JP6847013B2 - パワー半導体装置 - Google Patents

パワー半導体装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6847013B2
JP6847013B2 JP2017189402A JP2017189402A JP6847013B2 JP 6847013 B2 JP6847013 B2 JP 6847013B2 JP 2017189402 A JP2017189402 A JP 2017189402A JP 2017189402 A JP2017189402 A JP 2017189402A JP 6847013 B2 JP6847013 B2 JP 6847013B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flow path
heat dissipation
power semiconductor
dissipation base
semiconductor device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017189402A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019068533A (ja
Inventor
西原 淳夫
淳夫 西原
高志 平尾
高志 平尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Astemo Ltd
Original Assignee
Hitachi Astemo Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Astemo Ltd filed Critical Hitachi Astemo Ltd
Priority to JP2017189402A priority Critical patent/JP6847013B2/ja
Priority to PCT/JP2018/028187 priority patent/WO2019064873A1/ja
Publication of JP2019068533A publication Critical patent/JP2019068533A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6847013B2 publication Critical patent/JP6847013B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/07Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/18Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M7/00Conversion of ac power input into dc power output; Conversion of dc power input into ac power output
    • H02M7/42Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal
    • H02M7/44Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters
    • H02M7/48Conversion of dc power input into ac power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/34Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/39Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
    • H01L2224/40Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
    • H01L2224/401Disposition
    • H01L2224/40135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/40137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Description

本発明はパワー半導体装置に関し、特に電気自動車およびハイブリッド自動車への車載用の電力変換装置向けのパワー半導体装置に関する。
電気自動車あるいはハイブリッド自動車においては、車両の動力源としてモータを搭載しており、一般的にモータに供給する電力を制御するために電力変換装置を備えている。
電力変換装置は、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)などの電力用半導体素子を内蔵したパワー半導体装置、そのパワー半導体装置を駆動する駆動回路、それらを制御する制御回路、および電流平滑化用のコンデンサを備えている。
特にパワー半導体装置は、電力変換の損失のために大量の熱を発生するため、その冷却構造に対して様々な技術開発がなされてきた。
パワー半導体素子の冷却技術としては空冷が一般的であるが、自動車に関しては水冷技術も広く用いられており、その中でもパワー半導体装置に放熱ベースを直接取り付けて放熱ベースを冷却流路の中に挿入する直接水冷構造は高い冷却性能が得られる。
また、パワー半導体素子の表裏両面から冷却する両面冷却も能力の高い冷却方法であり、それらを組み合わせた両面直接水冷構造も実用化されている。
例えば、特許文献1(特開2010−212412号公報)では、パワー半導体装置の両面に設けられた放熱ベースを冷却流路に挿入する構造が開示されている。本構造案では、片方の面の水の封止を弾性体で行うことによって、パワー半導体装置の表裏の放熱ベースに発生する公差を弾性体の変形によって吸収している。
弾性体の具体例としてはOリング等が考えられるが、Oリングによって封止を行うためにはその周囲に、吸収したい変形量に応じた太さのOリングが収まるOリング溝の幅とOリング溝の両側に必要なスペースが必要であり、ユニットが大きくなってしまうことが課題である。
特開2010−212412号公報
本発明に係る課題は、パワー半導体装置の小型化を図るとともに信頼性を向上させることである。
本発明に係るパワー半導体装置は、パワー半導体素子を有し当該パワー半導体素子を樹脂部材で封止する回路体と、前記回路体を挟む第1放熱ベース及び第2放熱ベースと、前記回路体を挟んで対向しておりかつ冷媒を流す流路を形成する第1流路形成体及び第2流路形成体と、を備え、前記第1流路形成体は、前記第1放熱ベースに塞がれる第1開口を形成し、前記第2流路形成体は、前記第2放熱ベースに塞がれる第2開口を形成し、前記第1放熱ベース及び前記第2放熱ベースのそれぞれは、主面と、側面と、により形成され、前記第1放熱ベースの前記側面の一部が、前記第1開口の開口空間を形成する前記第1流路形成体の内側面と対向し、前記第2放熱ベースの前記主面の一部が、前記第2開口の周辺を形成する前記第2流路形成体の外面と対向し、互いに対向する前記第1放熱ベースの前記側面の一部と前記第1流路形成体の内側面とが接合され、互いに対向する前記第2放熱ベースの前記主面の一部と前記第2流路形成体の外面とが接合される
本発明により、パワー半導体装置の小型化を図るとともに信頼性を向上させることができる。
本実施形態に係るパワー半導体装置1の斜視図である。 図1の平面Aの矢印方向から見たパワー半導体装置の断面図である。 パワー半導体装置1の組み立て工程のうちパワーモジュール1aないし1cの配置を示す斜視図である。 パワー半導体装置1の組み立て工程のうち流路本体部6a及び6bをパワーモジュール1aないし1cに組み付けた状態を示す斜視図である。 パワー半導体装置1の組み立て工程における完成斜視図である。 本実施形態に係る流路本体部6aの斜視図である。 本実施形態に係るパワーモジュール1aの断面図である。 パワーモジュール1aの製造交差を説明するための断面図である。 流路本体部6aの開口部7a周辺の拡大断面図である。 溶接工程後の状態を示すパワー半導体装置1の断面図である。 流路本体部6aの開口部7a周辺の拡大断面図である。 流路本体部6bの開口部7a周辺の拡大断面図である。
本発明の実施形態を説示する前に、本発明の背景を説明する。
省スペースでパワー半導体装置と冷却流路を接合する手段として、例えばレーザ溶接で接合することが考えられる。
レーザ溶接によれば、ビードが細いため非常に省スペースで固定を行うことができる。また、レーザ溶接は、熱が影響する範囲を狭く保てるため、パワー半導体装置に用いられる樹脂部材への影響を小さく抑えることができる。
しかし、ビードが細いことはすなわち、接合時に吸収できる公差(隙間)が狭いので、接合部分は予め精度よく突き当てた状態で組み立てられる必要がある。
ところが、パワー半導体装置は、複数部品をはんだ等で接合して成るため、その表裏の放熱ベースの相対位置はある程度の公差を生じてしまう。具体的には、放熱ベースの位置がちょうど表裏にならず、面に平行方向にずれる面方向の公差と、パワー半導体装置の厚みが設計値からずれる厚さ方向の公差が発生する。
したがって、表裏の冷却流路の開口の構造が同じ場合、放熱ベースを開口に挿入するためには公差分だけ開口を大きく形成し、放熱ベースとの間に隙間を開けておく必要があり、また、厚さ方向にも公差分の隙間が開く。
すると、先に述べたようにレーザ溶接では広い隙間を埋めることができないため、接合が困難になる。
上記のような背景に基づく本発明に係る本実施形態を説明する。
図1は、本実施形態に係るパワー半導体装置1の斜視図である。図2は、図1の平面Aの矢印方向から見たパワー半導体装置の断面図である。
図1に示されるように、パワー半導体装置は、U相交流電流を出力するパワーモジュール1aと、V相交流電流を出力するパワーモジュール1bと、W相交流電流を出力するパワーモジュール1cと、により構成されるインバータ回路を有する。 パワーモジュール1aないし1cは、冷却流路形成体2aと冷却流路形成体2bにより挟まれる。
図2に示されるように、冷却水は、冷却水入口パイプ3より流入し、冷却流路形成体2bを流れながらパワーモジュール1c、パワーモジュール1b、パワーモジュール1aの下側の放熱ベースを通過して冷却する。
その後、冷却水は中間パイプ5を通して冷却流路形成体2aに流れ込む。さらに冷却水は、冷却流路形成体2aを流れながらパワーモジュール1a、パワーモジュール1b、パワーモジュール1cの上側の放熱ベースを通過して冷却し、冷却水出口パイプ4より流出する。
図3は、パワー半導体装置1の組み立て工程のうちパワーモジュール1aないし1cの配置を示す斜視図である。図4は、パワー半導体装置1の組み立て工程のうち流路本体部6a及び6bをパワーモジュール1aないし1cに組み付けた状態を示す斜視図である。図5は、パワー半導体装置1の組み立て工程における完成斜視図である。図6は、本実施形態に係る流路本体部6aの斜視図である。なお流路本体部6bは、流路本体部6aとは幅方向の長さが異なるがその他の構造は基本的に同じである。
図6に示されるように、流路本体部6aは、パワーモジュール1aの挿入する開口部7aと、パワーモジュール1bの挿入する開口部7bと、パワーモジュール1cの挿入する開口部7cと、を形成する。
図4に示されるように、パワーモジュール1aないし1cは、流路本体部6a及び6bにより挟まれる。パワーモジュール1aないし1cのそれぞれの放熱ベースが、流路形成体6a及び6bのそれぞれの開口部7aないし7c内に配置される。
その後、開口部7aないし7cを形成する流路本体部6a及び6bの縁をそれぞれパワーモジュール1aないし1cの放熱ベースに溶接(例えばレーザー溶接)することによって、パワーモジュール1aないし1cと流路本体部6a及び6bが一体化される。
さらに図5に示されるように、流路蓋8a及び8bのそれぞれは、流路本体部6a及び6bのそれぞれに被せられ、流路蓋8a及び8bの縁が流路本体部6a及び6bに溶接される。
図7は、本実施形態に係るパワーモジュール1aの断面図である。なお、パワーモジュール1b及び1cも、パワーモジュール1aと同様な構成及び機能である。
パワーモジュール1aは、複数のパワー半導体素子25と、複数のパワー半導体素子25を挟むとともに導電性機能と絶縁機能を有する基板9a及び9bと、基板9a及び9bを挟むとともに放熱機能を有する放熱ベース10a及び10bと、樹脂部材11と、により構成される。樹脂部材11は、複数のパワー半導体素子25、基板9a及び9bと、放熱ベース10a及び10bの一部を封止する。
図8は、パワーモジュール1aの製造交差を説明するための断面図である。
放熱ベース10aの寸法Aは、型で成形するため、比較的精度よく製造できる。この寸法Aは、比較的小さな公差で流路本体部6aの開口部7aないし7cと一致させられるため、放熱ベース10aの側面は開口部7aないし7cの内側面とほぼ突き当ての状態で組み立てることができる。
この状態を図9、図12及び図13にて説明する。図9及び図11は、流路本体部6aの開口部7a周辺の拡大断面図である。図12は、流路本体部6bの開口部7a周辺の拡大断面図である。
図9及び図11に示されるように、放熱ベース10aの側面12は、開口部7aを形成する内側面と突き当て状態とすることができる。
このとき、図8に示された寸法Bと寸法Cは、パワー半導体素子25や基板9a等の複数の部材を接合した結果として、ある程度の公差を生じる。
そこで、図9に示される放熱ベース10aの主面26と流路本体部6aの外面27との間に隙間13を設けることによって、寸法Bの公差を吸収する。
また、放熱ベース10bの主面と流路本体部6bの外面とは接触部14のように突き当て構造とする。その代わりに、放熱ベース10bの側面と流路本体部6bの開口部7aとの間は隙間15を開けることによって寸法Cの公差を吸収する。
これをレーザ光線16aおよび16bで溶接することによって、冷却流路一体型のパワー半導体装置1を組み立てることができる。
なお、流路本体部6bの開口部7aの縁は、図12の拡大図に示すように、放熱ベース10bに近づく方向に薄くなるように斜めにカットすることによって、溶接のためのレーザ光線16bを真下から当てることができる。
図10は、溶接工程後の状態を示すパワー半導体装置1の断面図である。図10に示されるような位置に溶接ビード17a及び17bを設けることができるため、非常に省スペースでの接合ができるため、パワー半導体装置を小型化することができる。
また、この際、パワーモジュール1aは既に樹脂部材11によってモールドされているが、レーザ溶接で接合することで熱影響領域を狭く保つことができるため、溶接に伴って樹脂部材11に損傷を与えることを防止できる。溶接ビード17aは、放熱ベース10aの厚さ方向に樹脂部材11からの距離をとっており、溶接ビード17bは水平方向に樹脂部材11から距離を離すことによって熱の影響を避けることができる。
1…パワー半導体装置、1a〜1c…パワーモジュール、2a及び2b…冷却流路形成体、3…冷却水入口パイプ、4…冷却水出口パイプ、5…中間パイプ、6a及び6b…流路本体部、7aないし7c…開口部、8a及び8b…流路蓋、9a及び9b…基板、10a及び10b…放熱ベース、11…樹脂部材、12…放熱ベース10aの側面、13…隙間、14…接触部、15…隙間、16a及び16b…レーザ光線、17a及び17b…溶接ビード、25…パワー半導体素子、26…放熱ベース10aの主面、27…流路本体部6aの外面

Claims (3)

  1. パワー半導体素子を有し当該パワー半導体素子を樹脂部材で封止する回路体と、
    前記回路体を挟む第1放熱ベース及び第2放熱ベースと、
    前記回路体を挟んで対向しておりかつ冷媒を流す流路を形成する第1流路形成体及び第2流路形成体と、を備え、
    前記第1流路形成体は、前記第1放熱ベースに塞がれる第1開口を形成し、
    前記第2流路形成体は、前記第2放熱ベースに塞がれる第2開口を形成し、
    前記第1放熱ベース及び前記第2放熱ベースのそれぞれは、主面と、側面と、により形成され、
    前記第1放熱ベースの前記側面の一部が、前記第1開口の開口空間を形成する前記第1流路形成体の内側面と対向し、
    前記第2放熱ベースの前記主面の一部が、前記第2開口の周辺を形成する前記第2流路形成体の外面と対向し、
    互いに対向する前記第1放熱ベースの前記側面の一部と前記第1流路形成体の内側面とが接合され、
    互いに対向する前記第2放熱ベースの前記主面の一部と前記第2流路形成体の外面とが接合されるパワー半導体装置。
  2. 請求項1に記載のパワー半導体装置において、
    前記第1放熱ベースと前記第1流路形成体の接合部には金属溶融部が形成され、
    前記第2放熱ベースと前記第2流路形成体の接合部には金属溶融部が形成されるパワー半導体装置。
  3. 請求項1または2に記載のパワー半導体装置において、
    前記第2流路形成体は、前記第2開口部の縁が前記第2放熱ベースに向う方向に沿って薄くなるように形成されるパワー半導体装置。
JP2017189402A 2017-09-29 2017-09-29 パワー半導体装置 Active JP6847013B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017189402A JP6847013B2 (ja) 2017-09-29 2017-09-29 パワー半導体装置
PCT/JP2018/028187 WO2019064873A1 (ja) 2017-09-29 2018-07-27 パワー半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017189402A JP6847013B2 (ja) 2017-09-29 2017-09-29 パワー半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019068533A JP2019068533A (ja) 2019-04-25
JP6847013B2 true JP6847013B2 (ja) 2021-03-24

Family

ID=65902888

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017189402A Active JP6847013B2 (ja) 2017-09-29 2017-09-29 パワー半導体装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP6847013B2 (ja)
WO (1) WO2019064873A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111211059B (zh) * 2018-11-22 2023-07-04 矽品精密工业股份有限公司 电子封装件及其制法与散热件

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5502805B2 (ja) * 2011-06-08 2014-05-28 日立オートモティブシステムズ株式会社 パワーモジュールおよびそれを用いた電力変換装置
JP6398889B2 (ja) * 2015-06-24 2018-10-03 トヨタ自動車株式会社 電力変換装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2019064873A1 (ja) 2019-04-04
JP2019068533A (ja) 2019-04-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8248809B2 (en) Inverter power module with distributed support for direct substrate cooling
JP5642022B2 (ja) 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP6161713B2 (ja) 電力変換装置
US20150061112A1 (en) Power semiconductor device and method for producing a power semiconductor device
JP6469720B2 (ja) 電力変換装置
JP2017199829A (ja) パワーモジュール構造
JP6286039B2 (ja) パワー半導体モジュールおよびパワー半導体モジュールの製造方法
JP2013030579A (ja) 電力変換装置
JP6847013B2 (ja) パワー半導体装置
JP5409889B2 (ja) インバータ
WO2019003718A1 (ja) パワー半導体装置及びそれを用いた電力変換装置
JP5188602B2 (ja) インバータ
JP5333357B2 (ja) 半導体モジュールの積層体
JP6218856B2 (ja) 電力変換装置
JP2010062491A (ja) 半導体装置および複合半導体装置
JP6588154B2 (ja) ケース、半導体装置、ケースの製造方法
JP5899962B2 (ja) 半導体モジュール及び電力変換装置
TWI818106B (zh) 散熱器、冷卻裝置
JP7091893B2 (ja) 半導体モジュールの積層体及びその製造方法
JP5202685B2 (ja) インバータ
WO2022039093A1 (ja) 電力変換装置、電力変換装置の製造方法
JP2019029383A (ja) 半導体装置
JP2022188312A (ja) パワーモジュールおよびパワーモジュールの製造方法
JP2012138395A (ja) 冷却器のロウ付け構造
JP2020188207A (ja) 半導体モジュール

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171002

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200124

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200127

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200818

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20201016

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210202

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210302

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6847013

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250