JP7136854B2 - パルス変調光計測方法、パルス変調光計測プログラム、及び光スペクトラムアナライザ - Google Patents
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しかし、レーザダイオード(LD)モジュールのような光源を用いて連続発光光を生成する場合には、例えば光源を駆動する電流を連続的に流すことにより生じる温度変化の影響により発光波長が時間の経過に伴って変動することが想定される。そこで、温度変化を抑制するために、近年では様々な分野において光源のパルス変調(発光の周期的なオンオフ)を実施してパルス状に間欠的に発光する光が用いられる傾向にある。これにより、温度変化が抑制され、発光波長が安定する。
(1) 光回折格子を備えて構成される光可変波長フィルタを含む光スペクトラムアナライザを用いて、測定対象のパルス変調光を計測するためのパルス変調光計測方法であって、
前記光可変波長フィルタを制御して0次回折光を選択し、
選択した前記0次回折光の信号を一定周期でサンプリングして、時間軸方向の光パワーレベル分布を表す第1データを取得し、
前記第1データに基づいて、少なくとも、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの時間幅およびパルス周期を取得し、
前記光可変波長フィルタを制御して0次を除く次数の回折光を選択し、
前記パルスオンの時間幅およびパルス周期に基づいて、スペクトル測定のためのサンプリングタイミングを決定し、
決定した前記サンプリングタイミングに従い、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの間にサンプリングを実施して、スペクトル測定を行う、
パルス変調光計測方法。
前記光可変波長フィルタを制御して0次回折光を選択する手順と、
選択した前記0次回折光の信号を一定周期でサンプリングして、時間軸方向の光パワーレベル分布を表す第1データを取得する手順と、
前記第1データに基づいて、少なくとも、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの時間幅およびパルス周期を取得する手順と、
前記光可変波長フィルタを制御して0次を除く次数の回折光を選択する手順と、
前記パルスオンの時間幅およびパルス周期に基づいて、スペクトル測定のためのサンプリングタイミングを決定する手順と、
決定した前記サンプリングタイミングに従い、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの間にサンプリングを実施して、スペクトル測定を行う手順と、
を含むパルス変調光計測プログラム。
前記制御部が、所定の計測モードにおいて、
前記光可変波長フィルタを制御して0次回折光を選択し、
選択した前記0次回折光の信号を一定周期でサンプリングして、時間軸方向の光パワーレベル分布を表す第1データを取得し、
前記第1データに基づいて、少なくとも、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの時間幅およびパルス周期を取得し、
前記光可変波長フィルタを制御して0次を除く次数の回折光を選択し、
前記パルスオンの時間幅およびパルス周期に基づいて、スペクトル測定のためのサンプリングタイミングを決定し、
決定した前記サンプリングタイミングに従い、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの間にサンプリングを実施して、スペクトル測定を行う、
ことを特徴とする光スペクトラムアナライザ。
上記(3)に記載の光スペクトラムアナライザ。
上記(3)又は(4)に記載の光スペクトラムアナライザ。
本発明の実施形態に係る光スペクトラムアナライザOSAの構成例を図1に示す。
本実施形態の光スペクトラムアナライザOSAがパルス変調光を計測する場合の動作例を図2に示す。すなわち、制御部16内のマイクロコンピュータが制御用ソフトウェア18に含まれる特別なプログラムを実行することにより、パルス変調光DUTの計測に適した計測処理を、図2に示した動作手順により実現する。勿論、この特別なプログラムの機能と同様の動作を専用のハードウェアで置き換えることも可能である。
(1)パルス変調光のパルスオン時間:Ton
(2)パルス変調光のパルス周期:Tp
(3)全波長帯のパルス光ピークパワー:Pp
(4)全波長帯のパルス光平均パワー:Pm
(1)波長毎の光ピークレベルPLf
(2)パルス変調光の発光波長WL
(3)パルス変調光のスペクトル幅Ws
パルス変調光DUTの波形の例を図3に示す。
図3のように、パルス変調光DUTは間欠的且つ周期的に現れる。つまり、パルスオン時間Tonの区間だけ光パワー計測値が大きくなり、それ以外の区間では光パワー計測値がほぼ0になる。そのオンオフを繰り返す周期がパルス周期Tpである。
本実施形態の光スペクトラムアナライザOSAにおける画面表示の例を図4に示す。
図4の例では、制御部16の制御(S20)により時間軸方向の光パワー分布の波形と、波長軸(周波数軸)方向の光パワー分布の波形とが同じ画面上に同時に表示されている。
[1] 光可変波長フィルタ(12)を含む光スペクトラムアナライザを用いて、測定対象のパルス変調光(DUT)を計測するためのパルス変調光計測方法であって、
前記光可変波長フィルタを制御して0次回折光を選択し(S13)、
選択した前記0次回折光の信号を一定周期でサンプリングして、時間軸方向の光パワーレベル分布を表す第1データ(D1)を取得し(S15)、
前記第1データに基づいて、少なくとも、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの時間幅(Ton)およびパルス周期(Tp)を取得し、
前記光可変波長フィルタを制御して0次を除く次数の回折光を選択し(S17)、
前記パルスオンの時間幅およびパルス周期に基づいて、スペクトル測定のためのサンプリングタイミング(tx)を決定し(S18)、
決定した前記サンプリングタイミングに従い、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの間にサンプリングを実施して、スペクトル測定を行う(S19)、
パルス変調光計測方法。
前記光可変波長フィルタを制御して0次回折光を選択する手順(S13)と、
選択した前記0次回折光の信号を一定周期でサンプリングして、時間軸方向の光パワーレベル分布を表す第1データを取得する手順(S15)と、
前記第1データに基づいて、少なくとも、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの時間幅およびパルス周期を取得する手順(S16)と、
前記光可変波長フィルタを制御して0次を除く次数の回折光を選択する手順(S17)と、
前記パルスオンの時間幅およびパルス周期に基づいて、スペクトル測定のためのサンプリングタイミングを決定する手順(S18)と、
決定した前記サンプリングタイミングに従い、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの間にサンプリングを実施して、スペクトル測定を行う手順(S19)と、
を含むパルス変調光計測プログラム。
前記制御部が、所定の計測モードにおいて、
前記光可変波長フィルタを制御して0次回折光を選択し(S13)、
選択した前記0次回折光の信号を一定周期でサンプリングして、時間軸方向の光パワーレベル分布を表す第1データを取得し(S15)、
前記第1データに基づいて、少なくとも、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの時間幅およびパルス周期を取得し(S16)、
前記光可変波長フィルタを制御して0次を除く次数の回折光を選択し(S17)、
前記パルスオンの時間幅およびパルス周期に基づいて、スペクトル測定のためのサンプリングタイミングを決定し(S18)、
決定した前記サンプリングタイミングに従い、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの間にサンプリングを実施して、スペクトル測定を行う(S19)、
ことを特徴とする光スペクトラムアナライザ。
上記[3]に記載の光スペクトラムアナライザ。
上記[3]又は[4]に記載の光スペクトラムアナライザ。
12 光可変波長フィルタ
13 光減衰器
14 受光センサ
15 受光回路
16 制御部
17 ディスプレイ
18 制御用ソフトウェア
DUT パルス変調光
OSA 光スペクトラムアナライザ
SG1,SG2,SG3 光信号
SG4,SG5 電気信号
SG6,SG7,SG8 制御信号
D1 光パワー計測値データ
Ton パルス変調光のパルスオン時間
Tp パルス変調光のパルス周期
Pp 全波長帯のパルス光ピークパワー
Pm 全波長帯のパルス光平均パワー
tx サンプリングタイミング
PLf 波長毎の光ピークレベル
WL パルス変調光の発光波長
Ws パルス変調光のスペクトル幅
Claims (5)
- 光回折格子を備えて構成される光可変波長フィルタを含む光スペクトラムアナライザを用いて、測定対象のパルス変調光を計測するためのパルス変調光計測方法であって、
前記光可変波長フィルタを制御して0次回折光を選択し、
選択した前記0次回折光の信号を一定周期でサンプリングして、時間軸方向の光パワーレベル分布を表す第1データを取得し、
前記第1データに基づいて、少なくとも、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの時間幅およびパルス周期を取得し、
前記光可変波長フィルタを制御して0次を除く次数の回折光を選択し、
前記パルスオンの時間幅およびパルス周期に基づいて、スペクトル測定のためのサンプリングタイミングを決定し、
決定した前記サンプリングタイミングに従い、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの間にサンプリングを実施して、スペクトル測定を行う、
パルス変調光計測方法。 - 光回折格子を備えて構成される光可変波長フィルタを含む光スペクトラムアナライザを用いて、測定対象のパルス変調光の計測を制御する所定のコンピュータが実行可能なパルス変調光計測プログラムであって、
前記光可変波長フィルタを制御して0次回折光を選択する手順と、
選択した前記0次回折光の信号を一定周期でサンプリングして、時間軸方向の光パワーレベル分布を表す第1データを取得する手順と、
前記第1データに基づいて、少なくとも、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの時間幅およびパルス周期を取得する手順と、
前記光可変波長フィルタを制御して0次を除く次数の回折光を選択する手順と、
前記パルスオンの時間幅およびパルス周期に基づいて、スペクトル測定のためのサンプリングタイミングを決定する手順と、
決定した前記サンプリングタイミングに従い、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの間にサンプリングを実施して、スペクトル測定を行う手順と、
を含むパルス変調光計測プログラム。 - 光回折格子を備えて構成される光可変波長フィルタ、および測定対象のパルス変調光を計測するための制御部を備えた光スペクトラムアナライザであって、
前記制御部が、所定の計測モードにおいて、
前記光可変波長フィルタを制御して0次回折光を選択し、
選択した前記0次回折光の信号を一定周期でサンプリングして、時間軸方向の光パワーレベル分布を表す第1データを取得し、
前記第1データに基づいて、少なくとも、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの時間幅およびパルス周期を取得し、
前記光可変波長フィルタを制御して0次を除く次数の回折光を選択し、
前記パルスオンの時間幅およびパルス周期に基づいて、スペクトル測定のためのサンプリングタイミングを決定し、
決定した前記サンプリングタイミングに従い、測定対象のパルス変調光におけるパルスオンの間にサンプリングを実施して、スペクトル測定を行う、
ことを特徴とする光スペクトラムアナライザ。 - 前記制御部は、前記第1データに基づいた時間軸方向の光パワーレベル分布と、前記スペクトル測定の結果に基づく周波数軸方向のスペクトル分布とを同じ画面上に同時に表示する、
請求項3に記載の光スペクトラムアナライザ。 - 受光器の信号レベルおよび周波数帯域に関する測定レンジが可変の場合に、前記制御部は、前記測定レンジを固定した後で、測定を実施して前記第1データを取得する、
請求項3又は請求項4に記載の光スペクトラムアナライザ。
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