JP6869433B2 - Lcmの自動光学検査に適した高速画像処理システム - Google Patents
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Description
2 演算PC
3 制御ユニット
4 画像データ受信モジュール
4.1 第1リンク状態報告モジュール
4.2 第1データパケット
4.3 第1高速コントローラIP
4.4 第1リンク状態検査モジュール
4.5 第1データアンパケット
5 書き込みDDRデータ形式変換モジュール
5.1 受信画像データモジュール
5.2 ローカルFIFO
5.3 読み出しFIFOデータインタフェース変換モジュール
5.4 書き込みDDRアドレス制御ロジックモジュール
6 AXIバス
7 DDRコントローラ
8 DDRメモリ
9 フロー制御モジュール
10 画像処理アクセラレータ
10.1 画像ブロック処理モジュール
10.2 読み出しDDR制御モジュール
10.3 FFT画像処理モジュール
10.4 書き込みDDR制御モジュール
11 データ分散制御モジュール
12 データ分散送信モジュール
12.1 第2リンク状態報告モジュール
12.2 第2データパケット
12.3 第2高速コントローラIP
12.4 第2リンク状態検査モジュール
12.5 第2データアンパケット
13 分析処理結果モジュール
14 インタラクティブ制御モジュール
14.1 第3リンク状態報告モジュール
14.2 第3データパケット
14.3 第3高速コントローラIP
14.4 第3リンク状態検査モジュール
14.5 第3データアンパケット
15 IO制御モジュール
16 画面照明信号生成モジュール
17 カスケード制御モジュール
18 制御PC
19 IO制御
20 信号拡張ユニット
21 画像収集ユニット
Claims (10)
- LCMの自動光学検査に適した高速画像処理システムであって、FPGA処理プラットフォームと演算PCを含み、前記FPGA処理プラットフォームは、第1光ファイバインタフェースと、第2光ファイバインタフェースと、第3光ファイバインタフェースと、第4光ファイバインタフェースと、第5光ファイバインタフェースとを含み、前記FPGA処理プラットフォームは前記第1光ファイバインタフェースを介して制御PCから構成パラメータとテストコマンドを受信し、前記制御PCに対して最終テスト結果を出力し、前記FPGA処理プラットフォームは、前記第2光ファイバインタフェースを介して前記演算PCとデータインタラクションを行い、前記FPGA処理プラットフォームは前記第3光ファイバインタフェースを介して収集ユニットから画像データを受信し、前記収集ユニットに対して前記構成パラメータとテストコマンドを出力し、前記FPGA処理プラットフォームは、前記第4光ファイバインタフェースを介して画面照明信号の生成を制御し、前記FPGA処理プラットフォームは、前記第5光ファイバインタフェースを介してIO光源を制御し、
前記FPGA処理プラットフォームは制御ユニットを含み、前記制御ユニットは受信した画像データをブロックに分割して、高速前処理後に前記演算PCに送信し、前記演算PCは、CPUおよびGPUを含み、受信した前記画像データを演算および処理し、データ処理結果を制御ユニットへ送信する
ことを特徴とする、LCMの自動光学検査に適した高速画像処理システム。 - 前記FPGA処理プラットフォームは、DDRメモリをさらに含み、
前記制御ユニットは、前記構成パラメータとテストコマンドを受信し、前記受信した構成パラメータおよびテストコマンドに従い前記画面照明信号の生成を制御し、前記IO光源を制御し、前記収集ユニットの画像データを受信し、受信した前記画像データを前処理して前記演算PCに送信し、前記演算PCのデータ処理結果を受信して収集し、最終テスト結果を前記制御PCに送信するように構成され、
前記DDRメモリは、前記画像データと前記最終テスト結果を記憶するように構成される
請求項1に記載のLCMの自動光学検査に適した高速画像処理システム。 - 前記制御ユニットは、
前記収集ユニットの画像データを受信して書き込みDDRデータ形式変換モジュールに送信するように構成される画像データ受信モジュールと、
受信した前記画像データをフォーマットし、フォーマットされた画像データを前記DDRメモリに記憶するように構成される前記書き込みDDRデータ形式変換モジュールと、
設定された指示に従い、制御コマンドを画像処理アクセラレータおよび前記演算PCに送信するように構成されるフロー制御モジュールと、
前記フロー制御モジュールのコマンドに従い、前記画像データを前処理し、前記処理された画像データをDDRメモリに記憶するように構成される前記画像処理アクセラレータと、
前記フロー制御モジュールのコマンドに従い、前記画像データをデータ分散送信モジュールに分散させるように構成されるデータ分散制御モジュールと、
前記画像データを受信して前記演算PCに送信し、前記演算PCのデータ処理結果を受信して分析処理結果モジュールに送信するように構成される前記データ分散送信モジュールと、
前記データ処理結果を収集分析して前記最終テスト結果を生成するように構成される前記分析処理結果モジュールとを含む
請求項2に記載のLCMの自動光学検査に適した高速画像処理システム。 - 前記制御ユニットは、インタラクティブ制御モジュールと、IO制御モジュールと、画面照明信号生成モジュールとをさらに含み、
前記インタラクティブ制御モジュールは、前記テストコマンドを受信して最終テスト結果を報告するように構成され、
前記フロー制御モジュールは、受信した前記テストコマンドを前記IO制御モジュールおよび画面照明信号生成モジュールに割り当てるように構成され、
前記IO制御モジュールは、前記テストコマンドに従い前記IO光源を制御するように構成され、
前記画面照明信号生成モジュールは、前記テストコマンドに従い画面照明信号の生成を制御するように構成される
請求項3に記載のLCMの自動光学検査に適した高速画像処理システム。 - 前記画像データ受信モジュールは、
画像データ受信モジュールの物理的リンク状態を第1データパケットに一定時間毎に送信するように構成される第1リンク状態報告モジュールと、
前記物理的リンク状態、構成パラメータ、およびテストコマンドをパケット化して第1高速コントローラIPに送信するように構成される第1データパケットと、
前記収集ユニットの画像データを受信し、前記構成パラメータおよびテストコマンドを収集ユニットに送信するように構成される前記第1高速コントローラIPと、
第1データアンパケットから前記物理的リンク状態を一定時間毎に受信するように構成される第1リンク状態検査モジュールと、
前記第1高速コントローラIPによって送信された画像データを解析して書き込みDDRデータ形式変換モジュールに出力するように構成される前記第1データアンパケットと
を含む、請求項3に記載のLCMの自動光学検査に適した高速画像処理システム。 - 前記書き込みDDRデータ形式変換モジュールは、
前記画像データを受信してローカルFIFOに送信するように構成される受信画像データモジュールと、
前記画像データを記憶するように構成されるローカルFIFOと、
制御ロジックに従い前記ローカルFIFOの画像データを読み出してフォーマットし、フォーマットされた画像データを前記DDRメモリに送信するように構成される読み出しFIFOデータインタフェース変換モジュールと、
前記制御ロジックを出力するように構成される書き込みDDRアドレス制御ロジックモジュールと
を含む、請求項3に記載のLCMの自動光学検査に適した高速画像処理システム。 - 前記画像処理アクセラレータは、
前記制御コマンドに従い画像をブロックに分割するように構成される画像ブロック処理モジュールと、
前記分割されたブロックの数に応じて、前記DDRメモリに記憶された画像データを読み出し、画像処理モジュールに送信するように構成される読み出しDDR制御モジュールと、
前記受信した画像データを前処理するように構成される画像処理モジュールと、
前記前処理された画像データを前記DDRメモリに記憶するように構成される書き込みDDR制御モジュールと
を含む、請求項3に記載のLCMの自動光学検査に適した高速画像処理システム。 - 前記データ分散送信モジュールは、
前記データ分散送信モジュールの物理的リンク状態を第2データパケットに一定時間毎に送信するように構成される第2リンク状態報告モジュールと、
前記受信した画像データをパケット化して第2高速コントローラIPに送信するように構成される第2データパケットと、
前記受信した画像データを前記演算PCに送信し、データ処理結果を前記演算PCから受信するように構成される前記第2高速コントローラIPと、
第2データアンパケットから前記物理的リンク状態を一定時間毎に受信するように構成される第2リンク状態検査モジュールと
前記第2高速コントローラIPによって送信されたデータ処理結果と前記物理的リンク状態を解析するように構成される前記第2データアンパケットと
を含む、請求項3に記載のLCMの自動光学検査に適した高速画像処理システム。 - 前記インタラクティブ制御モジュールは、
前記インタラクティブ制御モジュールの物理的リンク状態をデータパケットに一定時間毎に送信するように構成される第3リンク状態報告モジュールと、
受信した最終テスト結果をパケット化して第3高速コントローラIPに送信するように構成される第3データパケットと、
前記最終テスト結果を受信して報告し、前記構成パラメータを受信するように構成される前記第3高速コントローラIPと、
第3データアンパケットによって報告された前記物理的リンク状態を一定時間毎に受信するように構成される第3リンク状態検査モジュールと、
前記第3高速コントローラIPによって送信された前記構成パラメータとリンク状態を解析するように構成される前記第3データアンパケットと
を含む、請求項4に記載のLCMの自動光学検査に適した高速画像処理システム。 - 前記制御ユニットは、フロー制御モジュールの制御下で、前記FPGA処理プラットフォームのカスケード拡張を実現するように構成されるカスケード制御モジュールをさらに含む、請求項2に記載のLCMの自動光学検査に適した高速画像処理システム。
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Family Cites Families (18)
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US7106895B1 (en) * | 1999-05-05 | 2006-09-12 | Kla-Tencor | Method and apparatus for inspecting reticles implementing parallel processing |
GB2411540B (en) * | 2004-02-25 | 2006-03-29 | 3Com Corp | Cascade control system for network units |
US7342838B1 (en) * | 2005-06-24 | 2008-03-11 | Lattice Semiconductor Corporation | Programmable logic device with a double data rate SDRAM interface |
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TWI482140B (zh) * | 2011-04-29 | 2015-04-21 | Geo Semiconductor Inc | 用於改善背光lcd顯示器的色彩和亮度均勻性的系統和方法 |
US10557889B2 (en) * | 2012-05-07 | 2020-02-11 | Flextronics Ap, Llc | Universal device multi-function test apparatus |
US20130328948A1 (en) * | 2012-06-06 | 2013-12-12 | Dolby Laboratories Licensing Corporation | Combined Emissive and Reflective Dual Modulation Display System |
CN104698612A (zh) * | 2013-12-09 | 2015-06-10 | 大连鑫永工业制造有限公司 | 一种lcm检测方法 |
US9411013B2 (en) * | 2014-02-14 | 2016-08-09 | Google, Inc. | Instrument for automated testing of displays |
EP3170247B1 (en) * | 2014-07-18 | 2019-09-04 | Eip Technologies Inc. | Direct wind energy generation |
CN104239271A (zh) * | 2014-09-16 | 2014-12-24 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种采用fpga和dsp实现的仿真图像播放器 |
CN104393922B (zh) * | 2014-11-20 | 2017-03-22 | 南京恩瑞特实业有限公司 | 场面监视空管雷达高数据率传输*** |
US9608758B1 (en) * | 2015-11-30 | 2017-03-28 | Google Inc. | Low cost gain clamped EDFA for TWDM passive optical network application |
CN105607312A (zh) * | 2016-01-22 | 2016-05-25 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 用于lcd液晶模组缺陷检测的光学自动检测装置及方法 |
US9805458B2 (en) * | 2016-03-23 | 2017-10-31 | Communications Test Design, Inc. | Method and system for detecting defective pixels and screen imperfections of a mobile device |
CN106412474B (zh) * | 2016-10-09 | 2019-04-23 | 上海极清慧视科技有限公司 | 一种高速无损超高清工业视觉检测方法及*** |
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