JP7033034B2 - 腐食環境モニタリング方法および腐食環境モニタリングシステム - Google Patents
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Description
2:金属薄膜
3:透明基板
4:通路構造
5:開口部
6、6’:腐食性ガス
7:金属薄膜2の厚さ方向の全てが腐食した領域
7’:金属薄膜2の厚さ方向が部分的に腐食した領域
10:判定システム
11:撮影装置
12:画像処理装置
13:演算装置
14:出力装置
Claims (7)
- 一方端が閉止され、他方端が開口部とされた通路構造を有し、前記開口部に対する上下面または左右面の一部面を透明基板で形成し、前記透明基板上であって、前記開口部から流入する腐食性ガスと接触する面に金属薄膜を形成した腐食センサを用いた腐食環境モニタリング方法であって、
前記透明基板を透して前記金属薄膜の変色度合いである前記金属薄膜の厚さ方向が部分的に腐食した領域の長さを観測し、予め観測されている前記金属薄膜の変色度合いである前記金属薄膜の厚さ方向が部分的に腐食した領域の長さと前記腐食性ガスの種類との関係から、前記腐食性ガスの種類を同定することを特徴とする腐食環境モニタリング方法。 - 請求項1に記載の腐食環境モニタリング方法であって、
前記金属薄膜の変色度合いが、2種類の変色した領域から観測されることを特徴とする腐食環境モニタリング方法。 - 請求項2に記載の腐食環境モニタリング方法であって、
前記2種類の変色した領域を黄色度プロファイルから測定することを特徴とする腐食環境モニタリング方法。 - 請求項1に記載の腐食環境モニタリング方法であって、
前記金属薄膜は、膜厚が5~40nmであることを特徴とする腐食環境モニタリング方法。 - 請求項1に記載の腐食環境モニタリング方法であって、
前記開口部は、高さが0.5~2.0mmであることを特徴とする腐食環境モニタリング方法。 - 請求項1に記載の腐食環境モニタリング方法であって、
前記金属薄膜が銀であり、H2SとS8との2種類の腐食性ガスの種類を同定することを特徴とする腐食環境モニタリング方法。 - 一方端が閉止され、他方端が開口部とされた通路構造を有し、前記開口部に対する上下面または左右面の一部面を透明基板で形成し、前記透明基板上であって、前記開口部から流入する腐食性ガスと接触する面に金属薄膜を形成した腐食センサにおける前記金属薄膜の変色度合いを撮影する撮影装置と、
前記撮影装置で撮影した画像を用いて、前記金属薄膜の変色度合いである前記金属薄膜の厚さ方向が部分的に腐食した領域の長さを数値化する画像処理装置と、
前記画像処理装置で数値化した前記金属薄膜の変色度合いと、予め観測されている前記金属薄膜の変色度合いと前記腐食性ガスの種類との関係とから、前記腐食性ガスの種類を同定する演算装置と、
前記演算装置で演算された演算結果を出力する出力装置と、
を有することを特徴とする腐食環境モニタリングシステム。
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