JP7053889B2

JP7053889B2 - プレス成形品のネッキング判定方法、プレス成形品のネッキング判定装置、及びプログラム

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Publication number: JP7053889B2
Application number: JP2020559816A
Authority: JP
Inventors: 實杉山; 宏紀望月; 風人川村; 英樹明元
Original assignee: Unipres Corp
Current assignee: Unipres Corp
Priority date: 2018-12-04
Filing date: 2019-11-06
Publication date: 2022-04-12
Anticipated expiration: 2039-11-06
Also published as: WO2020116075A1; JPWO2020116075A1; CN113167572A

Description

本発明は、プレス成形品のネッキング判定方法、及びネッキング判定装置に関する。

特許文献１には、レーザ超音波深傷装置により被検査体の表面に依存するプレス不良の存在する位置を特定し、パルス式赤外線検査装置により取得されたプレス不良の赤外線撮影画像を解析することで、プレス不良のサイズを特定することが開示されている。特許文献２には、対向配置された２基のレーザ変位計で計測された測定物までの距離と、２基のレーザ変位計の距離との差分に基づいて測定物の厚さを測定することが記載されている。

特許文献１特開２００６－１７０６８４号公報

特許文献２特開２０１０－４４０２７号公報

解決しようとする課題

自動車骨格部品などに利用されるプレス成形品には、局所的な伸び変形により板厚が局所的に減少するなどのネッキングが発生することがある。このようなネッキングの有無を特許文献１のように画像により判別することが困難な場合がある。また、特許文献２のように、複数のレーザ変位計を利用する場合、設置スペースを確保することが困難な場合がある。

一般的開示

本発明の一態様に係るプレス成形品のネッキング判定方法は、プレス成形品の予め定められた部位の第１位置を含む２次元表面形状を示す第１波形を取得する段階を備えてよい。プレス成形品のネッキング判定方法は、第１波形の変化量を導出する段階を備えてよい。プレス成形品のネッキング判定方法は、第１波形の変化量に基づいて、ネッキングが予め定められた部位に発生しているか否かを判定する段階を備えてよい。

判定する段階は、変化量が予め定められた変化パターンを満たす場合、ネッキングが予め定められた部位に発生していると判定してよい。判定する段階は、第１波形の単位距離当たりの差分が、予め定められた変化パターンを満たすか否かに基づいて、ネッキングが予め定められた部位に発生しているか否かを判定してよい。判定する段階は、第１波形の１階微分波形の単位距離当たりの差分が、予め定められた変化パターンを満たすか否かに基づいて、ネッキングが予め定められた部位に発生しているか否かを判定してよい。

導出する段階は、第１波形を微分処理することで前記変化量を導出してよい。

導出する段階は、第１波形を２階微分することで第１波形の２階微分波形を変化量として導出してよい。判定する段階は、第１波形の２階微分波形に基づいて、ネッキングが予め定められた部位に発生しているか否かを判定してよい。

判定する段階は、第１波形の２階微分波形上の極大点と極小点とに基づいて、ネッキングが予め定められた部位に発生しているか否かを判定してよい。

判定する段階は、第１波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差に基づいて、ネッキングが予め定められた部位に発生しているか否かを判定してよい。

取得する段階は、プレス成形品の予め定められた部位にレーザ光を照射して、予め定められた部位からの反射光を受光するレーザ変位計で計測された予め定められた部位の第１位置を含む２次元表面形状を示す第１波形を取得してよい。

レーザ変位計は、予め定められた部位の長手方向とは異なる短手方向に延びるラインレーザ光を長手方向に沿って走査してよい。取得する段階は、レーザ変位計で計測された予め定められた部位の長手方向に沿って第１位置とは異なる第２位置を含む２次元表面形状を示す第２波形を取得してよい。導出する段階は、第２波形を２階微分することで第２波形の２階微分波形を導出してよい。判定する段階は、第１波形の２階微分波形及び第２波形の２階微分波形に基づいて、ネッキングが予め定められた部位に発生しているか否かを判定してよい。

判定する段階は、第１波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差、及び第２波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差がそれぞれ予め定められた閾値以上である場合、予め定められた部位にネッキングが発生していると判定する段階を含んでよい。取得する段階は、白色光源を利用する白色干渉計の計測結果から第１波形を取得する段階を含んでよい。判定する段階は、第１波形の２階微分波形がネッキングの発生が高いことを示す予め定められた波形パターンを満たすか否かに基づいて、ネッキングが予め定められた部位に発生しているか否かを判定してよい。予め定められた波形パターンは、実際にネッキングの発生した波形パターンを機械学習することで、順次更新されてよい。

本発明の一態様に係るプレス成形品のネッキング判定装置は、プレス成形品の予め定められた部位の第１位置を含む２次元表面形状を示す第１波形を取得する取得部を備えてよい。プレス成形品のネッキング判定装置は、第１波形の変化量を導出する導出部を備えてよい。プレス成形品のネッキング判定装置は、第１波形の変化量に基づいて、ネッキングが予め定められた部位に発生しているか否かを判定する判定部を備えてよい。

本発明の一態様に係るプログラムは、上記プレス成形品のネッキング判定方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであってよい。

なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。

プレス成形品の検査システムの概略的な構成を示す図である。プレス成形品のネッキング検査の対象となる部位を測定する手法を説明するための一例を示す図である。一実施形態に係るネッキング判定装置の機能ブロックの一例を示す図である。ネッキング検査の対象となる部位の任意の位置において計測した波形、計測した波形を１階微分した１階微分波形、及び２階微分した２階微分波形の一例を示す図である。ネッキング検査の対象となる部位の任意の位置において計測した波形、計測した波形を１階微分した１階微分波形、及び２階微分した２階微分波形の一例を示す図である。プレス成形品のネッキング判定するための手順の一例を示すフローチャートである。ハードウェア構成の一例を示す図である。

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲に係る発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。

本発明の様々な実施形態は、フローチャート及びブロック図を参照して記載されてよく、ここにおいてブロックは、（１）操作が実行されるプロセスの段階または（２）操作を実行する役割を持つ装置の「部」を表わしてよい。特定の段階及び「部」が、プログラマブル回路、及び／またはプロセッサによって実装されてよい。専用回路は、デジタル及び／またはアナログハードウェア回路を含んでよい。集積回路（ＩＣ）及び／またはディスクリート回路を含んでよい。プログラマブル回路は、再構成可能なハードウェア回路を含んでよい。再構成可能なハードウェア回路は、論理ＡＮＤ、論理ＯＲ、論理ＸＯＲ、論理ＮＡＮＤ、論理ＮＯＲ、及び他の論理操作、フリップフロップ、レジスタ、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）、プログラマブルロジックアレイ（ＰＬＡ）等のようなメモリ要素等を含んでよい。

コンピュータ可読媒体は、適切なデバイスによって実行される命令を格納可能な任意の有形なデバイスを含んでよい。その結果、そこに格納される命令を有するコンピュータ可読媒体は、フローチャートまたはブロック図で指定された操作を実行するための手段を作成すべく実行され得る命令を含む、製品を備えることになる。コンピュータ可読媒体の例としては、電子記憶媒体、磁気記憶媒体、光記憶媒体、電磁記憶媒体、半導体記憶媒体等が含まれてよい。コンピュータ可読媒体のより具体的な例としては、フロッピー（登録商標）ディスク、ディスケット、ハードディスク、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、リードオンリメモリ（ＲＯＭ）、消去可能プログラマブルリードオンリメモリ（ＥＰＲＯＭまたはフラッシュメモリ）、電気的消去可能プログラマブルリードオンリメモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、静的ランダムアクセスメモリ（ＳＲＡＭ）、コンパクトディスクリードオンリメモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、デジタル多用途ディスク（ＤＶＤ）、ブルーレイ（ＲＴＭ）ディスク、メモリスティック、集積回路カード等が含まれてよい。

コンピュータ可読命令は、１または複数のプログラミング言語の任意の組み合わせで記述されたソースコードまたはオブジェクトコードの何れかを含んでよい。ソースコードまたはオブジェクトコードは、従来の手続型プログラミング言語を含む。従来の手続型プログラミング言語は、アセンブラ命令、命令セットアーキテクチャ（ＩＳＡ）命令、マシン命令、マシン依存命令、マイクロコード、ファームウェア命令、状態設定データ、またはＳｍａｌｌｔａｌｋ、ＪＡＶＡ（登録商標）、Ｃ＋＋等のようなオブジェクト指向プログラミング言語、及び「Ｃ」プログラミング言語または同様のプログラミング言語でよい。コンピュータ可読命令は、汎用コンピュータ、特殊目的のコンピュータ、若しくは他のプログラム可能なデータ処理装置のプロセッサまたはプログラマブル回路に対し、ローカルにまたはローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）、インターネット等のようなワイドエリアネットワーク（ＷＡＮ）を介して提供されてよい。プロセッサまたはプログラマブル回路は、フローチャートまたはブロック図で指定された操作を実行するための手段を作成すべく、コンピュータ可読命令を実行してよい。プロセッサの例としては、コンピュータプロセッサ、処理ユニット、マイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ、コントローラ、マイクロコントローラ等を含む。

図１は、プレス成形品８００の検査システム１の概略的な構成を示す図である。検査システム１は、制御装置１００、トラッキング撮像部２００、ネッキング測定部３００、外観撮像部４００、整列処理部５００、ベルトコンベア７００、良品用容器９００及び不良品用容器９０２を備える。制御装置１００は、ネッキング判定装置の一例である。

トラッキング撮像部２００、ネッキング測定部３００、外観撮像部４００、整列処理部５００、及びベルトコンベア７００は、ネットワーク６００を介して制御装置１００に接続されてよい。ベルトコンベア７００は、プレス加工が施されたプレス成形品８００をトラッキング撮像部２００、ネッキング測定部３００、外観撮像部４００、及び整列処理部５００による処理が行われる位置に搬送する。プレス成形品８００は、硬鋼、軟鋼、アルミニウム、チタンまたは銅などの金属材料からなる板材を、プレス成形装置によりプレス成形することで製造される。プレス成形品８００は、例えば、自動車骨格部品などである。

検査システム１は、トラッキング撮像部２００により撮像されたプレス成形品８００の画像に基づいて、プレス成形品８００の予め定められた部位の位置情報を特定する工程を実行する。制御装置１００は、特定したネッキング検査の対象となる部位の位置情報をネッキング測定部３００に提供する。ベルトコンベア７００は、ネッキング測定部３００による処理が行われる位置にプレス成形品８００を搬送する。

次に、検査システム１は、ネッキング測定部３００を用いて、プレス成形品８００の予め定められた部位にネッキングが発生しているか否かを判定する工程を実行する。ネッキング測定部３００は、パラレルリンク部３１０及び変位計測部３２０を有する。パラレルリンク部３１０は、リンク機構を有する。リンク機構は、３対のリンクにより構成されてよい。各対のリンクは、互いに並列に配置されてよい。

変位計測部３２０は、リンク機構に連結されたレーザ変位計を有する。レーザ変位計は、２次元レーザ変位計でよい。ネッキング測定部３００は、制御装置１００から提供された位置情報に基づいて、３対のリンクを動作させ、ネッキング検査の対象となる部位の計測位置にレーザ変位計を位置合わせする。レーザ変位計は、プレス成形品８００のネッキング検査の対象となる部位を厚み方向でみた片側のみに配置されてよい。レーザ変位計は、プレス成形品８００のネッキング検査の対象となる部位にレーザ光を照射し、その部位からの反射光を受光する。レーザ変位計は、その反射光からネッキング検査の対象となる部位の計測位置を含む２次元表面形状を測定する。

制御装置１００は、レーザ変位計により計測されたネッキング検査の対象となる部位の計測位置を含む２次元表面形状を示す波形を取得する。制御装置１００は、取得した波形に基づいて、局所的な伸び変形により板厚が局所的に減少したり、局所的に亀裂が発生したりするネッキングがネッキング検査の対象となる部位に発生しているか否かを判定する。ベルトコンベア７００は、外観撮像部４００による処理が行われる位置にプレス成形品８００を搬送する。

次に、検査システム１は、外観撮像部４００により撮像されたプレス成形品８００の画像に基づいて、プレス成形品８００の傷、凹み、歪み、亀裂、汚れなどの不良個所の有無を判定する工程を実行する。制御装置１００は、外観撮像部４００により送信されたプレス成形品８００の画像を受信する。制御装置１００は、受信したプレス成形品８００の画像に基づいて、例えば、傷や、凹み、歪み、亀裂、汚れなどの不良個所がプレス成形品８００に存在するか否かを判定してよい。制御装置１００は、判定結果に基づいて、整列処理部５００に、プレス成形品８００を良品用容器９００または不良品用容器９０２へ移動させる旨の指示情報を整列処理部５００に送信する。ベルトコンベア７００は、整列処理部５００により処理が行われる位置にプレス成形品８００を搬送する。

最後に、検査システム１は、整列処理部５００を用いてプレス成形品８００を良品用容器９００及び不良品用容器９０２に振り分ける工程を実行する。整列処理部５００は、パラレルリンク部５１０及びグリッパー部５２０を有する。パラレルリンク部５１０は、リンク機構を有し、リンク機構は、３対のリンクにより構成されてよい。各対のリンクは、互いに並列に配置されてよい。グリッパー部５２０は、マグネット吸着によってプレス成形品８００を保持するグリッパーを有する。整列処理部５００は、制御装置１００から受信した指示情報に従って、不良個所が存在しない、すなわち良品と判定されたプレス成形品８００を良品用容器９００に収容する。一方、整列処理部５００は、不良個所が存在する、すなわち不良品と判定されたプレス成形品８００を不良品用容器９０２に収容する。

図２は、プレス成形品８００のネッキング検査の対象となる部位を測定する手法を説明するための一例を示す図である。ネッキング検査の対象となる部位は、予め定められた部位である。図２に示すネッキング検査の対象となる部位８１０は、一例として、プレス成形品８００の端部において絞り加工が施された箇所である。図２では、絞り加工が施された箇所を含む２本の点線の内側の領域をネッキング検査の対象となる範囲として示す。一実施形態において、プレス成形品８００の端部において絞り加工が施された部位の絞り方向に面上で垂直な方向を長手方向８１２として定義する。

ネッキング検査の対象となる部位は、プレス成形品の金型の形状に基づいて定められてよい。ネッキング検査の対象となる部位は、プレス加工において成形される部品の形状の変化を、破断予測などを演算するシミュレーション装置を用いてシミュレーションすることにより、局所的な伸び変形により板厚が局所的に減少したり、局所的に亀裂が発生したりするネッキングが生じやすい部位であると判定された部位であってよい。ネッキング検査の対象となる部位は、プレス成形の対象となる部品に類似するプレス成形品において、ネッキングが生じやすい部位であると作業者が特定した部位であってよい。

レーザ変位計３２４は、帯状のラインレーザ光３２５を部位８１０に照射し、反射光３２６を受光する。ネッキングは、例えば、絞り加工された部位８１０の長手方向８１２に沿って発生する可能性がある。レーザ変位計３２４は、長手方向８１２に沿って移動して、順次、ラインレーザ光３２５を部位８１０に照射して、部位８１０内の複数の箇所の２次元表面形状を計測してよい。レーザ変位計３２４は、帯状のラインレーザ光３２５の幅方向３２７が部位８１０の長手方向８１２と異なる方向になるように、ラインレーザ光３２５を部位８１０に照射する。レーザ変位計３２４は、帯状のラインレーザ光３２５の幅方向３２７が部位８１０の長手方向８１２に対して交差するように、ラインレーザ光３２５を部位８１０に照射してよい。レーザ変位計３２４は、帯状のラインレーザ光３２５の幅方向が部位８１０の長手方向８１２に対して垂直になるように、ラインレーザ光３２５を部位８１０に照射してよい。部位８１０が曲線状に延びる場合には、レーザ変位計３２４は、帯状のラインレーザ光３２５の幅方向３２７の直線が部位８１０の長手方向８１２の曲線と交わる点の接線に対して、帯状のラインレーザ光３２５の幅方向３２７の直線が垂直になるように、ラインレーザ光３２５を部位８１０に照射してよい。なお、本実施形態では、レーザ変位計３２４を、プレス成形品８００の部位８１０まで移動させて、ラインレーザ光３２５を部位８１０に照射する例について説明する。しかし、プレス成形品８００を移動することで、予め定められた位置に設置されたレーザ変位計３２４のラインレーザ光３２５を部位８１０に照射してもよい。また、レーザ変位計３２４及びプレス成形品８００を互いに移動させることで、レーザ変位計３２４のラインレーザ光３２５を部位８１０に照射してもよい。

パラレルリンク部３１０は、制御装置１００から提供された位置情報に基づいて、３対のリンクを動作させ、ネッキング検査の対象となる部位の長手方向の端部に変位計測部３２０のレーザ変位計３２４を位置合わせする。レーザ変位計３２４は、プレス成形品８００のネッキング検査の対象となる部位を厚み方向でみた片側のみに配置されてよい。レーザ変位計３２４は、ネッキング検査の対象となる部位の長手方向とは異なる短手方向に延びるラインレーザ光を長手方向に沿って照射する。パラレルリンク部３１０は、レーザ変位計３２４を長手方向に沿って移動させる。レーザ変位計３２４で計測された波形は、ネッキング検査の対象となる部位の任意の位置における短手方向の２次元表面形状を示す。

図３は、一実施形態に係るネッキング判定装置の機能ブロックの一例を示す図である。制御装置１００は、主制御部１１０、ネッキング検査部１２０、トラッキング部１３０、及び外観検査部１４０を備える。ネッキング検査部１２０は、変位取得部１２２、導出部１２４、及びネッキング判定部１２６を有する。外観検査部１４０は、画像取得部１４２及び外観判定部１４４を有する。主制御部１１０は、バスを介して、ネッキング検査部１２０、トラッキング部１３０、及び外観検査部１４０に接続されてよい。一実施形態において、制御装置１００は、ネッキング判定装置またはコンピュータの一例である。ネッキング検査部１２０及び変位取得部１２２はそれぞれ、検査部及び取得部の一例である。主制御部１１０、ネッキング検査部１２０、トラッキング部１３０、及び外観検査部１４０のそれぞれは、別々のコンピュータで構成されてもよい。

主制御部１１０は、ネットワーク６００を介して、トラッキング撮像部２００、パラレルリンク部３１０、変位計測部３２０、外観撮像部４００、パラレルリンク部５１０、及びグリッパー部５２０に接続されてよい。パラレルリンク部３１０は、制御部３１２及びリンク部３１４を有する。変位計測部３２０は、制御部３２２及びレーザ変位計３２４を有する。パラレルリンク部５１０は、制御部５１２及びリンク部５１４を有する。グリッパー部５２０は、制御部５２２及びハンド部５２４を有する。ハンド部５２４は、マグネット吸着によってプレス成形品８００を保持するグリッパーであってよい。

トラッキング撮像部２００は、ベルトコンベア７００の予め定められたトラッキング領域を予め定められた間隔で撮像する。トラッキング領域の幅は、ベルトコンベア７００のベルトの幅（搬送方向に直交する方向）と同等でよい。トラッキング領域の長さ（搬送方向）は、撮像間隔、及びベルトコンベア７００のベルトの移動速度に基づいて、ベルトコンベア７００上を搬送される全てのプレス成形品８００が撮像できるように、適宜設定されてよい。

トラッキング撮像部２００は、撮像用の照明により照らされたプレス成形品８００を撮像してよい。トラッキング撮像部２００は、撮像用の照明によりプレス成形品８００を照らすことで、プレス成形品８００の表面に影のない画像を撮像できる。トラッキング撮像部２００により撮像されたプレス成形品８００の画像は、主制御部１１０を介してトラッキング部１３０に送信される。トラッキング部１３０は、トラッキング撮像部２００がプレス成形品８００を撮像したときのプレス成形品８００の位置を特定する。トラッキング部１３０は、トラッキング領域内の予め定められた位置に対するプレス成形品８００の相対的な位置を検出する。例えば、トラッキング部１３０は、画像をエッジ処理することによりプレス成形品８００の輪郭を抽出し、抽出された輪郭に基づいて、トラッキング領域内の予め定められた位置を基準とした、プレス成形品８００の各軸（ｘ軸、ｙ軸、及びｚ軸）の座標値、及び各軸の回転方向の座標値をプレス成形品８００の位置を示す座標情報として特定する。トラッキング部１３０は、プレス成形品８００の位置を示す座標情報と、ベルトコンベア７００の移動量を計測するエンコーダによるトラッキング撮像部２００の撮影時の計測値とを主制御部１１０を介してパラレルリンク部３１０に送信する。

パラレルリンク部３１０の制御部３１２は、座標情報及び計測値と、ベルトコンベア７００によるプレス成形品８００の移動量とに基づいて、変位計測部３２０が計測する計測領域でのプレス成形品８００の位置を示す座標情報を特定する。制御部３１２は、計測領域内の予め定められた位置を基準とした、プレス成形品８００の各軸の座標値、及び各軸の回転方向の座標値を座標情報として特定してよい。

さらに、制御部３１２は、計測領域内のプレス成形品８００の座標情報と、プレス成形品８００の基準点に対するネッキング検査の対象となる部位の相対的な位置を示す予め定められた位置情報とに基づいて、計測領域内の予め定められた位置を基準とした、プレス成形品８００のネッキング検査の対象となる部位の各軸の座標値、及び各軸の回転方向の座標値を、ネッキング検査の対象となる部位の座標情報として特定する。制御部３１２は、計測領域内の予め定められた位置を基準とした、プレス成形品８００のネッキング検査の対象となる部位の座標情報に基づいて、リンク部３１４を動作させ、ネッキング検査の対象となる部位の計測位置にレーザ変位計３２４を位置合わせしてよい。

レーザ変位計３２４は、プレス成形品８００のネッキング検査の対象となる部位を厚み方向でみた片側のみに配置されてよい。制御部３２２は、レーザ変位計３２４に、プレス成形品８００のネッキング検査の対象となる部位の計測位置にレーザ光を照射させる。制御部３１２は、リンク部３１４を動作させて、レーザ変位計３２４をネッキング検査の対象となる部位の長手方向に移動させる。レーザ変位計３２４は、ネッキング検査の対象となる部位の長手方向とは異なる短手方向に延びるラインレーザ光を長手方向に沿って走査してよい。レーザ変位計３２４は、ネッキング検査の対象となる部位の複数の計測位置からの反射光を受光する。制御部３２２は、レーザ変位計３２４で計測された複数の計測位置を含む２次元表面波形を示す複数の波形データを主制御部１１０に送信する。

主制御部１１０は受信した波形データをネッキング検査部１２０に送信する。ネッキング検査部１２０の変位取得部１２２は、複数の計測位置を含む２次元表面形状を示す複数の波形を取得する。導出部１２４は、取得した複数の波形のそれぞれを２階微分することで各波形の２階微分波形を導出する。ネッキング判定部１２６は、各波形の２階微分波形に基づいて、局所的な伸び変形により板厚が局所的に減少したり、局所的に亀裂が発生したりするネッキングがネッキング検査の対象となる部位に発生しているか否かを判定する。

ネッキング判定部１２６は、取得した各波形の２階微分波形がネッキングの発生が高いことを示す予め定められたネッキング発生条件を満たすか否かに基づいて、ネッキングがネッキング検査の対象となる部位に発生しているか否かを判定してよい。ネッキング判定部１２６は、取得した各波形の２階微分波形がネッキングの発生が高いことを示す予め定められた波形パターンを満たすか否かに基づいて、ネッキングがネッキング検査の対象となる部位に発生しているか否かを判定してよい。予め定められた波形パターンは、実際にネッキングの発生した波形パターンを機械学習することで、順次更新されてよい。ネッキング判定部１２６は、取得した各波形の２階微分波形の振幅がネッキングの発生が高いことを示す予め定められた振幅以上か否かに基づいて、ネッキングがネッキング検査の対象となる部位に発生しているか否かを判定してよい。ネッキング判定部１２６は、取得した各波形の２階微分波形上の極大点と極小点とに基づいて、ネッキングがネッキング検査の対象となる部位に発生しているか否かを判定してよい。ネッキング判定部１２６は、取得した各波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差に基づいて、ネッキングがネッキング検査の対象となる部位に発生しているか否かを判定してよい。ネッキング判定部１２６は、２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差が予め定められた閾値以上である場合、その２階微分波形が予め定められたネッキング発生条件を満たすと判定してよい。ネッキング判定部１２６は、複数の波形のうち第１波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差、及び複数の波形のうち第２波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差がそれぞれ予め定められた閾値以上である場合、ネッキング検査の対象となる部位にネッキングが発生していると判定してよい。ネッキング判定部１２６は、複数の計測位置の複数の２階微分波形のうち、予め定められた数以上の２階微分波形が連続的に予め定められたネッキング発生条件を満たす場合に、ネッキング検査の対象となる部位にネッキングが発生していると判定してよい。

外観撮像部４００は、プレス成形品８００を撮像し、撮像したプレス成形品８００の画像データを主制御部１１０へ送信する。主制御部１１０は、受信した画像データを外観検査部１４０の画像取得部１４２へ送信する。外観判定部１４４は、受信したプレス成形品８００の画像データに基づいて、例えば、傷や、凹み、歪み、汚れなどの不良個所がプレス成形品８００に存在するか否かを判定してよい。外観判定部１４４は、予め定められた良品のプレス成形品８００の画像と、受信したプレス成形品８００の画像とのマッチングを行い、互いの画像内のプレス成形品の類似度が予め定められた閾値以下である場合、画像内のプレス成形品８００に不良個所があると判定してよい。外観判定部１４４は、予め定められた不良個所の形状及び色（例えば、白及び黒）のパターンと、受信したプレス成形品８００の画像とのマッチングを行うことより、画像内のプレス成形品８００に不良個所があるか否かを判定してよい。外観判定部１４４は、判定結果を主制御部１１０に送信する。主制御部１１０は、判定結果に基づいて、整列処理部５００に、プレス成形品８００を良品用容器９００または不良品用容器９０２へ移動させる旨の指示情報を整列処理部５００に送信する。

整列処理部５００の制御部５１２は、主制御部１１０から受信した指示情報に従って、リンク部５１４を動作させて、ハンド部５２４をプレス成形品８００に接触させる。グリッパー部５２０の制御部５２２は、ハンド部５２４を動作させて、プレス成形品８００を吸着させる。制御部５１２は、リンク部５１４を動作させて、不良個所が存在しない、すなわち良品と判定されたプレス成形品８００を良品用容器９００に収容する。制御部５１２は、リンク部５１４を動作させて、不良個所が存在する、すなわち不良品と判定されたプレス成形品８００を不良品用容器９０２に収容する。

図４Ａは、ネッキング検査の対象となる部位の任意の位置において計測した波形、計測した波形を１階微分した１階微分波形、及び２階微分した２階微分波形の一例を示す図である。図４Ａに示す測定データのグラフは、ネッキング検査の対象となる部位の任意の位置の断面形状、すなわち２次元表面形状を表す。レーザ変位計３２４をネッキング検査の対象となる部位の長手方向に移動させることで、ネッキング検査の対象となる部位の連続的な位置における２次元表面形状が次々と得られる。

ネッキング判定部１２６は、取得した波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差が予め定められた閾値以上である場合、ネッキング検査の対象となる部位にネッキングが発生していると判定してよい。図４Ａに示す２階微分したグラフには、０点を交差する変曲点が存在しない。したがって、図４Ａに示す２階微分したグラフには、波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差が予め定められた閾値以上であることを示す波形は存在しない。この場合、ネッキング判定部１２６は、ネッキング検査の対象となる部位にネッキングが発生していないと判定してよい。

図４Ｂは、ネッキング検査の対象となる部位の任意の位置において計測した波形、計測した波形を１階微分した１階微分波形、及び２階微分した２階微分波形の一例を示す図である。図４Ｂに示す２階微分したグラフにおいて、０点と交差する前後で一度大きく下がった後に大きく上がる変曲点がネッキング部１０００で囲われる範囲に存在する。ネッキング部１０００で囲われる範囲に存在する波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差が予め定められた閾値以上を表している場合、ネッキング判定部１２６は、ネッキング検査の対象となる部位にネッキングが発生していると判定してよい。

ネッキング検査の手法として他の手法が挙げられる。この手法では、まず、測定したデータの波形を拡大する。次に、波形のカーブしている箇所の曲率半径を算出する。そして、算出した曲率半径が閾値より大きいか否かを判定することで、ネッキングが発生しているか否かを判定する。この手法によれば、プレス加工の対象となる部品の形状に応じて曲率半径の閾値を定めなければならない。プレス加工の対象となる部品の形状ごとに、その都度、曲率半径の閾値を定めなければならず、手間がかかる。一実施形態におけるネッキングを判定する手法によれば、２階微分を行って変曲率をグラフ化することで、局所的な変化、すなわち、ネッキングを見つけることができる。一実施形態におけるネッキングを判定する手法によれば、２基のレーザ変位計３２４を用いなくても、ネッキング検査の対象となる部位の２次元表面形状からネッキングの有無を判定することができる。

図５は、プレス成形品８００のネッキングを判定するための手順の一例を示すフローチャートである。トラッキング部１３０は、トラッキング処理によりプレス成形品８００の位置を特定する（Ｓ１００）。トラッキング部１３０は、トラッキング撮像部２００により撮像されたプレス成形品８００の画像を解析して、プレス成形品８００の位置を特定してよい。トラッキング部１３０は、画像認識処理により、トラッキング領域内の予め定められた位置を基準とした、プレス成形品８００の各軸の座標値、及び各軸の回転方向の座標値を示す座標情報を、プレス成形品８００の位置として特定してよい。

パラレルリンク部３１０の制御部３１２は、ネッキング検査の対象となる部位を特定する（Ｓ１０２）。制御部３１２は、プレス成形品８００の座標情報、及びトラッキング撮像部２００のトラッキング領域から変位計測部３２０の計測領域までのプレス成形品８００の移動量に基づいて、計測領域でのプレス成形品８００の位置を示す座標情報を特定してよい。制御部３１２は、計測領域内の予め定められた位置を基準とした、プレス成形品８００の各軸の座標値、及び各軸の回転方向の座標値を座標情報として特定してよい。さらに、制御部３１２は、計測領域内のプレス成形品８００の座標情報と、プレス成形品８００の基準点に対するネッキング検査の対象となる部位の相対的な位置を示す予め定められた位置情報とに基づいて、計測領域内の予め定められた位置を基準とした、プレス成形品８００のネッキング検査の対象となる部位の各軸の座標値、及び各軸の回転方向の座標値を、ネッキング検査の対象となる部位の座標情報として特定してよい。

変位取得部１２２が、レーザ変位計３２４で計測されたネッキング検査の対象となる部位内の複数の位置のそれぞれを含む２次元表面形状を示す複数の波形を取得する（Ｓ１０４）。導出部１２４は、複数の波形のそれぞれを２階微分することで複数の波形の２階微分波形を導出する（Ｓ１０６）。

ネッキング判定部１２６は、複数の２階微分波形のそれぞれがネッキング発生条件を満たすか否かを判定する（Ｓ１０８）。ネッキング判定部１２６は、各波形の２階微分波形に基づいて、局所的な伸び変形により板厚が局所的に減少したり、局所的に亀裂が発生したりするネッキングがネッキング検査の対象となる部位に発生しているか否かを判定してよい。ネッキング判定部１２６は、取得した各波形の２階微分波形上の極大点と極小点とに基づいて、ネッキングがネッキング検査の対象となる部位に発生しているか否かを判定してよい。ネッキング判定部１２６は、取得した各波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差に基づいて、ネッキングがネッキング検査の対象となる部位に発生しているか否かを判定してよい。

ネッキング判定部１２６は、複数の波形のうち第１波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差、及び複数の波形のうち第２波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差がそれぞれ予め定められた閾値以上である場合、ネッキング検査の対象となる部位にネッキングが発生していると判定してよい（Ｓ１１０）。ネッキング判定部１２６は、複数の２階微分波形のうち、予め定められた数以上の連続する２階微分波形が、互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差がそれぞれ予め定められた閾値以上となるネッキング発生条件を満たす場合に、ネッキング検査の対象となる部位にネッキングが発生していると判定してよい。ネッキング判定部１２６は、複数の波形のうち第１波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差、及び複数の波形のうち第２波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差がそれぞれ予め定められた閾値以上でない場合、ネッキング検査の対象となる部位にネッキングが発生していないと判定してよい（Ｓ１１２）。ネッキング判定部１２６は、複数の２階微分波形のうち、予め定められた数以上の連続する２階微分波形が、互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差がそれぞれ予め定められた閾値以上となるネッキング発生条件を満たさない場合に、ネッキング検査の対象となる部位にネッキングが発生していないと判定してよい。

外観検査部１４０は、カメラで撮像されたプレス成形品８００の外観検査を行う（Ｓ１１４）。画像取得部１４２は、外観撮像部４００により撮像されたプレス成形品８００の画像を取得してよい。外観判定部１４４は、画像取得部１４２で取得したプレス成形品８００の画像データに基づいて、例えば、傷や、凹み、歪み、汚れなどの不良個所がプレス成形品８００に存在するか否かを判定してよい。

主制御部１１０は、ネッキング発生条件及び外観検査の条件の両方の条件を満たすか否か判定してよい（Ｓ１１６）。プレス成形品８００にネッキングが発生しておらず、かつ、不良個所が存在していない場合、主制御部１１０は、プレス成形品８００を良品と判定する（Ｓ１１８）。プレス成形品８００にネッキングが発生している、または、不良個所が存在している場合、主制御部１１０は、プレス成形品８００を不良品と判定する（Ｓ１２０）。主制御部１１０は、判定結果に従って、整列処理部５００にプレス成形品８００を良品用容器９００または不良品用容器９０２へ移動させ、良品を梱包し、処理を終了する。

一実施形態におけるネッキングを判定する手法によれば、ネッキングが発生しているか否かをプレス成形品の片側から検査することができるので、ネッキング検査用の設備をコンパクトにでき、かつ、設備のコストを低減できる。２基のレーザ変位計３２４を用いなくても、ネッキング検査の対象となる部位の２次元表面形状からネッキングの有無を判定することができ、レーザ変位計３２４の設置スペースが確保しやすくなる。

一実施形態におけるネッキングを判定する手法によれば、２次元表面形状の曲率半径に基づいてネッキングを判定する手法のように、検査対象のプレス成形品の形状ごとに判定基準のパラメータを調整する必要がない。したがって、プレス成形品のネッキングの判定の負担を低減できる。

なお、上記の実施形態では、変位取得部１２２が、レーザ変位計３２４で計測されたネッキング検査の対象となる部位の２次元表面形状を示す波形を取得する例について説明した。しかし、変位取得部１２２は、ネッキング検査の対象となる部位の２次元表面形状を示す波形を取得できるのであれば、レーザ変位計以外の計測器からの計測結果から２次元表面形状を示す波形を取得してよい。変位取得部１２２は、白色光源を利用する白色干渉計または光コム干渉を利用する光コム距離計の計測結果から２次元表面形状を示す波形を取得してもよい。

また、ネッキング判定部１２６は、２階微分波形が予め定められたネッキング発生条件を満たすか否かに基づいて、プレス成形品８００のネッキングを判定する例について説明した。しかし、ネッキング判定部１２６は、２次元表面形状を示す波形の変化量に基づいて、ネッキングが予め定められた部位に発生しているか否かを判定できればよい。ネッキング判定部１２６は、２次元表面形状を示す波形の単位距離当たりの変化量に基づいて、ネッキングが予め定められた部位に発生しているか否かを判定できればよい。ネッキング判定部１２６は、例えば、２次元表面形状を示す波形の単位距離当たりの差分、または２次元表面形状を示す波形の１階微分波形の単位距離当たりの差分が、予め定められた変化パターンを満たすか否かに基づいて、プレス成形品８００のネッキングを判定してもよい。例えば、亀裂によるネッキングが生じている場合、２次元表面形状を示す波形の１階微分波形でも、振幅が大きくなる。したがって、ネッキング判定部１２６は、２次元表面形状を示す波形の１階微分波形に基づいて、亀裂によるネッキングの有無を容易に判定できる。

図６は、本発明の複数の態様が全体的または部分的に具現化されてよいコンピュータ１２００の一例を示す。コンピュータ１２００にインストールされたプログラムは、コンピュータ１２００に、本発明の実施形態に係る装置に関連付けられるオペレーションまたは当該装置の１または複数の「部」として機能させることができる。または、当該プログラムは、コンピュータ１２００に当該オペレーションまたは当該１または複数の「部」を実行させることができる。当該プログラムは、コンピュータ１２００に、本発明の実施形態に係るプロセスまたは当該プロセスの段階を実行させることができる。そのようなプログラムは、コンピュータ１２００に、本明細書に記載のフローチャート及びブロック図のブロックのうちのいくつかまたは全てに関連付けられた特定のオペレーションを実行させるべく、ＣＰＵ１２１２によって実行されてよい。

本実施形態によるコンピュータ１２００は、ＣＰＵ１２１２、及びＲＡＭ１２１４を含み、それらはホストコントローラ１２１０によって相互に接続されている。コンピュータ１２００はまた、通信インタフェース１２２２、入力／出力ユニットを含み、それらは入力／出力コントローラ１２２０を介してホストコントローラ１２１０に接続されている。コンピュータ１２００はまた、ＲＯＭ１２３０を含む。ＣＰＵ１２１２は、ＲＯＭ１２３０及びＲＡＭ１２１４内に格納されたプログラムに従い動作し、それにより各ユニットを制御する。

通信インタフェース１２２２は、ネットワークを介して他の電子デバイスと通信する。ハードディスクドライブが、コンピュータ１２００内のＣＰＵ１２１２によって使用されるプログラム及びデータを格納してよい。ＲＯＭ１２３０はその中に、アクティブ化時にコンピュータ１２００によって実行されるブートプログラム等、及び／またはコンピュータ１２００のハードウェアに依存するプログラムを格納する。プログラムが、ＣＲ－ＲＯＭ、ＵＳＢメモリまたはＩＣカードのようなコンピュータ可読記録媒体またはネットワークを介して提供される。プログラムは、コンピュータ可読記録媒体の例でもあるＲＡＭ１２１４、またはＲＯＭ１２３０にインストールされ、ＣＰＵ１２１２によって実行される。これらのプログラム内に記述される情報処理は、コンピュータ１２００に読み取られ、プログラムと、上記様々なタイプのハードウェアリソースとの間の連携をもたらす。装置または方法が、コンピュータ１２００の使用に従い情報のオペレーションまたは処理を実現することによって構成されてよい。

例えば、通信がコンピュータ１２００及び外部デバイス間で実行される場合、ＣＰＵ１２１２は、ＲＡＭ１２１４にロードされた通信プログラムを実行し、通信プログラムに記述された処理に基づいて、通信インタフェース１２２２に対し、通信処理を命令してよい。通信インタフェース１２２２は、ＣＰＵ１２１２の制御の下、ＲＡＭ１２１４、またはＵＳＢメモリのような記録媒体内に提供される送信バッファ領域に格納された送信データを読み取り、読み取られた送信データをネットワークに送信し、またはネットワークから受信した受信データを記録媒体上に提供される受信バッファ領域等に書き込む。

また、ＣＰＵ１２１２は、ＵＳＢメモリ等のような外部記録媒体に格納されたファイルまたはデータベースの全部または必要な部分がＲＡＭ１２１４に読み取られるようにし、ＲＡＭ１２１４上のデータに対し様々なタイプの処理を実行してよい。ＣＰＵ１２１２は次に、処理されたデータを外部記録媒体にライトバックしてよい。

様々なタイプのプログラム、データ、テーブル、及びデータベースのような様々なタイプの情報が記録媒体に格納され、情報処理を受けてよい。ＣＰＵ１２１２は、ＲＡＭ１２１４から読み取られたデータに対し、本開示の随所に記載され、プログラムの命令シーケンスによって指定される様々なタイプのオペレーション、情報処理、条件判断、条件分岐、無条件分岐、情報の検索／置換等を含む、様々なタイプの処理を実行してよく、結果をＲＡＭ１２１４に対しライトバックする。また、ＣＰＵ１２１２は、記録媒体内のファイル、データベース等における情報を検索してよい。例えば、各々が第２の属性の属性値に関連付けられた第１の属性の属性値を有する複数のエントリが記録媒体内に格納される場合、ＣＰＵ１２１２は、第１の属性の属性値が指定される、条件に一致するエントリを当該複数のエントリの中から検索し、当該エントリ内に格納された第２の属性の属性値を読み取り、それにより予め定められた条件を満たす第１の属性に関連付けられた第２の属性の属性値を取得してよい。

上で説明したプログラムまたはソフトウェアモジュールは、コンピュータ１２００上またはコンピュータ１２００近傍のコンピュータ可読記憶媒体に格納されてよい。また、専用通信ネットワークまたはインターネットに接続されたサーバーシステム内に提供されるハードディスクまたはＲＡＭのような記録媒体が、コンピュータ可読記憶媒体として使用可能であり、それによりプログラムを、ネットワークを介してコンピュータ１２００に提供する。

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。そのような変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載から明らかである。
請求の範囲、明細書、及び図面中において示した装置、システム、プログラム、及び方法における動作、手順、ステップ、及び段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。請求の範囲、明細書、及び図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。

１検査システム
１００制御装置
１１０主制御部
１２０ネッキング検査部
１２２変位取得部
１２４導出部
１２６ネッキング判定部
１３０トラッキング部
１４０外観検査部
１４２画像取得部
１４４外観判定部
２００トラッキング撮像部
３００ネッキング測定部
３１０パラレルリンク部
３１２制御部
３１４リンク部
３２０変位計測部
３２２制御部
３２４レーザ変位計
３２５ラインレーザ光
４００外観撮像部
５００整列処理部
５１０パラレルリンク部
５１２制御部
５１４リンク部
５２０グリッパー部
５２２制御部
５２４ハンド部
６００ネットワーク
７００ベルトコンベア
８００プレス成形品
８１０部位
９００良品用容器
９０２不良品用容器
１０００ネッキング部
１２００コンピュータ
１２１０ホストコントローラ
１２１２ＣＰＵ
１２１４ＲＡＭ
１２２０入力／出力コントローラ
１２２２通信インタフェース
１２３０ＲＯＭ

Claims

プレス成形品の予め定められた部位の第１位置を含む２次元表面形状を示す第１波形を取得する段階と、
前記第１波形の変化量を導出する段階と、
前記第１波形の変化量に基づいて、ネッキングが前記予め定められた部位に発生しているか否かを判定する段階と
を備えるプレス成形品のネッキング判定方法。
前記判定する段階は、前記変化量が予め定められた変化パターンを満たす場合、ネッキングが前記予め定められた部位に発生していると判定する、請求項１に記載のプレス成形品のネッキング判定方法。
前記判定する段階は、前記第１波形の単位距離当たりの差分が、前記予め定められた変化パターンを満たすか否かに基づいて、前記ネッキングが前記予め定められた部位に発生しているか否かを判定する段階を含む、請求項２に記載のプレス成形品のネッキング判定方法。
前記判定する段階は、前記第１波形の１階微分波形の単位距離当たりの差分が、予め定められた変化パターンを満たすか否かに基づいて、前記ネッキングが前記予め定められた部位に発生しているか否かを判定する段階を含む、請求項２に記載のプレス成形品のネッキング判定方法。
前記導出する段階は、前記第１波形を微分処理することで前記変化量を導出する段階を含む、請求項１または２に記載のプレス成形品のネッキング判定方法。
前記導出する段階は、前記第１波形を２階微分することで第１波形の２階微分波形を前記変化量として導出する段階を含み、
前記判定する段階は、前記第１波形の２階微分波形に基づいて、ネッキングが前記予め定められた部位に発生しているか否かを判定する段階を含む、請求項５に記載のプレス成形品のネッキング判定方法。
前記判定する段階は、前記第１波形の２階微分波形上の極大点と極小点とに基づいて、前記ネッキングが前記予め定められた部位に発生しているか否かを判定する段階を含む、請求項６に記載のプレス成形品のネッキング判定方法。
前記判定する段階は、前記第１波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差に基づいて、前記ネッキングが前記予め定められた部位に発生しているか否かを判定する段階を含む、請求項７に記載のプレス成形品のネッキング判定方法。
前記取得する段階は、前記プレス成形品の予め定められた部位にレーザ光を照射して、前記予め定められた部位からの反射光を受光するレーザ変位計で計測された前記予め定められた部位の前記第１位置を含む２次元表面形状を示す前記第１波形を取得する段階を含む、請求項１から８の何れか１つに記載のプレス成形品のネッキング判定方法。
前記レーザ変位計は、前記予め定められた部位の長手方向とは異なる短手方向に延びるラインレーザ光を前記長手方向に沿って走査し、
前記取得する段階は、前記レーザ変位計で計測された前記予め定められた部位の長手方向に沿って前記第１位置とは異なる第２位置を含む２次元表面形状を示す第２波形を取得する段階を含み、
前記導出する段階は、前記第２波形を２階微分することで第２波形の２階微分波形を導出する段階を含み、
前記判定する段階は、前記第１波形の２階微分波形及び前記第２波形の２階微分波形に基づいて、前記ネッキングが前記予め定められた部位に発生しているか否かを判定する段階を含む、請求項９に記載のプレス成形品のネッキング判定方法。
前記判定する段階は、前記第１波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差、及び前記第２波形の２階微分波形上の互いに隣接し、かつ間にゼロ点を含む極大点と極小点との差がそれぞれ予め定められた閾値以上である場合、前記予め定められた部位に前記ネッキングが発生していると判定する段階を含む、請求項１０に記載のプレス成形品のネッキング判定方法。
前記取得する段階は、白色光源を利用する白色干渉計または光コム干渉を利用する光コム距離計の計測結果から前記第１波形を取得する段階を含む、請求項１から８の何れか一項に記載のプレス成形品のネッキング判定方法。
前記判定する段階は、前記第１波形の２階微分波形がネッキングの発生が高いことを示す予め定められた波形パターンを満たすか否かに基づいて、ネッキングが前記予め定められた部位に発生しているか否かを判定する段階を含み、
前記予め定められた波形パターンは、実際にネッキングの発生した波形パターンを機械学習することで、順次更新される、請求項１から１２の何れか一項に記載のプレス成形品のネッキング判定方法。
プレス成形品の予め定められた部位の第１位置を含む２次元表面形状を示す第１波形を取得する取得部と、
前記第１波形の変化量を導出する導出部と、
前記第１波形の変化量に基づいて、ネッキングが前記予め定められた部位に発生しているか否かを判定する判定部と
を備えるプレス成形品のネッキング判定装置。
請求項１から１３の何れか１つに記載のプレス成形品のネッキング判定方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。