JP7145030B2 - 測定方法及び測定装置 - Google Patents
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Description
実施形態1に係る測定装置を説明する。まず、測定装置の構成と測定原理を説明する。その後、測定装置を用いた測定方法を説明する。
実施形態1に係る測定装置の構成を説明する。図1は、実施形態1に係る測定装置を例示した斜視図である。図2は、実施形態1に係る測定装置を例示した構成図である。図2では、構成を簡潔にするため、同一平面上に光学部品を配置している。なお、他の図でも構成を簡潔にするため、適宜、同一平面上に光学部品を配置する場合がある。図1及び図2に示すように、測定装置1は、光源10、共焦点光学系20及び測定処理部41を備えている。測定装置1は、試料50の測定面51の形状を測定する。測定装置1は、例えば、共焦点光学系20を備えた共焦点顕微鏡を用いている。
次に、実施形態1に係る測定装置1において、試料50の測定面51の3次元形状を測定する原理を説明する。まず、試料50の測定面51が対物レンズ34の焦点53に位置する場合を説明する。
次に、実施形態1に係る共焦点光学系を用いた測定方法を説明する。図12は、実施形態1に係る測定方法を例示したフローチャート図である。
次に、実施形態1の変形例1を説明する。本変形例は、ナイフエッジプリズム36に代えて、四角錐の形状をしたプリズムを用いる。
次に、実施形態1の変形例2を説明する。本変形例は、バンドルファイバ39に含まれるチャンネルを、3本以外の本数とする。
次に、実施形態2に係る測定装置を説明する。実施形態2は、フォーカス検出手段が実施形態1と異なっている。実施形態2のフォーカス検出手段は、光てこ方式である。
次に、実施形態3に係る測定装置を説明する。実施形態3のフォーカス検出手段は、位置検出素子(PSD)である。
次に、実施形態4に係る測定装置を説明する。実施形態4のフォーカス検出手段は、前ピン後ピン方式である。
10 光源
11 照明光
11j 光軸
12 反射光
12j 光軸
12a 第1反射光
12aj 光軸
12b 第2反射光
20 共焦点光学系
21 アナモルフィックプリズム
22 ビームエキスバンダ
23 偏光ビームスプリッタ
24 ミラー
25 ガルバノミラーX
26、27、28、29 レンズ
31 ガルバノミラーY
32 λ/4板
33 ダイクロイックミラー
34 対物レンズ
34k 駆動部
35 可変焦点レンズ
36 ナイフエッジプリズム
36a 第1反射面
36b 第2反射面
36c 第3反射面
36d 第4反射面
36e ナイフエッジ部
37、37a、37b、37c ファイバ
39 バンドルファイバ
39a、39b、39c、39d、39e、39f、39g チャンネル
40、40a、40b 受光素子
41 測定処理部
45 ビームスプリッタ
46、46a、46b、46c レンズ
47 2分割センサ
48a、48b ビームスプリッタ
49 ミラー
50 試料
50k 駆動部
51 測定面
52 所定の部分
53 焦点
54 所定の部分
136 プリズム
Claims (18)
- 共焦点光学系を用いた測定方法であって、
試料の測定面を照明する照明光が前記測定面で反射した反射光を対物レンズにより集光するステップと、
前記対物レンズにより集光した前記反射光を、プリズムの第1反射面及び第2反射面を含む角部に入射させ、前記反射光を分割するステップと、
分割された前記反射光のうち前記第1反射面で反射した第1反射光を、前記角部に入射した前記反射光の光軸及び前記第1反射光の光軸を含む平面内において、前記第1反射光の光軸に直交した方向に並んだ第1チャンネル及び第2チャンネルを含むバンドルファイバに入射させるステップと、
前記第1反射光のうち前記第1チャンネルを透過した光の第1強度及び前記第1反射光のうち前記第2チャンネルを透過した光の第2強度を検出するステップと、
前記第1強度が前記第2強度よりも大きいか、小さいか、同じかに基づいて、前記対物レンズの焦点に対する前記測定面の位置を測定するステップと、
を備えた測定方法。 - 前記測定面を前記照明光で走査させ、前記測定面の前記第1強度及び前記第2強度の分布を取得することにより、前記測定面の3次元形状を測定するステップをさらに備えた、
請求項1に記載の測定方法。 - 前記測定面の3次元形状を測定するステップにおいて、
前記測定面における所定の部分の走査をスキップする、
請求項2に記載の測定方法。 - 前記測定面の3次元形状を測定するステップは、
前記測定面を前記照明光で走査させ、前記測定面の前記第1強度及び前記第2強度の前記分布を取得するステップと、
前記試料または前記対物レンズを前記照明光の光軸方向に間隔を空けて移動させるステップと、
を複数回繰り返し、取得した複数の前記分布に基づいて、前記測定面に前記焦点が位置したときの前記試料または前記対物レンズの位置を導出し、前記測定面の3次元形状を測定する、
請求項2または3に記載の測定方法。 - 前記照明光の光軸方向に間隔を空けて移動させるステップにおいて、
前記照明光の光軸方向における所定の部分の前記間隔を、他の部分の前記間隔よりも大きくする、
請求項4に記載の測定方法。 - 前記プリズムは、前記第1反射面及び前記第2反射面により構成されたナイフエッジ部を前記角部として有するナイフエッジプリズムであり、
前記第1チャンネル及び前記第2チャンネルは、前記第1反射光の光軸、及び、前記ナイフエッジ部の延在方向、に直交する方向に並ぶ、
請求項1~5のいずれか一項に記載の測定方法。 - 前記プリズムは、前記第1反射面、前記第2反射面の他、第3反射面及び第4反射面を側面とした四角錐の形状であり、前記四角錐の頂点を角部として有する、
請求項1~5のいずれか一項に記載の測定方法。 - 前記バンドルファイバは、前記第1チャンネルと前記第2チャンネルとの間に配置された第3チャンネルをさらに含む、
請求項1~7のいずれか一項に記載の測定方法。 - 前記バンドルファイバは、前記第1チャンネル及び前記第2チャンネルの他、少なくとも第4チャンエル、第5チャンネル、第6チャンネル、第7チャンネルが前記第3チャンネルの周りを取り囲む、
請求項8に記載の測定方法。 - 共焦点光学系と、測定処理部と、を備えた測定装置であって、
前記共焦点光学系は、
試料の測定面を照明する照明光が前記測定面で反射した反射光を集光する対物レンズと、
第1反射面及び第2反射面を含む角部を有し、前記角部に入射した前記反射光を分割するプリズムと、
分割された前記反射光のうち前記第1反射面で反射した第1反射光が入射するバンドルファイバであって、前記角部に入射した前記反射光の光軸及び前記第1反射光の光軸を含む平面内において、前記第1反射光の光軸に直交した方向に並んだ第1チャンネル及び第2チャンネルを含む前記バンドルファイバと、
前記第1反射光のうち前記第1チャンネルを透過した光の第1強度及び前記第1反射光のうち前記第2チャンネルを透過した光の第2強度を検出する受光素子と、
を含み、
前記測定処理部は、前記第1強度が前記第2強度よりも大きいか、小さいか、同じかに基づいて、前記対物レンズの焦点に対する前記測定面の位置を測定する測定装置。 - 前記測定面を前記照明光で走査させる走査部をさらに備え、
前記測定処理部は、前記測定面を前記照明光で走査させた場合の前記測定面の前記第1強度及び前記第2強度の分布を取得することにより、前記測定面の3次元形状を測定する、
請求項10に記載の測定装置。 - 前記走査部は、前記測定面における所定の部分の走査をスキップする、
請求項11に記載の測定装置。 - 前記試料または前記対物レンズを前記照明光の光軸方向に間隔を空けて複数回移動させる駆動部をさらに備え、
前記測定処理部は、前記試料または前記対物レンズを移動させる度に、前記測定面を前記照明光で走査させた場合の前記分布を取得し、
前記測定処理部は、複数の前記分布に基づいて、前記測定面に前記焦点が位置したときの前記試料または前記対物レンズの位置を導出し、前記測定面の3次元形状を測定する、
請求項11または12に記載の測定装置。 - 前記駆動部は、前記照明光の光軸方向における所定の部分の前記間隔を、他の部分の前記間隔よりも大きくする、
請求項13に記載の測定装置。 - 前記プリズムは、前記第1反射面及び第2反射面により構成されたナイフエッジ部を前記角部として有するナイフエッジプリズムであり、
前記第1チャンネル及び前記第2チャンネルは、前記第1反射光の光軸、及び、前記ナイフエッジ部の延在方向、に直交する方向に並ぶ、
請求項10~14のいずれか一項に記載の測定装置。 - 前記プリズムは、前記第1反射面、前記第2反射面の他、第3反射面及び第4反射面を側面とした四角錐の形状であり、前記四角錐の頂点を角部として有する、
請求項10~14のいずれか一項に記載の測定装置。 - 前記バンドルファイバは、前記第1チャンネルと前記第2チャンネルとの間に配置された第3チャンネルをさらに含む、
請求項10~16のいずれか一項に記載の測定装置。 - 前記バンドルファイバは、前記第1チャンネル及び前記第2チャンネルの他、少なくとも第4チャンエル、第5チャンネル、第6チャンネル、第7チャンネルが前記第3チャンネルの周りを取り囲む、
請求項17に記載の測定装置。
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050092893A1 (en) | 2003-08-08 | 2005-05-05 | Wallac Oy | Method and arrangement for focusing in an optical measurement |
JP2008152011A (ja) | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Lasertec Corp | コンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法 |
JP2010091343A (ja) | 2008-10-06 | 2010-04-22 | Hitachi High-Technologies Corp | 微小突起物検査装置 |
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