JP7101016B2 - Power circuits and electronics - Google Patents
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Description
開示の実施形態は、電源回路および電子装置に関する。 The disclosed embodiments relate to power circuits and electronic devices.
従来、過電圧が入力端子に入力された場合に、NチャンネルMOSFETのゲート電圧をツェナー電圧でクランプする電源回路が知られている(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, a power supply circuit that clamps the gate voltage of an N-channel MOSFET with a Zener voltage when an overvoltage is input to an input terminal is known (see, for example, Patent Document 1).
しかしながら、上記電源回路では、過電圧が入力されてからNチャンネルMOSFETのゲート電圧をツェナー電圧でクランプする際に、ツェナーダイオードにおいて降伏が始まるまでの応答遅れによって出力電圧がオーバーシュートするおそれがある。 However, in the power supply circuit, when the gate voltage of the N-channel MOSFET is clamped by the Zener voltage after the overvoltage is input, the output voltage may overshoot due to the response delay until the breakdown starts in the Zener diode.
実施形態の一態様は、上記に鑑みてなされたものであって、過電圧が入力端子に入力された場合に、出力電圧がオーバーシュートすることを抑制する電源回路および電子装置を提供することを目的とする。 One aspect of the embodiment is made in view of the above, and an object thereof is to provide a power supply circuit and an electronic device for suppressing overshoot of an output voltage when an overvoltage is input to an input terminal. And.
実施形態の一態様に係る電源回路は、MOSFETと、ツェナーダイオードと、ダイオードと、入力電圧印加部とを備える。MOSFETは、入力側にドレインが接続され、かつ電圧変換回路側にソースが接続される。ツェナーダイオードは、MOSFETのゲートと基準電位との間に設けられる。ダイオードは、MOSFETのゲートとツェナーダイオードとの間に設けられる。入力電圧印加部は、入力電圧をダイオードとツェナーダイオードとの間に印加する。 The power supply circuit according to one embodiment includes a MOSFET, a Zener diode, a diode, and an input voltage application unit. In the MOSFET, the drain is connected to the input side and the source is connected to the voltage conversion circuit side. The Zener diode is provided between the gate of the MOSFET and the reference potential. The diode is provided between the gate of the MOSFET and the Zener diode. The input voltage application unit applies an input voltage between the diode and the Zener diode.
実施形態の一態様によれば、過電圧が入力端子に入力された場合に、出力電圧がオーバーシュートすることを抑制することができる。 According to one aspect of the embodiment, it is possible to prevent the output voltage from overshooting when an overvoltage is input to the input terminal.
以下、添付図面を参照して、本願の開示する電源回路および電子装置を説明する。なお、以下に示す実施形態によりこの発明が限定されるものではない。 Hereinafter, the power supply circuit and the electronic device disclosed in the present application will be described with reference to the accompanying drawings. The present invention is not limited to the embodiments shown below.
図1は、実施形態に係る電子装置100の構成を示す図である。電子装置100は、例えば、ドライブレコーダーや、カーナビゲーション装置である。電子装置100は、バッテリーである直流電源110から電源回路1を介して電力が供給される。電源回路1は、直流電源110から入力された入力電圧Vinを、電圧変換回路10(図2参照)によって大きさが異なる出力電圧Voutに変換し、変換した出力電圧Voutを、例えば、電子装置100のマイクロコンピュータ101などに出力する。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an electronic device 100 according to an embodiment. The electronic device 100 is, for example, a drive recorder or a car navigation device. The electronic device 100 is supplied with electric power from a
次に、実施形態に係る電源回路1について図2を参照し説明する。図2は、実施形態に係る電源回路1の構成を示す図である。電源回路1は、電圧変換回路10と、過電圧保護回路11とを備える。
Next, the
電圧変換回路10は、フィルタ20と、DC/DCコンバータ30とを備える。フィルタ20は、コイル21とコンデンサ22とを有し、過電圧保護回路11から出力される直流電圧Vin1に含まれるノイズ成分を除去する。なお、フィルタ20は、図2に示すLCフィルタに限定されない。
The
DC/DCコンバータ30は、フィルタ20を介して入力される直流電圧Vin1を降圧して出力電圧Voutを生成する。生成された出力電圧Voutは、出力端子T2から出力される。DC/DCコンバータ30は、MOSFET31、32(例えば、NチャネルMOSFET)と、コイル33と、コンデンサ34と、制御部35とを備える。
The DC / DC converter 30 steps down the DC voltage Vin1 input via the
なお、DC/DCコンバータ30は、複数設けられ、電圧が異なる出力電圧Voutを生成してもよい。また、ここでは、直流電圧Vin1を降圧して出力電圧Voutを生成するDC/DCコンバータ30を一例として説明したが、DC/DCコンバータ30は、直流電圧Vin1を昇圧して出力電圧Voutを生成してもよい。 A plurality of DC / DC converters 30 may be provided to generate output voltages Vout having different voltages. Further, here, the DC / DC converter 30 that lowers the DC voltage Vin1 to generate the output voltage Vout has been described as an example, but the DC / DC converter 30 boosts the DC voltage Vin1 to generate the output voltage Vout. You may.
制御部35は、MOSFET31とMOSFET32とを交互にオン/オフする。MOSFET31がオンになると、コイル33にエネルギーが蓄積され、MOSFET32がオンになると、コイル33に蓄積されたエネルギーがコンデンサ34に出力される。制御部35は、出力電圧Voutが設定値になるように、MOSFET31、32のオン/オフ時間を調整する。
The
また、制御部35は、過電圧、例えば、正電圧サージが入力端子T1に入力され、後述するトランジスタ48がオンになった場合に、DC/DCコンバータ30を停止させ、電圧変換を停止させる。制御部35は、停止部を構成する。
Further, when an overvoltage, for example, a positive voltage surge is input to the input terminal T1 and the
過電圧保護回路11は、NチャンネルMOSFET(以下、NMOSFETと称する。)40と、ツェナーダイオード41と、スイッチングダイオード42、43と、抵抗44、45と、コンデンサ46と、整流用ダイオード47と、トランジスタ48と、第1電圧印加部49と、第2電圧印加部50とを備える。
The
NMOSFET40のドレインは入力端子T1に接続され、NMOSFET40のソースは電圧変換回路10の入力側に接続される。NMOSFET40のゲートとグランド電位(基準電位)との間には、スイッチングダイオード43、ツェナーダイオード41および抵抗45と、コンデンサ46とが並列に配置される。スイッチングダイオード43、ツェナーダイオード41および抵抗45は、直列に配置される。
The drain of the NHPLC 40 is connected to the input terminal T1, and the source of the NHPLC 40 is connected to the input side of the
スイッチングダイオード43は、アノードがNMOSFET40のゲートに接続され、カソードがツェナーダイオード41のカソードに接続される。スイッチングダイオード43は、第1電圧印加部49から印加される電圧によってコンデンサ46や、NMOSFET40のゲートなどに電流が流れることを抑制する。スイッチングダイオード43は、過電圧、例えば、サージ電圧が発生した場合に、コンデンサ46とツェナーダイオード41とを分離する機能を有する。
In the
ツェナーダイオード41は、アノードが抵抗45の一端に接続される。抵抗45の他端は、グランド電位に接続される。
The anode of the Zener
トランジスタ48は、抵抗45の両端電圧がトランジスタ48の閾値電圧以上になった場合に、オンになる。そのため、例えば、正電圧サージが発生した場合にツェナーダイオード41に流れる電流によってトランジスタ48をオンにするように抵抗45の値を調整することで、正電圧サージの発生を容易に検出することができる。
The
例えば、入力電圧Vinが、ツェナー電圧Vzとスイッチングダイオード42の順方向電圧Vf1との電圧Ve(=Vz+Vf1)よりも高い電圧である場合、入力電圧Vinと電圧Veとの差電圧に応じた電流が、第1電圧印加部49の抵抗49aと抵抗45に流れる。したがって、例えば、抵抗49aと抵抗45との比を適切に調節することで、正電圧サージの発生を適切に検出することができる。
For example, when the input voltage Vin is higher than the voltage Ve (= Vz + Vf1) between the Zener voltage Vz and the forward voltage Vf1 of the
このように、ツェナーダイオード41、抵抗45およびトランジスタ48は、過電圧検出回路(過電圧検出部)として機能する。過電圧検出回路により、制御部35、および電源回路1を有する電子装置100の制御部(例えば、図1に示すマイクロコンピュータ101)に対して過電圧、例えば、正電圧サージの発生を容易に通知することができる。
In this way, the Zener
なお、過電圧検出回路は、抵抗45およびトランジスタ48を有するものに限定されない。例えば、過電圧検出回路は、ツェナーダイオード41に流れる電流を検出する磁電変換素子や電流トランスを用いてもよい。磁電変換素子は、例えば、ホール素子などである。なお、過電圧検出回路を抵抗45およびトランジスタ48によって構成することで、過電圧検出回路を磁電変換素子や電流トランスにより構成する場合に比べ、過電圧検出回路を低コストかつ簡易に構成することができる。
The overvoltage detection circuit is not limited to the one having the
スイッチングダイオード42および抵抗44は、NMOSFET40のドレインとゲートとの間に設けられる。スイッチングダイオード42および抵抗44は、直列に配置される。
The
スイッチングダイオード42は、アノードがNMOSFET40のドレインに接続され、カソードが抵抗44の一端に接続される。抵抗44の他端は、NMOSFET40のゲートに接続される。なお、抵抗44の他端は、スイッチングダイオード43のアノード、およびコンデンサ46に接続される。
In the
スイッチングダイオード42は、第2電圧印加部50から印加される電圧によって抵抗44を介して入力端子T1側に電流が流れることを抑制する。
The switching
整流用ダイオード47は、負電圧サージに対する保護素子であり、負電圧サージが入力端子T1に印加された場合であっても電圧変換回路10が故障することを避けることができる。
The rectifying
第1電圧印加部49は、抵抗49aを備える。第1電圧印加部49は、入力電圧Vinをツェナーダイオード41に印加する。抵抗49aの一端は、スイッチングダイオード42と抵抗44との間に接続され、抵抗49aの他端は、スイッチングダイオード43とツェナーダイオード41との間に接続される。すなわち、抵抗49aの一端は、スイッチングダイオード42のカソードに接続され、抵抗49aの他端は、ツェナーダイオード41のカソード、およびスイッチングダイオード43のカソードに接続される。第1電圧印加部49は、入力電圧印加部を構成する。
The first
なお、過電圧、例えば、正電圧サージが発生していない場合には、入力電圧Vinは、ツェナー電圧Vzよりも低く、ツェナーダイオード41に流れる電流は小さい。
When an overvoltage, for example, a positive voltage surge is not generated, the input voltage Vin is lower than the Zener voltage Vz, and the current flowing through the
第2電圧印加部50は、スイッチングダイオード60、61と、コンデンサ62と、抵抗63とを備える。第2電圧印加部50は、入力電圧Vinよりも高い電圧をNMOSFET40のゲートに印加する。第2電圧印加部50は、ゲート電圧印加部を構成する。
The second
スイッチングダイオード60およびコンデンサ62は、DC/DCコンバータ30のスイッチング作用を利用して昇圧回路として機能する。
The switching
昇圧回路によって昇圧された電圧は、スイッチングダイオード61、および抵抗63を介してNMOSFET40のゲートに印加される。これにより、入力電圧Vinよりも高い電圧がNMOSFET40のゲートに印加される。
The voltage boosted by the booster circuit is applied to the gate of the
MOSFET31がオフ、かつMOSFET32がオンの場合には、第2電圧印加部50では、コンデンサ62の一端がグランド電位に接続されるため、コンデンサ62の一端電圧Vc1は0V(グランド電位)になる。
When the
一方、コンデンサ62の他端にはスイッチングダイオード60を介して出力電圧Voutが印加される。そのため、コンデンサ62の他端電圧Vc2は、出力電圧Voutとスイッチングダイオード60の順方向電圧Vf2との差電圧Vdif1(=Vout-Vf2)と同じ電圧になる。したがって、コンデンサ62の両端電圧Vcは、差電圧Vdif1と同じ電圧になる。
On the other hand, an output voltage Vout is applied to the other end of the
その後、MOSFET31がオン、かつMOSFET32がオフになった場合には、第2電圧印加部50では、コンデンサ62の一端にはMOSFET31を介して直流電圧Vin1が印加される。そのため、コンデンサ62の一端電圧Vc1は、直流電圧Vin1と同じ電圧になる。また、コンデンサ62の両端電圧Vcは差電圧Vdif1と同じ電圧であるため、コンデンサ62の一端電圧Vc1が直流電圧Vin1になると、コンデンサ62の他端電圧Vc2は、Vc2=Vin1+Vout-Vf2と表すことができる。
After that, when the
MOSFET31、32のオン/オフは、制御部35によって所定のスイッチング周期で繰り返し行われることから、コンデンサ62の他端電圧Vc2は、電圧VA(=Vout-Vf2)と電圧VB(=Vin1+Vout-Vf2)との間で交互に変更される。従って、ツェナーダイオード41のカソードには、MOSFET31、32のオン/オフの周期で、電圧Va(=VA-Vf3-Vf4)と電圧Vb(=VB-Vf3-Vf4)とが交互に印加される。なお、Vf3は、スイッチングダイオード61の順方向電圧であり、Vf4は、スイッチングダイオード43の順方向電圧である。
Since the on / off of the
ツェナーダイオード41のカソードには、スイッチングダイオード43を介してコンデンサ46が接続されており、電圧Vaおよび電圧Vbがツェナー電圧Vzよりも低い場合には、ツェナーダイオード41に流れる電流は小さい。そのため、コンデンサ46によってツェナーダイオード41のカソード側電圧は、ほぼ電圧Vb(=Vin1+Vout-Vf2-Vf3-Vf4)になり、入力電圧Vinよりも高い電圧をNMOSFET40のゲートへ印加することができる。なお、Vin<(Vin1+Vout1-Vf2-Vf3-Vf4)であるものとする。
A
このように、第2電圧印加部50は、入力電圧Vinよりも高い電圧をNMOSFET40のゲートに印加することで、NMOSFET40を飽和状態にすることができ、NMOSFET40の損失を低下させることができる。
As described above, the second
次に、過電圧、例えば、正電圧サージが発生した場合の電源回路1の動作について説明する。ここでは、まず、実施形態の第1電圧印加部49およびスイッチングダイオード43を有していない比較例の電源回路200の動作について説明する。
Next, the operation of the
比較例の電源回路200は、図3に示すように、ツェナーダイオード41のカソードがNMOSFET40のゲートに接続される。図3は、比較例に係る電源回路200の構成を示す図である。
In the
比較例の電源回路200の動作について図4を参照し説明する。図4は、過電圧が発生した場合における比較例の電源回路の動作状態を示す図である。図4では、NMOSFET40のゲート電圧VGを実線で示し、NMOSFET40の出力電圧である直流電圧Tin1(以下、クランプ出力電圧と称する。)を一点鎖線で示し、ツェナーダイオード41の電圧Vdを二点鎖線で示す。
The operation of the
比較例の電源回路200では、時間t0において、正電圧サージが発生した場合には、スイッチングダイオード42および抵抗44を介して入力電圧Vinがコンデンサ46に印加される。これにより、コンデンサ46が充電され、ゲート電圧VG、クランプ出力電圧Vin1、およびツェナーダイオード41の電圧Vdが、高くなる。
In the
そして、時間t1において、ツェナーダイオード41の電圧Vdが所定電圧Vtになるとツェナーダイオード41の降伏が開始される。所定電圧Vtは、ツェナー電圧Vzよりも高い電圧であり、ツェナーダイオード41で降伏が開始される電圧である。
Then, at time t1, when the voltage Vd of the
ツェナーダイオード41は、ツェナー電圧Vzよりも高い所定電圧Vtが印加されないと、降伏が開始されない。すなわち、ツェナーダイオード41が降伏を開始する際に、ツェナーダイオード41の電圧Vdは、応答遅れにより、ツェナー電圧Vzに対してオーバーシュートが発生する。
The
比較例の電源回路200では、正電圧サージが発生した場合に、ゲート電圧VGは、VG=Vbe+Vdと表され、ツェナーダイオード41の電圧Vdに基づいてクランプされる。なお、Vbeは、トランジスタ48のベータとエミッタ間の電圧である。また、クランプ出力電圧Vin1は、Vin=VG-Vthと表すことができる。なお、Vthは、NMOSFET40における閾値電圧である。
In the
そのため、ツェナーダイオード41の電圧Vdのオーバーシュートに応じて、ゲート電圧VG、およびクランプ出力電圧Vin1にも、オーバーシュートが発生する。オーバーシュートが発生することで、電源回路200が劣化するおそれがある。例えば、クランプ出力電圧Vin1とDC/DCコンバータ30の絶対最大定格との間にマージンが無い場合には、クランプ出力電圧Vin1がオーバーシュートすることで、DC/DCコンバータ30に絶対最大定格よりも高い電圧が印加される。これにより、DC/DCコンバータ30が劣化するおそれがある。
Therefore, overshoot occurs in the gate voltage VG and the clamp output voltage Vin1 according to the overshoot of the voltage Vd of the
また、時間t1において、トランジスタ48がオンになり、制御部35によってDC/DCコンバータ30が停止される。そのため、NMOSFET40のドレイン電流が低下する。
Further, at time t1, the
比較例の電源回路200では、DC/DCコンバータ30が停止するまでの間に、DC/DCコンバータ30に流れる電流と、クランプ出力電圧Vin1の上昇に伴うコンデンサ22への充電電流との合算電流がNMOSFET40に流れる。
In the
NMOSFET40における損失は、NMOSFET40に流れる電流にNMOSFET40のドレイン-ソースの間の電圧VDGを乗算した値となる。従って、比較例の電源回路200では、正電圧サージが発生してからDC/DCコンバータ30が停止するまでのNMOSFET40における損失が大きくなる。
The loss in the
オーバーシュートしたゲート電圧VGおよびクランプ出力電圧Vin1は、時間が経過すると低下し、時間t2においてツェナー電圧Vzに基づいた電圧となる。 The overshooted gate voltage VG and clamp output voltage Vin1 decrease with time, and become a voltage based on the Zener voltage Vz at time t2.
しかしながら、DC/DCコンバータ30が停止しているため、クランプ出力電圧Vin1でオーバーシュートが発生すると、ツェナー電圧Vzに基づいた電圧となるまでの時間が長くなる。そのため、比較例の電源回路200は、オーバーシュートが発生した状態が長くなり、電源回路200が劣化するおそれがある。
However, since the DC / DC converter 30 is stopped, if an overshoot occurs at the clamp output voltage Vin1, it takes a long time to reach a voltage based on the Zener voltage Vz. Therefore, in the
次に、実施形態の電源回路1の動作について図5を参照し説明する。図5は、過電圧が発生した場合における実施形態の電源回路1の動作状態を示す図である。図5では、図4と同様にNMOSFET40のゲート電圧VGを実線で示し、クランプ出力電圧Vin1を一点鎖線で示し、ツェナーダイオード41の電圧Vdを二点鎖線で示す。
Next, the operation of the
実施形態の電源回路1では、時間t0において、正電圧サージが発生した場合には、正電圧サージによる入力電圧Vinが第1電圧印加部49によってツェナーダイオード41に直接印加される。
In the
そのため、ツェナーダイオード41は、正電圧サージによる電圧が印加され、ツェナーダイオード41の電圧Vdが所定電圧Vtになると降伏を開始する。そして、その後、ツェナーダイオード41の電圧Vdは、ツェナー電圧Vzに維持される。このように、実施形態の電源回路1では、正電圧サージが発生すると、ツェナーダイオード41の電圧Vdは、すぐにツェナー電圧Vzに維持される。
Therefore, the
また、実施形態の電源回路1では、スイッチングダイオード42および抵抗44を介して入力電圧Vinがコンデンサ46に印加され、NMOSFET40のゲート電圧VG、およびクランプ出力電圧Vin1は、コンデンサ46の充電に伴い高くなる。
Further, in the
また、時間t0において、トランジスタ48がオンになり、DC/DCコンバータ30が停止する。DC/DCコンバータ30が停止することで、DC/DCコンバータ30に電流が流れないため、比較例の電源回路200に対して、ドレイン電流が低下する。なお、DC/DCコンバータ30が停止した後も、クランプ出力電圧Vin1の上昇に伴いコンデンサ22への充電電流が流れるため、ドレイン電流はゼロとはならない。
Further, at time t0, the
実施形態の電源回路1は、正電圧サージが発生した場合に、DC/DCコンバータ30を早期に停止させることで、NMOSFET40に流れる電流を低下させて、NMOSFET40における損失を低下させることができる。
In the
そして、時間t1において、NMOSFET40のゲート電圧VGがツェナーダイオード41の電圧Vdに基づいた電圧まで高くなると、NMOSFET40のゲート電圧VGは、VG=Vbe+Vd+Vf4となり、クランプ出力電圧Vin1(=VG-Vth)は、ツェナーダイオード41の電圧Vdに基づいてクランプされる。ここではツェナーダイオード41の電圧Vdは、ツェナー電圧Vzとなり、すでに安定した状態となっており、クランプ出力電圧Vin1は、ツェナー電圧Vzに基づいてクランプされる。そのため、比較例の電源回路200のようなオーバーシュートは発生しない。
Then, at time t1, when the gate voltage VG of the
そのため、実施形態の電源回路1は、クランプ出力電圧Vin1のオーバーシュートを抑制し、電源回路1の劣化、例えば、DC/DCコンバータ30の劣化を抑制することができる。
Therefore, the
なお、実施形態の電源回路1は、図5に示すクランプ出力電圧Vin1の上昇速度、すなわちクランプ出力電圧Vin1の傾きを小さくすることで、NMOSFET40における損失を小さくすることができる。これは、クランプ出力電圧の上昇速度を小さくすることで、コンデンサ22の充電電流を小さくすることができるためである。クランプ出力電圧Vin1の上昇速度は、抵抗44の抵抗値、およびコンデンサ46の静電容量を調整することで変更することができる。
In the
これに対し、比較例の電源回路200では、クランプ出力電圧Vin1の上昇速度を小さくすると、トランジスタ48がオンになるまでの時間が長くなり、DC/DCコンバータ30が停止するまでの時間が長くなる。そのため、NMOSFET40における損失が大きくなる。
On the other hand, in the
実施形態の電源回路1では、時間t0においてDC/DCコンバータ30が停止するため、比較例の電源回路200のように、クランプ出力電圧Vin1の上昇速度を小さくすることで、NMOSFET40における損失が大きくなることはない。従って、実施形態の電源回路1は、クランプ出力電圧Vin1の上昇速度を小さくすることで、NMOSFET40における損失を低下させることができる。
In the
次に、実施形態における効果について説明する。 Next, the effect in the embodiment will be described.
電源回路1は、NMOSFET40のゲートとグランド電位との間にツェナーダイオード41を設け、ツェナーダイオード41とNMOSFET40のゲートとの間にスイッチングダイオード43を設ける。また、電源回路1は、スイッチングダイオード43とツェナーダイオード41との間に入力電圧Vinを印加する第1電圧印加部49を設ける。
The
これにより、過電圧、例えば、正電圧サージが発生した場合に、電源回路1は、第1電圧印加部49により入力電圧Vinをツェナーダイオード41に印加し、ツェナーダイオード41の電圧Vdをツェナー電圧Vzにすぐに維持することができる。そのため、電源回路1は、ツェナーダイオード41の電圧Vdに基づいてクランプ出力電圧Vin1をクランプする場合に、ツェナーダイオード41の応答遅れによるクランプ出力電圧Vin1のオーバーシュートを抑制することができる。従って、電源回路1は、例えば、DC/DCコンバータ30の劣化を抑制し、DC/DCコンバータ30を保護することができる。
As a result, when an overvoltage, for example, a positive voltage surge occurs, the
また、電源回路1は、NMOSFET40のゲートとグランド電位との間にコンデンサ46を設ける。コンデンサ46は、スイッチングダイオード43、およびツェナーダイオード41に対して並列に配置される。
Further, the
これにより、電源回路1は、過電圧、例えば、正電圧サージが発生した場合に、クランプ出力電圧Vin1を安定させ、DC/DCコンバータ30を保護することができる。
As a result, the
また、電源回路1は、第1電圧印加部49によって入力電圧Vinをツェナーダイオード41に印加し、ツェナーダイオード41に流れる電流に基づいて過電圧を検出し、過電圧が検出された場合に、DC/DCコンバータ30を停止させる。
Further, the
これにより、電源回路1は、過電圧が発生した場合に、DC/DCコンバータ30を素早く停止させて、NMOSFET40に流れる電流を低下させて、NMOSFET40における損失を低下させることができる。
As a result, when an overvoltage occurs, the
電源回路1は、第2電圧印加部50によって入力電圧Vinよりも高い電圧をNMOSFET40のゲートに印加する。
The
これにより、電源回路1は、NMOSFET40を飽和状態にすることができ、NMOSFET40の損失を低下させることができる。
As a result, the
変形例に係る電源回路1は、ツェナーダイオード41の温度に対する電圧特性を補償するように、スイッチングダイオード43を設ける。スイッチングダイオード43は、温度が高くなるにつれて電圧が低くなる。また、ツェナーダイオード41は、温度が高くなるにつれて電圧が高くなる。そのため、変形例に係る電源回路1は、ツェナーダイオード41の温度に対する電圧特性をキャンセルするようなスイッチングダイオード43を設ける。これにより、変形例に係る電源回路1は、温度変化の影響を抑制することができる。
The
また、変形例に係る電源回路1は、複数のスイッチングダイオード43を直列に接続する。これにより、変形例に係る電源回路1は、直列に接続するスイッチングダイオード43の数を変更することでツェナーダイオード41の温度に対する電圧特性を補償することができる。そのため、変形例に係る電源回路1は、例えば、汎用のスイッチングダイオードを用いて、ツェナーダイオード41の温度に対する電圧特性を補償することができる。
Further, in the
さらなる効果や変形例は、当業者によって容易に導き出すことができる。このため、本発明のより広範な態様は、以上のように表しかつ記述した特定の詳細および代表的な実施形態に限定されるものではない。従って、添付の特許請求の範囲およびその均等物によって定義される総括的な発明の概念の精神または範囲から逸脱することなく、様々な変更が可能である。 Further effects and variations can be easily derived by those skilled in the art. For this reason, the broader aspects of the invention are not limited to the particular details and representative embodiments described and described above. Thus, various modifications can be made without departing from the spirit or scope of the overall concept of the invention as defined by the appended claims and their equivalents.
1 電源回路
10 電圧変換回路
11 過電圧保護回路
30 DC/DCコンバータ
35 制御部
40 NチャンネルMOSFET
41 ツェナーダイオード(過電圧検出部)
43 スイッチングダイオード
45 抵抗(過電圧検出部)
46 コンデンサ
48 トランジスタ(過電圧検出部)
49 第1電圧印加部(入力電圧印加部)
50 第2電圧印加部(ゲート電圧印加部)
100 電子装置
1
41 Zener diode (overvoltage detector)
43
46
49 First voltage application section (input voltage application section)
50 Second voltage application part (gate voltage application part)
100 electronic devices
Claims (7)
前記MOSFETのゲートと基準電位との間に設けられたツェナーダイオードと、
前記ツェナーダイオードに対して並列に接続されるコンデンサと、
前記MOSFETのゲートと前記ツェナーダイオードとの間に設けられたダイオードと、
入力電圧を前記ダイオードと前記ツェナーダイオードとの間に印加する入力電圧印加部と
を備えることを特徴とする電源回路。 A MOSFET with a drain connected to the input side and a source connected to the voltage conversion circuit side,
A Zener diode provided between the gate of the MOSFET and the reference potential,
A capacitor connected in parallel to the Zener diode and
A diode provided between the gate of the MOSFET and the Zener diode,
A power supply circuit including an input voltage application unit that applies an input voltage between the diode and the Zener diode.
ことを特徴とする請求項1に記載の電源回路。 The capacitor is parallel to the diode and the Zener diode and is provided between the gate of the MOSFET and the reference potential .
The power supply circuit according to claim 1.
前記過電圧が検出された場合に、前記電圧変換回路における電圧変化を停止させる停止部と
を備えることを特徴とする請求項1または2に記載の電源回路。 An overvoltage detector that detects the occurrence of overvoltage based on the current flowing through the Zener diode, and
The power supply circuit according to claim 1 or 2, further comprising a stop portion for stopping a voltage change in the voltage conversion circuit when the overvoltage is detected.
ことを特徴とする請求項1~3のいずれか一つに記載の電源回路。 The power supply circuit according to any one of claims 1 to 3, wherein the diode is provided so as to compensate for the voltage characteristic with respect to the temperature of the Zener diode.
ことを特徴とする請求項4に記載の電源回路。 The power supply circuit according to claim 4, wherein a plurality of the diodes are connected in series.
を備えることを特徴とする請求項1~5のいずれか一つに記載の電源回路。 The power supply circuit according to any one of claims 1 to 5, further comprising a gate voltage application unit that applies a voltage higher than the input voltage to the gate of the MOSFET.
ことを特徴とする電子装置。 An electronic device comprising the power supply circuit according to any one of claims 1 to 6.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007193458A (en) | 2006-01-18 | 2007-08-02 | Fujitsu Ten Ltd | Power supply circuit |
JP2007267537A (en) | 2006-03-29 | 2007-10-11 | Renesas Technology Corp | Semiconductor integrated circuit and electronic system |
WO2016060541A1 (en) | 2014-10-15 | 2016-04-21 | O.Y.L. Technology Sdn Bhd | Overvoltage protection |
JP2017112738A (en) | 2015-12-16 | 2017-06-22 | 富士通テン株式会社 | Power source circuit and electronic device having the same |
-
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JP2007267537A (en) | 2006-03-29 | 2007-10-11 | Renesas Technology Corp | Semiconductor integrated circuit and electronic system |
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