JP6932914B2 - Positioning device, microscope device, position discrimination method, microscope device control method, and program - Google Patents

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Description

本発明は、位置判別装置、顕微鏡装置、位置判別方法、顕微鏡装置の制御方法、及びプログラムに関する。 The present invention relates to a position determination device, a microscope device, a position determination method, a control method of the microscope device, and a program.

保持体に保持された物体の装置本体に対する相対位置を判別する位置判別装置が知られている。例えば、複数の対物レンズを保持した保持体であるレボルバに備えられ、対物レンズの取り付け位置を判別する位置判別装置が知られている（例えば下記特許文献１）。 A position determining device for determining the relative position of an object held by a holder with respect to the device body is known. For example, there is known a position determining device provided in a revolver which is a holding body holding a plurality of objective lenses and discriminating the mounting position of the objective lens (for example, Patent Document 1 below).

米国再発行特許発明第４２９４８号明細書US Reissue Patented Invention No. 42948

本発明の第１の態様においては、位置判別装置を提供する。位置判別装置は、複数の物体を保持する保持部材、及び保持部材を移動可能に支持する装置本体のいずれか一方に配置される検出部を備えてよい。位置判別装置は、保持部材及び前記装置本体のいずれか他方における、保持部材及び装置本体が相対的に移動するときの検出部の移動軌跡上に、複数の物体のそれぞれに対応して配置され、検出部により検出される複数の識別部を備えてよい。位置判別装置は、検出部による識別部の検出結果から、識別部を特定してこの識別部に対応する物体が所定位置にあることを判別する判別部を備えてよい。検出部は、識別部を検出するためのＭ（Ｍは３以上の自然数）個のセンサを含んでよい。センサは、所定位置にある物体を挟んで配置されてよい。複数の前記識別部のそれぞれは、すべての物体の位置において同数のいずれもＮ（Ｎ＜Ｍ、Ｎは２以上の自然数）個の被検出部材を有してよい。被検出部材は、物体同士の間に設けられてよい。識別部に対応するＮ個の被検出部材のうちの一部の被検出部材は、該識別部と異なる他の識別部に対応する被検出部材として共用されてよい。Ｎ個の被検出部材は、保持部材が移動するときにＭ個の各センサにより２以上の被検出部材が同時に検出されない位置に、保持部材が移動するときのＭ個のセンサとの組み合わせが複数の各識別部において互いに異なるように配置されてよい。 Oite to a first aspect of the present invention provides a position determining device. The position determination device may include a holding member that holds a plurality of objects and a detection unit that is arranged on either one of the device main body that movably supports the holding members. Position determining device, in either the other holding member and the apparatus body, the holding member and the apparatus body on the movement locus of the detector when relatively moving, are arranged corresponding to each of the plurality of objects , A plurality of identification units detected by the detection unit may be provided. The position determination device may include a determination unit that identifies the identification unit from the detection result of the identification unit by the detection unit and determines that an object corresponding to the identification unit is at a predetermined position. The detection unit may include M (M is a natural number of 3 or more) sensors for detecting the identification unit. The sensor may be placed with an object in place in between. Each of the plurality of identification units may have N (N <M, N is a natural number of 2 or more) of the same number of members to be detected at the positions of all the objects . The member to be detected may be provided between the objects. A part of the members to be detected among the N members to be detected corresponding to the identification unit may be shared as the members to be detected corresponding to other identification units different from the identification unit. Combination with the M sensor when the N of the detected member, the holding member is at a position where two or more of the detected member by the M each sensor is not detected at the same time as it moves, the holding member moves There may be placed differently from each other in each of a plurality of identification portions.

本発明の第２の態様においては、顕微鏡装置を提供する。顕微鏡装置は、第１の態様の位置判別装置を備えてよい。物体は、光学部材であってよい。所定位置は、照明光学系または結像光学系の光軸であってよい。 Oite to a second aspect of the present invention provides a microscope apparatus. The microscope device may include the position determination device of the first aspect . Objects may I optical member der. Predetermined position, good What illumination optical system or the image-forming optical system of the optical axis der.

本発明の第３の態様おいては、位置判別方法を提供する。位置判別方法は、複数の物体を保持する保持部材、及び保持部材を移動可能に支持する装置本体のいずれか一方に配置される検出部により、保持部材及び装置本体のいずれか他方における、保持部材及び装置本体が相対的に移動するときの検出部の移動軌跡上に、複数の前記物体のそれぞれに対応して配置される複数の識別部を検出することを含んでよい。位置判別方法は、検出部による識別部の検出結果から、識別部を特定してこの識別部に対応する物体が所定位置にあることを判別することを含んでよい。検出部は、識別部を検出するためのＭ（Ｍは３以上の自然数）個のセンサを含んでよい。センサは、所定位置にある物体を挟んで配置されてよい。複数の識別部のそれぞれは、すべての前記物体の位置において同数のいずれもＮ（Ｎ＜Ｍ、Ｎは２以上の自然数）個の被検出部材を有してよい。被検出部材は、物体同士の間に設けられてよい。識別部に対応するＮ個の被検出部材のうちの一部の被検出部材は、該識別部と異なる他の識別部に対応する被検出部材として共用されてよい。Ｎ個の被検出部材は、保持部材が移動するときにＭ個の各センサにより２以上の被検出部材が同時に検出されない位置に、保持部材が移動するときのＭ個のセンサとの組み合わせが複数の各識別部において互いに異なるように配置されてよい。 In the third aspect of the present invention , a position determination method is provided. Position determination method, the holding member for holding a plurality of objects, and the detection unit is arranged on one of the apparatus main body for movably supporting the holding member, in either the other of the holding member and the apparatus body, the holding It may include detecting a plurality of identification units arranged corresponding to each of the plurality of objects on the movement locus of the detection unit when the member and the main body of the device move relatively. The position determination method may include identifying the identification unit from the detection result of the identification unit by the detection unit and determining that the object corresponding to the identification unit is at a predetermined position. The detection unit may include M (M is a natural number of 3 or more) sensors for detecting the identification unit. The sensor may be placed with an object in place in between. Each of the plurality of identification units may have N (N <M, N is a natural number of 2 or more) of the same number of members to be detected at the positions of all the objects . The member to be detected may be provided between the objects. A part of the members to be detected among the N members to be detected corresponding to the identification unit may be shared as the members to be detected corresponding to other identification units different from the identification unit. Combination with the M sensor when the N of the detected member, the holding member is at a position where two or more of the detected member by the M each sensor is not detected at the same time as it moves, the holding member moves There may be placed differently from each other in each of a plurality of identification portions.

本発明の第４の態様においては、顕微鏡装置の制御方法を提供する。顕微鏡装置の制御方法は、第３の態様の位置判別方法の判別結果を用いて顕微鏡装置を制御してよい。 Oite to a fourth aspect of the present invention provides a control method for a microscope apparatus. As the control method of the microscope device, the microscope device may be controlled by using the determination result of the position determination method of the third aspect.

本発明の第５の態様においては、プログラムを提供する。プログラムは、顕微鏡装置の制御をコンピュータに実行させてよい。制御は、第３の態様の位置判別方法の判別結果を用いて顕微鏡装置を制御してよい。 Oite to a fifth aspect of the present invention provides a program. The program may allow the computer to take control of the microscope device. For control, the microscope device may be controlled using the determination result of the position determination method of the third aspect.

第１実施形態に係る顕微鏡装置の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the microscope apparatus which concerns on 1st Embodiment. 第１実施形態に係る位置判別装置の一例を示す図であり、（Ａ）は側方から見た図、（Ｂ）は上方から見た図である。It is a figure which shows an example of the position determination apparatus which concerns on 1st Embodiment, (A) is a view which was seen from the side, (B) is the figure which was seen from above. 各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the magnet in each identification part, and the sensor which detects a magnet. （Ａ）及び（Ｂ）は、従来の位置判別装置の例を示す図である。(A) and (B) are diagrams showing an example of a conventional position determination device. 図４（Ａ）に示す位置判別装置の識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the magnet in the identification part of the position determination apparatus shown in FIG. 4 (A), and the sensor which detects a magnet. （Ａ）及び（Ｂ）は、従来の位置判別装置の例を示す図である。(A) and (B) are diagrams showing an example of a conventional position determination device. （Ａ）及び（Ｂ）は、従来の位置判別装置の例を示す図である。(A) and (B) are diagrams showing an example of a conventional position determination device. 本実施形態に係る位置判別方法のフローチャートであり、（Ｂ）は本実施形態に係る顕微鏡の制御方法のフローチャートである。It is the flowchart of the position determination method which concerns on this Embodiment, and (B) is the flowchart of the microscope control method which concerns on this Embodiment. （Ａ）は、第２実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。(A) is a figure which shows the position determination apparatus which concerns on 2nd Embodiment, and (B) is a figure which shows the relationship between the magnet in each identification part, and the sensor which detects a magnet. 識別部の磁石の配置の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the arrangement of the magnet of the identification part. （Ａ）は、第３実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。(A) is a figure which shows the position determination apparatus which concerns on 3rd Embodiment, (B) is a figure which shows the relationship between the magnet in each identification part, and the sensor which detects a magnet. （Ａ）は、第４実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。(A) is a figure which shows the position determination apparatus which concerns on 4th Embodiment, and (B) is a figure which shows the relationship between the magnet in each identification part, and the sensor which detects a magnet. （Ａ）は、第５実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。(A) is a figure which shows the position determination apparatus which concerns on 5th Embodiment, and (B) is a figure which shows the relationship between the magnet in each identification part, and the sensor which detects a magnet. （Ａ）は、第６実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。(A) is a figure which shows the position determination apparatus which concerns on 6th Embodiment, and (B) is a figure which shows the relationship between the magnet in each identification part, and the sensor which detects a magnet. （Ａ）は、第７実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。(A) is a figure which shows the position determination apparatus which concerns on 7th Embodiment, and (B) is a figure which shows the relationship between the magnet in each identification part, and the sensor which detects a magnet. （Ａ）は、第８実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。(A) is a figure which shows the position determination apparatus which concerns on 8th Embodiment, and (B) is a figure which shows the relationship between the magnet in each identification part, and the sensor which detects a magnet. （Ａ）は、第９実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。(A) is a figure which shows the position determination apparatus which concerns on 9th Embodiment, and (B) is a figure which shows the relationship between the magnet in each identification part, and the sensor which detects a magnet. （Ａ）及び（Ｂ）は、第１０実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ａ）は側方から見た図、（Ｂ）は上方から見た図である。（Ｃ）は各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。(A) and (B) are diagrams showing the position determination device according to the tenth embodiment, (A) is a view seen from the side, and (B) is a view seen from above. (C) is a figure which shows the relationship between the magnet in each identification part, and the sensor which detects a magnet.

［第１実施形態］
第１実施形態について説明する。以下の説明において、適宜、図１などに示すＸＹＺ直交座標系を参照する。このＸＹＺ直交座標系は、Ｘ方向およびＹ方向が水平方向（横方向）であり、Ｚ方向が鉛直方向である。また、各方向において、適宜、矢印の先端と同じ側を＋側（例、＋Ｚ側）、矢印の先端と反対側を−側（例、−Ｚ側）と称す。例えば、鉛直方向（Ｚ方向）において、上方が＋Ｚ側であり、下方が−Ｚ側である。なお、図面においては、実施形態を説明するため、一部または全部を模式的に記載するとともに、一部分を大きくまたは強調して記載する等適宜縮尺を変更して表現した部分を含む。 [First Embodiment]
The first embodiment will be described. In the following description, the XYZ Cartesian coordinate system shown in FIG. 1 and the like will be referred to as appropriate. In this XYZ Cartesian coordinate system, the X direction and the Y direction are the horizontal direction (horizontal direction), and the Z direction is the vertical direction. Further, in each direction, the same side as the tip of the arrow is referred to as a + side (eg, + Z side), and the side opposite to the tip of the arrow is referred to as a − side (eg, −Z side). For example, in the vertical direction (Z direction), the upper side is the + Z side and the lower side is the −Z side. In addition, in the drawing, in order to explain an embodiment, a part or the whole is schematically described, and a part expressed by changing the scale as appropriate such as drawing a part in a large or emphasized manner is included.

以下、第１実施形態に係る位置判別装置及び顕微鏡装置を説明する。図１は、本実施形態に係る顕微鏡装置ＭＳの一例を示す図であり、本実施形態では、顕微鏡装置ＭＳが倒立顕微鏡である例を説明する。位置判別装置１は、例えば、顕微鏡装置ＭＳに備えられる。なお、本実施形態では、位置判別装置１が後に説明するターレット１３（コンデンサカセット保持装置）に適用される例を説明するが、この例に限定されるものではない。位置判別装置１の他の例については、後に説明する。以下、はじめに、顕微鏡装置ＭＳについて説明する。顕微鏡装置ＭＳは、例えば、支柱２と、ステージ３と、照明光学系４と、結像光学系５と、制御部６と、入力部７と、記憶部８と、表示部９と、を備える。 Hereinafter, the position determination device and the microscope device according to the first embodiment will be described. FIG. 1 is a diagram showing an example of a microscope device MS according to the present embodiment, and in the present embodiment, an example in which the microscope device MS is an inverted microscope will be described. The position determination device 1 is provided in, for example, the microscope device MS. In this embodiment, an example in which the position determination device 1 is applied to the turret 13 (capacitor cassette holding device) described later will be described, but the present invention is not limited to this example. Another example of the position determination device 1 will be described later. Hereinafter, the microscope device MS will be described first. The microscope device MS includes, for example, a support column 2, a stage 3, an illumination optical system 4, an imaging optical system 5, a control unit 6, an input unit 7, a storage unit 8, and a display unit 9. ..

支柱２は、顕微鏡装置ＭＳの各部を支持する。ステージ３は、生体等の標本ＳＰを載置する。 The support column 2 supports each part of the microscope device MS. In stage 3, a specimen SP such as a living body is placed.

照明光学系４は、透過照明に用いられる照明光学系４ａと、落射照明に用いられる照明光学系４ｂと、を含む。照明光学系４ａは、光源装置１０ａからの照明光を、標本ＳＰに照射する。光源装置１０ａは、ＬＥＤ（発光ダイオード）あるいはＬＤ（レーザダイオード）などの固体光源でもよいし、ランプ光源などでもよい。照明光学系４ａは、ステージ３の上方（＋Ｚ側）に配置される。照明光学系４ａは、例えば、光源装置１０ａの光出射側に、レンズ（図示せず）と、ミラー（図示せず）と、コンデンサカセットＣと、を備える。コンデンサカセットＣは、例えば、ターレット１３に保持される。ターレット１３（コンデンサレンズ保持装置）には、例えば、複数の異なるコンデンサカセットＣが保持される。ターレット１３は、複数のコンデンサカセットＣのうちの所定のコンデンサカセットＣを照明光学系４ａの光路ＯＰ（観察位置にある対物レンズ１６の光軸）に配置可能である。ターレット１３は、本実施形態の位置判別装置１である。なお、位置判別装置１は、後に図１７で説明するように、ターレット１３などの回転型以外に、スライド型が適用可能である。位置判別装置１は、複数のコンデンサカセットＣのうち、観察時に配置される光路ＯＰに位置するコンデンサカセットＣを判別する。なお、位置判別装置１については、後に図２等において説明する。コンデンサカセットＣは、例えば、位相差観察用、微分干渉観察用、明視野観察用、暗視野観察用の照明光を調整する光学部材である。 The illumination optical system 4 includes an illumination optical system 4a used for transmission illumination and an illumination optical system 4b used for epi-illumination. The illumination optical system 4a irradiates the sample SP with the illumination light from the light source device 10a. The light source device 10a may be a solid-state light source such as an LED (light emitting diode) or LD (laser diode), or may be a lamp light source or the like. The illumination optical system 4a is arranged above the stage 3 (+ Z side). The illumination optical system 4a includes, for example, a lens (not shown), a mirror (not shown), and a capacitor cassette C on the light emitting side of the light source device 10a. The capacitor cassette C is held, for example, in the turret 13. The turret 13 (capacitor lens holding device) holds, for example, a plurality of different condenser cassettes C. In the turret 13, a predetermined capacitor cassette C among the plurality of capacitor cassettes C can be arranged in the optical path OP (optical axis of the objective lens 16 at the observation position) of the illumination optical system 4a. The turret 13 is the position determination device 1 of the present embodiment. As the position determination device 1, as will be described later with reference to FIG. 17, a slide type can be applied in addition to the rotary type such as the turret 13. The position determination device 1 determines the capacitor cassette C located in the optical path OP arranged at the time of observation among the plurality of capacitor cassettes C. The position determination device 1 will be described later in FIG. 2 and the like. The capacitor cassette C is, for example, an optical member for adjusting illumination light for phase contrast observation, differential interference contrast observation, brightfield observation, and darkfield observation.

照明光学系４ｂは、ステージ３の下方に配置される。照明光学系４ｂは、光源装置１０ｂからの照明光を標本ＳＰに照射する。照明光学系４ｂは、例えば、光源装置１０ｂの光出射側に、レンズ（図示せず）と、ミラー（図示せず）と、蛍光観察に用いるフィルタユニット１５と、対物レンズ１６と、を含む。光源装置１０ｂは、ＬＥＤ（発光ダイオード）あるいはＬＤ（レーザダイオード）などの固体光源でもよいし、ランプ光源などでもよい。光源装置１０ｂから出射した照明光は、例えば、ターレット１８に保持されるフィルタユニット１５、及びレボルバ１９に保持される対物レンズ１６を透過して、標本ＳＰに照射される。フィルタユニット１５は、例えば、蛍光観察に用いる励起光及び観察光を調整する光学部材である。フィルタユニット１５は、例えば、フィルタ１５ａと、ダイクロイックミラー１５ｂと、フィルタ１５ｃと、を含む。フィルタユニット１５は、例えば、励起光がフィルタ１５ａを透過し、透過した励起光の一部がダイクロイックミラー１５ｂで反射して、励起光を対物レンズ１６に導く。ターレット１８には、複数の異なるフィルタユニット１５が保持され、所定のフィルタユニット１５を光路ＯＰ（光軸）に配置可能である。ターレット１８は、例えば、手動により、所定のフィルタユニット１５を光路ＯＰ（光軸）に配置可能である。なお、ターレット１８は、駆動装置により駆動する構成でもよい。 The illumination optical system 4b is arranged below the stage 3. The illumination optical system 4b irradiates the sample SP with illumination light from the light source device 10b. The illumination optical system 4b includes, for example, a lens (not shown), a mirror (not shown), a filter unit 15 used for fluorescence observation, and an objective lens 16 on the light emitting side of the light source device 10b. The light source device 10b may be a solid-state light source such as an LED (light emitting diode) or LD (laser diode), or may be a lamp light source or the like. The illumination light emitted from the light source device 10b passes through, for example, the filter unit 15 held by the turret 18 and the objective lens 16 held by the revolver 19, and is irradiated to the specimen SP. The filter unit 15 is, for example, an optical member that adjusts the excitation light and the observation light used for fluorescence observation. The filter unit 15 includes, for example, a filter 15a, a dichroic mirror 15b, and a filter 15c. In the filter unit 15, for example, the excitation light passes through the filter 15a, and a part of the transmitted excitation light is reflected by the dichroic mirror 15b to guide the excitation light to the objective lens 16. A plurality of different filter units 15 are held in the turret 18, and a predetermined filter unit 15 can be arranged in the optical path OP (optical axis). In the turret 18, for example, a predetermined filter unit 15 can be manually arranged in the optical path OP (optical axis). The turret 18 may be driven by a driving device.

対物レンズ１６は、レボルバ１９に保持される。レボルバ１９には、複数の異なる対物レンズ１６が保持される。レボルバ１９は、複数の異なる対物レンズ１６のうち、観察に用いる対物レンズ１６を観察位置である光路ＯＰ（光軸）に配置可能である。レボルバ１９は、例えば、駆動部２１により駆動され、所定の対物レンズ１６を光路ＯＰ（光軸）に配置可能である。なお、レボルバ１９は、手動により駆動する構成でもよい。 The objective lens 16 is held by the revolver 19. A plurality of different objective lenses 16 are held in the revolver 19. Of the plurality of different objective lenses 16, the revolver 19 can arrange the objective lens 16 used for observation in the optical path OP (optical axis) which is the observation position. The revolver 19 is driven by, for example, a drive unit 21, and a predetermined objective lens 16 can be arranged in the optical path OP (optical axis). The revolver 19 may be manually driven.

例えば、蛍光観察の場合、照明光学系４ｂにより標本ＳＰに照射された励起光により励起された蛍光の一部は、結像光学系５に導かれる。結像光学系５は、標本ＳＰからの蛍光像を形成する。ユーザは、結像光学系５の光路ＯＰに形成される像を、接眼レンズ２３を介して観察可能である。結像光学系５は、例えば、対物レンズ１６と、フィルタユニット１５と、レンズ（図示せず）と、ミラー（図示せず）と、を含む。標本ＳＰからの蛍光は、対物レンズ１６に導かれる。対物レンズ１６を通った光は、フィルタユニット１５に導かれる。フィルタユニット１５は、対物レンズ１６からの光（観察光）の一部をフィルタ１５ｃにより透過し、透過した蛍光がダイクロイックミラー１５ｂを透過する。ダイクロイックミラーを通った光は、接眼レンズ２３に導かれる。 For example, in the case of fluorescence observation, a part of the fluorescence excited by the excitation light irradiated to the sample SP by the illumination optical system 4b is guided to the imaging optical system 5. The imaging optical system 5 forms a fluorescence image from the specimen SP. The user can observe the image formed in the optical path OP of the imaging optical system 5 through the eyepiece lens 23. The imaging optical system 5 includes, for example, an objective lens 16, a filter unit 15, a lens (not shown), and a mirror (not shown). The fluorescence from the specimen SP is guided to the objective lens 16. The light that has passed through the objective lens 16 is guided to the filter unit 15. The filter unit 15 transmits a part of the light (observation light) from the objective lens 16 by the filter 15c, and the transmitted fluorescence is transmitted through the dichroic mirror 15b. The light that has passed through the dichroic mirror is guided to the eyepiece lens 23.

なお、照明光学系４ａ、照明光学系４ｂ及び結像光学系５のうち一部は、図１の構成に限定されず、適宜変更可能である。例えば、図１において、照明光学系４は、シャッタ部材、絞り部材などの光学部材を備えていてもよい。 A part of the illumination optical system 4a, the illumination optical system 4b, and the imaging optical system 5 is not limited to the configuration shown in FIG. 1, and can be changed as appropriate. For example, in FIG. 1, the illumination optical system 4 may include optical members such as a shutter member and an aperture member.

次に、制御部６、入力部７、記憶部８、表示部９について説明する。制御部６は、顕微鏡装置ＭＳの各部を制御する。制御部６は、ハードディスクあるいはメモリなどの記憶部８と通信可能に接続される。制御部６は、記憶部８に記憶（記録）された各種情報（例、顕微鏡の制御情報）の読出し、および記憶部８に各種情報を記憶（記憶）させる。また、制御部６は、例えば、後に説明する位置判別装置１の判別部３４と通信可能に接続される。制御部６は、位置判別装置１の判別結果を表示部９に表示させる。なお、制御部６は、位置判別装置１の判別結果に基づいた情報を表示部９に表示させてもよい。また、制御部６は、例えば、位置判別装置１の判別結果に基づいて、駆動部２１を制御することにより、レボルバ１９を駆動して、所定の対物レンズ１６を光路ＯＰに配置する。なお、制御部６は、顕微鏡装置ＭＳにシャッタ部材、しぼり部材等を駆動する駆動装置が備えられる場合、制御部６はこれらの駆動装置を制御してもよい。 Next, the control unit 6, the input unit 7, the storage unit 8, and the display unit 9 will be described. The control unit 6 controls each unit of the microscope device MS. The control unit 6 is communicably connected to a storage unit 8 such as a hard disk or a memory. The control unit 6 reads out various information (eg, microscope control information) stored (recorded) in the storage unit 8 and stores (stores) various information in the storage unit 8. Further, the control unit 6 is communicably connected to, for example, the determination unit 34 of the position determination device 1 described later. The control unit 6 causes the display unit 9 to display the determination result of the position determination device 1. The control unit 6 may display information based on the determination result of the position determination device 1 on the display unit 9. Further, the control unit 6 drives the revolver 19 by controlling the drive unit 21 based on, for example, the determination result of the position determination device 1, and arranges the predetermined objective lens 16 in the optical path OP. When the microscope device MS is provided with a drive device for driving a shutter member, a squeeze member, or the like, the control unit 6 may control these drive devices.

入力部７は、例えば、キーボード、マウス、トラックボール、タッチパネル、外部通信器などの各種入力デバイスである。入力部７は、外部（例、ユーザ）から情報（例、動作指令、設定情報）の入力を受け付ける。入力部７は、制御部６と通信可能に接続され、顕微鏡装置ＭＳに対する動作指令を制御部６に供給する。入力部７は、例えば、駆動部２１に対する動作指令等を受け付ける。制御部６は、入力部７から供給された動作指令に従って、顕微鏡装置ＭＳの各部を制御する。例えば、制御部６は、駆動部２１に対する動作指令に従って駆動部２１を制御することによって、レボルバ１９を駆動して、所定の対物レンズ１６を光路ＯＰに配置する。 The input unit 7 is, for example, various input devices such as a keyboard, a mouse, a trackball, a touch panel, and an external communication device. The input unit 7 receives input of information (example, operation command, setting information) from the outside (example, user). The input unit 7 is communicably connected to the control unit 6 and supplies an operation command to the microscope device MS to the control unit 6. The input unit 7 receives, for example, an operation command or the like for the drive unit 21. The control unit 6 controls each unit of the microscope device MS according to the operation command supplied from the input unit 7. For example, the control unit 6 drives the revolver 19 by controlling the drive unit 21 in accordance with an operation command to the drive unit 21, and arranges a predetermined objective lens 16 in the optical path OP.

表示部９は、各種情報を表示する。表示部９は、例えば、液晶モニタ、タッチパネルなどの表示装置である。表示部９は、例えば、制御部６から出力された情報を表示する。例えば、表示部９は、位置判別装置１の判別結果、位置判別装置１の判別結果に基づいた情報等を表示部９に表示する。なお、顕微鏡装置ＭＳは、制御部６、入力部７、記憶部８、及び表示部９の少なくとも一部を備えなくてもよい。 The display unit 9 displays various information. The display unit 9 is, for example, a display device such as a liquid crystal monitor or a touch panel. The display unit 9 displays, for example, the information output from the control unit 6. For example, the display unit 9 displays the determination result of the position determination device 1, information based on the determination result of the position determination device 1, and the like on the display unit 9. The microscope device MS does not have to include at least a part of a control unit 6, an input unit 7, a storage unit 8, and a display unit 9.

次に、本実施形態の位置判別装置について説明する。図２は、本実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ａ）は側方（＋Ｘ方向）から見た図、（Ｂ）は上方から見た図である。コンデンサカセットの保持装置の概略図である。位置判別装置１は、装置本体３１と、保持部材３２と、識別部Ｘと、検出部３３と、判別部３４と、を備える。 Next, the position determination device of this embodiment will be described. 2A and 2B are views showing a position determination device according to the present embodiment, FIG. 2A is a view seen from the side (+ X direction), and FIG. 2B is a view seen from above. It is the schematic of the holding device of a capacitor cassette . Position置判by device 1 includes a device body 31, a holding member 32, an identification unit X, a detection unit 33, a determination unit 34, a.

装置本体３１は、保持部材３２を回転可能に支持する。装置本体３１は、例えば、保持部材３２を内部に収容する。装置本体３１及び保持部材３２は、それぞれ、照明光学系４ａの光路ＯＰを形成する孔部（図示せず）を有し、光源装置１０（ａ）からの照明光軸が標本ＳＰに照射可能な構成となっている。保持部材３２は、複数のコンデンサカセットＣ（物体、光学部材）を保持可能である。例えば、保持部材３２は、コンデンサカセットＣを保持可能な複数の保持部Ｈ（Ｈ１〜Ｈ６）を備える。例えば、保持部材３２は、複数の保持部Ｈ１〜Ｈ６により複数のコンデンサカセットＣ（Ｃ１〜Ｃ６）を保持する。 The device main body 31 rotatably supports the holding member 32. The device main body 31 houses, for example, the holding member 32 inside. The device main body 31 and the holding member 32 each have a hole (not shown) forming an optical path OP of the illumination optical system 4a, and the illumination optical axis from the light source device 10 (a) can irradiate the specimen SP. It is composed. The holding member 32 can hold a plurality of capacitor cassettes C (objects, optical members). For example, the holding member 32 includes a plurality of holding portions H (H1 to H6) capable of holding the capacitor cassette C. For example, the holding member 32 holds a plurality of capacitor cassettes C (C1 to C6) by the plurality of holding portions H1 to H6.

保持部材３２は、例えば、平面視において、その外形が円状である。保持部材３２は、例えば、装置本体３１に対して回転可能である。保持部材３２は、例えば、Ｚ方向と平行な軸ＡＸ１を回転軸として有する軸部３５を介して、装置本体３１に対して回転可能に、装置本体３１に支持される（図２（Ａ）参照）。保持部材３２は、例えば、使用者の手動により回転可能である。なお、保持部材３２は、駆動装置により駆動するものでもよい。 The holding member 32 has, for example, a circular outer shape in a plan view. The holding member 32 is rotatable with respect to, for example, the device main body 31. The holding member 32 is rotatably supported by the device main body 31 with respect to the device main body 31 via, for example, a shaft portion 35 having a shaft AX1 parallel to the Z direction as a rotation axis (see FIG. 2A). ). The holding member 32 can be rotated manually by the user, for example. The holding member 32 may be driven by a driving device.

本実施形態では、保持部Ｈ１〜Ｈ６の大きさは、均一ではなく異なっている。なお、保持部Ｈ１〜Ｈ６の大きさは、それぞれ、同じでもよい。また、保持部Ｈ１〜Ｈ６は、それぞれ、例えば、軸部３５のまわりに配置される。例えば、保持部Ｈ１〜Ｈ６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとする円ＣＬの周方向に並んで配置される。本実施形態では、保持部Ｈ１〜Ｈ６は、各保持部Ｈと保持部Ｈとの間隔が均一ではなく異なっている。なお、保持部Ｈ１〜Ｈ６は、各保持部Ｈと保持部Ｈとの間隔が等しくてもよい。例えば、軸部３５のまわりに配置される。コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６はそれぞれ、軸部３５のまわりに配置された保持部Ｈ１〜Ｈ６に保持される（図２（Ｂ）参照）。保持部Ｈ１〜Ｈ６は、それぞれ、保持部材３２を回転することにより、保持するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６を光路ＯＰ（光軸）に配置可能に形成されている。 In this embodiment, the sizes of the holding portions H1 to H6 are not uniform but different. The sizes of the holding portions H1 to H6 may be the same. Further, the holding portions H1 to H6 are arranged around, for example, the shaft portion 35, respectively. For example, the holding portions H1 to H6 are arranged side by side in the circumferential direction of the circle CL having the center O of the shaft portion 35, respectively. In the present embodiment, the intervals between the holding portions H and the holding portions H are not uniform but different in the holding portions H1 to H6. In the holding portions H1 to H6, the intervals between the holding portions H and the holding portions H may be equal. For example, it is arranged around the shaft portion 35. The capacitor cassettes C1 to C6 are held by holding portions H1 to H6 arranged around the shaft portion 35, respectively (see FIG. 2B). The holding portions H1 to H6 are formed so that the holding capacitor cassettes C1 to C6 can be arranged in the optical path OP (optical axis) by rotating the holding member 32, respectively.

保持部材３２には、識別部Ｘ（Ｘ１〜Ｘ６）が設けられる（図２（Ｂ）参照）。なお、本明細書において、識別部Ｘ（Ｘａ〜Ｘｊ）は、図面において二点鎖線で示しているが、二点鎖線で囲んだ部分は、磁石３６を配置する位置の候補の位置を示すものであり、識別部Ｘ（Ｘａ〜Ｘｊ）に符号をつけるための説明上の領域である。識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、保持部Ｈ１〜Ｈ６（コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６）に対応して配置される。識別部Ｘ１〜Ｘ６は、観察位置である光路ＯＰに配置される保持部Ｈ１〜Ｈ６（コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６）の識別に用いられる。本実施形態では、識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、複数の磁石３６（被検出部材）により形成される。磁石３６は、例えば、永久磁石である。例えば、識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、複数の磁石３６が保持部材３２の上面に配置されることにより形成される。各識別部Ｘ１〜Ｘ６は、互いに、磁石３６の配置が異なる。図２（Ｂ）の例では、各識別部Ｘ１〜Ｘ６は、保持部Ｈ１〜Ｈ６間に配置され、各識別部における磁石は、保持部材３２の径方向に並べて配置されている。各識別部Ｘ１〜Ｘ６は、磁石３６の配置の違いを検出されることにより、個別に識別される。各識別部Ｘ１〜Ｘ６は、検出部３３により検出される。なお、各識別部Ｘ１〜Ｘ６の範囲は、検出部３３によって検出される部分を意味している。識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ（コンデンサカセットＣ）が光路ＯＰに配置された際に、検出部３３が検出可能な位置に配置される。各識別部Ｘ１〜Ｘ６の配置、各識別部Ｘ１〜Ｘ６の磁石３６については、後に説明する。 The holding member 32 is provided with identification portions X (X1 to X6) (see FIG. 2B). In the present specification, the identification units X (Xa to Xj) are indicated by a two-dot chain line in the drawings, but the portion surrounded by the two-dot chain line indicates a candidate position for arranging the magnet 36. This is an explanatory area for assigning a reference to the identification units X (Xa to Xj). The identification units X1 to X6 are arranged corresponding to the holding units H1 to H6 (capacitor cassettes C1 to C6), respectively. The identification units X1 to X6 are used to identify the holding units H1 to H6 (capacitor cassettes C1 to C6) arranged in the optical path OP, which is the observation position. In the present embodiment, the identification units X1 to X6 are each formed by a plurality of magnets 36 (detected members). The magnet 36 is, for example, a permanent magnet. For example, the identification portions X1 to X6 are formed by arranging a plurality of magnets 36 on the upper surface of the holding member 32, respectively. The magnets 36 are arranged differently from each other in the identification units X1 to X6. In the example of FIG. 2B, the identification portions X1 to X6 are arranged between the holding portions H1 to H6, and the magnets in the identification portions are arranged side by side in the radial direction of the holding member 32. The identification units X1 to X6 are individually identified by detecting the difference in the arrangement of the magnets 36. Each identification unit X1 to X6 is detected by the detection unit 33. The range of each identification unit X1 to X6 means a portion detected by the detection unit 33. The identification units X1 to X6 are arranged at positions where the detection unit 33 can be detected when the corresponding holding units H (capacitor cassette C) are arranged in the optical path OP. The arrangement of the identification units X1 to X6 and the magnets 36 of the identification units X1 to X6 will be described later.

検出部３３は、識別部Ｘを検出する。検出部３３は、例えば、装置本体３１に配置される（図２（Ａ）参照）。検出部３３は、例えば、保持部材３２の上方に配置される。検出部３３は、磁界を検出するセンサＳを備える。センサＳは、例えば、ホールＩＣ、ホール素子等である。検出部３３は、Ｍ（Ｍは３以上の自然数）個のセンサＳを備える。このセンサＳの個数Ｍは、各識別部Ｘ１〜Ｘ６において、検出部３３により検出される磁石３６の数Ｎ（Ｎは２以上の自然数）よりも多く設定される。例えば、本実施形態では、後に説明するように各識別部Ｘ１〜Ｘ６のそれぞれにおいて、検出部３３のセンサＳにより検出される磁石３６の数Ｎは２に設定され、検出部３３のセンサＳの個数は４に設定される。 The detection unit 33 detects the identification unit X. The detection unit 33 is arranged, for example, in the device main body 31 (see FIG. 2A). The detection unit 33 is arranged above the holding member 32, for example. The detection unit 33 includes a sensor S that detects a magnetic field. The sensor S is, for example, a Hall IC, a Hall element, or the like. The detection unit 33 includes M (M is a natural number of 3 or more) sensors S. The number M of the sensors S is set in each of the identification units X1 to X6 to be larger than the number N of the magnets 36 detected by the detection unit 33 (N is a natural number of 2 or more). For example, in the present embodiment, as will be described later, in each of the identification units X1 to X6, the number N of the magnets 36 detected by the sensor S of the detection unit 33 is set to 2, and the sensor S of the detection unit 33 The number is set to 4.

４個のセンサＳａ〜Ｓｄは、例えば、１つの支持部材３８に支持される。なお、センサＳａ〜Ｓｄは、後に図１５等に示すように複数の支持部材３８に支持されてもよい。 The four sensors Sa to Sd are supported by, for example, one support member 38. The sensors Sa to Sd may be supported by a plurality of support members 38 as shown later in FIG. 15 and the like.

センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、保持部Ｈ１〜Ｈ６（コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６）のいずれかが観察位置の光路ＯＰ（光軸）に配置された際に、対応する識別部Ｘ１〜Ｘ６を検出するように配置される。例えば、センサＳａ〜Ｓｄ及び識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、保持部Ｈ１〜Ｈ６（コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６）が光路ＯＰに配置された際に、対応する識別部Ｘ１〜Ｘ６が、センサＳａ〜Ｓｄの真下に配置されるように配置される。センサＳａ〜Ｓｄの配置は、それぞれ、識別部Ｘ１〜Ｘ６の磁石３６の配置に対応して設定される。例えば、本実施形態のセンサＳａ〜Ｓｄは、軸部３５の中心Ｏに対して放射方向（径方向）に並んで配置される。 The sensors Sa to Sd detect, for example, the corresponding identification units X1 to X6 when any of the holding units H1 to H6 (capacitor cassettes C1 to C6) is arranged in the optical path OP (optical axis) at the observation position. Arranged like this. For example, in the sensors Sa to Sd and the identification units X1 to X6, when the holding units H1 to H6 (capacitor cassettes C1 to C6) are arranged in the optical path OP, the corresponding identification units X1 to X6 move to the sensors Sa to X6, respectively. It is arranged so as to be arranged directly under Sd. The arrangement of the sensors Sa to Sd is set corresponding to the arrangement of the magnets 36 of the identification units X1 to X6, respectively. For example, the sensors Sa to Sd of the present embodiment are arranged side by side in the radial direction (diameter direction) with respect to the center O of the shaft portion 35.

また、センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、各センサＳａ〜Ｓｄが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。なお、各センサＳａ〜Ｓｄは、各センサとセンサとの間隔が、等間隔で配置されてもよいし、等間隔で配置されなくてもよい。また、各センサＳａ〜Ｓｄの相対位置は任意である。 Further, the sensors Sa to Sd are arranged so as to be separated from each other so that, for example, the sensors Sa to Sd do not detect the magnetic field due to the two or more magnets 36. The sensors Sa to Sd may or may not be arranged at equal intervals between the sensors. Further, the relative positions of the sensors Sa to Sd are arbitrary.

以下、各識別部Ｘ１〜Ｘ６の磁石３６、各識別部Ｘ１〜Ｘ６の配置等について説明する。各識別部Ｘ１〜Ｘ６において、各磁石３６は、例えば、同様の形状、大きさ、磁力である。なお、各磁石３６において、磁極の位置は任意であり、磁極を同様の方向に設定してもよいし、磁極を異なる方向に設定してもよい。 Hereinafter, the arrangement of the magnets 36 of the identification units X1 to X6, the arrangement of the identification units X1 to X6, and the like will be described. In each of the identification units X1 to X6, each magnet 36 has, for example, the same shape, size, and magnetic force. In each magnet 36, the position of the magnetic poles is arbitrary, and the magnetic poles may be set in the same direction or the magnetic poles may be set in different directions.

識別部Ｘ１〜Ｘ６は、例えば、それぞれ、保持部Ｈと保持部Ｈとの間に配置される（図２（Ｂ）参照）。この場合、識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣとコンデンサカセットＣとの間に配置される。また、例えば、識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６の隣に配置される。また、例えば、識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、保持部材３２の中心Ｏを中心とした放射方向に配置される。例えば、各識別部Ｘ１〜Ｘ６の複数の磁石３６は、それぞれ、保持部材３２（軸部３５）の中心Ｏを通る所定の直線Ｌａ１〜Ｌａ６上に配置される。例えば、この直線Ｌａ１〜Ｌａ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６の中心と保持部材３２の中心Ｏとを結ぶ直線Ｌｂ１〜Ｌｂ６を、中心Ｏに対して右回り方向に所定の角度（図２（Ｂ）の例では３３°）回転した直線に設定される。 The identification units X1 to X6 are arranged, for example, between the holding unit H and the holding unit H, respectively (see FIG. 2B). In this case, the identification units X1 to X6 are arranged between the capacitor cassette C and the capacitor cassette C, respectively. Further, for example, the identification units X1 to X6 are arranged next to the corresponding holding units H1 to H6, respectively. Further, for example, the identification units X1 to X6 are arranged in the radial direction centered on the center O of the holding member 32, respectively. For example, the plurality of magnets 36 of the identification portions X1 to X6 are arranged on predetermined straight lines La1 to La6 passing through the center O of the holding member 32 (shaft portion 35), respectively. For example, the straight lines La1 to La6 are straight lines Lb1 to Lb6 connecting the centers of the corresponding holding portions H1 to H6 and the center O of the holding member 32, respectively, at a predetermined angle in the clockwise direction with respect to the center O (FIG. In the example of 2 (B), it is set to a straight line rotated by 33 °).

なお、識別部Ｘ１〜Ｘ６が配置される位置は、それぞれ、任意であり、上記の例に限定されない。また、識別部Ｘの磁石３６の位置は、任意であり、上記の例に限定されない。これらの他の例については、後の実施形態において説明する。また、各磁石３６は、形状、大きさ、磁力のうち、少なくとも１つが互いに異なっていてもよい。 The positions where the identification units X1 to X6 are arranged are arbitrary and are not limited to the above example. Further, the position of the magnet 36 of the identification unit X is arbitrary and is not limited to the above example. These other examples will be described in later embodiments. Further, each magnet 36 may have at least one of a shape, a size, and a magnetic force different from each other.

各識別部Ｘ１〜Ｘ６において、各磁石３６は、例えば、互いに離間して配置される。また、各磁石３６は、例えば、対応するコンデンサレンズが光路ＯＰに配置された際に、１つのセンサＳが検出するように配置され、１つのセンサＳが２以上の磁石３６の磁界を検出しないように配置される。例えば、各磁石３６は、各識別部Ｘ１〜Ｘ６において、保持部材３２の同心円Ｃ１〜Ｃ４上のいずれかに配置され、且つセンサＳａ〜Ｓｄはそれぞれ、同心円Ｃ１〜Ｃ４上に配置される。この場合、同心円Ｃ１〜Ｃ４上に配置された磁石３６は、それぞれ、同心円Ｃ１〜Ｃ４上を移動するため、センサＳａ〜Ｓｄに検出される。 In the identification units X1 to X6, the magnets 36 are arranged so as to be separated from each other, for example. Further, each magnet 36 is arranged so that one sensor S detects, for example, when the corresponding capacitor lens is arranged in the optical path OP, and one sensor S does not detect the magnetic field of two or more magnets 36. Arranged like this. For example, each magnet 36 is arranged on any of the concentric circles C1 to C4 of the holding member 32 in each of the identification units X1 to X6, and the sensors Sa to Sd are arranged on the concentric circles C1 to C4, respectively. In this case, the magnets 36 arranged on the concentric circles C1 to C4 move on the concentric circles C1 to C4, respectively, and thus are detected by the sensors Sa to Sd.

図３は、各識別部Ｘにおける磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図であり、位置を検出する際の各位置を識別する方法を示している。なお、図３等の各識別部Ｘにおける磁石と、磁石を検出するセンサとの関係の説明において、丸が表記される部分は、各センサＳａ〜Ｓｄが各識別部Ｘ１〜Ｘ６における磁石３６を検出する状態を示し、丸が表記されていない部分は、各センサＳａ〜Ｓｄが各識別部Ｘ１〜Ｘ６における磁石３６をを検出していない状態を示し、図中の「挿入されていない」はコンデンサカセットＣが光路ＯＰに配置されていないことを示す。図３に示すように、識別部Ｘ１〜Ｘ６のそれぞれは、検出部３３により検出される磁石３６の数がＮ（Ｎは２以上の自然数）に設定される。また、識別部Ｘ１〜Ｘ６のそれぞれは、磁石３６が検出されるＮ個（Ｎは２以上の自然数）のセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。例えば、本実施形態では、上記したように識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。本実施形態のように、センサＳが４個であり、各識別部Ｘにおいて検出部３３に検出される磁石３６が２個である場合、２個の磁石３６を検出する４個のセンサＳの異なる組み合わせは、４Ｃ２＝６通りにすることができる。例えば、センサＳがＭ個であり、各識別部Ｘにおいて検出部３３に検出される磁石３６がＮ個である場合、Ｎ個の磁石３６を検出するＭ個のセンサＳの異なる組み合わせは、ＭＣＮ通りにすることができる。なお、各識別部Ｘ１〜Ｘ６の磁石３６の配置は、図３に示すものに限定されず、各識別部Ｘ１〜Ｘ６の磁石３６の配置は、磁石３６が検出されるＮ個（Ｎは２以上の自然数）のセンサＳの組み合わせが異なるように形成されていれば任意である。 FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the magnet in each identification unit X and the sensor that detects the magnet, and shows a method of identifying each position when detecting the position. In the description of the relationship between the magnet in each identification unit X and the sensor that detects the magnet in FIG. 3 and the like, in the portion marked with a circle, each sensor Sa to Sd refers to the magnet 36 in each identification unit X1 to X6. The part not marked with a circle indicates the state to be detected, and indicates the state in which the sensors Sa to Sd have not detected the magnet 36 in each of the identification units X1 to X6, and "not inserted" in the figure is It shows that the condenser cassette C is not arranged in the optical path OP. As shown in FIG. 3, in each of the identification units X1 to X6, the number of magnets 36 detected by the detection unit 33 is set to N (N is a natural number of 2 or more). Further, each of the identification units X1 to X6 is formed so that the combination of N sensors (N is a natural number of 2 or more) in which the magnets 36 are detected is different. For example, in the present embodiment, as described above, the identification units X1 to X6 are each formed by two magnets 36. Each of the identification units X1 to X6 is formed so that the combination of the sensors S in which the two magnets 36 are detected is different. When there are four sensors S and the number of magnets 36 detected by the detection unit 33 in each identification unit X is two as in the present embodiment, the four sensors S that detect the two magnets 36 Different combinations can be 4 C 2 = 6 ways. For example, when there are M sensors S and N magnets 36 are detected by the detection unit 33 in each identification unit X, different combinations of M sensors S that detect N magnets 36 are M. it can be C N street. The arrangement of the magnets 36 of the identification units X1 to X6 is not limited to that shown in FIG. 3, and the arrangement of the magnets 36 of the identification units X1 to X6 is N (N is 2) in which the magnets 36 are detected. It is arbitrary as long as the combination of the sensors S of the above natural numbers) is formed so as to be different.

次に、図２（Ａ）の説明に戻り、判別部について説明する。判別部３４は、検出部３３による検出結果から、識別部Ｘを特定して、識別部Ｘに対応するコンデンサカセットＣが光路ＯＰにある（位置する）ことを判別する。判別部３４は、検出部３３と通信可能に接続される。判別部３４は、検出部３３の各センサＳａ〜Ｓｄによる磁界の検出結果に基づいて、識別部Ｘに対応するコンデンサカセットＣが観察時の光路ＯＰにあることを判別する。例えば、判別部３４は、各センサＳａ〜Ｓｄによる検出結果を、図３に示すような各識別部Ｘ１〜Ｘ６におけるセンサＳａ〜Ｓｄの検出結果を示すテーブルと比較することにより、識別部Ｘを特定し、特定した識別部Ｘに対応するコンデンサカセットＣが光路ＯＰにあることを判別する。このテーブルは、例えば、記憶部８に、予め記憶される。判別部３４は、例えば、センサＳａ〜Ｓｄの検出結果が、図３に示す各識別部Ｘ１〜Ｘ６における検出結果に該当したと判定した場合、各識別部Ｘ１〜Ｘ６に対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６が光路ＯＰに配置されたと判別する。また、判別部３４は、例えば、センサＳａ〜Ｓｄの検出結果が、図３の各識別部Ｘ１〜Ｘ６における検出結果に該当しないと判定した場合、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６が光路ＯＰに配置されていないと判別する。 Next, returning to the description of FIG. 2A, the discriminating unit will be described. The determination unit 34 identifies the identification unit X from the detection result of the detection unit 33, and determines that the capacitor cassette C corresponding to the identification unit X is (located) in the optical path OP. The determination unit 34 is communicably connected to the detection unit 33. The determination unit 34 determines that the capacitor cassette C corresponding to the identification unit X is in the optical path OP at the time of observation based on the detection results of the magnetic fields by the sensors Sa to Sd of the detection unit 33. For example, the discrimination unit 34 compares the detection results of the sensors Sa to Sd with the table showing the detection results of the sensors Sa to Sd of the identification units X1 to X6 as shown in FIG. It is identified, and it is determined that the capacitor cassette C corresponding to the identified identification unit X is in the optical path OP. This table is stored in advance in, for example, the storage unit 8. When the determination unit 34 determines, for example, that the detection results of the sensors Sa to Sd correspond to the detection results of the identification units X1 to X6 shown in FIG. 3, the capacitor cassettes C1 to corresponding to the identification units X1 to X6. It is determined that C6 is arranged in the optical path OP. Further, for example, when the discrimination unit 34 determines that the detection results of the sensors Sa to Sd do not correspond to the detection results of the identification units X1 to X6 of FIG. 3, the capacitor cassettes C1 to C6 are arranged in the optical path OP. It is determined that there is no such thing.

ここで、従来の位置判別装置の例を説明する。図４（Ａ）及び図４（Ｂ）は、従来の位置判別装置の一例を示す。図５は、図４に示す位置判別装置の各識別部Ｘにおける磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。図４（Ａ）の位置判別装置１００は、識別部Ｂ１〜Ｂ６及びセンサＳａ〜Ｓｃが、図２に示す本実施形態の位置判別装置１と異なり、それ以外の構成は位置判別装置１と同様である。この位置判別装置１００の識別部Ｂ１〜Ｂ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応して配置される。識別部Ｂ１〜Ｂ６の磁石３６、及び３つのセンサＳａ〜Ｓｃは、それぞれ、軸部３５の中心Ｏを中心とする円周ＣＬ１（図２（Ｂ）参照）上に配置される。 Here, an example of a conventional position determination device will be described. 4 (A) and 4 (B) show an example of a conventional position determining device. FIG. 5 is a diagram showing a relationship between a magnet in each identification unit X of the position determination device shown in FIG. 4 and a sensor that detects the magnet. In the position determination device 100 of FIG. 4A, the identification units B1 to B6 and the sensors Sa to Sc are different from the position determination device 1 of the present embodiment shown in FIG. 2, and the other configurations are the same as those of the position determination device 1. Is. The identification units B1 to B6 of the position determination device 100 are arranged corresponding to the capacitor cassettes C1 to C6, respectively. The magnets 36 of the identification units B1 to B6 and the three sensors Sa to Sc are arranged on the circumference CL1 (see FIG. 2B) centered on the center O of the shaft portion 35, respectively.

この位置判別装置１００の場合、図４（Ａ）に示すように、コンデンサカセットＣ１が光路ＯＰに配置された場合、識別部Ｂ１の磁石３６が検出部３３のセンサＳａに検出される。また、図４（Ｂ）に示すように、コンデンサカセットＣ４が光路ＯＰの近傍に配置される場合(コンデンサカセットＣ４が光路ＯＰに配置される直前の状態)も、識別部Ｂ４の磁石３６が検出部３３のセンサＳａに検出される。図４（Ｂ）の状態においては、センサＳａが磁石３６を検出し、センサＳｂ及びセンサＳｃが磁石３６を検出しない結果となり、図５に示す識別部Ｂ１を検出する時と同じ検出結果になっている。例えば、この判別結果を表示部９等に表示する場合、光路ＯＰに配置されるべき正確な判別結果ではない判別結果が表示されることになってしまう。すなわち、位置判別装置１００のようなコンデンサカセットＣが光路ＯＰに正確に配置されたことを検出しない位置判別装置の場合、光路ＯＰへの配置直前からセンサが磁石を検出し始め、この検出結果を基に、光路ＯＰに配置されたコンデンサカセットＣを判定してしまうので、図４（Ａ）に示すような場合と、図４（Ｂ）に示すような状態とで、異なるコンデンサカセットＣが光路ＯＰに配置ようとした状態でも両者の状態は同じと判定されてしまう。ところで、コンデンサカセット保持装置（ターレット１３）の回転手段が使用者の手動である場合、コンデンサカセット保持装置の回転位置を使用者が任意に設定することができるため、図４（Ｂ)の状態が正確に判別されることが要求される。 In the case of the position determination device 100, as shown in FIG. 4A, when the capacitor cassette C1 is arranged in the optical path OP, the magnet 36 of the identification unit B1 is detected by the sensor Sa of the detection unit 33. Further, as shown in FIG. 4B, the magnet 36 of the identification unit B4 also detects when the capacitor cassette C4 is arranged in the vicinity of the optical path OP (the state immediately before the capacitor cassette C4 is arranged in the optical path OP). It is detected by the sensor Sa of the unit 33. In the state of FIG. 4B, the sensor Sa detects the magnet 36, and the sensor Sb and the sensor Sc do not detect the magnet 36, which is the same detection result as when the identification unit B1 shown in FIG. 5 is detected. ing. For example, when this discrimination result is displayed on the display unit 9, or the like, a discrimination result that is not an accurate discrimination result that should be arranged in the optical path OP will be displayed. That is, in the case of a position determination device such as the position determination device 100 that does not detect that the capacitor cassette C is accurately arranged in the optical path OP, the sensor starts to detect the magnet immediately before the arrangement in the optical path OP, and the detection result is obtained. Since the capacitor cassette C arranged in the optical path OP is determined based on this, different capacitor cassettes C are used in the optical path depending on the case shown in FIG. 4 (A) and the state shown in FIG. 4 (B). Even if you try to place it in the OP, it will be determined that both states are the same. By the way, when the rotating means of the condenser cassette holding device (turret 13) is manually set by the user, the rotating position of the condenser cassette holding device can be arbitrarily set by the user, so that the state of FIG. 4B can be changed. It is required to be accurately determined.

上記のように、この位置判別装置１００は、図４（Ａ）及び図４（Ｂ）に示す状態を区別することができないため、識別部Ｂ１〜Ｂ６が誤って判定されるおそれがある。この誤判定を回避するためには、コンデンサカセットＣが光路ＯＰに配置されたときに、識別部Ｂ１〜Ｂ６の判定を行うことが考えられる。この場合、コンデンサカセットＣが光路ＯＰに配置されたことを検出するセンサなどが必要となり、その結果、コストが高くなる。しかし、本実施形態では、全ての識別部Ｘで検出する磁石３６の数は少なくとも２個であることを必須とし、かつ、全ての識別部Ｘで検出する磁石３６の数を同数とすることでコンデンサカセットＣが光路ＯＰに正確に配置されたことを検出するセンサなどを配置しない構成であっても誤判定がない装置を提供することができる。 As described above, since the position determination device 100 cannot distinguish the states shown in FIGS. 4A and 4B, the identification units B1 to B6 may be erroneously determined. In order to avoid this erroneous determination, it is conceivable to determine the identification units B1 to B6 when the capacitor cassette C is arranged in the optical path OP. In this case, a sensor or the like for detecting that the capacitor cassette C is arranged in the optical path OP is required, and as a result, the cost increases. However, in the present embodiment, it is essential that the number of magnets 36 detected by all the identification units X is at least two, and the number of magnets 36 detected by all the identification units X is the same. It is possible to provide an apparatus without erroneous determination even if a sensor or the like for detecting that the capacitor cassette C is accurately arranged in the optical path OP is not arranged.

図６（Ａ）及び図６（Ｂ）は、従来の位置判別装置の他の例を示す。この位置判別装置１０１は、識別部Ｂ１〜Ｂ６及びセンサＳａ〜Ｓｃが、図２に示す本実施形態の位置判別装置１と異なり、それ以外の構成は位置判別装置１と同様である。この位置判別装置１０１の識別部Ｂ１〜Ｂ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応して配置される。識別部Ｂ１〜Ｂ６は、それぞれ、１個または２個の磁石３６により、３個のセンサＳａ〜Ｓｃに検出される磁石３６が互いに異なるように形成される。また、識別部Ｂ１〜Ｂ６は、それぞれ、図２に示す識別部Ｘ１〜Ｘ６と同様に、軸部３５の中心Ｏを中心とした放射方向に延びる直線Ｌａ１〜Ｌａ６（図２参照）上に配置される。 6 (A) and 6 (B) show other examples of the conventional position determining device. In this position determination device 101, the identification units B1 to B6 and the sensors Sa to Sc are different from the position determination device 1 of the present embodiment shown in FIG. 2, and other configurations are the same as those of the position determination device 1. The identification units B1 to B6 of the position determination device 101 are arranged corresponding to the capacitor cassettes C1 to C6, respectively. The identification units B1 to B6 are formed by one or two magnets 36 so that the magnets 36 detected by the three sensors Sa to Sc are different from each other. Further, the identification units B1 to B6 are arranged on straight lines La1 to La6 (see FIG. 2) extending in the radial direction about the center O of the shaft portion 35, respectively, like the identification units X1 to X6 shown in FIG. Will be done.

この位置判別装置１０１の場合、図６（Ａ）に示すように、コンデンサカセットＣ１が光路ＯＰに配置された場合、識別部Ｂ１の磁石３６ｃが検出部３３のセンサＳｃに検出される。また、位置判別装置１０１は、図６（Ｂ）に示すように、コンデンサカセットＣ３が光路ＯＰの近傍に配置される場合(例えばコンデンサカセットＣ３が光路ＯＰに配置される直前の状態)、識別部Ｂ３の磁石３６ｂ、３６ｃが、それぞれ、検出部３３のセンサＳｂ、Ｓｃの近傍に配置される。この状態のとき、センサＳｂと磁石３６ｂとの距離が大きいと磁石３６ｂはセンサＳｂに検出されず、磁石３６ｃのみがセンサＳｃに検出される。これはセンサＳｂの感度が低いときに、より生じやすくなる。このように、位置判別装置１０１は、図６（Ａ）及び図６（Ｂ）に示す状態を区別することができない。つまり、図６（Ａ）の状態も図６（Ｂ）の状態も共に磁石３６ｃのみの検出をしてしまうため、識別部Ｘの磁石３６識別部Ｂ１〜Ｂ６が誤って判定されるおそれがある。この誤判定を回避するためには、上述したように、コンデンサカセットＣが光路ＯＰに配置されたときに、識別部Ｘ１〜Ｘ６の判定を行うことにより回避することができる。この場合、コンデンサカセットＣが光路ＯＰに正確に配置されたことを検出するセンサなどが必要となり、その結果、コストが高くなる。これに対して、本実施形態の位置判別装置１の場合、上述したように、各識別部Ｘ１〜Ｘ６は、磁石３６が検出されるＮ個（Ｎは２以上の自然数）のセンサＳの組み合わせが異なるように形成されているので、図６（Ｂ）に示す状態においても、図６（Ａ）に示した識別部Ｂ１に相当するような、誤判定の原因となる識別部が存在しない。すなわち、図６（Ａ）や図６（Ｂ）の構成のようにコンデンサカセットＣが光路ＯＰに正確に配置されたことを検出するセンサなどを配置しない場合、１個の磁石を検出するような構成であると誤判定が生じてしまう。しかし、本実施形態の位置判別装置１は、全ての識別部Ｘで検出する磁石の数は少なくとも２個であることを必須とし、かつ、全ての識別部で検出する磁石の数を同数とすることでコンデンサカセットＣが光路ＯＰに正確に配置されたことを検出するセンサなどを配置しない構成であっても誤判定がない装置を提供することができ、図６（Ａ）及び図６（Ｂ）に示す状態を区別する必要がないように構成されている。このように、本実施形態の位置判別装置１は、コンデンサカセットＣ（保持部Ｈ）が光路ＯＰに配置されたことを正確に検出するセンサなどを必要とせず、このような誤判定を確実に回避できる。 In the case of the position determination device 101, as shown in FIG. 6A, when the capacitor cassette C1 is arranged in the optical path OP, the magnet 36c of the identification unit B1 is detected by the sensor Sc of the detection unit 33. Further, as shown in FIG. 6B, the position determination device 101 is identified when the capacitor cassette C3 is arranged in the vicinity of the optical path OP (for example, the state immediately before the capacitor cassette C3 is arranged in the optical path OP). The magnets 36b and 36c of B3 are arranged in the vicinity of the sensors Sb and Sc of the detection unit 33, respectively. In this state, if the distance between the sensor Sb and the magnet 36b is large, the magnet 36b is not detected by the sensor Sb, and only the magnet 36c is detected by the sensor Sc. This is more likely to occur when the sensitivity of the sensor Sb is low. As described above, the position determination device 101 cannot distinguish the states shown in FIGS. 6 (A) and 6 (B). That is, since only the magnet 36c is detected in both the state of FIG. 6A and the state of FIG. 6B, the magnets 36 identification units B1 to B6 of the identification unit X may be erroneously determined. .. In order to avoid this erroneous determination, as described above, when the capacitor cassette C is arranged in the optical path OP, it can be avoided by determining the identification units X1 to X6. In this case, a sensor or the like that detects that the capacitor cassette C is accurately arranged in the optical path OP is required, and as a result, the cost increases. On the other hand, in the case of the position determination device 1 of the present embodiment, as described above, each of the identification units X1 to X6 is a combination of N sensors (N is a natural number of 2 or more) in which the magnets 36 are detected. Is formed so as to be different from each other, so that even in the state shown in FIG. 6 (B), there is no identification unit that causes an erroneous determination, which corresponds to the identification unit B1 shown in FIG. 6 (A). That is, when a sensor or the like for detecting that the capacitor cassette C is accurately arranged in the optical path OP is not arranged as in the configuration of FIGS. 6 (A) and 6 (B), one magnet is detected. If it is a configuration, an erroneous judgment will occur. However, the position determination device 1 of the present embodiment requires that the number of magnets detected by all the identification units X is at least two, and the number of magnets detected by all the identification units is the same. As a result, it is possible to provide a device without erroneous determination even if a sensor or the like for detecting that the capacitor cassette C is accurately arranged in the optical path OP is not arranged, and FIGS. 6 (A) and 6 (B) can be provided. ) Is configured so that it is not necessary to distinguish between the states shown in). As described above, the position determination device 1 of the present embodiment does not require a sensor or the like that accurately detects that the capacitor cassette C (holding unit H) is arranged in the optical path OP, and ensures such an erroneous determination. It can be avoided.

図７は、従来の位置判別装置の他の例を示す。この位置判別装置１０２は、識別部Ｂ１〜Ｂ６及びセンサＳａ〜Ｓｆが、図２に示す本実施形態の位置判別装置１と異なり、それ以外の構成は位置判別装置１と同様である。この位置判別装置１０１の識別部Ｂ１〜Ｂ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応して配置される。識別部Ｂ１〜Ｂ６は、それぞれ、１個の磁石３６により形成され、６個のセンサＳａ〜Ｓｆに検出される磁石３６が互いに異なるように形成される。識別部Ｂ１〜Ｂ６は、それぞれ、図２に示す識別部Ｘ１〜Ｘ６と同様に、軸部３５の中心Ｏを中心とした放射方向に延びる直線Ｌａ１〜Ｌａ６（図２参照）上に配置される。この位置判別装置１０２は、図４及び図６に示した誤判定を回避できる。しかし、１個の磁石３６により、Ｃ１〜Ｃ６の６か所の識別を行う場合、センサの数を６個にする必要がある。この場合、センサの数が多いため、センサの占める領域の径方向の長さが長くなり、装置のサイズが大きくなる。これに対して、本実施形態の位置判別装置１の場合、上述したように、各識別部Ｘ１〜Ｘ６は、磁石３６が検出されるＮ個（Ｎは２以上の自然数）のセンサＳの組み合わせが異なるように形成されているので、センサの数を少なくすることができ、装置のサイズを小さくすることができる。 FIG. 7 shows another example of the conventional position determining device. In this position determination device 102, the identification units B1 to B6 and the sensors Sa to Sf are different from the position determination device 1 of the present embodiment shown in FIG. 2, and other configurations are the same as those of the position determination device 1. The identification units B1 to B6 of the position determination device 101 are arranged corresponding to the capacitor cassettes C1 to C6, respectively. The identification units B1 to B6 are each formed by one magnet 36, and the magnets 36 detected by the six sensors Sa to Sf are formed so as to be different from each other. The identification units B1 to B6 are arranged on straight lines La1 to La6 (see FIG. 2) extending in the radial direction about the center O of the shaft portion 35, respectively, like the identification units X1 to X6 shown in FIG. .. The position determination device 102 can avoid the erroneous determination shown in FIGS. 4 and 6. However, when identifying six locations C1 to C6 with one magnet 36, it is necessary to increase the number of sensors to six. In this case, since the number of sensors is large, the radial length of the area occupied by the sensors becomes long, and the size of the device becomes large. On the other hand, in the case of the position determination device 1 of the present embodiment, as described above, each of the identification units X1 to X6 is a combination of N sensors (N is a natural number of 2 or more) in which the magnets 36 are detected. Are formed differently so that the number of sensors can be reduced and the size of the device can be reduced.

次に、位置判別装置１及び顕微鏡装置ＭＳの動作に基づき、本実施形態に係る位置判別方法及び顕微鏡装置の制御方法を説明する。図８（Ａ）は、本実施形態に係る位置判別方法のフローチャートであり、図８（Ｂ）は本実施形態に係る顕微鏡の制御方法のフローチャートである。なお、図８（Ａ）及び図８（Ｂ）を説明する際、適宜、図１〜図３を参照する。 Next, the position determination method and the control method of the microscope device according to the present embodiment will be described based on the operations of the position determination device 1 and the microscope device MS. FIG. 8A is a flowchart of a position determination method according to the present embodiment, and FIG. 8B is a flowchart of a microscope control method according to the present embodiment. In addition, when explaining FIG. 8A and FIG. 8B, FIGS. 1 to 3 are referred to as appropriate.

本実施形態の位置判別方法は、図８（Ａ）に示すステップＳ１において、検出部３３として、被検出部材（磁石３６）を検出するＭ（Ｍは３以上の自然数）個のセンサＳを用いる。例えば、検出部３３として、図２に示すように、磁界を検出する４個のセンサＳａ〜Ｓｄを用いる。 In the position determination method of the present embodiment, in step S1 shown in FIG. 8A, M (M is a natural number of 3 or more) sensors S for detecting the member to be detected (magnet 36) are used as the detection unit 33. .. For example, as the detection unit 33, as shown in FIG. 2, four sensors Sa to Sd for detecting a magnetic field are used.

図８（Ａ）に示すステップＳ２において、Ｎ（Ｎ＜Ｍ、Ｎは２以上の自然数）個のセンサＳにより、識別部Ｘのそれぞれに配置される複数の磁石３６の磁界を検出する。例えば、まず、図２（Ｂ）及び図３に示すように、各識別部Ｘ１〜Ｘ６を、検出部３３により検出される磁石３６の数を２に設定し、且つ、識別部Ｘ１〜Ｘ６のそれぞれを、２つの磁石３６が検出される２個のセンサＳａ〜Ｓｄの組み合わせが異なるように形成する。そして、例えば、図２（Ｂ）に示すように、保持部材３２の回転によりコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６が光路ＯＰに配置される際、センサＳａ〜Ｓｄのいずれかが、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応する識別部Ｘ１〜Ｘ６に配置される２個の磁石３６を検出する。 In step S2 shown in FIG. 8A, the magnetic fields of a plurality of magnets 36 arranged in each of the identification units X are detected by N (N <M, N is a natural number of 2 or more) sensors S. For example, first, as shown in FIGS. 2B and 3, each identification unit X1 to X6 is set to 2 for the number of magnets 36 detected by the detection unit 33, and the identification units X1 to X6 Each is formed so that the combination of the two sensors Sa to Sd in which the two magnets 36 are detected is different. Then, for example, as shown in FIG. 2B, when the capacitor cassettes C1 to C6 are arranged in the optical path OP by the rotation of the holding member 32, any of the sensors Sa to Sd corresponds to the capacitor cassettes C1 to C6. Two magnets 36 arranged in the identification units X1 to X6 are detected.

図８（Ａ）に示すステップＳ３において、磁石３６を検出するＮ個のセンサＳの異なる組み合わせから識別部Ｘを特定する。例えば、図２（Ｂ）に示す検出部３３が、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６が観察時の光路ＯＰ（所定位置）に配置された際、識別部Ｘ１〜Ｘ６のいずれかにおいて、２個の磁石３６を検出し、判別部３４（図２（Ａ）参照）が検出部３３による検出結果から、識別部Ｘを特定する。例えば、判別部３４は、各センサＳａ〜Ｓｄによる検出結果を、図３に示すような、各識別部Ｘ１〜Ｘ６におけるセンサＳａ〜Ｓｄの検出結果を示すテーブルを参照して、比較することにより、識別部Ｘ１〜Ｘ６のいずれかを特定する。これにより、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６が観察時の光路ＯＰ（所定位置）にあることが判別される。以上のように、本実施形態に係る位置判別方法は、精度よくコンデンサカセットＣや対物レンズ１６等の物体の位置を判別することができる。 In step S3 shown in FIG. 8A, the identification unit X is specified from different combinations of N sensors S that detect the magnet 36. For example, when the detection unit 33 shown in FIG. 2B is arranged in the optical path OP (predetermined position) when the capacitor cassettes C1 to C6 are observed, the two magnets 36 in any of the identification units X1 to X6. Is detected, and the discrimination unit 34 (see FIG. 2A) identifies the identification unit X from the detection result by the detection unit 33. For example, the discriminating unit 34 compares the detection results of the sensors Sa to Sd with reference to a table showing the detection results of the sensors Sa to Sd of the identification units X1 to X6 as shown in FIG. , Any of the identification units X1 to X6 is specified. As a result, it is determined that the capacitor cassettes C1 to C6 are in the optical path OP (predetermined position) at the time of observation. As described above, the position determination method according to the present embodiment can accurately determine the position of an object such as the capacitor cassette C or the objective lens 16.

続いて、本実施形態の顕微鏡装置の制御方法を説明する。本実施形態の顕微鏡装置の制御方法は、図８（Ｂ）に示すステップＳ４において、上記した位置判別方法の判別結果を用いて顕微鏡装置を制御する。位置判別方法の判別結果は、例えば、上記ステップＳ３において特定された識別部Ｘである。本ステップＳ４では、例えば、ステップＳ５において、制御部６は、位置判別方法の判別結果に基づく情報を表示部９（図１参照）に表示させる。例えば、位置判別方法の判別結果は、判別部３４から制御部６に出力される。制御部６は、位置判別方法の判別結果を示す情報を表示部９に出力する。例えば、制御部６は、位置判別方法の判別結果に基づいて、光路ＯＰに配置されたコンデンサカセットＣの種類等の情報を表示部９に表示する。 Subsequently, a control method of the microscope device of the present embodiment will be described. In the control method of the microscope device of the present embodiment, the microscope device is controlled by using the determination result of the above-mentioned position determination method in step S4 shown in FIG. 8 (B). The determination result of the position determination method is, for example, the identification unit X identified in step S3. In this step S4, for example, in step S5, the control unit 6 causes the display unit 9 (see FIG. 1) to display information based on the determination result of the position determination method. For example, the determination result of the position determination method is output from the determination unit 34 to the control unit 6. The control unit 6 outputs information indicating the determination result of the position determination method to the display unit 9. For example, the control unit 6 displays information such as the type of the capacitor cassette C arranged in the optical path OP on the display unit 9 based on the determination result of the position determination method.

また、ステップＳ５において、制御部６は、例えば、位置判別方法の判別結果により特定されたコンデンサカセットＣ（光学部材）に対応する顕微鏡装置ＭＳの操作に関する情報を表示してもよい。例えば、顕微鏡装置ＭＳの操作情報は、記憶部８に予め記憶される。例えば、制御部６は、ユーザの顕微鏡操作を補助する情報を含む観察条件の設定等の操作情報を、表示部９に表示させる。例えば、制御部６は、位置判別方法の判別結果により特定されたコンデンサカセットＣが微分干渉観察用の場合には、「観察方法は微分干渉観察です。落射照明用のシャッタを閉じてください。対物レンズは微分干渉用（ＤＩＣ）を用いてください。」などの、コンデンサカセットＣ（光学部材）に対応した、観察条件の設定に関するユーザの顕微鏡操作を補助する情報を含む操作情報を表示部９に表示させる。なお、顕微鏡装置ＭＳが音声出力装置を備える場合、制御部６は、このような操作情報を音声出力するように制御をしてもよい。 Further, in step S5, the control unit 6 may display information regarding the operation of the microscope device MS corresponding to the capacitor cassette C (optical member) specified by the determination result of the position determination method, for example. For example, the operation information of the microscope device MS is stored in advance in the storage unit 8. For example, the control unit 6 causes the display unit 9 to display operation information such as setting of observation conditions including information for assisting the user's microscope operation. For example, when the capacitor cassette C specified by the discrimination result of the position discrimination method is for differential interference contrast observation, the control unit 6 states, "The observation method is differential interference contrast observation. Close the shutter for epi-illumination. Objective Use a differential interference contrast (DIC) lens for the lens. " Display. When the microscope device MS includes a sound output device, the control unit 6 may control the microscope device MS to output such operation information by sound.

続いて、図８（Ｂ）に示すステップＳ６において、位置判別方法の判別結果を用いて、顕微鏡装置ＭＳの光学部材を制御する。例えば、制御部６は、位置判別方法の判別結果に基づいて、位置判別装置１に保持される光学部材以外の光学部材を制御する。例えば、制御部６は、駆動部２１を駆動することにより、所定の対物レンズ１６（光学部材）を光路ＯＰに配置する。例えば、制御部６は、位置判別方法の判別結果により特定されたコンデンサカセットＣに対応する対物レンズ１６を、駆動部２１によりレボルバ１９を駆動することにより、観察時の光路ＯＰ（光軸）に配置してもよい。なお、ステップＳ５及びステップＳ６のいずれか一方は行わなくてもよい。また、ステップＳ５及びステップＳ６は同時に行ってもよいし、ステップＳ５の前にステップＳ６を開始してもよい。 Subsequently, in step S6 shown in FIG. 8B, the optical member of the microscope device MS is controlled by using the determination result of the position determination method. For example, the control unit 6 controls an optical member other than the optical member held by the position determination device 1 based on the determination result of the position determination method. For example, the control unit 6 arranges a predetermined objective lens 16 (optical member) in the optical path OP by driving the drive unit 21. For example, the control unit 6 sets the objective lens 16 corresponding to the capacitor cassette C specified by the determination result of the position determination method into the optical path OP (optical axis) at the time of observation by driving the revolver 19 by the drive unit 21. It may be arranged. It is not necessary to perform either step S5 or step S6. Further, step S5 and step S6 may be performed at the same time, or step S6 may be started before step S5.

以上のように、本実施形態の位置判別装置１、顕微鏡装置ＭＳ及び位置判別方法は、簡単な構成で、精度よくコンデンサカセットＣ等の物体の位置を判別することができる。また、本実施形態の顕微鏡装置の制御方法は、精度よくコンデンサカセット等の物体の位置を判別する位置判別方法を用いて行うので、顕微鏡装置の制御を精度よく行うことができる。 As described above, the position determination device 1, the microscope device MS, and the position determination method of the present embodiment can accurately determine the position of an object such as the capacitor cassette C with a simple configuration. Further, since the control method of the microscope device of the present embodiment is performed by using the position determination method for accurately determining the position of an object such as a condenser cassette, the microscope device can be controlled with high accuracy.

［第２実施形態］
第２実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。 [Second Embodiment]
The second embodiment will be described. In the present embodiment, the same components as those in the above-described embodiment are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted or simplified.

図９（Ａ）は、第２実施形態に係る位置判別装置を示す図である。図９（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。図１０（Ａ）及び図１０（Ｂ）は、図９（Ａ）と識別部の磁石の数とセンサの数を同じにし、磁石の配置を図９（Ａ）と変えた比較例である。本実施形態の位置判別装置１は、図９（Ａ）に示すように、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２と、識別部Ｘａと、検出部３３ａと、判別部３４（図２参照）と、を備える。装置本体３１、保持部材３２、及び判別部３４は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１及び判別部３４については、図示を省略する。 FIG. 9A is a diagram showing a position determination device according to the second embodiment. FIG. 9B is a diagram showing the relationship between the magnet in each identification unit and the sensor that detects the magnet. 10 (A) and 10 (B) are comparative examples in which the number of magnets and the number of sensors in the identification unit are the same as those in FIG. 9 (A), and the arrangement of the magnets is changed from that in FIG. 9 (A). As shown in FIG. 9A, the position determination device 1 of the present embodiment includes an apparatus main body 31 (see FIG. 2), a holding member 32, an identification unit Xa, a detection unit 33a, and a determination unit 34 (FIG. 2). 2) and. The device main body 31, the holding member 32, and the discriminating unit 34 are the same as those in the first embodiment, and the description thereof will be omitted. Further, the apparatus main body 31 and the discrimination unit 34 are not shown.

位置判別装置１は、複数の識別部Ｘａ（Ｘａ１〜Ｘａ６）を備える。識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応して配置される。各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、例えば、それぞれ、保持部材３２の上面に配置される。各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６の外側に配置される。この場合、各保持部Ｈ１〜Ｈ６を、より密に配置することができる。例えば、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとし、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６の外側に設定される円周ＣＬ１上に沿って配置される。各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６の各磁石３６も円周ＣＬ１上に沿って配置される。各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対して、軸部３５を挟んだ反対側に配置される。例えば、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６の中心と軸部３５の中心Ｏとを通る直線Ｌｃ１〜Ｌｃ６上に配置される。各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対して、軸部３５を挟んだ反対側に配置される場合、光路ＯＰとセンサＳとの間隔を大きくすることができるため、光路ＯＰ近傍のスペースを効率よく使用することができる。なお、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６を配置する位置は任意である。例えば、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６の近傍に配置されてもよい。 The position determination device 1 includes a plurality of identification units Xa (Xa1 to Xa6). The identification units Xa1 to Xa6 are arranged corresponding to the capacitor cassettes C1 to C6, respectively. Each of the identification portions Xa1 to Xa6 is arranged, for example, on the upper surface of the holding member 32. The identification units Xa1 to Xa6 are arranged outside the capacitor cassettes C1 to C6, respectively. In this case, the holding portions H1 to H6 can be arranged more densely. For example, each of the identification units Xa1 to Xa6 is arranged along the circumference CL1 set outside the capacitor cassettes C1 to C6, with the center O of the shaft portion 35 as the center O. The magnets 36 of the identification units Xa1 to Xa6 are also arranged along the circumference CL1. The identification units Xa1 to Xa6 are arranged on opposite sides of the corresponding capacitor cassettes C1 to C6 with the shaft portion 35 interposed therebetween. For example, the identification units Xa1 to Xa6 are arranged on straight lines Lc1 to Lc6 passing through the centers of the corresponding holding units H1 to H6 and the center O of the shaft portion 35, respectively. When the identification units Xa1 to Xa6 are arranged on opposite sides of the shaft portion 35 with respect to the corresponding capacitor cassettes C1 to C6, the distance between the optical path OP and the sensor S can be increased. , The space near the optical path OP can be used efficiently. The positions where the identification units Xa1 to Xa6 are arranged are arbitrary. For example, the identification units Xa1 to Xa6 may be arranged in the vicinity of the corresponding capacitor cassettes C1 to C6, respectively.

検出部３３ａは、５個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｅ）を備える。センサＳａ〜Ｓｅは、例えば、１つの支持部材３８に支持される。センサＳａ〜Ｓｅは、磁石３６と同様に円周ＣＬ１上に沿って配置される。センサＳａ〜Ｓｅは、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｅが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。 The detection unit 33a includes five sensors S (Sa to Se). The sensors Sa to Se are supported by, for example, one support member 38. The sensors Sa to Se are arranged along the circumference CL1 like the magnet 36. The sensors Sa to Se are arranged apart from each other so that, for example, when any of the capacitor cassettes C1 to C6 is arranged in the optical path OP, the sensors Sa to Se do not detect the magnetic field due to the two or more magnets 36. NS.

各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、３個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、図９に示すように、それぞれ、３個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。 Each of the identification portions Xa1 to Xa6 is formed by three magnets 36, respectively. As shown in FIG. 9, each of the identification units Xa1 to Xa6 is formed so that the combination of the sensors S in which the three magnets 36 are detected is different.

ところで、センサＳが５個であり、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６において検出部３３に検出される磁石３６が３個であるので、３個の磁石３６を検出する５個のセンサＳの異なる組み合わせは、５Ｃ３＝２０通りになる。本実施形態の識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、例えば、この組み合わせにおいて、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６における磁石３６の配置が、円周ＣＬ１上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している。 By the way, since there are five sensors S and three magnets 36 are detected by the detection unit 33 in each of the identification units Xa1 to Xa6, different combinations of the five sensors S that detect the three magnets 36 are available. , 5 C 3 = 20 ways. The identification units Xa1 to Xa6 of the present embodiment have, for example, a combination in which the arrangements of the magnets 36 in the identification units Xa1 to Xa6 do not overlap each other when they are moved on the circumference CL1 in this combination. ..

例えば、図１０（Ａ）に示す例では、各識別部Ｂ１〜Ｂ６は、３個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。この例では、コンデンサカセットＣ１が光路ＯＰに配置される場合、識別部Ｂ１の３つの磁石３６ｂ、３６ｃ、３６ｅは、それぞれ、センサＳｂ、Ｓｃ、Ｓｅにより検出される。また、この例では、図１０（Ｂ）に示すように、コンデンサカセットＣ３が光路ＯＰ近傍に配置される場合（観察は可能な状態ではある）、識別部Ｂ３の３つの磁石３６ａ、３６ｂ、３６ｄが、それぞれ、センサＳｂ、Ｓｃ、Ｓｅにより検出される。これは、図９（Ａ）と同じセンサＳｂ、Ｓｃ、Ｓｅで、図９（Ａ）とは異なる磁石３６を検出してしまっている状態である。コンデンサカセットＣ３が観察時の光路ＯＰに正確に配置された状態であれば識別部Ｂ３の３つの磁石３６ａ、３６ｂ、３６ｄは、センサＳａ、Ｓｂ、Ｓｄで検出されるはずである。このように、この例では、図１０（Ａ）及び図１０（Ｂ）に示す状態を区別することができないため、識別部を誤判別するおそれがある。この誤判別は、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６における磁石３６の配置が、円周ＣＬ１上を移動させた際に、互いに重複するときに生じるおそれがある。本実施形態のように、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６における磁石３６の配置が、円周ＣＬ１上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している場合、この誤判別を確実に回避することができる。 For example, in the example shown in FIG. 10A, the identification units B1 to B6 are formed so that the combination of the sensors S in which the three magnets 36 are detected is different. In this example, when the capacitor cassette C1 is arranged in the optical path OP, the three magnets 36b, 36c, and 36e of the identification unit B1 are detected by the sensors Sb, Sc, and Se, respectively. Further, in this example, as shown in FIG. 10B, when the capacitor cassette C3 is arranged near the optical path OP (observation is possible), the three magnets 36a, 36b, 36d of the identification unit B3 Are detected by the sensors Sb, Sc, and Se, respectively. This is a state in which the same sensors Sb, Sc, and Se as in FIG. 9 (A) have detected a magnet 36 different from that in FIG. 9 (A). If the capacitor cassette C3 is accurately arranged in the optical path OP at the time of observation, the three magnets 36a, 36b, 36d of the identification unit B3 should be detected by the sensors Sa, Sb, Sd. As described above, in this example, since the states shown in FIGS. 10 (A) and 10 (B) cannot be distinguished, there is a possibility that the identification unit may be erroneously determined. This erroneous determination may occur when the arrangements of the magnets 36 in the identification units Xa1 to Xa6 overlap each other when they are moved on the circumference CL1. As in the present embodiment, when the arrangement of the magnets 36 in the identification units Xa1 to Xa6 has a combination that does not overlap with each other when moved on the circumference CL1, this erroneous determination is surely avoided. be able to.

［第３実施形態］
第３実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。 [Third Embodiment]
A third embodiment will be described. In the present embodiment, the same components as those in the above-described embodiment are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted or simplified.

図１１（Ａ）は、第３実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、図１１（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２と、識別部Ｘｂと、検出部３３ｂと、判別部３４と、を備える。装置本体３１、保持部材３２、及び判別部３４は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１及び判別部３４については、図示を省略する。 FIG. 11A is a diagram showing a position determination device according to a third embodiment, and FIG. 11B is a diagram showing a relationship between a magnet in each identification unit and a sensor for detecting the magnet. The position determination device 1 of the present embodiment includes an apparatus main body 31 (see FIG. 2), a holding member 32, an identification unit Xb, a detection unit 33b, and a determination unit 34. The device main body 31, the holding member 32, and the discriminating unit 34 are the same as those in the first embodiment, and the description thereof will be omitted. Further, the apparatus main body 31 and the discrimination unit 34 are not shown.

位置判別装置１は、複数の識別部Ｘｂ（Ｘｂ１〜Ｘｂ６）を備える。識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応して配置される。各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、例えば、それぞれ、保持部材３２の上面に配置される。各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６の磁石３６は、軸部３５を中心とする径の異なる複数の同心円周ＣＬ２、ＣＬ３上のいずれかに配置される。例えば、各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６の磁石３６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３上のいずれかに沿って配置される。各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６の磁石３６は、軸部３５を中心とする複数の同心円周ＣＬ２、ＣＬ３上のいずれかに配置される場合、軸部３５を中心とする１つの円周上に配置される場合に対して、磁石の配置のバリエーションが増え、識別部Ｘの誤判定を効率よく抑制することができる。なお、各磁石３６は、軸部３５を中心とする３つ以上の同心円周上のいずれかに配置されてもよい。各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対して、軸部３５を挟んだ反対側に配置される。例えば、各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６の中心と軸部３５の中心Ｏとを通る直線Ｌｃ１〜Ｌｃ６上に、各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６の中央部分が位置するように、配置される。なお、各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６を配置する位置は任意である。例えば、各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６の近傍に配置されてもよい。 The position determination device 1 includes a plurality of identification units Xb (Xb1 to Xb6). The identification units Xb1 to Xb6 are arranged corresponding to the capacitor cassettes C1 to C6, respectively. Each of the identification units Xb1 to Xb6 is arranged, for example, on the upper surface of the holding member 32. The magnets 36 of the identification portions Xb1 to Xb6 are arranged on any of a plurality of concentric circumferences CL2 and CL3 having different diameters centered on the shaft portion 35. For example, the magnets 36 of the identification units Xb1 to Xb6 are arranged along either the circumference CL2 as the center O of the shaft portion 35 or the circumference CL3 as the center O of the shaft portion 35, respectively. When the magnets 36 of the identification portions Xb1 to Xb6 are arranged on any of a plurality of concentric circumferences CL2 and CL3 centered on the shaft portion 35, they are arranged on one circumference centered on the shaft portion 35. In this case, the variation of the arrangement of the magnets increases, and the erroneous determination of the identification unit X can be efficiently suppressed. The magnets 36 may be arranged on any of three or more concentric circumferences centered on the shaft portion 35. The identification units Xb1 to Xb6 are arranged on opposite sides of the corresponding capacitor cassettes C1 to C6 with the shaft portion 35 interposed therebetween. For example, in each of the identification portions Xb1 to Xb6, the central portion of each identification portion Xb1 to Xb6 is located on a straight line Lc1 to Lc6 passing through the center of the corresponding holding portions H1 to H6 and the center O of the shaft portion 35, respectively. Is arranged so that. The positions where the identification units Xb1 to Xb6 are arranged are arbitrary. For example, the identification units Xb1 to Xb6 may be arranged in the vicinity of the corresponding capacitor cassettes C1 to C6, respectively.

検出部３３ｂは、４個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｄ）を備える。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、１つの支持部材３８に支持される。センサＳａ〜Ｓｄは、磁石３６と同様に、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３上のいずれかに沿って配置される。例えば、センサＳａ、センサＳｃ及びセンサＳｄは、円周ＣＬ２上に沿って配置され、センサＳｂは円周ＣＬ３上に沿って配置される。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｄが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。 The detection unit 33b includes four sensors S (Sa to Sd). The sensors Sa to Sd are supported by, for example, one support member 38. Similar to the magnet 36, the sensors Sa to Sd are arranged along either the circumference CL2 which is the center O of the shaft portion 35 or the circumference CL3 which is the center O of the shaft portion 35. For example, the sensor Sa, the sensor Sc, and the sensor Sd are arranged along the circumference CL2, and the sensor Sb is arranged along the circumference CL3. The sensors Sa to Sd are arranged apart from each other so that, for example, when any of the capacitor cassettes C1 to C6 is arranged in the optical path OP, the sensors Sa to Sd do not detect the magnetic field due to the two or more magnets 36. NS.

図１１（Ｂ）に示すように、各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、図１１（Ｂ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。なお、本実施形態の各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、中心Ｏに対して外周側の円周ＣＬ２上に配置される磁石３６を少なくとも１つ含む。外周側の円周ＣＬ２上の磁石３６は、軸部３５の中心Ｏからの距離が遠いセンサＳの方が、保持部材３２の回転移動による磁石３６の回転移動に対して感度よく反応可能であるため、センサＳに精度よく検出される。これにより、各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、精度よく検出される。 As shown in FIG. 11B, each of the identification portions Xb1 to Xb6 is formed by two magnets 36, respectively. As shown in FIG. 11B, the identification units Xb1 to Xb6 are formed so that the combination of the sensors S in which the two magnets 36 are detected is different. Each of the identification units Xb1 to Xb6 of the present embodiment includes at least one magnet 36 arranged on the circumference CL2 on the outer peripheral side with respect to the center O. The magnet 36 on the circumference CL2 on the outer peripheral side can react more sensitively to the rotational movement of the magnet 36 due to the rotational movement of the holding member 32 by the sensor S, which is farther from the center O of the shaft portion 35. Therefore, it is detected accurately by the sensor S. As a result, each identification unit Xb1 to Xb6 is detected with high accuracy.

［第４実施形態］
第４実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。 [Fourth Embodiment]
A fourth embodiment will be described. In the present embodiment, the same components as those in the above-described embodiment are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted or simplified.

図１２（Ａ）は、第４実施形態に係る位置判別装置を示す図である。図１２（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、図１２（Ａ）に示すように、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２と、識別部Ｘｃと、検出部３３ｃと、判別部３４ｃと、を備える。装置本体３１、及び保持部材３２は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１については、図示を省略する。 FIG. 12A is a diagram showing a position determination device according to the fourth embodiment. FIG. 12B is a diagram showing the relationship between the magnet in each identification unit and the sensor that detects the magnet. As shown in FIG. 12A, the position determination device 1 of the present embodiment includes an apparatus main body 31 (see FIG. 2), a holding member 32, an identification unit Xc, a detection unit 33c, and a determination unit 34c. To be equipped. The device main body 31 and the holding member 32 are the same as those in the first embodiment, respectively, and the description thereof will be omitted. Further, the apparatus main body 31 is not shown.

位置判別装置１は、複数の識別部Ｘｃ（Ｘｃ１〜Ｘｃ６）を備える。識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、複数の磁石３６により形成される。識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、磁石３６の極性の配置が互いに異なる。各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、磁石３６の極性の配置の違いが検出されることにより、個別に識別される。例えば、各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６において、各磁石３６は、その上方がＮ極またはＳ極になるように配置される。 The position determination device 1 includes a plurality of identification units Xc (Xc1 to Xc6). The identification units Xc1 to Xc6 are each formed by a plurality of magnets 36. The identification units Xc1 to Xc6 have different polar arrangements of the magnets 36, respectively. Each of the identification units Xc1 to Xc6 is individually identified by detecting a difference in the polar arrangement of the magnets 36. For example, in each of the identification units Xc1 to Xc6, each magnet 36 is arranged so that the upper side thereof is the north pole or the south pole.

各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応して配置される。各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、保持部材３２の上面に配置される。各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、第２実施形態と同様に、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６の外側に設定される円周ＣＬ１上に沿って配置される。各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６の各磁石３６も円周ＣＬ１上に沿って配置される。各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、第２実施形態と同様に、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６の中心と軸部３５の中心Ｏとを通る直線Ｌｃ１〜Ｌｃ６上に、各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６の中央部分が位置するように、配置される。 The identification units Xc1 to Xc6 are arranged corresponding to the capacitor cassettes C1 to C6, respectively. Each of the identification portions Xc1 to Xc6 is arranged on the upper surface of the holding member 32. The identification units Xc1 to Xc6 are arranged along the circumference CL1 set outside the capacitor cassettes C1 to C6, respectively, as in the second embodiment. The magnets 36 of the identification units Xc1 to Xc6 are also arranged along the circumference CL1. As in the second embodiment, the identification units Xc1 to Xc6 are placed on the straight lines Lc1 to Lc6 passing through the centers of the corresponding holding units H1 to H6 and the center O of the shaft portion 35, respectively. It is arranged so that the central part of is located.

検出部３３ｃは、３個のセンサＳ（Ｓａ１〜Ｓｃ１）を備える。センサＳａ１〜Ｓｃ１は、磁石３６の極性を判別可能である。センサＳａ１〜Ｓｃ１は、例えば、１つの支持部材３８に支持される。センサＳａ１〜Ｓｃ１は、磁石３６と同様に円周ＣＬ１上に沿って配置される。センサＳａ１〜Ｓｃ１は、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ１〜Ｓｃ１ｃが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。 The detection unit 33c includes three sensors S (Sa1 to Sc1). The sensors Sa1 to Sc1 can determine the polarity of the magnet 36. The sensors Sa1 to Sc1 are supported by, for example, one support member 38. The sensors Sa1 to Sc1 are arranged along the circumference CL1 like the magnet 36. The sensors Sa1 to Sc1 are arranged apart from each other so that, for example, when any of the capacitor cassettes C1 to C6 is arranged in the optical path OP, the sensors Sa1 to Sc1c do not detect the magnetic field due to the two or more magnets 36. NS.

各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、図１２（Ｂ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６の磁極が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。また、識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、例えば、図１２（Ａ）に示すように、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６における磁石３６の配置が、円周ＣＬ１上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している。 Each of the identification portions Xc1 to Xc6 is formed by two magnets 36, respectively. As shown in FIG. 12B, the identification units Xc1 to Xc6 are formed so that the combination of the sensors S for detecting the magnetic poles of the two magnets 36 is different. Further, as shown in FIG. 12A, for example, the identification units Xc1 to Xc6 have a combination in which the arrangement of the magnets 36 in the identification units Xd1 to Xd6 does not overlap each other when they are moved on the circumference CL1. Have.

判別部３４ｃは、センサにより検出した極性から識別部Ｘｃを特定する。判別部３４ｃは、第１実施形態と同様に、各センサＳａ１〜Ｓｃ１による検出結果を、図１２（Ｂ）に示す各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６におけるセンサＳａ１〜Ｓｃ１の検出結果を示すテーブルと比較することにより、識別部Ｘｃを特定し、特定した識別部Ｘｃに対応するコンデンサカセットＣが光路ＯＰにあることを判別する。 The discrimination unit 34c identifies the identification unit Xc from the polarity detected by the sensor. Similar to the first embodiment, the discrimination unit 34c compares the detection results of the sensors Sa1 to Sc1 with the table showing the detection results of the sensors Sa1 to Sc1 in the identification units Xc1 to Xc6 shown in FIG. 12 (B). Thereby, the identification unit Xc is specified, and it is determined that the capacitor cassette C corresponding to the specified identification unit Xc is in the optical path OP.

以上のように、本実施形態の位置判別装置１は、各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６が、それぞれ、２個の磁石３６の磁極（極性）が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成されるので、識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６の判別に必要なセンサＳの個数を減らすことができる。 As described above, in the position determination device 1 of the present embodiment, the identification units Xc1 to Xc6 are formed so that the combination of the sensors S for detecting the magnetic poles (polarity) of the two magnets 36 is different. Therefore, the number of sensors S required for discriminating the identification units Xc1 to Xc6 can be reduced.

［第５実施形態］
第５実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。 [Fifth Embodiment]
A fifth embodiment will be described. In the present embodiment, the same components as those in the above-described embodiment are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted or simplified.

図１３（Ａ）は、第５実施形態に係る位置判別装置を示す図である。図１３（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、図１３（Ａ）に示すように、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２と、識別部Ｘｄと、検出部３３ｄと、判別部３４と、を備える。装置本体３１、保持部材３２、及び判別部３４は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１については、図示を省略する。 FIG. 13A is a diagram showing a position determination device according to the fifth embodiment. FIG. 13B is a diagram showing the relationship between the magnet in each identification unit and the sensor that detects the magnet. As shown in FIG. 13A, the position determination device 1 of the present embodiment includes an apparatus main body 31 (see FIG. 2), a holding member 32, an identification unit Xd, a detection unit 33d, and a determination unit 34. To be equipped with. The device main body 31, the holding member 32, and the discriminating unit 34 are the same as those in the first embodiment, and the description thereof will be omitted. Further, the apparatus main body 31 is not shown.

位置判別装置１は、複数の識別部Ｘｄ（Ｘｄ１〜Ｘｄ６）を備える。識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、第１実施形態と同様に、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応して配置される。各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、第１実施形態と同様に、例えば、それぞれ、保持部材３２の上面に配置される。 The position determination device 1 includes a plurality of identification units Xd (Xd1 to Xd6). The identification units Xd1 to Xd6 are arranged corresponding to the capacitor cassettes C1 to C6, respectively, as in the first embodiment. Each of the identification units Xd1 to Xd6 is arranged on the upper surface of the holding member 32, for example, as in the first embodiment.

識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、それぞれ、識別部の一部が、他の識別部の一部として共用される。識別部Ｘｄの一部が、他の識別部Ｘｄの一部として共用される場合、識別部Ｘｄの部分の大きさを小さくすることができる。各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６の磁石３６は、軸部３５を中心とする複数の同心円周上のいずれかに配置される。例えば、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６の磁石３６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２（図１１（Ａ）参照）上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３（図１１（Ａ）参照）上のいずれかに沿って配置される。各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対して、軸部３５を挟んだ反対側に配置される。例えば、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６の中心と軸部３５の中心Ｏとを通る直線Ｌｃ１〜Ｌｃ６（図９（Ａ）参照）上に、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６の中央部分が位置するように、配置される。なお、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６を配置する位置は任意である。例えば、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６の近傍に配置されてもよい。 In each of the identification units Xd1 to Xd6, a part of the identification unit is shared as a part of the other identification unit. When a part of the identification unit Xd is shared as a part of another identification unit Xd, the size of the portion of the identification unit Xd can be reduced. The magnets 36 of the identification portions Xd1 to Xd6 are arranged on any of a plurality of concentric circumferences centered on the shaft portion 35. For example, the magnets 36 of the identification units Xd1 to Xd6 are on the circumference CL2 (see FIG. 11 (A)) having the center O of the shaft portion 35 and the circumference CL3 (see FIG. 11) having the center O of the shaft portion 35, respectively. (See (A)) Arranged along any of the above. The identification units Xd1 to Xd6 are arranged on opposite sides of the corresponding capacitor cassettes C1 to C6 with the shaft portion 35 interposed therebetween. For example, each identification unit Xd1 to Xd6 is placed on a straight line Lc1 to Lc6 (see FIG. 9A) passing through the center of the corresponding holding units H1 to H6 and the center O of the shaft unit 35, respectively. It is arranged so that the central portion of ~ Xd6 is located. The positions where the identification units Xd1 to Xd6 are arranged are arbitrary. For example, the identification units Xd1 to Xd6 may be arranged in the vicinity of the corresponding capacitor cassettes C1 to C6, respectively.

検出部３３ｄは、６個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｆ）を備える。センサＳａ〜Ｓｆは、例えば、１つの支持部材３８に支持される。センサＳａ〜Ｓｆは、磁石３６と同様に、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３上のいずれかに沿って配置される。例えば、センサＳａ、センサＳｃ、センサＳｄ及びセンサＳｆは、円周ＣＬ２上に沿って配置され、センサＳｂ及びセンサＳｅは、円周ＣＬ２上に沿って配置される。センサＳａ〜Ｓｆは、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｆが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。 The detection unit 33d includes six sensors S (Sa to Sf). The sensors Sa to Sf are supported by, for example, one support member 38. Similar to the magnet 36, the sensors Sa to Sf are arranged along either the circumference CL2 as the center O of the shaft portion 35 or the circumference CL3 as the center O of the shaft portion 35. For example, the sensor Sa, the sensor Sc, the sensor Sd, and the sensor Sf are arranged along the circumference CL2, and the sensor Sb and the sensor Se are arranged along the circumference CL2. The sensors Sa to Sf are arranged apart from each other so that, for example, when any of the capacitor cassettes C1 to C6 is arranged in the optical path OP, the sensors Sa to Sf do not detect the magnetic field due to the two or more magnets 36. NS.

各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、図１３（Ｂ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、例えば、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６における磁石３６の配置が、円周ＣＬ２、ＣＬ３上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している。また、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、中心Ｏに対して外周側の円周ＣＬ２上に配置される磁石３６を少なくとも１つ含む。また、図１３（Ａ）の構成では、磁石３６が光学部材であるコンデンサカセットＣの隙間（コンデンサカセットＣとコンデンサカセットＣとの間）に配置されている。言い換えると、磁石３６が配置されている同心円ＣＬ２、ＣＬ３が光学部材の上を通る位置になっている。従って、例えば図９〜図１２の構成に比較して、保持部材３２の外周近傍にまで光学部材の取り付け領域を設定することが可能となる。これにより保持部材３２の径をより小さくすることが可能となる。この場合、１つの同心円上に磁石３６を配置すると磁石３６と磁石３６との間の間隔が小さくなってしまうことも考えられるが、図１３（Ａ）のように２つの同心円ＣＬ２、ＣＬ３上に配分して磁石３６を配置することで、磁石３６と磁石３６との間の間隔を広げることが可能になる。磁石３６と磁石３６との間の間隔が広い場合、１つのセンサＳが２つの磁石３６からの磁界を検出することを抑制することができるため、センサＳによる磁石３６の検出を精度よく行うことができる。 Each of the identification portions Xd1 to Xd6 is formed by two magnets 36, respectively. As shown in FIG. 13B, the identification units Xd1 to Xd6 are formed so that the combination of the sensors S in which the two magnets 36 are detected is different. The identification units Xd1 to Xd6 have a combination in which, for example, the arrangement of the magnets 36 in the identification units Xd1 to Xd6 does not overlap each other when they are moved on the circumferences CL2 and CL3. Further, each of the identification units Xd1 to Xd6 includes at least one magnet 36 arranged on the circumference CL2 on the outer peripheral side with respect to the center O. Further, in the configuration of FIG. 13A, the magnet 36 is arranged in the gap (between the capacitor cassette C and the capacitor cassette C) of the capacitor cassette C which is an optical member. In other words, the concentric circles CL2 and CL3 on which the magnet 36 is arranged pass over the optical member. Therefore, for example, as compared with the configurations of FIGS. 9 to 12, it is possible to set the mounting area of the optical member up to the vicinity of the outer periphery of the holding member 32. This makes it possible to reduce the diameter of the holding member 32. In this case, if the magnets 36 are arranged on one concentric circle, the distance between the magnets 36 and the magnets 36 may be reduced, but as shown in FIG. 13 (A), the magnets 36 are placed on the two concentric circles CL2 and CL3. By arranging the magnets 36 in a distributed manner, it is possible to widen the distance between the magnets 36 and the magnets 36. When the distance between the magnets 36 and the magnets 36 is wide, it is possible to suppress the detection of the magnetic field from the two magnets 36 by one sensor S, so that the magnets 36 can be detected accurately by the sensors S. Can be done.

［第６実施形態］
第６実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。 [Sixth Embodiment]
The sixth embodiment will be described. In the present embodiment, the same components as those in the above-described embodiment are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted or simplified.

図１４（Ａ）は、第６実施形態に係る位置判別装置１を示す図である。図１４（Ｂ）は、各識別部Ｘにおける磁石３６と、磁石３６を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、図１４（Ａ）に示すように、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２と、識別部Ｘｅと、検出部３３ｅと、判別部３４と、を備える。装置本体３１、保持部材３２、及び判別部３４は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１については、図示を省略する。 FIG. 14A is a diagram showing the position determination device 1 according to the sixth embodiment. FIG. 14B is a diagram showing the relationship between the magnet 36 in each identification unit X and the sensor that detects the magnet 36. As shown in FIG. 14A, the position determination device 1 of the present embodiment includes an apparatus main body 31 (see FIG. 2), a holding member 32, an identification unit Xe, a detection unit 33e, and a determination unit 34. To be equipped with. The device main body 31, the holding member 32, and the discriminating unit 34 are the same as those in the first embodiment, and the description thereof will be omitted. Further, the apparatus main body 31 is not shown.

位置判別装置１は、複数の識別部Ｘｅ（Ｘｅ１〜Ｘｅ６）を備える。識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、第５実施形態と同様に、それぞれ、識別部Ｘｅの一部が、他の識別部Ｘｅの一部として共用される。 The position determination device 1 includes a plurality of identification units Xe (Xe1 to Xe6). Similar to the fifth embodiment, the identification units Xe1 to Xe6 share a part of the identification unit Xe as a part of the other identification units Xe.

各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６の磁石３６は、軸部３５を中心とする複数の同心円周上のいずれかに配置される。例えば、各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６の磁石３６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２（図１１（Ａ）参照）上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３（図１１（Ａ）参照）上のいずれかに沿って配置される。各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対して、軸部３５を挟んだ反対側に配置される。例えば、各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６の中心と軸部３５の中心Ｏとを通る直線Ｌｃ１〜Ｌｃ６（図９（Ａ）参照）上に、各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６の中央部分が位置するように、配置される。なお、各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６を配置する位置は任意である。例えば、各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６の近傍に配置されてもよい。 The magnets 36 of the identification portions Xe1 to Xe6 are arranged on any of a plurality of concentric circumferences centered on the shaft portion 35. For example, the magnets 36 of the identification units Xe1 to Xe6 are on the circumference CL2 (see FIG. 11 (A)) having the center O of the shaft portion 35 and the circumference CL3 (see FIG. 11) having the center O of the shaft portion 35, respectively. (See (A)) Arranged along any of the above. Each of the identification units Xe1 to Xe6 is arranged on the opposite side of the corresponding capacitor cassettes C1 to C6 with the shaft portion 35 interposed therebetween. For example, each identification unit Xe1 to Xe6 is placed on a straight line Lc1 to Lc6 (see FIG. 9A) passing through the center of the corresponding holding units H1 to H6 and the center O of the shaft unit 35, respectively. It is arranged so that the central portion of ~ Xe6 is located. The positions where the identification units Xe1 to Xe6 are arranged are arbitrary. For example, the identification units Xe1 to Xe6 may be arranged in the vicinity of the corresponding capacitor cassettes C1 to C6, respectively.

検出部３３ｅは、４個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｄ）を備える。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、１つの支持部材３８に支持される。センサＳａ〜Ｓｄは、磁石３６と同様に、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３上のいずれかに沿って配置される。例えば、センサＳａ及びセンサＳｄは、円周ＣＬ２上に沿って配置され、センサＳｂ及びセンサＳｃは、円周ＣＬ３上に沿って配置される。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｄが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。 The detection unit 33e includes four sensors S (Sa to Sd). The sensors Sa to Sd are supported by, for example, one support member 38. Similar to the magnet 36, the sensors Sa to Sd are arranged along either the circumference CL2 which is the center O of the shaft portion 35 or the circumference CL3 which is the center O of the shaft portion 35. For example, the sensor Sa and the sensor Sd are arranged along the circumference CL2, and the sensor Sb and the sensor Sc are arranged along the circumference CL3. The sensors Sa to Sd are arranged apart from each other so that, for example, when any of the capacitor cassettes C1 to C6 is arranged in the optical path OP, the sensors Sa to Sd do not detect the magnetic field due to the two or more magnets 36. NS.

各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、図１４（Ｂ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、例えば、各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６における磁石３６の配置を円周ＣＬ２、円周ＣＬ３上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している。また、識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、中心Ｏに対して外周側の円周ＣＬ２上に配置される磁石３６を少なくとも１つ含む。また、図１４（Ａ）の構成では、図１３（Ａ）と同様に、磁石３６が光学部材であるコンデンサカセットＣの隙間（コンデンサカセットＣとコンデンサカセットＣとの間）に配置されているので、保持部材３２を小型化できるメリットがある。 Each of the identification portions Xe1 to Xe6 is formed by two magnets 36, respectively. As shown in FIG. 14B, the identification units Xe1 to Xe6 are formed so that the combination of the sensors S in which the two magnets 36 are detected is different. The identification units Xe1 to Xe6 have a combination that does not overlap with each other when, for example, the arrangement of the magnets 36 in the identification units Xe1 to Xe6 is moved on the circumference CL2 and the circumference CL3. Further, the identification units Xe1 to Xe6 include at least one magnet 36 arranged on the circumference CL2 on the outer peripheral side with respect to the center O. Further, in the configuration of FIG. 14 (A), as in FIG. 13 (A), the magnet 36 is arranged in the gap (between the capacitor cassette C and the capacitor cassette C) of the capacitor cassette C which is an optical member. , There is a merit that the holding member 32 can be miniaturized.

［第７実施形態］
第７実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。 [7th Embodiment]
A seventh embodiment will be described. In the present embodiment, the same components as those in the above-described embodiment are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted or simplified.

図１５（Ａ）は、第７実施形態に係る位置判別装置を示す図である。図１５（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、図１５（Ａ）に示すように、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２と、識別部Ｘｆと、検出部３３ｆと、判別部３４と、を備える。装置本体３１、保持部材３２、及び判別部３４は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１については、図示を省略する。 FIG. 15A is a diagram showing a position determination device according to the seventh embodiment. FIG. 15B is a diagram showing the relationship between the magnet in each identification unit and the sensor that detects the magnet. As shown in FIG. 15A, the position determination device 1 of the present embodiment includes an apparatus main body 31 (see FIG. 2), a holding member 32, an identification unit Xf, a detection unit 33f, and a determination unit 34. To be equipped with. The device main body 31, the holding member 32, and the discriminating unit 34 are the same as those in the first embodiment, and the description thereof will be omitted. Further, the apparatus main body 31 is not shown.

位置判別装置１は、複数の識別部Ｘｆ（Ｘｆ１〜Ｘｆ６）を備える。各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、それぞれ、保持部Ｈ１〜Ｈ６のうちいずれか２つを跨いで形成される。各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、それぞれ、互いに離間した２つ以上の領域に形成される。位置識別部Ｘｆが互いに離間した２つ以上の領域に形成される場合、保持部材３２のスペースを有効に、識別部に使用することができる。識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、第５実施形態と同様に、それぞれ、識別部Ｘｆの一部が、他の識別部Ｘｆの一部として共用される。 The position determination device 1 includes a plurality of identification units Xf (Xf1 to Xf6). Each of the identification portions Xf1 to Xf6 is formed so as to straddle any two of the holding portions H1 to H6. Each of the identification units Xf1 to Xf6 is formed in two or more regions separated from each other. When the position identification unit Xf is formed in two or more regions separated from each other, the space of the holding member 32 can be effectively used for the identification unit. Similar to the fifth embodiment, the identification units Xf1 to Xf6 share a part of the identification unit Xf as a part of the other identification units Xf.

各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６の磁石３６は、軸部３５を中心とする複数の同心円周上のいずれかに配置される。例えば、各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６の磁石３６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２（図１１（Ａ）参照）上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３（図１１（Ａ）参照）上のいずれかに沿って配置される。各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対して、軸部３５を挟んだ反対側に配置される。各磁石３６は、例えば、保持部Ｈどうしの間に配置される。 The magnets 36 of the identification portions Xf1 to Xf6 are arranged on any of a plurality of concentric circumferences centered on the shaft portion 35. For example, the magnets 36 of the identification units Xf1 to Xf6 are on the circumference CL2 (see FIG. 11 (A)) having the center O of the shaft portion 35 and the circumference CL3 (see FIG. 11) having the center O of the shaft portion 35, respectively. (See (A)) Arranged along any of the above. The identification units Xf1 to Xf6 are arranged on opposite sides of the corresponding capacitor cassettes C1 to C6 with the shaft portion 35 interposed therebetween. Each magnet 36 is arranged, for example, between the holding portions H.

検出部３３ａは、４個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｄ）を備える。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、１つの支持部材３８に支持される。センサＳａ〜Ｓｄは、磁石３６と同様に、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３上のいずれかに沿って配置される。例えば、センサＳａ及びセンサＳｄは、円周ＣＬ２上に沿って配置され、センサＳｂ及びセンサＳｃは、円周ＣＬ３上に沿って配置される。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｄが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。 The detection unit 33a includes four sensors S (Sa to Sd). The sensors Sa to Sd are supported by, for example, one support member 38. Similar to the magnet 36, the sensors Sa to Sd are arranged along either the circumference CL2 which is the center O of the shaft portion 35 or the circumference CL3 which is the center O of the shaft portion 35. For example, the sensor Sa and the sensor Sd are arranged along the circumference CL2, and the sensor Sb and the sensor Sc are arranged along the circumference CL3. The sensors Sa to Sd are arranged apart from each other so that, for example, when any of the capacitor cassettes C1 to C6 is arranged in the optical path OP, the sensors Sa to Sd do not detect the magnetic field due to the two or more magnets 36. NS.

各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、図１５（Ｂ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。また、各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、中心Ｏに対して外周側の円周ＣＬ２上に配置される磁石３６を少なくとも１つ含む。また、識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、例えば、各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６における磁石３６の配置が、円周ＣＬ２、ＣＬ３上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している。また、図１５（Ａ）の構成では、図１３（Ａ）と同様に、磁石３６が光学部材であるコンデンサカセットＣの隙間（コンデンサカセットＣとコンデンサカセットＣとの間）に配置されているので、保持部材３２を小型化できるメリットがある。 Each of the identification portions Xf1 to Xf6 is formed by two magnets 36, respectively. As shown in FIG. 15B, the identification units Xf1 to Xf6 are formed so that the combination of the sensors S in which the two magnets 36 are detected is different. Further, each of the identification units Xf1 to Xf6 includes at least one magnet 36 arranged on the circumference CL2 on the outer peripheral side with respect to the center O. Further, the identification units Xf1 to Xf6 have a combination in which, for example, the arrangement of the magnets 36 in the identification units Xf1 to Xf6 does not overlap each other when they are moved on the circumferences CL2 and CL3. Further, in the configuration of FIG. 15 (A), as in FIG. 13 (A), the magnet 36 is arranged in the gap (between the capacitor cassette C and the capacitor cassette C) of the capacitor cassette C which is an optical member. , There is a merit that the holding member 32 can be miniaturized.

［第８実施形態］
第８実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。 [8th Embodiment]
An eighth embodiment will be described. In the present embodiment, the same components as those in the above-described embodiment are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted or simplified.

図１６（Ａ）は、第８実施形態に係る位置判別装置を示す図である。図１６（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、図１６（Ａ）に示すように、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２と、識別部Ｘｇと、検出部３３ｇと、判別部３４と、を備える。装置本体３１、保持部材３２、及び判別部３４は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１及び判別部３４については、図示を省略する。 FIG. 16A is a diagram showing a position determination device according to the eighth embodiment. FIG. 16B is a diagram showing the relationship between the magnet in each identification unit and the sensor that detects the magnet. As shown in FIG. 16A, the position determination device 1 of the present embodiment includes an apparatus main body 31 (see FIG. 2), a holding member 32, an identification unit Xg, a detection unit 33g, and a determination unit 34. To be equipped with. The device main body 31, the holding member 32, and the discriminating unit 34 are the same as those in the first embodiment, and the description thereof will be omitted. Further, the apparatus main body 31 and the discrimination unit 34 are not shown.

位置判別装置１は、複数の識別部Ｘｇ（Ｘｇ１〜Ｘｇ６）を備える。各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６は、それぞれ、保持部Ｈ１〜Ｈ６のうちいずれか１つを跨いで形成される。各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６は、それぞれ、互いに離間した２つ以上の領域に形成される。識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６は、それぞれ、識別部Ｘｇの一部が、他の識別部Ｘｇの一部として共用される。 The position determination device 1 includes a plurality of identification units Xg (Xg1 to Xg6). Each of the identification portions Xg1 to Xg6 is formed so as to straddle any one of the holding portions H1 to H6. Each of the identification portions Xg1 to Xg6 is formed in two or more regions separated from each other. In each of the identification units Xg1 to Xg6, a part of the identification unit Xg is shared as a part of the other identification unit Xg.

各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６の磁石３６は、軸部３５を中心とする複数の同心円周上のいずれかに配置される。例えば、各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６の磁石３６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２（図１１（Ａ）参照）上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３（図１１（Ａ）参照）上のいずれかに沿って配置される。また、本実施形態では、保持部Ｈと保持部Ｈとの間に磁石３６が配置されているが、保持部Ｈと保持部Ｈとの間に配置される磁石３６の数は異なっている。 The magnets 36 of the identification portions Xg1 to Xg6 are arranged on any of a plurality of concentric circumferences centered on the shaft portion 35. For example, the magnets 36 of the identification portions Xg1 to Xg6 are on the circumference CL2 (see FIG. 11 (A)) having the center O of the shaft portion 35 and the circumference CL3 having the center O of the shaft portion 35, respectively (FIG. 11). (See (A)) Arranged along any of the above. Further, in the present embodiment, the magnets 36 are arranged between the holding portion H and the holding portion H, but the number of magnets 36 arranged between the holding portion H and the holding portion H is different.

検出部３３ｇは、４個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｄ）を備える。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、２つの支持部材３８（３８ａ、３８ｂ）により分割されて支持される。本実施形態の場合、センサＳａとセンサＳｂとの距離と、センサＳｃとセンサＳｄとの距離が等しく設定されている。この場合、センサＳａとセンサＳｂとを備える支持部材３８ａと、センサＳｃとセンサＳｄとを備える支持部材３８ｂとを共通に用いることができる。センサＳを備える支持部材３８は、例えば、センサ基板である。なお、センサＳａ〜Ｓｄは、３つ以上の支持部材３８に分割されて支持されてもよい。また、センサＳａとセンサＳｂとの距離と、センサＳｃとセンサＳｄとの距離は、異なってもよい。 The detection unit 33g includes four sensors S (Sa to Sd). The sensors Sa to Sd are divided and supported by, for example, two support members 38 (38a, 38b). In the case of this embodiment, the distance between the sensor Sa and the sensor Sb and the distance between the sensor Sc and the sensor Sd are set to be equal. In this case, the support member 38a including the sensor Sa and the sensor Sb and the support member 38b including the sensor Sc and the sensor Sd can be commonly used. The support member 38 including the sensor S is, for example, a sensor substrate. The sensors Sa to Sd may be divided into three or more support members 38 and supported. Further, the distance between the sensor Sa and the sensor Sb and the distance between the sensor Sc and the sensor Sd may be different.

センサＳａ〜Ｓｄは、磁石３６と同様に、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３上のいずれかに沿って配置される。例えば、センサＳａ及びセンサＳｄは、円周ＣＬ２上に沿って配置され、センサＳｂ及びセンサＳｃは、円周ＣＬ３上に沿って配置される。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｄが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。 Similar to the magnet 36, the sensors Sa to Sd are arranged along either the circumference CL2 which is the center O of the shaft portion 35 or the circumference CL3 which is the center O of the shaft portion 35. For example, the sensor Sa and the sensor Sd are arranged along the circumference CL2, and the sensor Sb and the sensor Sc are arranged along the circumference CL3. The sensors Sa to Sd are arranged apart from each other so that, for example, when any of the capacitor cassettes C1 to C6 is arranged in the optical path OP, the sensors Sa to Sd do not detect the magnetic field due to the two or more magnets 36. NS.

各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６は、図１６（Ｂ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。また、各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６は、中心Ｏに対して外周側の円周ＣＬ２上に配置される磁石３６を少なくとも１つ含む。また、識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６は、例えば、各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６における磁石３６の配置が、円周ＣＬ２、ＣＬ３上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している。また、図１６（Ａ）の構成では、図１３（Ａ）と同様に、磁石３６が光学部材であるコンデンサカセットＣの隙間（コンデンサカセットＣとコンデンサカセットＣとの間）に配置されているので、保持部材３２を小型化できるメリットがある。 Each of the identification portions Xg1 to Xg6 is formed by two magnets 36, respectively. As shown in FIG. 16B, the identification units Xg1 to Xg6 are formed so that the combination of the sensors S in which the two magnets 36 are detected is different. Further, each identification unit Xg1 to Xg6 includes at least one magnet 36 arranged on the circumference CL2 on the outer peripheral side with respect to the center O. Further, the identification units Xg1 to Xg6 have a combination in which, for example, the arrangement of the magnets 36 in the identification units Xg1 to Xg6 does not overlap each other when they are moved on the circumferences CL2 and CL3. Further, in the configuration of FIG. 16 (A), as in FIG. 13 (A), the magnet 36 is arranged in the gap (between the capacitor cassette C and the capacitor cassette C) of the capacitor cassette C which is an optical member. , There is a merit that the holding member 32 can be miniaturized.

このように、本実施形態の位置判別装置１は、検出部３３ｇが複数の支持部材３８（センサ基板）によって分割して支持されるので、支持部材３８の配置位置の選択肢（バリエーション）を多くすることができる。なお、本実施形態のように、本明細書中に記載する検出部（例、検出部３３ｄ〜３３ｆ）を、複数の支持部材３８で支持してもよい。 As described above, in the position determination device 1 of the present embodiment, since the detection unit 33g is divided and supported by the plurality of support members 38 (sensor substrates), there are many choices (variations) of the arrangement positions of the support members 38. be able to. As in the present embodiment, the detection units (eg, detection units 33d to 33f) described in the present specification may be supported by a plurality of support members 38.

［第９実施形態］
第９実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。 [9th Embodiment]
A ninth embodiment will be described. In the present embodiment, the same components as those in the above-described embodiment are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted or simplified.

図１７（Ａ）は、第９実施形態に係る位置判別装置を示す図である。図１７（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、図１７（Ａ）に示すように、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２ｈと、識別部Ｘｈと、検出部３３ｈと、判別部３４と、を備える。装置本体３１、保持部材３２、及び判別部３４は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１については、図示を省略する。 FIG. 17A is a diagram showing a position determination device according to a ninth embodiment. FIG. 17B is a diagram showing the relationship between the magnet in each identification unit and the sensor that detects the magnet. As shown in FIG. 17A, the position determination device 1 of the present embodiment includes an apparatus main body 31 (see FIG. 2), a holding member 32h, an identification unit Xh, a detection unit 33h, and a determination unit 34. To be equipped with. The device main body 31, the holding member 32, and the discriminating unit 34 are the same as those in the first embodiment, and the description thereof will be omitted. Further, the apparatus main body 31 is not shown.

保持部材３２ｈは、例えば、平面視において、その外形が円状である。保持部材３２ｈは、コンデンサカセットＣを保持可能な複数の保持部Ｈ（Ｈ１〜Ｈ７）を備え、複数の保持部Ｈ１〜Ｈ７により複数のコンデンサカセットＣ（Ｃ１〜Ｃ７）を保持する。７つの保持部Ｈ１〜Ｈ７は、それぞれ、例えば、軸部３５のまわりに配置される。 The holding member 32h has a circular outer shape in a plan view, for example. The holding member 32h includes a plurality of holding portions H (H1 to H7) capable of holding the capacitor cassette C, and the plurality of holding portions H1 to H7 hold the plurality of capacitor cassettes C (C1 to C7). The seven holding portions H1 to H7 are arranged around, for example, the shaft portion 35, respectively.

位置判別装置１は、複数の識別部Ｘｈ（Ｘｈ１〜Ｘｈ７）を備える。各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７は、それぞれ、保持部Ｈ１〜Ｈ７のうちいずれか１つを跨いで形成される。各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７は、それぞれ、互いに離間した２つ以上の領域に形成される。識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７は、それぞれ、識別部Ｘｈの一部が、他の識別部Ｘｈの一部として共用される。 The position determination device 1 includes a plurality of identification units Xh (Xh1 to Xh7). Each of the identification portions Xh1 to Xh7 is formed so as to straddle any one of the holding portions H1 to H7. Each of the identification portions Xh1 to Xh7 is formed in two or more regions separated from each other. In each of the identification units Xh1 to Xh7, a part of the identification unit Xh is shared as a part of the other identification units Xh.

各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７の磁石３６は、軸部３５を中心とする複数の同心円周上のいずれかに配置される。例えば、各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７の磁石３６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２（図１１（Ａ）参照）上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３（図１１（Ａ）参照）上のいずれかに沿って配置される。 The magnets 36 of the identification portions Xh1 to Xh7 are arranged on any of a plurality of concentric circumferences centered on the shaft portion 35. For example, the magnets 36 of the identification units Xh1 to Xh7 are on the circumference CL2 (see FIG. 11 (A)) having the center O of the shaft portion 35 and the circumference CL3 (see FIG. 11) having the center O of the shaft portion 35, respectively. (See (A)) Arranged along any of the above.

検出部３３ｈは、６個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｆ）を備える。センサＳａ〜Ｓｆは、例えば、２つの支持部材３８（３８ａ、３８ｂ）により分割されて支持される。なお、センサＳａ〜Ｓｆは、３つ以上の支持部材３８に分割されて支持されてもよい。センサＳａ〜Ｓｆは、磁石３６と同様に、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３上のいずれかに沿って配置される。例えば、センサＳａ、センサＳｃ、センサＳｄ及びセンサＳｆは、円周ＣＬ２上に沿って配置され、センサＳｂ及びセンサＳｅは、円周ＣＬ３上に沿って配置される。センサＳａ〜Ｓｆは、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｆが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。 The detection unit 33h includes six sensors S (Sa to Sf). The sensors Sa to Sf are divided and supported by, for example, two support members 38 (38a, 38b). The sensors Sa to Sf may be divided into three or more support members 38 and supported. Similar to the magnet 36, the sensors Sa to Sf are arranged along either the circumference CL2 as the center O of the shaft portion 35 or the circumference CL3 as the center O of the shaft portion 35. For example, the sensor Sa, the sensor Sc, the sensor Sd, and the sensor Sf are arranged along the circumference CL2, and the sensor Sb and the sensor Se are arranged along the circumference CL3. The sensors Sa to Sf are arranged apart from each other so that, for example, when any of the capacitor cassettes C1 to C6 is arranged in the optical path OP, the sensors Sa to Sf do not detect the magnetic field due to the two or more magnets 36. NS.

各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７は、図１７（Ｂ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。また、各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７は、中心Ｏに対して外周側の円周ＣＬ２上に配置される磁石３６を少なくとも１つ含む。また、識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７は、例えば、各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７における磁石３６の配置が、円周ＣＬ２、ＣＬ３上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している。また、図１７（Ａ）の構成では、図１３（Ａ）と同様に、磁石３６が光学部材であるコンデンサカセットＣの隙間（コンデンサカセットＣとコンデンサカセットＣとの間）に配置されているので、保持部材３２を小型化できるメリットがある。 Each of the identification portions Xh1 to Xh7 is formed by two magnets 36, respectively. As shown in FIG. 17B, the identification units Xh1 to Xh7 are formed so that the combination of the sensors S in which the two magnets 36 are detected is different. Further, each of the identification units Xh1 to Xh7 includes at least one magnet 36 arranged on the circumference CL2 on the outer peripheral side with respect to the center O. Further, the identification units Xh1 to Xh7 have a combination in which, for example, the arrangement of the magnets 36 in the identification units Xh1 to Xh7 does not overlap each other when they are moved on the circumferences CL2 and CL3. Further, in the configuration of FIG. 17 (A), as in FIG. 13 (A), the magnet 36 is arranged in the gap (between the capacitor cassette C and the capacitor cassette C) of the capacitor cassette C which is an optical member. , There is a merit that the holding member 32 can be miniaturized.

上記の実施形態では、保持部Ｈの数は６つであるとして説明したが、保持部Ｈの数は、任意であり、例えば、本実施形態の位置判別装置１のように、保持部Ｈの数は７つでもよいし、保持部Ｈは２つ〜５つでもよいし、８つ以上でもよい。 In the above embodiment, the number of the holding portions H has been described as six, but the number of the holding portions H is arbitrary. For example, as in the position determination device 1 of the present embodiment, the holding portion H of the holding portion H The number may be 7, the holding portion H may be 2 to 5, or 8 or more.

［第１０実施形態］
第１０実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。 [10th Embodiment]
The tenth embodiment will be described. In the present embodiment, the same components as those in the above-described embodiment are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted or simplified.

図１８（Ａ）は、第１０実施形態に係る位置判別装置を側方から見た図である。図１８（Ｂ）は、位置判別装置を上方から見た図である。図１８（Ｃ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、図１８（Ａ）に示すように、装置本体３１ｊと、保持部材３２ｊと、識別部Ｘｊと、検出部３３ｊと、判別部３４と、を備える。 FIG. 18A is a side view of the position determination device according to the tenth embodiment. FIG. 18B is a view of the position determination device as viewed from above. FIG. 18C is a diagram showing the relationship between the magnet in each identification unit and the sensor that detects the magnet. As shown in FIG. 18A, the position determination device 1 of the present embodiment includes an apparatus main body 31j, a holding member 32j, an identification unit Xj, a detection unit 33j, and a determination unit 34.

本実施形態の位置判別装置１は、保持部材３２ｊの外形が矩形状である。保持部材３２ｊは、例えば、装置本体３１ｊの内部に収容される。保持部材３２ｊは、例えば、手動により、Ｘ方向に移動可能である。なお、保持部材３２ｊの形状、大きさは任意である。 In the position determination device 1 of the present embodiment, the outer shape of the holding member 32j is rectangular. The holding member 32j is housed inside the apparatus main body 31j, for example. The holding member 32j can be manually moved in the X direction, for example. The shape and size of the holding member 32j are arbitrary.

保持部材３２ｊは、複数の物体Ｔ（Ｔ１〜Ｔ６）を保持可能な６つの保持部Ｈ（Ｈ１〜Ｈ６）を備える。上記実施形態では、物体ＴがコンデンサカセットＣであるとして説明したが、物体Ｔは、任意に設定可能である。なお、保持部Ｈは６つでなくてもよい。例えば、保持部Ｈは１個〜５個でもよいし、７個以上でもよい。各保持部Ｈ１〜Ｈ６は、それぞれ、Ｘ方向に並んで配置される。 The holding member 32j includes six holding portions H (H1 to H6) capable of holding a plurality of objects T (T1 to T6). In the above embodiment, the object T has been described as a capacitor cassette C, but the object T can be arbitrarily set. The number of holding portions H does not have to be six. For example, the number of holding portions H may be 1 to 5, or 7 or more. The holding portions H1 to H6 are arranged side by side in the X direction.

保持部材３２ｊには、各保持部Ｈ１〜Ｈ６に対応した６つの識別部Ｘｊ（Ｘｊ１〜Ｘｊ６）が配置される。識別部Ｘｊ１〜Ｘｊ６は、Ｘ方向に並んで配置される。各識別部Ｘｊ１〜Ｘｊ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６軸の近傍に配置される。 Six identification units Xj (Xj1 to Xj6) corresponding to the holding units H1 to H6 are arranged on the holding member 32j. The identification units Xj1 to Xj6 are arranged side by side in the X direction. The identification units Xj1 to Xj6 are arranged in the vicinity of the corresponding holding units H1 to H6, respectively.

各識別部Ｘｊ１〜Ｘｊ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｊ１〜Ｘｊ６において、磁石３６は、Ｙ方向と平行な方向に沿って配列される。各識別部Ｘｊ１〜Ｘｊ６は、図１８（Ｃ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。 Each of the identification portions Xj1 to Xj6 is formed by two magnets 36, respectively. In each of the identification units Xj1 to Xj6, the magnets 36 are arranged along a direction parallel to the Y direction. As shown in FIG. 18C, the identification units Xj1 to Xj6 are formed so that the combination of the sensors S in which the two magnets 36 are detected is different.

検出部３３ｊは、装置本体３１に配置される（図１８（Ａ）参照）。例えば、検出部３３ｊは、保持部材３２ｊの上方に配置される。検出部３３ｊは、４個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｄ）を備える。センサＳａ〜Ｓｄは、支持部材３８により支持される。センサＳａ〜Ｓｄは、磁石３６と同様に、Ｙ方向と平行な方向に沿って配列される。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、物体Ｔ１〜Ｔ６のいずれかが所定位置Ｐに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｄが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。上記実施形態では、所定位置Ｐが光路ＯＰとして説明したが、所定位置Ｐは、光路ＯＰに限定されず、任意に設定可能である。 The detection unit 33j is arranged in the device main body 31 (see FIG. 18A). For example, the detection unit 33j is arranged above the holding member 32j. The detection unit 33j includes four sensors S (Sa to Sd). The sensors Sa to Sd are supported by the support member 38. The sensors Sa to Sd are arranged along the direction parallel to the Y direction, similarly to the magnet 36. The sensors Sa to Sd are arranged apart from each other so that, for example, when any of the objects T1 to T6 is arranged at a predetermined position P, the sensors Sa to Sd do not detect the magnetic field by two or more magnets 36. NS. In the above embodiment, the predetermined position P has been described as the optical path OP, but the predetermined position P is not limited to the optical path OP and can be set arbitrarily.

上記の実施形態では、保持部材３２を回転して移動させる例を示したが、保持部材３２の移動方法は任意であり、例えば、位置判別装置１は、本実施形態のように、保持部材３２をスライドして移動する構成でもよい。 In the above embodiment, an example of rotating and moving the holding member 32 has been shown, but the method of moving the holding member 32 is arbitrary. For example, the position determination device 1 is the holding member 32 as in the present embodiment. It may be configured to slide and move.

以上説明したように、上記した実施形態の位置判別装置１は、複数の物体Ｔ（例、コンデンサカセットＣ）を保持する保持部材（３２、３２ｈ、３２ｊ）、及び保持部材（３２、３２ｈ、３２ｊ）を移動可能に支持する装置本体（３１、３１ｊ）のいずれか一方に配置される検出部（３３、３３ａ〜３３ｊ）と、保持部材（３２、３２ｈ、３２ｊ）及び装置本体（３１、３１ｊ）のいずれか他方に、複数の物体Ｔのそれぞれに対応して配置され、検出部（３３、３３ａ〜３３ｊ）により検出される複数の識別部（Ｘ、Ｘａ〜Ｘｊ）と、検出部（３３、３３ａ〜３３ｊ）による検出結果から、識別部（Ｘ、Ｘａ〜Ｘｊ）を特定してこの識別部（Ｘ、Ｘａ〜Ｘｊ）に対応する物体Ｔが所定位置Ｐ（例、光路ＯＰ）にあることを判別する判別部（３４、３４ｃ）と、を備え、検出部（３３、３３ａ〜３３ｊ）は、被検出部材（磁石３６）を検出するＭ（Ｍは３以上の自然数）個のセンサＳを含み、複数の識別部（Ｘ、Ｘａ〜Ｘｊ）のそれぞれは、いずれもＮ（Ｎ＜Ｍ、Ｎは２以上の自然数）個のセンサにより検出され、かつ、Ｎ個のセンサＳの組み合わせが異なるように、複数の被検出部材が配置される。これにより、上記した実施形態の位置判別装置１は、簡単な構成で、精度よく物体の位置を判別することができる。 As described above, the position determination device 1 of the above-described embodiment has a holding member (32, 32h, 32j) for holding a plurality of objects T (eg, capacitor cassette C) and a holding member (32, 32h, 32j). ) Is movably supported by the detection unit (33, 33a to 33j) arranged on one of the device main bodies (31, 31j), the holding member (32, 32h, 32j), and the device main body (31, 31j). A plurality of identification units (X, Xa to Xj), which are arranged corresponding to each of the plurality of objects T and are detected by the detection units (33, 33a to 33j), and a detection unit (33, From the detection results by 33a to 33j), the identification unit (X, Xa to Xj) is specified, and the object T corresponding to the identification unit (X, Xa to Xj) is at a predetermined position P (eg, optical path OP). The detection unit (33, 33a to 33j) includes M (M is a natural number of 3 or more) sensors S for detecting the member to be detected (magnet 36). Each of the plurality of identification units (X, Xa to Xj) is detected by N (N <M, N is a natural number of 2 or more), and the combination of N sensors S is different. As described above, a plurality of members to be detected are arranged. As a result, the position determination device 1 of the above-described embodiment can accurately determine the position of the object with a simple configuration.

なお、本発明の技術範囲は、上述の実施形態などで説明した態様に限定されるものではない。上述の実施形態などで説明した要件の１つ以上は、省略されることがある。また、上述の実施形態などで説明した要件は、適宜組み合わせることができる。また、法令で許容される限りにおいて、上述の実施形態などで引用した全ての文献の開示を援用して本文の記載の一部とする。 The technical scope of the present invention is not limited to the embodiments described in the above-described embodiments. One or more of the requirements described in the above embodiments and the like may be omitted. In addition, the requirements described in the above-described embodiments and the like can be combined as appropriate. In addition, to the extent permitted by law, the disclosure of all documents cited in the above-mentioned embodiments and the like shall be incorporated as part of the description in the main text.

例えば、上述の実施形態では、顕微鏡装置ＭＳが倒立顕微鏡である場合を例に説明したが、これに限定されず、顕微鏡装置ＭＳは倒立顕微鏡以外の任意の顕微鏡装置でもよい。例えば、顕微鏡装置ＭＳは正立顕微鏡でもよいし、実体顕微鏡でもよい。 For example, in the above-described embodiment, the case where the microscope device MS is an inverted microscope has been described as an example, but the present invention is not limited to this, and the microscope device MS may be any microscope device other than the inverted microscope. For example, the microscope device MS may be an upright microscope or a stereomicroscope.

例えば、上述の実施形態では、検出部３３（３３ａ〜３３ｊ）は装置本体３１に配置され、識別部Ｘ、Ｘａ〜Ｘｊは、保持部材３２に配置される例を示したが、検出部３３は保持部材３２に配置され、識別部Ｘ、Ｘａ〜Ｘｊは、装置本体３１に配置されてもよい。 For example, in the above-described embodiment, the detection unit 33 (33a to 33j) is arranged in the device main body 31, and the identification units X and Xa to Xj are arranged in the holding member 32. The identification units X and Xa to Xj may be arranged on the holding member 32 and may be arranged on the apparatus main body 31.

例えば、上述の実施形態では、顕微鏡装置ＭＳは、第１実施形態の位置判別装置１を備える例を示したが、これに限定されず、例えば、顕微鏡装置ＭＳは、第２実施形態から第１０実施形態の位置判別装置１を備えてもよい。 For example, in the above-described embodiment, the microscope device MS has shown an example including the position determination device 1 of the first embodiment, but the present invention is not limited to this. The position determination device 1 of the embodiment may be provided.

例えば、上述の実施形態では、位置判別装置１は顕微鏡装置ＭＳに備えられる例を示したが、これに限定されず、例えば、位置判別装置１は、顕微鏡装置ＭＳ以外の装置に備えられてもよいし、また、位置判別装置１は装置等に備えられず、位置判別装置１は単独に用いられるのものでもよい。 For example, in the above-described embodiment, the position determination device 1 is provided in the microscope device MS, but the present invention is not limited to this. For example, the position determination device 1 may be provided in a device other than the microscope device MS. Alternatively, the position determination device 1 may not be provided in the device or the like, and the position determination device 1 may be used independently.

例えば、上述の実施形態では、顕微鏡装置ＭＳが位置判別装置１を備え、位置判別装置１がコンデンサカセットＣを保持するターレット１３である例を示したが、これに限定されず、顕微鏡装置ＭＳにおいて、位置判別装置１はターレット１３以外のものでもよい。例えば、位置判別装置１は、複数の対物レンズ１６を保持可能なレボルバ１９でもよいし、複数のフィルタユニット１５を保持可能なターレット１８でもよいし、シャッタ部材、フィルタ等の光学部材を保持可能で且つ光学部材を光路ＯＰに配置する切り替え装置でもよい。 For example, in the above-described embodiment, the microscope device MS is provided with the position determination device 1, and the position determination device 1 is a turret 13 holding the condenser cassette C. However, the present invention is not limited to this, and the microscope device MS is not limited to this. , The position determination device 1 may be other than the turret 13. For example, the position determination device 1 may be a revolver 19 capable of holding a plurality of objective lenses 16, a turret 18 capable of holding a plurality of filter units 15, or an optical member such as a shutter member or a filter. Moreover, the switching device may be used in which the optical member is arranged in the optical path OP.

例えば、上述の実施形態では、顕微鏡装置ＭＳが位置判別装置１を１つ備える例を示したが、これに限定されず、顕微鏡装置ＭＳは複数の位置判別装置１を備えてもよい。例えば、顕微鏡装置ＭＳは、位置判別装置１をターレット１３、ターレット１８、レボルバ１９、シャッタ部材、フィルタ等の光学部材を保持可能で且つ光学部材を光路ＯＰに配置する切り替え装置のうち少なくとも２つを備えるものでもよい。 For example, in the above-described embodiment, the example in which the microscope device MS includes one position determination device 1 is shown, but the present invention is not limited to this, and the microscope device MS may include a plurality of position determination devices 1. For example, the microscope device MS has at least two of the switching devices capable of holding the optical members such as the turret 13, the turret 18, the revolver 19, the shutter member, and the filter, and arranging the optical members in the optical path OP. It may be provided.

また、上述の実施形態において、制御部６は、例えばコンピュータシステムを含む。制御部６は、記憶部８に記憶されているプログラムを読み出し、このプログラムに従って各種の処理を実行する。このプログラムは、例えば、顕微鏡装置ＭＳの制御をコンピュータに実行させるプログラムである。この制御は、例えば、上記した位置判別方法の判別結果を用いて顕微鏡装置ＭＳを制御する。このプログラムは、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体（記録媒体）に記憶（記録）されて提供されてもよい。 Further, in the above-described embodiment, the control unit 6 includes, for example, a computer system. The control unit 6 reads a program stored in the storage unit 8 and executes various processes according to this program. This program is, for example, a program that causes a computer to control the microscope device MS. In this control, for example, the microscope device MS is controlled by using the discrimination result of the above-mentioned position discrimination method. This program may be stored (recorded) in a computer-readable storage medium (recording medium) and provided.

なお、上述の実施形態において、上記した位置判別方法の判別結果を用いて、顕微鏡装置ＭＳを制御する制御方法を説明したが、位置判別装置１を備える装置（図示せず）において、位置判別装置１の判別結果を用いて、装置ＭＳを制御する制御方法でもよい。また、位置判別装置１を備える装置（図示せず）が、コンピュータシステムを含む制御装置（図示せず）を備える場合、制御装置は、コンピュータに、位置判別装置１の判別結果を用いて、装置ＭＳを制御するプログラムを実行させることにより、装置を制御してもよい。このプログラムは、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体（記録媒体）に記憶（記録）されて提供されてもよい。 In the above-described embodiment, the control method for controlling the microscope device MS has been described using the discrimination result of the above-mentioned position discrimination method. However, in the device (not shown) including the position discrimination device 1, the position discrimination device is used. A control method for controlling the device MS using the determination result of 1 may be used. When the device (not shown) including the position determination device 1 includes a control device (not shown) including a computer system, the control device uses the determination result of the position determination device 1 on the computer. The device may be controlled by executing a program that controls the MS. This program may be stored (recorded) in a computer-readable storage medium (recording medium) and provided.

１・・・位置判別装置、４、４ａ、４ｂ・・・照明光学系、５・・・結像光学系、６・・・制御部、９・・・表示部、Ｃ、Ｃ１〜Ｃ７・・・コンデンサカセット(光学部材、物体)、Ｘ、Ｘａ〜Ｘｊ・・・識別部、ＯＰ・・・光路（光軸、所定位置）、Ｐ・・・所定位置、Ｓ、Ｓａ〜Ｓｆ・・・センサ、Ｔ・・・物体、２１・・・駆動部（駆動系）、３１、３１ｊ・・・装置本体、３２、３２ｈ、３２ｊ・・・保持部材、３３、３３ａ〜３３ｊ・・・検出部、３４、３４ｃ・・・判別部、３５・・・軸部、３６・・・磁石（被検出部材）、３８、３８ａ、３８ｂ・・・支持部材、ＭＳ・・・顕微鏡装置、ＯＰ・・・光路（光軸、所定位置） 1 ... Position determination device, 4, 4a, 4b ... Illumination optical system, 5 ... Imaging optical system, 6 ... Control unit, 9 ... Display unit, C, C1 to C7 ... -Condenser cassette (optical member, object), X, Xa to Xj ... identification unit, OP ... optical path (optical axis, predetermined position), P ... predetermined position, S, Sa to Sf ... sensor , T ... Object, 21 ... Drive unit (drive system), 31, 31j ... Device body, 32, 32h, 32j ... Holding member, 33, 33a to 33j ... Detection unit, 34 , 34c ... Discriminating part, 35 ... Shaft part, 36 ... Magnet (detected member), 38, 38a, 38b ... Support member, MS ... Microscope device, OP ... Optical path ( Optical axis, predetermined position)

Claims (10)

複数の物体を保持する保持部材、及び前記保持部材を移動可能に支持する装置本体のいずれか一方に配置される検出部と、
前記保持部材及び前記装置本体のいずれか他方における、前記保持部材及び前記装置本体が相対的に移動するときの前記検出部の移動軌跡上に、複数の前記物体のそれぞれに対応して配置され、前記検出部により検出される複数の識別部と、
前記検出部による前記識別部の検出結果から、前記識別部を特定してこの識別部に対応する前記物体が所定位置にあることを判別する判別部と、を備え、
前記検出部は、前記識別部を検出するためのＭ（Ｍは３以上の自然数）個のセンサを含み、
前記センサは、前記所定位置にある前記物体を挟んで配置され、
複数の前記識別部のそれぞれは、すべての前記物体の位置において同数のいずれもＮ（Ｎ＜Ｍ、Ｎは２以上の自然数）個の被検出部材を有し、
前記被検出部材は、前記物体同士の間に設けられ、
前記識別部に対応する前記Ｎ個の被検出部材のうちの一部の被検出部材は、該識別部と異なる他の識別部に対応する被検出部材として共用され、
前記Ｎ個の被検出部材は、前記保持部材が移動するときに前記Ｍ個の各センサにより２以上の被検出部材が同時に検出されない位置に、前記保持部材が移動するときの前記Ｍ個のセンサとの組み合わせが前記複数の各識別部において互いに異なるように配置される、位置判別装置。 A holding member that holds a plurality of objects, and a detection unit that is arranged on either one of a device body that movably supports the holding member.
It is arranged corresponding to each of the plurality of objects on the movement locus of the detection unit when the holding member and the device main body move relative to each other of the holding member and the device main body. A plurality of identification units detected by the detection unit and
A discriminating unit that identifies the discriminating unit from the detection result of the discriminating unit by the detecting unit and determines that the object corresponding to the discriminating unit is at a predetermined position is provided.
The detection unit includes M (M is a natural number of 3 or more) sensors for detecting the identification unit.
The sensor is arranged so as to sandwich the object in the predetermined position.
Each of the plurality of identification units has the same number of members to be detected (N <M, N is a natural number of 2 or more) at the positions of all the objects.
The detected member is provided between the objects and is provided between the objects.
Some of the N members to be detected corresponding to the identification unit are shared as members to be detected corresponding to other identification units different from the identification unit.
The N sensors to be detected are the M sensors when the holding member moves to a position where two or more detected members are not simultaneously detected by the M sensors when the holding member moves. A position determination device in which a combination with and is arranged so as to be different from each other in each of the plurality of identification units. 前記被検出部材は磁石である、請求項１に記載の位置判別装置。 The position determination device according to claim 1, wherein the member to be detected is a magnet. 前記磁石は２個であり、
前記Ｍ個の各センサは、２以上の磁石による磁界を検出しないように互いに離間して配置される、請求項２に記載の位置判別装置。 The number of magnets is two,
The position determination device according to claim 2, wherein the M sensors are arranged apart from each other so as not to detect a magnetic field generated by two or more magnets. 前記センサは、線対称に配置され、前記線対称に配置された前記Ｍ個のセンサのうちの対を成す２つのセンサ同士が等間隔に配置される、請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の位置判別装置。 Any one of claims 1 to 3, wherein the sensors are arranged line-symmetrically, and two sensors forming a pair of the M sensors arranged line-symmetrically are arranged at equal intervals. The position determination device according to one item. 前記保持部材は、所定の軸部を中心として回転可能であり、
前記物体は、前記軸部のまわりに配置され、
前記識別部は、前記保持部材に配置される、請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の位置判別装置。 The holding member is rotatable about a predetermined shaft portion and can be rotated.
The object is placed around the shaft and
The position determination device according to any one of claims 1 to 4, wherein the identification unit is arranged on the holding member. 前記識別部は、対応する前記物体に対して前記軸部を挟んだ反対側に配置される、請求項５に記載の位置判別装置。 The position determination device according to claim 5, wherein the identification unit is arranged on the opposite side of the corresponding object with the shaft portion interposed therebetween. 請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の位置判別装置を備え、
前記物体は、光学部材であり、
前記所定位置は、照明光学系または結像光学系の光軸である、顕微鏡装置。 The position determination device according to any one of claims 1 to 6 is provided.
The object is an optical member and
The predetermined position is a microscope device that is an optical axis of an illumination optical system or an imaging optical system. 複数の物体を保持する保持部材、及び前記保持部材を移動可能に支持する装置本体のいずれか一方に配置される検出部により、前記保持部材及び前記装置本体のいずれか他方における、前記保持部材及び前記装置本体が相対的に移動するときの前記検出部の移動軌跡上に、複数の前記物体のそれぞれに対応して配置される複数の識別部を検出することと、
前記検出部による前記識別部の検出結果から、前記識別部を特定してこの識別部に対応する前記物体が所定位置にあることを判別することと、を含み、
前記検出部は、前記識別部を検出するためのＭ（Ｍは３以上の自然数）個のセンサを含み、
前記センサは、前記所定位置にある前記物体を挟んで配置され、
複数の前記識別部のそれぞれは、すべての前記物体の位置において同数のいずれもＮ（Ｎ＜Ｍ、Ｎは２以上の自然数）個の被検出部材を有し、
前記被検出部材は、前記物体同士の間に設けられ、
前記識別部に対応する前記Ｎ個の被検出部材のうちの一部の被検出部材は、該識別部と異なる他の識別部に対応する被検出部材として共用され、
前記Ｎ個の被検出部材は、前記保持部材が移動するときに前記Ｍ個の各センサにより２以上の被検出部材が同時に検出されない位置に、前記保持部材が移動するときの前記Ｍ個のセンサとの組み合わせが前記複数の各識別部において互いに異なるように配置される、位置判別方法。 The holding member and the holding member in the other of the holding member and the device body are provided by a detection unit arranged on one of the holding member that holds a plurality of objects and the device body that movably supports the holding member. To detect a plurality of identification units arranged corresponding to each of the plurality of objects on the movement locus of the detection unit when the device main body moves relatively.
This includes identifying the identification unit from the detection result of the identification unit by the detection unit and determining that the object corresponding to the identification unit is in a predetermined position.
The detection unit includes M (M is a natural number of 3 or more) sensors for detecting the identification unit.
The sensor is arranged so as to sandwich the object in the predetermined position.
Each of the plurality of identification units has the same number of members to be detected (N <M, N is a natural number of 2 or more) at the positions of all the objects.
The detected member is provided between the objects and is provided between the objects.
Some of the N members to be detected corresponding to the identification unit are shared as members to be detected corresponding to other identification units different from the identification unit.
The N sensors to be detected are the M sensors when the holding member moves to a position where two or more detected members are not simultaneously detected by the M sensors when the holding member moves. A position determination method in which combinations with and are arranged so as to be different from each other in each of the plurality of identification units. 請求項８に記載の前記位置判別方法の判別結果を用いて顕微鏡装置を制御する、顕微鏡装置の制御方法。 A method for controlling a microscope device, wherein the microscope device is controlled by using the determination result of the position determination method according to claim 8. 顕微鏡装置の制御をコンピュータに実行させるプログラムであって、
前記制御は、請求項８に記載の位置判別方法の判別結果を用いて前記顕微鏡装置を制御する、プログラム。 A program that causes a computer to control a microscope device.
The control is a program that controls the microscope device using the determination result of the position determination method according to claim 8.
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