JP7131216B2 - 表面処理システム - Google Patents
表面処理システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP7131216B2 JP7131216B2 JP2018166170A JP2018166170A JP7131216B2 JP 7131216 B2 JP7131216 B2 JP 7131216B2 JP 2018166170 A JP2018166170 A JP 2018166170A JP 2018166170 A JP2018166170 A JP 2018166170A JP 7131216 B2 JP7131216 B2 JP 7131216B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unit
- surface treatment
- image
- treatment system
- imaging
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F18/00—Pattern recognition
- G06F18/20—Analysing
- G06F18/22—Matching criteria, e.g. proximity measures
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D21/00—Processes for servicing or operating cells for electrolytic coating
- C25D21/12—Process control or regulation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
- C23C18/16—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
- C23C18/1601—Process or apparatus
- C23C18/1633—Process of electroless plating
- C23C18/1675—Process conditions
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Evolutionary Biology (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
はじめに、本発明の実施の形態1における表面処理システムについて、図1を参照して説明する。この表面処理システムは、記憶部101、表面処理部102、撮像部103、比較部104、制御部105を備える。
次に、本発明の実施の形態2における表面処理システムについて、図2を参照して説明する。この表面処理システムは、記憶部101、表面処理部102、撮像部103、比較部104a、制御部105、画像生成部106を備える。
次に、本発明の実施の形態3における表面処理システムについて、図3を参照して説明する。この表面処理システムは、記憶部101、表面処理部102、撮像部103、比較部104、制御部105、反射率測定部107、変更部108を備える。記憶部101、表面処理部102、撮像部103、比較部104、制御部105は、前述した実施の形態1と同様である。
次に、本発明の実施の形態4における表面処理システムについて、図4を参照して説明する。この表面処理システムは、記憶部101、表面処理部102、撮像部103、比較部104b、制御部105、反射率測定部107、修正部109を備える。記憶部101、表面処理部102、撮像部103、制御部105は、前述した実施の形態1と同様である。反射率測定部107は、前述した実施の形態3と同様である。
次に、本発明の実施の形態5における表面処理システムについて、図5を参照して説明する。この表面処理システムは、記憶部101a、表面処理部102、撮像部103、比較部104c、制御部105、表示制御部110、表示部111、受付部113を備える。
Claims (8)
- 処理対象の部材の表面の目的とする処理状態の画像を参照画像として記憶する記憶部と、
前記部材の表面に表面処理を施す表面処理部と、
前記表面処理部で処理されている前記部材の表面を撮像する撮像部と、
前記記憶部が記憶する参照画像と前記撮像部が撮像した画像との間の相関係数を求める比較部と、
前記比較部が求めた相関係数が設定されている値になった時点で前記表面処理部による表面処理を停止する制御部と
を備え、
前記部材は、金属部材であり、
前記表面処理部は、腐食溶液を前記金属部材の表面に噴霧する噴霧装置であり、前記制御部は、腐食溶液の噴霧を停止し、洗浄液の噴霧を開始させることを特徴とする表面処理システム。 - 請求項1記載の表面処理システムにおいて、
前記撮像部は、異なる複数の方向から前記部材の表面を撮像し、
前記記憶部は、前記撮像部が撮像する各々の方向からの画像に対応する複数の参照画像を記憶し、
前記比較部は、前記記憶部が記憶する複数の参照画像と前記撮像部が撮像した対応する画像との間の相関係数を各々求める
ことを特徴とする表面処理システム。 - 請求項1記載の表面処理システムにおいて、
前記撮像部が撮像した画像より前記部材の3次元画像を生成する画像生成部を備え、
前記比較部は、前記記憶部が記憶する参照画像と前記画像生成部が生成した3次元画像との間の相関係数を求める
ことを特徴とする表面処理システム。 - 請求項1~3のいずれか1項に記載の表面処理システムにおいて、
前記表面処理部で処理されている前記部材の表面の、設定されている波長の光の反射率を測定する反射率測定部と、
前記反射率測定部が測定した反射率を元に前記撮像部による撮像条件を変更する変更部と
を備えることを特徴とする表面処理システム。 - 請求項1~3のいずれか1項に記載の表面処理システムにおいて、
前記表面処理部で処理されている前記部材の表面の、設定されている波長の光の反射率を測定する反射率測定部と、
前記反射率測定部が測定した反射率を元に前記撮像部が撮像した画像を修正する修正部と
を備え、
前記比較部は、前記記憶部が記憶する参照画像と前記修正部が修正した画像との間の相関係数を求める
ことを特徴とする表面処理システム。 - 請求項1~5のいずれか1項に記載の表面処理システムにおいて、
前記記憶部に記憶されている参照画像は、目的とする処理状態とされた前記部材の表面を撮像した画像である
ことを特徴とする表面処理システム。 - 請求項1~5のいずれか1項に記載の表面処理システムにおいて、
前記記憶部に記憶されている参照画像は、目的とする処理状態が再現されているモデル画像である
ことを特徴とする表面処理システム。 - 請求項1~7のいずれか1項に記載の表面処理システムにおいて、
前記記憶部は、処理状態が各々異なる複数の参照画像を記憶し、
前記記憶部に記憶されている複数の参照画像を表示部に表示させる表示制御部と、
前記表示部に表示されている複数の参照画像のいずれかを選択する指示入力を受け付ける受付部と
を備え、
前記比較部は、前記受付部が受け付けた指示入力に対応する参照画像と前記撮像部が撮像した画像との間の相関係数を求める
ことを特徴とする表面処理システム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018166170A JP7131216B2 (ja) | 2018-09-05 | 2018-09-05 | 表面処理システム |
US17/271,167 US20210355597A1 (en) | 2018-09-05 | 2019-08-21 | Surface Processing System |
PCT/JP2019/032570 WO2020050024A1 (ja) | 2018-09-05 | 2019-08-21 | 表面処理システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018166170A JP7131216B2 (ja) | 2018-09-05 | 2018-09-05 | 表面処理システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020038162A JP2020038162A (ja) | 2020-03-12 |
JP7131216B2 true JP7131216B2 (ja) | 2022-09-06 |
Family
ID=69722579
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018166170A Active JP7131216B2 (ja) | 2018-09-05 | 2018-09-05 | 表面処理システム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20210355597A1 (ja) |
JP (1) | JP7131216B2 (ja) |
WO (1) | WO2020050024A1 (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005091003A (ja) | 2003-09-12 | 2005-04-07 | Omron Corp | 2次元分光装置及び膜厚測定装置 |
JP2006208333A (ja) | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Konica Minolta Sensing Inc | 目視感評価方法並びにシステム、メタリック塗装面評価装置、その動作プログラム及びメタリック塗装面の目視感評価方法 |
JP2007326062A (ja) | 2006-06-09 | 2007-12-20 | Fujifilm Corp | 成膜装置及び成膜方法 |
JP2012169592A (ja) | 2011-01-28 | 2012-09-06 | Kyushu Institute Of Technology | 弾性操作で駆動するスピンデバイス |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4986664A (en) * | 1984-02-07 | 1991-01-22 | International Technical Associates | System and process for controlled removal of material to produce a desired surface contour |
JPS60169600A (ja) * | 1984-02-13 | 1985-09-03 | Victor Co Of Japan Ltd | メツキ方法 |
JPS61117404A (ja) * | 1984-11-14 | 1986-06-04 | Toshiba Corp | 膜厚測定装置 |
US5208766A (en) * | 1990-11-13 | 1993-05-04 | Hughes Aircraft Company | Automated evaluation of painted surface quality |
WO1995024279A1 (fr) * | 1994-03-10 | 1995-09-14 | Ishikawa, Toshiharu | Dispositif d'enlevement de pellicule |
JP3353456B2 (ja) * | 1994-05-30 | 2002-12-03 | 住友金属工業株式会社 | 下地処理のオンライン管理方法 |
JPH0926399A (ja) * | 1995-07-11 | 1997-01-28 | Sekisui Chem Co Ltd | 塗装外観検査装置 |
CN103718007B (zh) * | 2011-06-07 | 2016-10-26 | 株式会社隆创 | 测量装置、测量***、使用测量***的测量位置对齐方法和测量位置对齐程序 |
-
2018
- 2018-09-05 JP JP2018166170A patent/JP7131216B2/ja active Active
-
2019
- 2019-08-21 US US17/271,167 patent/US20210355597A1/en active Pending
- 2019-08-21 WO PCT/JP2019/032570 patent/WO2020050024A1/ja active Application Filing
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005091003A (ja) | 2003-09-12 | 2005-04-07 | Omron Corp | 2次元分光装置及び膜厚測定装置 |
JP2006208333A (ja) | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Konica Minolta Sensing Inc | 目視感評価方法並びにシステム、メタリック塗装面評価装置、その動作プログラム及びメタリック塗装面の目視感評価方法 |
JP2007326062A (ja) | 2006-06-09 | 2007-12-20 | Fujifilm Corp | 成膜装置及び成膜方法 |
JP2012169592A (ja) | 2011-01-28 | 2012-09-06 | Kyushu Institute Of Technology | 弾性操作で駆動するスピンデバイス |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2020050024A1 (ja) | 2020-03-12 |
US20210355597A1 (en) | 2021-11-18 |
JP2020038162A (ja) | 2020-03-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Molina et al. | On the detection of defects on specular car body surfaces | |
US7365860B2 (en) | System capable of determining applied and anodized coating thickness of a coated-anodized product | |
US20090244552A1 (en) | Method for Forming and Measuring the Thickness of a Coating | |
JP2588297B2 (ja) | 塗装表面の鮮映性評価方法 | |
EP0486219A2 (en) | Automated evaluation of painted surface quality | |
Stemp et al. | Testing area‐scale fractal complexity (A sfc) and laser scanning confocal microscopy (LSCM) to document and discriminate microwear on experimental quartzite scrapers | |
JP7131216B2 (ja) | 表面処理システム | |
CN113252567A (zh) | 铝阀板表面多种缺陷快速检测方法、***、介质、终端 | |
Chiba et al. | Feedback projection for 3D measurements under complex lighting conditions | |
Wang et al. | Highly reflective surface measurement based on dual stereo monocular structured light system fusion | |
Qin et al. | Influence of the sampling density on the noise level in displacement and strain maps obtained by processing periodic patterns | |
EP1896792A2 (en) | Method and system for measuring the curvature of an optical surface | |
KR20170067079A (ko) | 얼룩결함 검사장치 및 얼룩결함 검사방법 | |
US20170208255A1 (en) | System for assessing the visual appearance of a reflective surface | |
US7274463B2 (en) | Anodizing system with a coating thickness monitor and an anodized product | |
CN116703906B (zh) | 基于图像处理的金属件打磨质量检测方法 | |
Molleda et al. | Shape measurement of steel strips using a laser-based three-dimensional reconstruction technique | |
US10929993B2 (en) | Automated imaging system for evaluating the curl of a keratinous substrate | |
KR20100111536A (ko) | 표면 밝기 분포의 분산 산출 알고리즘을 이용한 대상물 표면의 영상 검사방법 | |
CN118115040A (zh) | 一种装饰纸喷涂质量评估方法及*** | |
CN113092486B (zh) | 一种适于高光面产品表面水波纹检测的方法 | |
Parker | A robust machine vision system design to facilitate the automation of surface appearance inspections | |
Böhm et al. | Investigation of chatter marks on ground surfaces by means of optical methods | |
CN114397151A (zh) | 一种板材表面质量控制方法、装置、设备及存储介质 | |
Tezcan et al. | Development of a Laboratory Type Glass Anomaly Detection System |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210105 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220201 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220311 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220726 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220808 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7131216 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |