JP6894248B2 - 回転角度算出装置、及び回転角度算出方法 - Google Patents

回転角度算出装置、及び回転角度算出方法 Download PDF

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Description

本発明は、回転角度算出装置、及び回転角度算出方法に関する。
山岳トンネルなどの機械掘削においては、掘削面の堀残し等の確認のために掘削面の測定が行われる。このような掘削面の測定手法として、ノンプリズム断面測定器を利用した測定や、ロッドを用いた検尺などが知られている。しかしながら、ノンプリズム断面測定器による測定では、支保工の影になる部分に光を照射して測定を行うことが困難である。また、上記の各手法では点による情報しか得ることができないために、面としての正確な形状を把握するには多くの時間を要する。
そこで、3次元スキャナを切羽の後方に設置してトンネル座標を計測し、計測したトンネル座標と基準データとを比較して得られた比較断面データに基づいて、比較断面の情報を出力するようにしたトンネル掘削施工支援システムが知られている(例えば、特許文献1参照)。
特許第5500709号公報
しかしながら、トンネル掘削施工支援システムにおいて3次元スキャナでトンネル座標を計測する際には、3次元スキャナが計測に用いる3次元スキャナの座標ξηζと、トンネルの設計に用いるトンネル座標xyzとの関係において、ξ軸およびη軸が、xy平面と平行であること、ζ軸がz軸と平行であることを必要とするため、計測できるトンネル座標が限られてしまう場合があった。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、3次元空間の座標系xyzと、座標系xyzに対し任意の方向に設置された3次元スキャナの座標系ξηζとの相対的な回転角度を容易に算出することができる回転角度算出装置、及び回転角度算出方法を提供することにある。
上述した課題を解決するための本発明の一実施形態の回転角度算出装置は、3次元空間の座標系xyzと、前記座標系xyzに対し任意の方向に設置された3次元スキャナの座標系ξηζとの相対的な回転角度を算出する回転角度算出装置であって、前記3次元スキャナが計測した前記3次元空間における3次元形状を示す3次元座標群を、座標系ξηζにおける第1軸又は第2軸のいずれかである第1回転軸の軸周りに回転させた場合の座標を算出する回転算出部と、前記回転算出部により前記3次元座標群が回転される度に、回転後の前記3次元座標群を前記1軸および前記2軸からなる平面に投影させた座標群が含まれる領域の面積を算出する投影算出部と、前記投影算出部によって算出された面積のうち、最小となる面積が算出された場合における前記第1回転軸の軸周りに回転させた回転角度を、前記第1回転軸と前記座標系xyzにおける前記第1回転軸に対応する軸との相対的な回転角度である第1回転角度とする判定部と、を備える。
また、本発明の一実施形態の回転角度算出方法は、3次元空間の座標系xyzと、前記座標系xyzに対し任意の方向に設置された3次元スキャナの座標系ξηζとの相対的な回転角度を算出する回転角度算出方法であって、前記3次元スキャナが計測した前記3次元空間における3次元形状を示す3次元座標群を、座標系ξηζにおける第1軸又は第2軸のいずれかである第1回転軸の軸周りに回転させた場合の座標を算出する回転算出工程と、前記回転算出工程により前記3次元座標群が回転される度に、回転後の前記3次元座標群を前記1軸および前記2軸からなる平面に投影させた座標群が含まれる領域の面積を算出する投影算出工程と、前記投影算出工程において算出された面積のうち、最小となる面積が算出された場合における前記第1回転軸の軸周りに回転させた回転角度を、前記第1回転軸と前記座標系xyzにおける前記第1回転軸に対応する軸との相対的な回転角度である第1回転角度とする判定工程と、
含む
以上説明したように、この発明によれば、3次元空間の座標系xyzと、座標系xyzに対し任意の方向に設置された3次元スキャナの座標系ξηζとの相対的な回転角度を容易に算出することができる。
本実施形態の回転角度算出装置を含む計測システムの設置例を示す図である。 3次元スキャナをトンネル内に設置した一例を示す図である。 3次元スキャナをトンネル内に設置した図2と異なる例を示す図である。 回転角度算出装置の構成例を示す機能ブロック図である。 回転角度算出装置が回転角度を算出するために用いる座標テーブルの例を示す図である。 回転角度算出装置が回転角度を算出するために用いる回転テーブルの例を示す図である。 回転角度算出装置が回転角度を算出する処理の流れを示すフローチャートである。 回転角度算出装置がη軸の回転角度を算出する処理の流れを示すフローチャートである。 回転角度算出装置がζ軸の回転角度を算出する処理の流れを示すフローチャートである。 回転角度算出装置がξ軸の回転角度を算出する処理の流れを示すフローチャートである。 トンネルと座標系xyzの関係を説明するための図である。 トンネルに3次元スキャナを設置した場合における座標系xyzと座標系ξηζとの関係を説明するための図である。 トンネルの坑内を計測した3次元スキャナから入力される3次元座標群が示すトンネルの形状のイメージを示す図である。 トンネルの坑内を計測した3次元スキャナから入力される3次元座標群をηζ平面に投影させた場合の例を示す図である。 図13の3次元座標群についてη軸周りに回転させた後の3次元座標群が示すトンネルの形状のイメージを示す図である。 図14の3次元座標群についてη軸周りに回転させた後の3次元座標群をηζ平面に投影した場合の例を示す図である。 図15の3次元座標群についてζ軸周りに回転させた後の3次元座標群が示すトンネルの形状のイメージを示す図である。 図16の3次元座標群についてζ軸周りに回転させた後の3次元座標群をηζ平面に投影した場合の例を示す図である。 図17の3次元座標群についてξ軸周りに回転させた後の3次元座標群が示すトンネルの形状のイメージを示す図である。
以下、実施形態の回転角度算出装置を、図面を参照して説明する。
図1は本実施形態における回転角度算出装置の計測システムの概念図を示している。同図に示される計測システム1は、掘削工事が行われるトンネルTNの構内において備えられる。また、本実施形態の計測システム1は、トンネルTNの切羽、側壁などのトンネルTNの坑内の壁面の計測対象(3次元形状)を計測する。
同図の計測システム1は、3次元スキャナ10と、回転角度算出装置30と、三脚20とを備える。
3次元スキャナ10は、例えば筐体11にセンサ12を組み合わせて構成され、3次元スキャナ10と測量対象物との距離を計測することのできる計測装置である。3次元スキャナ10は、図示しない3次元スキャナ10の光線照射部から照射された光線が測量対象物に反射し、センサ12に受光されるまでに要する時間を計測することにより、3次元スキャナ10と測量対象物との距離を計測する。本実施形態において、3次元スキャナ10は、トンネルTNの坑内の側面の3次元形状を計測するのに用いられる。
三脚20は、三本の脚をもつ台である。本実施形態において、三脚20は、3次元スキャナ10を支えるための台として用いられる。
本実施形態において、トンネルTNの坑内の位置は、3次元直交座標系xyzにより表される。同図の例では、x軸はトンネルTNの坑内の延伸方向に対応し、y軸はトンネルTNの坑内における幅方向に対応し、z軸はトンネルTNの坑内の鉛直方向に対応する。
また、本実施形態において、3次元スキャナ10のセンサ12の中心位置を原点とする3次元直交座標系ξηζが用いられる。
ここで、3次元スキャナ10の3次元直交座標系ξηζ(以下、単に座標系ξηζという)は、トンネルTNの3次元直交座標系xyz(以下、単に座標系xyzという)に対し任意の方向に設置される。このため、トンネルTNの座標系xyzを構成する各々の座標軸の方向と、座標系ξηζを構成する各々の座標軸の方向とは、必ずしも一致するとは限らない。
図2は、トンネルTNの坑内において3次元スキャナ10を設置した場合の態様例を示す。図2においては、トンネルTNの坑内の延伸方向と平行な平面から見た図を示している。図2において、3次元スキャナ10は、三脚20の上に設置され、座標系ξηζにおけるξ軸およびζ軸の座標軸は、座標系xyzのおけるx軸およびz軸を反時計回りに回転させた方向に設置されている。この場合において、座標系xyzのx軸およびz軸の座標軸と、x軸およびz軸にそれぞれ対応する座標系ξηζのξ軸およびζ軸の座標軸とは、相対的に軸の方向がずれた関係となる。
図3は、トンネルTNの坑内において3次元スキャナ10を設置するにあたって、トンネルTNの側壁面に設置した態様例を示す。図3においては、トンネルTNの側壁面に対し鋼鉄の支保工TMが設けられた場合の例をトンネルTNの切羽の面から見た図を示している。図3において、3次元スキャナ10は、固定具のマグネットMGの磁力により支保工TMに固定され、トンネルTNの側壁面に対し垂直に設置されている。この場合において、座標系xyzのy軸およびz軸の座標軸と、y軸およびz軸にそれぞれ対応する座標系ξηζのη軸およびζ軸の座標軸とは、相対的に軸の方向がずれた関係となる。
図2および図3に示すように、3次元スキャナ10は、トンネルTNの坑内の任意の箇所に設置され、座標系ξηζを構成する各々の座標軸は、座標系xyzを構成する各々の座標軸に対し相対的に軸の方向がずれた関係となる場合がある。また、3次元スキャナ10によって計測されたトンネルTNの坑内の3次元形状は、座標系ξηζを用いて表される。このため、座標系ξηζを構成する各々の座標軸における、各々の座標軸に対応する座標系xyzを構成する各々の座標軸とのずれ(回転角度)を算出した上で、3次元スキャナ10によって計測されたトンネルTNの坑内の3次元形状が、トンネルTNのどこに対応するかを求める必要がある。
図1に戻り、回転角度算出装置30は、2つの異なる3次元座標系における相対的な座標軸のずれを補正することができる演算処理装置である。回転角度算出装置30は、例えばCPU(Central Processing Unit)などのプロセッサがプログラムメモリに格納されたプログラムを実行することにより実現される。また、これらの機能部のうち一部または全部は、LSI(Large Scale Integration)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、またはFPGA(Field-Programmable Gate Array)などのハードウェアにより実現されてもよい。
本実施形態の回転角度算出装置30は、3次元スキャナ10と接続され、3次元スキャナ10からトンネルTNの坑内の3次元形状を示す計測情報を入力する。回転角度算出装置30は、入力した計測情報に基づいて、座標系xyzに対する、座標系ξηζの各々の座標軸のずれを算出し、座標系ξηζの各々の座標軸のずれを補正する。
なお、図1において、回転角度算出装置30は、3次元スキャナ10とケーブルにて接続されている態様を示したが、回転角度算出装置30は、Wi−Fi網や赤外線などの近距離無線通信網などを介した無線通信にて3次元スキャナ10から計測情報を入力する態様であってもよい。
続いて、図4、図5および図6を用いて回転角度算出装置30を構成する機能ブロックについて説明する。図4は、回転角度算出装置30の構成例を示している。図4に示す通り、回転角度算出装置30は、例えば記憶部31と制御部32と投影算出部33と回転算出部34と判定部35と入力部36を備える。記憶部31は、座標テーブル311とη軸回転テーブル312とζ軸回転テーブル313とξ軸回転テーブル314との各々の情報を記憶する。
図5は、座標テーブル311に記憶する情報の一例を示す図である。
座標テーブル311には、座標番号iおよび各座標軸の回転角度θとともに座標値(ξξηζ、ηi,ξηζ、ζi,ξηζ)が記憶される。座標値(ξξηζ、ηi,ξηζ、ζi,ξηζ)とは、3次元スキャナ10からの計測情報に基づく3次元座標群を、座標系ξηζにおけるξ軸、η軸およびζ軸のいずれか又は複数の座標軸周りに回転させた場合の座標値である。
図6は、η軸回転テーブル312、ζ軸回転テーブル313およびξ軸回転テーブル314に記憶する情報の一例を示す図である。図6(a)は、η軸回転テーブル312に記憶する情報の一例を示す図である。図6(b)は、ζ軸回転テーブル313に記憶する情報の一例を示す図である。図6(c)は、ξ軸回転テーブル314に記憶する情報の一例を示す図である。
η軸回転テーブル312には、面積Aηζが、η軸周りの回転角度θηと関連付けて記憶される。また、ζ軸回転テーブル313には、面積Aηζが、ζ軸周りの回転角度θζと関連付けて記憶される。ξ軸回転テーブル314には、差分面積Aηζ,dが、ξ軸周りの回転角度θξと関連付けて記憶される。なお、面積Aηζおよび差分面積Aηζ,dについては後で説明する。
図4に戻り、制御部32は、投影算出部33と回転算出部34と判定部35と入力部36を制御する。制御部32は、投影算出部33に、面積Aηζを算出させる。また、制御部32は、投影算出部33に、差分面積Aηζ,dを算出させる。制御部32は、回転算出部34に、3次元スキャナ10からの計測情報に基づく3次元座標群を、指定した回転軸および回転角度で回転させた場合の座標値を算出させる。制御部32は、判定部35に、η軸周りの回転角度θηを算出させる。制御部32は、判定部35に、ζ軸周りの回転角度θζを算出させる。制御部32は、判定部35に、ξ軸周りの回転角度θξを算出させる。
投影算出部33は、制御部32からの指示に基づいて、座標テーブル311を参照し、座標テーブル311に記憶されている3次元座標群、および3次元座標群に関連付けて記憶されているη軸周りの回転角度θηを参照する。
投影算出部33は、参照した3次元座標群をηζ平面に投影させた場合のη軸における最大値ηmaxおよび最小値ηminを求める。また、投影算出部33は、参照した3次元座標群をηζ平面に投影させた場合のζ軸における最大値ζmaxおよび最小値ζminを求める。そして、投影算出部33は、求めたη軸における最大値ηmax、最小値ηmin、および、ζ軸における最大値ζmax、最小値ζminに基づいて、面積Aηζを算出する。投影算出部33は、算出した面積Aηζを、η軸周りの回転角度θηと関連付け、η軸回転テーブル312に、記憶させる。
ここで、面積Aηζについて、図14を用いて説明する。
図14は、η軸周りに回転させる前と後における座標点群をηζ平面に投影させた例を示す図である。図14(a)は、η軸周りに回転させる前において、座標点群をηζ平面に投影させた態様を示す図である。図14(b)は、14(a)に示す状態から、座標点群をηζ平面に投影させた態様を示す図である。
図14(a)に示すように、面積Aηζとは、η軸における座標値が最大値ηmaxであってζ軸と平行な直線L1と、η軸における座標値が最小値ηminであってζ軸と平行な直線L2と、ζ軸における座標値が最大値ζmaxであってη軸と平行な直線L3と、ζ軸における座標値が最小値ζminであってη軸と平行な直線L4と、で囲まれる方形の面積である。
トンネルTNは略円筒型の形状であることから、η軸における最大値ηmaxと最小値ηminおよび、ζ軸における最大値ζmaxと最小値ζminとなり得る座標は、図14(a)におけるトンネルTNの底面における四隅の座標F1、F2、E1、およびE2のうちのいずれか2点を結ぶ直線上にある座標、或いは、トンネルTNの上面における頂点の座標F3、およびE3を結ぶ直線上にある座標点となると考えられる。
このため、トンネルTNの底面における四隅の位置を示す座標F1、F2、E1、およびE2からなる平面、或いは、トンネルTNの上面における頂点の位置を示す座標F3、およびE3を結ぶ直線(x軸と平行な直線)に対する、η軸の回転角度が大きい程、上述したステップS14に示す処理において求められる面積Aηζが大きくなる。そして、図14(b)に示すように、x軸と平行な直線に対する、η軸の回転角度が小さい程、面積Aηζが小さくなると考えられる。
本実施形態では、η軸周りに所定の回転角度で回転させる度に面積Aηζを求め、求めた面積Aηζが最小となる回転角度θηを、y軸とη軸との間の相対的な回転角度として求める。
図4に戻り、投影算出部33は、ζ軸についても同様に、制御部32からの指示に基づいて、座標テーブル311を参照し、座標テーブル311に記憶されている3次元座標群、および3次元座標群に関連付けて記憶されているζ軸周りの回転角度θζを参照する。そして、投影算出部33は、参照した3次元座標群をηζ平面に投影させた場合のη軸における最大値ηmaxおよび最小値ηminを求める。また、投影算出部33は、参照した3次元座標群をηζ平面に投影させた場合のζ軸における最大値ζmaxおよび最小値ζminを求める。そして、投影算出部33は、求めたη軸における最大値ηmaxと最小値ηminと、ζ軸における最大値ζmaxと最小値ζminに基づいて、面積Aηζを算出する。投影算出部33は、算出した面積Aηζを、ζ軸周りの回転角度θζと関連付け、ζ軸回転テーブル313に、記憶させる。
ここで、ζ軸周りに回転させながら求める面積Aηζについて、図16を用いて説明する。図16は、ζ軸周りに回転させる前と後における座標点群をηζ平面に投影させた例を示す図である。図16(a)は、η軸周りに回転角度θηで回転させた後、ζ軸周りに回転させる前において、座標点群をηζ平面に投影させた態様を示す図である。図16(b)は、図16(a)に示す状態から、さらにζ軸周りに回転させた後の座標点群をηζ平面に投影させた態様を示す図である。
図16(a)に示すように、ζ軸周りに回転させながら求める面積Aηζは、η軸における座標値が最大値ηmaxであってζ軸と平行な直線L1と、η軸における座標値が最小値ηminであってζ軸と平行な直線L2と、ζ軸における座標値が最大値ζmaxであってη軸と平行な直線L3と、ζ軸における座標値が最小値ζminであってη軸と平行な直線L4と、で囲まれる方形の面積である。
図16(b)に示すように、面積Aηζが最小となる回転角度θζで3次元座標を回転させた際には、トンネルTNの底面における延伸方向を示す座標F1とE1を結ぶ直線、および座標F2とE2を結ぶ直線のη軸における長さが最短となる。図16(b)に示す例では、座標F1とE1のζ軸における座標値が一致し、また座標F2とE2のζ軸における座標が一致している、すなわち、x軸とξ軸との方向が一致している態様を示している。
本実施形態では、ζ軸周りに所定の回転角度で回転させる度に面積Aηζを求め、求めた面積Aηζが最小となる回転角度θζを、z軸とζ軸との間の相対的な回転角度として求める。
図4に戻り、投影算出部33は、制御部32からの指示に基づいて、座標テーブル311を参照し、座標テーブル311に記憶されている3次元座標群、および3次元座標群に関連付けて記憶されているζ軸周りの回転角度θξを参照する。
投影算出部33は、参照した3次元座標群をηζ平面に投影させた場合のη軸における座標値の最大値ηmaxと最小値ηminおよび平均値ηaveを求める。
投影算出部33は、参照した3次元座標群のうち、η軸における座標値が平均値ηave以上である座標群をηζ平面に投影させ、ζ軸における最大値ζmax,hおよび最小値ζmin,hを求める。また、投影算出部33は、η軸における座標値が平均値ηave未満である座標群をηζ平面に投影させ、ζ軸における最大値ζmax,lおよび最小値ζmin,hを求める。
投影算出部33は、求めた最大値ηmaxと、最大値ζmax,hと、最小値ζmin,hとに基づいて、面積Aηζ,hを算出する。また、投影算出部33は、求めた最小値ηminと、最大値ζmax,lと、最小値ζmin,lとに基づいて、面積Aηζ,lを算出する。そして、投影算出部33は、算出した面積Aηζ,hと面積Aηζ,lとの差分の絶対値である差分面積Aηζ、dを算出する。
投影算出部33は、算出した差分面積Aηζ,dを、ξ軸周りの回転角度θξと関連付け、ξ軸回転テーブル314に、記憶させる。
ここで、面積Aηζ,hと面積Aηζ,lと差分面積Aηζ,dについて、図18を用いて説明する。
図18は、ξ軸周りに回転させる前と後における座標点群をηζ平面に投影させた例を示す図である。図18(a)は、η軸周りに回転角度θηで回転させた後、ζ軸周りに回転角度θζで回転させ、ξ軸周りに回転させる前において、座標点群をηζ平面に投影させた態様を示す図である。図18(b)は、図18(a)に示す状態から、さらにξ軸周りに回転させた後の座標点群をηζ平面に投影させた態様を示す図である。
図18(a)に示すように、面積Aηζ,hとは、η軸における座標値が最大値ηmaxであってζ軸と平行な直線L5と、η軸における座標値が平均値ηaveであってζ軸と平行な直線L6と、ζ軸における座標値が最大値ζmax,hであってη軸と平行な直線L7と、ζ軸における座標値が最小値ζmin,hであってη軸と平行な直線L8と、で囲まれる方形の面積である。
また、図18(a)に示すように、面積Aηζ,lとは、η軸における座標値が最小値ηminであってζ軸と平行な直線L9と、η軸における座標値が平均値ηaveであってζ軸と平行な直線L6と、ζ軸における座標値が最大値ζmax,lであってη軸と平行な直線L10と、ζ軸における座標値が最小値ζmin,lであってη軸と平行な直線L11と、で囲まれる方形の面積である。
トンネルTNの鉛直平面における断面の形状が、トンネルTNの幅方向の中点に垂直な直線に対して対照な形状であることから、面積Aηζ,hと面積Aηζ,lとの差分である差分面積Aηζ,dが小さい程、トンネルTNの幅方向の中点に垂直な直線(z軸)とζ軸との間の回転角度が小さくなると考えられる。
本実施形態では、ξ軸周りに所定の回転角度で回転させる度に差分面積Aηζ,dを求め、求めた差分面積Aηζ,dが最小となる回転角度θξを、x軸とξ軸との間の相対的な回転角度として求める。
図4に戻り、回転算出部34は、制御部32からの指示に基づいて、座標テーブル311を参照し、座標テーブル311に記憶されている3次元座標群、および3次元座標群に関連付けて記憶されているη軸周りの回転角度θηを参照する。
回転算出部34は、参照した3次元座標群の各々において、更にη軸周りに所定の角度回転させた場合の3次元座標を算出する。回転算出部34は、算出した各々の3次元座標を、η軸周りの回転角度θηとともに、座標テーブル311に、記憶させる。
また、回転算出部34は、ζ軸およびξ軸においても同様に、制御部32からの指示に基づいて、座標テーブル311を参照し、座標テーブル311に記憶されている3次元座標群、および3次元座標群に関連付けて記憶されているζ軸周りの回転角度θζ、またはξ軸周りの回転角度θζを参照する。そして、回転算出部34は、参照した3次元座標群の各々において、更にζ軸周りに所定の角度回転させた場合の3次元座標を算出する。回転算出部34は、算出した各々の3次元座標を、ζ軸周りの回転角度θζとともに、座標テーブル311に、記憶させる。または、回転算出部34は、参照した3次元座標群の各々において、更にξ軸周りに所定の角度回転させた場合の3次元座標を算出する。回転算出部34は、算出した各々の3次元座標を、ξ軸周りの回転角度θξとともに、座標テーブル311に、記憶させる。
判定部35は、制御部32からの指示に基づいて、η軸回転テーブル312を参照し、η軸回転テーブル312に記憶されているη軸周りの回転角度θη、および面積Aηζを参照する。判定部35は、面積Aηζが最小となる回転角度θηを算出する。判定部35は、算出した回転角度θηを、制御部38に出力する。
また、判定部35は、ζ軸においても同様に、制御部32からの指示に基づいて、ζ軸回転テーブル313を参照し、ζ軸回転テーブル313に記憶されているζ軸周りの回転角度θζ、および面積Aηζを参照する。判定部35は、面積Aηζが最小となる回転角度θζを算出する。判定部35は、算出した回転角度θζを、制御部38に出力する。
判定部35は、制御部32からの指示に基づいて、ξ軸回転テーブル314を参照し、ξ軸回転テーブル314に記憶されているξ軸周りの回転角度θξ、および差分面積Aηζ,dを参照する。判定部35は、差分面積Aηζ,dが最小となる回転角度θξを算出する。判定部35は、算出した回転角度θξを、制御部38に出力する。
入力部36は、3次元スキャナ10からの3次元座標群を入力する。入力部36は、入力した3次元座標群を、制御部32を介して座標テーブル311に記憶させる。
ここで、制御部32が投影算出部33と回転算出部34と判定部35に行わせる算出処理について説明する。図7は、制御部32が投影算出部33と回転算出部34と判定部35に行わせる算出処理の流れを示すフローチャートである。
図7に示すように、まず、制御部32は、3次元スキャナ10からのトンネルTNの坑内における3次元形状を示す3次元座標群(以下、3次元スキャナ10からの3次元座標群という)に基づいて、η軸における回転角度θηを算出する処理を行わせる(ステップS1)。ここで、3次元スキャナ10からの3次元座標群とは、トンネルTNの坑内の3次元形状を示すn個の座標を、A(ξ,η,ζ)、A(ξ,η,ζ)・・・、A(ξ,η,ζ)で表した場合のn個の座標のことである。そして、制御部32は、算出させた回転角度θηで、η軸を回転させる(ステップS2)。
次に、制御部32は、3次元スキャナ10からの3次元座標群を、η軸周りに回転角度θη回転させた3次元座標群(以下、η軸周りに回転させた3次元座標群という)に基づいて、ζ軸における回転角度θζを算出する処理を行わせる(ステップS3)。そして、制御部32は、算出させた回転角度θζで、ζ軸を回転させる(ステップS4)。
さらに、制御部32は、η軸周りに回転させた3次元座標群を、ζ軸周りに回転角度θζ回転させた3次元座標群(以下、η軸およびζ軸周りに回転させた3次元座標群という)に基づいて、ξ軸における回転角度θξを算出する処理を行わせる(ステップS5)。そして、制御部32は、算出させた回転角度θξで、ξ軸を回転させる(ステップS6)。
このように、制御部32は、3次元スキャナ10からの3次元座標群を、η軸およびζ軸の各々における回転角度を算出して回転させ、さらにξ軸周りの回転角度を算出して回転させることにより、トンネルTNの坑内の座標系xyzにおける各々の座標軸と、各々の座標軸に対応する3次元スキャナ10の座標系ξηζの座標軸の向きを一致させる。
なお、図7のフローチャートにおいては、η軸の回転角度θηを算出してη軸を回転させた後に、ζ軸の回転角度θζを算出してζ軸を回転させているが、η軸およびζ軸の回転角度を算出して回転させる処理においては、どちらの軸から処理を行ってもよい。すなわち、ステップS1、2の前に、ステップS3、4を行ってもよい。また、ξ軸周りの回転角度を算出して回転させる処理においては、η軸周り及びζ軸周りの回転角度を算出した後にξ軸周りの回転角度を算出するすなわち、ステップS1から4を行った後に、ステップS5、6を行う。
ここで、図7のステップS1に示すη軸における回転角度θηを算出する処理、図7のステップ3に示すζ軸における回転角度θζを算出する処理、および図7のステップ5に示すξ軸における回転角度θξを算出する処理について、図8から図19を用いて順に説明する。
図8は、図7のステップS1の処理の内容を示すフローチャートである。図9は、図7のステップS3の処理の内容を示すフローチャートである。図10は、図7のステップS5の処理の内容を示すフローチャートである。
図11は、トンネルTNと座標系xyzの関係を説明するための図である。図11(a)は、トンネルTNをxy断面で見た場合の態様を示す図である。図11(b)は、トンネルTNをyz断面で見た場合の態様を示す図である。図11(c)は、トンネルTNをxz断面で見た場合の態様を示す図である。図8から図10、および図12から図19を説明する前提として、トンネルTNの坑内は、図11(a)から(c)に示す座標系xyzに基づいて施工が行われているものとする。すなわち、x軸はトンネルTNの坑内の延伸方向に対応し、y軸はトンネルTNの坑内における幅方向に対応し、z軸はトンネルTNの坑内の鉛直方向に対応しているものとする。
図12は、トンネルTNの坑内に3次元スキャナ10が設置された場合の例を示す図である。図12(a)は、トンネルTNをξη断面で見た場合の態様を示す図である。図12(b)は、トンネルTNをηζ断面で見た場合の態様を示す図である。図12(c)は、トンネルTNをξζ断面で見た場合の態様を示す図である。図12(a)に示すように、ξ軸は、x軸に対し回転角度θξで回転している。また、η軸は、y軸に対し回転角度θηで回転している。図12(c)に示すように、ζ軸は、z軸に対し回転角度θζで回転している。
図13は、図12に示す位置にトンネルTNの坑内に3次元スキャナ10が設置された場合に、3次元スキャナ10から入力される3次元座標群のイメージを示す図である。図13(a)は、図12(a)と同様に、トンネルTNをξη断面で見た場合の態様を示す図である。図13(b)、(c)の各々は、図12(b)、(c)と同様に、トンネルTNを、其々ηζ断面、およびξζ断面で見た場合の態様を示す図である。図13(a)から(c)に示すように、3次元座標群は、例えばトンネルTNの坑内の全域において計測された複数の座標群であり、少なくとも、トンネルTNの坑内の延伸方向、幅方向、および鉛直方向の其々に複数の座標点を有する。
<η軸における回転角度θηを算出する処理>
η軸における回転角度θηを算出する処理について説明する。図8に示すように、まず、制御部32は、3次元スキャナ10からの3次元座標群を、入力部36を介して入力して座標テーブル311に記憶させる(ステップS10)。この際、座標テーブル311における回転角度θξ、回転角度θη、回転角度θζ、の各々の項目には、それぞれ0(ゼロ)が記憶される。
制御部32は、投影算出部33に、η軸の回転角度θηが0である場合の面積Aηζを算出させる。投影算出部33は、制御部32からの指示に基づき、3次元座標点群をηζ平面に投影させ、η軸における最大値ηmaxと最小値ηminを求める(ステップS12)。また、投影算出部33は、投影させた3次元座標点群のうち、ζ軸における最大値ζmaxと最小値ζminを求める(ステップS13)。
投影算出部33は、求めた最大値ηmaxと最小値ηminと最大値ζmaxと最小値ζminに基づいて、図14に示すように、面積Aηζを求める(ステップS14)。
投影算出部33は、面積Aηζを、例えば、以下の(1)式で求めることができる。ここで、ηmaxはη軸における最大値、ηminはη軸における最小値、ζmaxはζ軸における最大値、ζminはζ軸における最大値をそれぞれ示す。
ηζ=(ηmax−ηmin)×(ζmax−ζmin) ・・・(1)
投影算出部33は、求めた面積Aηζを回転角度θηとともに、η軸回転テーブル312に記憶させる(ステップS15)。また、投影算出部33は、制御部32に、面積Aηζの算出が終了した旨を通知する。制御部32は、投影算出部33からの通知を受けると、η軸周りに所定の回転角度Δθηを回転させるか否かを判定する(ステップS16)。制御部32は、例えば回転角度Δθηを回転させた場合の合計の回転角度が、予め定めた所定の回転角度(例えば、180°)に達していない場合、所定の回転角度Δθηを回転させる旨の判定を行い、合計の回転角度が、予め定めた所定の回転角度に達した場合、所定の回転角度Δθηを回転させない旨の判定を行う。
制御部32は、η軸周りに、所定の回転角度Δθηを回転させる場合、回転算出部34に、座標テーブル311に記憶されている3次元座標群について、η軸周りに所定の回転角度Δθη回転させた後の3次元座標群を算出させる(ステップS16)。そして、制御部32は、ステップ10に戻り、座標テーブル311の、各座標軸の値および回転角度θηの項目を更新し、回転後の3次元座標群およびη軸周りの回転角度の合計値を、座標テーブル311に記憶させる。
一方、制御部32は、η軸周りに所定の回転角度Δθηを回転させない場合、判定部35に、η軸回転テーブル312に記憶されている面積Aηζが最小となる場合の、回転角度θηを求めさせる(ステップS18)。
このように、制御部32は、η軸周りに所定の回転角度Δθηを回転させ、回転させるたびに、面積Aηζを算出させる。そして、制御部32は、面積Aηζが最小となる回転角度θηを、η軸の回転角度θηとする。
図15は、η軸周りに回転角度θηで回転させた後の3次元座標群のイメージを示す図である。図15(a)は、トンネルTNにおける3次元スキャナ10の計測点を、η軸周りに回転角度θηで回転させた後に、ξη断面で見た場合の態様を示す図である。図15(b)、(c)についても、図15(a)と同様に、トンネルTNにおける3次元スキャナ10の計測点を、η軸周りに回転角度θηで回転させた後に、それぞれηζ断面、およびξζ断面で見た場合の態様を示す図である。
<ζ軸における回転角度θζを算出する処理>
ζ軸における回転角度θζを算出する処理について説明する。図9は、図8におけるη軸をζ軸とし、図8における回転角度θηを回転角度θζとしている他は、図8に示すフローチャートと同様の処理の流れを示すフローチャートである。
図9におけるステップS20で行う処理は、図8におけるステップS10で行う処理と同様の処理であるが、制御部32は、図7のステップS2で示す3次元スキャナ10からの3次元座標群をη軸周りに回転角度θηで回転させる処理を行った後の3次元座標群を、座標テーブル311に記憶させる(ステップS20)。この際、座標テーブル311における回転角度θηの項目にはθηが記憶され、回転角度θξおよび回転角度θζの項目には、それぞれ0(ゼロ)が記憶される。
図9におけるステップS21からS28で行う処理は、図8におけるステップS11からS18で行う処理と同様の処理であるため、説明を省略する。
図17は、η軸周りに回転角度θηで回転させ、さらにζ軸周りに回転角度θζで回転させた後の3次元座標群のイメージを示す図である。図17(a)は、トンネルTNにおける3次元スキャナ10の計測点を、η軸周りに回転角度θηで回転させ、さらにζ軸周りに回転角度θζで回転させた後に、ξη断面で見た場合の態様を示す図である。図17(b)、(c)についても、図17(a)と同様に、トンネルTNにおける3次元スキャナ10の計測点を、η軸周りに回転角度θηで回転させ、さらにζ軸周りに回転角度θζで回転させた後に、それぞれξη断面、およびξζ断面で見た場合の態様を示す図である。図17(c)に示すように、x軸とξ軸との方向が一致している。
<ξ軸における回転角度θξを算出する処理>
ξ軸における回転角度θηを算出する処理について、図10を用いて説明する。
図10におけるステップS30で行う処理は、図8におけるステップS10、および図9におけるステップS20において行う処理と同様の処理であるが、制御部32は、図7のステップS2で示す3次元スキャナ10からの3次元座標群をη軸周りに回転角度θηで回転させる処理、および、図7のステップS4で示す3次元スキャナ10からの3次元座標群をζ軸周りに回転角度θζで回転させる処理を行った後の3次元座標群を、座標テーブル311に記憶させる(ステップS30)。この際、座標テーブル311における回転角度θηの項目にはθηが記憶され、回転角度θζの項目にはθζが記憶され、回転角度θξの項目には、0(ゼロ)が記憶される。
図10におけるステップS31で行う処理は、図8におけるステップS11、および図9におけるステップS21で行う処理と同様の処理であるが、ステップS31では、制御部32は、η軸における最大値ηmaxと最小値ηminとに加えて、η軸における最大値ηmaxと最小値ηminとの平均値ηaveを求める。平均値ηaveは、例えば、以下の(2)式で求めることができる。ここで、ηmaxはη軸における最大値、ηminはη軸における最小値をそれぞれ示す。
ηave=(ηmax+ηmin)/2 ・・・(2)
投影算出部33は、ηζ平面に投影させた3次元座標点群に対し、平均値ηaveをしきい値とし、η軸の座標値が平均値ηave以上である領域におけるζ軸の座標値が最大となる最大値ζmax,hおよび、ζ軸の座標値が最小となる最小値ζmin,hを求める。
また、投影算出部33は、ηζ平面に投影させた3次元座標点群に対し、η軸の座標値が平均値ηave未満である領域におけるζ軸の座標値が最大となる最大値ζmax,hおよび、ζ軸の座標値が最小となる最小値ζmin,lを求める。
投影算出部33は、図18(a)に示すように、η軸における座標値が最大値ηmaxであってζ軸と平行な直線L5と、η軸における座標値が平均値ηaveであってζ軸と平行な直線L6と、ζ軸における座標値が最大値ζmax,hであってη軸と平行な直線L7と、ζ軸における座標値が最小値ζmin,lであってη軸と平行な直線L8と、で囲まれる方形の面積Aηζ,hを算出する(ステップS33)。
また、投影算出部33は、図18(a)に示すように、η軸における座標値が最小値ηminであってζ軸と平行な直線L9と、η軸における座標値が平均値ηaveであってζ軸と平行な直線L6と、ζ軸における座標値が最大値ζmax,hであってη軸と平行な直線L10と、ζ軸における座標値が最小値ζmin,lであってη軸と平行な直線L11と、で囲まれる方形の面積Aηζ,lを算出する(ステップS34)。
図10に戻り、投影算出部33は、算出した面積Aηζ,hと面積Aηζ,lとの差分面積Aηζ,dを算出する(ステップS35)。図10におけるステップS36からS39で行う処理は、図8におけるステップS15からS18で行う処理と同様の処理であるため、説明を省略する。
図19は、η軸周りに回転角度θηで回転させ、ζ軸周りに回転角度θζで回転させ、さらにξ軸周りに回転角度θξで回転させた後の3次元座標群のイメージを示す図である。図19(a)は、トンネルTNにおける3次元スキャナ10の計測点を、η軸周りに回転角度θηで回転させ、ζ軸周りに回転角度θζで回転させ、さらにξ軸周りに回転角度θξで回転させた後の3次元座標群を、ξη断面で見た場合の態様を示す図である。図19(b)、(c)についても、図19(a)と同様に、トンネルTNにおける3次元スキャナ10の計測点を、η軸周りに回転角度θηで回転させ、ζ軸周りに回転角度θζで回転させ、さらにξ軸周りに回転角度θξで回転させた後の3次元座標群を、それぞれηζ断面、およびξζ断面で見た場合の態様を示す図である。
図19(a)に示すように、η軸周りに回転角度θη、ζ軸周りに回転角度θζ、さらにξ軸周りに回転角度θξで回転させた後には、ξ軸とx軸の方向が一致している。また、η軸周りに回転角度θη、ζ軸周りに回転角度θζ、さらにξ軸周りに回転角度θξで回転させた後には、η軸とy軸の方向が一致している。
図19(b)に示すように、η軸周りに回転角度θη、ζ軸周りに回転角度θζ、さらにξ軸周りに回転角度θξで回転させた後には、η軸とy軸の方向が一致している。また、η軸周りに回転角度θη、ζ軸周りに回転角度θζ、さらにξ軸周りに回転角度θξで回転させた後には、ζ軸とz軸の方向が一致している。
図19(c)に示すように、η軸周りに回転角度θη、ζ軸周りに回転角度θζ、さらにξ軸周りに回転角度θξで回転させた後には、ξ軸とx軸の方向が一致している。また、η軸周りに回転角度θη、ζ軸周りに回転角度θζ、さらにξ軸周りに回転角度θξで回転させた後には、ζ軸とz軸の方向が一致している。
すなわち、図19(a)から(c)に示すように、η軸周りに回転角度θη、ζ軸周りに回転角度θζ、さらにξ軸周りに回転角度θξで回転させた後には、3次元スキャナ10の座標系ξηζにおける各座標軸とトンネルTNの座標系xyzにおける各座標軸の方向が一致する。
以上、説明したように、本実施形態の回転角度算出装置30は、投影算出部33と回転算出部34とを備え、投影算出部33により、3次元スキャナ10が計測したトンネルTNにおける3次元形状を示す座標群を座標系ξηζにおけるη軸およびζ軸からなるηζ平面に投影させ、投影させた座標群から得られる情報を算出させ、回転算出部34により3次元スキャナ10が計測したトンネルTNにおける3次元形状を示す座標群を座標系ξηζにおけるξ軸、η軸、およびζ軸周りに回転させ、回転させた座標群から得られる情報を算出させる、という比較的容易な手法により、座標系xyzと、座標系xyzに対し任意の方向に設置された3次元スキャナの座標系ξηζとの相対的な回転角度を算出することができる。
また、本実施形態においては、トンネルTNを山岳トンネルであるものとして説明したが、これに限定されることはない。例えば、シールドトンネルにおいても、本実施形態における回転角度算出装置を用いることができる。
1…計測システム、10…3次元スキャナ、11…筐体、12…センサ、20…三脚、30…回転角度算出装置、31…記憶部、311…座標テーブル、312…η軸回転テーブル、313…ζ軸回転テーブル、314…ξ軸回転テーブル、32…制御部、33…投影算出部、34…回転算出部、35…判定部、36…入力部

Claims (5)

  1. 3次元空間の座標系xyzと、前記座標系xyzに対し任意の方向に設置された3次元スキャナの座標系ξηζとの相対的な回転角度を算出する回転角度算出装置であって、
    前記3次元スキャナが計測した前記3次元空間における3次元形状を示す3次元座標群を、座標系ξηζにおける第1軸又は第2軸のいずれかである第1回転軸の軸周りに回転させた場合の座標を算出する回転算出部と、
    前記回転算出部により前記3次元座標群が回転される度に、回転後の前記3次元座標群を前記1軸および前記2軸からなる平面に投影させた座標群が含まれる領域の面積を算出する投影算出部と、
    前記投影算出部によって算出された面積のうち、最小となる面積が算出された場合における前記第1回転軸の軸周りに回転させた回転角度を、前記第1回転軸と前記座標系xyzにおける前記第1回転軸に対応する軸との相対的な回転角度である第1回転角度とする判定部と、
    を備える回転角度算出装置。
  2. 前記座標群が含まれる領域の面積は、前記平面に投影させた座標群のうち、前記第1軸における最大値を通り前記第2軸に平行な直線と、前記第1軸における最小値を通り前記第2軸に平行な直線と、前記第2軸における最大値を通り前記第1軸に平行な直線と、前記第2軸における最小値を通り前記第1軸に平行な直線で囲まれる方形の面積である、
    請求項1に記載の回転角度算出装置。
  3. 前記回転算出部は、前記座標系ξηζにおける前記第1回転軸を前記第1回転角度にて回転させた後の座標系について、前記第1軸又は前記第2軸のうち前記第1回転軸とは異なる第2回転軸の軸周りに回転させた場合の座標を算出し、
    前記前記投影算出部は、前記回転算出部により前記3次元座標群が回転される度に、回転後の前記3次元座標群を前記平面に投影させた座標群が含まれる領域の面積を算出し、
    前記判定部は、前記投影算出部によって算出された面積のうち、最小となる面積が算出された場合における前記第2回転軸の軸周りに回転させた回転角度を、前記第2回転軸と前記座標系xyzにおける前記第2回転軸に対応する軸との相対的な回転角度である第2回転角度とし、
    前記回転算出部は、前記座標系ξηζにおける前記第1回転軸を前記第1回転角度にて回転させると共に前記第2回転軸を前記第2回転角度にて回転させた後の座標系について、前記第1軸および前記第2軸とは異なる第3回転軸の軸周りに回転させた場合の座標を算出し、
    前記前記投影算出部は、前記回転算出部により前記3次元座標群が回転される度に、回転後の前記3次元座標群を前記平面に投影させた座標群が含まれる領域の面積を境界線にて二つに分割した場合における一方の領域の面積である第1面積と、他方の領域の面積である第2面積との差分である差分面積を算出し、前記境界線は前記平面に投影させた座標群のうち前記第1軸における最大値と前記第1軸における最小値との平均である第1平均値を通り前記第2軸に平行な直線であり、
    前記判定部は、前記投影算出部によって算出された前記差分面積のうち、最小となる前記差分面積が算出された場合における前記第3回転軸の軸周りに回転させた回転角度を、前記第3回転軸と前記座標系xyzにおける前記第3回転軸に対応する軸との相対的な回転角度である第3回転角度とする、
    請求項1又は請求項2に記載の回転角度算出装置。
  4. 前記第1面積は、前記平面に投影させた座標群のうち、前記第1軸の値が前記第1平均値以上の座標点群における、前記第2軸における最大値を通り前記第1軸に平行な直線と、前記第2軸における最小値を通り前記第1軸に平行な直線と、前記第1軸における最大値を通り前記第2軸に平行な直線、及び前記第1平均値を通り前記第2軸に平行な直線で囲まれる方形の面積であり、
    前記第2面積は、前記平面に投影させた座標群のうち、前記第1軸の値が前記第1平均値未満の座標点群における、前記第2軸における最大値を通り前記第1軸に平行な直線と、前記第2軸における最小値を通り前記第1軸に平行な直線と、前記第1軸における最小値を通り前記第2軸に平行な直線、及び前記第1平均値を通り前記第2軸に平行な直線で囲まれる方形の面積である、
    求項3に記載の回転角度算出装置。
  5. 3次元空間の座標系xyzと、前記座標系xyzに対し任意の方向に設置された3次元スキャナの座標系ξηζとの相対的な回転角度を算出する回転角度算出方法であって、
    前記3次元スキャナが計測した前記3次元空間における3次元形状を示す3次元座標群を、座標系ξηζにおける第1軸又は第2軸のいずれかである第1回転軸の軸周りに回転させた場合の座標を算出する回転算出工程と、
    前記回転算出工程により前記3次元座標群が回転される度に、回転後の前記3次元座標群を前記1軸および前記2軸からなる平面に投影させた座標群が含まれる領域の面積を算出する投影算出工程と、
    前記投影算出工程において算出された面積のうち、最小となる面積が算出された場合における前記第1回転軸の軸周りに回転させた回転角度を、前記第1回転軸と前記座標系xyzにおける前記第1回転軸に対応する軸との相対的な回転角度である第1回転角度とする判定工程と、
    含む回転角度算出方法。
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