JP6895768B2 - 欠陥検査装置、および欠陥検査方法 - Google Patents
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Description
例えば、基板表面にレーザー光を照射し、基板表面の欠陥からの散乱光を検出光学系で検出する欠陥検査装置がある。
また、例えば、ガラス基板内部にレーザー光を照射(導入)し、ガラス基板内部での全反射の繰り返しによって、ガラス内部全域を照射し、ガラス基板表面の欠陥やガラス内部の欠陥からの散乱光を検出光学系で検出する欠陥検査装置がある。
高精度な欠陥検査では、検査スピード(検査時間)を犠牲にしない手法が望まれる。
また、本発明は、欠陥からの散乱光の発生が少ないあるいは散乱光の発生が極めて少ないタイプの薄膜欠陥に対して大幅な欠陥検出力向上が達成できる欠陥検査装置の提供を目的とする。
さらに、本発明は、コントラストの低い欠陥に対する高い欠陥検出力が達成できる欠陥検査装置の提供を目的とする。
本発明者は、さらに鋭意研究開発を行った。その結果、現状で提供されているリング照明に比べ、格段に優れたリング照明の開発に成功した。また、この格段に優れたリング照明を用いることによって、360°全ての方向から同時に照明することが可能となり欠陥の方向性に依存しない欠陥検出が可能となることに加え、現状で提供されているリング照明を使用した場合に比べ、格段に安定した高い欠陥検出力が発揮でき、期待する効果が得られることがわかった。
これに加え、本発明では、格段に優れたリング照明と両面同時暗視野の構成によって、薄いキズや白もや(ホワイトスティン)などのコントラストの低い欠陥に対する高い欠陥検出力が達成できる。
なお、反射の暗視野リング照明と透過の暗視野リング照明を比べた場合、後者の方が欠陥検出力が高い。これは、散乱理論から言うと、前方散乱と後方散乱とでは、一般的には前方散乱の方がより強度が取れるからである。透過の暗視野リング照明による基板の裏面側から入射し、屈折を経て透過される光は前方散乱になる。
本発明では、欠陥かどうかの判定は、2次元画像を微分処理し、濃淡の勾配のあるところだけを残してその部分を欠陥と判断している。薄膜の窪みでも明るさの差が濃淡の勾配となるので検出できる。
上記のことは、欠陥からの散乱光の発生が少ないあるいは散乱光の発生が極めて少ないタイプの薄膜欠陥に対しても同様である。例えば、明確なエッジを持たず散乱光の発生が少ないハーフピンホールや、散乱光の発生が少ない膜のへこみ(凹部)、などに対して大幅な欠陥検出力の向上が達成できる。
本発明では、欠陥があるかないかを高速・高精度で検査可能な点が最大のメリットである。あらゆる欠陥検出可能な方法をすべて投入して検査してみることが可能となる。
また、高速で高精度な検査を実現するためには高い精度のオートフォーカシング技術が必要でそれをするための技術として同軸オートフォーカス(AF)がある。同軸AFで常にフォーカシングしている状態だとしても、照明が優れた照明でないとやはり期待する効果が得られないので、期待する効果が得られるように設計した本発明に係るリング照明および裏面側からのスポット照明が必要となる。
(構成1)
欠陥検査のための光学系と、欠陥検査のための照明系を有し、
前記照明系は、複数のLEDを円環状に配置するとともに、前記複数のLEDによるスポット光のそれぞれが前記光学系の焦点位置を中心とした領域に集まるようにしたリング照明であり、
検査対象である基板の前記光学系の側に設置される前記リング照明であって、前記複数のLEDによるスポット光のそれぞれが前記基板表面に対して鋭角に照射され、その反射光が、対物レンズに直接入らないように構成した反射の暗視野リング照明と、
前記基板の前記光学系とは反対側に設置される前記リング照明であって、前記複数のLEDによるスポット光のそれぞれが基板裏面に対して鋭角に照射され、前記基板内部を屈折を経て透過した透過光が、前記対物レンズに直接入らないようにした透過の暗視野リング照明と、
を備えることを特徴とする欠陥検査装置。
欠陥検査のための光学系と、欠陥検査のための照明系を有し、
前記照明系は、複数のLEDを円環状に配置するとともに、前記複数のLEDによるスポット光のそれぞれが前記光学系の焦点位置を中心とした領域に集まるようにしたリング照明であり、
検査対象である基板の前記光学系の側に設置される前記リング照明であって、前記複数のLEDによるスポット光のそれぞれが前記基板表面に対して鋭角に照射され、その反射光が、対物レンズに直接入らないように構成した反射の暗視野リング照明と、
前記基板の前記光学系とは反対側に設置される前記リング照明であって、前記複数のLEDによるスポット光のそれぞれが基板裏面に対して鋭角に照射され、前記基板内部を屈折を経て透過した透過光が、前記対物レンズに直接入らないようにした透過の暗視野リング照明と、
前記基板の前記光学系とは反対側に設置される照明であって、前記光学系の光軸と同軸の透過のスポット照明と、
を備えることを特徴とする欠陥検査装置。
前記光学系の光軸と、前記リング照明における円環の中心軸とを一致させ、同軸としたことを特徴とする構成1または2記載の欠陥検査装置。
対物レンズ、結像レンズおよび撮像素子を備える結像光学系を有し、
前記撮像素子はTDIセンサであり、
前記結像光学系は、TDIカメラを含み、
前記基板とTDIカメラとを、一定速度で一定方向に相対的に移動させる手段を有し、
前記基板上の撮像領域の移動方向および速度とTDIセンサにおけるCCDの電荷転送の方向および速度を合わせることで、CCDの垂直段の数だけ前記撮像領域を繰り返し露光し撮影する手段を有することを特徴とする構成1から3のいずれかに記載の欠陥検査装置。
前記欠陥検査装置は、焦点尤度が±0.1mmより小さい高精度の結像光学系を備えることを特徴とする構成1から4のいずれかに記載の欠陥検査装置。
前記対物レンズを利用し、レーザービームを用いて、オートフォーカス手段を構築すると共に、
前記オートフォーカス手段に用いる前記レーザービームの前記撮像素子への映り込みを回避する手段を有することを特徴とする構成4または5のいずれかに記載の欠陥検査装置。
欠陥検査のための光学系と、欠陥検査のための照明系を有し、
前記照明系は、複数のLEDを円環状に配置するとともに、前記複数のLEDによるスポット光のそれぞれが前記光学系の焦点位置を中心とした領域に集まるようにしたリング照明であり、
前記リング照明は、検査対象である基板の前記光学系の側に設置され、
前記リング照明における前記基板側の先端から前記基板表面までの距離を、前記リング照明の作動距離dとし、
前記リング照明の半径をrとし、
機械的な大きさ制限の観点から、前記dと前記rの範囲を規定し、
前記LEDの光線が前記基板に入射される際、前記光線と前記基板表面とのなす角を、前記リング照明の照射角度αとし、対物レンズに直接照明光が入らないようにする暗視野要請の観点から、前記αの範囲を規定し、
前記リング照明による照射密度をpとし、照射密度pを大きくする観点および前記暗視野要請から前記照射角度αの上限が制限される観点から、前記pの範囲を規定し、
位置関係から定まる数式d=rTan(α)から、照射密度pを考慮しつつ、前記d、前記rおよび前記αの値を決定し、これらの値に基づき装置を製造することを特徴とする欠陥検査装置の製造方法。
欠陥検査のための光学系と、欠陥検査のための照明系を有し、
前記照明系は、複数のLEDを円環状に配置するとともに、前記複数のLEDによるスポット光のそれぞれが前記光学系の焦点位置を中心とした領域に集まるようにしたリング照明であり、
前記リング照明は、検査対象である基板の前記光学系とは反対側に設置され、
前記リング照明における前記基板側の先端から前記基板裏面までの距離を、前記リング照明の作動距離dとし、
前記リング照明の半径をrとし、
機械的な大きさ制限の観点から、前記dと前記rの範囲を規定し、
前記LEDの光線が前記基板に入射される際、前記光線と前記基板裏面とのなす角を、前記リング照明の照射角度αとし、対物レンズに直接照明光が入らないようにする暗視野要請の観点から、および、ブリュースター角近傍での入射の要請の観点から、前記αの範囲を規定し、
前記リング照明による照射密度をpとし、照射密度pを大きくする観点並びに前記暗視野要請および前記ブリュースター角近傍での入射の要請によって前記照射角度αの上限が制限される観点から、前記pの範囲を規定し、
ガラスの厚さをgとし、
位置関係から定まる下記数式(3)から、照射密度pを考慮しつつ、前記d、前記rおよび前記αの値を決定し、これらの値に基づき装置を製造することを特徴とする欠陥検査装置の製造方法。
また、本発明によれば、欠陥からの散乱光の発生が少ないあるいは散乱光の発生が極めて少ないタイプの薄膜欠陥に対して大幅な欠陥検出力向上が達成できる欠陥検査装置を提供できる。
さらに、本発明によれば、コントラストの低い欠陥に対する高い欠陥検出力が達成できる欠陥検査装置を提供できる。
図1において、紙面に垂直な方向がX軸、紙面の上下方向がY軸、紙面の左右方向がZ軸、とする。
被検査体1の表面側(図面右側)には、結像光学系100が配設される。結像光学系100はXYZ駆動手段によって、X軸、Y軸、Z軸方向に駆動可能に構成されている。
結像光学系100は、対物レンズ11、結像レンズ12および撮像素子13を備える撮像カメラ(例えばTDIカメラ)10、対物レンズと結像レンズの間に配置されるオートフォーカスモジュール(同軸AFモジュール)20、照明手段31、を有する。照明手段31は対物レンズ11に装着される。
被検査体1の裏面側(図面左側)には、照明手段32、スポット照明手段33、を有する照明系101が配置される。照明系101は、結像光学系100と一体として(または完全に同期して一体的に)、XYZ駆動手段によって、X軸、Y軸、Z軸方向に駆動可能に構成されている。
照明手段31であるリング照明は、3つの同心円のそれぞれの円に沿って、LEDを円環状に3重(3列)に配置した構成を有する(図2参照)。外側および内側のLED円環列は、青色LEDが使用され、真ん中のLED円環列は、黄色LEDまたはオレンジ色LEDが使用される。ガラス基板およびマスクブランク(薄膜付き基板)を検査する際は、通常、3列すべて(青色LEDおよび黄色LED)が使用される。レジスト付きマスクブランクを検査する際は、真ん中のLED円環列(黄色LEDのみ)が使用される。レジストの感光を避けるためである。
照明手段32は、リング照明である。
照明手段32であるリング照明は、3つの同心円のそれぞれの円に沿って、LEDを円環状に3重(3列)に配置した構成を有する(図2参照)。外側、真ん中、内側の各LED円環列は、すべて青色LEDが使用される。ガラス基板およびマスクブランク(薄膜付き基板)を検査する際は、通常、3列すべて(青色LED)が使用される。照明手段32であるリング照明は、前記リング照明における円環の中心軸と前記結像光学系100の光軸Oと、を一致させ同軸としてある。
スポット照明手段33は、透過のスポット照明(例えば平行光のスポットライト)が使用され、青色LEDが使用される。スポット照明手段33は、マスクブランク(薄膜付き基板)におけるピンホールや、明確なエッジを持たず散乱光の発生が少ないハーフピンホールや、散乱光の発生が少ない膜のへこみ(凹部)や、散乱光の発生が極めて少ない薄膜のなだらかな曲面の窪み(グラデェーション)などの検出に効果的である。スポット照明手段33は、スポット照明の中心軸(LEDの光軸)と前記結像光学系100の光軸Oと、を一致させ同軸としてある。
スポット照明手段33は、平行性が良好で高輝度(高照度)なLED光源やランプ光源などによる垂直透過照明である態様や、面発光光源などが含まれる。
また、本発明には、リング照明によって基板上に形成される照明領域の中心と、リング照明における円環の中心軸とは、一致しない態様(リング照明による偏心的な照明の態様)が含まれる。
マスクブランク(薄膜付き基板)を検査する際は、照明手段31、照明手段32およびスポット照明手段33が使用されることが好ましく、これらの照明は全て同時に使用されることが好ましい。全ての照明のそれぞれに起因(対応)する欠陥を1度に検出できるからであり、1回の検査で欠陥があるかないかを効率良く検査できるからである。マスクブランク(薄膜付き基板)の検査では、ピンホール、ハーフピンホール、異物などが検出される。
レジスト付きマスクブランクを検査する際は、照明手段31における真ん中のLED円環列(黄色LEDのみ)が使用される。レジストの感光を避けるためである。レジスト付きマスクブランクの検査では、基板欠陥に加えて、レジストピンホール、レジストハーフピンホール、異物などが検出される。
本発明において、FPD(フラットパネルディスプレイ)などの表示装置(表示デバイス)としては、液晶表示装置、プラズマ表示装置、EL表示装置、有機EL表示装置、LED表示装置、DMD表示装置が代表的なものである。
遮光マスク40は、例えば、対物レンズ11と結像レンズ12との間に設置される。遮光マスク40は、例えば、対物レンズ11と被検査体1との間、被検査体1と照明手段31との間、被検査体1と照明手段32との間などに設置される。遮光マスク40は、これらの全ての箇所に設置でき、これらのうちの任意の箇所に設置でき、上記以外の光路の任意の箇所にも設置できる。
架台200は、除振台となっている。除振台は、除振機能をロックする機能があり、ロボットによる基板の装置への着脱の際は除振機能をロックすることで装置の空間位置を固定できる。
LEDの波長は、例えば可視域の範囲に設計される。例えば、LEDの波長は、青色(465nm)、黄色(592nm)、オレンジ色(610nm)などに設計される。
LEDの広がり角は、例えば、照射角が狭いタイプ(半値角±5度)、通常タイプ(半値角±20度)、パワーLEDタイプ(半値角±60度)などから選択できる。
LEDの直径(寸法)は、例えば数mmの範囲に設計される。例えば、LEDの直径(サイズ)は、狭角5.0mmや、超狭角3.1mmなどに設計される。
LEDの照射角度は、例えば10度から40度などの範囲に設計される。
リング照明のハウジングにおいては、面取り(図示せず)や、遮光板取り付け穴(図示せず)、などを設計できる。これらは、例えば、傾斜部35における検査基板側の面に形成できる。
LEDの指向性(広がり範囲)の方が位置出し精度より大きいので、このことを考慮して位置出し精度を調整するとよい。
LEDの照射角度は、例えば、超狭角:±5.5°や、 ±4.0°などでは、狙ったところだけ光を当てるようにコントロールすることが可能となる。
狭角や超狭角タイプのLEDの直径(サイズ)は、例えば、5.5mm、3.8mmが主流であるが、指向特性の方を重視して設計すると、例えば、狭角5.0mmや、超狭角3.1mmなどに設計される。
メカ的要請(寸法制限)の第1点は、リング照明の作動距離d(ワーキングディスタンス:WD)であり、これは、基板表面に対するリング照明の設置距離であり、より詳しくはリング照明の基板側の先端から基板表面までの距離である。基板保持部とのクリアランスを確保するため、リング照明の作動距離d>15mmである。
メカ的要請(寸法制限)の第2点は、リング照明の外形(半径)である。3台のTDIカメラを連続して互いに接して配置する際の配置ピッチを130mmとしているのでリング照明の外形は128mmが限度となる。これは、リング照明を装着した結像光学系を基板の端から端まで検査のため走査する際に、リング照明の外周部が、基板の端の基板保持機構(特に通常裏面側に配置されるロータリー式基板保持ユニット)や装置のフレームなどと衝突や接触が起こらないように、リング照明の外形寸法を所定範囲内に収める必要からの要請である。リング照明の半径r<62mmである。
暗視野照明の実現には、結像レンズ系を含めた照明設計が必要になる。結像レンズには高開口数(NA)のレンズを使用するため、暗視野照明とするには基板表面に対して鋭角の照射が必要となる。そのため、作動距離の確保には、リング外径を大きくする必要がある。結像光学系における対物レンズの倍率およびNAにより照射角度αの上限が決まる。例えば、対物レンズの倍率が1倍、NAが0.5であるとき、照射角度αの上限は50°になる。また、迷光低減のため、より安全な角度に照射角度を設定するという観点から、照射角度αの上限は30°以下であると好ましい。
図5(3)に示すr、d、αの3D図から、照射密度pを考慮しつつ、作りやすさや製作費用等を考慮し、図5(4)に示すように、r:54.0mm、α:25.5°、d:25.0mmに決定した。
なお、表面側の反射のリング照明において、暗視野要請を維持するためには、反射のリング照明は、対物レンズと連動させる必要ある。
裏面側の透過のリング照明では、メカ的要請、暗視野要請(光学的要請)および効率要請(照射密度)の各関係式(不等式)に関しては、上記表面側の反射のリング照明と同じである。
透過のリング照明では、dの式は、ガラスの厚さgと、裏面からの屈折光となる点が上記反射のリング照明と異なり、これによりdの式も変わる。図4に示す位置的な関係から、透過のリング照明では、図6の(式3)の関係がある。この3Dグラフを図6(1)に示す。図6(2)で、濃い色のグラフ(曲面)は式3を示し、薄い色のグラフ(曲面)は式2を示す。なお、図6(3)は図6(2)の拡大図である。
透過の照明では、ブリュースター角近傍での入射の要請、すなわち、α:33.0°の要請が加わる。ブリュースター角は、P偏光の反射率がゼロになる入射角である。ブリュースター角の現象を利用することにより、ガラス表面に到達する有効な照明に対する反射損失を極めて小さくできる。
図6(2)に示すr、d、αの3D図から、照射密度pを考慮しつつ、作りやすさや製作費用等を考慮し、図6(3)に示すように、r:50.0mm、α:33.0°、d:20.0mmに決定した。
なお裏面側の透過の暗視野リング照明は、結像レンズの倍率と連動させる必要がある。このような連動の必要性のため、顕微鏡等では、裏面側照明による透過の暗視野は一般的ではない。同様の理由から、反射及び透過両面同時暗視野も例が見られない。
裏面側(透過側)リング照明は、照射角度αが31°、ハウジングの外径R2が125mm、ハウジングの厚さtが22mmや19mm、などに最終設計される。
本発明においては、複数のLEDによるスポット光の集まりによって基板上形成される前記照明領域の半径は、例えば1mm〜20mm(例えば10mm)の範囲となるようにすることが好ましい。この範囲は、撮像カメラ(例えばTDIカメラ)の焦点位置を中心とした領域(画像取得領域、検査領域、撮像領域)に対応することが好ましい。
例えば、ハウジング34の内周面の傾斜部35を、集光特性が向上する曲面(または前記曲面に近似する円に内接する多角形の一部)とすることで、前記照明領域の半径も相対的に狭くしていくことができる。
さらには、ハウジング34の内周面の傾斜部35を、複数のLEDによるスポット光がほぼ1点(1スポットの領域)で重なるような集光特性の曲面または前記曲面に近似する円に内接する多角形の一部とすることもできる。
リング照明の作動距離dは、表面側(反射側)は結像レンズとの組み合わせで最適位置に自ずと決まるが、裏面側(透過側)に関してはガラスの厚み(例えば、8mmから13.5mm)に応じて最適な位置が変わってくるのでステージで動的に変化できる機構になっている。
照明系による迷光は、表面側(反射側)リング照明では、基板からの反射光の迷光を考慮する。裏面側(透過側)リング照明では、基板裏面での反射光を考慮し、ガラス基板内部の屈折を考慮し、ガラス基板内部からの透過光の迷光を考慮する。
前記基板とTDIカメラとを、一定速度で一定方向に相対的に移動させる手段を有し、
前記基板上の撮像領域(撮像対象物)の移動方向および速度とTDIセンサにおけるCCDの電荷転送の方向および速度を合わせることで、CCDの垂直段の数だけ前記撮像領域(撮像対象物)を繰り返し露光し撮影する手段を有することが好ましい。
ここで、基板上の撮像領域の移動方向および速度とTDIセンサにおけるCCDの電荷転送の方向および速度を合わせることで、CCDの垂直段の数だけ前記撮像領域を繰り返し露光し撮影する手段は、例えば、TDIカメラ内蔵の制御装置(制御回路、CPU、ソフトウエアなど)で行うことができる。
一定速度、一定方向に移動する撮影対象物ならば、撮影対象物の移動方向・速度とCCDの電荷転送の方向・速度を合わせることで、CCDの垂直段の数だけ対象物(1列分のCCDに対応する対象物上の同一領域)を繰り返し露光・撮影させる。
1列目のCCDで得られた撮像は、そのまま2列目のCCDに転送される。2列目のCCDでは、前列から送られてきた撮像に、2列目のCCDで得られた撮像を加算して蓄積し、更に3列目のCCDに転送される。n列目のCCDでは、n列目のCCDで得られた撮像を、(n−1)列目までで累積された撮像に加算して、(n+1)列目に転送する。すなわち、x列のCCDを並べたTDIセンサでは、得られた撮像はx倍となって蓄積されることになる。x列の積分露光を行う場合、x倍の光量と√x(ルートx)のノイズ軽減が期待できる。
この結果、格段に高い感度が得られ、高速性と高感度を両立できる。
従来のCCDでは、高解像度であるがゆえの感度不足の低輝度の画像しか得られなかったが、積分露光することにより、高解像度でありながら明るく鮮明な画像が得られるようになる。明るさ不足を補うために、撮影対象物の移動速度を落とす、あるいは停止させてしまうなどの従来方式と比べると、高速かつ短時間で処理ができるようになる。
尚、TDIでは、移動しながら対象を撮影するという性格上、カメラ技術だけでなく。光学技術、搬送技術なども含めた、トータルなソリューション力が必要となる。
本発明はラインセンサにも適用可能である。ラインセンサでは、TDIと同様に流し撮りができる。TDIセンサは128段で、ラインセンサの128倍の光量がとれる。光量が取れる分128倍検査スピードを上げることができる。
CCDエリアセンサの場合は、例えば、15mm角である。流し撮りはできない。感度もよくない。
本発明では、TDIセンサが好ましい。ラインセンサや、エリアセンサでは2世代先の欠陥検査は難しい。
X軸ステージ211は、Y軸ステージ212をX軸方向(紙面上で左右方向)に移動させることで、ヘッド部300をX軸方向に駆動する。
Y軸ステージ212は、Z軸ステージ213をY軸方向(紙面上で上下方向)に移動させることで、ヘッド部300をY軸方向に駆動する。
Z軸ステージ213は、ヘッド部300をZ軸方向(紙面に垂直な方向)に移動させることで、ヘッド部300をZ軸方向に駆動する。
本発明の装置では、ヘッド部300において、例えば図7のX軸方向に互いに隣接してTDIカメラと観察光学系(顕微鏡)を配置することができる。
また、本発明の装置では、被検査体(基板)1は固定し、結像光学系100を被検査体(基板)1上の所望位置へ移動させることで欠陥検査を実施する構造が好ましい。被検査体(基板)1の方を移動させる構造の場合は、その分の移動スペースが必要となる。また、被検査体(基板)1は重量が非常に大きいので、被検査体(基板)1の移動や反転・停止の際に振動が生じ易い。
オートフォーカス手段では、非点収差法の他、ナイフエッジ法、などが利用できる。
また、本発明においては、光学系と被検査体(基板)1との間の空間において、光学系に用いる光学レンズは極力作動距離の長いものが好適である。少なくとも数mm、できれば4mm以上の作動距離(レンズのワーキングディスタンス)のものが好適である。
非点収差法では一般的にシリンドリカルレンズ(円柱レンズ、かまぼこ形状のレンズ)を使用する。被検査体1の表面で反射され、4分割フォトディテクタ(PD)への戻り光路中にシリンドリカルレンズを挿入すると、シリンドリカルレンズは図のX軸方向にのみレンズ効果があるため、X軸方向の焦点位置とY軸方向の焦点位置がずれて非点収差が発生し、ビームの形状は光軸上の距離によって、1(縦長楕円)→2(円形)→3(横長楕円)のように変化する(図8の上方の図)。
ここで、上から時計回りにA、B、C、Dに4分割されたフォトディテクタでビームを受光すると、1〜3それぞれの場合にA〜Dの入射光量のバランスが変化する。
1の場合、AおよびCの入射光量が大きい(図8中の1の下方の図)。
2の場合、A.B.C.Dの4つの入射光量が等しい。
3の場合、B及びDの入射光量が大きい。
FE>0の場合は、手前にフォーカスがずれている(被検査体1が近い)。
FE=0の場合は、フォーカスが合っている(合焦)。
FE<0の場合は、奥側にフォーカスがずれている(被検査体1が遠い)。
同軸オートフォーカスモジュールは、レーザー光源(レーザーダイオード)21、絞り22、偏光ビームスプリッタ(PBS)23、1/4波長板24、反射素子(プリズムミラー)25、集光レンズ26、シリンドリカルレンズ27、4分割フォトディテクタ(光検出器)28で構成される。
図10は、オートフォーカス機能に用いるレーザービームの撮像素子への映り込みを回避する手段を説明するための図である。
詳しくは、図10(1)は、撮像カメラ(例えばTDIカメラ)の結像光学系(対物レンズ)による被検査基板上の映像取得領域と被検査基板上のレーザービームのスポットとの位置関係を説明するための図である。図10(1)は、映像取得領域を正面から見た図(対物レンズを通して見た図)である。
図10(2)は、撮像素子(例えばTDIセンサ)を含む受光平面における、撮像素子(例えばTDIセンサ)領域と、レーザービームが被検査基板で反射され、その反射光が結像光学系を介して撮像素子(例えばTDIセンサ)を含む受光平面上に結像する位置との位置関係を説明するための図である。図10(2)は、受光平面を背面から見た図である。
TDIセンサは、CCDを横方向に一列に並べ、更に縦方向にもCCDを複数列並べたものである。複数列のCCDで得られた画像を積分露光することで、高い感度の画像を得ることができるようになる。
本発明では、図10(2)に示すように、結像レンズで映し出される領域Bの一部を使用する撮像素子Tを用いる。
そして、本発明では、図10(1)に示すように、対物レンズで捉えられる被検査基板上の映像取得領域Aのうちの撮像素子に対応する画像取得領域T’、を除く領域にレーザービームのスポットSが位置するようにする。これにより、図10(2)に示すように、撮像素子Tを除く領域にレーザービームのスポットの像S’が位置するようにした。
このように、例えば、図10(1)に示すように、レーザービームのスポットSの位置(レーザービームの集光位置)を、光軸Oから僅かにずらすことで(映像取得領域Aの面上で平行移動させ画像取得領域T’の外にずらすことで)、レーザービームのスポットの像S’が撮像素子Tに映り込むことを回避する。
なお、「僅かに」とは、レーザービームのスポットの像S’が撮像素子Tに映り込むことを回避できる程度である。レーザービームのスポットの像S’は、フォーカスのずれに応じて拡大するので、それを考慮し、撮像素子に映り込むことや、撮像素子に影響を与えること(例えばノイズ)を回避できるようにする。また、レーザービームのスポットの像S’は、レーザー光源(レーザーダイオード)を置く位置やレーザー光源の太さ(ビームの径)に応じて大きさが変化するので、それを考慮し、撮像素子に映り込むことや、撮像素子に影響を与えること(例えばノイズ)を回避できるように、レーザー光源(レーザーダイオード)の配置や絞り22を調整する。
本発明では、上述したように、格段に優れたリング照明を用いることによって、360°全ての方向から同時に照明することが可能となり欠陥の方向性に依存しない欠陥検出が可能となることに加え、現状で提供されているリング照明を使用した場合に比べ、格段に安定した高い欠陥検出力が発揮でき、期待する効果が得られる。
本発明では、高精度の結像光学系(高NAにより明るく高解像で焦点尤度が極小)を用いることによって、このような光学系を用いない場合に比べ、欠陥検出の精度が高精度であり、検出可能な欠陥サイズが相対的に小さくなる点で高精度である。
さらに、本発明では、TDIカメラの適用で高感度検査に対応できる。これに加え、本発明では、画像取得位置での極めて正確な焦点調整の適用で高感度検査に対応できる。
本発明では、本発明に係る照明系で照明しつつ、常にフォーカッシングしつつTDIセンサでデータを取得することによって、TDIセンサでつくる2次元像の精度が向上する。これにより、欠陥検出精度の向上をより図ることが可能となる。
また、本発明では、TDIカメラの適用で高速検査に対応できる。これに加え、本発明では、リアルタイムオートフォーカス制御にて高速検査に対応できる。
本発明では、高精度の結像光学系(高NAで明るく高解像で焦点尤度が極小)を用いた検査における上述した焦点尤度の問題を解消した点で、高精度の結像光学系を用いるが本願発明のリアルタイムオートフォーカスを用いない場合(この場合上記焦点尤度の問題のためピントが合わない場合がある)に比べ欠陥検出の精度が高精度である。
本発明では、リアルタイムオートフォーカスの適用により、画像取得位置での極めて正確な焦点調整が可能となり、基板姿勢に依存しない安定した高い欠陥検出力を発揮できる。
(実施例1)
[欠陥検査装置の製造]
基板の傾きは、図1のX軸方向に0.05度であり、図1のX軸方向上で100mm離れていると約0.09mmのZ軸方向のずれが生じる。TDIカメラの走査の方向はX軸方向である。
LEDの直径(サイズ)は超狭角3.1mmとした。LED素子の配置個数は120素子とした。
図3に示すハウジングを用いた。照射角度αは25°(暗視野照明)、ハウジングの外径R2は128mm、ハウジングの厚さtは20mmとした。
照明手段31である反射の暗視野リング照明(表面側)の作動距離dは、25.0mmとした。作動距離dは、LED照明の基板側の先端から基板表面までの距離である。
LEDの直径(サイズ)は超狭角3.1mmとした。LED素子の配置個数は120素子とした。
図3に示すハウジングを用いた。照射角度αは31°(暗視野照明)、ハウジングの外径R2は125mm、ハウジングの厚さtは19mmとした。
照明手段32である透過の暗視野リング照明(裏面側)の作動距離dは、20.0mmとした。作動距離dは、LED照明の基板側の先端から基板表面までの距離である。
比較例1では、現状で提供されている市販のリング照明を用いた。また、一般的なスポット照明手段を用いた。それ以外は、実施例1と同様とした。
LEDの直径(サイズ)は120mmであった。LED素子の配置個数は120素子であった。照射角度αは概ね30°であった。明視野光と暗視野光が含まれる複合照明となり、欠陥部分のコントラストが低下した。
スポット照明手段33は、平行光でなく、高輝度(高照度)でないスポットライト(青色LED)を使用した。
比較例1では、現状で提供されているリング照明に改良を加え簡易に作製したリング照明を用いた。また、一般的なスポット照明手段を用いた。それ以外は、実施例1と同様とした。
LEDの直径(サイズ)は120mmであった。LED素子の配置個数は120素子であった。照射角度αは概ね25°であった。明視野光と暗視野光が含まれる複合照明となり、欠陥部分のコントラストが低下した。
比較例2では、実施例1に比べ、見落とす欠陥が多く発生した。
スポット照明手段33は、高輝度(高照度)だが、平行光でないスポットライト(青色LED)を使用した。
実施例1、比較例1および比較例2の欠陥検査装置を用いて欠陥検査を行った。
ガラス基板を検査する際は、照明手段31および照明手段32を両方同時に使用した。
マスクブランク(薄膜付き基板)を検査する際は、照明手段31、照明手段32およびスポット照明手段33の全てを同時に使用した。
レジスト付きマスクブランクを検査する際は、照明手段31における真ん中のLED円環列(オレンジ色LEDのみ)を使用した。
比較例1では、欠陥検出がほとんどできなかった。
比較例2では、結像レンズ系の光軸近傍領域では高い欠陥検出力を確認したが、それ以外の視野領域では高い欠陥検出力は得られず、欠陥検出力が不十分で期待する効果が得られなかった。
比較例1では、欠陥検出がほとんどできなかった。
比較例2では、結像レンズ系の光軸近傍領域では高い欠陥検出力を確認したが、それ以外の視野領域では高い欠陥検出力は得られず、欠陥検出力が不十分で期待する効果が得られなかった。
比較例1では、欠陥検出がほとんどできなかった。
比較例2では、高い欠陥検出力は得られず、欠陥検出力が不十分で期待する効果が得られなかった。
実施例2では、実施例1において同軸オートフォーカスモジュールを作動させなかった。それ以外は、実施例1と同様とした。
その結果、欠陥検出の出来る部分と出来ない部分の差が大きかった。
実施例2では、実施例1において同軸オートフォーカスモジュールを作動させなかった。また、実施例1においてTDIカメラの代わりにラインセンサを用いた。検査時間は実施例1の20倍とした。それ以外は、実施例1と同様とした。
その結果、欠陥検出がほとんどできなかった。
実施例4では、実施例1において、裏面側の透過の暗視野リング照明のみを点灯させた。
実施例4では、実施例1に比べ、異物の検出が劣っていた。
実施例5では、実施例1において、表面側の反射の暗視野リング照明のみを点灯させた。
実施例5では、実施例1に比べ、キズ及びピンホールの検出が劣っていた。
これは、散乱理論から言うと、前方散乱と後方散乱とでは、一般的には前方散乱の方がより強度が取れるからであり、透過の暗視野リング照明による基板の裏面側から入射し、透過される光は前方散乱になるからである。
実施例6では、実施例1において、スポット照明手段のみを点灯させた。
実施例6では、実施例1に比べ、異物、ハーフピンホールの検出が劣っていた。
10 撮像カメラ(例えばTDIカメラ)
11 対物レンズ
12 結像レンズ
13 撮像素子
20 オートフォーカスモジュール
31 照明手段
32 照明手段
33 照明手段
100 結像光学系
200 架台
300 ヘッド部
Claims (10)
- ガラス基板、マスクブランクおよびレジスト付きマスクブランクのいずれかからなる被検査体の欠陥検査が可能な欠陥検査装置であって、
前記被検査体に存在した欠陥によって生じた散乱光を、欠陥検査のための光学系で受光し、受光した散乱光に基づいて欠陥を検出する欠陥検査装置であり、
欠陥検査のための光学系と、欠陥検査のための照明系を有し、
前記照明系は、複数のLEDを円環状に配置するとともに、前記複数のLEDの向きを前記光学系の焦点位置を中心とした領域に向けて配置することによって、前記複数のLEDによるスポット光のそれぞれが前記光学系の焦点位置を中心とした領域に集まるようにしたリング照明であり、
前記被検査体の前記光学系の側に設置される前記リング照明であって、前記複数のLEDによるスポット光のそれぞれが前記被検査体表面に対して鋭角に照射され、前記被検査体からの反射光が、対物レンズに直接入らないように構成した反射の暗視野リング照明と、
前記被検査体の前記光学系とは反対側に設置される前記リング照明であって、前記複数のLEDによるスポット光のそれぞれが基板裏面に対して鋭角に照射され、前記被検査体の内部を屈折を経て透過した透過光が、前記対物レンズに直接入らないようにした透過の暗視野リング照明と、
を備えることを特徴とする欠陥検査装置。 - ガラス基板、マスクブランクおよびレジスト付きマスクブランクのいずれかからなる被検査体の欠陥検査が可能な欠陥検査装置であって、
前記被検査体に存在した欠陥によって生じた散乱光を、欠陥検査のための光学系で受光し、受光した散乱光に基づいて欠陥を検出する欠陥検査装置であり、
欠陥検査のための光学系と、欠陥検査のための照明系を有し、
前記照明系は、複数のLEDを円環状に配置するとともに、前記複数のLEDの向きを前記光学系の焦点位置を中心とした領域に向けて配置することによって、前記複数のLEDによるスポット光のそれぞれが前記光学系の焦点位置を中心とした領域に集まるようにしたリング照明であり、
前記被検査体の前記光学系の側に設置される前記リング照明であって、前記複数のLEDによるスポット光のそれぞれが前記被検査体の表面に対して鋭角に照射され、前記被検査体からの反射光が、対物レンズに直接入らないように構成した反射の暗視野リング照明と、
前記被検査体の前記光学系とは反対側に設置される前記リング照明であって、前記複数のLEDによるスポット光のそれぞれが前記被検査体の裏面に対して鋭角に照射され、前記被検査体の内部を屈折を経て透過した透過光が、前記対物レンズに直接入らないようにした透過の暗視野リング照明と、
前記被検査体の前記光学系とは反対側に設置される照明であって、前記光学系の光軸と同軸の透過のスポット照明と、
を備えることを特徴とする欠陥検査装置。 - 前記光学系の光軸と、前記リング照明における円環の中心軸とを一致させ、同軸としたことを特徴とする請求項1または2記載の欠陥検査装置。
- 対物レンズ、結像レンズおよび撮像素子を備える結像光学系を有し、
前記撮像素子はTDIセンサであり、
前記結像光学系は、TDIカメラを含み、
前記被検査体とTDIカメラとを、一定速度で一定方向に相対的に移動させる手段を有し、
前記被検査体上の撮像領域の移動方向および速度とTDIセンサにおけるCCDの電荷転送の方向および速度を合わせることで、CCDの垂直段の数だけ前記撮像領域を繰り返し露光し撮影する手段を有することを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の欠陥検査装置。 - 前記欠陥検査装置は、焦点尤度が±0.1mmより小さい高精度の結像光学系を備えることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の欠陥検査装置。
- 前記対物レンズを利用し、レーザービームを用いて、オートフォーカス手段を構築すると共に、
前記オートフォーカス手段に用いる前記レーザービームの前記撮像素子への映り込みを回避する手段を有することを特徴とする請求項4に記載の欠陥検査装置。 - 前記照明系に使用する前記LEDは、青色LED(波長:465nm)、黄色LED(波長:592nm)、オレンジ色LED(波長:610nm)から選択されることを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載の欠陥検査装置。
- 前記反射の暗視野リング照明に使用する前記LEDは、青色LED(波長:465nm)と、黄色LED(波長:592nm)またはオレンジ色LED(波長:610nm)であって、前記透過の暗視野リング照明に使用する前記LEDは青色LED(波長:465nm)であることを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載の欠陥検査装置。
- 請求項1から8のいずれかに記載の欠陥検査装置を使用し、前記被検査体を検査することを特徴とする欠陥検査方法。
- 前記被検査体の種類によって、前記反射の暗視野リング照明に使用する前記LED、および前記透過の暗視野リング照明に使用する前記LEDを適宜選択して前記被検査体を検査することを特徴とする請求項9に記載の欠陥検査方法。
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