JP6898031B2 - 感光性積層構造体 - Google Patents

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Description

関連出願の相互参照
本出願は2015年12月30日に出願された米国仮出願第62/273,106号の優先権を主張し、その全体が参照により本明細書に組み込まれる。
モバイル・コンピュ−ティング・アプリケーションは継続的に拡張しており、ますます増大するレベルの計算力をより小さなデバイス・フットプリントに詰め込むことが要求されている。新しいデバイス要件を満たすために、半導体デバイスの設計者は様々な新しいチップアーキテクチャの使用に依存している。これらの新しいアーキテクチャは、銅ピラーを使用するフリップチップウェーハバンピング、ならびにウェーハが薄くされ、得られたダイが積み重ねられ、次いでTSVおよび2.5Dインターポーザ設計によって接続される、三次元集積回路(3D IC)などの貫通シリコンビア(TSV)を使用するアプローチを含む。これらのアプローチは、これらの新しいICアーキテクチャの設計者にとってのみならず、これらのデバイスに使用されるパッケージング材料の設計者にとって重大な挑戦を提起する。
これらの新しい先進的なデバイスはウェーハレベルパッケージング(WLP)および3D集積に大きく依存しているので、パッケージング用途のための物質要件は絶えず進化している。長年にわたって使用されてきた多くの従来のパッケージング材料があるが、ポリイミドはその優れた電気的、機械的および熱的特性のために、半導体パッケ−ジング用途に選択される材料であった。しかしながら、従来のポリイミドの欠点として、高い硬化温度(>350℃)、高い硬化後収縮、および高い吸湿レベルが挙げられる。この高い収縮により、シリコンウェーハの湾曲をもたらす高い残留応力を有する硬化ポリイミドフィルムがもたらされる。3D集積を使用する次世代チップアーキテクチャでは、縦型集積の要件を満たすために、シリコンウェーハは最先進用途において20マイクロメートルまで薄くなることが要求される。これらの薄くされたウェーハは極めて壊れやすく、使用されるパッケージング材料における過剰な残留応力は破滅的であり得る。次世代のパッケージング材料は、ウェーハに与える応力が最小になるように設計される必要がある。この理由から、硬化温度が低いことおよび硬化後収縮が小さいことは、先進的なパッケージング材料にとって重要な要件の一つである。
半導体パッケージングプロセスで使用される光画像形成性誘電材料は、パターン様露光および現像によるレリーフ構造の生成を可能にする。他のリソグラフィプロセスとは異なり、パッケージング用途では、金属堆積(電気めっき、スパッタリングなど)などの後続の処理工程のため、90°未満の(すなわち、「傾斜した」)壁角度が好ましい。従来の誘電体材料では、この傾斜プロファイルは、材料のTgより高い温度で誘電体を硬化させることによって達成することができる(サーマルリフローとしても知られる)。サーマルリフローでは、鉛直の側壁(壁角≒90°)が傾斜した側壁に変換される。従来の誘電体材料では、材料のガラス転移温度がその硬化温度よりも低いので、このアプローチを実施することができる。先進的なパッケージング用途では高いTg材料と低い硬化温度が必要とされ、これは、所望の側壁角度を達成するためにサーマルリフローを使用する可能性を排除するものである。本開示は、二重層アプローチの使用によって、感光性の(photoimageable)高Tg誘電体コーティングに傾斜プロファイルを形成する方法を記載する。
いくつかの実施形態では、本開示は、
感光性誘電層である第1の層、及び
感光性層である第2の層を含み、
現像剤中における前記第1の層の溶解速度が、前記現像剤中における前記第2の層の溶解速度よりも小さい、感光性積層構造体を特徴とする。
いくつかの実施形態では、第2の層が(a)少なくとも1種のポリマー、(b)少なくとも1種の溶解度スイッチング化合物(SSC)、(c)光酸発生剤(PAG)、感光性ラジカル開始剤、及び光増感剤と開始剤との組合せからなる群より選択される少なくとも1種の光活性化合物、並びに(d)少なくとも1種の溶剤を含む感光性組成物から形成される。
いくつかの実施形態では、第2の層が(a)少なくとも1種のポリマー、(b)少なくとも1種の溶解度スイッチング化合物(SSC)、(c)光酸発生剤(PAG)、感光性ラジカル開始剤開始剤、及び光増感剤と開始剤との組合せとからなる群より選択される少なくとも1種の光活性化合物、並びに(d)少なくとも1種の溶剤を含む感光性組成物から形成される。
いくつかの実施形態では、第1の層または第2の層中の少なくとも1種のポリマーは、化学線で露光した後にSSCと反応して現像剤中におけるフィルムの溶解度を低下させることができる反応性基などの反応性基を含む。
いくつかの実施形態では、第1の層または第2の層中の少なくとも1種のポリマーが有する反応性基は、ヒドロキシル基、チオール基、アミノ基、およびカルボキシル基からなる群より選択される。
いくつかの実施形態では、第2の層中の少なくとも1種のポリマーが(メタ)アクリレート、ウレタン、アミド、イミド、エステル、エーテル、エチレン性不飽和炭化水素、およびそれらの組み合わせからなる群より選択される少なくとも1つのモノマーから形成される。
いくつかの実施形態では、第1の層または第2の層中の少なくとも1種のポリマーが反応性基を有さない。いくつかの実施形態では、第1の層または第2の層中の少なくとも1つの光活性化合物が、少なくとも1つの光開始剤、または光増感剤と開始剤との組合せを含む。
いくつかの実施形態では、第1の層が(a)少なくとも1種のポリイミドポリマー(例えば、少なくとも1つの完全にイミド化されたポリイミドポリマー)、(b)少なくとも1種の溶解度スイッチング化合物(SSC)、(c)感光性ラジカル開始剤及び光増感剤と開始剤との組合せからなる群より選択される少なくとも1つの光活性化合物、並びに(d)少なくとも1種の溶剤を含む感光性組成物から形成される。
いくつかの実施形態では、本開示は、本明細書に記載される感光性積層構造体を調製するためのプロセスを特徴とする。このプロセスは、
(a)前記第1の層を形成する組成物で基材をコーティングして、第1のコーティングされた基材を形成すること;
(b)第1のベーキング工程において、前記第1のコーティングされた基材をベークして、第1の層を形成すること;
(c)前記第2の層を形成する組成物で前記第1の層をコーティングして、第2のコーティングされた基材を形成すること;及び
(d)第2のベーキング工程において、前記第2のコーティングされた基材をベークして、前記第1の層の上に前記第2の層を形成すること
を含みうる。
いくつかの実施形態では、本開示は、傾斜レリーフ画像(sloped relief image)を調製するためのプロセスを特徴とする。このプロセスは、
(a)前記感光性積層構造体を、マスクを通して化学線で露光して、パターン状に露光された積層構造体を形成すること;
(b)任意で、第3のベーキング工程において、前記パターン状に露光された感光性積層構造体をベークすること;
(c)前記パターン状に露光された感光性積層構造体の少なくとも一部を現像剤で現像して、前記積層構造体上に傾斜レリーフ画像を生成すること;
(d)任意で、前記レリーフ画像を溶剤または複数の溶剤の混合物でリンスすること;及び
(e)任意で、第4のベーキング工程において、傾斜レリーフ画像を有する前記積層構造体をベークすること
を含みうる。いくつかの実施形態では、第4のベーキング工程は、第1の層のガラス転移温度よりも低い温度で実施することができる。
いくつかの実施形態では、本開示は、
キャリア層;
感光性誘電体層である第1の層;及び
感光性層であり、キャリア層と前記第1の層との間に配置される第2の層を含み、
同じ現像液(例えば、シクロペンタノン)中における前記第2の層の溶解速度に対する第1の層の溶解速度の比が1未満であるドライフィルム構造体であって、
さらに保護層を含んで、前記第1の層が前記第2の層と前記任意の保護層との間に配置されていてもよい、前記ドライフィルム構造体を特徴とする。
いくつかの実施形態では、本開示は、上記のドライフィルム構造体の調製方法を特徴とする。この方法は、
(a)キャリア層を組成物でコーティングして、第2の層を形成すること;
(b)前記第2の層を乾燥すること;
(c)前記第2の層を組成物でコーティングして、第1の層を形成すること;
(d)前記第1の層を乾燥すること;及び
(e)任意で、保護層を前記第1の層に付与すること
を含む。
いくつかの実施形態では、本開示は、本明細書に記載される感光性積層構造体を調製するためのプロセスを特徴とする。このプロセスは例えば、
(a)上記のドライフィルム構造体から前記任意の保護層を除去すること、及び
(b)工程(a)で得られた構造体を電子基材上に適用してラミネートを形成すること
を含みうる。
いくつかの実施形態では、本開示は、本明細書に記載される感光性積層構造体を調製するためのプロセスを特徴とする。このプロセスは、
(a)第1の層を形成する組成物で基材をコーティングして、第1のコーティングされた基材を形成すること;
(b)第1のベーキング工程において、前記第1のコーティングされた基材をベークして、前記第1の層を形成すること;
(c)キャリア層と前記第2の層とを含むドライフィルム構造体を前記第1の層にラミネートして、前記第2の層が前記第1の層と前記キャリア層との間にある第2のコーティングされた基材を形成すること;及び
(d)前記第1の層へのラミネートの後に前記キャリア層を除去すること
を含みうる。
いくつかの実施形態では、本開示が本明細書に記載される感光性積層構造体を調製するためのプロセスを特徴とする。このプロセスは、
(a)キャリア層とポリマー層とを含むドライフィルム構造体を基材にラミネートして、前記ポリマー層で形成される前記第1の層が前記基材と前記キャリア層との間に配置された第1のコーティングされた基材を形成すること;
(b)前記ラミネート工程の後に前記キャリア層を除去すること;
(c)前記第2の層を形成する組成物で前記第1の層をコーティングして、第2のコーティングされた基材を形成すること;及び
(d)ベーキング工程において、前記第2のコーティングされた基材をベークして、前記第1の層が前記第2の層と前記基材との間に配置されるように、前記第2の層を形成すること
を含みうる。
いくつかの実施形態では、本開示が本明細書に記載される感光性積層構造体を調製するためのプロセスを特徴とする。このプロセスは、
(a)第1のキャリア層と第1の層とを含むドライフィルム構造体を基材にラミネートして、前記第1の層が前記基材と前記第1のキャリア層との間に配置された第1のコーティングされた基材を形成すること;
(b)前記ラミネート工程の後に前記第1のキャリア層を除去すること;
(c)第2のキャリア層と前記第2の層とを含むドライフィルム構造体を前記第1の層にラミネートして、前記第2の層が第1の層と第2のキャリア層との間に配置された第2のコーティングされた基材を形成すること;及び
(d)前記第1の層へのラミネートの後に前記第2のキャリア層を除去すること
を含みうる。
本開示に記載される例示的な感光性積層構造体を示す。 本開示に記載される例示的なドライフィルム構造体を示す。
いくつかの実施形態では、本開示は感光性積層構造体(例えば、二層構造体)を特徴とする。感光性積層構造体は第1の層(例えば、第1のポリマー層)および第2の層(例えば、第2のポリマー層)を含むことができる。第1の層は感光性の誘電体層とすることができ、第2の層は、感光性層とすることができる。現像液(例えば、シクロペンタノン)中の第1の層の溶解速度は同じ現像液(例えば、シクロペンタノン)中の第2の層の溶解速度よりも小さくすることができる。いくつかの実施形態では、感光性積層構造体は、第1の層および第2の層がその上に配置される電子基材をさらに含むことができる。例示的な感光性積層構造体が図1に示されている。いくつかの実施形態では、図1の膜Aが第1の層であり、図1の膜Bが第2の層である。いくつかの実施形態において(例えば、感光性積層構造体がドライフィルムである場合)、図1の膜Aは第2の層であり得、図1の膜Bは第1の層であり得る。本明細書で使用される用語「膜/フィルム(film)」は、用語「層」と互換的に使用される。
いくつかの実施形態では、感光性積層構造体における電子基材はシリコン基材、銅基材、アルミニウム基材、チタン基材、銅シード層を有する基材、酸化シリコン基材、窒化シリコン基材、亜硝酸チタン基材、ガラス基材、有機積層基材、または誘電材料基材である。いくつかの実施形態において、電子基材は上述の材料から作製されたウェーハ(例えば、シリコンウェーハまたは銅ウェーハ)であり得る。
いくつかの実施形態では、第2の層が(a)少なくとも1種のポリマー、(b)少なくとも1つの溶解度スイッチング化合物(SSC)、並びに(c)光酸発生剤(PAG)、感光性ラジカル開始剤、および光増感剤と開始剤との組合せからなる群より選択される少なくとも1つの光活性化合物を含むことができる。
概して、第1の層の現像液(例えば、シクロペンタノン)中の溶解速度は(S1)と定義することができ、第2の層の同じ現像液(例えば、シクロペンタノン)中の溶解速度は(S2)と定義することができる。いくつかの実施形態において、(S2)に対する(S1)の比率は、1未満であり得る。例えば、(S2)に対する(S1)の比率は約0.9未満(例えば、約0.85未満、約0.80未満、約0.75未満、約0.70未満、約0.65未満、または約0.60未満)且つ約0.05超(例えば、約0.1超、約0.15超、約0.2超、約0.25超、約0.3超、または約0.35超)であり得る。理論に束縛されることを望むものではないが、(S2)に対する(S1)の比率が1未満である場合、本明細書に記載される感光性積層構造体は好適な化学線で露光されて現像剤(例えば、シクロペンタノン)を用いて現像された後に、傾斜した像プロファイルを容易に形成することができると考えられる。例えば、図1に示す例示的な感光性積層体が第1の層として膜Aを含み、第2の層として膜Bを含む場合、(S2)に対する(S1)の比率が1未満であれば、第2の層は、現像剤中で第1の層より高い溶解速度を有することになる。したがって、感光性積層構造体が適切な化学線で露光され、現像剤によって現像された後、第2の層は、第1の層よりも大きい度合いで現像剤によって溶解され、それによって、傾斜したレリーフ画像を生じる。
一般に、第1の層は、第2の層と混合してはならない。いくつかの実施形態において、第1の層は、第2の層を形成するために使用されるキャスティング溶剤中で認め得るほどの溶解度を有さない。例えば、第1の層は、第2の層のフィルムを形成するために使用されるキャスティング溶剤中で約25℃の温度で約1%未満の溶解度を有する。いくつかの実施形態において、第2の層は、第1の層を形成するために使用されるキャスティング溶剤中で認め得るほどの溶解度を有さない。例えば、第2の層は、第1の層のフィルムを形成するために使用されるキャスティング溶剤中で約25℃の温度で約1%未満の溶解度を有する。いくつかの実施形態では、第1の層および第2の層は本質的に非混和性のままである。
いくつかの実施形態では、第2の層が(a)少なくとも1種のポリマー、(b)少なくとも1種の溶解度スイッチング化合物(SSC)、(c)光酸発生剤(PAG)、感光性ラジカル開始剤、光増感剤と開始剤のと組合せからなる群より選択される少なくとも1つの光活性化合物、並びに(d)少なくとも1種の溶剤を含む感光性組成物(例えば、ネガティブトーン感光性組成物)から形成される。
いくつかの実施形態では、第2の層を調製するために使用することができる少なくとも1種のポリマーは、少なくとも1つの(メタ)アクリレートポリマーである。本明細書中で使用される用語「(メタ)アクリレート」は、アクリレート化合物およびメタクリレート化合物の両方を含む。適切な(メタ)アクリレートポリマーの例としては、ポリ(ベンジルメタクリレート)、ポリ(ブチルメタクリレート)、ポリ(tert−ブチルメタクリレート)、ポリ(ブチルメタクリレートコ−イソブチル メタクリレート)、ポリ(ブチルメタクリレートコ−メチルメタクリレート)、ポリ(シクロヘキシルメタクリレート)、ポリ(2−エチルヘキシルメタクリレート)、ポリ(エチルメタクリレート)、ポリ(ヘキサデシルメタクリレート)、ポリ(ヘキシルメタクリレート)、ポリ(イソブチルメタクリレート)、ポリ(イソプロピルメタクリレート)、ポリ(ラウリルメタクリレートコ−エチレングリコールジメタクリレート)、ポリ(メチルメタクリレート)、ポリ(メチルメタクリレートコ−エチルアクリレート)、ポリ(メチルメタクリレートコ−エチレングリコールジメタクリレート)、ポリ(オクタデシルメタクリレート)、ポリ(テトラヒドロフルフリルメタクリレート)、ポリ(テトラヒドロフルフリルメタクリレートコ−エチルメタクリレート)、ポリ(ブチル アクリレート)、ポリ(エチルアクリレート)、ポリ(2−エチルヘキシルアクリレート),及びポリ(メチルアクリレート)が挙げられるが、これらに限定されない。
いくつかの実施形態では、第2の層を調製するために使用することができる少なくとも1種のポリマーは、少なくとも1つの(メタ)アクリレート、ウレタン、アミド、イミド、エステル、エーテル、および/または炭化水素部分を含むポリマーである。いくつかの実施形態では、第2の層を調製するために使用することができる少なくとも1種のポリマーは、(メタ)アクリレート、ウレタン、アミド、イミド、エステル、エーテル、エチレン性不飽和炭化水素、およびそれらの組み合わせからなる群より選択されるモノマーから作製されるポリマーである。
少なくとも1つのエーテル部分を含有するポリマーの例としてはポリエチレングリコール(PEG)、ポリプロピレングリコール(PPG)、ポリ(メチルビニルエーテル)、ポリ(メチルビニルエーテル−アルト−無水マレイン酸)およびポリテトラメチレングリコール(PTMG)が挙げられるが、これらに限定されない。
エチレン性不飽和炭化水素を含有するモノマーから製造されるポリマーの例としてはポリオレフィン(例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、およびポリスチレン)およびポリシクロオレフィン(例えば、ポリノルボルネン)が挙げられるが、これらに限定されない。
いくつかの実施形態では、第2の層を調製するために使用することができる少なくとも1種のポリマーはノボラックポリマーである。
いくつかの実施形態では、第2の層を調製するために使用することができる少なくとも1種のポリマーは、化学線で露光した後にSSCと反応して、現像液(例えば、シクロペンタノン)中における第2の層の溶解度を低下させることができる反応性基(reactive group)を有する。
いくつかの実施形態では、第2の層を調製するために使用することができる少なくとも1種のポリマーは、水酸基(−OH)、チオール基(−SH)、アミノ基(−NH)、またはカルボキシ基(−COOH)などの反応性基を含む。ヒドロキシル反応性基を有するこのようなポリマーの例は、ポリ(イソボルニルメタクリレート−コ−ヒドロキシエチルメタクリレート)である。いくつかの実施形態では反応性基がヒドロキシルである場合、第2の層は光酸発生剤 (PAG)およびSSCとしての2つ以上のヒドロキシル基を有する化合物を含むことができる。
いくつかの実施形態では、少なくとも1種のポリマーの量は、第2の層の感光性組成物の全重量の少なくとも約5重量%(例えば、少なくとも約10重量%、少なくとも約15重量%、少なくとも約20重量%、または少なくとも約25重量%)且つ/または約50重量%以下(例えば、約45重量%以下、約40重量%以下、約35重量%以下、または約30重量%以下)であり得る。
溶解度スイッチング化合物(SSC)は一般に、第1の層および第2の層の両方の溶解速度においてコントラストを生じることを助ける(例えば、化学線への暴露の前後で)。いくつかの実施形態では、SSCは、化学線に曝露した後に第1の層または第2の層中のポリマーを架橋して現像液中におけるこれらのポリマーの溶解度を低下させる架橋剤であってもよい。いくつかの実施形態では、SSCは、他のSSC化合物、または第1または第2の層中のポリマー上の官能基と反応することが可能な官能基を少なくとも1つ(例えば、少なくとも2つ、少なくとも3つ、または少なくとも4つ)有する。SSCは、モノマーまたはオリゴマーであり得る。オリゴマーは、2つ以上のモノマー単位を含有することができる。このようなモノマー単位/オリゴマーの例は、以下のタイプの1つ以上に基づく: (メタ)アクリレート、エステル、ビニル化合物(例えば、ビニルアルコール)、ウレタン、尿素、イミド、アミド、カルボキサゾール、カーボネート、ピラノース、シロキサン、尿素ホルムアルデヒドおよびメラミンホルムアルデヒド。いくつかの実施形態では、SSCは、別のSSC化合物上の官能基または第1または第2の層中のポリマー上の官能基とラジカル反応または熱反応することが可能な末端反応性官能基および/またはペンダント反応性官能基を少なくとも1つ含む。ある実施形態では、SSC上の反応性官能基は二重結合または三重結合を含む。
SSC上の反応性官能基の好適な例としてはビニル、アリル、ビニルエーテル、プロペニルエーテル、(メタ)アクリロイル、−SiHおよび−SHが挙げられるが、これらに限定されない。
一実施形態では、SSCの適切な例にはウレタンアクリレートオリゴマーが含まれるが、これらに限定されない。用語「ウレタンアクリレートオリゴマー」は、ウレタン結合を含み、(メタ)アクリレート(例えば、アクリレートまたはメタクリレート)官能基を有する化合物のクラス、例えば、ウレタンマルチ(メタ)アクリレート、マルチウレタン(メタ)アクリレート、およびマルチウレタンマルチ(メタ)アクリレートを指す。ウレタン(メタ)アクリレートリゴマーの種類は、例えば、Coadyらの米国特許第4,608,409号)およびChisholmらの米国特許第6,844,950号によって記載されている。その他のSSCの具体例としては、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート, テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート, ジビニルベンゼン、エトキシル化ビスフェノールA−ジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールビス(アリルカーボネート)、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ジトリメチロールプロパンテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート,ジペンタエリスリトールペンタ−/ヘキサ−(メタ)アクリレート、イソシアヌレートトリ(メタ)アクリレート,ビス(2−ヒドロキシエチル)−イソシアヌレートジ(メタ)アクリレート、1,3−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,4−ブタンジオ−ルジ(メタ)アクリレート、メチル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、(メタ)アクリレート変性尿素−ホルムアルデヒド樹脂、(メタ)アクリレート変性メラミン−ホルムアルデヒド樹脂、及び(メタ)アクリレート変性セルロースが挙げられるが、これらに限定されない。
SH基を含むSSC化合物の例としてはトリメチロ−ルプロパントリス(2−メルカプトアセテ−ト)、ペンタエリスリトールテトラキス(2−メルカプトアセテ−ト)、ジペンタエリスリトールヘキサキス(3−メルカプトプロピオネート)、およびエトキシル化トリメチロールプロパントリ−3−メルカプトプロピオネートが挙げられるが、これらに限定されない。ビニルエ−テル基を含むSSC化合物の例としては1,4−ブタンジオールジビニルエーテル、1,4−シクロヘキサンジメタノールジビニルエ−テル、ジ(エチレングリコール)ジビニルエーテル、ポリ(エチレングリコール)ジビニルエ−テル、およびビス[4−(ビニルオキシ)ブチル](4−メチル−1,3−フェニレン)ビスカルバメートが挙げられるが、これらに限定されない。SiH基を含むSSC化合物の一例は、Hybrid Plasticsから入手可能なオクタシランPOSS(登録商標)SH1310である。
少なくとも二つのヒドロキシル基を有する溶解性スイッチ化合物(SSC)の例としては、エチレングリコール、ジエチレングリコール、ポリエチレングリコール、プロピレングリコール、ジプロピレングリコール、トリプロピレングリコール、ポリプロピレングリコール、グリセロール、ブタンジオール、ペンタンジオール、ヘキサンジオール、ソルビトール、1,4−シクロヘキサンジオール、4,8−ビス(ヒドロキシメチル)−トリシクロ(5.2.1.0/2,6)デカン、2−オキセパノンの2−エチル−2−(ヒドロキシメチル)−1,3−プロパンジオールとの共重合体(2−oxepanone co−polymer with 2−ethyl−2−(hydroxymethyl)−1,3−propanediol)、1,1,1−トリス(4−ヒドロキシフェニル)エタン、アントラロビン、2,7−ジヒドロキシナフタレン,4,4−ビフェノ−ル,3−メトキシカテコ−ル、ポリ(ヒドロキシスチレン)、ノボラック、及びカリックスアレ−ンが挙げられるが、これらに限定されない。
いくつかの実施形態では、成分(b)(SSC)の量は、第2の層の感光性組成物の全重量の少なくとも約1重量%(例えば、少なくとも約2重量%、少なくとも約3重量%、少なくとも約4重量%、または少なくとも約5重量%)且つ/または約25重量%以下(例えば、約20重量%以下、約15重量%以下、または約10重量%以下)であり得る。
第2の層に存在する光活性化合物は、光酸発生剤、感光性ラジカル開始剤、および光増感剤と開始剤との組合せからなる群より選択することができる。高エネルギー放射線に露出されるとフリーラジカルを生成する開始剤(感光性ラジカル開始剤または光開始剤としても知られている)の具体例としては、NCI831(ADEKA社から入手可能)、1,8−オクタンジオン、1,8−ビス[9−(エチルヘキシル)−6−ニトロ−9H−カルバゾル−3−イル]−1,8−ビス(O−アセチルオキシム),2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン(BASFからIrgacure184)、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトンとベンゾフェノンとの混合物(BASFからIrgacure500)、2,4,4−トリメチルペンチルホスフィンオキシド(BASFからIrgacure1800、1850、1700),2,2−ジメトキシ−2−アセトフェノン(BASFからIrgacure651),ビス(2,4,6トリメチルベンゾイル)フェニルホスフィンオキシド(BASFからIrgacure819)2−メチル−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノプロパン−1−オン(BASFからIrgacure907)、(2,4,6−トリメチルベンゾイル)ジフェニルホスフィンオキシド(BASFからLucerin TPO)、エトキシ(2,4,6−トリメチルベンゾイル)フェニルホスフィンオキシド(BASFからLucerin TPO−L)、ホスフィンオキシドとヒドロキシケトンとベンゾフェノン誘導体との混合物(SartomerからESACURE KT046)、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン(MerckからDarocur 173)、ベンゾフェノン、2−クロロチオキサントン、2−メチルチオキサントン、2−イソプロピルチオキサントン、ベンゾジメチルケタール、1,1,1−トリクロロアセトフェノン、ジエトキシアセトフェノン、m−クロロアセトフェノン、プロピオフェノン、アントラキノン、ジベンゾスベロンなどが挙げられるが、これらに限定されない。
ノニオン系光開始剤の具体例としては、(5−トルイルスルホニルオキシイミノ−5H−チオフェン−2−イリデン)−2−メチルフェニル−アセトニトリル(BASFからIrgacure121)、フェナシルp−メチルベンゼンスルホネート、ベンゾインp−トルエンスルホネート、(p−トルエン−スルホニルオキシ)メチルベンゾイン、3−(p−トルエンスルホニルオキシ)−2−ヒドロキシ−2−フェニル−1−フェニルプロピルエーテル,N−(p−ドデシルベンゼンスルホニルオキシ)−1,8−ナフタルイミド,N−(フェニル−スルホニルオキシ)−1,8−ナフタルイミド,ビス(シクロヘキシルスルホニル)ジアゾメタン,1−p−トルエンスルホニル−1一シクロヘキシルカルボニル−ジアゾメタン、2−ニトロベンジルp−トルエンスルホネート、2,6−ジニトロベンジルp−トルエンスルホネート、2,4−ジニトロベンジルp−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート等が挙げられるが、これらに限定されない。
あるいは、光増感剤と開始剤(例えば、化学線によって活性化されない開始剤)との組み合わせが、感光性組成物において使用され得る。この選択肢では、光増感剤が光を吸収し、エネルギーを開始剤に伝達して、SSCとの反応を開始させることができる。光増感剤の例としては9−メチルアントラセン、アントラセンメタノール、アセナフチレン(acenaththalene)、チオキサントン、メチル−2−ナフチルケトン、4−アセチルビフェニル、および1,2−ベンゾフルオレンが挙げられるが、これらに限定されない。
増感剤によって活性化される開始剤の具体例としては、ベンゾイルペルオキシド、シクロヘキサノンペルオキシド、ラウロイルペルオキシド、t−アミルペルオキシベンゾエート、tert−ブチルヒドロペルオキシド、ジクミルペルオキシド、クメンヒドロペルオキシド、コハク酸過酸化物、ジ(n−プロピル)ペルオキシジカーボネート、2,2−アゾビス(イソブチロニトリル)、2,2−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)、ジメチル−2,2−アゾビスイソブチレート,4,4−アゾビス(4−シアノ吉草酸)、アゾビスシクロヘキサンカルボニトリル,2,2−アゾビス(2−メチルブチロニトリル)等が挙げられるが、これらに限定されない。
第2の層に含まれ得るPAGのクラスとしてはオキシムスルホネート、トリアジド、ジアゾキノンスルホネート、またはスルホン酸のスルホニウム塩もしくはヨードニウム塩が挙げられるが、これらに限定されない。適切なPAGの例としては以下が挙げられるが、これらに限定されない。
Figure 0006898031
あるいは、酸はPAGおよび増感剤の組み合わせによって生成され得る。このようなシステムでは、放射線のエネルギーは増感剤によって吸収され、何らかの方法でPAGに伝達され得る。伝達されたエネルギーは、PAGを分解させ、光酸(photoacid)を発生させる。このような実施形態では、任意の適切な光酸発生剤化合物を使用することができる。スルホン酸を生成する光酸発生剤の適切なクラスとしては、スルホニウム塩またはヨードニウム塩、オキシミドスルホネート、ビススルホニルジアゾメタン化合物、およびニトロベンジルスルホネートエステルが挙げられるが、これらに限定されない。例えば、適切な光酸発生剤化合物は、米国特許番号第5,558,978号および5,468,589号(これらは、本明細書中で参考として援用される)に開示されている。他の適切な光酸発生剤は、米国特許第5,554,664号に開示されているような、パーフルオロアルキルスルホニルメチドおよびパーフルオロアルキルスルホニルイミドである。
光酸発生剤のさらに他の好適な例としては、臭化トリフェニルスルホニウム、塩化トリフェニルスルホニウム、ヨウ化トリフェニルスルホニウム、ヘキサフルオロリン酸トリフェニルスルホニウム、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオロアルセネート、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオロアルセネート、トリフェニルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、塩化ジフェニルエチルスルホニウム、塩化フェナシルジメチルスルホニウム、塩化フェナシルテトラヒドロチオフェニウム、塩化4−ニトロフェナシルテトラヒドロチオフェニウム、および塩化4−ヒドロキシ−2−メチルフェニルヘキサヒドロチオピリリウムが挙げられるが、これらに限定されない。
いくつかの実施形態では、光活性化合物の量は第2の層の感光性組成物の全重量の少なくとも約0.0001重量%(例えば、少なくとも約0.001重量%、少なくとも約0.01重量%、少なくとも約0.1重量%、または少なくとも約1重量%)且つ/または約20重量%以下(例えば、約15重量%以下、約10重量%以下、または約5重量%以下)であり得る。
第1の層または第2の層を形成するために使用される感光性組成物に有用な適切な溶剤としては、アルコール、ケトン、ラクトン、エーテル、アミド、イミドおよびエステルが挙げられる。溶剤は典型的には組成物の全ての成分を溶解し、良好なフィルムをキャストし、組成物中の成分間のいかなる反応の妨害も回避し、他の層中の成分の溶解も回避すべきである。有機溶剤の適当な例としては、ガンマブチロラクトン(GBL)、N−メチル−2−ピロリドン(NMP)、ジメチルイミダゾリジノン、N−メチルカプロラクタム、N−メチルプロピオンアミド、N,N−ジメチルアセトアミド(DMAc)、ジメチルスルホキシド(DMSO)、N,N−ジメチルホルムアミド(DMF)、N,N−ジエチルホルムアミド、ジエチルアセトアミド、メチルエチルケトン(MEK)、メチルイソブチルケトン(MIBK)、2−ヘプタノン、シクロペンタノン(CP)、シクロヘキサノン、n−ブチルアセテート(nBA)、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート(PGMEA)、プロピレングリコールメチルエーテル(PGME)、乳酸エチル(EL)、乳酸プロピル,3−メチル−3−メトキシブタノール、テトラリン、イソホロン、エチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル、トリエチレングリコールモノエチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、メチル3−メトキシプロピオネート、エチル3−エトキシプロピオネート、ジエチルマロネート、エチレングリコール1,4:3,6−ジアンヒドロソルビトール、2,5−ジメチルエーテル(2,5−ジメチルイソソルビド)、1,4:3,6−ジアンヒドロソルビトール2,5−ジエチルエーテル(2,5−ジエチルイソソルビド)及びそれらの組み合わせが挙げられるが、これらに限定されない。好ましい有機溶剤としては、n−ブチルアセテート(nBA)、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート(PGMEA)、プロピレングリコールメチルエーテル(PGME)、乳酸エチル(EL)、乳酸プロピルおよび3−メチル−3−メトキシブタノールが挙げられる。これらの溶剤は、個々にまたは組み合わせて使用することができる。
いくつかの実施形態では、第1の層は、(a)少なくとも1つのポリイミドポリマー(例えば、完全にイミド化されたポリイミドポリマー)、(b)少なくとも1つの溶解度スイッチング化合物(SSC)(例えば、上述したもの)、(c)感光性ラジカル開始剤および光増感剤と開始剤との組合せ(例えば、上述したもの)からなる群より選択される少なくとも1つの光活性化合物、並びに(d)少なくとも1つの溶剤(例えば、上述したもの)を含む、感光性誘電組成物(例えば、ネガティブトーン組成物)から調製された感光性誘電層とすることができる。第1の層におけるSSCは第2の層に関連して上述したSSCと同じものから選択することができ、第2の層におけるSSCと同一であっても異なっていてもよい。一般に、本明細書に記載される誘電層は、1kHz〜100GHzの周波数で測定される場合に2〜5の誘電率を有する。
いくつかの実施形態では、第1の層に存在する少なくとも1つのポリイミドポリマーは、少なくとも約180℃(例えば、少なくとも約190℃、少なくとも約200℃、少なくとも約210℃、または少なくとも約220℃)且つ/または約300℃以下(例えば、約290℃以下、約280℃以下、約270℃以下、約260℃以下、または約250℃以下)のガラス転移点(Tg)を有する。
ポリイミドを形成するイミド化は、イミド環構造に起因する1770〜1700cm−1の赤外スペクトルにおける特徴的な吸収の観察によって確認することができる。本明細書中で使用される場合、「完全にイミド化された」という語は、本発明のポリイミドポリマーが少なくとも約90%(例えば、少なくとも約95%、少なくとも約98%、少なくとも約99%、または約100%)イミド化されていることを意味する。
第1の層は、米国特許出願公開公報2014/0343199号および2015/0219990号、ならびに米国特許出願第62/412,363号、第62/415,550号、第62/416,756号(これらのすべては、本明細書中で参考として援用される)に記載されているような感光性ポリイミド組成物を用いて形成することができる。いくつかの実施形態では、第1の層に存在する少なくとも1つのポリイミドは、ポリアミック酸でもポリアミックエステルでもなく、上述の特許出願に記載されているようなイミド化前のポリイミド(pre−imidized polyimide)である。いくつかの実施形態では、第1の層に存在する少なくとも1つのポリイミドは、繰り返し単位にインダン基を含むポリイミドである。
いくつかの実施形態では、第1の層を調製するために使用することができるポリイミドポリマーは、水酸基(−OH)、チオ−ル基(−SH)、またはカルボキシ基(−COOH)などの反応性基を含有する。
他の任意の添加剤を、本開示の第1または第2の層を調製するための感光性組成物に添加することが可能であり、当該添加剤としては信頼性向上剤(reliability enhancer)、接着促進剤、界面活性剤、ナノ粒子、可塑剤、染料、および顔料が挙げられるが、これらに限定されない。これらの追加的添加剤の量は、感光性組成物の全重量を基準として0重量%〜約15重量%の範囲であり得る。
感光性組成物の信頼性を改善(例えば、耐薬品性および耐熱性を改善)できる信頼性向上剤化合物の例としては、N−(3−アクリルオキシ−2−ヒドロキシプロピル)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、(アクリルキシメチル)フェネチルトリメトキシシラン、アクリルオキシメチルトリメトキシシラン、アクリルオキシメチルトリエトキシシラン、メタクリルオキシメチルトリメトキシシラン、メタクリルメチルトリエトキシシラン、(3−アクリルオキシプロピル)メチルジメトキシシラン、(3−アクリルオキシプロピル)トリメトキシシラン、(3−アクリルオキシプロピル)トリエトキシシラン、(3−メタクリルオキシプロピル)トリメトキシシラン、(3−メタクリルオキシプロピル)トリエトキシシラン、(4−アクリルオキシブチル)トリメトキシシラン、(4−アクリルオキシブチル)トリエトキシシラン、(4−メタクリルオキシブチル)トリメトキシシラン、(4−メタクリルオキシブチル)トリエトキシシラン、(2−アクリルオキシエチル)トリメトキシシラン、(2−アクリルオキシエチル)トリエトキシシラン、(2−メタクリルオキシエチル)トリメトキシシラン、(2−メタクリルオキシエチル)トリエトキシシラン、(メタクリルオキシメチル)−メチルジエトキシシラン、(メタクリルオキシメチル)メチルジメトキシシラン、3−メタクリルオキシプロピルビス(トリメチルシロキシ)メチルシラン、メタクリルオキシプロピルトリス(メトキシエトキシ)シラン、アリルトリメトキシシラン、1,3−ジアリルテトラキス(トリメチルシロキシ)ジシロキサン、ビニルトリメトキシシラン、及びビニルトリイソプロポキシシランが挙げられるが、これらに限定されない。他の信頼性化合物は、例えば、米国仮出願第62/367,806号に開示されている。
好適な接着促進剤は、Edwin P. Plueddemannの「シランカップリング剤」(1982年、Plenum Press、ニューヨーク)に記載されている。接着促進剤の種類としてはメルカプトアルコキシシラン、アミノアルコキシシラン、エポキシアルコキシシラン、グリシジルオキシアルコキシシラン、メルカプトシラン、シアナトシランおよびイミダゾールシランが挙げられるが、これらに限定されない。適切な接着促進剤の例としては、ガンマ−アミノプロピルトリメトキシシラン, N−フェニルアミノプロピルトリメトキシシラン、N−メチルアミノプロピルトリメトキシシラン、(N,N−ジエチル−3−アミノプロピル)トリメトキシシラン、ビス[3−(メチルアミノ)プロピル]トリメトキシシラン、N’−(3−トリメトキシシリルプロピル)ジエチレントリアミン、3−(1,3ジメチルブチリデン)アミノプロピルトリメトキシシラン、ガンマ−グリシジルオキシプロピルメチルジメトキシシラン、ガンマ−グリシジルオキシプロピル−メチルジエトキシシラン、グリシジルオキシプロピルトリメトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリエトキシシラン、(3−トリエトキシシリルプロピル)t−ブチルカルバメート、トリエトキシシリルプロピルエチルカルバメート、3−(トリエトキシシリル)プロピル コハク酸無水物、トリエトキシシリルプロピルマレインアミド酸、イソシアナートプロピルトリメトキシシラン、2−シアナトエチルトリメトキシシラン、N−(3−トリエトキシシリルプロピル)−4,5−ジヒドロイミダゾール)、ビス[3−(トリエトキシシリル)プロピル]ジスルフィド、およびガンマ−メルカプトプロピル−メチルジメトキシシランが挙げられるが、これらに限定されない。いくつかの実施形態では、(メタ)アクリレート含有反応性官能化合物とイミダゾール含有接着促進剤との組み合わせをネガティブトーンポリイミド組成物に含ませて、シリコン、酸化ケイ素、金属、プラスチックなどの様々な基材への優れた信頼性および良好な接着性を有するドライフィルムを形成することができる。
適切な界面活性剤の例としては、日本特許出願公開(特開)昭62−36663号公報、特開昭61−226746号公報、特開昭61−226745号公報、特開昭62−170950号公報、特開昭63−34540号公報、特開平7−230165号公報、特開平8−62834号公報、特開平9−54432号公報および特開平9−5988号公報に記載される界面活性剤が挙げられるが、これらに限定されない。
本開示のいくつかの実施形態は、上述の感光性積層構造体を調製するためのプロセスを含む。この方法は、(a)第1の層を形成する組成物で基材をコーティングして、第1のコーティングされた基材を形成すること、(b)第1のベーキング工程において、第1のコーティングされた基材をベークして、第1の層を形成すること、(c)第2の層を形成する組成物で第1の層をコーティングして、第2のコーティングされた基材を形成すること、及び(d)第2のベーキング工程において、第2のコーティングされた基材をベークして、第1の層の上に第2の層を形成すること、を含むことができる。
本開示のいくつかの実施形態は、本明細書に記載される感光性積層構造体を使用して傾斜レリーフ画像を作成するためのプロセスを含む。この方法は(a)感光性積層構造体を、マスクを通して化学線で露光して、パターン状に露光された積層構造体を形成すること;(b)任意で、第3のベーキング工程において、パターン状に露光された感光性積層構造体を(例えば、感光性積層構造体の露光部分が架橋または硬化されるように)ベークすること;(c)パターン状に露光された感光性積層構造体の少なくとも一部を現像剤で現像して(例えば、非露光領域の少なくとも一部を除去することによって)、積層構造体上に傾斜レリーフ画像を生成すること;(d)任意で、レリーフ画像を溶剤または複数の溶剤の混合物でリンスすること;および(e)任意で、第4のベーキング工程において、傾斜レリーフ画像を有する積層構造体をベークすること、を含むことができる。
理論に束縛されることを望むものではないが、現像剤中における第1の層および第2の層の溶解速度の差異によって、約80゜以下(例えば、約77゜以下、約75゜以下、約70゜以下、約65゜以下、または約60゜以下)且つ/または少なくとも約60゜(例えば、少なくとも約63゜、少なくとも約66゜、少なくとも約70゜、または少なくとも約75゜)の壁角を有する傾斜レリーフ像の形成が可能となると考えられる。これは、パッケージングにおける下流プロセス(例えば、金属堆積)ではより浅い角度(例えば、約80°以下)を有するレリーフ画像が必要とされることから、有利である。いくつかの実施形態では、理論に束縛されることを望むものではないが、第2の層(感光性積層構造体における最上層)は第1の層(感光性積層構造体における下層)よりも高い溶解速度を有するので、第2の層は現像プロセス中に第1の層よりも多く溶解すると考えられる。この増加した溶解度によって、下層よりも上層におけるより大きな開口部が作り出され、これによってより浅い壁角度(例えば、約80°以下)がもたらされる。2つの層の異なる溶解特性により、下流プロセスのために所望のプロファイルが作り出される。
いくつかの実施形態では、未露光の感光性積層構造体の少なくとも一部が除去された後に、第1および第2の層の開放領域に銅層が堆積される。
いくつかの実施形態では、第1および第2の層は任意の適切な方法によって形成することができる。かかる方法としてはスピンコーティング、スリットコーティング、スプレ−コーティング、浸漬コーティング、およびインクジェットが挙げられるが、これらに限定されない。
いくつかの実施形態では、固定温度のホットプレートに接触させるかまたは近接させて加熱すること、または1〜20℃/分の速度で温度を上昇させることによって、ベーキング工程を実施することができる。いくつかの実施形態では、ベーキング工程は炉内で固定温度で実施することができ、または減圧下または大気圧下で1〜20℃/分の速度で温度を上昇させることによって実施することができる。使用されるベーキング方法とは無関係に、ベーキング工程は、単一工程または複数工程のいずれで実施してもよい。好適なベーキング手段の例としてはホットプレート、赤外ランプ、コンベクションオーブン、およびインクジェットプリントヘッド上の加熱素子(thermal heating elements)が挙げられるが、これらに限定されない。
いくつかの実施形態では、露光工程は、光、または他の化学線(例えば、紫外線、可視光、電子ビーム放射、またはX線)を使用することによって完了する。i線(365nm)、h線(405nm)、またはg線(436nm)のUV光の使用が好ましい。一般に、露光工程は、露光領域の溶解速度の変化をもたらすことができる。
いくつかの実施形態では、第1の層の上部に第2の層を含む感光性積層構造体を、マスクまたはテンプレートを通して光または他の化学線で露光した後、第1の層および第2の層の未露光部分を、現像剤を使用して除去して、パターンを形成する。いくつかの実施形態において、現像剤の例には、有機溶剤または複数の有機溶剤の混合物が含まれる。現像剤はシクロペンタノンに限定されない。現像剤の適当な例としては、ガンマ−ブチロラクトン(GBL)、N−メチル−2−ピロリドン(NMP)、ジメチルイミダゾリジノン、N−メチルカプロラクタム、N− メチルプロピオンアミド、Ν,Ν−ジメチルアセトアミド(DMAC)、ジメチルスルホキシド(DMSO)、N,N−ジメチルホルムアミド(DMF)、Ν,Ν−ジエチルホルムアミド、ジエチルアセトアミド、メチルエチルケトン(MEK)、メチルイソブチルケトン(MIBK)、2−ヘプタノン、シクロペンタノン(CP)、シクロヘキサノン、酢酸n−ブチル(nBA)、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート(PGMEA)、プロピレングリコールメチルエーテル(PGME)、乳酸エチル(EL)、乳酸プロピル、3−メチル−3−メトキシブタノール、テトラリン、イソホロン、エチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル、トリエチレングリコールモノエチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、ジエチルマロネート、エチレングリコールおよびそれらの混合物が挙げられるが、これらに限定されない。好ましい現像剤は、ガンマ−ブチロラクトン(GBL)、シクロペンタノン(CP)、シクロヘキサノン、乳酸エチル(EL)、酢酸n−ブチル(nBA)およびジメチルスルホキシド(DMSO)である。より好ましい現像剤は、ガンマ−ブチロラクトン(GBL)、シクロペンタノン(CP)およびシクロヘキサノンである。これらの現像剤は特定の組成物およびリソグラフィープロセスに対してレリーフ像品質を最適化するために、個々に、または2つ以上の組み合わせで使用することができる。いくつかの実施形態では、第1の層および第2の層を除去するために使用される現像液は同じである。いくつかの実施形態では、第1の層を除去するために使用される現像剤(第1の現像剤)は、第2の層を除去するために使用される現像剤(第2の現像剤)とは異なる。このような場合、第2の現像剤における第2の層の現像速度は、第1の現像剤における第1の層の現像速度よりも高くなければならない。
いくつかの実施形態では、現像は、上述の現像剤を感光性構造体上に噴霧すること、感光性構造体を現像剤中に浸漬すること、液溜まり(puddle)によるオントラック現像や、現像剤中に浸漬しながら感光性構造体に超音波を印加すること、基材を回転させながら現像剤を噴霧することなどの任意の適切な方法によって実施することができる。現像時間は各層について約20秒〜約3分(例えば、約30秒〜約2分、または約45秒〜約90秒)の範囲であり得る。いくつかの実施形態では、複数の現像工程を各層に用いることができる。いくつかの実施形態では、2つまたは3つの現像工程を各層に用いることができる。いくつかの実施形態では、2つまたは3つの現像工程が用いられ、各現像工程は約25秒〜約45秒かかる。
いくつかの実施形態では、現像後、有機リンス溶剤を用いるリンス処理を任意で実施することができる。有機リンス溶剤の適切な例としてはアルコール(例えば、イソプロピルアルコール、メチルイソブチルカルビノール(MIBC)、プロピレングリコールモノメチルエーテル(PGME)、およびアミルアルコール)、エステル(例えば、酢酸n−ブチル(nBA)、乳酸エチル(EL)およびプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA))、ケトン(例えば、シクロペンタノン(CP)およびシクロヘキサノン)、ならびにそれらの混合物が挙げられるが、これらに限定されない。リンス溶剤を用いてリンス処理を行い、残渣を除去することができる。
いくつかの実施形態では、第1のベーキング工程および/または第2のベーキング工程の温度は約50℃〜約120℃(例えば、約70℃〜約120℃または約80℃〜約120℃)である。
いくつかの実施形態では、現像前に第3のベーキング工程を任意で組み込むことができる。いくつかの実施形態では、第3のベーキング工程温度は約40℃〜約150℃(例えば、約50℃〜約120℃または約50℃〜約110℃)である。
いくつかの実施形態において、第4のベーキング工程を、現像後に任意で組み込むことができる。第4のベーキング工程は第1の層のガラス転移温度(Tg)よりも低い温度で行うことができ、それによって、先進的なパッケージング用途における誘電材料としての高Tg材料(例えば、高Tgポリイミド)の使用を可能にする。いくつかの実施形態では、第4のベーキング工程は、少なくとも約120℃(例えば、少なくとも約130℃、少なくとも約140℃、少なくとも約150℃、少なくとも約160℃、少なくとも約170℃、または少なくとも約180℃)から、約250℃以下(例えば、約240℃以下、約230℃以下、約220℃、約210℃以下、約200℃以下、または約190℃以下)までの範囲の温度で行うことができる。ベーキング時間は少なくとも約5分(例えば、少なくとも約10分、少なくとも約20分、少なくとも約30分、少なくとも約40分、少なくとも約50分、または少なくとも約60分)且つ/または約5時間以下(例えば、約4時間以下、約3時間以下、約2時間以下、または約1.5時間以下)であり得る。このベーキング工程は残存する第1の層および第2の層から残留溶剤を除去することができ、残存する第1の層および第2の層をさらに硬化させることができる。硬化は空気中で、または好ましくは窒素のブランケット下で行うことができ、任意の適切な加熱手段によって行うことができる。一般に、上述のプロセスは、第1の層の上部に第2の層を有する積層体を含む構造上に傾斜したレリーフ画像(プロファイル)を生成することができる。
いくつかの実施形態では、基材上に形成される第1の層または第2の層の厚さは、好ましくは約0.5μm〜約200μmである。使用される適切な膜厚は、特定の用途によって決定される。
本開示のいくつかの実施形態は、キャリア層;感光性誘電体層である第1の層;及び感光性層であり、キャリア層と第1の層との間に配置される第2の層を含み、さらに任意で保護層を含んで、前記第1の層が前記第2の層と前記任意の保護層との間に配置されていてもよい、ドライフィルム構造体を含む。現像液(例えば、シクロペンタノン)中における第2の層の溶解速度に対する第1の層の溶解速度の比は1未満(例えば、0.95未満、0.9未満、0.85未満、0.8未満、0.75未満、0.7未満、0.6未満、または0.5未満)である。例示的なドライフィルム構造体を図2に示す。図2に示されるように、膜Aは第1の層であり、上述の感光性積層構造体における第1の層と同じであり得る。図2の膜Bは第2の層であり、これは、上述の感光性積層構造体における第2の層と同じであり得る。
本開示のいくつかの実施形態には、(a)上記のドライフィルム構造体から前記任意の保護層を除去すること、及び(b)工程(a)で得られた構造体を電子基材上に適用してラミネートを形成することを含むプロセスが含まれる。このプロセスは、以下の工程のうちの1つ以上をさらに含むことができる:(a)積層体の第1の層および第2の層を化学線で露光すること、(b)第1の層および第2の層を露光する前または後にキャリア層を除去すること、(c)第1の層および第2の層の未露光部分を、現像液を用いて除去すること、(d)残存する第1の層および第2の層を硬化すること。
本開示のいくつかの実施形態は、上記のドライフィルム構造体の調製方法を含む。該方法は、(a)第2の層を形成するための組成物でキャリア層をコーティングする工程と、(b)第2の層を乾燥する工程と、(c)第1の層を形成するための組成物で第2の層をコーティングする工程と、(d)第1の層を乾燥する工程と、(e)任意で、保護層を第1の層に付与して、ドライフィルム構造体を形成する工程と、を含むことができる。
ドライフィルム構造体における第1の層および第2の層を調製するための組成物は、先に記載したように、感光性積層構造体における第1の層および第2の層を調製するための組成物と同じであり得る。
いくつかの実施形態において、キャリア層は単層または多層の膜であり、任意で、ドライフィルム構造体の第2の層に接触することになる膜の表面を改質する処理を受けている。いくつかの実施形態では、多層キャリア層の1つまたは複数の層は粒子を含むことができる。粒子の例としては、二酸化ケイ素粒子(凝集シリカなど)、炭酸カルシウム粒子、アルミナ粒子、酸化チタン粒子、および硫酸バリウム粒子などの無機粒子;架橋ポリスチレン粒子、アクリル粒子、およびイミド粒子などの有機粒子;ならびにそれらの混合物が挙げられるが、これらに限定されない。理論に束縛されることを望むものではないが、粒子はキャリア層の接着特性を改善することができ、キャリア層上にコーティングされた第2の層の均一性を改善することができると考えられる。
いくつかの実施形態では、キャリア層は優れた光学的透明性を有し、第1の層および第2の層にレリーフパターンを形成するために使用される化学線照射に対して実質的に透明である。いくつかの実施形態では、キャリア層の表面粗さは小さくてもよい。キャリア層は一般に、十分に強固でなければならず、第2の層を形成するために使用される溶剤に対して不溶性でなければならない。キャリア層はその後の使用において、ドライフィルム構造体の残り(例えば、第1の層および第2の層)から除去され得るか、または製造されたデバイスの最終構造の一部を形成し得る。キャリア層が最終デバイスから剥離などによって最終的に除去される状況では、キャリア層と第2の層との間の接着は分離を容易とするのに十分な程度に弱くなければならない。そのような実施形態では、キャリア層は、その除去を容易とするため、第2の層でコーティングされる表面上に剥離層を含むことができる。キャリア層が最終デバイスの一部である場合は、キャリア層の剥離を防止するために接着力は高くなければならない。
キャリア層の具体例としては、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート、ポリプロピレン、ポリエチレン、セルローストリアセテート、セルロースジアセテート、ポリ(メタ)アクリル酸アルキルエステル、ポリ(メタ)アクリル酸エステル共重合体、ポリ塩化ビニル、ポリビニルアルコール、ポリカーボネート、ポリスチレン、セロファン、ポリ塩化ビニル共重合体、ポリアミド、ポリイミド、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、ポリテトラフルオロエチレン、ポリトリフルオロエチレン等の種々のプラスチックフィルムが挙げられる。また、2枚以上のプラスチックフィルムまたは2種以上のポリマーを含む組み合わせ材料を用いることができる。光透過性に優れたポリエチレンテレフタレート(PET)フィルムが特に好ましい。キャリア層の厚さは、少なくとも約10μm(例えば、少なくとも約15μm、少なくとも約20μm、少なくとも約30μm、少なくとも約40μm、少なくとも約50μm、または少なくとも約60μm)から最大約150μm(例えば、最大約140μm、最大約120μm、最大約100μm、最大約90μm、最大約80μm、または最大約70μm)までの範囲とすることができる。キャリア層のヤング率は少なくとも約100MPa(例えば、少なくとも約150MPa、少なくとも約200MPa、または少なくとも約250MPa)〜最大約500MPa(例えば、最大約450MPa、最大約400MPa、または最大約350MPa)の範囲であり得る。
キャリア層は、コロナ処理の有無にかかわらず使用することができる。コロナは、金属または絶縁電極を横切って高周波高電圧エネルギーを放電することによって生成されるイオン化された空気である。この電極は、接地されたロール上に配置される。フィルムのコロナ処理は表面汚染物質を除去し、結合部位を生成し、表面エネルギーを上昇させることによって、接着のために表面を最適化することができる。いくつかの実施形態では、キャリア層フィルムを巻いてロールを形成する間にフィルムをコロナプロセスに通すことによってコロナ処理を実施することができる。これにより、前処理されたコロナフィルムが生成される。このようなコロナ処理済キャリア層フィルムは市販されている。別の選択肢は「オンラインコロナ処理」であり、ここで、キャリア層フィルムは、キャリア層上への第2の層組成物のコーティングの直前にコロナチャンバを通過する。キャリア層のオンラインコロナ処理は印刷品質を改善し、コーティングにおけるピンホールを除き、ドライフィルム構造体の生産性を増加させることができる。
ドライフィルム構造体の第2の層を形成するためのコーティング方法は特に限定されない。例えば、スプレ−コーティング、ロ−ルコーティング、回転コーティング、スリットコーティング、圧縮コーティング、カ−テンコーティング、ダイコーティング、ワイヤバーコーティング、およびナイフコーティングなどの方法を使用して、第2の層を形成することができる。第2の層を形成するために使用される乾燥温度は、成分、有機溶剤、および含有率に応じて変えることができる。いくつかの実施形態において、乾燥は少なくとも約60℃(例えば、少なくとも約65℃、少なくとも約70℃、または少なくとも約75℃)から約120℃以下(例えば、約105℃以下、約90℃以下、または約85℃以下)までの温度で、少なくとも約30秒(例えば、少なくとも約1分、少なくとも約2分、少なくとも約4分、または少なくとも約6分)から長くとも約15分(例えば、長くとも約12分、長くとも約10分、または長くとも約8分)まで実施される。乾燥手段としては例えば熱風を使用するコンベクションオーブンがあるが、適当な加熱手段であれば何を使用してもよい。
本開示のドライフィルム構造体の第2の層の厚さは、特に限定されない。厚さは、好ましくは少なくとも約2μm(例えば、少なくとも約5μm、少なくとも約10μm、少なくとも約20μm、少なくとも約25μm、少なくとも約30μm、少なくとも約35μmまたは少なくとも約40μm)且つ/または最大約100μm(例えば、最大約90μm、最大約80μm、最大約70μm、最大約60μm、最大約50μmまたは最大約45μm)である。いくつかの実施形態では、第2の層が比較的薄い厚さを有することができる。そのような実施形態では、第2の層が最大で約10μm(例えば、最大で約5μm、最大で約4μm、または最大で約3μm)の厚さを有することができる。
いくつかの実施形態において、溶融粘度および融点は、上記の第1および第2のポリマー層の重要な熱特性であり得る。これらの特性は両方とも、基材上へのドライフィルム構造体の効果的な積層にとって重要であり得る。
いくつかの実施形態では、ドライフィルム構造体中の第1および第2の層のそれぞれは約60℃〜約140℃の温度で、少なくとも約10ポアズ(例えば、少なくとも約20ポアズ、少なくとも約30ポアズ、少なくとも約40ポアズまたは少なくとも約50ポアズ)且つ/または最大150ポアズ(例えば、最大約140ポアズ、最大約130ポアズ、最大約120ポアズ、最大約110ポアズ、最大約100ポアズまたは最大約90ポアズ)の溶融粘度を有することができる。理論に束縛されることを望むものではないが、第1の層または第2の層の溶融粘度が低すぎる場合、積層中に第1の層または第2の層のオーバーフロ−が起こり得ると考えられる。この結果、積層フィルムの膜厚が一定でなくなり、基材の裏面が汚染される。溶融粘度が高すぎると、ポリマーの流れが異常に遅くなり、その結果として作成された層中に空隙および気泡が生じる。さらに、キャリア層がパターン化される場合、ポリマーの流れが遅いと、パターンの不完全かつ不適切な充填を引き起こし得る。
いくつかの実施形態では、第1の層または第2の層が少なくとも約60℃(例えば、少なくとも65℃、少なくとも約70℃、少なくとも約75℃、または少なくとも約80℃)且つ/または約140℃以下(例えば、約135℃以下、約130℃以下、約125℃以下、または約120℃以下)の融点を有する。理論に束縛されることを望むものではないが、第1の層または第2の層の融点が低すぎる場合、ドライフィルムの形成は典型的には連続プロセスによるドライフィルム積層体の形成が妨げられる程度まで妨げられ得ると考えられる。融点が高すぎる場合、キャリア層への第1の層または第2の層の積層中に高温が必要とされ、キャリア層を溶融させ、それによってドライフィルム積層体を破壊する可能性がある。また、低温ラミネート工程で融点の高い第2の層を用いると、キャリア層との第2の層の密着性が悪くなるおそれがある。
いくつかの実施形態では、第1の層がドライフィルム構造体内の第2のポリマー層の上にコーティングされる。第1の層のコーティング方法は、第2の層のコーティング方法と同一とすることができる。本開示のドライフィルム構造体の第1の層の厚さは、特に限定されない。厚さは、好ましくは少なくとも約2μm(例えば、少なくとも約5μm、少なくとも約10μm、少なくとも約20μm、少なくとも約25μm、少なくとも約30μm、少なくとも約35μmまたは少なくとも約40μm)且つ/または最大約100μm(例えば、最大約90μm、最大約80μm、最大約70μm、最大約60μm、最大約50μmまたは最大約45μm)である。
いくつかの実施形態において、ドライフィルム構造体は任意で保護層(例えば、保護フィルムまたは保護カバーシート)を含み、その結果、第1の層が、保護層と第2のポリマー層との間に配置される。保護層は輸送および保管中に第1および第2の層を保護し、粘着性の第1の層がそれ自体に固着しないようにすることができる。いくつかの実施形態では、保護層は、ドライフィルム構造体の第1の層に接触するフィルムの表面を改質する処理を任意に受けた単層または多層のフィルムである。保護層は、ポリエチレン、ポリプロピレン、または任意の他の適切なポリマーから作製され得る。いくつかの実施形態では、第1の層に対する保護層の接着力は第2の層に対する第1の層の接着力よりも小さい。これにより、第1の層を第2の層から分離することなく、第1の層から保護層を容易に分離することが可能となる。保護層は、ロール圧縮法によって第1の層に積層することができる。
いくつかの実施形態では、任意の保護層は、少なくとも約100MPa(例えば、少なくとも約150MPa、少なくとも約200MPa、または少なくとも約250MPa)〜最大約500MPa(例えば、最大約450MPa、最大約400MPa、または最大約350MPa)の範囲のヤング率を有することができる。
一般に、本明細書に記載のドライフィルム構造体を使用して、第1の層および第2の層を基材(例えば、電子基材)にラミネートして、上記の感光性積層構造体を形成することができる。いくつかの実施形態では、空隙のないラミネーション(voidless lamination)のために真空、熱、および圧力を組み合わせる差圧ラミネータを使用して、ドライフィルム構造体の第1および第2の層が任意のタイプの基材(例えば、電子基材)にラミネートされ得る。例えば、ドライフィルム構造体の任意の保護層を剥離し、構造体の残り(第1のポリマー層、第2のポリマー層、およびキャリア層を含む)を基材サイズに切断することができる。別の例として、ドライフィルム構造体を最初に基材サイズに切断し、次いで、保護層を剥離して、基材上に第1のポリマー層および第2のポリマー層をラミネートすることができる。いくつかの実施形態では、手動または現在利用可能な分配機器の助けを借りて予めラミネートされたこれらの基材は、プラテンに取り付けられたスライド上に配置されるか、またはチャンバ内に配置される。スループットを増加させるために、厚さおよび幾何学的形状が相異なる基材を混在させることができる。次いで、基材は、積分精度デジタルタイマーによって決定される時間、真空ドウェルに曝露され得る。この期間に続いて、予熱されたシリコーンゴムダイアフラムを加工中の製品上に降下させることができる。この動作によりバネ取付けプラテンアセンブリの下の小さなギャップを閉じ、下部の熱プラテンとの直接的な熱接触を提供することができる。上部および下部の加熱プラテンは両方とも温度を一体型温度コントローラによって独立して制御することができる。差圧ラミネータは一般に、ダイアフラムの上方に正圧を加えることを可能にし、有効なラミネーション圧力を劇的に増加させる。圧力ドウェル期間は、真空ドウェルで使用されるものと同じタイマーで調整することができる。サイクルが完了すると、引き出し機構を引っ込めることができ、ラミネートされた基材をさらなる処理のために取り出すことができる。
いくつかの実施形態では、ドライフィルム構造体の第1の層および第2の層を平面圧縮法または熱間圧延圧縮法で予備ラミネートした後、ドライフィルム構造体の第1の層および第2の層を60℃〜140℃で真空ラミネーションによって基材にラミネートすることができる。ホットロールラミネーションが用いられる場合、ドライフィルム構造体をホットロールラミネータ内に配置し、保護層を第1の層/第2の層/キャリア層から剥離し、第1の層を基材と接触させ、ローラを使用して熱および圧力でラミネートすることができる。
いくつかの実施形態では、上記のラミネーションプロセスで使用されるラミネート温度は、少なくとも約50℃(例えば、少なくとも約70℃、少なくとも約80℃、少なくとも約90℃、または少なくとも約100℃)〜最大約220℃(例えば、最大約190℃、最大約170℃、最大約130℃、または最大約110℃)である。上記のラミネーションプロセスで使用される圧力は少なくとも約1.5psi(例えば、少なくとも約3psi、少なくとも約5psi、少なくとも約10psi、少なくとも約15psi、または少なくとも約20psi)から最大約70psi(例えば、最大約60psi、最大約50psi、最大約40psi、または最大約30psi)までである。上述のラミネーションプロセスで使用される真空は、少なくとも約0.2torr〜最大約5torrとすることができる。上述のラミネーションプロセスで使用されるローラの速度は少なくとも約1cm/分(例えば、少なくとも約5cm/分、少なくとも約10cm/分、少なくとも約25cm/分、または少なくとも約50cm/分)から速くとも約600cm/分(例えば、速くとも約500cm/分、速くとも約400cm/分、速くとも約300cm/分、速くとも約200cm/分、または速くとも約100cm/分)であり得る。
いくつかの実施形態では、感光性積層構造体は上述のドライフィルム構造体から作製することができる。例えば、感光性積層構造体は(a)任意の保護層を除去し、(b)フィルム構造体の残りを基材(例えば、電子基材)にラミネートすることによって作製することができる。このようにして形成された感光性積層構造体は基材にラミネートされた第1の層および第2の層を含み、第1の層および第2の層の露光領域が架橋されるように、所望のパターン化フォトマスクを通して露光することができる。露光に用いられる活性エネルギー線としては、電子線、紫外線、X線などが挙げられ、紫外線が好ましい。光源としては、低圧水銀ランプ、高圧水銀ランプ、超高圧水銀ランプ、ハロゲンランプ等を用いることができる。露光量は、典型的には約100mJ/cm〜約1,000mJ/cmである。
キャリア層は、露光の前または後に、剥離することによって除去できる。
露光後、ラミネート構造体の第1の層および第2の層は少なくとも約50℃(例えば、少なくとも約55℃、少なくとも約60℃、または少なくとも約65℃)から約100℃以下(例えば、約95℃以下、または約90℃以下、約85℃以下、約80℃以下、約75℃以下、または約70℃以下)まで、少なくとも約60秒(例えば、少なくとも約65秒、または少なくとも約70秒)〜長くとも約90秒(例えば、長くとも約85分、または長くとも約80秒)熱処理することができる。熱処理は、通常、ホットプレートまたはオーブンの使用によって達成される。
露光後、ラミネート構造体の第1の層及び第2の層を現像し、現像液を用いて未露光部分を除去することができる。現像は上記と同様の方法(例えば、浸漬法や噴霧法)で行うことができる。現像後の積層基材上の感光性第1のポリマー層に微細孔や微細線が発生することがある。
第1の層および第2の層を現像するのに適した現像剤の例は、先に挙げたものと同じ現像剤であってもよい。
いくつかの実施形態では、現像後、任意のリンス処理を有機リンス溶剤を使って実施することができる。有機リンス溶剤の適切な例は、先に言及したものと同じであってもよい。
いくつかの実施形態では、現像工程または任意のリンス処理工程の後に、任意のベーキング工程を行うことができる。少なくとも約120℃(例えば、少なくとも約130℃、少なくとも約140℃、少なくとも約150℃、少なくとも約160℃、少なくとも約170℃、または少なくとも約180℃)から最高で約250℃(例えば、最高で約240℃、最高で約230℃、最高で約220℃、最高で約210℃、最高で約200℃、または最高で約190℃)の範囲の温度である。ベーキング時間は少なくとも約5分(例えば、少なくとも約10分、少なくとも約20分、少なくとも約30分、少なくとも約40分、少なくとも約50分、または少なくとも約60分)且つ/または長くとも約5時間(例えば、長くとも約4時間、長くとも約3時間、長くとも約2時間、または長くとも約1.5時間)である。このベーキング工程で残存する第1の層および第2の層から残留溶剤を除去し、残存する第1の層および第2の層をさらに硬化させることができる。硬化は空気中で、または好ましくは窒素のブランケット下で行うことができ、任意の適切な加熱手段によって行うことができる。一般に、上述のプロセスは、第1の層の上部に第2の層を有する積層体を含む構造上に傾斜したレリーフ画像(プロファイル)を生成することができる。こうして形成された構造体は、半導体デバイスに用いられる物品を形成するのに用いることができる。このような物品の例としては、半導体基材、電子機器用可撓性フィルム、ワイヤ絶縁、ワイヤコーティング、ワイヤエナメル、及びインク付き基材(inked substrate)が挙げられる。このような物品から作ることができる半導体デバイスの例としては、集積回路、発光ダイオード、太陽電池、およびトランジスタが挙げられる。
いくつかの実施形態では、本開示は、本明細書に記載される感光性積層構造体を調製するためのプロセスを特徴とする。このプロセスは、以下を含むことができる。
(a)前記第1の層を形成する組成物で基材をコーティングして、第1のコーティングされた基材を形成すること;
(b)第1のベーキング工程において、前記第1のコーティングされた基材をベークして、前記第1の層を形成すること;
(c)キャリア層と第2の層とを含むドライフィルム構造体を前記第1の層にラミネートして、前記第2の層が前記第1の層と前記キャリア層との間にある第2のコーティングされた基材を形成すること;及び
(d)前記第1の層へのラミネートの後に前記キャリア層を除去すること。
いくつかの実施形態では、本開示は、本明細書に記載される感光性積層構造体を調製するためのプロセスを特徴とする。このプロセスは、以下を含むことができる。
(a)キャリア層とポリマー層とを含むドライフィルム構造体を基材にラミネートして、前記ポリマー層で形成される前記第1の層が前記基材と前記キャリア層との間に配置されている第1のコーティングされた基材を形成すること;
(b)前記ラミネート工程の後に前記キャリア層を除去すること;
(c)第2の層を形成する組成物で前記第1の層をコーティングして、第2のコーティングされた基材を形成すること;及び
(d)ベーキング工程において、前記第2のコーティングされた基材をベークして、前記第1の層が前記第2の層と前記基材との間に配置されるように、前記第2の層を形成すること。
キャリア層と第1の層または第2の層とを含むドライフィルム構造体は、上述の第1の層および第2の層の両方を含むドライフィルム構造体の調製と同じ方法で調製することができる。このようなドライフィルム構造体の調製は、参照により本明細書に組み込まれる米国特許出願公開第20160313641号にも記載されている。
いくつかの実施形態では、本開示は、本明細書に記載される感光性積層構造体を調製するためのプロセスを特徴とする。このプロセスは、以下を含むことができる。
(a)第1のキャリア層と第1の層とを含むドライフィルム構造体を基材にラミネートして、前記第1の層が前記基材と前記第1のキャリア層との間に配置されている第1のコーティングされた基材を形成すること;
(b)前記ラミネート工程の後に前記キャリア層を除去すること;
(c)第2のキャリア層と第2の層とを含むドライフィルム構造体を前記第1の層にラミネートして、前記第2の層が前記第1の層と前記第2のキャリア層との間に配置されている第2のコーティングされた基材を形成すること;及び
(d)前記第1の層へのラミネートの後に前記第2のキャリア層を除去すること。
第1および第2の層のそれぞれに個々のドライフィルム構造体を使用する1つの利点は、2つの層の一方を形成するために使用される溶剤が他方の層と不適合である場合、ドライフィルム構造体の溶剤含有量が一般に少量であることから、この方法によれば溶剤の悪影響を最小限に抑えうることにある。
いくつかの実施形態では、本開示は、本明細書に記載のプロセスによって形成された少なくとも1つのパターン化されたフィルムを含む三次元物体を特徴とする。いくつかの実施形態では、三次元物体は少なくとも2つの積層体(例えば、少なくとも3つの積層体)においてパターン化された膜を含むことができ、ここで当該積層体はそれぞれ本明細書に記載される感光性積層体を含む。いくつかの実施形態では、半導体デバイスのパッケージの作製に前記三次元物体を使用することができる。
用語「二層構造体(bilayer structure)」は本開示の全体にわたって使用されたが、本開示は2層(すなわち、二層(bilayer))のみを有する構造体に限定されず、少なくとも2層(すなわち、3層、4層など)を含む任意の積層構造体を含むことを理解されたい。
本明細書において引用される全ての刊行物(例えば、特許、特許出願の刊行物、および論文)の内容は、その全体が参照により本明細書に組み込まれる。
以下の実施例は、本開示の原理および実施をより明確に説明するために提供される。本開示は、記載された例に限定されないことが理解されるべきである。
合成例1(P−1)
6FDA/DAPIポリイミドの調製
Figure 0006898031
固体の4,4’−(ヘキサフルオロイソプロピリデン)ビス(無水フタル酸)(6FDA)(2.170kg、4.885モル)を、25℃で1−(4−アミノフェニル)−1,3,3−トリメチルインダン−5−アミン(4,4’−[1,4−1−フェニレン−ビス(1−メチルエチリデン) ビスアニリン(DAPI)としても知られる)(1.331kg、5.00モル)のNMP溶液(11.724kg)に添加した。反応温度を40℃に上げ、6時間反応させた。次に、無水酢酸(1.020kg)およびピリジン(0.198kg)を加え、反応温度を100℃に上げ、14時間反応させた。
上記の反応混合物を室温まで冷却し、機械的撹拌機を備えたより大きな容器に移した。反応溶液を酢酸エチルで希釈し、水で1時間洗浄した。撹拌を停止した後、混合物を静置した。相分離が起こったら、水相を除去した。有機相を酢酸エチルおよびアセトンの組み合わせで希釈し、水で2回洗浄した。全ての洗浄に使用した有機溶剤(酢酸エチルおよびアセトン)および水の量を表1に示す。
Figure 0006898031
洗浄した有機相にGBL(11kg)を加え、溶液を真空蒸留により濃縮して、ポリマー溶液P−1を得た。最終ポリマー溶液の固形分%は29.62%であり、TMAで測定したポリマーのTgは293℃であり、GPCで測定したポリマーの重量平均分子量(Mw)は55,000ダルトンであった。
GPCにより分子量を測定するために、200mgの上記ポリマー溶液を、BHTを含む3.2gのテトラヒドロフラン(THF)に最初に溶解した。使用した装置はWaters Gel Permeation Chromatographであり、ソフトウェアはWaters Empower 2 Chromatographicソフトウェア(GPCモジュール)であった。使用した標準は、5つのポリスチレン標準および1つのp−クレゾ−ル二量体標準であった。それらのMw値は198400、89300、19100、4000、および1200並びに228(p−クレゾ−ル二量体)であった。使用したカラムはPhenomenex Guardカラム(フェノゲル−10、内径7.8mm×長さ50mm)であり、流速は35℃で1分当たり1ミリリットルであった。
合成例2(P−2)
IBMA/HEMAポリマーの調製
メタクリル酸イソボルニル(IBMA)(48g、215.9ミリモル)とメタクリル酸ヒドロキシエチル(HEMA)(12g、92.2ミリモル)を容量250mlの3口丸底フラスコ中のプロピレングリコールメチルエーテルアセテート(PGMEA)111.4gに添加した。この混合物に、1.2gのアゾビスイソブチロニトリル(AIBN)を添加した。次いで、反応液を脱気し、反応期間中、Nブランケットに保持した。次いで、反応混合物を70℃に加熱し、当該温度で4時間保持した。次いで、ポリマー溶液を室温に到達させた。これにより、34.76%の固形分を有するPGMEA中のポリマー溶液が得られた。
配合例1(FE−1)
感光性組成物FE−1は、80gのポリマー溶液(P−1)、14.69gのGBL、1.42gのGBL中のPolyFox 6320(OMNOVA Solutionsから入手可能)の0.5重量%溶液、0.71gのガンマ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、0.71gのNCI−831(ADEKA社から入手可能)、0.05gのパラベンゾキノン、8.00gのテトラ(エチレングリコール)ジアクリレート、および2.67gのペンタエリスリトールトリアクリレートを用いて調製した。24時間機械的に撹拌した後、0.2ミクロンフィルターを用いて溶液を濾過した。
配合例2(FE−2)
感光性組成FE−2は22.86gのポリマー溶液(P−2)、7.41gのプロピレングリコールメチルエーテルアセテート(PGMEA)、GBL中のPolyFox6320(OMNOVA溶液から入手可能)の0.5重量%溶液0.48g、ガンマ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン0.24g、NCI−831(商品名、ADEKA社から入手可能)0.24g、p−ベンゾキノン0.02g、テトラ(エチレングリコール)ジアクリレート2.36g、ペンタエリスリトールトリアクリレート0.88gで調製した。24時間機械的に撹拌した後、溶液を5ミクロンのシリンジフィルターを用いて濾過した。
溶解速度測定の一般手順
感光性組成物を4枚のシリコンウェーハ上にスピンコートして、約15μmの厚さのコーティングを形成した。ホットプレートを用いて、コーティングしたウェーハを95℃で180秒間ベークした。シクロペンタノンを用いて15、25、35および65秒間(各現像時間につき1枚)ウェーハを現像した。15ミリリットルの現像剤を10秒でウェーハ上に流れ分注して膜を完全に覆い、その上に現像剤の溜まりを形成し、25℃でパドル現像を開始した(15、25、35および65秒;列挙した現像時間は、流れ分注を停止した後の時間である)。分注および現像工程の間、ウェーハを100RPMのスピン速度で回転させた。現像液の溜まりを除去し、残残する膜を3000RPMのスピン速度で15秒間回転させることによって乾燥させた。各ウェーハの膜厚損失を測定し、現像時間に対する厚さ損失のグラフをプロットした。膜厚は、Dektak IIA Profilometerを用いて測定した。データを一次関数に適合させて、代表的な溶解速度を決定する直線の傾きを決定した。
溶解速度の測定
溶解速度測定の一般手順に従って測定した感光性組成物FE−1およびFE−2の溶解速度は、それぞれ0.18μm/秒および0.70μm/秒であった。
プロセス例1
感光性組成物FE−1をシリコンウェーハ上にスピンコートし、ホットプレートを用いて95℃で180秒間ベークして、約15μmの厚さのコーティングを形成した。感光性組成物FE−2を第1の層の上にスピンコートし、ホットプレートを用いて再び95℃で180秒間ベークして、約5μmの厚さの第2のコーティングを形成した。FE−2のための溶剤はPGMEAであったので、2つの層は非混和性であった。感光性二重層フィルムを、広帯域UV露光ツール(Carl Suss MA−56)を用いて、露光のための所望のパターンを有するマスクを通して露光した。露光後、露光済フィルムを3分間加熱50℃で加熱した。
露光後のベーキングの後、現像液としてシクロペンタノンを用いて未露光部分を除去した(2×99秒の現像)。250mJ/cmのフォトスピードで約80゜の角度および15μmの分解能を有する望ましい傾斜プロファイルが達成された。
合成例3(P−3)
6FDA/DAPIの比率を0.977から0.972に変更し、全固形分の量を28%から23%に減少させた以外は、ポリマー(P−1)と同様にしてポリマー(P−3)を合成した。このポリマー溶液のための溶剤交換は、ガンマ−ブチロラクトン(GBL)に代えてシクロペンタノンとするものであった。最終重量平均分子量は46,500ダルトンであり、ポリマー/シクロペンタノン溶液の固形分は30.14%であった。
配合例3(FE−3)
ポリマー溶液(P−3)4375.60g、シクロペンタノン1061.53g、シクロペンタノン中のPolyFox 6320(OMNOVA Solutionsから入手可能)の0.5重量%溶液79.14g、メタクリルオキシプロピルトリメトキシシラン65.95g、NCI−831(商品名、ADEKA社から入手可能)39.57g、パラベンゾキノン2.64g、テトラエチレングリコールジアクリレート4445.10g、およびペンタエリスリトールトリアクリレート148.36gを用いて感光性組成物FE−3を調製した。24時間機械的に撹拌した後、該溶液を、2.5インチ、0.2μmのウルトラダインカプセルフィルター(Meissner Filtration Product, Inc.から入手、カタログ番号CSTM0.2−662)を用いて濾過した。
ドライフィルム例1(DF−1)
配合例2(FE−2)を、9番ロッドを用いて15cm×30cmのサイズのポリエチレンテレフタレート(PET)キャリア層にロールコーティングした。次いで、これを90℃で10分間乾燥させ、膜厚5.5μmのFE−2のドライフィルムを得た。次いで、配合例3(FE−3)を、番号12のロッドを用いて、このドライフィルムの上部にロールコーティングした。これを90℃で10分間乾燥させて、合計膜厚13.5μm(FE−3によって形成された層の膜厚は8μm)の二層ドライフィルム(DF−1)を得た。
ドライフィルムのラミネーション(実施例L−1)
ドライフィルムDF−1を4インチのWafernet銅被覆ウェーハ上に置いた。ドライフィルム中のFE−3含有層を、20秒間の真空ラミネーション(0.2〜 0.4Torr)によってCu被覆ウェーハ上にラミネートし、続いて40psiの圧と0.2〜0.4Torrの真空とに180秒間供した。積層温度は70℃であった。積層工程はDPL−24差圧ラミネータ(OPTEK,NJ製)を用いて行った。
プロセス例2
実施例L−1から得られた積層二層ドライフィルムのPET層を除去し、露光のための所望のパターンを有するマスクを通して、広帯域UV露光ツール(Carl Suss MA−56)でフィルムを露光した。露光後、露光済フィルムを3分間加熱50℃で加熱した。
露光後のベーキングの後、現像液としてシクロペンタノンを用いて未露光部分を除去した(2×99秒の現像)。約73°の角度を有する望ましい傾斜プロファイルが達成された。
ドライフィルム例2(DF−2)
工程1:濾過した感光性溶液(FE−3)を、Fujifilm USA(Greenwood, SC)製の逆マイクロバーコーターを用いて、幅16.2’’および厚さ35μmのポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム(TA30、Toray Plastics America, Inc.製)上に、60μmのマイクロバークリアランスでライン速度2フィート/分(60cm/分)で塗布して、第1キャリア層として用い、197°Fで乾燥させて、約10.0μmの厚さの感光性誘電体層を得た。
工程2:上記のドライフィルムを、4インチのWafernet銅被覆ウェーハ上に置いた。ドライフィルム中の感光性層を、20秒間の真空ラミネーション(0.2〜0.4Torr)によってCu被覆ウェーハ上にラミネートし、続いて40psiの圧と0.2〜0.4Torrの真空とに180秒間供した。積層温度は70℃であった。感光性層は銅被覆ウェーハと第1のキャリア層との間に配置された。
工程3:配合例2(FE−2)を、9番のロッドを使用して、15cm×30cmのサイズのポリエチレンテレフタレート(PET)キャリア層(すなわち、第2のキャリア層)上にロールコーティングした。次いで、これを90℃で10分間乾燥させ、フィルム厚さ5.5μmのFE−2のドライフィルムを得た。
工程4:工程2で得られた積層フィルムの第1のキャリア層を除去し、その上部に、工程3で得られたドライフィルムを20秒間の真空ラミネーションによって配置し、続いて40psiの圧と0.2〜0.4トルの真空とに1180秒間供した。積層温度は70℃であった。得られたラミネート済積層構造体は銅被覆ウェーハ、感光性誘電体層FE−3、感光性層FE−2、および第2のキャリア層をこの順序で積層して含み、感光性誘電体層FE−3は銅被覆ウェーハと感光性層FE−2との間に配置されていた。
比較ドライフィルム実施例1(CDF−1)
工程1:濾過した感光性溶液(FE−3)を、富士フイルムUSA(Greenwood,SC)製の逆マイクロバーコーターを用いて、線速2フィート/分(60cm/分)及び90μmのマイクロバーのクリアランスで、キャリア層として使用される幅16.2’’、厚さ35μmのポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム(TA30、東レ・プラスティックス・アメリカ社製)上に塗布し、197°Fで乾燥させて、厚さ約15.0μmの感光性ポリマー層を得た。
工程2:上記ドライフィルムを、銅がスパッタリングされたガラス基材上に置いた。20秒間の真空ラミネーション(0.2〜0.4Torr)によってポリマー層を銅被覆基材上にラミネートし、続いて40psiの圧と0.2〜0.4Torrの真空とに180秒間供した。積層温度は80℃であった。得られたラミネート済積層構造体は銅被覆ガラス基材、感光性誘電体層FE−3、およびPETキャリア層をこの順序で積層して含むが、第2の感光性層を含まなかった。
比較プロセス例1
ラミネート済ドライフィルムCDF−1のPET層を除去し、残るドライフィルムを、露光のための所望のパターンを有するマスクを通して広帯域UV露光ツールで露光した。現像液としてシクロペンタノンを用いて、未露光部分を除去した(2×160秒の現像)。約88°の角度のプロファイルが得られた。このようなプロファイルは形状がほぼ矩形であり、ある種の下流プロセス(例えば、金属蒸着)には望ましくない。

Claims (32)

  1. 電子基材、
    感光性誘電層である第1の層、ここで、該第1の層は(a)少なくとも1種のポリイミドポリマー、(b)少なくとも1種の第1の溶解度スイッチング化合物(SSC)、並びに(c)光増感剤と開始剤との組合せ及び感光性ラジカル開始剤からなる群より選択される少なくとも1種の化合物、を含む感光性組成物から形成される、及び
    感光性層である第2の層
    を含み、
    前記第1の層が前記電子基材と前記第2の層との間にあり、
    現像中における前記第1の層の溶解速度が、前記現像中における前記第2の層の溶解速度よりも小さい、感光性積層構造体。
  2. 前記第2の層が
    (a)少なくとも1種のポリマー、
    (b)少なくとも1種の第2の溶解度スイッチング化合物(SSC)、並びに
    (c)光酸発生剤(PAG)、感光性ラジカル開始剤、及び光増感剤と開始剤との組合せからなる群より選択される少なくとも1種の光活性化合物
    を含む、請求項1に記載の感光性積層構造体。
  3. 前記第2の層が
    (a)少なくとも1種のポリマー、
    (b)少なくとも1種の第2の溶解度スイッチング化合物(SSC)、
    (c)光酸発生剤(PAG)、感光性ラジカル開始剤、及び光増感剤と開始剤との組合せからなる群より選択される少なくとも1種の光活性化合物、並びに
    (d)少なくとも1種の溶剤
    を含む感光性組成物から形成される、請求項2に記載の感光性積層構造体。
  4. 前記少なくとも1種のポリマーが反応性基を含む、請求項3に記載の感光性積層構造体。
  5. 前記反応性基が、ヒドロキシル基、チオール基、アミノ基、及びカルボキシル基からなる群より選択される、請求項4に記載の感光性積層構造体。
  6. 前記少なくとも1種のポリマーが、(メタ)アクリレート、ウレタン、アミド、イミド、エステル、エーテル、エチレン性不飽和炭化水素、及びそれらの組み合わせからなる群より選択される少なくとも1つのモノマーから形成される、請求項2又は請求項3に記載の感光性積層構造体。
  7. 前記第1又は第2の溶解度スイッチング化合物が、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート, ジビニルベンゼン、エトキシル化ビスフェノールA−ジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールビス(アリルカーボネート)、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ジトリメチロールプロパンテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート,ジペンタエリスリトールペンタ−/ヘキサ−(メタ)アクリレート、イソシアヌレートトリ(メタ)アクリレート,ビス(2−ヒドロキシエチル)−イソシアヌレートジ(メタ)アクリレート、1,3−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,4−ブタンジオ−ルジ(メタ)アクリレート、メチル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、(メタ)アクリレート変性尿素−ホルムアルデヒド樹脂、(メタ)アクリレート変性メラミン−ホルムアルデヒド樹脂、及び(メタ)アクリレート変性セルロースからなる群より選択される、請求項2又は請求項3に記載の感光性積層構造体。
  8. 前記電子基材が、シリコン基材、銅基材、アルミニウム基材、チタン基材、銅シード層を有する基材、酸化シリコン基材、窒化シリコン基材、亜硝酸チタン基材、ガラス基材、有機積層基材、又は誘電材料基材である、請求項1〜7のうちいずれか一項に記載の感光性積層構造体。
  9. 前記電子基材がウェーハである、請求項1〜8のうちいずれか一項に記載の感光性積層構造体。
  10. 前記ポリイミドポリマーのガラス転移点が約180℃以上である、請求項1〜9のうちいずれか一項に記載の感光性積層構造体。
  11. (a)前記第1の層を形成する組成物で前記電子基材をコーティングして、第1のコーティングされた電子基材を形成すること;
    (b)第1のベーキング工程において、前記第1のコーティングされた電子基材をベークして、前記第1の層を形成すること;
    (c)前記第2の層を形成する組成物で前記第1の層をコーティングして、第2のコーティングされた電子基材を形成すること;及び
    (d)第2のベーキング工程において、前記第2のコーティングされた電子基材をベークして、前記第1の層の上に前記第2の層を形成すること
    を含む、請求項1〜10のうちいずれか一項に記載の感光性積層構造体を調製するプロセス。
  12. (a)前記第1の層を形成する組成物で前記電子基材をコーティングして、第1のコーティングされた電子基材を形成すること;
    (b)第1のベーキング工程において、前記第1のコーティングされた電子基材をベークして、前記第1の層を形成すること;
    (c)キャリア層と前記第2の層とを含むドライフィルム構造体を前記第1の層にラミネートして、前記第2の層が前記第1の層と前記キャリア層との間にある第2のコーティングされた電子基材を形成すること;及び
    (d)前記第1の層へのラミネートの後に前記キャリア層を除去すること
    を含む、請求項1〜10のうちいずれか一項に記載の感光性積層構造体を調製するプロセス。
  13. (a)キャリア層とポリマー層とを含むドライフィルム構造体を前記電子基材にラミネートして、前記ポリマー層で形成される前記第1の層が前記電子基材と前記キャリア層との間に配置されている第1のコーティングされた電子基材を形成すること;
    (b)前記ラミネート工程の後に前記キャリア層を除去すること;
    (c)前記第2の層を形成する組成物で前記第1の層をコーティングして、第2のコーティングされた電子基材を形成すること;及び
    (d)ベーキング工程において、前記第2のコーティングされた電子基材をベークして、前記第1の層が前記第2の層と前記電子基材との間に配置されるように、前記第2の層を形成すること
    を含む、請求項1〜10のうちいずれか一項に記載の感光性積層構造体を調製するプロセス。
  14. (a)第1のキャリア層と前記第1の層とを含むドライフィルム構造体を電子基材にラミネートして、前記第1の層が前記電子基材と前記第1のキャリア層との間に配置されている第1のコーティングされた電子基材を形成すること;
    (b)前記ラミネート工程の後に前記第1のキャリア層を除去すること;
    (c)第2のキャリア層と前記第2の層とを含むドライフィルム構造体を前記第1の層にラミネートして、前記第2の層が前記第1の層と前記第2のキャリア層との間に配置されている第2のコーティングされた電子基材を形成すること;及び
    (d)前記第1の層へのラミネートの後に前記第2のキャリア層を除去すること
    を含む、請求項1〜10のうちいずれか一項に記載の感光性積層構造体を調製するプロセス。
  15. (a)請求項1〜10のうちいずれか一項に記載の感光性積層構造体を、マスクを通して化学線で露光して、パターン状に露光された積層構造体を形成すること;
    (b)任意で、第3のベーキング工程において、前記パターン状に露光された感光性積層構造体をベークすること;
    (c)前記パターン状に露光された感光性積層構造体の少なくとも一部を現像で現像して、前記積層構造体上に傾斜レリーフ画像を生成すること;
    (d)任意で、前記レリーフ画像を溶剤又は複数の溶剤の混合物でリンスすること;及び
    (e)任意で、第4のベーキング工程において、傾斜レリーフ画像を有する前記積層構造体をベークすること
    を含む、傾斜レリーフ画像を作成する方法。
  16. 前記第4のベーキング工程をさらに含む、請求項15に記載の方法。
  17. 前記第4のベーキング工程が、前記第1の層のガラス転移温度よりも低い温度で実施される、請求項16に記載の方法。
  18. 請求項15〜17のうちいずれか一項に記載の方法によって形成された積層構造体を少なくとも1つ含む、三次元物体。
  19. 少なくとも2つの積層体におけるパターン化された膜を含む、請求項18に記載の三次元物体。
  20. 少なくとも3つの積層体におけるパターン化された膜を含む、請求項18に記載の三次元物体。
  21. 請求項18〜20のうちいずれか一項に記載の三次元物体を含むパッケージを含む、半導体デバイス。
  22. 集積回路、発光ダイオード、太陽電池、又はトランジスタを含む、請求項21に記載の半導体デバイス。
  23. ポリマー層であるキャリア層;
    感光性誘電体層である第1の層;及び
    感光性層であり、前記キャリア層と前記第1の層との間に配置される第2の層
    を含み、
    現像液中における前記第2の層の溶解速度に対する前記第1の層の溶解速度の比が1未満であるドライフィルム構造体であって、
    さらに任意で保護層を含んで、前記第1の層が前記第2の層と前記任意で含まれる保護層との間に配置されていてもよい、前記ドライフィルム構造体。
  24. (a)請求項23に記載のドライフィルム構造体から前記任意で含まれる保護層を除去すること、及び
    (b)工程(a)で得られた構造体を電子基材上に適用してラミネートを形成すること
    を含むプロセス。
  25. 前記ラミネート中の前記第1の層及び前記第2の層を化学線で露光する工程をさらに含む、請求項24に記載のプロセス。
  26. 前記第1の層及び前記第2の層を露光する前又は後に前記キャリア層を除去することをさらに含む、請求項25に記載のプロセス。
  27. 前記第1の層及び前記第2の層の未露光部分を、現像液を用いて除去することをさらに含む、請求項26に記載のプロセス。
  28. 残存する前記第1の層及び前記第2の層を硬化することをさらに含む、請求項27に記載のプロセス。
  29. 請求項24〜28のうちいずれか一項に記載の方法によって形成される三次元物体。
  30. 請求項29に記載の三次元物体を含むパッケージを含む、半導体デバイス。
  31. 集積回路、発光ダイオード、太陽電池、又はトランジスタを含む、請求項30に記載の半導体デバイス。
  32. (a)キャリア層を組成物でコーティングして、第2の層を形成すること;
    (b)前記第2の層を乾燥すること;
    (c)前記第2の層を組成物でコーティングして、第1の層を形成すること;
    (d)前記第1の層を乾燥すること;及び
    (e)任意で、保護層を前記第1の層に付与して、ドライフィルムを作成すること
    を含む、請求項23に記載のドライフィルムの調製方法。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3639293A4 (en) * 2017-06-16 2020-06-10 FUJIFILM Electronic Materials U.S.A., Inc. MULTILAYER STRUCTURE
EP4176001A1 (en) 2020-07-02 2023-05-10 FUJIFILM Electronic Materials U.S.A, Inc. Dielectric film-forming composition

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3934057A (en) * 1973-12-19 1976-01-20 International Business Machines Corporation High sensitivity positive resist layers and mask formation process
US4582778A (en) 1983-10-25 1986-04-15 Sullivan Donald F Multi-function photopolymer for efficiently producing high resolution images on printed wiring boards, and the like
JPS6155922A (ja) 1984-08-27 1986-03-20 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> パタ−ン形成方法
DE3702035A1 (de) 1987-01-24 1988-08-04 Basf Ag Copolymerisate mit o-nitrocarbinolestergruppierungen und verfahren zur herstellung von zweilagenresisten sowie von halbleiterbauelementen
JPH01112730A (ja) 1987-10-26 1989-05-01 Daikin Ind Ltd レジストパターンの形成方法
JPH0263056A (ja) 1988-04-05 1990-03-02 Mitsubishi Kasei Corp レジストパターン形成方法
US4904564A (en) 1988-06-16 1990-02-27 International Business Machines Corporation Process for imaging multi-layer resist structure
US5114826A (en) * 1989-12-28 1992-05-19 Ibm Corporation Photosensitive polyimide compositions
US5503961A (en) * 1994-11-02 1996-04-02 International Business Machines Corporation Process for forming multilayer lift-off structures
JP4441952B2 (ja) * 1999-07-06 2010-03-31 Jsr株式会社 無機造形物の製造方法
US7015256B2 (en) * 2002-01-28 2006-03-21 Jsr Corporation Composition for forming photosensitive dielectric material, and transfer film, dielectric material and electronic parts using the same
US6673714B2 (en) * 2002-04-25 2004-01-06 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method of fabricating a sub-lithographic sized via
WO2004109403A1 (ja) 2003-06-02 2004-12-16 Toray Industries, Inc. 感光性樹脂組成物およびそれを用いた電子部品ならびに表示装置
US7384727B2 (en) 2003-06-26 2008-06-10 Micron Technology, Inc. Semiconductor processing patterning methods
EP2469337B1 (en) * 2004-05-07 2014-01-22 Hitachi Chemical DuPont MicroSystems Ltd. Positive photosensitive resin composition, method for forming pattern, and electronic component
JP2006267296A (ja) 2005-03-22 2006-10-05 Fuji Photo Film Co Ltd 感光性転写シート及び感光性積層体、並びに、画像パターン形成方法及び配線パターン形成方法
EP1783548B1 (en) * 2005-11-08 2017-03-08 Rohm and Haas Electronic Materials LLC Method of forming a patterned layer on a substrate
TW200728908A (en) 2006-01-25 2007-08-01 Kaneka Corp Photosensitive dry film resist, printed wiring board using same, and method for producing printed wiring board
JP4752754B2 (ja) 2006-12-20 2011-08-17 Jsr株式会社 2層積層膜およびこれを用いたパターン形成方法
KR101044394B1 (ko) * 2007-08-20 2011-06-27 주식회사 엘지화학 알칼리 수용액으로 현상 가능한 감광성 수지 조성물 및 이에 의해 제조된 드라이 필름
JP5740915B2 (ja) 2010-10-28 2015-07-01 東レ株式会社 フィルム積層体
JP5771570B2 (ja) 2011-06-30 2015-09-02 富士フイルム株式会社 パターン形成方法、積層レジストパターン、及び、電子デバイスの製造方法
JP6047318B2 (ja) 2012-07-06 2016-12-21 矢崎総業株式会社 ドライバ状態検出装置及びドライバ状態報知装置
JPWO2014069091A1 (ja) * 2012-10-30 2016-09-08 住友ベークライト株式会社 感光性樹脂組成物、硬化膜、保護膜、絶縁膜および電子装置
CN105144854B (zh) 2013-04-24 2019-02-05 太阳油墨制造株式会社 层叠树脂结构体、干膜、及柔性印刷电路板
KR101888291B1 (ko) 2014-05-14 2018-09-11 미쯔비시 케미컬 주식회사 도전성 조성물, 대전 방지막, 적층체와 그의 제조 방법, 및 포토마스크의 제조 방법

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