JP7146000B2 - 光検査装置及び光検査方法 - Google Patents
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Description
入力された光信号を光強度が不均等になるように分配する光カプラと、
分配された前記光信号の内の一方を受光する波形品質測定部と、
分配された前記光信号の内の他方を受光する光スペクトラム解析部と、
前記波形品質測定部が測定した波形及び前記光スペクトラム解析部が解析した光スペクトラムを表示する表示部と、
を備える。
前記波形品質測定部と前記光スペクトラム解析部の少なくとも一方のSN比を取得するSN比判定部と、
当該SN比が閾値を満たすように前記光カプラの前記分配比を変更する制御部と、
をさらに備えることを特徴とする。
入力された光信号を光強度が不均等になるように光カプラで分配すること、
分配された前記光信号の内の一方で波形を測定すること、
分配された前記光信号の内の他方で光スペクトラムを解析すること、及び
前記波形及び前記光スペクトラムを表示部に表示すること
を特徴とする。
前記波形と前記光スペクトラムの少なくとも一方のSN比を取得すること、及び
当該SN比が閾値を満たすように前記光カプラの前記分配比を変更すること、
をさらに行うことを特徴とする。
図1は、本実施形態の光検査装置301を説明する図である。光検査装置301は、
入力部10から入力された光信号を光強度が不均等になるように分配する光カプラ11と、
分配された前記光信号の内の一方を受光する波形品質測定部12と、
分配された前記光信号の内の他方を受光する光スペクトラム解析部13と、
波形品質測定部12が測定した波形及び光スペクトラム解析部13が解析した光スペクトラムを表示する表示部14と、
を1つの筐体内に備える。
また、光検査装置301は、1つの筐体で構成されるため、被試験デバイス50からの光信号を他の装置へ入力し直すこと、又はそのためのカプラや光スイッチなどの什器を用意することが不要となり、作業者の工数や什器のためのコストを削減することができる。
さらに、光検査装置301は、被試験デバイス50からの光信号が波形異常である場合、その原因を容易に判断できる。
本実施形態の光検査装置は、図1の光検査装置301において、光カプラ11が、前記光信号の分配比が可変であることを特徴とする。被試験デバイス50が出力する光信号のパワーは被試験デバイス50により変化する。このため、光カプラ11の分配比が固定であると、波形品質測定部12や光スペクトラム解析部13に対して適切でないパワーの光を光カプラ11が出力することになる。そこで、本実施形態の光検査装置は、波形品質測定部12や光スペクトラム解析部13が求めるパワーの光となるように光カプラ11の分配比を可変することができる。
図4は、本実施形態の光検査装置302を説明する図である。光検査装置302は、図1の光検査装置301に対して、実施形態2で説明した分配比が可変である光カプラ11と、波形品質測定部12と光スペクトラム解析部13の少なくとも一方のSN比を取得するSN比判定部15と、当該SN比が閾値を満たすように光カプラ11の前記分配比を変更する制御部16と、をさらに備える。
図5は、光検査装置301を使って被試験デバイス50の検査を行う光検査方法を説明するフローチャートである。本光検査方法は、
入力された光信号を光強度が不均等になるように光カプラ11で分配すること(ステップS01)、
分配された前記光信号の内の一方で波形を測定すること、且つ分配された前記光信号の内の他方で光スペクトラムを解析すること(ステップS02)、及び
前記波形及び前記光スペクトラム光スペクトラムを表示部14に表示すること(ステップS03)
を特徴とする。
前記波形と前記光スペクトラムの少なくとも一方のSN比を取得すること(ステップS11)、及び
当該SN比が閾値を満たすように前記光カプラの前記分配比を変更すること(ステップS12)、
をさらに行う。
従来、別の測定器を用いて波形品質測定および光スペクトラム解析を行っていたが、本発明の光検査装置は、1台で波形品質測定および光スペクトラム解析を同時に実施することができる。また、それぞれ異なる測定器への接続を変更することによる時間と作業工数の発生、及び接続ミスや設定ミスの可能性を排除することができる。また、本発明によれば、光サンプリングオシロスコープと、光スペクトルアナライザを組み合わせて自動的に測定しようとする際に、構成を簡素化し、測定の自動化を容易に行うことができる。さらに、本発明の光検査装置は、1筐体のため入力信号を差し直す必要がなく、カプラや光スイッチなど追加の什器が不要となり、作業者の工数や追加什器のためのコストを削減することができる。
11:光カプラ
11-1、11-2、・・・、11-n:光カプラ
11a、11b、11c:光スイッチ
12:波形品質測定部
12a:光学素子
12b:波形観測部
13:光スペクトラム解析部
13a:光学素子
13b:スペクトラム測定部
14:表示部
15:SN比判定部
16:制御部
50:被試験デバイス
301、302:光検査装置
Claims (4)
- 1つの筐体内に、
検査対象である光モジュールが着脱可能に接続され、前記光モジュールからの光が光信号として入力される入力部と、
入力された前記光信号を光強度が不均等になるように分配するために、光信号の分配比が互いに異なる複数の分岐比固定光カプラと、前記分岐比固定光カプラのいずれかを選択する光スイッチとを有する光カプラと、
分配された前記光信号の内、パワーが大きい方の光を受光する波形品質測定部と、
分配された前記光信号の内、パワーが小さい方の光を受光する光スペクトラム解析部と、
前記波形品質測定部が測定した波形及び前記光スペクトラム解析部が解析した光スペクトラムを表示する表示部と、
前記波形品質測定部と前記光スペクトラム解析部の少なくとも一方のSN比を取得するSN比判定部と、
前記分岐比固定光カプラを選択することによって、当該SN比が閾値を満たすように前記光カプラの前記分配比を変更する制御部と、
を備える光検査装置。 - 前記表示部は、前記波形及び前記光スペクトラムを並べて表示することを特徴とする請求項1に記載の光検査装置。
- 1つの筐体で構成された光検査装置に検査対象である光モジュールを接続すること、及び前記光検査装置に前記光モジュールからの光を光信号として入力すること、を行い、
前記光検査装置において、
入力された前記光信号を光強度が不均等になるように光カプラで分配すること、
分配された前記光信号の内、パワーが大きい方の光で波形を測定すること、
分配された前記光信号の内、パワーが小さい方の光で光スペクトラムを解析すること、及び
前記波形及び前記光スペクトラムを表示部に表示すること、
を特徴とする光検査方法であって、
前記光カプラは、前記光信号の分配比が互いに異なる複数の分岐比固定光カプラと、前記分岐比固定光カプラのいずれかを選択する光スイッチとを有しており、
前記波形と前記光スペクトラムの少なくとも一方のSN比を取得すること、及び
当該SN比が閾値を満たす前記分配比の前記分岐比固定光カプラを選択するように前記光スイッチを切り替えること
を特徴とする光検査方法。 - 前記表示部には、前記波形及び前記光スペクトラムを並べて表示することを特徴とする請求項3に記載の光検査方法。
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