JP7035614B2 - 画像センサシステム及び画像センサ - Google Patents
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Description
ータ又は前記第4データを所定の時間間隔で前記メモリに記憶してもよい。画像センサシステムにおいて、前記第5データ又は前記第6データを所定の時間間隔で前記メモリに記憶してもよい。これらの構成によれば、データが所定の時間間隔でメモリに記憶されるため、メモリへの書き込み回数を減らすことができ、メモリの書き込み回数の限界までの到達期間を延ばすことができる。
まず、本発明が適用される場面の一例について説明する。図1は、画像センサシステムの構成を模式的に示すブロック図である。画像センサシステムは、画像センサ1及び外部装置2を備える。画像センサ1は、撮像系として、照明部10、レンズ部11、撮像部12を備える。照明部10は、発光部20及び不揮発性のメモリ21を有する。発光部20は、図示しない電源からの電力供給を受けて発光する少なくとも一つの発光素子を有する。発光素子は、例えば、LEDである。照明部10は、発光部20が出射する光を用いて、画像センサ1の視野内の被写体(検査対象など)を照明するデバイスである。また、画像センサ1は、処理系として、本体メモリ13、処理部14、入出力I/F15を備える。処理部14は、制御部の一例である。処理部14は、撮像系の制御を行うと共に、入出力I/F15を介した外部装置とのデータ送受信等を行う。処理部14は、発光部20に通電した際の電気的パラメータ値及び発光部20に通電された時間を累積した累積通電時間を含む第1データを本体メモリ13に記憶する。電気的パラメータ値は、電流値、電圧値、VF(順方向電圧)値、抵抗値の一つ以上を含む。処理部14は、発光部20に通電した際の電気的パラメータ値に累積通電時間を掛けた値を含む第2データを本体メモリ1
3に記憶する。処理部14は、任意のタイミング又は所定の時間間隔で、第1データ又は第2データをメモリ21に記憶する。処理部14は、任意のタイミングで、第1データ又は第2データをメモリ21から取得する。外部装置2からの要求に応じて、処理部14は、第1データ又は第2データをメモリ21から取得してもよい。
<画像センサの構成>
図1、図2(A)及び図2(B)を参照して、本発明の第1実施形態に係る画像センサシステムを説明する。図1は、画像センサシステムの構成を模式的に示すブロック図である。図2(A)は、画像センサの外観を模式的に示す斜視図であり、図2(B)は、画像センサを分解した状態を模式的に示す斜視図である。
ステム(vision system)などとも呼ばれる。第1実施形態の画像センサ1は、撮像系と
処理系とが一体となった処理一体型の画像センサ(いわゆるスマートカメラ)である。
時的に記憶される。本体メモリ13は、揮発性メモリであってもよいし、不揮発性メモリであってもよい。本体メモリ13のデータ容量は任意である。
累積通電時間」と称する。)を含むデータをメモリ21に記憶する。この場合、処理部14は、本体メモリ13に一時保存されたデータをメモリ21に書き込む。例えば、本体メモリ13に図3のテーブル100が記憶されている場合、処理部14は、図3のテーブル100をメモリ21に書き込む。処理部14は、メモリ21への書き込みが終了した場合、本体メモリ13のデータを消去してもよい。メモリ21としては、例えば、EPROM、EEPROM、FeRAM、MRAMなどを用いることができ、データ容量は任意である。
2は、メモリ21に記憶されたデータを画像センサ1から受信する。例えば、外部装置2は、複数の電流値及び複数の累積通電時間を含むデータを画像センサ1から受信する。外部装置2の処理装置は、メモリ21に記憶されたデータに基づいて、発光部20の寿命を
予測する。例えば、外部装置2の処理装置は、複数の電流値及び複数の累積通電時間を含むデータに基づいて、発光部20の寿命を予測する。外部装置2の処理装置は、公知の寿命計算式を用いて、発光部20の寿命を計算することにより、発光部20の寿命を予測してもよい。外部装置2の処理装置は、予測部の一例である。外部装置2の処理装置は、発光部20の寿命予測に用いる他のデータをDBから取得してもよい。外部装置2の表示装置に発光部20の寿命予測の結果が表示されることにより、ユーザーは、発光部20の寿命を認識することができる。ユーザーは、発光部20の寿命予測の結果に基づいて、照明部10の点検、交換時期を検討することができる。このように、第1実施形態によれば、照明部10の監視が可能である。
以下の方法により、発光部20の寿命の予測が行われてもよい。LEDの光出力(P)は、累積通電時間(動作時間)に対して指数関数的に減少し、以下の(式1)によって算出される。
β0:劣化定数
IF:電流値(動作電流)[A]
Ea:活性化エネルギー[eV]
k:ボルツマン定数(8.62×10-5)[ev/K]
Tj:発光層の温度[K]
劣化定数(β0)はLEDに依存し、活性化エネルギー(Ea)はLEDの材料に依存する。発光層の温度(Tj)は、LEDに依存する熱抵抗、消費電力、周囲温度から算出することができる。
上記では、外部装置2の処理装置が、メモリ21から取得した複数の電流値及び複数の累積通電時間を含むデータに基づいて、発光部20の寿命を予測するが、このような例に限定されない。例えば、処理部14が、メモリ21から取得した複数の電流値及び複数の累積通電時間を含むデータに基づいて、発光部20の寿命を予測してもよい。この場合、処理部14は、発光部20の寿命予測に用いる他のデータを外部装置2から受信してもよい。処理部14は、予測部の一例である。処理部14は、発光部20の寿命予測の結果を外部装置2に送信する。外部装置2の表示装置に発光部20の寿命予測の結果が表示されることにより、ユーザーは、発光部20の寿命を認識することができる。ユーザーは、発光部20の寿命予測の結果に基づいて、照明部10の点検、交換時期を検討することができる。このように、第1実施形態の変形例によれば、照明部10の監視が可能である。処理部14は、上記の<寿命予測>の方法により、発光部20の寿命の予測を行ってもよい。
処理部14は、発光部20の状態の判定結果を外部装置2に送信する。外部装置2の表示装置に発光部20の状態の判定結果が表示されることにより、ユーザーは、発光部20の状態を認識することができる。ユーザーは、発光部20の状態の判定結果に基づいて、照明部10の点検、交換時期を検討することができる。このように、第1実施形態の変形例によれば、照明部10の監視が可能である。
第2実施形態について説明する。第2実施形態において、第1実施形態と同一の構成要素については、第1実施形態と同一の符号を付し、その説明を省略する。第2実施形態では、処理部14は、発光部20に通電した際の電気的パラメータ値に累積通電時間を掛けた値を本体メモリ13に記憶する。処理部14は、発光部20に通電した際の電流値に累積通電時間を掛けた値を本体メモリ13に記憶してもよい。本体メモリ13には、電気的パラメータ値に累積通電時間を掛けた値が一時的に記憶される。処理部14は、電気的パラメータ値に累積通電時間を掛けた値をメモリ21に記憶する。また、処理部14は、複数の電気的パラメータ値に複数の電気的パラメータ値毎の累積通電時間をそれぞれ掛けた値をメモリ21に記憶する。この場合、処理部14は、本体メモリ13に一時保存されたデータをメモリ21に書き込む。
装置2の表示装置に発光部20の寿命予測の結果が表示されることにより、ユーザーは、発光部20の寿命を認識することができる。ユーザーは、発光部20の寿命予測の結果に基づいて、照明部10の点検、交換時期を検討することができる。このように、第2実施形態によれば、照明部10の監視が可能である。
上記では、外部装置2の処理装置が、メモリ21から取得したデータに基づいて、発光部20の寿命を予測するが、このような例に限定されない。処理部14が、メモリ21から取得したデータに基づいて、発光部20の寿命を予測してもよい。例えば、処理部14が、電気的パラメータ値に累積通電時間を掛けた値を含むデータに基づいて、発光部20の寿命を予測してもよい。また、処理部14が、電流値に累積通電時間を掛けた値を含むデータに基づいて、発光部20の寿命を予測してもよい。この場合、処理部14は、発光部20の寿命予測に用いる他のデータを外部装置2から受信してもよい。処理部14は、発光部20の寿命予測の結果を外部装置2に送信する。外部装置2の表示装置に発光部20の寿命予測の結果が表示されることにより、ユーザーは、発光部20の寿命を認識することができる。ユーザーは、発光部20の寿命予測の結果に基づいて、照明部10の点検、交換時期を検討することができる。このように、第2実施形態の変形例によれば、照明部10の監視が可能である。また、処理部14が、メモリ21から取得したデータに基づいて、発光部20の状態を判定してもよい。例えば、処理部14が、電気的パラメータ値に累積通電時間を掛けた値を含むデータに基づいて、発光部20の状態を判定してもよい。
上記各実施形態は、本発明の構成例を例示的に説明するものに過ぎない。本発明は上記の具体的な形態には限定されることはなく、その技術的思想の範囲内で種々の変形が可能である。例えば、上記各実施形態では、照明部、レンズ部、撮像部の3つのモジュールを例示したが、画像センサに組み付ける構成要素はこれらに限られない。例えば、光学フィルタ、入出力I/F、処理部(プロセッサやメモリ)、表示器などをモジュール化してもよい。なお、スマートカメラの提供形態(納品形態)として、モジュールを個別に提供し、ユーザー側で組み立てを行う形態と、センサ本体に照明モジュールやレンズモジュールを組み込んだ状態で提供する形態とがある。後者の提供形態の場合、ユーザー側での光学条件の調整などが不要となるため、より簡単に画像センサの導入を行うことができるという利点がある。
[1]光を発する発光部(20)及び不揮発性のメモリ(21)を有する照明モジュール(10)と、前記発光部(20)に通電した際の電気的パラメータ値及び前記発光部(20)に通電された時間を累積した累積通電時間を含む第1データ又は前記発光部(20)に通電した際の電気的パラメータ値に前記累積通電時間を掛けた値を含む第2データを前記メモリ(21)に記憶する処理部(14)と、を有する画像センサ(1)と、
前記メモリ(21)から第1データ又は前記第2データを取得し、前記第1データ又は前記第2データに基づいて前記発光部(20)の寿命を予測する予測部(2)と、
を備えることを特徴とする画像センサシステム。
前記発光部(20)に通電した際の電気的パラメータ値及び前記発光部(20)に通電された時間を累積した累積通電時間を含む第1データ又は前記発光部(20)に通電した際の電気的パラメータ値に前記累積通電時間を掛けた値を含む第2データを前記メモリ(21)に記憶する制御部(14)と、
前記メモリ(21)から前記第1データ又は前記第2データを取得し、前記第1データ又は前記第2データに基づいて前記発光部(20)の寿命を予測する予測部(2)と、
を備えることを特徴とする画像センサ(1)。
2:外部装置
10:照明部
11:レンズ部
12:撮像部
13:本体メモリ
14:処理部
15:入出力I/F
16:センサ本体
20:発光部
21:メモリ
Claims (5)
- 光を発し、複数の電流値で動作可能な発光部及び不揮発性のメモリを有する照明モジュールと、前記発光部に通電した際の複数の電気的パラメータ値の平均値に複数の前記電気的パラメータ値毎の前記発光部に通電された時間を累積した累積通電時間の合計値を掛けた値を含む第1データを前記メモリに記憶する処理部と、を有する画像センサと、
前記メモリから前記第1データを取得し、前記第1データに基づいて前記発光部の寿命を予測する予測部と、
を備えることを特徴とする画像センサシステム。 - 前記処理部は、閾値以上の複数の前記電気的パラメータ値の平均値に前記閾値以上の複数の前記電気的パラメータ値についての前記累積通電時間の合計値を掛けた値を含む第2データを前記メモリに記憶し、
前記予測部は、前記メモリから前記第2データを取得し、前記第2データに基づいて前記発光部の寿命を予測する
ことを特徴とする請求項1に記載の画像センサシステム。 - 前記処理部は、前記第1データを所定の時間間隔で前記メモリに記憶する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の画像センサシステム。 - 前記処理部は、前記第2データを所定の時間間隔で前記メモリに記憶する
ことを特徴とする請求項2に記載の画像センサシステム。 - 光を発し、複数の電流値で動作可能な発光部及び不揮発性のメモリを有する照明モジュールと、
前記発光部に通電した際の複数の電気的パラメータ値の平均値に前記複数の電気的パラメータ値毎の前記発光部に通電された時間を累積した累積通電時間の合計値を掛けた値を含む第1データを前記メモリに記憶する処理を行う制御部と、
前記メモリから前記第1データを取得し、前記第1データに基づいて前記発光部の寿命を予測する予測部と、
を備えることを特徴とする画像センサ。
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Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111722074B (zh) * | 2020-06-03 | 2023-06-20 | 四川蓝景光电技术有限责任公司 | 一种led标识标牌故障定位方法、装置和*** |
DE202020107270U1 (de) | 2020-12-16 | 2022-03-21 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor |
CN112834841B (zh) * | 2020-12-30 | 2024-01-23 | 北京爱康宜诚医疗器材有限公司 | 红外相机的寿命的检测方法、检测装置和处理器 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000066117A (ja) | 1998-08-26 | 2000-03-03 | Asahi Optical Co Ltd | 内視鏡用光源装置及び該内視鏡用光源装置を有する内視鏡システムの使用方法 |
JP2003180632A (ja) | 2001-12-20 | 2003-07-02 | Pentax Corp | 内視鏡装置のランプ余命算出装置 |
JP2006013171A (ja) | 2004-06-25 | 2006-01-12 | Matsushita Electric Works Ltd | 光照射装置 |
JP2015018618A (ja) | 2013-07-09 | 2015-01-29 | 三菱電機株式会社 | Led表示装置 |
WO2016002069A1 (ja) | 2014-07-04 | 2016-01-07 | 日立マクセル株式会社 | 投写型映像表示装置 |
JP2017083554A (ja) | 2015-10-26 | 2017-05-18 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 電源寿命判断装置及びこれを備えた画像形成装置 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003009647A1 (en) * | 2001-07-18 | 2003-01-30 | Power Signal Technologies, Inc. | Solid state traffic light with predictive failure analysis |
JP2005257531A (ja) * | 2004-03-12 | 2005-09-22 | Omron Corp | 光電センサ装置 |
JP4775013B2 (ja) | 2006-02-07 | 2011-09-21 | オムロン株式会社 | 撮像装置 |
KR101487548B1 (ko) | 2007-05-18 | 2015-01-29 | 소니 주식회사 | 표시 장치, 표시 장치의 제어 방법 및 컴퓨터 프로그램이 기록된 기록 매체 |
WO2009057041A1 (en) * | 2007-11-01 | 2009-05-07 | Nxp B.V. | Led package and method for manufacturing such a led package |
JP5801389B2 (ja) * | 2010-06-18 | 2015-10-28 | シカト・インコーポレイテッド | Ledベース照明モジュール用の自己診断装置 |
CN103535113A (zh) * | 2011-05-13 | 2014-01-22 | 皇家飞利浦有限公司 | 用于固态照明灯具的寿命终止估计的方法和装置 |
US9212953B2 (en) * | 2012-09-12 | 2015-12-15 | Honeywell International Inc. | Health monitoring of lights |
JP6205945B2 (ja) * | 2013-07-25 | 2017-10-04 | 富士通株式会社 | 伝送装置、伝送装置の制御方法、および伝送装置の制御プログラム |
US9807839B1 (en) * | 2013-10-09 | 2017-10-31 | Musco Corporation | Intermittent overdrive for sports lighting |
FR3027401B1 (fr) * | 2014-10-15 | 2018-03-09 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Procede de prevision d’une defaillance d’une diode electroluminescente |
TW201625073A (zh) * | 2014-12-30 | 2016-07-01 | 萬國商業機器公司 | 照明設備之監控裝置及方法 |
RU2711242C2 (ru) * | 2015-04-14 | 2020-01-15 | Филипс Лайтинг Холдинг Б.В. | Световая система и способ оценки окончания срока службы по меньшей мере одной ее лампы |
-
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000066117A (ja) | 1998-08-26 | 2000-03-03 | Asahi Optical Co Ltd | 内視鏡用光源装置及び該内視鏡用光源装置を有する内視鏡システムの使用方法 |
JP2003180632A (ja) | 2001-12-20 | 2003-07-02 | Pentax Corp | 内視鏡装置のランプ余命算出装置 |
JP2006013171A (ja) | 2004-06-25 | 2006-01-12 | Matsushita Electric Works Ltd | 光照射装置 |
JP2015018618A (ja) | 2013-07-09 | 2015-01-29 | 三菱電機株式会社 | Led表示装置 |
WO2016002069A1 (ja) | 2014-07-04 | 2016-01-07 | 日立マクセル株式会社 | 投写型映像表示装置 |
JP2017083554A (ja) | 2015-10-26 | 2017-05-18 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 電源寿命判断装置及びこれを備えた画像形成装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110186652A (zh) | 2019-08-30 |
US11490072B2 (en) | 2022-11-01 |
US20190268995A1 (en) | 2019-08-29 |
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JP2019146120A (ja) | 2019-08-29 |
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