JP7019339B2 - Defect cause extraction system and its method - Google Patents
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Description
本発明は、不良原因抽出システム及び不良原因抽出方法に関する。 The present invention relates to a defect cause extraction system and a defect cause extraction method.
工業製品の製造では、各製造工程や各製造設備における不良原因となる項目について、製造設備の製造条件計測データ、部品あるいは組み立て途中の中間製品を検査する中間検査設備による中間検査データ、及び組み立て終了後の製品が良品であるか不良品であるかを検査する最終検査設備による最終検査データを含む、品質に関するデータが取得される。 In the manufacture of industrial products, for items that cause defects in each manufacturing process and each manufacturing equipment, manufacturing condition measurement data of the manufacturing equipment, intermediate inspection data by the intermediate inspection equipment that inspects parts or intermediate products in the middle of assembly, and assembly completion Quality data is acquired, including final inspection data from final inspection equipment that inspects whether the later product is good or bad.
製品不良が疑われる場合に、製造メーカは、不良が発生した製品とその状態を示す製造実績データから、不良原因となる製造実績データ項目の抽出を行う。そして、抽出された不良原因について、さらに解析をおこない、不良原因を特定する。 When a product defect is suspected, the manufacturer extracts the manufacturing record data item that causes the defect from the manufacturing record data indicating the defective product and its state. Then, the extracted defect causes are further analyzed to identify the defect causes.
特許文献１には、単一の製造実績データが原因となっている既知の不良の場合に、不良原因を抽出する技術が開示されている。
特許文献１に開示された技術を用いれば、単一の製造実績データが原因となっている既知の不良の場合、不良原因を抽出することはできる。しかしながら、複数の製造実績データが関与する複合不良原因を抽出する技術の開示は見当たらない。
By using the technique disclosed in
本発明の目的は、複数の原因からなる不良であっても、不良原因を抽出することにある。 An object of the present invention is to extract the cause of a defect even if the defect is composed of a plurality of causes.
本発明は、上記課題の少なくとも一部を解決する手段を複数含んでいるが、その例を挙げるならば、以下のとおりである。 The present invention includes a plurality of means for solving at least a part of the above problems, and examples thereof are as follows.
不良原因抽出システムであって、複数の製品を製造する複数の工程それぞれにおいて発生する計測項目の値と、複数の製品のそれぞれが良品であるか不良品であるかを示す不良品情報を蓄積するデータベースと、前記データベースに蓄積された不良品情報が不良を示す製品の個数の割合と、前記データベースに蓄積された計測項目の値との関係を、前記データベースに蓄積された計測項目ごとに特定し、特定された関係における割合と、前記データベースに蓄積された計算項目ごとに平均化された割合とを比較し、不良原因の候補となる値を計測項目ごとに抽出する比較部と、前記比較部で抽出された不良原因の候補となる値とその値が属する計測項目において、設定された数の計測項目の組合せを生成し、組み合せられた計測項目それぞれの値が計測された共通の製品の、前記データベースに蓄積された不良情報が不良を示す個数の割合を算出する計算部と、前記計算部で算出された割合に応じて、組合せ不良原因の順位指標を割り当てる順位生成部と、を備えたことを特徴とする。
It is a defect cause extraction system, and accumulates the values of measurement items that occur in each of multiple processes that manufacture multiple products, and defective product information that indicates whether each of the multiple products is a good product or a defective product. The relationship between the database, the ratio of the number of products whose defective product information stored in the database indicates a defect, and the value of the measurement item stored in the database is specified for each measurement item stored in the database. , The comparison unit that compares the ratio in the specified relationship with the ratio averaged for each calculation item accumulated in the database, and extracts the value that is a candidate for the cause of failure for each measurement item, and the comparison unit. In the measurement items to which the values that are candidates for the cause of defects extracted in
本発明によれば、複数の原因からなる不良であっても、不良原因を抽出することが可能になる。また、上記した以外の課題及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。 According to the present invention, it is possible to extract the cause of a defect even if the defect is composed of a plurality of causes. In addition, problems and effects other than those described above will be clarified by the following description of the embodiments.
以下、本発明の好ましい実施形態について、図面を用いて説明する。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
図１は、不良原因抽出システム１とその他のシステムとの連携例を示す図である。図１に示した例では、不良原因抽出システム１と、製造ライン２と、不良情報収集システム３とから成っている。これらは、通信ネットワークを介して接続されることで、システム的な連携が行えるように構成されている。
FIG. 1 is a diagram showing an example of cooperation between the defect
製造ライン２は、１以上の製造設備２０を含む。製造設備２０は製造用のロボットを含み、製造において計測したデータ等を製造実績情報２１として出力する。不良情報収集システム３は、発見された不良の情報が入力される不良入力装置３０を含む。不良入力装置３０が不良を検知して不良の情報を生成する装置であってもよい。
The
入力あるいは検知により生成された不良の情報は不良品情報３１として出力される。不良情報収集システム３は、不良入力装置３０が製造設備２０又は不良原因抽出システム１に組み込まれることにより、他のシステムと統合されてもよい。
The defective information generated by input or detection is output as
不良原因抽出システム１の基本構成は、制御部１０と、記憶部１１と、通信部１２と、入力部１３と、表示部１４とを含むものである。
The basic configuration of the defect
制御部１０は、不良原因抽出システム１の動作を統合的に制御する。制御部１０は、製造実績情報取得部１０１と、不良品情報取得部１０２と、操作受付部１０３（「受付部」及び「出力部」にも相当する）と、不良率比較部１０４と、組合せ不良率計算部１０５と、組合せ不良原因優先順位生成部１０６とを含む。
The control unit 10 integrally controls the operation of the defect
製造実績情報取得部１０１は、製造ライン２の製造実績情報２１を各製造設備２０から通信部１２を介して取得する。製造実績情報取得部１０１は、取得した製造実績情報２１の少なくとも一部を、品質データとして、記憶部１１の品質データベース１５に格納する。
The manufacturing record
製造実績情報取得部１０１は、製造実績情報２１とは別のデータ（品質管理に必要なデータ）を品質管理部門等の他の部門が保持している場合には、そのデータを他の部門から通信ネットワークを介して取得する。製造実績情報取得部１０１は、他の部門から取得したデータの少なくとも一部を、品質データとして、記憶部１１の品質データベース１５にデータを格納する。
When the manufacturing record
製造実績情報取得部１０１は、例えば、日次、週次、月次等の所定タイミングで、製造実績情報２１及び他の部門のデータを取得する。製造実績情報２１は、例えば、製造設備２０の識別子、製造設備２０が処理した各製品の識別子、各製品のロット識別子、製造設備２０が各製品について計測した製造条件データ（計測値）と製造に関する日付、あるいは中間検査設備による中間検査データ（計測値）等を含む。
The manufacturing record
不良品情報取得部１０２は、不良品情報３１を不良入力装置３０から通信部１２を介して取得し、取得した不良品情報３１を記憶部１１の品質データベース１５にデータを格納する。不良品情報取得部１０２は、検知された不良に関する情報、例えば不良が検知された部品（以下、「不良品」ともいう。それ以外の部品は「良品」ともいう）の識別子、当該不良が検知された日付を、不良品情報３１として取得する。
The defective product
操作受付部１０３は、組合せ原因の抽出に関する操作をユーザーから受け付ける画面の情報や、組合せ原因の抽出結果を含む画面の情報を表示部１４に出力する、あるいは出力するように制御する。
The
また、操作受付部１０３は、入力部１３を介してユーザーの操作を受け付ける、あるいは受け付けるように制御する。操作受付部１０３は、通信部１２を介して通信可能な外部装置に操作画面を出力したり、外部装置からユーザーの操作を受け付けたりしてもよい。
Further, the
不良率比較部１０４は、品質データベース１５に格納されている複数の製造実績データ項目における対象製品の平均不良率と、製造実績データの区間別不良率を比較して、区間別不良率の値が高い製造実績データの区間を抽出する。なお、製造実績データは計測値を含んでもよく、製造実績データ項目は計測項目を含んでもよい。
The defect
組合せ不良率計算部１０５は、不良率比較部１０４で抽出した区間に含まれる製造実績データの、組合せ不良率を計算する。組合せ不良原因優先順位生成部１０６は、組合せ不良率計算部１０５により計算された組合せ不良率等が高いものを上位として、製造実績データ項目の組合せを順位付けする。
The combination defect
記憶部１１は、制御部１０が使用するデータやプログラムが格納される。さらに記憶部１１は、品質データベース１５が格納され、品質データベース１５は品質データテーブル１６と不良データテーブル１７を含み、これらについては図２を用いて後述する。
The
通信部１２は、通信ネットワークに接続し、製造ライン２と不良情報収集システム３を含む外部装置と情報の送受信を行う。入力部１３は、ユーザーの操作の入力を受け付ける。表示部１４は、情報を画面に表示する。
The
図２は、品質データベース１５のデータ構造例を示す図である。品質データベース１５は、品質データテーブル１６と、不良データテーブル１７とを含む。品質データテーブル１６は、各製品の品質に係わる情報を含むデータをレコード（テーブルの行）とするテーブルである。このレコードは、製品ＩＤ１６１と、製造ロットＩＤ１６２と、製造実績データ１６３と、不良フラグ１６６との各データを含む。
FIG. 2 is a diagram showing an example of a data structure of the
製品ＩＤ１６１は、製品の識別子であり、製造ロットＩＤ１６２は、製品が製造されたロットの識別子である。製造実績データ１６３は、製造実績情報取得部１０１により取得された製造実績情報２１に含まれるデータを用いて登録される。製造実績データ１６３の製造実績データ項目（テーブルの列）は、製品を製造した製造工程Ａ１６４－１と製造工程Ｂ１６４－２等の製造工程毎に分かれている。
製造工程Ａ１６４－１は、この製造工程で使用される製造設備を識別するための装置ＩＤ１６５－１ａ、この製造工程における製品について計測された量的データや質的データ等の製造条件データや、中間検査設備による中間検査データである寸法Ａ１６５－１ｂと寸法Ｂ１６５－１ｃ、及びこの製造工程の完了を表す完了日１６５－１ｄを含む。 The manufacturing process A164-1 includes a device ID 165-1a for identifying the manufacturing equipment used in this manufacturing process, manufacturing condition data such as quantitative data and qualitative data measured for products in this manufacturing process, and intermediates. Includes dimensions A165-1b and B165-1c, which are intermediate inspection data from the inspection equipment, and a completion date 165-1d, which indicates the completion of this manufacturing process.
寸法Ａ１６５－１ｂと寸法Ｂ１６５－１ｃという項目は、製品ＩＤ１６１で識別される製品の種類や、製造工程Ａ１６４－１の内容によって変更されてもよい。また、製造工程Ａ１６４－１には、製造後に測定された複数の品質管理データ項目及びそのデータ値が含まれてもよい。
The items of dimension A165-1b and dimension B165-1c may be changed depending on the type of the product identified by the
完了日１６５－１ｄは時刻を含んでもよく、後述するようにユーザーが期間を指定できるように、ユーザーにとって定義が明確であれば、製造工程の厳密な完了を表していなくてもよいが、後述する不良検知日１７２との差が一定であることが好ましい。
The completion date 165-1d may include a time of day and may not represent the exact completion of the manufacturing process if the definition is clear to the user so that the user can specify the period as described below. It is preferable that the difference from the
製造実績データ１６３の製造工程Ｂ１６４－２の装置ＩＤ１６５－２ａと完了日１６５－２ｄも製造工程Ａ１６４－１のデータ項目と同じであるが、製造工程Ｂ１６４－２の内容に依存して、荷重Ａ１６５－２ｂと荷重Ｂ１６５－２ｃがある。また、これら以外の製造条件データあるいは品質管理データ項目及びそのデータ値が複数含まれてもよい。
The device ID 165-2a and the completion date 165-2d of the manufacturing process B164-2 of the
不良フラグ１６６は、製品が不良品であるか否かを示すデータである。図２の例で、不良フラグの「１」は不良品を示し、不良品フラグの「０」は良品を示す。不良フラグ１６６のデータは、後述するように、不良データテーブル１７の情報が使用されて設定される。
The
不良データテーブル１７は、不良品情報取得部１０２が不良品情報３１を取得することで生成される。不良データテーブル１７は、不良が検知された各製品に関するデータをレコードとするテーブルである。このレコードは、製品ＩＤ１７１のデータと、不良検知日１７２のデータとを含む。
The defective data table 17 is generated when the defective product
製品ＩＤ１７１は、製品の識別子であって製品ＩＤ１６１と対応し、特に不良品の識別子である。不良検知日１７２は、不良が検知された日を示すデータであり、時刻が含まれてもよい。不良データテーブル１７には、不良品情報３１が取得された順番すなわち不良検知日１７２の日付の順番で、レコードが登録されてもよい。
The
図３は、不良原因抽出システム１を実現するコンピューター９の構成例を示す図である。コンピューター９は、例えば、パーソナルコンピューターであるが、これに限らず、サーバーコンピューター、スマートフォン、タブレットコンピューター等のコンピューターであってもよい。また、不良原因抽出システム１は、複数のコンピューターにより構成されてもよい。
FIG. 3 is a diagram showing a configuration example of a computer 9 that realizes the defect
コンピューター９は、例えば、演算装置９１と、主メモリー装置９２と、外部記憶装置９３と、出力装置９４と、入力装置９５と、通信装置９６とを含む。演算装置９１は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）である。
The computer 9 includes, for example, an
主メモリー装置９２は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）であり、外部記憶装置９３は、例えば、ハードディスクやＳＳＤ（Solid State Drive）、あるいはフラッシュＲＯＭ（Read Only Memory）である。
The
出力装置９４は、例えば、ディスプレイ、プリンター、あるいはスピーカーである。入力装置９５は、例えば、キーボード、マウス等のポインティングデバイス、タッチパネル、あるいはマイクロフォンである。通信装置９６は、ネットワークケーブルを介した有線を用いて情報を送受信する装置あるいは無線を用いて情報を送受信する装置である。
The
制御部１０は、演算装置９１がプログラムを実行することによって実現される。このプログラムは、主メモリー装置９２又は外部記憶装置９３内に記憶され、実行にあたって主メモリー装置９２上にロードされ、演算装置９１によって実行される。制御部１０に含まれる製造実績情報取得部１０１等の各部も、各部に対応するプログラムが主メモリー装置９２上にロードされ、演算装置９１により実行されることによって実現されてもよい。
The control unit 10 is realized by the
記憶部１１は、主メモリー装置９２か外部記憶装置９３の少なくとも一方あるいは両方である。コンピューター９が主メモリー装置９２と外部記憶装置９３を備えていても、記憶部１１は、例えば、通信部１２を介して接続されるネットワーク上のストレージにより実現されてもよい。また、この場合、コンピューター９が外部記憶装置９３を備えなくてもよい。
The
通信部１２は、通信装置９６によって実現され、入力部１３は、入力装置９５によって実現され、表示部１４は、出力装置９４によって実現される。また、通信部１２、入力部１３、および表示部１４のそれぞれの動作の一部は、演算装置９１がプログラムを実行することよって実現されてもよい。
The
図４は、不良率比較部１０４の処理の例を示すフローチャートである。ここで、品質データテーブル１６及び不良データテーブル１７には、レコードが予め格納されており、不良フラグ１６６には、データが設定されていないものとする。
FIG. 4 is a flowchart showing an example of processing of the defect
不良率比較部１０４は、処理を開始するための操作をユーザーから入力部１３を介して受け付けることで、図４に示すフローチャートの処理を開始する。具体的に、操作受付部１０３は、図６に示すような操作画面５００を表示部１４に出力し、ユーザーからの操作を受け付ける。
The defect
図６に示した操作画面５００は、入力欄５１０と、決定ボタン５２０と、表示欄５３０と、入力欄５４０～５５０と、開始ボタン５６０とを含む。入力欄５１０は、不良原因抽出の対象期間が入力されるための欄であり、不良検知日１７２に対応する日付の情報が、最初の日付と最後の日付等の期間を示すフォーマットで入力される。
The
決定ボタン５２０は、入力欄５１０に入力された期間が決定されるためのボタンである。以下で説明する処理の対象となる不良は、入力欄５１０と決定ボタン５２０により特定された対象期間に検知された不良であり、この不良に関する不良データは表示される。
The
表示欄５３０は、入力欄５１０に入力された対象期間に検知された不良に関する不良データが表示されるための欄である。ユーザーが対象期間の不良データを確認できるように、製品ＩＤや不良検知日等が表示される。
The
入力欄５４０は、後述する不良原因の一覧表示のソートに用いられる指標が入力されるための欄である。入力欄５５０は、後述する一覧表示における不良原因の組合せの数が入力されるための欄である。開始ボタン５６０は、図４に示すフローチャートの処理が開始されるためのボタンである。
The
操作受付部１０３は、決定ボタン５２０の操作を受け付けた場合、入力欄５１０に設定された対象期間を取得し、取得した対象期間内に不良検知日１７２の日付が含まれるレコードを、不良データテーブル１７から抽出し、不良データとして表示欄５３０に出力する。これにより、ユーザーは、不良データの発生数等を確認しながら、対象期間を決めることができる。
When the
操作受付部１０３は、開始ボタン５６０の操作を受け付けた場合、入力欄５１０、入力欄５４０～５５０に設定されたデータを取得し、対象期間の不良データを品質データに反映する（ステップＳ１１）。このために、操作受付部１０３が取得した対象期間内に不良検知日１７２の日付が含まれる各レコードから、製品ＩＤ１７１のデータを取得する。
When the
そして、操作受付部１０３は、品質データテーブル１６を参照し、矢印１７３のように、取得した製品ＩＤ１７１の各データと一致するデータを製品ＩＤ１６１に有するレコードを特定し、特定した各レコードの不良フラグ１６６に「１」（不良品）を設定する。
Then, the
また、操作受付部１０３は、取得した対象期間に対応する製造期間に完了日１６５－１ｄ、１６５－２ｄの日付が含まれるレコードを、品質データテーブル１６から抽出し、不良フラグ１６６に「１」の設定されていないレコードの不良フラグ１６６に「０」（良品）を設定する。
Further, the
特定した各レコードの不良フラグ１６６に「１」が設定される前に、製造期間に完了日１６５－１ｄ、１６５－２ｄの日付が含まれるレコードの不良フラグ１６６に「０」が予め設定され、特定した各レコードの不良フラグ１６６に「１」が上書きされてもよい。
Before the
なお、取得した対象期間に対応する製造期間は、製造した当日に不良データが収集されるのであれば、取得した対象期間と同じである。製品ＩＤ１６１で識別される１つの製品の完了日１６５－１ｄの日付と不良検知日１７２の日付とに差があるのであれば、製造期間は、取得した対象期間から、その差を減じて算出される。
The manufacturing period corresponding to the acquired target period is the same as the acquired target period if defective data is collected on the day of manufacture. If there is a difference between the date of completion date 165-1d and the date of
例えば、製造工程Ａ１６４－１の完了日１６５－１ｄの日付と製造工程Ｂ１６４－２の完了日１６５－２ｄの日付とに差があるのであれば、完了日１６５－１ｄのための製造期間と完了日１６５－２ｄのための製造期間との２つの製造期間があり、２つの製造期間の間に、その差があってもよい。取得した対象期間に対応する製造期間から特定されるレコードは、不良フラグ１６６に「１」が設定されたレコードを含むことが好ましい。
For example, if there is a difference between the date of completion date 165-1d of manufacturing process A164-1 and the date of completion date 165-2d of manufacturing process B164-2, the manufacturing period and completion for completion date 165-1d. There are two manufacturing periods with a manufacturing period for day 165-2d, and there may be a difference between the two manufacturing periods. It is preferable that the record specified from the manufacturing period corresponding to the acquired target period includes a record in which "1" is set in the
次に、不良率比較部１０４は、製造実績データ１６３に含まれる製造実績データ項目を１つずつ選定し、対象製造実績データ項目として、ステップＳ１３からステップＳ１５までの処理を繰り返す（ステップＳ１２）。ここで、製造実績データ項目は、例えば、寸法Ａ１６５－１ｂ、寸法Ｂ１６５－１ｃ、荷重Ａ１６５－２ｂ、及び荷重Ｂ１６５－２ｃである。
Next, the defect
不良率比較部１０４は、対象製品の平均不良率を計算する（ステップＳ１３）。対象製品は、ステップＳ１２で選択された対象製造実績データ項目のデータを含むレコードであって、ステップＳ１１で不良フラグ１６６に「０」か「１」が設定されたレコードの製品ＩＤ１６１で識別される製品である。
The defect
不良率比較部１０４は、対象製品における対象製造実績データ項目のデータの区間別の不良率を計算する（ステップＳ１４）。対象製造実績データ項目のデータの区間は、例えば、対象製造実績データ項目が寸法Ａ１６５－１ｂの場合、２．０～２．４、２．５～２．９、３．０～３．４、３．５～３．９等であり、２．０～２．４が１つの区間である。
The defect
区間の下限２．０と上限２．４等は予め設定される。図２に示した品質データテーブル１６の例では、製品ＩＤ１６１が「Ａ００２」の製品は、寸法Ａ１６５－１ｂの３．０～３．４の区間において１つの不良となる。３．０～３．４の区間において、この１つの不良を含む不良品の個数の、対象製品の個数に対する割合が、不良率として計算される。
The lower limit 2.0 and the upper limit 2.4 of the section are set in advance. In the example of the quality data table 16 shown in FIG. 2, the product having the
なお、ステップＳ１３で計算された対象製品の平均不良率は、区間別の計算ではないので、区間によらない平均不良率となる。 Since the average defect rate of the target product calculated in step S13 is not calculated for each section, it is an average defect rate that does not depend on the section.
不良率比較部１０４は、ステップＳ１４で計算された製造実績データ項目のデータの区間別の不良率が、ステップＳ１３で計算された対象製品の平均不良率を上回っている区間を抽出する（ステップＳ１５）。
The defect
以上のステップＳ１３からステップＳ１５までを繰り返すことにより、不良率比較部１０４は、抽出された区間と、その抽出された区間に対応する製造実績データ項目との組合せを得る。なお、この得られた組合せは、単独の不良原因の候補あるいは複合の不良原因の一部となる候補である。
By repeating the above steps S13 to S15, the defect
図５は、組合せ不良率計算部１０５及び組合せ不良原因優先順位生成部１０６の処理の例を示すフローチャートである。組合せ不良率計算部１０５は、製造実績データ項目の組合せ数を設定する（ステップＳ２１）。製造実績データ項目の組合せ数は、ユーザーが抽出を望む不良原因の組合せ数を意味し、前述のように図６に示した入力欄５５０に入力された値を設定する。なお、所定の初期値が設定されていてもよい。
FIG. 5 is a flowchart showing an example of processing of the combination defect
組合せ不良率計算部１０５は、不良率比較部１０４によりステップＳ１５で抽出された区間を使用して、ステップＳ２１で設定された組合せ数の任意の区間の組合せを生成し、生成された組合せの組合せ不良率を計算する（ステップＳ２２）。このために、生成された組合せの区間で共通する不良品の数を、生成された組合せの区間で共通する製品の数で除算してもよい。
The combination defect
組合せ不良原因優先順位生成部１０６は、組合せ不良率計算部１０５によりステップＳ２２で計算された組合せ不良率が高いものを上位として、製造実績データ項目の組合せを順位付けする（ステップＳ２３）。また、生成された組合せの区間で共通する不良品の数で順位付けしてもよく、不良品の数で順位付けした後に組合せ不良率で順位付けしてもよい。
The combination defect cause priority
図７は、抽出結果画面６００の例を示す図である。操作受付部１０３は、組合せ不良原因優先順位生成部１０６の生成した情報に基づいて、例えば、図７に示すような抽出結果画面６００を表示部１４に出力する。抽出結果画面６００は、表示欄６１０～６６０と、詳細リンク６７０とを含む。
FIG. 7 is a diagram showing an example of the
表示欄６１０は、入力欄５４０で設定されたソートに用いられる指標を表示するための欄である。図７の例では、表示欄６１０に対応する値が表示欄６６０に表示される。表示欄６２０は、入力欄５５０で設定された不良原因の組合せ数表示するための欄であり、ステップＳ２１で設定された製造実績データ項目の組合せ数である。
The
表示欄６３０～６６０は、図４～５のフローチャートの処理によって抽出された組合せ原因を表示するための欄である。表示欄６１０は、表示欄６４０の不良原因組合せの順位を表示するための欄であり、表示欄６４０は、表示欄６２０に表示された数の不良原因すなわち製造実績データ項目を表示するための欄である。
The
表示欄６４０の不良原因組合せに対し、表示欄６５０は不良品数を表示するための欄であり、表示欄６６０は表示欄６１０のソートする指標の値を表示するための欄である。「ＣＯＮＦＩＤＥＮＣＥ」は、適合率であり、組合せ不良率であってもよい。また、適合率の代わりに入力欄５４０での入力に基づいて再現率が表示されてもよい。
The
詳細リンク６７０は、各不良原因組合せの詳細情報を表示するためのリンクであり、リンクが操作されて表示される詳細情報に関しては、図８を用いて後述する。表示欄６３０～６６０のデータと詳細リンク６７０は、スクロールが可能であり、さらに下位の順位のデータも表示可能である。
The
なお、図７の表示の例は、まず表示欄６５０の不良品数が降順にソートされ、次にソートする指標の表示欄６６０の「ＣＯＮＦＩＤＥＮＣＥ」の値が降順にソートされて、順位付けられた表示となっている。
In the display example of FIG. 7, the number of defective products in the
このような抽出結果画面６００により、不良原因抽出システム１は、不良発生の組合せ原因に該当する可能性が高い組合せの候補を、ユーザーに簡単に発見させることができる。また、不良原因抽出システム１は、組合せの要素数別に、組合せの候補をユーザーに簡単に発見させることができる。
With such an
図８は、不良原因詳細画面７００の例を示す図である。操作受付部１０３は、図７に示した詳細リンク６７０の操作を受け付けた場合、例えば、図８に示すような不良原因詳細画面７００を表示する。不良原因詳細画面７００は、表示欄７１０～７５０、スクロールバー７６０、及び戻るリンク７７０を含む。
FIG. 8 is a diagram showing an example of a defect
表示欄７１０、７２０は、図７に示した表示欄６３０、６２０とそれぞれ同じ情報を表示するための欄である。表示欄７３０は、図７に示した表示欄６４０と同じ情報を表示するための欄である。図８の例では、図７の例とは異なる表示形式となっているが、他の表示形式であってもよい。
The
表示欄７４０は、表示欄７３０の不良原因組合せとなる製造実績データ項目の製造実績データ（値）がプロットされたグラフを、良品と不良品の関係として、表示するための欄である。表示欄７５０は、表示欄７３０の不良原因組合せとなる製造実績データ項目を１つずつに関して製造実績データ（値）と不良率の分布を表示するための欄である。
The
表示欄７５０では、製造実績データすなわち計測値における頻度がヒストグラムで表示され、計測値で表される区間の不良率が折れ線グラフで表示されている。また、区間を通しての平均不良率が一点鎖線で表示されている。 In the display column 750, the manufacturing record data, that is, the frequency in the measured value is displayed in a histogram, and the defect rate of the section represented by the measured value is displayed in a line graph. In addition, the average defective rate throughout the section is indicated by a long-dotted line.
スクロールバー７６０は、不良原因組合せの他の製造実績データ項目に関する分布を表示するためのスクロールの操作を受け付けるためのものである。なお、表示欄７５０には、複数の製造実績データ項目のヒストグラム等が並べて表示されてもよい。戻るリンク７７０は、抽出結果画面６００へ戻るためのリンクである。
The
不良原因詳細画面７００により、不良原因抽出システム１は、組合せ原因又は組合せに含まれる製造実績データ項目における良品及び不良品の製造実績データの差異や区間不良率の詳細等を、ユーザーに簡単に確認させることができる。ユーザーは、組合せ原因を不良の原因として確定する判断材料を得ることができる。
On the defect
以上で説明したように、不良が複数の原因によるものであっても、各原因による複数の項目の製造実績データの組合せを分析することにより、原因の組合せを順位付けて抽出することができる。特に、単一の製造実績データ項目の分析では、抽出できない原因であっても、抽出の可能性が高まる。 As described above, even if the defect is caused by a plurality of causes, the combination of the causes can be ranked and extracted by analyzing the combination of the manufacturing record data of a plurality of items due to each cause. In particular, the analysis of a single manufacturing record data item increases the possibility of extraction even if the cause cannot be extracted.
このような組合せの分析は、特に、複数の工程により製造される製品の不良の原因の抽出に有効である。そして、不良が未知の原因によるものであっても、その不良が複数の原因によるものであれば、複数の原因の組合せを順位付けて抽出することにより、未知の原因の情報を提供することができる。 Analysis of such combinations is particularly useful for extracting the causes of defects in products manufactured by a plurality of steps. Then, even if the defect is caused by an unknown cause, if the defect is caused by a plurality of causes, it is possible to provide information on the unknown cause by ranking and extracting a combination of a plurality of causes. can.
また、区間別の不良率の高い製造実績データ項目を抽出し、抽出した製造実績データ項目の間で組み合せて組合せ不良率を計算することにより、組合せ不良率の計算の負担を軽減できる。 Further, by extracting the manufacturing record data items having a high defect rate for each section and calculating the combination defect rate by combining the extracted manufacturing record data items, the burden of calculating the combination defect rate can be reduced.
なお、図１の不良原因抽出システム１の構成要素は、不良原因抽出システム１の構成を理解容易にするために、主な処理内容に応じて分類したものであり、構成要素の分類の仕方や名称が図１に示した例に限定されるものではない。不良原因抽出システム１の構成要素は、処理内容に応じて、さらに多くの構成に分類されてもよい。
The components of the defect
また、１つの構成要素がさらに多くの処理を実行するように分類されてもよく、各構成要素の処理は、１つのハードウェアで実行されてもよいし、複数のハードウェアで実行されてもよい。そして、各構成要素の処理又は機能の分担は、本発明の目的及び効果を達成できるのであれば、上述したものに限定されるものではない。 Further, one component may be classified so as to perform more processing, and the processing of each component may be executed by one hardware or may be executed by a plurality of hardware. good. The processing or division of functions of each component is not limited to those described above as long as the object and effect of the present invention can be achieved.
図２に示す品質データベース１５のデータ構造は、一例であり、品質データテーブル１６と不良データテーブル１７に限定されるものではなく、本発明の目的を達成することができるのであれば、図示した例に限定されるものではない。
The data structure of the
図４、５で示したフローチャートの処理単位は、不良原因抽出システム１の処理を理解容易にするために、主な処理内容に応じて分割したものである。処理単位の分割の仕方や名称が図４、５に示した例に限定されるものではない。不良原因抽出システム１の処理は、処理内容に応じて、さらに多くの処理単位に分割されてもよい。
The processing units of the flowcharts shown in FIGS. 4 and 5 are divided according to the main processing contents in order to make the processing of the defect
また、１つの処理単位がさらに多くの処理を含むように分割されてもよく、本発明の目的及び効果を達成できるのであれば、フローチャートにおける処理単位の順序も、図示した例に限定されるものではない。また、図６～８に示した画面は、それぞれが一例であり、ユーザーが簡単に確認等できるのであれば、図示した例に限定されるものではない。 Further, one processing unit may be divided so as to include more processing, and the order of the processing units in the flowchart is also limited to the illustrated example as long as the object and effect of the present invention can be achieved. is not it. Further, each of the screens shown in FIGS. 6 to 8 is an example, and is not limited to the illustrated example as long as the user can easily confirm the screen.
また、上述した各部、構成要素、機能、あるいは装置等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等によりハードウェアで実現してもよい。また、一部がハードウェアで実現された場合、他の部分は演算装置がそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現されてもよい。 Further, the above-mentioned parts, components, functions, devices and the like may be realized by hardware by designing a part or all of them by, for example, an integrated circuit. Further, when a part is realized by hardware, the other part may be realized by software by interpreting and executing a program in which the arithmetic unit realizes each function.
各部、構成要素、あるいは機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリーや、ハードディスク、ＳＳＤ等の記録装置、又は、ＩＣカード、ＳＤカード、ＤＶＤ等の記録媒体に格納されてもよい。また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。 Information such as programs, tables, and files that realize each part, component, or function may be stored in a memory, a recording device such as a hard disk or SSD, or a recording medium such as an IC card, SD card, or DVD. .. In addition, the control lines and information lines indicate those that are considered necessary for explanation, and do not necessarily indicate all the control lines and information lines in the product. In practice, it can be considered that almost all configurations are interconnected.
（付記）
第１の不良原因抽出システムであって、複数の製品を製造する複数の工程それぞれにおいて発生する計測項目の値と、複数の製品のそれぞれが良品であるか不良品であるかを示す不良品情報を蓄積するデータベースと、前記データベースに蓄積された不良品情報が不良を示す製品の個数の割合と、前記データベースに蓄積された計測項目の値との関係を、前記データベースに蓄積された計測項目ごとに特定し、特定された関係における割合と、前記データベースに蓄積された計算項目ごとに平均化された割合とを比較し、不良原因の候補となる値を計測項目ごとに抽出する比較部と、前記比較部で抽出された不良原因の候補となる値とその値が属する計測項目において、設定された数の計測項目の組合せを生成し、組み合せられた計測項目それぞれの値が計測された共通の製品の、前記データベースに蓄積された不良情報が不良を示す個数の割合を算出する計算部と、前記計算部で算出された割合に応じて、組合せ不良原因の順位指標を割り当てる順位生成部と、を備えたことを特徴とする。
(Additional note)
In the first defect cause extraction system, the values of measurement items generated in each of a plurality of processes for manufacturing a plurality of products and defective product information indicating whether each of the plurality of products is a good product or a defective product. The relationship between the database that stores the data, the ratio of the number of products whose defective product information stored in the database indicates defects, and the values of the measurement items stored in the database is determined for each measurement item stored in the database. A comparison unit that compares the ratio in the specified relationship with the ratio averaged for each calculation item accumulated in the database, and extracts values that are candidates for the cause of defects for each measurement item. In the measurement items to which the values that are candidates for the cause of defects extracted by the comparison unit and the values belong, a set number of combinations of measurement items are generated, and the values of each of the combined measurement items are measured in common. A calculation unit that calculates the ratio of the number of products whose defect information stored in the database indicates defects, and a ranking generation unit that assigns a ranking index of the cause of combination defects according to the ratio calculated by the calculation unit. It is characterized by being equipped with.
前記第１の不良原因抽出システムを含む第２の不良原因抽出システムであって、前記データベースは、工程に関連付けられた第１の日付と、不良品情報に関連付けられた第２の日付とを、さらに蓄積し、前記比較部は、期間を取得し、前記データベースに蓄積された計測項目ごとに、取得された期間に対応する日付に含まれる第１の日付を特定し、特定された第１の日付に関連付けられた工程で製造された第１の製品を特定し、取得された期間に含まれる第２の日付を特定し、特定された第２の日付に関連付けられた不良品情報が不良品を示す第２の製品を特定し、第２の製品の個数に対する第１の製品の個数の割合を、前記データベースに蓄積された計測項目ごとに、平均化された第１の割合として算出し、前記データベースに蓄積された計測項目ごとに、前記データベースに蓄積された計測項目の値を予め設定された複数の区間のいずれかに分類し、区間ごとに、計測項目の値を発生させた工程により製造された第３の製品を特定し、区間ごとに、第３の製品かつ第１の製品の個数に対する第３の製品かつ第２の製品の個数を、特定された関係における第２の割合として算出し、区間ごとの第２の割合と、平均化された第１の割合とを比較し、平均化された第１の割合を、区間ごとの第２の割合が上回る区間を、不良原因の候補となる値として、計測項目ごとに抽出することを特徴とする。 In the second defect cause extraction system including the first defect cause extraction system, the database has a first date associated with the process and a second date associated with the defective product information. Further accumulating, the comparison unit acquires a period, identifies the first date included in the date corresponding to the acquired period for each measurement item accumulated in the database, and identifies the first date. The first product manufactured in the process associated with the date is identified, the second date included in the acquired period is identified, and the defective product information associated with the identified second date is the defective product. The second product indicating the above is specified, and the ratio of the number of the first product to the number of the second product is calculated as the averaged first ratio for each measurement item accumulated in the database. For each measurement item stored in the database, the value of the measurement item stored in the database is classified into one of a plurality of preset sections, and the value of the measurement item is generated for each section. Identify the third product manufactured and, for each section, the number of third and second products to the number of third and first products as the second ratio in the specified relationship. Calculated, compare the second ratio for each section with the averaged first ratio, and the section where the averaged first ratio exceeds the second ratio for each section is the cause of the defect. As a candidate value, it is characterized by extracting each measurement item.
前記第２の不良原因抽出システムを含む第３の不良原因抽出システムであって、前記データベースは、製品と計測項目の値に対して、さらにフラグを関連付けて蓄積し、前記比較部は、前記データベースにおいて、第２の製品に関連付けられたフラグに不良品を示す情報を設定し、前記データベースにおいて、第１の製品の中で第２の製品以外に製品に関連付けられたフラグに良品を示す情報を設定し、前記データベースに蓄積された計測項目を順次選択し、選択された計測項目に対応する第４の製品を特定し、第４の製品に関連付けられたフラグに設定された不良品の数を、第４の製品に関連付けられたフラグに設定された不良品と良品の数で除算することにより、平均化された第１の割合を算出することを特徴とする。 A third defect cause extraction system including the second defect cause extraction system, in which the database further associates and accumulates flags with respect to the values of products and measurement items, and the comparison unit stores the database. In, information indicating a defective product is set in the flag associated with the second product, and in the database, information indicating a non-defective product is set in the flag associated with the product other than the second product in the first product. Set, sequentially select the measurement items stored in the database, identify the fourth product corresponding to the selected measurement item, and set the number of defective products in the flag associated with the fourth product. , It is characterized in that the averaged first ratio is calculated by dividing by the number of defective products and non-defective products set in the flag associated with the fourth product.
前記第３の不良原因抽出システムを含む第４の不良原因抽出システムであって、第１の日付は工程完了の日付であり、第２の日付は不良検知の日付であり、前記比較部は、同じ製品の工程完了の日付と不良検知の日付との差に基づき、第１の日付を特定するための、取得された期間に対応する日付を算出することを特徴とする。 In the fourth defect cause extraction system including the third defect cause extraction system, the first date is the date of process completion, the second date is the date of defect detection, and the comparison unit indicates. It is characterized in that the date corresponding to the acquired period for specifying the first date is calculated based on the difference between the process completion date and the defect detection date of the same product.
前記第４の不良原因抽出システムを含む第５の不良原因抽出システムであって、入力および表示を制御する操作受付部をさらに備え、前記操作受付部は、期間あるいは開始の指示が入力されるように制御し、期間が入力されると、前記データベースにおいて、入力された期間に含まれる第２の日付を特定し、特定された第２の日付と関連付けられた不良品情報を表示するように制御し、開始の指示が入力されると、入力された期間を前記比較部へ出力することを特徴とする。 The fifth defect cause extraction system including the fourth defect cause extraction system further includes an operation reception unit for controlling input and display, and the operation reception unit is such that an instruction for a period or a start is input. When a period is entered, the database identifies a second date included in the entered period and controls to display defective product information associated with the specified second date. Then, when the start instruction is input, the input period is output to the comparison unit.
前記第２の不良原因抽出システムを含む第６の不良原因抽出システムであって、前記計算部は、前記比較部で抽出された区間と、その区間が属する計測項目において、設定された数の計測項目の組合せを生成し、生成された組合せの計測項目それぞれの区間に含まれる値が計測された共通の第５の製品に対し、第５の製品かつ第１の製品の個数に対する第５の製品かつ第２の製品の個数を、組合せにおける共通の製品の不良の個数の割合として、算出することを特徴とする。 In the sixth defect cause extraction system including the second defect cause extraction system, the calculation unit measures a set number of sections extracted by the comparison unit and measurement items to which the sections belong. A fifth product for the number of the fifth product and the first product for a common fifth product in which a combination of items is generated and the values included in each section of the measured items of the generated combination are measured. Moreover, it is characterized in that the number of the second products is calculated as the ratio of the number of defective products of the common product in the combination.
前記第６の不良原因抽出システムを含む第７の不良原因抽出システムであって、入力および表示を制御する操作受付部をさらに備え、前記操作受付部は、組合せの数が入力されるように制御し、組合せの数が入力されると、入力された数を前記計算部へ設定することを特徴とする。 The seventh defect cause extraction system including the sixth defect cause extraction system further includes an operation reception unit for controlling input and display, and the operation reception unit controls so that the number of combinations is input. However, when the number of combinations is input, the input number is set in the calculation unit.
前記第７の不良原因抽出システムを含む第８の不良原因抽出システムであって、前記順位生成部は、組合せにおける共通の製品の不良の個数の割合として算出した第３の割合と第４の割合に対して、第３の割合が第４の割合より高い場合、第３の割合が算出された計測項目の組合せに、第４の割合が算出された計測項目の組合せより、組合せ不良原因として、高い順位指標を割り当てることを特徴とする。 In the eighth defect cause extraction system including the seventh defect cause extraction system, the ranking generation unit has a third ratio and a fourth ratio calculated as the ratio of the number of defects of a common product in the combination. On the other hand, when the third ratio is higher than the fourth ratio, the combination of the measurement items for which the third ratio is calculated and the combination of the measurement items for which the fourth ratio is calculated are used as the cause of the poor combination. It is characterized by assigning a high ranking index.
前記第８の不良原因抽出システムを含む第９の不良原因抽出システムであって、第１の組合せの第５の製品かつ第２の製品が、第１の個数であり、第２の組合せの第５の製品かつ第２の製品が、第１の個数より少ない第２の個数であり、第２の組合せで第３の割合が算出され、第３の組合せの第５の製品かつ第２の製品が、第２の組合せと同じ第２の個数であり、第３の組合せで第４の割合が算出された場合、前記順位生成部は、第１の組合せに第２の組合せより高い順位指標を割り当て、第２の組合せに第３の組合せより高い順位指標を割り当てることを特徴とする。 In the ninth defect cause extraction system including the eighth defect cause extraction system, the fifth product and the second product of the first combination are the first number and the second combination. The product of 5 and the second product is the second number less than the number of the first, the third ratio is calculated by the second combination, and the fifth product and the second product of the third combination. However, when the number of the second combination is the same as that of the second combination and the fourth ratio is calculated in the third combination, the rank generation unit gives the first combination a higher rank index than the second combination. Allocation, characterized by assigning a higher ranking index to the second combination than to the third combination.
前記第９の不良原因抽出システムを含む第１０の不良原因抽出システムであって、前記順位生成部は、組合せと順位指標を前記操作受付部へ出力し、前記操作受付部は、組合せと順位指標とを対応づけて表示するように制御することを特徴とする。 In the tenth defect cause extraction system including the ninth defect cause extraction system, the ranking generation unit outputs a combination and a ranking index to the operation reception unit, and the operation reception unit outputs a combination and a ranking index. It is characterized in that it is controlled to display in association with and.
１…不良原因抽出システム、２…製造ライン、３…不良情報収集システム、１０…制御部、１１…記憶部、１２…通信部、１３…入力部、１４…表示部、１５…品質データベース、１６…品質データテーブル、１７…不良データテーブル、１０１…製造実績情報取得部、１０２…不良品情報取得部、１０３…操作受付部、１０４…不良率比較部、１０５…組合せ不良率計算部、１０６…組合せ不良原因優先順位生成部 1 ... defect cause extraction system, 2 ... production line, 3 ... defect information collection system, 10 ... control unit, 11 ... storage unit, 12 ... communication unit, 13 ... input unit, 14 ... display unit, 15 ... quality database, 16 ... Quality data table, 17 ... Defect data table, 101 ... Manufacturing record information acquisition unit, 102 ... Defect product information acquisition unit, 103 ... Operation reception unit, 104 ... Defect rate comparison unit, 105 ... Combination defect rate calculation unit, 106 ... Combination failure cause priority generation unit
Claims (10)
複数の製品を製造する複数の工程それぞれにおいて発生する計測項目の値と、複数の製品のそれぞれが良品であるか不良品であるかを示す不良品情報と、前記工程に関連付けられた第１の日付と、前記不良品情報に関連付けられた第２の日付とを蓄積するデータベースと、
期間を取得し、前記データベースに蓄積された計測項目ごとに、取得された前記期間に対応する日付に含まれる前記第１の日付を特定し、特定された前記第１の日付に関連付けられた工程で製造された第１の製品を特定し、取得された前記期間に含まれる前記第２の日付を特定し、特定された前記第２の日付に関連付けられた不良品情報が不良品を示す第２の製品を特定し、前記第２の製品の個数に対する前記第１の製品の個数の割合を、前記データベースに蓄積された計測項目ごとに、平均化された第１の割合である平均不良率として算出し、前記データベースに蓄積された計測項目ごとに、前記データベースに蓄積された計測項目の値を予め設定された複数の区間のいずれかに分類し、前記区間ごとに、計測項目の値を発生させた工程により製造された第３の製品を特定し、前記区間ごとに、前記第３の製品かつ前記第１の製品の個数に対する前記第３の製品かつ前記第２の製品の個数を、特定された関係における第２の割合である区間別不良率として算出し、前記区間別不良率と前記平均不良率とを比較し、前記平均不良率を前記区間別不良率が上回る区間を、不良原因の候補となる値として、計測項目ごとに抽出する比較部と、
前記比較部で抽出された前記不良原因の候補となる値とその値が属する計測項目において、計測項目の任意の区間の設定された数の組合せを生成し、該生成された組合せの区間で共通する製品の数に対する、該生成された組合せの区間で共通する不良品の数の割合である組合せ不良率を算出する計算部と、
前記計算部で算出された前記組合せ不良率に応じて、組合せ不良原因の順位指標を割り当てる順位生成部と、を備えたことを特徴とする不良原因抽出システム。 It is a defect cause extraction system
The value of the measurement item generated in each of the plurality of processes for manufacturing the plurality of products, the defective product information indicating whether each of the plurality of products is a good product or a defective product, and the first one associated with the process. A database that stores dates and a second date associated with the defective product information ,
A process in which a period is acquired, the first date included in the acquired date corresponding to the period is specified for each measurement item stored in the database, and the process associated with the specified first date is specified. The first product manufactured in the above is specified, the second date included in the acquired period is specified, and the defective product information associated with the specified second date indicates a defective product. 2 products are specified, and the ratio of the number of the first products to the number of the second products is the average defect rate, which is the first ratio averaged for each measurement item stored in the database. For each measurement item stored in the database, the value of the measurement item stored in the database is classified into one of a plurality of preset sections, and the value of the measurement item is set for each section. The third product manufactured by the generated process is specified, and the number of the third product and the second product is divided into the number of the third product and the first product for each section. It is calculated as the section-specific defect rate, which is the second ratio in the specified relationship, the section-specific defect rate is compared with the average defect rate, and the section in which the section-specific defect rate exceeds the average defect rate is defective. As a value that can be a candidate for the cause, a comparison unit that extracts each measurement item and a comparison unit
In the measurement item to which the value as a candidate for the cause of defect extracted by the comparison unit and the value belongs , a set number of combinations of arbitrary sections of the measurement items are generated, and the combination is common to the sections of the generated combinations. A calculation unit that calculates the combination defect rate, which is the ratio of the number of defective products common to the generated combination section to the number of products to be produced.
A defect cause extraction system including a ranking generation unit that assigns a ranking index of a combination defect cause according to the combination defect rate calculated by the calculation unit.
前記データベースは、
製品と計測項目の値に対して、さらにフラグを関連付けて蓄積し、
前記比較部は、
前記データベースにおいて、第２の製品に関連付けられたフラグに不良品を示す情報を設定し、
前記データベースにおいて、第１の製品の中で第２の製品以外に製品に関連付けられたフラグに良品を示す情報を設定し、
前記データベースに蓄積された計測項目を順次選択し、選択された計測項目に対応する第４の製品を特定し、
第４の製品に関連付けられたフラグに設定された不良品の数を、第４の製品に関連付けられたフラグに設定された不良品と良品の数で除算することにより、前記平均不良率を算出することを特徴とする不良原因抽出システム。 The defect cause extraction system according to claim 1.
The database is
For the values of products and measurement items, further flags are associated and accumulated,
The comparison unit
In the database, the flag associated with the second product is set with information indicating a defective product.
In the database, information indicating a non-defective product is set in the flag associated with the product other than the second product in the first product.
The measurement items stored in the database are sequentially selected, and the fourth product corresponding to the selected measurement item is identified.
The average defective rate is calculated by dividing the number of defective products set in the flag associated with the fourth product by the number of defective products and non-defective products set in the flag associated with the fourth product. A defect cause extraction system characterized by
第１の日付は工程完了の日付であり、
第２の日付は不良検知の日付であり、
前記比較部は、
同じ製品の工程完了の日付と不良検知の日付との差に基づき、第１の日付を特定するための、取得された期間に対応する日付を算出することを特徴とする不良原因抽出システム。 The defect cause extraction system according to claim 2.
The first date is the date of process completion,
The second date is the date of defect detection,
The comparison unit
A defect cause extraction system characterized by calculating the date corresponding to the acquired period for identifying the first date based on the difference between the process completion date and the defect detection date of the same product .
入力および表示を制御する操作受付部をさらに備え、
前記操作受付部は、
期間あるいは開始の指示が入力されるように制御し、
期間が入力されると、前記データベースにおいて、入力された期間に含まれる第２の日付を特定し、特定された第２の日付と関連付けられた不良品情報を表示するように制御し、
開始の指示が入力されると、入力された期間を前記比較部へ出力することを特徴とする不良原因抽出システム。 The defect cause extraction system according to claim 3.
It also has an operation reception unit that controls input and display.
The operation reception unit
Controls the period or start instructions to be entered,
When a period is entered, the database is controlled to identify a second date included in the entered period and display defective product information associated with the specified second date.
A defect cause extraction system characterized in that when a start instruction is input, the input period is output to the comparison unit .
前記計算部は、
前記比較部で抽出された区間と、その区間が属する計測項目において、設定された数の計測項目の組合せを生成し、生成された組合せの計測項目それぞれの区間に含まれる値が計測された共通の第５の製品に対し、第５の製品かつ第１の製品の個数に対する第５の製品かつ第２の製品の個数を、組合せにおける共通の製品の不良の個数の割合として、算出することを特徴とする不良原因抽出システム。 The defect cause extraction system according to claim 1 .
The calculation unit
In the section extracted by the comparison unit and the measurement item to which the section belongs, a set number of combinations of measurement items are generated, and the values included in each section of the generated combination of measurement items are measured in common. The number of the fifth product and the second product is calculated as the ratio of the number of defective products of the common product in the combination to the number of the fifth product and the first product with respect to the fifth product of the above. Characteristic defect cause extraction system.
入力および表示を制御する操作受付部をさらに備え、
前記操作受付部は、
組合せの数が入力されるように制御し、
組合せの数が入力されると、入力された数を前記計算部へ設定することを特徴とする不良原因抽出システム。 The defect cause extraction system according to claim 5 .
It also has an operation reception unit that controls input and display.
The operation reception unit
Control so that the number of combinations is entered,
A defect cause extraction system characterized in that when the number of combinations is input, the input number is set in the calculation unit .
前記順位生成部は、
組合せにおける共通の製品の不良の個数の割合として算出した第３の割合と第４の割合に対して、第３の割合が第４の割合より高い場合、第３の割合が算出された計測項目の組合せに、第４の割合が算出された計測項目の組合せより、組合せ不良原因として、高い順位指標を割り当てることを特徴とする不良原因抽出システム。 The defect cause extraction system according to claim 6.
The rank generation unit is
When the third ratio is higher than the fourth ratio with respect to the third ratio and the fourth ratio calculated as the ratio of the number of defective products in common in the combination, the measurement item for which the third ratio is calculated. A defect cause extraction system characterized in that a higher ranking index is assigned as a combination defect cause from the combination of measurement items for which a fourth ratio is calculated .
第１の組合せの第５の製品かつ第２の製品が、第１の個数であり、
第２の組合せの第５の製品かつ第２の製品が、第１の個数より少ない第２の個数であり、第２の組合せで第３の割合が算出され、
第３の組合せの第５の製品かつ第２の製品が、第２の組合せと同じ第２の個数であり、
第３の組合せで第４の割合が算出された場合、
前記順位生成部は、
第１の組合せに第２の組合せより高い順位指標を割り当て、第２の組合せに第３の組合せより高い順位指標を割り当てることを特徴とする不良原因抽出システム。 The defect cause extraction system according to claim 7.
The fifth product and the second product of the first combination are the first number.
The fifth product and the second product of the second combination are the second number less than the first number, and the third ratio is calculated by the second combination.
The fifth product and the second product of the third combination have the same second number as the second combination.
When the 4th ratio is calculated by the 3rd combination,
The rank generation unit is
A defect cause extraction system characterized in that a ranking index higher than that of the second combination is assigned to the first combination, and a ranking index higher than that of the third combination is assigned to the second combination .
前記順位生成部は、
組合せと順位指標を前記操作受付部へ出力し、
前記操作受付部は、
組合せと順位指標とを対応づけて表示するように制御することを特徴とする不良原因抽出システム。 The defect cause extraction system according to claim 8.
The rank generation unit is
The combination and the ranking index are output to the operation reception unit, and the combination and the ranking index are output to the operation reception unit.
The operation reception unit
A defect cause extraction system characterized in that the combination and the ranking index are controlled to be displayed in association with each other .
前記コンピューターは、演算装置と記憶装置を備え、
前記記憶装置は、
複数の製品を製造する複数の工程それぞれにおいて発生する計測項目の値と、複数の製品のそれぞれが良品であるか不良品であるかを示す不良品情報と、前記工程に関連付けられた第１の日付と、前記不良品情報に関連付けられた第２の日付とを蓄積するデータベースと、プログラムが格納され、
前記演算装置は、前記プログラムを実行し、
期間を取得し、
前記データベースに蓄積された計測項目ごとに、取得された前記期間に対応する日付に含まれる前記第１の日付を特定し、特定された前記第１の日付に関連付けられた工程で製造された第１の製品を特定し、取得された前記期間に含まれる前記第２の日付を特定し、特定された前記第２の日付に関連付けられた不良品情報が不良品を示す第２の製品を特定し、前記第２の製品の個数に対する前記第１の製品の個数の割合を、前記データベースに蓄積された計測項目ごとに、平均化された第１の割合である平均不良率として算出し、
前記データベースに蓄積された計測項目ごとに、前記データベースに蓄積された計測項目の値を予め設定された複数の区間のいずれかに分類し、前記区間ごとに、計測項目の値を発生させた工程により製造された第３の製品を特定し、前記区間ごとに、前記第３の製品かつ前記第１の製品の個数に対する前記第３の製品かつ前記第２の製品の個数を、特定された関係における第２の割合である区間別不良率として算出し、
前記区間別不良率と前記平均不良率とを比較し、
前記平均不良率を前記区間別不良率が上回る区間を、不良原因の候補となる値として、計測項目ごとに抽出し、
前記抽出された不良原因の候補となる値とその値が属する計測項目において、計測項目の任意の区間の設定された数の組合せを生成し、該生成された組合せの区間で共通する製品の数に対する、該生成された組合せの区間で共通する不良品の数の割合である組合せ不良率を算出し、
算出された前記組合せ不良率に応じて、組合せ不良原因の順位指標を割り当てることを特徴とする不良原因の抽出方法。 It is a method of extracting the cause of failure by a computer .
The computer includes an arithmetic unit and a storage device.
The storage device is
The value of the measurement item generated in each of the plurality of processes for manufacturing the plurality of products, the defective product information indicating whether each of the plurality of products is a good product or a defective product, and the first one associated with the process. A database and a program for accumulating the date and the second date associated with the defective product information are stored.
The arithmetic unit executes the program and
Get the period,
For each measurement item stored in the database, the first date included in the acquired date corresponding to the period is specified, and the first date manufactured in the process associated with the specified first date is specified. Identify one product, identify the second date included in the acquired period, and identify the second product whose defective product information associated with the identified second date indicates a defective product. Then, the ratio of the number of the first products to the number of the second products is calculated as the average defect rate, which is the averaged first ratio for each measurement item stored in the database.
A process in which the value of the measurement item stored in the database is classified into one of a plurality of preset sections for each measurement item stored in the database, and the value of the measurement item is generated for each section. The number of the third product and the second product is specified with respect to the number of the third product and the first product for each of the sections. Calculated as the defect rate by section, which is the second ratio in
Comparing the defect rate for each section with the average defect rate,
A section in which the defect rate for each section exceeds the average defect rate is extracted for each measurement item as a candidate value for the cause of the defect.
In the extracted values that are candidates for the cause of defects and the measurement items to which the values belong, a set number of combinations of arbitrary sections of the measurement items are generated, and the number of products common to the sections of the generated combinations. The combination defect rate, which is the ratio of the number of defective products common to the generated combination section, is calculated.
A method for extracting a defect cause, which comprises assigning a ranking index of a combination defect cause according to the calculated combination defect rate .
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