液性シリコンゴムを塗布し、硬化した後で肌からはがすことによって、レプリカを得た（上述の第１実施形態の工程Ｓ１１）。得られたレプリカを、肌表面の凹凸が転写された面を上向きにして試料台に乗せ、レプリカの上方より落射光、レプリカの側方より側射光を照射した（上述の第１実施形態の工程Ｓ１２）。光を照射されたレプリカを、汎用の画像入力ボードに接続されたカメラによって上方から撮像し、撮像されたレプリカ画像を画像入力ボードでデータ化した（上述の第１実施形態の工程Ｓ１３）。データ化されたレプリカ画像をグレースケールに変換した（上述の第１実施形態の工程Ｓ１４）。
グレースケールに変換されたレプリカ画像内に、直径１．４ｍｍの円状の輝度記録線を任意の位置に設定して、この輝度記録線に等間隔に５１２点の輝度記録点を取り、該５１２点の輝度記録点それぞれの位置における輝度を記録した（上述の第１実施形態の工程Ｓ１５）。得られた輝度記録線上の輝度を反転させた値を算出し（上述の第１実施形態の工程Ｓ１６）、この輝度反転値に基づき、各輝度記録点における輝度反転値を、折れ線グラフの形式で作成した（上述の第１実施形態の工程Ｓ１７）。得られた折れ線グラフに基づき、肌表面の凹凸数（個）を算出した（上述の第１実施形態の工程Ｓ１８）。肌表面の凹凸数（個）の算出方法については、上述したため、説明を省略する。
（角層の染色）
角質チェッカー（日本アッシュ製）を、モニターの右頬部（右頬骨に相当する部分）に貼り付けて剥がすことによって、モニターの皮膚の角層を採取した（上述の第１実施形態の工程Ｓ２１）。角層が付着した角質チェッカーを、角層が付着した面を上向きにして、十字状に４等分した。４等分された角質チェッカーのうち、右上の一片を、０．００２％蛍光標識ポリリジン溶液に１時間浸漬させて染色した（上述の第１実施形態の工程Ｓ２２）。
角質チェッカー（日本アッシュ製）を、モニターの右頬部（右頬骨に相当する部分）に貼り付けて剥がすことによって、モニターの皮膚の角層を採取した（上述の第１実施形態の工程Ｓ２１）。角層が付着した角質チェッカーを、角層が付着した面を上向きにして、十字状に４等分した。４等分された角質チェッカーのうち、右上の一片を、０．００２％蛍光標識ポリリジン溶液に１時間浸漬させて染色した（上述の第１実施形態の工程Ｓ２２）。
（角層ダメージ面積及び角層ダメージ率の算出）
染色された対象者の角層を蒸留水によって洗浄した後（上述の第１実施形態の工程Ｓ３１）、水気を取って乾燥させた角層を、蛍光顕微鏡を用いて観察し、無作為に４点撮像した（上述の第１実施形態の工程Ｓ３２）。取得した４枚の角層画像のそれぞれについて、９０以上の輝度を有する部分を抽出した角層画像と、２０以上の輝度を有する部分を抽出した角層画像と、を作成した（上述の第１実施形態の工程Ｓ３３）。作成した各角層画像に基づき、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）を算出した（上述の第１実施形態の工程Ｓ３４）。角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）の算出方法については、上述のため、説明を省略する。
染色された対象者の角層を蒸留水によって洗浄した後（上述の第１実施形態の工程Ｓ３１）、水気を取って乾燥させた角層を、蛍光顕微鏡を用いて観察し、無作為に４点撮像した（上述の第１実施形態の工程Ｓ３２）。取得した４枚の角層画像のそれぞれについて、９０以上の輝度を有する部分を抽出した角層画像と、２０以上の輝度を有する部分を抽出した角層画像と、を作成した（上述の第１実施形態の工程Ｓ３３）。作成した各角層画像に基づき、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）を算出した（上述の第１実施形態の工程Ｓ３４）。角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）の算出方法については、上述のため、説明を省略する。
（対象者の角層水分量及びTEWLの推算）
肌表面の凹凸数（個）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、角層水分量と、の相関関係を示す予測式に、上述の工程で得られた対象者の肌表面の凹凸数（個）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）を代入して、対象者の角層水分量を推算した（上述の第１実施形態の工程Ｓ４）。
同様に、肌表面の凹凸数（個）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、TEWLと、の相関関係を示す予測式に、上述の工程で得られた対象者の肌表面の凹凸数（個）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）を代入して、対象者のTEWLを推算した（上述の第１実施形態の工程Ｓ４）。
肌表面の凹凸数（個）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、角層水分量と、の相関関係を示す予測式に、上述の工程で得られた対象者の肌表面の凹凸数（個）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）を代入して、対象者の角層水分量を推算した（上述の第１実施形態の工程Ｓ４）。
同様に、肌表面の凹凸数（個）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、TEWLと、の相関関係を示す予測式に、上述の工程で得られた対象者の肌表面の凹凸数（個）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）を代入して、対象者のTEWLを推算した（上述の第１実施形態の工程Ｓ４）。
ここで、角層水分量の推算に用いた予測式は、標本集団（２０代～５０代のモニター２４人（すべて女性））を対象に、１か月ごとに、角層水分量を実測するとともに（ｎ＝１６９）、上述の工程を実施し、標本集団で実測して得られた角層水分量と、該標本集団の肌表面の凹凸数（個）、角層ダメージ面積（μm2）及び角層ダメージ率（％）と、を用いた重回帰分析を行うことによって作成した。TEWLの推算に用いた予測式についても同様である。
角層水分量の推算に用いた予測式は、以下のとおりである。ｙは角層水分量の推算結果、Ｘ１は角層ダメージ面積（μm2）、Ｘ２は角層ダメージ率（％）、Ｘ３は肌表面の凹凸数（個）を示す。
ｙ＝－1.82×10-4X1－0.15X2＋0.32X3＋48.1
TEWLの推算に用いた予測式は、以下のとおりである。ｙ´はTEWLの推算結果、Ｘ１は角層ダメージ面積（μm2）、Ｘ２は角層ダメージ率（％）、Ｘ３は肌表面の凹凸数（個）を示す。
ｙ´＝9.43×10-5X1－5.53×10-2X2－0.18X3＋15.1
角層水分量の推算に用いた予測式は、以下のとおりである。ｙは角層水分量の推算結果、Ｘ１は角層ダメージ面積（μm2）、Ｘ２は角層ダメージ率（％）、Ｘ３は肌表面の凹凸数（個）を示す。
ｙ＝－1.82×10-4X1－0.15X2＋0.32X3＋48.1
TEWLの推算に用いた予測式は、以下のとおりである。ｙ´はTEWLの推算結果、Ｘ１は角層ダメージ面積（μm2）、Ｘ２は角層ダメージ率（％）、Ｘ３は肌表面の凹凸数（個）を示す。
ｙ´＝9.43×10-5X1－5.53×10-2X2－0.18X3＋15.1
図９は、推算した角層水分量と、実測した角層水分量と、の相関関係を示す。図１０は、推算したTEWLと、実測したTEWLと、の相関関係を示す。
図９を参照して、角層水分量について、推算値と実測値とは有意な相関（ｐ＝＜０．００１）を示し、相関係数は０．７２１２であった。すなわち、上述の推算方法によれば、角層水分量の推算値は、実測値と十分な相関を有することがわかった。図１０を参照して、TEWLについて、推算値と実測値とは有意な相関（ｐ＝＜０．００１）を示し、相関係数は０．６９４５であった。すなわち、上述の推算方法によれば、TEWLの推算値は、実測値と十分な相関を有することがわかった。
図９を参照して、角層水分量について、推算値と実測値とは有意な相関（ｐ＝＜０．００１）を示し、相関係数は０．７２１２であった。すなわち、上述の推算方法によれば、角層水分量の推算値は、実測値と十分な相関を有することがわかった。図１０を参照して、TEWLについて、推算値と実測値とは有意な相関（ｐ＝＜０．００１）を示し、相関係数は０．６９４５であった。すなわち、上述の推算方法によれば、TEWLの推算値は、実測値と十分な相関を有することがわかった。
実施例２では、実施例１のレプリカ由来パラメータに肌表面の凹凸長さ（－）を加え、本発明に係る推算方法によってTEWLを推算した。すなわち、実施例２は、第２実施形態に相当する実施例である。TEWLを推算するまでの工程は、実施例１と同様であるため、説明を省略する。また、肌表面の凹凸長さ（－）の算出方法は、上述のため、説明を省略する。
TEWLの推算に用いた予測式は、以下のとおりである。ｙ´´はTEWLの推算結果、Ｘ１は角層ダメージ面積（μm2）、Ｘ２は角層ダメージ率（％）、Ｘ３は肌表面の凹凸数（個）、Ｘ４は肌表面の凹凸長さ（－）を示す。
ｙ´´＝8.57×10-5X1－8.76×10-3X2－0.33X3＋1.13×10-2X4＋8.10
ｙ´´＝8.57×10-5X1－8.76×10-3X2－0.33X3＋1.13×10-2X4＋8.10
図１１は、レプリカ由来パラメータに肌表面の凹凸長さ（－）を加えた場合における、推算したTEWLと、実測したTEWLと、の相関関係を示す。
図１１を参照して、TEWLについて、推算値と実測値とは有意な相関（ｐ＝＜０．００１）を示し、相関係数は０．７０１９であった。すなわち、上述の推算方法によれば、TEWLの推算値は、実測値と十分な相関を有することがわかった。
図１１を参照して、TEWLについて、推算値と実測値とは有意な相関（ｐ＝＜０．００１）を示し、相関係数は０．７０１９であった。すなわち、上述の推算方法によれば、TEWLの推算値は、実測値と十分な相関を有することがわかった。
Claims (5)
- 対象者の角層水分量を推算する推算方法であって、
対象者の肌のレプリカから、肌表面の凹凸情報に関するレプリカ由来パラメータを算出するレプリカ由来パラメータ算出工程と、
前記対象者の皮膚から採取した角層を染色する染色工程と、
前記染色工程によって染色された前記角層の染色画像に基づき、前記角層の剥離状態に関する角層由来パラメータを算出する角層由来パラメータ算出工程と、
予め取得された、前記レプリカ由来パラメータ及び前記角層由来パラメータと、角層水分量と、の相関関係を示す予測式を用いて、前記対象者の角層水分量を推算する推算工程と、
を備え、
前記レプリカ由来パラメータ算出工程において、前記レプリカ由来パラメータとして、肌表面の凹凸数を算出し、
前記角層由来パラメータ算出工程において、前記角層由来パラメータとして、角層ダメージ面積及び角層ダメージ率を算出することを特徴とする推算方法。 - 前記予測式は、
標本集団で実測して得られた角層水分量と、
該標本集団の肌のレプリカから算出された前記レプリカ由来パラメータ、及び、該標本集団の皮膚から採取した角層を染色して得られた染色画像に基づいて算出された前記角層由来パラメータと、
を用いた重回帰分析により予め取得された重回帰式であることを特徴とする、請求項１に記載の推算方法。 - 対象者のTEWLを推算する推算方法であって、
対象者の肌のレプリカから、肌表面の凹凸情報に関するレプリカ由来パラメータを算出するレプリカ由来パラメータ算出工程と、
前記対象者の皮膚から採取した角層を染色する染色工程と、
前記染色工程によって染色された前記角層の染色画像に基づき、前記角層の剥離状態に関する角層由来パラメータを算出する角層由来パラメータ算出工程と、
予め取得された、前記レプリカ由来パラメータ及び前記角層由来パラメータと、TEWLと、の相関関係を示す予測式を用いて、前記対象者のTEWLを推算する推算工程と、
を備え、
前記レプリカ由来パラメータ算出工程において、前記レプリカ由来パラメータとして、肌表面の凹凸数を算出し、
前記角層由来パラメータ算出工程において、前記角層由来パラメータとして、角層ダメージ面積及び角層ダメージ率を算出することを特徴とする推算方法。 - 前記レプリカ由来パラメータ算出工程において、前記レプリカ由来パラメータとして、さらに肌表面の凹凸長さを算出する
ことを特徴とする、請求項３に記載の推算方法。 - 前記予測式は、
標本集団で実測して得られたTEWLと、
該標本集団の肌のレプリカから算出された前記レプリカ由来パラメータ、及び、該標本集団の皮膚から採取した角層を染色して得られた染色画像に基づいて算出された前記角層由来パラメータと、
を用いた重回帰分析により予め取得された重回帰式であることを特徴とする、請求項３または４に記載の推算方法。
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| JP2011185923A (ja) | 2010-02-09 | 2011-09-22 | Pola Chemical Industries Inc | 肌状態評価方法 |
| JP2016189877A (ja) | 2015-03-31 | 2016-11-10 | 富士フイルム株式会社 | 肌評価装置および方法並びにプログラム |
| JP2018047223A (ja) | 2016-09-15 | 2018-03-29 | アルケア株式会社 | 角層水分量を評価する演算処理装置、プログラム、前記演算処理装置を備えた電子機器及び角層水分量の評価方法 |
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-
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