JP7058194B2 - socket - Google Patents

Description

本開示は、被検査部材と配線基板とを電気的に接続するためのソケットに関する。 The present disclosure relates to a socket for electrically connecting a member to be inspected and a wiring board.

従来、ＩＣパッケージなどの被検査部材の試験（例えば、バーンイン試験）を行う際、被検査部材と配線基板とを電気的に接続するため、ソケットが用いられている。 Conventionally, when testing a member to be inspected such as an IC package (for example, a burn-in test), a socket has been used to electrically connect the member to be inspected and a wiring board.

特許文献１には、ソケット本体と、ＩＣパッケージを収容するフローティングと、ソケット本体に固定され、かつ、フローティングに収容されたＩＣパッケージのリード端子と接触する接触片を有するコンタクトピンと、を備えたソケットが記載されている。 Patent Document 1 includes a socket body, a floating that houses an IC package, and a contact pin that is fixed to the socket body and has a contact piece that comes into contact with a lead terminal of the IC package housed in the floating. Is described.

このソケットでは、フローティングの位置決め孔がソケット本体の案内突起にややゆるい嵌合状態で係合する。これにより、ソケット本体に対するフローティングの横方向のずれが規制され、ＩＣパッケージとコンタクトピンとの位置決めが図られている。 In this socket, the floating positioning hole engages with the guide projection of the socket body in a slightly loosely fitted state. As a result, the lateral displacement of the floating with respect to the socket body is restricted, and the IC package and the contact pin are positioned.

実公平５－１７８２９号公報Jitsufuku No. 5-17829 Gazette

被検査部材の小型化に伴い、被検査部材とコンタクトピンとの位置決め精度の向上が要求される。 With the miniaturization of the member to be inspected, it is required to improve the positioning accuracy between the member to be inspected and the contact pin.

本開示の目的は、被検査部材とコンタクトピンとの位置決め精度を向上させることができるソケットを提供することである。 An object of the present disclosure is to provide a socket capable of improving the positioning accuracy between the member to be inspected and the contact pin.

本開示の一態様に係るソケットは、ソケット本体と、前記ソケット本体に固定され、かつ、上方向に延在する剛体部、前記剛体部から水平方向の成分を含む方向に延在する弾性部、および、前記弾性部の一端側に設けられ、かつ、被検査部材に接触する接触部、を有するプローブピンと、前記被検査部材を収容する収容部、および、前記剛体部が挿入される孔、を有し、前記剛体部によって水平方向への移動が規制されながら前記ソケット本体に対して上下方向に移動するフローティングと、を備える。 The socket according to one aspect of the present disclosure includes a socket main body, a rigid body portion fixed to the socket main body and extending upward, and an elastic portion extending in a direction including a horizontal component from the rigid body portion. A probe pin provided on one end side of the elastic portion and having a contact portion in contact with the member to be inspected, an accommodating portion for accommodating the member to be inspected, and a hole into which the rigid portion is inserted. It has a floating structure that moves in the vertical direction with respect to the socket body while being restricted from moving in the horizontal direction by the rigid body portion.

本開示によれば、被検査部材とコンタクトピンとの位置決め精度を向上させることができる。 According to the present disclosure, the positioning accuracy between the member to be inspected and the contact pin can be improved.

図１Ａは、ソケットの一例を示す平面図である。FIG. 1A is a plan view showing an example of a socket. 図１Ｂは、図１Ａの１Ｂ－１Ｂ断面図である。FIG. 1B is a cross-sectional view taken along the line 1B-1B of FIG. 1A. 図１Ｃは、図１Ａの１Ｃ－１Ｃ断面図である。FIG. 1C is a cross-sectional view taken along the line 1C-1C of FIG. 1A. 図２Ａは、ソケット本体の一例を示す平面図である。FIG. 2A is a plan view showing an example of the socket body. 図２Ｂは、図２Ａの２Ｂ－２Ｂ断面図である。FIG. 2B is a cross-sectional view taken along the line 2B-2B of FIG. 2A. 図２Ｃは、図２Ａの２Ｃ－２Ｃ断面図である。FIG. 2C is a cross-sectional view taken along the line 2C-2C of FIG. 2A. 図２Ｄは、図２Ａの２Ｄ－２Ｄ断面図である。FIG. 2D is a cross-sectional view taken along the line 2D-2D of FIG. 2A. 図３Ａは、フローティングの一例を示す平面図である。FIG. 3A is a plan view showing an example of floating. 図３Ｂは、フローティングの収容部を示す拡大平面図である。FIG. 3B is an enlarged plan view showing a floating accommodating portion. 図３Ｃは、図３Ａの３Ｃ－３Ｃ断面図である。FIG. 3C is a cross-sectional view taken along the line 3C-3C of FIG. 3A. 図４は、プローブピンの一例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing an example of a probe pin. 図５Ａは、カバーが閉じられた状態を示す断面図である。FIG. 5A is a cross-sectional view showing a state in which the cover is closed. 図５Ｂは、カバーが閉じられた状態を示す断面図である。FIG. 5B is a cross-sectional view showing a state in which the cover is closed. 図６は、プローブピンの他の一例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing another example of the probe pin.

以下、本開示の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は一例であり、本開示はこの実施形態により限定されるものではない。以下で説明する実施形態の構成要素は適宜組み合わせることができる。また、一部の構成要素を用いない場合もある。 Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described in detail with reference to the drawings. The embodiments described below are examples, and the present disclosure is not limited to these embodiments. The components of the embodiments described below can be combined as appropriate. In addition, some components may not be used.

なお、以下の説明において、同種の要素を区別して説明する場合には、数字からなる共通番号とアルファベットからなる追番号との組み合わせで構成される参照符号を用いて、例えば「プローブピン４０ａ」、「プローブピン４０ｂ」と表現する。また、同種の要素を区別しないで包括的に説明する場合には、参照符号のうちの共通番号のみを用いて、例えば、「プローブピン４０」と表現する。 In the following description, when the same type of elements are distinguished and described, for example, "probe pin 40a", using a reference code composed of a combination of a common number consisting of numbers and a serial number consisting of alphabets, for example, "probe pin 40a". It is expressed as "probe pin 40b". Further, in the case of comprehensively explaining the same type of elements without distinguishing them, only the common number among the reference numerals is used and expressed as, for example, "probe pin 40".

図１Ａ、図１Ｂ、図１Ｃ、図２Ａ、図２Ｂ、図２Ｃ、図２Ｄ、図３Ａ、図３Ｃ、図５Ａおよび図５Ｂには、説明の便宜上、Ｘ軸、Ｙ軸およびＺ軸からなる３次元直交座標系が描かれている。Ｘ軸の正方向を＋Ｘ方向、Ｙ軸の正方向を＋Ｙ方向、Ｚ軸の正方向を＋Ｚ方向（上方向）とそれぞれ定義する。 1A, 1B, 1C, 2A, 2B, 2C, 2D, 3A, 3C, 5A and 5B are composed of X-axis, Y-axis and Z-axis for convenience of explanation. A dimensional Cartesian coordinate system is drawn. The positive direction of the X axis is defined as the + X direction, the positive direction of the Y axis is defined as the + Y direction, and the positive direction of the Z axis is defined as the + Z direction (upward direction).

図１Ａは、実施形態に係るソケット１００の一例を示す平面図である。なお、図１Ａの下側半分では、カバー３０（後述する）を取り外した状態を示している。図１Ｂは、図１Ａの１Ｂ－１Ｂ断面図である。なお、図１Ｂは、カバー３０が開いた状態を示している。図１Ｃは、図１Ａの１Ｃ－１Ｃ断面図である。なお、図１Ｃでは、カバー３０を省略している。 FIG. 1A is a plan view showing an example of the socket 100 according to the embodiment. The lower half of FIG. 1A shows a state in which the cover 30 (described later) is removed. FIG. 1B is a cross-sectional view taken along the line 1B-1B of FIG. 1A. Note that FIG. 1B shows a state in which the cover 30 is open. FIG. 1C is a cross-sectional view taken along the line 1C-1C of FIG. 1A. In FIG. 1C, the cover 30 is omitted.

ソケット１００は、被検査部材１を収容し、収容した被検査部材１と、ソケット１００の下側に取り付けられた配線基板（不図示）とを電気的に接続するための装置である。被検査部材１は、例えば、ＩＣパッケージなどの電子部品である。 The socket 100 is a device that houses the member to be inspected 1 and electrically connects the housed member 1 to be inspected and a wiring board (not shown) attached to the lower side of the socket 100. The member 1 to be inspected is, for example, an electronic component such as an IC package.

ソケット１００に収容され、配線基板に電気的に接続された被検査部材１に対して、各種試験が行われる。例えば、被検査部材１の実際の使用環境と同じ環境、または、実際の環境よりも負荷のかかる環境において、被検査部材１が適正に動作するかが調べられる。ソケット１００は、このような試験を行うために、被検査部材１と配線基板とを接続する装置である。 Various tests are performed on the member 1 to be inspected, which is housed in the socket 100 and electrically connected to the wiring board. For example, it is investigated whether the member 1 to be inspected operates properly in the same environment as the actual usage environment of the member 1 to be inspected, or in an environment where a load is applied more than the actual environment. The socket 100 is a device for connecting the member 1 to be inspected and the wiring board in order to perform such a test.

ソケット１００は、ソケット本体１０と、フローティング２０と、カバー３０と、複数のプローブピン４０とを有する。 The socket 100 has a socket body 10, a floating 20, a cover 30, and a plurality of probe pins 40.

（ソケット本体１０）
図２Ａないし図２Ｄを用いて、ソケット本体１０について説明する。図２Ａは、ソケット本体１０の一例を示す平面図である。図２Ｂは、図２Ａの２Ｂ－２Ｂ断面図である。図２Ｃは、図２Ａの２Ｃ－２Ｃ断面図である。図２Ｄは、図２Ａの２Ｄ－２Ｄ断面図である。 (Socket body 10)
The socket main body 10 will be described with reference to FIGS. 2A to 2D. FIG. 2A is a plan view showing an example of the socket body 10. FIG. 2B is a cross-sectional view taken along the line 2B-2B of FIG. 2A. FIG. 2C is a cross-sectional view taken along the line 2C-2C of FIG. 2A. FIG. 2D is a cross-sectional view taken along the line 2D-2D of FIG. 2A.

ソケット本体１０は、枠体１１と、軸受部１２と、凹部１３と、ピン固定部１４と、ばね固定部１５と、第１爪部１６と、ストッパ爪部１７と、を備える。 The socket body 10 includes a frame body 11, a bearing portion 12, a recess 13, a pin fixing portion 14, a spring fixing portion 15, a first claw portion 16, and a stopper claw portion 17.

枠体１１は、ソケット本体１０の外形を画定する。枠体１１によって画定されるソケット本体１０の外形形状は、平面視で概略矩形形状である。 The frame 11 defines the outer shape of the socket body 10. The outer shape of the socket body 10 defined by the frame 11 is a substantially rectangular shape in a plan view.

軸受部１２は、枠体１１の＋Ｘ端から＋Ｘ方向に突出して設けられている。軸受部１２は、軸受部１２ａと、軸受部１２ｂとを含む。軸受部１２ａは、ソケット本体１０の＋Ｙ端側に設けられている。軸受部１２ｂは、ソケット本体１０の－Ｙ端側に設けられている。軸受部１２には、シャフト１８（図１Ａを参照）が挿通される。 The bearing portion 12 is provided so as to project in the + X direction from the + X end of the frame body 11. The bearing portion 12 includes a bearing portion 12a and a bearing portion 12b. The bearing portion 12a is provided on the + Y end side of the socket body 10. The bearing portion 12b is provided on the −Y end side of the socket body 10. A shaft 18 (see FIG. 1A) is inserted through the bearing portion 12.

凹部１３は、枠体１１に囲まれた部分である。凹部１３は、ソケット本体１０の上面の中央付近に形成されている。凹部１３は、フローティング２０を収容する。凹部１３の＋Ｘ端側および－Ｘ端側には、上下方向に貫通する貫通孔５３が設けられている。本実施形態では、貫通孔５３は、４箇所設けられている。貫通孔５３には、フローティング２０の第２爪部２４（後述する）が挿入される。 The recess 13 is a portion surrounded by the frame body 11. The recess 13 is formed near the center of the upper surface of the socket body 10. The recess 13 accommodates the floating 20. Through holes 53 penetrating in the vertical direction are provided on the + X end side and the −X end side of the recess 13. In this embodiment, the through holes 53 are provided at four locations. The second claw portion 24 (described later) of the floating 20 is inserted into the through hole 53.

ピン固定部１４は、凹部１３に設けられている。図２Ｂおよび図２Ｄに示すように、ピン固定部１４には、プローブピン４０を収容する溝５１が設けられている。溝５１の底部には、ソケット本体１０の下面まで貫通する貫通孔５２が設けられている。貫通孔５２には、プローブピン４０の第２接触部４４（後述する）が挿通される。 The pin fixing portion 14 is provided in the recess 13. As shown in FIGS. 2B and 2D, the pin fixing portion 14 is provided with a groove 51 for accommodating the probe pin 40. The bottom of the groove 51 is provided with a through hole 52 that penetrates to the lower surface of the socket body 10. A second contact portion 44 (described later) of the probe pin 40 is inserted into the through hole 52.

ピン固定部１４は、ピン固定部１４ａ、ピン固定部１４ｂ、ピン固定部１４ｃおよびピン固定部１４ｄを含む。ピン固定部１４ａは、ソケット本体１０の概略中央から、＋Ｘ方向（「第２の水平方向」の一例）に延在している。ピン固定部１４ａには、プローブピン４０ａ（後述する）が固定される。ピン固定部１４ｂは、ソケット本体１０の概略中央から、－Ｘ方向（「第１の水平方向」の一例）に延在している。ピン固定部１４ｂには、プローブピン４０ｂ（後述する）が固定される。 The pin fixing portion 14 includes a pin fixing portion 14a, a pin fixing portion 14b, a pin fixing portion 14c, and a pin fixing portion 14d. The pin fixing portion 14a extends from the substantially center of the socket body 10 in the + X direction (an example of the “second horizontal direction”). A probe pin 40a (described later) is fixed to the pin fixing portion 14a. The pin fixing portion 14b extends from the substantially center of the socket body 10 in the −X direction (an example of the “first horizontal direction”). A probe pin 40b (described later) is fixed to the pin fixing portion 14b.

ピン固定部１４ｃは、ソケット本体１０の概略中央から、＋Ｙ方向に延在している。ピン固定部１４ｃには、プローブピン４０ｃ、４０ｄ、４０ｅおよび４０ｆ（後述する）が固定される。ピン固定部１４ｄは、ソケット本体１０の概略中央から、－Ｙ方向（「第３の水平方向」の一例）に延在している。ピン固定部１４ｄには、プローブピン４０ｇ、４０ｈ、４０ｊおよび４０ｋ（後述する）が固定される。 The pin fixing portion 14c extends in the + Y direction from the approximate center of the socket body 10. Probe pins 40c, 40d, 40e and 40f (described later) are fixed to the pin fixing portion 14c. The pin fixing portion 14d extends from the substantially center of the socket body 10 in the −Y direction (an example of the “third horizontal direction”). Probe pins 40g, 40h, 40j and 40k (described later) are fixed to the pin fixing portion 14d.

ばね固定部１５は、凹部１３に設けられている。本実施形態では、ばね固定部１５は、４箇所設けられている。ばね固定部１５には、コイルばね１９（「付勢部材」の一例。図１Ｂを参照）が配置される。コイルばね１９は、上下方向に伸縮する圧縮ばねである。 The spring fixing portion 15 is provided in the recess 13. In this embodiment, the spring fixing portions 15 are provided at four locations. A coil spring 19 (an example of a “biasing member”; see FIG. 1B) is arranged in the spring fixing portion 15. The coil spring 19 is a compression spring that expands and contracts in the vertical direction.

第１爪部１６は、枠体１１から、貫通孔５３に向けて突出して設けられている。本実施形態では、第１爪部１６は、４箇所設けられている。第１爪部１６は、フローティング２０に設けられた第２爪部２４と係合する。 The first claw portion 16 is provided so as to project from the frame body 11 toward the through hole 53. In this embodiment, the first claw portion 16 is provided at four locations. The first claw portion 16 engages with the second claw portion 24 provided on the floating 20.

図２Ｃに示すように、ストッパ爪部１７は、枠体１１から、－Ｘ方向に向けて突出して設けられている。ストッパ爪部１７は、ストッパ３５（後述する）に設けられた爪３６（後述する）と係合する。 As shown in FIG. 2C, the stopper claw portion 17 is provided so as to project from the frame body 11 in the −X direction. The stopper claw portion 17 engages with a claw 36 (described later) provided on the stopper 35 (described later).

（フローティング２０）
図３Ａないし図３Ｃを用いて、フローティング２０について説明する。図３Ａは、フローティング２０の一例を示す平面図である。図３Ｂは、収容部２２を示す拡大平面図である。図３Ｃは、図３Ａの３Ｃ－３Ｃ断面図である。 (Floating 20)
Floating 20 will be described with reference to FIGS. 3A to 3C. FIG. 3A is a plan view showing an example of the floating 20. FIG. 3B is an enlarged plan view showing the accommodating portion 22. FIG. 3C is a cross-sectional view taken along the line 3C-3C of FIG. 3A.

フローティング２０は、平板部２１と、収容部２２と、孔２３と、第２爪部２４と、凹部２５と、を備える。 The floating 20 includes a flat plate portion 21, an accommodating portion 22, a hole 23, a second claw portion 24, and a recess 25.

平板部２１は、フローティング２０の外形を画定する。平板部２１によって画定されるフローティング２０の外形形状は、平面視で概略矩形形状である。 The flat plate portion 21 defines the outer shape of the floating 20. The outer shape of the floating 20 defined by the flat plate portion 21 is a substantially rectangular shape in a plan view.

収容部２２は、平板部２１の概略中央に設けられている。収容部２２について、図３Ｂを用いて詳細に説明する。収容部２２は、収容部２２に収容される被検査部材１の外形に合わせて凹状に形成される。 The accommodating portion 22 is provided substantially in the center of the flat plate portion 21. The accommodating portion 22 will be described in detail with reference to FIG. 3B. The accommodating portion 22 is formed in a concave shape according to the outer shape of the member 1 to be inspected accommodated in the accommodating portion 22.

収容部２２の底部には、平板部２１の下面まで貫通する貫通溝５４が形成されている。貫通溝５４の位置は、収容部２２に配置される被検査部材１の端子の位置と一致している。また、貫通溝５４には、プローブピン４０の接触部４３が挿入される。 A through groove 54 is formed at the bottom of the accommodating portion 22 so as to penetrate to the lower surface of the flat plate portion 21. The position of the through groove 54 coincides with the position of the terminal of the member 1 to be inspected arranged in the accommodating portion 22. Further, the contact portion 43 of the probe pin 40 is inserted into the through groove 54.

収容部２２の底部には、対向する一対の側面（＋Ｘ側および－Ｘ側の面）から外側に向かって延びる太溝５５が形成されている。これにより、太溝５５にマニピュレーターなどの装置を挿入して被検査部材１の脱着を行うことができる。 At the bottom of the accommodating portion 22, a thick groove 55 extending outward from a pair of facing side surfaces (+ X side and −X side surfaces) is formed. As a result, a device such as a manipulator can be inserted into the thick groove 55 to attach or detach the member 1 to be inspected.

孔２３は、平板部２１に設けられている。孔２３は、平板部２１を上下方向に貫通する。孔２３は、孔２３ａと、孔２３ｂと、孔２３ｃと、孔２３ｄとを含む。孔２３ａは、収容部２２の＋Ｘ側に設けられている。孔２３ａは、Ｘ方向に長軸を有する矩形形状の長孔である。孔２３ａの＋Ｘ側端を規定する壁面を、壁面２６ａという。孔２３ｂは、収容部２２の－Ｘ側に設けられている。孔２３ｂは、Ｘ方向に長軸を有する矩形形状の長孔である。孔２３ｂの－Ｘ側端を規定する壁面を、壁面２６ｂという。 The hole 23 is provided in the flat plate portion 21. The hole 23 penetrates the flat plate portion 21 in the vertical direction. The hole 23 includes the hole 23a, the hole 23b, the hole 23c, and the hole 23d. The hole 23a is provided on the + X side of the accommodating portion 22. The hole 23a is a rectangular long hole having a long axis in the X direction. The wall surface defining the + X side end of the hole 23a is referred to as a wall surface 26a. The hole 23b is provided on the −X side of the accommodating portion 22. The hole 23b is a rectangular long hole having a long axis in the X direction. The wall surface defining the −X side end of the hole 23b is referred to as a wall surface 26b.

孔２３ｃは、収容部２２の＋Ｙ側に設けられている。孔２３ｃは、Ｙ方向に長軸を有する矩形形状の長孔である。孔２３ｃの＋Ｙ側端を規定する壁面を、壁面２６ｃという。孔２３ｃの＋Ｘ側端を規定する壁面を、壁面２７ｃという。孔２３ｃの－Ｘ側端を規定する壁面を、壁面２８ｃという。 The hole 23c is provided on the + Y side of the accommodating portion 22. The hole 23c is a rectangular long hole having a long axis in the Y direction. The wall surface defining the + Y side end of the hole 23c is referred to as a wall surface 26c. The wall surface defining the + X side end of the hole 23c is referred to as a wall surface 27c. The wall surface defining the −X side end of the hole 23c is referred to as a wall surface 28c.

孔２３ｄは、収容部２２の－Ｙ側に設けられている。孔２３ｄは、Ｙ方向に長軸を有する矩形形状の長孔である。孔２３ｄの－Ｙ側端を規定する壁面を、壁面２６ｄという。孔２３ａおよび孔２３ｂは同形状である。孔２３ｃおよび孔２３ｄは同形状である。孔２３ａおよび孔２３ｂの短軸の長さは、孔２３ｃおよび孔２３ｄの短軸の長さより短い。 The hole 23d is provided on the −Y side of the accommodating portion 22. The hole 23d is a rectangular long hole having a long axis in the Y direction. The wall surface defining the −Y side end of the hole 23d is referred to as a wall surface 26d. The holes 23a and 23b have the same shape. The holes 23c and 23d have the same shape. The length of the minor axis of the hole 23a and the hole 23b is shorter than the length of the minor axis of the hole 23c and the hole 23d.

孔２３ａには、プローブピン４０ａが挿入される。孔２３ｂには、プローブピン４０ｂが挿入される。孔２３ｃには、プローブピン４０ｃ、４０ｄ、４０ｅおよび４０ｆが挿入される。孔２３ｄには、プローブピン４０ｇ、４０ｈ、４０ｊおよび４０ｋが挿入される。 The probe pin 40a is inserted into the hole 23a. The probe pin 40b is inserted into the hole 23b. Probe pins 40c, 40d, 40e and 40f are inserted into the holes 23c. Probe pins 40g, 40h, 40j and 40k are inserted into the holes 23d.

第２爪部２４は、平板部２１の＋Ｘ端および－Ｘ端に設けられている。第２爪部２４は、下方向（－Ｚ方向）に延在している。本実施形態では、第２爪部２４は、４箇所設けられている。第２爪部２４は、上述のとおり、ソケット本体１０に設けられた第１爪部１６と係合する。 The second claw portion 24 is provided at the + X end and the −X end of the flat plate portion 21. The second claw portion 24 extends downward (−Z direction). In the present embodiment, the second claw portion 24 is provided at four locations. As described above, the second claw portion 24 engages with the first claw portion 16 provided on the socket body 10.

凹部２５は、平板部２１の下面に設けられている。本実施形態では、凹部２５は、４箇所設けられている。凹部２５は、それぞれソケット本体１０に設けられたばね固定部１５に対応して設けられている。凹部２５には、コイルばね１９の上端側が嵌まる。凹部２５の底部には、コイルばね１９の上端が当接する。 The recess 25 is provided on the lower surface of the flat plate portion 21. In this embodiment, the recesses 25 are provided at four locations. The recesses 25 are provided corresponding to the spring fixing portions 15 provided in the socket main body 10, respectively. The upper end side of the coil spring 19 fits into the recess 25. The upper end of the coil spring 19 abuts on the bottom of the recess 25.

（カバー３０）
図１Ａおよび図１Ｂを用いて、カバー３０について説明する。カバー３０は、ソケット本体１０の上側を覆う部材である。カバー３０は、本体３１と、第１軸受部３２と、第２軸受部３３と、を備える。 (Cover 30)
The cover 30 will be described with reference to FIGS. 1A and 1B. The cover 30 is a member that covers the upper side of the socket body 10. The cover 30 includes a main body 31, a first bearing portion 32, and a second bearing portion 33.

本体３１は、カバー３０の外形を画定する。本体３１によって画定されるカバー３０の外形形状は、平面視で概略矩形形状である。本体３１の中央部には、下向きに突出する押圧部３１ａが設けられている。 The main body 31 defines the outer shape of the cover 30. The outer shape of the cover 30 defined by the main body 31 is a substantially rectangular shape in a plan view. A pressing portion 31a projecting downward is provided at the center of the main body 31.

第１軸受部３２は、カバー３０が閉じた状態において、本体３１の＋Ｘ端から＋Ｘ方向に突出して設けられている。第１軸受部３２は、第１軸受部３２ａと、第１軸受部３２ｂとを含む。第１軸受部３２ａは、カバー３０の＋Ｙ端側に設けられている。第１軸受部３２ｂは、カバー３０の－Ｙ端側に設けられている。第１軸受部３２には、シャフト１８が挿通される。 The first bearing portion 32 is provided so as to project in the + X direction from the + X end of the main body 31 in a state where the cover 30 is closed. The first bearing portion 32 includes a first bearing portion 32a and a first bearing portion 32b. The first bearing portion 32a is provided on the + Y end side of the cover 30. The first bearing portion 32b is provided on the −Y end side of the cover 30. A shaft 18 is inserted through the first bearing portion 32.

シャフト１８は、ソケット本体１０の軸受部１２と、カバー３０の第１軸受部３２を挿通するように設けられる。シャフト１８を取り囲むように、コイルばね５６が設けられている。コイルばね５６の第１の端部はソケット本体１０に固定され、第２の端部はカバー３０に固定される。コイルばね５６により、カバー３０は開く方向に付勢される。 The shaft 18 is provided so as to insert the bearing portion 12 of the socket body 10 and the first bearing portion 32 of the cover 30. A coil spring 56 is provided so as to surround the shaft 18. The first end of the coil spring 56 is fixed to the socket body 10 and the second end is fixed to the cover 30. The coil spring 56 urges the cover 30 in the opening direction.

第２軸受部３３は、本体３１の－Ｘ端から－Ｘ方向に突出して設けられている。第２軸受部３３には、シャフト３４（図１Ｂを参照）が挿通される。 The second bearing portion 33 is provided so as to project from the −X end of the main body 31 in the −X direction. A shaft 34 (see FIG. 1B) is inserted through the second bearing portion 33.

シャフト３４に軸支される状態で、ストッパ３５が設けられている。また、シャフト３４を取り囲むように、コイルばね５７（図１Ｂを参照）が設けられている。コイルばね５７の第１の端部はカバー３０に固定され、第２の端部はストッパ３５に固定されている。コイルばね５７は、ストッパ３５を、シャフト３４を中心に、図１Ｂにおいて反時計回りに回転するように付勢する。 A stopper 35 is provided so as to be pivotally supported by the shaft 34. Further, a coil spring 57 (see FIG. 1B) is provided so as to surround the shaft 34. The first end of the coil spring 57 is fixed to the cover 30, and the second end is fixed to the stopper 35. The coil spring 57 urges the stopper 35 to rotate counterclockwise in FIG. 1B about the shaft 34.

ストッパ３５は、ソケット本体１０のストッパ爪部１７に引っ掛かる爪３６を有する。爪３６がストッパ爪部１７に引っ掛かることにより、カバー３０はソケット本体１０に固定される。また、爪３６のストッパ爪部１７への引っ掛かりが解除されることにより、カバー３０のソケット本体１０への固定が解除される。 The stopper 35 has a claw 36 that is hooked on the stopper claw portion 17 of the socket body 10. The cover 30 is fixed to the socket body 10 by the claw 36 being caught by the stopper claw portion 17. Further, the cover 30 is released from being fixed to the socket body 10 by releasing the hooking of the claw 36 on the stopper claw portion 17.

（プローブピン４０）
図４を用いて、プローブピン４０について説明する。図４は、プローブピン４０の一例を示す図である。本実施形態において、プローブピン４０は、薄板を打ち抜いて製造された部品である。以下の説明では、図４における紙面に直交する方向を、「板厚方向」という場合がある。 (Probe pin 40)
The probe pin 40 will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a diagram showing an example of the probe pin 40. In the present embodiment, the probe pin 40 is a component manufactured by punching a thin plate. In the following description, the direction orthogonal to the paper surface in FIG. 4 may be referred to as a "plate thickness direction".

プローブピン４０は、フローティング２０の収容部２２に収容された被検査部材１と、ソケット本体１０の下側に取り付けられた配線基板とに接触し、これらを電気的に接続する部材である。プローブピン４０は、例えば、導電性を有する金属で形成される。 The probe pin 40 is a member that contacts the member 1 to be inspected housed in the housing portion 22 of the floating 20 and the wiring board attached to the lower side of the socket body 10 and electrically connects them. The probe pin 40 is made of, for example, a conductive metal.

プローブピン４０は、剛体部４１と、弾性部４２と、接触部４３と、第２接触部４４と、を備える。以下、プローブピン４０の各部について説明する。以下の説明では、便宜上、プローブピン４０がソケット本体１０に固定された状態の向きを用いて説明する。 The probe pin 40 includes a rigid body portion 41, an elastic portion 42, a contact portion 43, and a second contact portion 44. Hereinafter, each part of the probe pin 40 will be described. In the following description, for convenience, the orientation of the probe pin 40 fixed to the socket body 10 will be used.

剛体部４１は、ソケット本体１０に固定される部分である。具体的には、ソケット本体１０のピン固定部１４に設けられた溝５１に、剛体部４１が圧入されることで、プローブピン４０がソケット本体１０に対して固定される。 The rigid body portion 41 is a portion fixed to the socket body 10. Specifically, the probe pin 40 is fixed to the socket body 10 by press-fitting the rigid body 41 into the groove 51 provided in the pin fixing portion 14 of the socket body 10.

プローブピン４０がソケット本体１０に固定された状態で、剛体部４１は、水平方向に延在し、さらに上方向に延在する。剛体部４１は、被検査部材１によって接触部４３が押圧された場合に、変形しない。剛体部４１は、弾性部４２の延在方向と逆側の壁面４５を有する。 With the probe pin 40 fixed to the socket body 10, the rigid body portion 41 extends in the horizontal direction and further extends in the upward direction. The rigid body portion 41 does not deform when the contact portion 43 is pressed by the member to be inspected 1. The rigid body portion 41 has a wall surface 45 on the side opposite to the extending direction of the elastic portion 42.

弾性部４２は、剛体部４１の上端側から水平方向の成分を含む方向に延在している。具体的には、弾性部４２は、剛体部４１の上端から、上方向に延び、湾曲して下方向を向き、さらに湾曲して水平方向を向いて延びている。弾性部４２の基部は、剛体部４１に接続されている。弾性部４２は、被検査部材１によって接触部４３が押圧された場合に撓む。 The elastic portion 42 extends from the upper end side of the rigid body portion 41 in a direction including a horizontal component. Specifically, the elastic portion 42 extends upward from the upper end of the rigid body portion 41, curves downward, and further curves and extends horizontally. The base of the elastic portion 42 is connected to the rigid body portion 41. The elastic portion 42 bends when the contact portion 43 is pressed by the member 1 to be inspected.

接触部４３は、弾性部４２の先端部（剛体部４１と接続される側とは逆側の端部）に設けられている。なお、接触部４３が設けられる位置はこれに限定されず、例えば弾性部４２の中間部に接触部４３が設けられていてもよい。接触部４３は、被検査部材１に接触する。具体的には、接触部４３は、フローティング２０の収容部２２に収容された被検査部品１の端子に接触する。 The contact portion 43 is provided at the tip end portion of the elastic portion 42 (the end portion on the side opposite to the side connected to the rigid body portion 41). The position where the contact portion 43 is provided is not limited to this, and for example, the contact portion 43 may be provided in the intermediate portion of the elastic portion 42. The contact portion 43 comes into contact with the member 1 to be inspected. Specifically, the contact portion 43 comes into contact with the terminal of the component 1 to be inspected housed in the accommodating portion 22 of the floating 20.

なお、接触部４３の上端（被検査部材１の下端と当接する部分）の上下方向の位置と、弾性部４２の基部の上下方向の位置とは、近いほうが好ましい。これにより、接触部４３が被検査部材１に押し下げられるときに、接触部４３が水平方向へほとんど移動せず、被検査部材１の端子と接触部４３との接触状態をより確実に確保することができる。 It is preferable that the vertical position of the upper end of the contact portion 43 (the portion that comes into contact with the lower end of the member 1 to be inspected) and the vertical position of the base portion of the elastic portion 42 are close to each other. As a result, when the contact portion 43 is pushed down by the member to be inspected 1, the contact portion 43 hardly moves in the horizontal direction, and the contact state between the terminal of the member to be inspected 1 and the contact portion 43 is more reliably secured. Can be done.

第２接触部４４は、剛体部４１の下端から下方向に延在している。第２接触部４４は、それぞれ配線基板に接触する。 The second contact portion 44 extends downward from the lower end of the rigid body portion 41. The second contact portion 44 comes into contact with the wiring board, respectively.

本実施形態では、プローブピン４０は、プローブピン４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄ、４０ｅ、４０ｆ、４０ｇ、４０ｈ、４０ｊおよび４０ｋを含む。上述のとおり、プローブピン４０ａは、ソケット本体１０のピン固定部１４ａに固定される。プローブピン４０ｂは、ソケット本体１０のピン固定部１４ｂに固定される。 In this embodiment, the probe pin 40 includes probe pins 40a, 40b, 40c, 40d, 40e, 40f, 40g, 40h, 40j and 40k. As described above, the probe pin 40a is fixed to the pin fixing portion 14a of the socket body 10. The probe pin 40b is fixed to the pin fixing portion 14b of the socket body 10.

プローブピン４０ｃ、４０ｄ、４０ｅおよび４０ｆは、ソケット本体１０のピン固定部１４ｃに固定される。プローブピン４０ｇ、４０ｈ、４０ｊおよび４０ｋは、ソケット本体１０のピン固定部１４ｄに固定される。 The probe pins 40c, 40d, 40e and 40f are fixed to the pin fixing portion 14c of the socket body 10. The probe pins 40g, 40h, 40j and 40k are fixed to the pin fixing portion 14d of the socket body 10.

以上、ソケット１００を構成するソケット本体１０、フローティング２０、カバー３０およびプローブピン４０について説明した。 The socket body 10, the floating 20, the cover 30, and the probe pin 40 constituting the socket 100 have been described above.

図１Ｂおよび図１Ｃは、ソケット本体１０に対してプローブピン４０が圧入固定され、かつ、ソケット本体１０に対してフローティング２０がセットされ、さらに、被検査部材１がフローティング２０の収容部２２に収容された状態を示している。 In FIGS. 1B and 1C, the probe pin 40 is press-fitted and fixed to the socket body 10, the floating 20 is set to the socket body 10, and the member 1 to be inspected is housed in the accommodating portion 22 of the floating 20. It shows the state that was done.

フローティング２０は、コイルばね１９によって、上方向に付勢されている。また、フローティング２０は、ソケット本体１０の第１爪部１６と、フローティング２０の第２爪部２４との係合により、上方向への移動が規制された状態となっている。 The floating 20 is urged upward by the coil spring 19. Further, the floating 20 is in a state in which the upward movement is restricted by the engagement between the first claw portion 16 of the socket main body 10 and the second claw portion 24 of the floating 20.

この状態では、プローブピン４０の接触部４３の上端と、被検査部材１の下端との間には、わずかな隙間が存在する。換言すると、プローブピン４０の接触部４３は、被検査部材１とは接触していない。 In this state, there is a slight gap between the upper end of the contact portion 43 of the probe pin 40 and the lower end of the member 1 to be inspected. In other words, the contact portion 43 of the probe pin 40 is not in contact with the member 1 to be inspected.

また、プローブピン４０の剛性部４１は、フローティング２０の孔２３に挿入されているが、フローティング２０とは接触していない。すなわち、孔２３の内壁面と、剛性部４１との間には、隙間が存在する。 Further, the rigid portion 41 of the probe pin 40 is inserted into the hole 23 of the floating 20, but is not in contact with the floating 20. That is, there is a gap between the inner wall surface of the hole 23 and the rigid portion 41.

そのため、フローティング２０の水平方向への移動は規制されておらず、フローティング２０は水平方向に移動可能である。また、プローブピン４０の弾性部４２は、撓んでいない。 Therefore, the movement of the floating 20 in the horizontal direction is not restricted, and the floating 20 can move in the horizontal direction. Further, the elastic portion 42 of the probe pin 40 is not bent.

カバー３０が閉じられると、カバー３０の押圧部３１ａにより、被検査部材１が下方向に押圧される。これにより、フローティング２０は、プローブピン４０の剛体部４１に案内されながら下方向に移動する。 When the cover 30 is closed, the member 1 to be inspected is pressed downward by the pressing portion 31a of the cover 30. As a result, the floating 20 moves downward while being guided by the rigid body portion 41 of the probe pin 40.

具体的には、フローティング２０の壁面２６ａが、プローブピン４０ａの剛体部４１ａ（「第１の剛体部」の一例）に設けられた壁面４５ａと当接することで、フローティング２０がプローブピン４０ａに対して－Ｘ方向へ移動することが規制される。 Specifically, the wall surface 26a of the floating 20 comes into contact with the wall surface 45a provided on the rigid body portion 41a of the probe pin 40a (an example of the "first rigid body portion"), so that the floating surface 20 is in contact with the probe pin 40a. It is restricted to move in the -X direction.

また、フローティング２０の壁面２６ｂが、プローブピン４０ｂの剛体部４１ｂ（「第２の剛体部」の一例）に設けられた壁面４５ｂと当接することで、フローティング２０がプローブピン４０ｂに対して＋Ｘ方向へ移動することが規制される。 Further, the wall surface 26b of the floating 20 comes into contact with the wall surface 45b provided on the rigid body portion 41b of the probe pin 40b (an example of the "second rigid body portion"), so that the floating surface 20 is in the + X direction with respect to the probe pin 40b. It is restricted to move to.

また、フローティング２０の壁面２６ｃが、プローブピン４０ｃ、４０ｄ、４０ｅおよび４０ｆの剛体部４１ｃ、４１ｄ、４１ｅおよび４１ｆに設けられた壁面４５ｃ、４５ｄ、４５ｅおよび４５ｆと当接することで、フローティング２０がプローブピン４０ｃ、４０ｄ、４０ｅおよび４０ｆに対して－Ｙ方向へ移動することが規制される。なお、剛体部４１ｃは、「第３の剛体部」の一例である。 Further, the wall surface 26c of the floating 20 comes into contact with the wall surfaces 45c, 45d, 45e and 45f provided on the rigid bodies 41c, 41d, 41e and 41f of the probe pins 40c, 40d, 40e and 40f, so that the floating 20 is a probe. Movement in the −Y direction is restricted with respect to the pins 40c, 40d, 40e and 40f. The rigid body portion 41c is an example of the “third rigid body portion”.

また、フローティング２０の壁面２６ｄが、プローブピン４０ｇ、４０ｈ、４０ｊおよび４０ｋの剛体部４１ｇ、４１ｈ、４１ｊおよび４１ｋに設けられた壁面４５ｇ、４５ｈ、４５ｊおよび４５ｋと当接することで、フローティング２０がプローブピン４０ｇ、４０ｈ、４０ｊおよび４０ｋに対して＋Ｙ方向へ移動することが規制される。 Further, the wall surface 26d of the floating 20 comes into contact with the wall surfaces 45g, 45h, 45j and 45k provided on the rigid bodies 41g, 41h, 41j and 41k of the probe pins 40g, 40h, 40j and 40k, so that the floating 20 is a probe. Movement in the + Y direction is restricted for pins 40g, 40h, 40j and 40k.

フローティング２０が下方向に移動する途中で、プローブピン４０の接触部４３と、被検査部材１とが接触する。フローティング２０は、プローブピン４０の弾性部４２を撓ませながら、図５Ａおよび図５Ｂに示す状態まで下降する。図５Ａおよび図５Ｂは、カバー３０がソケット本体１０に固定された状態を示す図である。 While the floating 20 is moving downward, the contact portion 43 of the probe pin 40 and the member 1 to be inspected come into contact with each other. The floating 20 descends to the state shown in FIGS. 5A and 5B while bending the elastic portion 42 of the probe pin 40. 5A and 5B are views showing a state in which the cover 30 is fixed to the socket body 10.

以上の動作により、被検査部材１はソケット１００に収容され、被検査部材１に対して各種試験が行われる。 By the above operation, the member 1 to be inspected is housed in the socket 100, and various tests are performed on the member 1 to be inspected.

以上説明したように、本実施形態では、フローティング２０は、プローブピン４０の剛体部４１によって水平方向への移動が規制されながら、下方向に移動する。そのため、被検査部材１の端子と、接触部４３との位置決め精度を向上させることができる。 As described above, in the present embodiment, the floating 20 moves downward while being restricted from moving in the horizontal direction by the rigid body portion 41 of the probe pin 40. Therefore, the positioning accuracy between the terminal of the member 1 to be inspected and the contact portion 43 can be improved.

なお、上述の実施形態では、カバー３０が閉じられる前の状態（図１Ｂおよび図１Ｃに示す状態）においてフローティング２０の水平方向の移動が規制されないものを例に説明を行ったがこれに限定されない。カバー３０が閉じられる前の状態においてフローティング２０の水平方向の移動が規制されてもよい。 In the above-described embodiment, the horizontal movement of the floating 20 is not restricted in the state before the cover 30 is closed (the state shown in FIGS. 1B and 1C), but the description is not limited thereto. .. The horizontal movement of the floating 20 may be restricted before the cover 30 is closed.

そのためには、カバー３０が閉じられる前の状態で、フローティング２０の壁面２６とプローブピン４０の壁面４５とを当接させればよい。具体的には、例えば、プローブピン４０の剛体部４１を上方向へ延ばせばよい。また、例えば、フローティング２０の平板部２１の厚さを増大させればよい。 For that purpose, the wall surface 26 of the floating 20 and the wall surface 45 of the probe pin 40 may be brought into contact with each other before the cover 30 is closed. Specifically, for example, the rigid body portion 41 of the probe pin 40 may be extended upward. Further, for example, the thickness of the flat plate portion 21 of the floating 20 may be increased.

また、上述の実施形態では、剛体部４１ａでフローティング２０の－Ｘ方向への移動を規制し、剛体部４１ｂでフローティング２０の＋Ｘ方向への移動を規制した。また、剛体部４１ｃ、４１ｄ、４１ｅおよび４１ｆでフローティング２０の－Ｙ方向への移動を規制し、剛体部４１ｇ、４１ｈ、４１ｊおよび４１ｋでフローティング２０の＋Ｙ方向への移動を規制した。 Further, in the above-described embodiment, the rigid body portion 41a restricts the movement of the floating 20 in the −X direction, and the rigid body portion 41b restricts the movement of the floating 20 in the + X direction. Further, the rigid bodies 41c, 41d, 41e and 41f regulated the movement of the floating 20 in the −Y direction, and the rigid bodies 41g, 41h, 41j and 41k restricted the movement of the floating 20 in the + Y direction.

剛体部４１によって規制するフローティング２０の移動方向は、これに限定されない。 The moving direction of the floating 20 regulated by the rigid body portion 41 is not limited to this.

例えば、剛体部４１の板厚方向の寸法を、孔２３の短軸方向の寸法と同じまたはわずかに小さくして、剛体部４１の板厚方向へのフローティング２０の移動を規制してもよい。具体的には、例えば、剛体部４１ａで、フローティング２０の＋Ｙ方向および－Ｙ方向の少なくともいずれかの方向への移動を規制してもよい。 For example, the dimension of the rigid body portion 41 in the plate thickness direction may be the same as or slightly smaller than the dimension of the hole 23 in the minor axis direction to restrict the movement of the floating 20 in the plate thickness direction of the rigid body portion 41. Specifically, for example, the rigid body portion 41a may restrict the movement of the floating 20 in at least one of the + Y direction and the −Y direction.

また、例えば、剛体部４１ｃと壁面２７ｃとの当接により、フローティング２０の－Ｘ方向への移動を規制し、剛体部４１ｆと壁面２８ｃとの当接により、フローティング２０の＋Ｘ方向への移動を規制してもよい。 Further, for example, the contact between the rigid body portion 41c and the wall surface 27c restricts the movement of the floating 20 in the −X direction, and the contact between the rigid body portion 41f and the wall surface 28c causes the floating 20 to move in the + X direction. It may be regulated.

また、例えば、剛体部で、フローティングのプローブピンの板厚方向と直交する両方向への移動を規制してもよい。この一例について、以下、図面を参照して説明する。図６は、プローブピン６０ａによってフローティング２０の＋Ｘ方向および－Ｘ方向への移動を規制する様子を示す図である。なお、プローブピン６０ａは、上述の実施形態におけるプローブピン４０ａに相当する部品である。 Further, for example, in the rigid body portion, the movement of the floating probe pin in both directions orthogonal to the plate thickness direction may be restricted. An example of this will be described below with reference to the drawings. FIG. 6 is a diagram showing how the probe pin 60a restricts the movement of the floating 20 in the + X direction and the −X direction. The probe pin 60a is a component corresponding to the probe pin 40a in the above-described embodiment.

プローブピン６０ａの剛体部６１ａは、孔２３ａの＋Ｘ側端を規定する壁面２６ａと当接する壁面６５ａ、および、孔２３ａの－Ｘ側端を規定する壁面２９ａと当接する壁面６６ａを有する。 The rigid body portion 61a of the probe pin 60a has a wall surface 65a that abuts on the wall surface 26a that defines the + X side end of the hole 23a, and a wall surface 66a that abuts on the wall surface 29a that defines the −X side end of the hole 23a.

プローブピン６０ａの弾性部６２ａは、剛体部６１ａの壁面６６ａにおける上下方向の中間部から、水平方向の成分を含む方向（壁面６５ａから壁面６６ａに向かう方向）に延在している。 The elastic portion 62a of the probe pin 60a extends from an intermediate portion in the vertical direction of the wall surface 66a of the rigid body portion 61a in a direction containing a horizontal component (direction from the wall surface 65a toward the wall surface 66a).

プローブピン６０ａによれば、壁面６５ａと壁面２６ａとによりフローティング２０の－Ｘ方向への移動を規制するとともに、壁面６６ａと壁面２９ａとによりフローティング２０の＋Ｘ方向への移動を規制することができる。 According to the probe pin 60a, the wall surface 65a and the wall surface 26a can restrict the movement of the floating 20 in the −X direction, and the wall surface 66a and the wall surface 29a can restrict the movement of the floating 20 in the + X direction.

また、上述の実施形態では、被検査部材の下面に端子が設けられたものを例に説明を行ったが、これに限定されないのはもちろんである。本開示は、本体から水平方向へ延びる端子を有する被検査部材にも適用することができる。 Further, in the above-described embodiment, the case where the terminal is provided on the lower surface of the member to be inspected has been described as an example, but it is needless to say that the description is not limited to this. The present disclosure can also be applied to a member to be inspected having a terminal extending horizontally from the main body.

また、上述の実施形態では、孔２３ｃに４本のプローブピン４０ｃ、４０ｄ、４０ｅおよび４０ｆが挿入されるものを例に説明を行ったが、これに限定されない。孔２３ｃに挿入されるプローブピンは１本でもよいし、４本以外の複数本でもよい。また、同様に、孔２３ａに挿入されるプローブピンの本数も１本には限定されず、複数本でもよい。 Further, in the above-described embodiment, the case where the four probe pins 40c, 40d, 40e and 40f are inserted into the hole 23c has been described as an example, but the description is not limited thereto. The number of probe pins inserted into the holes 23c may be one, or may be a plurality of probe pins other than four. Similarly, the number of probe pins inserted into the hole 23a is not limited to one, and may be a plurality of probe pins.

また、上述の実施形態では、剛体部４１の板厚方向の寸法と、弾性部４２の板厚方向の寸法とは、等しい。これに対して、例えば、剛体部４１の板厚を弾性部４２の板厚よりも厚くしてもよい。このようにすれば、剛体部４１により、フローティング２０の板厚方向への移動の規制をより確実に行うことができる。 Further, in the above-described embodiment, the dimension of the rigid body portion 41 in the plate thickness direction and the dimension of the elastic portion 42 in the plate thickness direction are equal to each other. On the other hand, for example, the plate thickness of the rigid body portion 41 may be thicker than the plate thickness of the elastic portion 42. By doing so, the rigid body portion 41 can more reliably regulate the movement of the floating 20 in the plate thickness direction.

本開示は、被検査部材と配線基板とを電気的に接続するためのソケットに広く利用可能である。 The present disclosure is widely available as a socket for electrically connecting a member to be inspected and a wiring board.

１ 被検査部材
１０ ソケット本体
１１ 枠体
１２、１２ａ、１２ｂ 軸受部
１３ 凹部
１４、１４ａ、１４ｂ、１４ｃ、１４ｄ ピン固定部
１５ ばね固定部
１６ 第１爪部
１７ ストッパ爪部
１８ シャフト
１９ コイルばね
２０ フローティング
２１ 平板部
２２ 収容部
２３、２３ａ、２３ｂ、２３ｃ、２３ｄ 孔
２４ 第２爪部
２５ 凹部
２６、２６ａ、２６ｂ、２６ｃ、２６ｄ、２７ｃ、２８ｃ、２９ａ 壁面
３０ カバー
３１ 本体
３１ａ 押圧部
３２、３２ａ、３２ｂ 第１軸受部
３３ 第２軸受部
３４ シャフト
３５ ストッパ
３６ 爪
４０、４０ａ、４０ｂ、４０ｃ、４０ｄ、４０ｅ、４０ｆ、４０ｇ、４０ｈ、４０ｊ、４０ｋ プローブピン
４１、４１ａ、４１ｂ、４１ｃ、４１ｄ、４１ｅ、４１ｆ、４１ｇ、４１ｈ、４１ｊ、４１ｋ 剛体部
４２ 弾性部
４３ 接触部
４４ 第２接触部
４５、４５ａ、４５ｂ、４５ｃ、４５ｄ、４５ｅ、４５ｆ、４５ｇ、４５ｈ、４５ｊ、４５ｋ 壁面
５１ 溝
５２ 貫通孔
５３ 貫通孔
５４ 貫通溝
５５ 太溝
５６ コイルばね
５７ コイルばね
６０ａ プローブピン
６１ａ 剛体部
６２ａ 弾性部
６５ａ、６６ａ 壁面
１００ ソケット 1 Inspected member 10 Socket body 11 Frame body 12, 12a, 12b Bearing part 13 Recessed parts 14, 14a, 14b, 14c, 14d Pin fixing part 15 Spring fixing part 16 First claw part 17 Stopper claw part 18 Shaft 19 Coil spring 20 Floating 21 Flat plate part 22 Accommodating part 23, 23a, 23b, 23c, 23d Hole 24 Second claw part 25 Recessed part 26, 26a, 26b, 26c, 26d, 27c, 28c, 29a Wall surface 30 Cover 31 Main body 31a Pressing part 32, 32a , 32b 1st bearing 33 2nd bearing 34 shaft 35 stopper 36 claws 40, 40a, 40b, 40c, 40d, 40e, 40f, 40g, 40h, 40j, 40k probe pins 41, 41a, 41b, 41c, 41d, 41e, 41f, 41g, 41h, 41j, 41k Rigid part 42 Elastic part 43 Contact part 44 Second contact part 45, 45a, 45b, 45c, 45d, 45e, 45f, 45g, 45h, 45j, 45k Wall surface 51 Groove 52 Penetration Hole 53 Through hole 54 Through groove 55 Thick groove 56 Coil spring 57 Coil spring 60a Probe pin 61a Rigid part 62a Elastic part 65a, 66a Wall surface 100 Socket

Claims (6)

ソケット本体と、
前記ソケット本体に固定され、かつ、上方向に延在する剛体部、前記剛体部から水平方向の成分を含む方向に延在する弾性部、および、前記弾性部の一端側に設けられ、かつ、被検査部材に接触する接触部、を有するプローブピンと、
前記被検査部材を収容する収容部、および、前記剛体部が挿入される孔、を有し、前記剛体部によって水平方向への移動が規制されながら前記ソケット本体に対して上下方向に移動するフローティングと、
を備えるソケット。 With the socket body
A rigid body portion fixed to the socket body and extending upward, an elastic portion extending in a direction including a horizontal component from the rigid body portion, and an elastic portion provided on one end side of the elastic portion and extending thereof. A probe pin having a contact portion, which comes into contact with the member to be inspected,
A floating portion that has an accommodating portion for accommodating the member to be inspected and a hole into which the rigid body portion is inserted, and moves vertically with respect to the socket body while being restricted from moving in the horizontal direction by the rigid body portion. When,
A socket with. 前記プローブピンは、第１の剛体部および第１の水平方向の成分を含む方向に延在する第１の弾性部を有する第１のプローブピンを含み、
前記フローティングは、前記第１の剛体部によって前記第１の水平方向への移動が規制される、
請求項１に記載のソケット。 The probe pin comprises a first probe pin having a first rigid portion and a first elastic portion extending in a direction comprising a first horizontal component.
The floating is restricted from moving in the first horizontal direction by the first rigid body portion.
The socket according to claim 1. 前記プローブピンは、第２の剛体部および前記第１の水平方向と反対の第２の水平方向の成分を含む方向に延在する第２の弾性部を有する第２のプローブピンをさらに含み、
前記フローティングは、前記第２の剛体部によって前記第２の水平方向への移動が規制される、
請求項２に記載のソケット。 The probe pin further comprises a second probe pin having a second rigid body portion and a second elastic portion extending in a direction comprising a second horizontal component opposite to the first horizontal direction.
The floating is restricted from moving in the second horizontal direction by the second rigid body portion.
The socket according to claim 2. 前記プローブピンは、第３の剛体部および前記第１の水平方向と直交する第３の水平方向の成分を含む方向に延在する第３の弾性部を有する第３のプローブピンをさらに含み、
前記フローティングは、前記第３の剛体部によって前記第３の水平方向への移動が規制される、
請求項２または３に記載のソケット。 The probe pin further comprises a third probe pin having a third rigid body portion and a third elastic portion extending in a direction comprising a third horizontal component orthogonal to the first horizontal direction.
The floating is restricted from moving in the third horizontal direction by the third rigid body portion.
The socket according to claim 2 or 3. 前記ソケット本体と前記フローティングとの間に設けられ、前記フローティングを上方向に付勢する付勢部材をさらに備え、
前記ソケット本体には、第１爪部が設けられており、
前記フローティングには、前記第１爪部と係合することで前記フローティングの上方向への移動を規制する第２爪部が設けられている、
請求項１ないし３のいずれか一項に記載のソケット。 Further provided with an urging member provided between the socket body and the floating to urge the floating upward.
The socket body is provided with a first claw portion, and the socket body is provided with a first claw portion.
The floating is provided with a second claw portion that restricts the upward movement of the floating by engaging with the first claw portion.
The socket according to any one of claims 1 to 3. 前記第１爪部と前記第２爪部との係合によって前記フローティングの上方向への移動が規制された状態において、前記孔の内壁面と前記剛体部との間に隙間が存在する、
請求項５に記載のソケット。 In a state where the upward movement of the floating is restricted by the engagement between the first claw portion and the second claw portion, there is a gap between the inner wall surface of the hole and the rigid body portion.
The socket according to claim 5.

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