JP6996642B2 - 情報処理装置、制御方法、及びプログラム - Google Patents

Description

本発明は構造物の検査に関する。

コンクリートや鋼材からなる構造物が、様々な用途で利用されている。例えばこのような構造物には、トンネルや橋梁などのインフラ構造物や、飛行機や自動車の外殻プレートなどがある。このような構造物は、その表面や内部に生じる亀裂や空洞といった欠陥によって、健全度合い（正常度合い）が低下することが知られている。構造物の健全度の低下は、事故等の原因になりうるため、構造物の健全度を把握できる必要がある。

構造物の健全度を判定する手法として、印荷重によるたわみに着目する手法がある。特許文献１には、構造物の面内方向の変位量を画像計測から求めることで欠陥部のマッピングを行う手法が開示されている。特許文献２には、橋梁を撮像装置で撮像し、得られた画像から橋梁のたわみ量分布を計測して異常を検知する手法が開示されている。ここでいうたわみ量分布とは、橋梁上の位置ごとのたわみ量を表す分布である。

国際公開第２０１６／１５２０７５号 特開２０１６－８４５７９号公報

たわみの観測に関し、たわみを観測した位置を把握したいことがある。この点、たわみを観測した位置を測量機器などを用いて計測する方法が考えられる。しかしながら、たわみ量の観測とは別に観測位置の計測を行う必要があるため、計測のためのコストや時間が余分にかかってしまうといった問題がある。前述した先行技術文献では、観測位置を特定する方法については言及されていない。

本発明は、上述の課題に鑑みてなされたものであり、その目的の一つは、構造物のたわみを観測した位置を特定するための新たな技術を提供することである。

本発明の情報処理装置は、１）印加位置を変えながら構造物に荷重を加えることで生じた構造物のたわみの観測結果に関する観測情報を取得する取得部と、２）観測情報を用い、それぞれ異なる複数の印加位置について、印加位置からたわみの量を算出する関数の２階微分値又は関数の３階微分値を算出する算出部と、３）２階微分値の変化量の符号の変化、又は３階微分値の符号の変化に基づいて、たわみの観測位置を特定する特定部と、を有する。
観測情報は、それぞれ異なる複数の印加位置、及び各印加位置に対応するたわみの量を示す。

本発明の制御方法は、コンピュータによって実行される。当該制御方法は、１）印加位置を変えながら構造物に荷重を加えることで生じた構造物のたわみの観測結果に関する観測情報を取得する取得ステップと、２）観測情報を用い、それぞれ異なる複数の印加位置について、印加位置からたわみの量を算出する関数の２階微分値又は関数の３階微分値を算出する算出ステップと、３）２階微分値の変化量の符号の変化、又は３階微分値の符号の変化に基づいて、たわみの観測位置を特定する特定ステップと、を有する。
観測情報は、それぞれ異なる複数の印加位置、及び各印加位置に対応するたわみの量を示す。

本発明のプログラムは、コンピュータに、本発明の制御方法が有する各ステップを実行させる。

本発明によれば、構造物のたわみを観測した位置を特定するための新たな技術が提供される。

上述した目的、およびその他の目的、特徴および利点は、以下に述べる好適な実施の形態、およびそれに付随する以下の図面によってさらに明らかになる。
実施形態１の情報処理装置の概要を例示する図である。 たわみ量関数の２階微分値又は３階微分値に基づいて観測位置を特定する方法を概念的に例示する図である。 実施形態１の情報処理装置の機能構成を例示する図である。 情報処理装置を実現するための計算機を例示する図である。 実施形態１の情報処理装置によって実行される処理の流れを例示するフローチャートである。

以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。また、特に説明する場合を除き、各ブロック図において、各ブロックは、ハードウエア単位の構成ではなく、機能単位の構成を表している。

［実施形態１］
＜発明の概要＞
図１は、実施形態１の情報処理装置２０００の概要を例示する図である。図１に示す概要は、情報処理装置２０００の理解を容易にするための例示であり、情報処理装置２０００の機能を限定するものではない。

本実施形態の情報処理装置２０００は、構造物１０の健全度合いを把握するために行われた観測について、その観測位置を特定する装置である。構造物１０は、梁のように略水平方向に掛けて設置され、上から加わる荷重を支える物体である。例えば図１において、構造物１０は橋である。構造物１０は、少なくとも、互いに離間した２カ所で支えられる。

構造物１０の健全度を把握するための観測において、構造物１０には、印加位置を変えながら荷重が加えられる。例えば図１では、荷重を加える手段として、自動車２０が利用されている。具体的には、自動車２０を構造物１０の上で移動させることで、印加位置を変えながら、自動車の重さを構造物１０に加えている。なお、以降の記載では、印加位置を変えながら荷重を加えることを、「移動荷重を加える」とも表記する。

ここで、弾性曲線方程式によると、両端支持梁に集中荷重が与えられた場合、そのたわみ量は以下の式（１）で与えられる。

δ は梁のたわみ量を表す。w は印加位置を表す。x は、たわみを観測する梁上の位置（すなわち、観測位置）を表す。L、E、及びI はそれぞれ、梁の支間長、ヤング率、及び断面二次モーメントを表す。f は梁に加えられた荷重の大きさを表す。なお、原点は、梁の２つの支点の一方である（図１では左側の支点）。

仮に、式（１）において観測位置 x 以外の全ての変数に値を代入することができれば、 x の値を得ること（すなわち観測位置を知ること）ができる。しかしながら、観測位置 x 以外の全ての値を知ることは難しいことが多い。特に、ヤング率や断面二次モーメントなどといった構造物１０の物理的特性に関する値を知ることが難しいケースは多いと考えられる。例えば構造物１０が施工済みの大きな建造物（例えば橋）である場合、そのヤング率や断面二次モーメントを計測することは難しい。よって、観測位置 x 以外の変数の値を式（１）に代入することで観測位置 x を算出することは難しいことが多いと言える。

ここで、観測位置を変えずに構造物１０のたわみ量を観測する場合、式（１）において変化するのは印加位置 w とたわみ量δのみである。そこで、δを w の関数（以下、たわみ量関数）として考え、式（１）のたわみ量関数を w について２階微分すると、以下の式（２）が得られる。

式（２）は、図２の上段のグラフで表される。式（２）から、たわみ量関数の２次導関数は、２つの定義域それぞれにおいて、印加位置 w についての一次関数となることが分かる。さらに、式（２）から、印加位置 w が観測位置 x 以下の場合は二次導関数の傾きが正の値である一方、印加位置 w が観測位置 x 以上の場合は二次導関数の傾きが負の値であることが分かる。言い換えれば、印加位置 w が観測位置 x 以下の場合は、印加位置 x の増加に伴ってたわみ量関数の２階微分値が増加する一方、印加位置 w が観測位置 x 以上の場合は、印加位置 x の増加に伴ってたわみ量関数の２階微分値が減少する。このことから、印加位置 w の増加に対するたわみ量関数の２階微分値の変化量の符号が変わるときの w の値が、観測位置 x となるといえる。

また、たわみ量関数を w について３階微分すると、以下の式（３）が得られる。

式（３）は、図２の下段のグラフで表される。式（３）から、たわみ量関数の３階微分値は、印加位置 w が観測位置 x 以下の場合は一定の正の値である一方、印加位置 w が観測位置 x 以上の場合は一定の負の値であることが分かる。よって、たわみ量関数の３階微分値の符号が変わるときの w の値が、観測位置 x となるといえる。なお、たわみ量関数の３階微分値は、前述したたわみ量関数の二次導関数の傾き（すなわち、２階微分値の変化率）を表す。

そこで情報処理装置２０００は、式（２）又は（３）に基づいて、構造物１０のヤング率及び断面二次モーメントの値を用いることなく、観測位置 x を特定する。そのために、情報処理装置２０００は、構造物１０のたわみ量の観測結果を示す観測情報を取得する。観測情報は、同じ大きさの荷重をそれぞれ異なる印加位置で構造物１０に加えることで得られた、印加位置と構造物１０のたわみ量の組み合わせを示す。情報処理装置２０００は、取得した観測情報を用い、それぞれ異なる印加位置について、たわみ量関数の２階微分値又は３階微分値を算出する。そして、情報処理装置２０００は、算出した２階微分値又は３階微分値に基づいて、観測位置 x を特定する。

より具体的には、たわみ量関数の２階微分値を用いる場合、情報処理装置２０００は、たわみ量関数の２階微分値の変化量の符号が変わるとき（すなわち、２階微分値の変化が増加から減少に変わるとき）の印加位置 w を特定し、特定した w を観測位置 x とする。また、たわみ量関数の３階微分値を用いる場合、情報処理装置２０００は、たわみ量関数の３階微分値の符号化変わるとき（すなわち、３階微分値が正から負に変わるとき）の印加位置 w を特定し、特定した w を観測位置 x とする。

＜作用効果＞
本実施形態の情報処理装置２０００は、たわみ量関数の２階微分値の変化量の符号の変化、又は３階微分値の符号の変化に基づいて、たわみの観測位置を特定する。この方法によれば、観測位置を計測するための測量機器を利用する必要がない。そのため、測量機器を用いた観測位置の計測に必要となるコストや時間がかからないため、コストや時間を削減することができる。また、測量機器では計測できない高所などに観測位置が存在する場合であっても、観測位置を特定することができる。

さらに、本実施形態の情報処理装置２０００によれば、荷重の印加位置とその印加位置に荷重が加えられたときのたわみ量との組み合わせという、取得が比較的容易な情報を得ればたわみの位置を特定でき、構造物１０のヤング率や断面二次モーメントなどといった取得が難しい情報を得る必要がない。よって、たわみの観測位置を容易に特定することができる。

＜特定される観測位置の利用方法＞
情報処理装置２０００によって特定されるたわみの観測位置は、様々な用途に利用できる。例えば、たわみの観測を繰り返し行う際に、最初に行ったたわみの観測の観測位置を情報処理装置２０００を用いて特定することにより、２回目以降の観測も同一の観測位置で行えるようにすることができる。このように複数回の観測において観測位置を固定できるようになるため、構造物１０の観測を精度良く行うことができるようになる。

特に、橋などの公共の構造物について観測を行う場合、たわみ量の観測に利用するカメラなどの観測機器を固定で設置し続けておくことが難しく、観測の度に観測機器の設置・撤去を行う必要がある。また、観測を毎回同じ人や業者が行うとも限らないという理由からも、観測機器を固定で設置しておくことが難しいことがある。この点、情報処理装置２０００によって特定された観測位置を用いれば、観測機器を観測の度に設置し直す場合であっても、同じ位置に観測機器を設置できる。

その他にも例えば、既に行われた複数回のたわみの観測それぞれについてたわみの観測位置を特定することにより、それらの観測結果の差異の要因を把握することができる。例えば、複数回の観測において観測位置のずれが小さければ、これらの観測結果の違いは構造物１０の劣化に起因するものであると考えられる。すなわち、観測結果の差異を信用して、構造物１０の健全度が低下していると判断することができる。一方、複数回の観測で観測位置が大きくずれていれば、これらの観測結果の差異が観測位置のずれに起因するものである可能性がある。そのため、観測結果を信用できないことが分かる。このように、情報処理装置２０００によって特定される観測位置を利用することで、観測結果の差異の要因を推測することができるため、観測結果が信用できるものであるか否かの判断を行うことが容易になる。

その他にも例えば、たわみの観測結果を用いたシミュレーションに活用することができる。シミュレーションの例としては、「健全な状態の構造物に力 f が加わったときのたわみδを求める」というシミュレーションが考えられる。このようなシミュレーションは、式（１）のような材料力学に基づいた方程式を用いた解析や、有限要素解析などによって実現される。このようなシミュレーションを行う際には、観測結果に加え、観測の条件（観測位置 x や支間長 L など）をパラメータとして与えることが好適である。情報処理装置２０００によれば、このようにシミュレーションのパラメータとして設定する観測位置を特定することができる。

以下、本実施形態の情報処理装置２０００についてさらに詳細に説明する。

＜機能構成の例＞
図３は、実施形態１の情報処理装置２０００の機能構成を例示する図である。情報処理装置２０００は、取得部２０２０、算出部２０４０、及び特定部２０６０を有する。取得部２０２０は観測情報を取得する。算出部２０４０は、観測情報を用い、それぞれ異なる複数の印加位置について、たわみ量関数の２階微分値又は３階微分値を算出する。特定部２０６０は、２階微分値の変化量の符号の変化、又は３階微分値の符号の変化に基づいて、たわみの観測位置を特定する。

＜情報処理装置２０００のハードウエア構成＞
情報処理装置２０００の各機能構成部は、各機能構成部を実現するハードウエア（例：ハードワイヤードされた電子回路など）で実現されてもよいし、ハードウエアとソフトウエアとの組み合わせ（例：電子回路とそれを制御するプログラムの組み合わせなど）で実現されてもよい。以下、情報処理装置２０００の各機能構成部がハードウエアとソフトウエアとの組み合わせで実現される場合について、さらに説明する。

図４は、情報処理装置２０００を実現するための計算機１０００を例示する図である。計算機１０００は任意の計算機である。例えば計算機１０００は、Personal Computer（PC）やサーバマシンなどの据え置き型の計算機である。その他にも例えば、計算機１０００は、スマートフォンやタブレット端末などの可搬型の計算機である。計算機１０００は、情報処理装置２０００を実現するために設計された専用の計算機であってもよいし、汎用の計算機であってもよい。

計算機１０００は、バス１０２０、プロセッサ１０４０、メモリ１０６０、ストレージデバイス１０８０、入出力インタフェース１１００、及びネットワークインタフェース１１２０を有する。バス１０２０は、プロセッサ１０４０、メモリ１０６０、ストレージデバイス１０８０、入出力インタフェース１１００、及びネットワークインタフェース１１２０が、相互にデータを送受信するためのデータ伝送路である。ただし、プロセッサ１０４０などを互いに接続する方法は、バス接続に限定されない。

プロセッサ１０４０は、CPU（Central Processing Unit）、GPU（Graphics Processing Unit）、FPGA（Field－Programmable Gate Array）などの種々のプロセッサである。メモリ１０６０は、RAM（Random Access Memory）などを用いて実現される主記憶装置である。ストレージデバイス１０８０は、ハードディスク、SSD（Solid State Drive）、メモリカード、又は ROM（Read Only Memory）などを用いて実現される補助記憶装置である。

入出力インタフェース１１００は、計算機１０００と入出力デバイスとを接続するためのインタフェースである。例えば入出力インタフェース１１００には、キーボードなどの入力装置や、ディスプレイ装置などの出力装置が接続される。

ネットワークインタフェース１１２０は、計算機１０００を通信網に接続するためのインタフェースである。この通信網は、例えば LAN（Local Area Network）や WAN（Wide Area Network）である。ネットワークインタフェース１１２０が通信網に接続する方法は、無線接続であってもよいし、有線接続であってもよい。

ストレージデバイス１０８０は、情報処理装置２０００の各機能構成部を実現するプログラムモジュールを記憶している。プロセッサ１０４０は、これら各プログラムモジュールをメモリ１０６０に読み出して実行することで、各プログラムモジュールに対応する機能を実現する。

＜処理の流れ＞
図５は、実施形態１の情報処理装置２０００によって実行される処理の流れを例示するフローチャートである。取得部２０２０は観測情報を取得する（Ｓ１０２）。算出部２０４０は、観測情報を用い、それぞれ異なる複数の印加位置について、たわみ量関数の２階微分値又は３階微分値を算出する（Ｓ１０４）。特定部２０６０は、２階微分値の変化量の符号の変化、又は３階微分値の符号の変化に基づいて、たわみの観測位置を特定する（Ｓ１０６）。

＜観測情報の取得：Ｓ１０２＞
取得部２０２０は、観測情報を取得する（Ｓ１０２）。観測情報は、移動荷重が加えられた構造物１０について行われたたわみの観測に関する情報である。観測情報は、少なくとも、荷重の印加位置と、その印加位置に荷重が加えられたときのたわみ量との組み合わせを複数示す。

印加位置は、例えば、構造物１０に対して荷重を加える装置に設けられた位置センサ（例えば GPS（Global Positioning System）センサ）などを利用して算出することができる。また、時刻は、荷重を加える装置に設けられた時計などから得ることができる。

また、印加位置は、荷重の移動速度（例えば、荷重を加える装置として利用される車の速度）に基づいて算出されてもよい。例えば、荷重の移動速度が一定である場合、荷重を加え始めた時刻（印加位置が０である時刻）、荷重を加え終えた時刻（印加位置が L である時刻）、及び荷重の移動速度に基づいて、各時刻における印加位置を算出することができる。また、荷重の移動速度が一定でない場合、例えば、荷重を加え始めた時刻（印加位置が０である時刻）、荷重を加え終えた時刻（印加位置が L である時刻）、及び複数の時刻における荷重の移動速度の履歴に基づいて、各時刻における印加位置を算出することができる。

構造物１０に対して荷重を加える装置には、様々なものを利用できる。例えば前述した自動車のように、乗り物を利用することができる。

構造物１０のたわみ量を算出する技術には、既存の技術を利用することができる。例えば、構造物１０の観測位置に変位センサを設けておき、そのセンサの検出値に基づいて、たわみ量を算出するという方法がある。その他にも例えば、構造物１０をカメラで撮像し、その撮像画像を解析することでも、たわみ量を算出することができる。

観測情報は、構造物１０の支間長 L をさらに示してもよい。構造物１０の支間長は、構造物１０の設計図などから得てもよいし、測量機器を用いて測量することで得られてもよい。また、自動車２０など、移動荷重を印加する手段として装置が構造物１０の支間を移動するのに要した時間と、その装置の移動速度に基づいて、支間長を計算してもよい。なお、構造物１０の支間長 L は、予め情報処理装置２０００に設定されていてもよい。

取得部２０２０が観測情報を取得する方法は様々である。例えば取得部２０２０は、観測情報が記憶されている記憶装置にアクセスすることで、観測情報を取得する。この記憶装置は、情報処理装置２０００の内部に設けられていてもよいし、情報処理装置２０００の外部に設けられていてもよい。その他にも例えば、情報処理装置２０００は、他の装置から送信される観測情報を受信することで、観測情報を取得してもよい。この「他の装置」は、例えば、構造物１０についての観測を行った装置である。

なお、印加位置とたわみ量は、それぞれ別の装置から送信されてもよい。例えば印加位置は、荷重の印加に利用された装置（例えば自動車２０）から送信される。一方、たわみ量は、たわみの観測や解析に利用された装置（例えば変位センサや、撮像画像を解析した装置）から送信される。

印加位置とたわみ量をそれぞれ取得する場合、取得部２０２０は、印加位置と、その印加位置に荷重が加えられたときのたわみ量とを対応付けることにより、観測情報を取得する。この対応付けを実現するために、例えば取得部２０２０は、印加位置を、その印加位置に荷重が加えられた時刻と対応づけて取得する。また、取得部２０２０は、たわみ量を、そのたわみ量が観測された時刻に対応づけて取得する。そして、例えば取得部２０２０は、同時刻又は最も近い時刻の印加位置とたわみ量とを対応づける。その他にも例えば、取得部２０２０は、時刻と印加位置との対応関係を線形補間等の補間法により補間することにより、たわみ量が観測された時刻と同時刻の印加位置を推測し、推測した印加位置とたわみ量とを対応づけてもよい。

＜２階微分値の算出：Ｓ１０４＞
算出部２０４０は、たわみ量関数の２階微分値又は３階微分値を算出する（Ｓ１０４）。たわみ量関数の２階微分値は、以下に示す式（４）及び（５）を用いて近似的に算出することができる。

ここで、k は、印加位置の昇順にソートされた各観測データに対して与えた識別子である。観測情報は、(wk, δ(wk)) という値の組み合わせを複数示す。

例えば算出部２０４０は、式（４）を用いて、{(w1, δ(w1)), (w2, δ(w2))} からδ'(w2) を算出し、{(w2, δ(w2)), (w3, δ(w3))} からδ'(w3) を算出する。そして、算出部２０４０は、式（５）を用いて、δ'(w2) とδ'(w3) からδ''(w3)を算出する。

＜３階微分値の算出：Ｓ１０４＞
３階微分値は、上述した式（４）と（５）に加え、以下の式（６）を用いて近似的に算出することができる。

例えば算出部２０４０は、式（４）を用いて、{(w1, δ(w1)), (w2, δ(w2))} からδ'(w2) を算出し、{(w2, δ(w2)), (w3, δ(w3))} からδ'(w3) を算出し、{(w3, δ(w3),) (w4, δ(w4))} からδ'(w4) を算出する。さらに、算出部２０４０は、式（５）を用いて、δ'(w2) とδ'(w3) からδ''(w3)を算出し、δ'(w3) とδ'(w4) からδ''(w4)を算出する。そして算出部２０４０は、式（６）を用いて、δ''(w3) とδ''(w4) からδ'''(w4)を算出する。

＜２階微分値を用いた観測位置の特定：Ｓ１０６＞
特定部２０６０は、算出したたわみ量関数の２階微分値の変化量の符号の変化、又は３階微分値の符号の変化に基づいて、観測位置を特定する（Ｓ１０６）。ここではまず、２階微分値を用いる方法について説明する。

特定部２０６０は、算出部２０４０によって算出された２階微分値を用いて、２階微分値の変化量を複数算出する。具体的には、特定部２０６０は、δ''(wk) とδ''(w_k-1) の差で表される変化量 yk を算出する。さらに特定部２０６０は、識別子順（すなわち、対応する印加位置の昇順）にソートされた２階微分値の変化量 yk について、符号が異なりなおかつ識別子が隣り合っている (yi, y_i+1) というペアを特定する。そして特定部２０６０は、変化量 yi に対応する印加位置 wi と、変化量 y_i+1 に対応する印加位置 w_i+1 とのいずれか一方又は双方に基づいて、観測位置 x を特定する。

上記特定した２つの印加位置に基づいて観測位置を特定する方法は様々である。例えば特定部２０６０は、前述した印加位置 wi と w_i+1 のいずれか一方を観測位置として特定する。その他にも例えば、特定部２０６０は、wi と w_i+1 の平均値を算出し、算出した平均値を観測位置として特定してもよい。

２階微分値を用いて観測位置を特定する方法は、前述した符号が異なる変化量のペア (yi, y_i+1) に対応する印加位置 (wi, w_i+1) を特定する方法に限定されず、以下に示す方法などを採用することもできる。まず特定部２０６０は、印加位置 w とその印加位置においける２階微分値δ''(wi) のペアである (wi, δ''(wi)) を、その印加位置における２階微分値の変化量が正の値である（yi>0 であるもの）グループと、その印加位置における２階微分値の変化量が負の値である（yi<0 であるもの）グループとに分ける。さらに特定部２０６０は、２つのグループそれぞれについて線形回帰を行って、２つの回帰直線を算出する。算出される２つの回帰直線は、図２の上段のグラフに点線で示した直線に相当する。そして特定部２０６０は、これら２つの回帰直線の交点を算出し、算出した交点における印加位置 w を、観測位置として特定する。

＜３階微分値を用いた観測位置の特定：Ｓ１０６＞
ここでは、３階微分値の符号の変化に基づいて観測位置を特定する方法について説明する。まず特定部２０６０は、識別子順（すなわち、対応する印加位置の昇順）にソートされた３階微分値δ'''(wk) について、符号が異なりなおかつ識別子が隣り合っている (δ'''(wi), δ'''(w_i+1)) というペアを特定する。そして特定部２０６０は、３階微分値δ'''(wi) に対応する印加位置 wi と、３階微分値δ'''(w_i+1) に対応する印加位置 w_i+1 とに基づいて、観測位置 x を特定する。なお、特定した２つの印加位置 wi 及び w_i+1 に基づいて観測位置を特定する方法には、２階微分値を用いるケースで説明した方法と同じ方法を利用できる。

＜結果の出力＞
情報処理装置２０００は、特定部２０６０によって特定された観測位置を示す情報（以下、出力情報）を出力する。出力情報の出力先は任意である。例えば情報処理装置２０００は、出力情報をディスプレイ装置にする、出力情報を記憶装置に記憶させる、又は出力情報を他の装置に送信するといった出力を行う。

例えば出力情報は、特定された観測位置を表す文字列を示す情報である。その他にも例えば、出力情報は、特定された観測位置に加え、図２で示したグラフなどのように、観測位置の特定の根拠となる情報をさらに示してもよい。

また前述した様に、複数回の観測それぞれにおける観測位置の差異を把握したいことがある。そこで例えば、情報処理装置２０００は、特定した観測位置と、過去の観測位置（例えば、一回前に行われた観測における観測位置）との差分を算出して、出力情報に含めてもよい。これにより、過去の観測位置とのずれをユーザが容易に把握できるようになる。なお、過去の観測位置は、情報処理装置２０００からアクセス可能な記憶装置に記憶させておく。

その他にも例えば、情報処理装置２０００は、複数回の観測それぞれについての観測位置を特定し、それら特定された複数の観測位置をまとめて出力情報に示してもよい。また、情報処理装置２０００は、複数回の観測それぞれについて算出した観測位置に関する統計値を出力情報に含めてもよい。例えば統計値は、観測位置の分散や標準偏差などといった、観測位置のばらつきを示す値である。このような統計値を出力することにより、観測位置のばらつきをユーザが容易に把握できるようになる。

さらに、特定した観測位置と過去の観測位置との差分が所定の閾値以上である場合や、複数の観測位置のばらつきを表す統計値が所定の閾値以上である場合において、（すなわち、観測位置のずれが大きい場合において）、情報処理装置２０００は、観測位置のずれが大きいことを表す警告情報を出力してもよい。警告情報は、文字列のメッセージであってもよいし、アラーム音などの音声であってもよい。このような警告情報を出力することにより、観測位置のずれが大きいことをユーザが直感的に把握できるようになる。なお、所定の閾値は、情報処理装置２０００からアクセス可能な記憶装置に予め記憶させておく。

以上、図面を参照して本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。

上記の実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうるが、以下には限られない。
１． 印加位置を変えながら構造物に荷重を加えることで生じた前記構造物のたわみの観測結果に関する観測情報を取得する取得部と、
前記観測情報を用い、それぞれ異なる複数の前記印加位置について、前記印加位置から前記たわみの量を算出する関数の２階微分値又は前記関数の３階微分値を算出する算出部と、
前記２階微分値の変化量の符号の変化、又は前記３階微分値の符号の変化に基づいて、前記たわみの観測位置を特定する特定部と、を有し、
前記観測情報は、それぞれ異なる複数の前記印加位置、及び各前記印加位置に対応する前記たわみの量を示す、情報処理装置。
２． 前記関数は弾性曲線方程式から導出することができる、１．に記載の情報処理装置。
３． 前記算出部は、前記関数の２階微分値の変化量を算出し、
前記特定部は、対応する前記印加位置の順にソートした場合に隣接してなおかつ符号が互いに異なる２つの前記２階微分値の変化量を特定し、前記特定した２つの２階微分値の変化量それぞれに対応する前記印加位置のいずれか一方又は双方に基づいて、前記たわみの観測位置を特定する、１．又は２．に記載の情報処理装置。
４． 前記算出部は、前記関数の２階微分値の変化量を算出し、
前記特定部は、
前記印加位置とその印加位置における前記２階微分値との組み合わせを、その印加位置における２階微分値の変化量が正の値であるグループと、その印加位置における２階微分値の変化量が負の値であるグループとに分け、
前記グループごとに回帰直線を算出し、
前記算出した回帰直線の交点における前記印加位置を、前記たわみの観測位置として特定する、１．又は２．に記載の情報処理装置。
５． 前記算出部は、前記関数の３階微分値を算出し、
前記特定部は、対応する前記印加位置の順にソートした場合に隣接してなおかつ符号が互いに異なる２つの前記３階微分値を特定し、前記特定した２つの３階微分値それぞれに対応する前記印加位置のいずれか一方又は双方に基づいて、前記たわみの観測位置を特定する、１．又は２．に記載の情報処理装置。
６． 前記特定した観測位置と過去の観測位置との差分を算出し、前記算出した差分を示す出力情報を出力する出力部を有する、１．乃至５．いずれか一つに記載の情報処理装置。
７． 複数の観測それぞれについて特定された観測位置のばらつきを表す統計値を算出し、前記算出した統計値を示す出力情報を出力する出力部を有する、１．乃至５．いずれか一つに記載の情報処理装置。
８． 前記出力部は、前記特定した観測位置と過去の観測位置との差分が閾値以上である場合、又は複数の観測それぞれについて特定された観測位置のばらつきを表す統計値が閾値以上である場合に警告情報を出力する、６．又は７．に記載の情報処理装置。

９． コンピュータによって実行される制御方法であって、
印加位置を変えながら構造物に荷重を加えることで生じた前記構造物のたわみの観測結果に関する観測情報を取得する取得ステップと、
前記観測情報を用い、それぞれ異なる複数の前記印加位置について、前記印加位置から前記たわみの量を算出する関数の２階微分値又は前記関数の３階微分値を算出する算出ステップと、
前記２階微分値の変化量の符号の変化、又は前記３階微分値の符号の変化に基づいて、前記たわみの観測位置を特定する特定ステップと、を有し、
前記観測情報は、それぞれ異なる複数の前記印加位置、及び各前記印加位置に対応する前記たわみの量を示す、制御方法。
１０． 前記関数は弾性曲線方程式から導出することができる、９．に記載の制御方法。
１１． 前記算出ステップにおいて、前記関数の２階微分値の変化量を算出し、
前記特定ステップにおいて、対応する前記印加位置の順にソートした場合に隣接してなおかつ符号が互いに異なる２つの前記２階微分値の変化量を特定し、前記特定した２つの２階微分値の変化量それぞれに対応する前記印加位置のいずれか一方又は双方に基づいて、前記たわみの観測位置を特定する、９．又は１０．に記載の制御方法。
１２． 前記算出ステップにおいて、前記関数の２階微分値の変化量を算出し、
前記特定ステップにおいて、
前記印加位置とその印加位置における前記２階微分値との組み合わせを、その印加位置における２階微分値の変化量が正の値であるグループと、その印加位置における２階微分値の変化量が負の値であるグループとに分け、
前記グループごとに回帰直線を算出し、
前記算出した回帰直線の交点における前記印加位置を、前記たわみの観測位置として特定する、９．又は１０．に記載の制御方法。
１３． 前記算出ステップにおいて、前記関数の３階微分値を算出し、
前記特定ステップにおいて、対応する前記印加位置の順にソートした場合に隣接してなおかつ符号が互いに異なる２つの前記３階微分値を特定し、前記特定した２つの３階微分値それぞれに対応する前記印加位置のいずれか一方又は双方に基づいて、前記たわみの観測位置を特定する、９．又は１０．に記載の制御方法。
１４． 前記特定した観測位置と過去の観測位置との差分を算出し、前記算出した差分を示す出力情報を出力する出力ステップを有する、９．乃至１３．いずれか一つに記載の制御方法。
１５． 複数の観測それぞれについて特定された観測位置のばらつきを表す統計値を算出し、前記算出した統計値を示す出力情報を出力する出力ステップを有する、９．乃至１３．いずれか一つに記載の制御方法。
１６． 前記出力ステップにおいて、前記特定した観測位置と過去の観測位置との差分が閾値以上である場合、又は複数の観測それぞれについて特定された観測位置のばらつきを表す統計値が閾値以上である場合に警告情報を出力する、１４．又は１５．に記載の制御方法。

１７． ９．乃至１６．いずれか一つに記載の制御方法の各ステップをコンピュータに実行させるプログラム。

Claims (10)

1. 印加位置を変えながら構造物に荷重を加えることで生じた前記構造物のたわみの観測結果に関する観測情報を取得する取得部と、
   前記観測情報を用い、それぞれ異なる複数の前記印加位置について、前記印加位置から前記たわみの量を算出する関数の２階微分値又は前記関数の３階微分値を算出する算出部と、
   前記２階微分値の変化量の符号の変化、又は前記３階微分値の符号の変化に基づいて、前記たわみの観測位置を特定する特定部と、を有し、
   前記観測情報は、それぞれ異なる複数の前記印加位置、及び各前記印加位置に対応する前記たわみの量を示す、情報処理装置。
2. 前記関数は弾性曲線方程式から導出することができる、請求項１に記載の情報処理装置。
3. 前記算出部は、前記関数の２階微分値の変化量を算出し、
   前記特定部は、対応する前記印加位置の順にソートした場合に隣接してなおかつ符号が互いに異なる２つの前記２階微分値の変化量を特定し、前記特定した２つの２階微分値の変化量それぞれに対応する前記印加位置のいずれか一方又は双方に基づいて、前記たわみの観測位置を特定する、請求項１又は２に記載の情報処理装置。
4. 前記算出部は、前記関数の２階微分値の変化量を算出し、
   前記特定部は、
   前記印加位置とその印加位置における前記２階微分値との組み合わせを、その印加位置における２階微分値の変化量が正の値であるグループと、その印加位置における２階微分値の変化量が負の値であるグループとに分け、
   前記グループごとに回帰直線を算出し、
   前記算出した回帰直線の交点における前記印加位置を、前記たわみの観測位置として特定する、請求項１又は２に記載の情報処理装置。
5. 前記算出部は、前記関数の３階微分値を算出し、
   前記特定部は、対応する前記印加位置の順にソートした場合に隣接してなおかつ符号が互いに異なる２つの前記３階微分値を特定し、前記特定した２つの３階微分値それぞれに対応する前記印加位置のいずれか一方又は双方に基づいて、前記たわみの観測位置を特定する、請求項１又は２に記載の情報処理装置。
6. 前記特定した観測位置と過去の観測位置との差分を算出し、前記算出した差分を示す出力情報を出力する出力部を有する、請求項１乃至５いずれか一項に記載の情報処理装置。
7. 複数の観測それぞれについて特定された観測位置のばらつきを表す統計値を算出し、前記算出した統計値を示す出力情報を出力する出力部を有する、請求項１乃至５いずれか一項に記載の情報処理装置。
8. 前記出力部は、前記特定した観測位置と過去の観測位置との差分が閾値以上である場合、又は複数の観測それぞれについて特定された観測位置のばらつきを表す統計値が閾値以上である場合に警告情報を出力する、請求項６又は７に記載の情報処理装置。
9. コンピュータによって実行される制御方法であって、
   印加位置を変えながら構造物に荷重を加えることで生じた前記構造物のたわみの観測結果に関する観測情報を取得する取得ステップと、
   前記観測情報を用い、それぞれ異なる複数の前記印加位置について、前記印加位置から前記たわみの量を算出する関数の２階微分値又は前記関数の３階微分値を算出する算出ステップと、
   前記２階微分値の変化量の符号の変化、又は前記３階微分値の符号の変化に基づいて、前記たわみの観測位置を特定する特定ステップと、を有し、
   前記観測情報は、それぞれ異なる複数の前記印加位置、及び各前記印加位置に対応する前記たわみの量を示す、制御方法。
10. 請求項９に記載の制御方法の各ステップをコンピュータに実行させるプログラム。

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