JP6899295B2 - レーザ脱離イオン化法及び質量分析方法 - Google Patents
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Description
最初に、第1実施形態及び第2実施形態のレーザ脱離イオン化法及び質量分析方法に用いられる試料支持体について説明する。図1及び図2に示されるように、試料支持体1は、基板2と、フレーム3と、導電層4と、を備えている。基板2は、互いに対向する第1表面2a及び第2表面2bを有している。基板2には、複数の貫通孔2cが一様に(均一な分布で)形成されている。各貫通孔2cは、基板2の厚さ方向(第1表面2a及び第2表面2bに垂直な方向)に沿って延在しており、第1表面2a及び第2表面2bに開口している。
次に、試料支持体1を用いた第2実施形態のレーザ脱離イオン化法及び質量分析方法について説明する。第2実施形態のレーザ脱離イオン化法及び質量分析方法は、試料支持体1の貫通孔2cにマトリックス溶液81が導入された後に、マトリックス溶液81が導入された試料支持体1が試料S上に配置される点で、第1実施形態のレーザ脱離イオン化法及び質量分析方法と主に相違している。つまり、第2実施形態のレーザ脱離イオン化法及び質量分析方法では、第1実施形態のレーザ脱離イオン化法及び質量分析方法の第2工程と第3工程との順番が入れ替わっている。第2実施形態のレーザ脱離イオン化法及び質量分析方法のその他は、第1実施形態のレーザ脱離イオン化法及び質量分析方法と同様であるため、詳細な説明については省略する。図10及び図11においては、試料支持体1における貫通孔2c、導電層4及び接着層5の図示が省略されている。また、図1及び図2に示される試料支持体1と図10及び図11に示される試料支持体1とでは、図示の便宜上、寸法の比率等が異なっている。
Claims (9)
- 互いに対向する第1表面及び第2表面に開口する複数の貫通孔が形成された基板と、少なくとも前記第1表面に設けられた導電層と、を備える試料支持体が用意される第1工程と、
試料が載置部の載置面に載置され、前記試料に前記第2表面が接触するように前記試料上に前記試料支持体が配置される第2工程と、
前記複数の貫通孔にマトリックス溶液が導入される第3工程と、
前記載置部と前記試料支持体との間に前記試料が配置された状態で、前記導電層に電圧が印加されつつ前記第1表面に対してレーザ光が照射されることにより、前記マトリックス溶液と混合すると共に前記第2表面側から前記貫通孔を介して前記第1表面側に移動した前記試料の成分がイオン化される第4工程と、を備えるレーザ脱離イオン化法。 - 互いに対向する第1表面及び第2表面に開口する複数の貫通孔が形成された基板と、少なくとも前記第1表面に設けられた導電層と、を備える試料支持体が用意される第1工程と、
前記複数の貫通孔にマトリックス溶液が導入される第2工程と、
試料が載置部の載置面に載置され、前記試料に前記第2表面が接触するように前記試料上に前記試料支持体が配置される第3工程と、
前記載置部と前記試料支持体との間に前記試料が配置された状態で、前記導電層に電圧が印加されつつ前記第1表面に対してレーザ光が照射されることにより、前記マトリックス溶液と混合すると共に前記第2表面側から前記貫通孔を介して前記第1表面側に移動した前記試料の成分がイオン化される第4工程と、を備えるレーザ脱離イオン化法。 - 前記第3工程においては、前記マトリックス溶液が前記第1表面側から前記複数の貫通孔に対して滴下される、請求項1に記載のレーザ脱離イオン化法。
- 前記第2工程においては、前記マトリックス溶液が前記第1表面側又は前記第2表面側から前記複数の貫通孔に対して滴下される、請求項2に記載のレーザ脱離イオン化法。
- 前記第2工程においては、前記試料支持体が前記マトリックス溶液に浸漬される、請求項2に記載のレーザ脱離イオン化法。
- 前記試料は、乾燥試料である、請求項1〜5の何れか一項に記載のレーザ脱離イオン化法。
- 導電性を有し、互いに対向する第1表面及び第2表面に開口する複数の貫通孔が形成された基板を備える試料支持体が用意される第1工程と、
試料が載置部の載置面に載置され、前記試料に前記第2表面が接触するように前記試料上に前記試料支持体が配置される第2工程と、
前記複数の貫通孔にマトリックス溶液が導入される第3工程と、
前記載置部と前記試料支持体との間に前記試料が配置された状態で、前記基板に電圧が印加されつつ前記第1表面に対してレーザ光が照射されることにより、前記マトリックス溶液と混合すると共に前記第2表面側から前記貫通孔を介して前記第1表面側に移動した前記試料の成分がイオン化される第4工程と、を備えるレーザ脱離イオン化法。 - 導電性を有し、互いに対向する第1表面及び第2表面に開口する複数の貫通孔が形成された基板を備える試料支持体が用意される第1工程と、
前記複数の貫通孔にマトリックス溶液が導入される第2工程と、
試料が載置部の載置面に載置され、前記試料に前記第2表面が接触するように前記試料上に前記試料支持体が配置される第3工程と、
前記載置部と前記試料支持体との間に前記試料が配置された状態で、前記基板に電圧が印加されつつ前記第1表面に対してレーザ光が照射されることにより、前記マトリックス溶液と混合すると共に前記第2表面側から前記貫通孔を介して前記第1表面側に移動した前記試料の成分がイオン化される第4工程と、を備えるレーザ脱離イオン化法。 - 請求項1〜8のいずれか一項に記載のレーザ脱離イオン化法の各工程と、
前記第4工程においてイオン化された前記成分が検出される第5工程と、を備える質量分析方法。
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