JP6842790B1 - イオン選択性電極法を原理とする電解質計測系の補正方法及び該補正方法を備えた電解質計測機器 - Google Patents

Abstract

【課題】イオン選択性電極法を原理とする電解質計測系に於いて測定値の正確さを担保するには標準品の認証値を用いて測定値を補正する必要があるが、主として用いられる補正方法は回帰式によるものであり、検体が異常値の場合、その正確さを担保できない場合があった。検体が異常値の場合でも、その正確さを担保できるようにする。【解決手段】電解質計測系によって測定される標準品の測定値と認証値の差がすべて校正液と標準品との液間電位の差に由来するとして導出した補正係数で補正する。【選択図】図１１

Description

本願発明は、イオン選択性電極法を原理とする電解質計測系における補正法に関するものである。

特定のイオンと選択的に応答する電極をイオン選択性電極（ＩＳＥ：Ｉｏｎ Ｓｅｌｅｃｔｉｖｅ Ｅｌｅｃｔｒｏｄｅ）という。イオン選択性電極と参照電極（または比較電極、照合電極）を電解質溶液、或いは血清等の試料、若しくは検体に接触させると両電極間にイオン活量に応じた起電力が生じる。通常、イオン選択性電極法を原理とする電解質計測系に於いては、測定の正確さを担保するため、試料測定に先立ち、専用の校正液による校正が行われる。一般的に、校正液は濃度の異なる２種類の液からなり、それら校正液と被測定試料、若しくは検体の活量がほぼ等しいと考えられる場合、２濃度の校正液の濃度差に相当する起電力を基準とし、被測定試料と２濃度の校正液の内どちらか一方の校正液との間に生じる起電力から、その濃度を逆算する。校正液の濃度の組み合わせは、一般的に、測定対象想定濃度近傍とそれよりも高濃度との組み合わせからなるが、測定対象想定濃度近傍と低濃度、または測定対象想定濃度を中間に挟む高濃度と低濃度の組み合わせであっても構わない。また校正液の濃度は必ずしも２濃度である必要はなく、１濃度でも、３濃度でも、それ以上あっても構わない。

イオン選択性電極の内部は、一般に内部液と呼ばれる濃度既知の電解質溶液で満たされており、イオン選択性電極応答膜（以後、電極膜）によって、測定対象イオンを含んだ試料と隔てられている。電極膜は、理想的には測定対象イオン以外には応答しないと考えられているが、実際には種々の妨害物質による干渉や試料の電導度、輸率、或いは浸透圧等の影響を受ける。イオン選択性電極法には、試料を稀釈せずにそのまま測定する非稀釈法と、適切な稀釈液で薄めて測定する稀釈法がある。図１に一般的な計測系を、図２により実際的なフロースルー型の計測系を、図３に稀釈法に於いて多く用いられるディップ型の計測系を示した。フロースルー型の計測系は勿論、図２以外であっても構わない。例えば、参照電極液をタンク中に内蔵したもの、或いは電極内に封入したもの、或いは他のタイプであっても構わない。図３のようなディップ型の計測系に於いても、それは同様である。参照電極内部を満たす参照電極液は、理想的には、校正液と試料、若しくは検体間に生じる液絡電位（または界面電位、拡散電位、接触電位）を小さくするために高濃度の液が望ましいとされる。しかしながら、参照電極液と他の液との濃度差が大きい場合、液の拡散による測定値の変動が起こり易くなるため、実際には測定対象によって種々の濃度や組成の液が選ばれている。参照電極の主な役割は、想定している計測系における基準電位を提供することである（註：この先は、主として臨床分野における電解質の測定について記述するが、課題解決における基本的な考え方は、他のどの計測系でも同じである）。

臨床分野における電解質の測定に於いては、測定値の正確さを担保するため、一般的に、標準品による再校正（補正）が行われる。計測系専用の校正液で系を校正後、更に標準品の認証値によって測定値の更なる正確さを担保するわけである。この際、校正液によって校正された計測系における標準品の測定値と、より上位の計測法で確認された標準物質の認証値がほぼ同じ値であれば標準品による補正は不用となる。しかし、差が生じた場合は補正が必要となる。差の大きさに大小はあるものの、一般的に、測定値と認証値は完全には一致しないため、多くの場合、補正が行われる。その補正方法には、主として（直線）回帰式が利用されている。

さて、ここで一歩戻って、一般的に水溶液系の校正液を用いる計測系で血液や血清、或いは血漿を測定した場合に生じる測定値の問題について記載する。
水溶液を測定した場合と血液等を測定した場合、両液の電解質濃度が同じでも、それらの値に乖離が生じる。その主な原因は以下の二つである。
イ）液間電位 ロ）電極のイオン選択性
一般に二種以上の異なった物質や空間が接触すると、その界面にポテンシャルが発生する。イオン選択性電極法を原理とする電解質計測系の場合は、濃度や浸透圧等、性質が異なる二種の溶液界面に電位が発生する。具体的に示すと、溶液Ａと溶液Ｂの濃度が十倍違うとき、その接触界面には約５９．２ｍＶ（２５℃）の電位が発生する。その電位が液間電位である。当然のように、ＡとＢの溶液が同一の場合、液間電位は発生しない。
液間電位は、その性質から拡散電位、或いは界面電位とも呼ばれるが、その値は通常、ネルンストの式（図４）を用いて求められる。英語で１０を表す言葉にＤｅｃａｄｅがあるが、十倍濃度の異なる二種類の溶液から発生する電位を表すときには、その頭文字をとって、○○ｍＶ／Ｄｅｃ．という慣用表現を用いることが多い。各電極に妨害イオン等が存在しない場合、理論的に、その値は５９．２ｍＶ／Ｄｅｃ．となる。ある電極で、その値が許容範囲以上に低かった（または高かった）場合、その原因は、対象としている電極が劣化しているか、或いは何らかの妨害を受けていると推測される。

液間電位によって生じる測定値の差を是正するには、幾つかの方法が考えられる。その一つに、無関係塩を加えるという方法がある。無関係塩とは、その計測系で対象としている測定物質以外の電解質を示す。水溶液と血液の組成の違いによって生じる液間電位の差は実際には僅かなものだが、それでも最終的には、測定対象イオンがナトリウムイオン（以下、Ｎａイオンと表記）で、その濃度が１４０ｍｍｏｌ／Ｌ程度のとき、１〜５ｍｍｏｌ／Ｌ程度の差となって表われる。無関係塩がない場合、液間電位は検体の種類を変える毎に発生するが、無関係塩を加えると、その差が幾らか小さくなる。例を示せば、測定対象をＮａイオンとし、検体１をＮａＣ１：１００ｍｍｏｌ／Ｌ、検体２を同：２００ｍｍｏｌ／Ｌとし、参照電極の内部液をＮａＣｌ：１ｍｍｏｌ／Ｌ、無関係塩をＫＣｌ：１０００ｍｍｏｌ／Ｌとした場合、ネルンストの式より、発生する電位は、
１）無関係塩を加えない場合 １７．８ｍＶ
２）無関係塩を加えた場合 ２．２ｍＶ
と求められる。（今回の場合、測定対象がＮａイオンなので、カリウムイオン（以下、Ｋイオンと表記）を含む塩化カリウムが無関係塩となる）。
上記を濃度に換算すると、それぞれ、
１）無関係塩を加えない場合 ２．０ｍｍｏｌ／Ｌ
２）無関係塩を加えた場合 １．１ｍｍｏｌ／Ｌ
となり、無関係塩を加えることによって、測定値が０．９ｍｍｏｌ／Ｌ是正されたことがわかる。

上記はごく単純な系だが、実際の組成の差はそう単純なものではない。よって無関係塩を加える是正方法にも、電極の選択性や安定性にかかわる深刻な問題が生じる。ナトリウムイオン選択性電極（以下、Ｎａ電極）やカリウムイオン選択性電極（以下、Ｋ電極）に於いては余り大きな問題は生じないが、それらの電極に比べてイオン選択性に劣る塩化物イオン選択性電極（以下、Ｃｌ電極）の場合、無視できない。例を示すと、例えば、無関係塩を酢酸ナトリウム：１０００ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｃｌ電極の酢酸イオンに対する選択性を２０倍として、上記と同様の計算をすると（註：塩化物イオン（以下、Ｃｌイオン）に対する無関係塩イオンは酢酸イオン）、
１）無関係塩を加えない場合 −１７．８ｍＶ
２）無関係塩を加えた場合 −２．２ｍＶ
となり、ここまではＮａ電極の場合と（符号以外は）同様だが、Ｃｌ電極の場合には、上記の差に加えて、酢酸イオンがＣｌイオンと誤って測定される濃度を算出する必要がある。先にイオン選択性を２０倍と設定したので、酢酸イオン：１０００ｍｍｏｌ／ＬはＣｌイオン：５０ｍｍｏｌ／Ｌと計算される。よって、Ｃｌイオンを測定したい場合、無関係塩濃度を余り高くすることができない。

計測系の液間電位を近似的に求めるにはヘンダーソンの式（図５）を用いる。例えば、以下のような稀釈系を想定する。
稀釈液の成分［Ｎａイオン：１．０ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｋイオン：０．１ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｃｌイオン：１．５ｍｍｏｌ／Ｌ、リチウムイオン（以下、Ｌｉイオン）：０．４ｍｍｏｌ／Ｌ、硫酸イオン：７．６ｍｍｏｌ／Ｌ、トリエタノールアミン：１５．２ｍｍｏｌ／Ｌ（註：イオンとして挙動した場合の換算値）］、校正液１の成分［Ｎａイオン：１３０ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｋイオン：４ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｃｌイオン：９０ｍｍｏｌ／Ｌ、酢酸イオン：４．８ｍｍｏｌ／Ｌ、リン酸一水素イオン：２２ｍｍｏｌ／Ｌ］、校正液２の成分［それぞれ上記と同じ順に、２００ｍｍｏｌ／Ｌ、４４ｍｍｏｌ／Ｌ、２００ｍｍｏｌ／Ｌ、：４．８ｍｍｏｌ／Ｌ、：２２ｍｍｏｌ／Ｌ］、被測定試料の成分［Ｎａイオン：１４０ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｋイオン：２ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｃｌイオン：１０６ｍｍｏｌ／Ｌ、酢酸イオン：６ｍｍｏｌ／Ｌ、重炭酸イオン：３０ｍｍｏｌ／Ｌ、ブドウ糖１ｇ／Ｌ］とし、稀釈倍率を５１倍とすると、校正液１での校正シーケンスで発生する液間電位は−０．６６５６ｍＶ、校正液２での校正シーケンスで発生する液間電位は−１．０６７ｍＶ、試料の液間電位は−１．２４５ｍＶと実測される。この値とヘンダーソンの式によって求めた値を比較すると図６のようになる。
計測系に伴う機械的変動を考慮すると、ヘンダーソンの式によって求めた値が実測値にかなり近いことがわかる。これまでの記載から、各種溶液に於ける組成の差から液間電位が生じ、その値が測定値に差を齎すことは明らかである。

特開平４−２４９７４８「過酸化水素・アンモニア混合液の成分濃度測定方法」 特開平８−３０４３２４「試料水のベース濃度補正方法」 特開２００４−３２９３４９「血中ＣＯ−Ｈｂ％の算出方法並びに循環血液量測定方法及び装置」

Ｇ・Ｊ・ムーディー／Ｊ・Ｄ・Ｒ・トーマス共著、宗森信／日色和夫共訳、「イオン選択性電極」、共立出版、昭和５２年０７月２０日（第１版 第１刷） 花井哲也、「膜とイオン−物質移動の理論と計算」、化学同人、１９８１年０６月１０日（第１版 第３刷） 喜多英明、魚崎浩平、「電気化学の基礎」、技報堂出版、１９８３年０４月２０日（第１版 第１刷）

測定値の正確さを担保するためには通常標準物質が用いられ、その認証値と測定値に許容範囲以上の差が生じる場合は、主として（直線）回帰式によって補正される。その方法自体は妥当なものであるが、改善の余地もある。すなわち、回帰式を用いる補正方法では実測値と認証値の差を比較し、その差を回帰式によって一致させるが、これまで見てきたように検体の差により、僅かとはいえ発生する液間電位が異なるからである。高中低の三濃度から構成される標準品の場合、高中低それぞれの濃度で液間電位が異なる、ということである。その場合に生じる問題について以下、稀釈法を例に挙げて説明する。
先まわりして問題点を指摘すれば、本願発明の校正法を用いても従来の回帰式法を用いても健常人程度の被測定濃度であれば大きな差は生じない。乖離が起こるのは測定値が大きく外れる異常値に於いてである。詳細は実施例で示すが、上記の稀釈系でＫイオンのスロープが５６．３９７ｍＶ／Ｄｅｃ．、液間電位が０．０９５７６ｍＶであった場合、未補正の標準品高濃度の測定値は＋０．１０６ｍｍｏｌ／Ｌ高値となる。その他の濃度での測定値は、未補正及び従来補正に於いて、差が±０．１００ｍｍｏｌ／Ｌ以下に収まっており、日本臨床化学会・血液ガス・電解質専門委員会における許容差限界値の指針（絶対値）は（Ｋ：±０．２ｍｍｏｌ／Ｌ）であるから、上記いずれの値も指針的には問題がない。ただし、医師や技師によっては、±０．１ｍｍｏｌ／Ｌ以上の乖離を嫌う。
異常値の例を示すと、検体の場合、当然のことながら認証値はないので、相当する値は炎光光度計に於ける測定値で代用される。トレーサビリティー的に、炎光光度計法（塩化物イオンの場合は電量滴定法）の方が電極法よりも上位の計測法だからである。ある異常値が、８．５２、８．９０のとき、未補正、従来補正の順に［測定値−炎光値］の値を示すと、（−０．１５、−０．１１）、（−０．４６、−０．４５）となり、従来補正（回帰式）の方が、差が大きくなっている。もちろん、健常値近傍では従来補正値の方が確からしい。

本願発明は上記課題を解決するためになされたものであり、標準品の認証値と測定値の差がすべて液間電位の差に由来するとして補正を行うことにより、達成された。具体的には、標準品を測定して測定値を求める工程と、求められた測定値と標準品の認証値の差がすべて校正液と標準品との液間電位の差に由来するとして補正係数を導き出す工程と、導き出された補正係数を用いて測定値を補正する工程と、及び、その補正計算工程、を備えたことを特徴とする本願補正方法により、達成された。

本願発明の補正方法を適応することにより、上記の［測定値−炎光値］の差が（−０．０８、−０．０６）と大幅に改善された。

イオン選択性電極法を原理とする一般的な計測系を示した図である。 同計測系の中でより実際的なフロースルー型の一例を示した図である。 同計測系の中でより実際的なディップ型の一例を示した図である。 ネルンストの式を示した図である。 ヘンダーソンの式を示した図である。 実際に試料に含まれる濃度、計算値、実測値を示した図である。 本願発明の補正方法の一実施形態に係るフローチャートである。 本願発明の電解質計測機器の一実施形態に係る機能ブロック図である。 非稀釈法（実施例１−２）及び稀釈法（実施例１−３）における液間電位補正の係数と、「液間電位補正後の測定値」−「イオン電極用認証実用標準物質の認証値」（高濃度、中濃度、低濃度）の関係を示した図である。 非稀釈法（実施例２−２）及び稀釈法（実施例２−３）における液間電位補正の係数と、「液間電位補正後の測定値」−「イオン電極用認証実用標準物質の認証値」（高濃度、中濃度、低濃度）の関係を示した図である。 ノーマル及びアブノーマル検体の炎光光度計による測定結果と液間電位補正または回帰式補正を行った電解質計測装置による測定結果を比較した図である。

（１）補正方法
本願発明は、イオン選択性電極法を原理とする電解質計測系に於いて、検体の測定値を補正する方法に関する。
本願発明の補正方法は、標準品の測定値と、標準品の認証値の差がすべて校正液と標準品との液間電位の差に由来するとして補正係数を算出し、該補正係数を用いて、検体の測定値を補正するものである。

図７に、本願発明の補正方法の一実施形態に係るフローチャートを示す。なお、本願発明の方法のフローはこれに限定されず、各工程の順番を適宜入れ替えることが可能である。

（１）校正液電位差（ΔＥ）取得工程
まず、高濃度校正液と低濃度校正液の電位差（ΔＥ）を取得する。ΔＥは、常法により取得することができ、例えば、作用電極と参照電極を組みわせた電位差計を用いて測定することができる。

ΔＥは、測定対象となるイオン種ごとに測定する必要がある。例えば、検体のＮａイオンのイオン濃度の測定値を補正する場合には、Ｎａイオン選択性電極を用いて、高濃度校正液と低濃度校正液とのΔＥを測定し、Ｋイオンのイオン濃度の測定値を補正する場合には、Ｋイオン選択性電極を用いて、ΔＥを測定する必要がある。

（２）標準品イオン濃度測定工程
次いで、電解質計測機器を用いて標準品（認証標準物質、認証標準品）のイオン濃度を測定する。標準品は、認証値が定められているが、上述の通り、様々な理由で実際の測定値とずれがある。本工程では、標準品の実際の測定環境での測定値を取得する。校正液電位差（ΔＥ）取得工程と同様に、標準品の測定値は、測定した検体のイオン種ごとに測定する。

標準品には、１種または、それぞれ濃度が異なる２種以上の標準品を用いることができる。

（３）補正係数算出工程
校正液の電位差ΔＥ、及び標準品の測定値を取得後、以下の式（１）、及び式（２）を用いて、補正係数ＣＬＪを算出する。

式（１）は、電極のスロープ値（ｍＶ／Ｄｅｃ．）αを算出する式である。

Ｍ１、及びＭ２は、それぞれ低濃度校正液に含まれるイオンのイオン濃度（ｍｍｏｌ／Ｌ）、及び高濃度校正液に含まれるイオンの濃度（ｍｍｏｌ／Ｌ）を意味する。Ｍ１及びＭ２は、校正液に応じてそれぞれ既知の濃度である。

スロープ値αは、測定するイオン種毎に算出する必要がある。
具体的には、低濃度校正液の、Ｎａイオン濃度、Ｋイオン濃度、Ｃｌイオン濃度が、それぞれ１４０．０ｍｍｏｌ／Ｌ、４．００ｍｍｏｌ／Ｌ、１００．０ｍｍｏｌ／Ｌであり、高濃度校正液の同イオン濃度が、同じ順に１６０．０ｍｍｏｌ／Ｌ、６．００ｍｍｏｌ／Ｌ、１２０．０ｍｍｏｌ／Ｌである場合を想定する。
この場合、Ｎａイオンのスロープ値αを算出するためには、式１のＭ１に１４０．０を代入し、Ｍ２に１６０．０を代入する。同様に、Ｋイオンのスロープ値αを算出するためには、Ｍ１に４．００を代入し、Ｍ２に６．００を代入する。
Ｄｃ、及びＤｒは、それぞれ稀釈液の濃度、及び稀釈倍率を意味する。
稀釈法によるイオン選択電極法を用いた測定を行う場合には、式１のＤｃ、Ｄｒに、それぞれ稀釈液の濃度、及び稀釈倍率を代入する。

一方で、非稀釈法によるイオン選択電極法を用いた測定を行う場合には、以下に示す式（１）´のＤｃに０、Ｄｒに１を代入し、αを算出する。

αを算出した後、式２を用いて、補正係数ＣＬＪを算出する。なお、ＣＬＪとは、液間電位相当値（Ｖａｌｕｅ ｃｏｒｒｅｓｐｏｎｄｉｎｇ ｔｏ ｔｈｅ ｌｉｑｕｉｄ ｊｕｎｃｔｉｏｎ ｐｏｔｅｎｔｉａｌ）の略称である。

ＣＬＪを算出するためには、１種または２種以上の標準品の認証値と、標準品の測定値が必要である。

１種の標準品を用いてＣＬＪを算出する場合、式（２）で得られたＣＬＪを補正係数ＣＬＪとする。一方で、２種以上の濃度の異なる標準品を用いて、ＣＬＪを算出する場合には、各標準品について上記の式（２）によりそれぞれＣＬＪを算出し、各ＣＬＪの平均値（ＣＬＪ（平均値））を算出し、この平均値を補正係数ＣＬＪとする。平均には、算術平均（相加平均）、幾何平均（相乗平均）、調和平均、対数平均等、数多くの種類があるが、簡単のため、ここでは算術平均を用いて説明を行う。

算術平均によるＣＬＪの平均値は、以下の式（２）´により算出する。

例えば、２種の標準品を用いてＣＬＪ（平均値）を算出する場合、導出過程は以下の通りである。

詳細に説明を加えると、計測系は、高低２種類の校正液及び１種類の参照電極液、イオン選択性電極各種、参照電極からなるとする。あるイオンに於けるスロープ（１０倍濃度差を想定した校正液１、２間の勾配のこと）を、
スロープ（ｍＶ／Ｄｅｃ．）＝（校正液２と校正液１の電位差）÷ｌｏｇ（校正液２濃度／校正液１濃度）
（註：対数の底は１０）と定義すると、高濃度（以下、Ｈと略記）、中濃度（以下、Ｍと略記）、低濃度（以下、Ｌと略記）の３濃度からなる標準品の場合、液間電位相当値は、以下で定義される。
ＣＬＪ（Ｈ）＝スロープ（ｍＶ/Ｄｅｃ．）×ｌｏｇ（測定値（ｍｍｏｌ／Ｌ)（Ｈ）／認証値（ｍｍｏｌ／Ｌ）（Ｈ））
ＣＬＪ（Ｍ）＝スロープ（ｍＶ/Ｄｅｃ．）×ｌｏｇ（測定値（ｍｍｏｌ／Ｌ)（Ｍ）／認証値（ｍｍｏｌ／Ｌ）（Ｍ））
ＣＬＪ（Ｌ）＝スロープ（ｍＶ/Ｄｅｃ．）×ｌｏｇ（測定値（ｍｍｏｌ／Ｌ)（Ｌ）／認証値（ｍｍｏｌ／Ｌ）（Ｌ））

測定系のスロープがα（ｍＶ／Ｄｅｃ．）であり、あるイオンの標準品高濃度、標準品中濃度、標準品低濃度の認証値が、それぞれ、Ａ１ｍｍｏｌ／Ｌ、Ａ２ｍｍｏｌ／Ｌ、Ａ３ｍｍｏｌ／Ｌであり、測定値が、Ｂ１ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｂ２ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｂ３ｍｍｏｌ／Ｌであったとすると、各ＣＬＪは以下となる。
ＣＬＪ（Ｈ）＝α×ｌｏｇ（Ｂ１／Ａ１）
ＣＬＪ（Ｍ）＝α×ｌｏｇ（Ｂ２／Ａ２）
ＣＬＪ（Ｌ）＝α×ｌｏｇ（Ｂ３／Ａ３）
算術平均を用いる場合、全体としてのＣＬＪは、以下である。
ＣＬＪ＝｛ＣＬＪ（Ｈ）＋ＣＬＪ（Ｍ）＋ＣＬＪ（Ｌ）｝÷３
実際に使用する場合は、上式に係数Ｋを加え、以下とする。
ＣＬＪ＝Ｋ×｛（ＣＬＪ（Ｈ）＋ＣＬＪ（Ｍ）＋ＣＬＪ（Ｌ）｝÷３｝

ここで係数Ｋは、上記式に０．１〜２．０程度の値を０．１刻みで代入し、高濃度（Ｈ）、中濃度（Ｍ）、低濃度（Ｌ）、それぞれのＣＬＪの平均値を算出することで求めることができる。具体的には、Ｋに０．１〜２．０を０．１刻みでそれぞれ代入して、それぞれの場合におけるＣＬＪの平均値（ＣＬＪ（平均値）と称する）を算出する。
次いで、各ＣＬＪ（平均値）を用いて、後述する補正測定値算出方法により、補正後の測定値（Ｈ）、（Ｍ）、（Ｌ）を算出する。
次いで、「補正後の測定値と認証値の差（Ｈ）」、すなわち、「補正後の測定値（Ｈ）−認証値（Ｈ）」、を算出し、同様に「補正後の測定値と認証値の差（Ｍ）」、「補正後の測定値と認証値の差（Ｌ）」をそれぞれ算出する。
その後、「補正後の測定値と認証値の差（Ｈ）、（Ｍ）、（Ｌ）」のそれぞれの絶対値の和を算出し、該絶対値の和が最小となる係数Ｋを選択する。

（４）検体イオン濃度測定工程
次いで、検体（測定対象）に含まれる各イオン（測定対象とするイオン）の測定値を取得する。
非稀釈法を用いる場合には、検体そのものの測定値を取得し、稀釈法を用いる場合には、稀釈した検体の測定値を取得する。

（５）補正測定値算出方法
補正係数ＣＬＪを算出したら、次いで、前記補正係数ＣＬＪを用いて検体（測定対象）の測定値を補正し、補正測定値を算出する。補正測定値は、以下の式により算出することができる。

ここで、非稀釈法により測定した場合には、Ｄｒ、Ｄｃに０が代入され、以下の式（３）´により補正測定値を求めることができる。

（２）電解質計測機器
また、本願発明は、イオン選択性電極法を原理とする電解質計測機器に関する。
以下、本願発明の一実施形態に係る電解質計測機器について説明する。

図８に、本実施形態に係る電解質計測機器の機能ブロック図を示す。
本実施形態に係る電解質計測機器３０は、測定対象、校正液、標準品を測定する測定部３１を備える。
測定部３１としては、イオン選択性電極法を原理とする電解質計測機器に一般的に用いられるイオン選択性電極を、測定対象となるイオンに応じて、適宜選択することができる。

また、電解質計測機器は、記憶部３２を備える。
記憶部３２は、測定対象のイオン濃度の測定値を補正する補正係数を算出するための補正係数算出情報と、測定対象の測定値を補正して補正測定値を算出するための補正測定値算出情報を備える。
補正係数算出情報、及び補正測定値算出情報は、予め記憶部３２に記憶されていても良く、インターネットを通じて、記憶部にインストールできる形態であっても良い。

補正係数算出情報は、少なくとも前述の式（１）が含まれる式（１）情報と、式（２）が含まれる式（２）情報を含む。
補正測定値算出情報は、少なくとも前述の式（３）、及び式（３）´が含まれる式（３）情報を含む。

記憶部３２としては、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）等の主記憶装置、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）やＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）、フラッシュメモリ等の補助記憶装置が例示できる。

更に、本願発明の電解質計測機器は、処理部３３を備える。
処理部３３は、補正係数算出情報を用いて補正係数を算出する。また、算出した前記補正係数、及び補正測定値算出情報を用いて補正測定値を算出する。

処理部３３としては、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）等の演算装置が例示できる。

本願発明の電解質計測機器の使用方法について説明を加える。
まず、測定部３１により、高濃度校正液と低濃度校正液の電位差を測定し、１種または２種以上の標準品のイオン濃度を測定する。

測定部３１が、電位差情報と標準品のイオン濃度の標準品測定値情報を取得すると、処理部３３は、電位差情報、標準品測定値情報、及び補正係数算出情報に基づいて、補正係数ＣＬＪを算出し、ＣＬＪ情報として記憶部３２に記憶する。ＣＬＪの算出過程は、上述した通りである。

次いで、記憶部３２にＣＬＪ情報が記憶されている状態で、測定部３１が検体のイオン濃度を測定することで、検体イオン濃度測定値情報を取得すると、処理部３３は、ＣＬＪ情報、及び補正測定値算出情報を用いて、補正測定値を算出する。補正測定値の算出過程は、上述した通りである。

算出された補正測定値は、補正測定値情報として、出力部３４に出力される。
本実施形態に於いて出力部３４は、電解質計測機器に備えられたディスプレイである。

本実施形態の電解質計測機器、及びその使用方法について説明したが、本願発明はこれに限定されない。
記憶部３２は、ＣＬＪ情報を一時的に記憶する形態であっても良く、恒常的に記憶し、キーボード、タッチパネル等の入力機器を用いて、計算に使用するＣＬＪ情報を記憶部から読み出すことが可能な形態であっても良い。

出力部３４は、外部端末、例えば電解質計測機器と接続されたコンピュータであっても良い。

また、測定部３１から測定した電位差情報、及び標準品測定値情報を処理部３３が自動で取得し、補正係数ＣＬＪを算出する形態であっても良く、一旦記憶部３２に記憶し、使用者が任意のタイミングで補正係数ＣＬＪを算出する形態であっても良い。

また、記憶部３２は、更に、測定対象のイオンにおける、標準品の認証値情報と、標準品の認証値と補正された測定値との差の許容できる範囲が定められたイオン濃度差情報を記憶している形態であっても良い。

この場合、処理部３３は、標準品の認証値情報と補正測定値情報と、イオン濃度差情報を照らし合わせ、標準品の認証値と補正測定値との差が、イオン濃度差情報として記憶された許容できる範囲を超える場合には、補正測定値を算出しない形態とすることができる。この場合、処理部３３は、測定部３１が生の測定値情報を出力部３４に出力する形態とすることができる。

前記イオン濃度差情報としては、日本臨床化学会・血液ガス・電解質専門委員会における許容差限界値の指針、または、臨床検査精度管理調査の定量検査評価法と試料に関する日臨技（註：日本臨床衛生検査技師会の略記）指針に従って設定することができる。具体的には、日本臨床化学会・血液ガス・電解質専門委員会における許容差限界値の指針は、Ｎａ：±２．００ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｋ：±０．２ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｃｌ：±２．００ｍｍｏｌ／Ｌである、また、臨床検査精度管理調査の定量検査評価法と試料に関する日臨技指針では、Ｎａ：±３．００ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｋ：±０．２ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｃｌ：±３．００ｍｍｏｌ／Ｌである。

従って、前記イオン濃度差情報として、ナトリウムイオンの許容できる差の範囲が±１．５０ｍｍｏｌ／Ｌ以内であるとのナトリウムイオン濃度差情報、カリウムイオンの許容できる差の範囲が±０．１００ｍｍｏｌ／Ｌ以内であるとのカリウムイオン濃度差情報、クロライドイオンの許容できる差の範囲が±１．５０ｍｍｏｌ／Ｌ以内であるとのクロライドイオン濃度差情報によって構成される群からなる１種または２種以上のイオン濃度差情報を含む形態とすることが好ましい。

［実施例１−１（非稀釈法１）］
校正液１の濃度を健常人近傍とし、校正液２の濃度を健常人近傍より高濃度とした。参照電極液は校正液１、２よりも高濃度とし、具体的には、塩化アンモニウムを用いた。測定対象イオンは検体検査に於いて代表的な、Ｎａイオン、Ｋイオン、Ｃｌイオンの３種類とした。計測系には、図２に示したフロースルー系を用いた。校正液１の、Ｎａイオン濃度、Ｋイオン濃度、Ｃｌイオン濃度は、それぞれ１４０．０ｍｍｏｌ／Ｌ、４．００ｍｍｏｌ／Ｌ、１００．０ｍｍｏｌ／Ｌとし、校正液２の同イオン濃度は、同じ順に１６０．０ｍｍｏｌ／Ｌ、６．００ｍｍｏｌ／Ｌ、１２０．０ｍｍｏｌ／Ｌとした。両校正液のｐＨは７．４±０．１となるように調整した。
上記の計測系に於いて、イオン電極用認証実用標準物質（Ｗｏｒｋｉｎｇ Ｃｅｒｔｉｆｉｅｄ Ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ Ｓｅｒｕｍ ｆｏｒ ＩＳＥ、ＩＳＥ ＣＲＳ）（以下、ＣＲＳと略記）を測定し、以下の結果を得た。

＜Ｎａイオン＞
校正液２と校正液１の電位差：３．９２３９
スロープ：３．９２３９÷ｌｏｇ（１６０／１４０）＝６７．６６３６（ｍＶ／Ｄｅｃ．）
ＣＲＳ認証値：１５４．３（Ｈ）、１４１．０（Ｍ）、１２５．８（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：１５１．３（Ｈ）、１３８．７（Ｍ）、１２４．８（Ｌ）
差（測定値−認証値）：−３．０（Ｈ）、−２．３（Ｍ）、−１．０（Ｌ）
各ＣＬＪ（Ｈ／Ｍ／Ｌ）：−０．５７３１（Ｈ）、−０．４７９１（Ｍ）、−０．２２５１（Ｌ）
係数：１．１
ＣＬＪ：−０．４６８３

液間電位補正後の測定値：１５３．８（Ｈ）、１４０．９（Ｍ）、１２６．８（Ｌ）
差（補正後の測定値−認証値）：−０．５（Ｈ）、−０．１（Ｍ）、１．０（Ｌ）
註：１０の階乗を１０ｅｘｐ（ｘ）と表す、すなわち、１０の２乗であれば１０ｅｘｐ（２）と表記することにした場合、高濃度（Ｈ）の計算は以下となる。
１０ｅｘｐ｛ｌｏｇ（測定値）−（ＣＬＪ／スロープ)｝＝１０ｅｘｐ｛ｌｏｇ（１５１．３）−（−０．４６８３／６７．６６３６）｝＝１５３．８

ここで、比較のため、ＣＲＳ認証値と測定値から回帰計算をして求めた補正値（回帰）を示す。
Ｙ切片：−８．５２０２
傾き：１．０７６６
回帰式で補正後の測定値：１５４．４（Ｈ）、１４０．８（Ｍ）、１２５．９（Ｌ）
差（回帰式測定値−認証値）：０．１（Ｈ）、−０．２（Ｍ）、０．１（Ｌ）

＜Ｋイオンの場合＞
校正液２と校正液１の電位差：１０．６１７２
スロープ：１０．６１７２÷ｌｏｇ（６／４）＝６０．２９３５（ｍＶ／Ｄｅｃ．）
ＣＲＳ認証値：５．４８（Ｈ）、４．２９（Ｍ）、３．４０（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：５．３３（Ｈ）、４．１８（Ｍ）、３．３３（Ｌ）
差（測定値−認証値）：−０．１５（Ｈ）、−０．１１（Ｍ）、−０．０７（Ｌ）
各ＣＬＪ（Ｈ／Ｍ／Ｌ）：−０．７４６４（Ｈ）、−０．６５５１（Ｍ）、−０．５４４７（Ｌ）
係数：１．０
ＣＬＪ：−０．６４８８
液間電位補正後の測定値：５．４６（Ｈ）、４．２９（Ｍ）、３．４１（Ｌ）
差（補正後測定値−認証値）：−０．０２（Ｈ）、０．００（Ｍ）、０．０１（Ｌ）

ここで、比較のため、ＣＲＳ認証値と測定値から回帰計算をして求めた補正値（回帰）を示す。
Ｙ切片：−０．０７０１
傾き：１．０４２１
回帰式で補正後の測定値：５．４８（Ｈ）、４．２９（Ｍ）、３．４０（Ｌ）
差（回帰式）：０．００（Ｈ）、０．００（Ｍ）、０.００（Ｌ）

＜Ｃｌイオンの場合＞
校正液２と校正液１の電位差：−２．６１２７
スロープ：−２．６１２７÷ｌｏｇ（１２０／１００）＝−３２．９９６５（ｍＶ／Ｄｅｃ．）
ＣＲＳ認証値：１１６．６（Ｈ）、１０２．８（Ｍ）、８９．９（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：１１９．７（Ｈ）、１０５．８（Ｍ）、９２．２（Ｌ）
差（測定値−認証値）：３．１（Ｈ）、３．０（Ｍ）、２．３（Ｌ）
各ＣＬＪ（Ｈ／Ｍ／Ｌ）：−０．３７１２（Ｈ）、−０．４１２２（Ｍ）、−０．３５５８（Ｌ）
係数：１．０
ＣＬＪ：−０．３７９７
液間電位補正後の測定値：１１６．５（Ｈ）、１０３．０（Ｍ）、８９．７（Ｌ）
差（補正後測定値−認証値））：−０．１（Ｈ）、０．２（Ｍ）、−０．２（Ｌ）

ここで、比較のため、ＣＲＳ認証値と測定値から回帰計算をして求めた補正値（回帰）を示す。
Ｙ切片：０．２９９６
傾き：０．９７１０
回帰式で補正後の測定値：１１６．５（Ｈ）、１０３.０（Ｍ）、８９．８（Ｌ）
差（回帰式）：−０．１（Ｈ）、０．２（Ｍ）、−０．１（Ｌ）

いずれのイオンの場合も回帰式による補正には及ばないが、日本臨床化学会・血液ガス・電解質専門委員会における許容差限界値の指針は、Ｎａ：±２．００ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｋ：±０．２ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｃｌ：±２．００ｍｍｏｌ／Ｌであり、また、臨床検査精度管理調査の定量検査評価法と試料に関する日臨技指針では、Ｎａ：±３．００ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｋ：±０．２ｍｍｏｌ／Ｌ、Ｃｌ：±３．００ｍｍｏｌ／Ｌであるため、液間電位を利用した本願発明の補正も十分な補正であるといえる。なお、無関係塩の説明のところで触れたが、上記説明（計算）より、電位補正に無関係塩を使い難いＣｌイオンに於いて、液間電位補正が、より有効であることがわかる。
註：一般的に、標準品測定値が日臨技指針の半分の値を超えるとき、標準品による再補正が必要である、と考えられている。

［実施例１−２（非稀釈法２）］
実施例１−１と同じＣＬＪ設定で、別のＣＲＳを用い、検体（コントロール）を測定した結果を示す。なお、係数Ｋの算出過程（一覧表）を図９に示した。

＜Ｎａイオンの場合＞
ＣＲＳ認証値：１５５．１（Ｈ）、１４１．７（Ｍ）、１２５．０（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：１５２．９（Ｈ）、１３９．０（Ｍ）、１２４．０（Ｌ）
液間電位補正後のＣＲＳの測定値：１５５．２（Ｈ）、１４１．１（Ｍ）、１２５．９（Ｌ）
液間電位補正後の検体の測定値：１３９．０（ノーマル。以下、Ｎと略記）、１５２．０（アブノーマル。以下、ＡＮと略記）
Ｙ切片：−３．９２０８
傾き：１．０４２５
回帰式で補正後の測定値：１３８．８（Ｎ）、１５２．２（ＡＮ）
ＣＲＳで回帰式補正した炎光光度計の測定値：１３９．０（Ｎ）、１５０．９（ＡＮ）
註：炎光光度計による測定はイオン電極を用いた測定よりもトレーサビリティー的に上位にある。すなわち、炎光光度計による測定値はＣＲＳに於ける認証値と同様な扱い、となる。
上記した結果からわかるように、ノーマル検体ではＣＬＪ補正後の測定値が炎光光度計の測定値に一致し、アブノーマル検体におけるＣＬＪ補正後の測定値は、（ＣＬＪを用いない）回帰式補正後の測定値よりも、若干ではあるが、炎光光度計の測定値に近いことがわかる。

＜Ｋイオンの場合＞
ＣＲＳ認証値：５．５０（Ｈ）、４．３８（Ｍ）、３．２２（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：５．４１（Ｈ）、４．３３（Ｍ）、３．２２（Ｌ）
液間電位補正後のＣＲＳの測定値：５．４６（Ｈ）、４．３７（Ｍ）、３．２５（Ｌ）
液間電位補正後の検体の測定値：４．１４（Ｎ）、５．２５（ＡＮ）
Ｙ切片：−０．１３０９
傾き：１．０４１１
回帰式で補正後の測定値：４．１４（Ｎ）、５．２８（ＡＮ）
ＣＲＳで回帰式補正した炎光光度計の測定値：４．２０（Ｎ）、５．２５（ＡＮ）
上記した結果からわかるように、アブノーマル検体におけるＣＬＪ補正後の測定値は、（ＣＬＪを用いない）回帰式補正後の測定値と異なり、炎光測定値と一致した。

＜Ｃｌイオンの場合＞
ＣＲＳ認証値：１１８．９（Ｈ）、１０２．３（Ｍ）、８８．０（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：１２５．４（Ｈ）、１１０．４（Ｍ）、９４．３（Ｌ）
液間電位補正後のＣＲＳの測定値：１１７．４（Ｈ）、１０３．３（Ｍ）、８８．３（Ｌ）
液間電位補正後の検体の測定値：１００．６（Ｎ）、１１５．８（ＡＮ）
Ｙ切片：−６．１１７６
傾き：０．９９２３
回帰式で補正後の測定値：１００．５（Ｎ）、１１６．７（ＡＮ）
ＣＲＳで回帰式補正した電量滴定の測定値：１０２．１（Ｎ）、１１６．２（ＡＮ）

Ｃｌイオン選択性電極は、ＮａまたはＫイオン選択性電極よりも共存イオンの影響を受け易いため（例えば、重炭酸イオン濃度が低いとき異常値になる等）、測定値にずれが生じ易いが、上記した結果からわかるように、ノーマル検体及びアブノーマル検体におけるＣＬＪ補正後の測定値は、（ＣＬＪを用いない）回帰式補正後の測定値よりも、若干ではあるが、電量滴定法の測定値に近い。

［実施例１−３（非稀釈法３）］
実施例１−２と同じＣＲＳ及び検体だが、そのＣＲＳから求めたＣＬＪ設定で再計算した結果を示す。なお、係数Ｋの算出過程（一覧表）を図１０に示した。

＜Ｎａイオンの場合＞
係数Ｋ：１．０
ＣＲＳ認証値：１５５．１（Ｈ）、１４１．７（Ｍ）、１２５．０（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：１５２．９（Ｈ）、１３９．０（Ｍ）、１２４．０（Ｌ）
液間電位補正後のＣＲＳの測定値：１５５．０（Ｈ）、１４０．９（Ｍ）、１２５．７（Ｌ）
液間電位補正後の検体の測定値：１３８．８（Ｎ）、１５１．８（ＡＮ）
Ｙ切片：−３．９２０８
傾き：１．０４２５
回帰式で補正後の測定値：１３８．８（Ｎ）、１５２．２（ＡＮ）
ＣＲＳで回帰式補正した炎光光度計の測定値：１３９．０（Ｎ）、１５０．９（ＡＮ）
上記した結果からわかるように、ノーマル検体ではＣＬＪ補正後の測定値と（ＣＬＪを用いない）回帰式補正後の測定値は同じだが、アブノーマル検体におけるＣＬＪ補正後の測定値は、（ＣＬＪを用いない）回帰式補正後の測定値よりも、若干ではあるが、炎光光度計の測定値に近い。

＜Ｋイオンの場合＞
係数Ｋ：１．３
ＣＲＳ認証値：５．５０（Ｈ）、４．３８（Ｍ）、３．２２（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：５．４１（Ｈ）、４．３３（Ｍ）、３．２２（Ｌ）
液間電位補正後のＣＲＳの測定値：５．４８（Ｈ）、４．３８（Ｍ）、３．２６（Ｌ）
液間電位補正後の検体の測定値：４．１６（Ｎ）、５．２６（ＡＮ）
Ｙ切片：−０．１３０９
傾き：１．０４１１
回帰式で補正後の測定値：４．１４（Ｎ）、５．２８（ＡＮ）
ＣＲＳで回帰式補正した炎光光度計の測定値：４．２０（Ｎ）、５．２５（ＡＮ）
上記した結果からわかるように、ノーマル検体及びアブノーマル検体に於けるＣＬＪ補正後の測定値は、（ＣＬＪを用いない）回帰式補正後よりも炎光測定値に近い。

＜Ｃｌイオンの場合＞
係数Ｋが１．０であり、実施例１−２と等しいため、結果は同じである。

全体を通し、実施例１―２よりも、ＣＬＪ補正後の測定値の方が炎光（電量）測定値に近いことがわかる。

［実施例２−１（稀釈法）］
校正液１の濃度を健常人近傍とし、校正液２の濃度を健常人近傍より高濃度とした。稀釈倍率は５０倍（５０＋１倍）に設定した。稀釈液にもイオンを加えた。測定対象イオンは検体検査に於いて代表的なＮａイオン、Ｋイオン、Ｃｌイオンの３種類とした。計測系には図３に示したディップ系を用いた。校正液１の、Ｎａイオン濃度、Ｋイオン濃度、Ｃｌイオン濃度は、それぞれ１３０．０ｍｍｏｌ／Ｌ、４．００ｍｍｏｌ／Ｌ、９０．０ｍｍｏｌ／Ｌとし、校正液２の同イオン濃度は、順に２００．０ｍｍｏｌ／Ｌ、４４．０ｍｍｏｌ／Ｌ、２００．０ｍｍｏｌ／Ｌとした。稀釈液の、Ｎａイオン濃度、Ｋイオン濃度、Ｃｌイオン濃度は、それぞれ１．００ｍｍｏｌ／Ｌ、０．１０ｍｍｏｌ／Ｌ、１．５０ｍｍｏｌ／Ｌとした。両校正液、及び、稀釈液のｐＨは７．３±０．１となるように調整した。
上記の計測系に於いて、ＣＲＳを測定し、以下の結果を得た。

＜Ｎａイオンの場合＞
校正液２と校正液１の電位差：８．４１５４
スロープ： 校正液２と校正液１の電位差÷ｌｏｇ｛（校正液２濃度＋稀釈液濃度×稀釈倍率）／（校正液１濃度＋稀釈液濃度×稀釈倍率）｝＝８．４１５４÷ｌｏｇ｛（２００＋１×５０）)／（１３０＋１×５０）｝＝５８．９８６４（ｍＶ／Ｄｅｃ．）
ＣＲＳ認証値：１５８．３（Ｈ）、１４２．５（Ｍ）、１２８．０（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：１５８．６（Ｈ）、１４３．４（Ｍ）、１２９．０（Ｌ）
差（測定値−認証値）：０．３（Ｈ）、０．９（Ｍ）、１．０（Ｌ）
各ＣＬＪ（Ｈ／Ｍ／Ｌ）：０．０３４４（Ｈ）、０．１２４８（Ｍ）、０．１４６４（Ｌ）
係数：１．２
ＣＬＪ：０．１２２２
液間電位補正後の測定値：１５７．６（Ｈ）、１４２．５（Ｍ）、１２８．２（Ｌ）
差（補正後測定値−認証値）：−０．７（Ｈ）、０．０（Ｍ）、０．２（Ｌ）
註：１０の階乗を１０ｅｘｐ（ｘ）と表す、すなわち、１０の２乗であれば１０ｅｘｐ（２）と表記することにした場合、高濃度（Ｈ）の計算は以下となる。
１０ｅｘｐ（［ｌｏｇ｛（測定値＋稀釈液濃度×稀釈倍率）／（稀釈倍率＋１）｝−（ＣＬＪ／スロープ）｝］）×（稀釈倍率＋１）−１×稀釈倍率＝１０ｅｘｐ（［ｌｏｇ｛（１５８．６＋１×５０）／５１）｝−（０．１２２２/５８．９８６４）｝］）×５１−１×５０＝１５７．６

ここで、比較のため、ＣＲＳ認証値と測定値から回帰計算して求めた補正値（回帰）を示す。
Ｙ切片：−４．３６５７
傾き：１．０２５２
回帰式で補正後の測定値：１５８．２（Ｈ）、１４２．７（Ｍ）、１２７．９（Ｌ）
差（回帰式）：−０．１（Ｈ）、０．２（Ｍ）、−０．１（Ｌ）

＜Ｋイオンの場合＞
校正液２と校正液１の電位差：４０．１６９１
スロープ：４０．１６９１÷ｌｏｇ｛（４４＋０．１×５０）／（４＋０．１×５０）｝＝５４．５８１０（ｍＶ／Ｄｅｃ．）
ＣＲＳ認証値：５．９０（Ｈ）、４．３２（Ｍ）、３．２８（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：５．８５（Ｈ）、４．３５（Ｍ）、３．３４（Ｌ）
差（測定値−認証値）：−０．０５（Ｈ）、０．０３（Ｍ）、０．０６（Ｌ）
各ＣＬＪ（Ｈ／Ｍ／Ｌ）：−０．１０４６（Ｈ）、０．０７１１（Ｍ）、０．１６５５（Ｌ）
係数：１．６
ＣＬＪ：０．０７０４
液間電位補正後の測定値：５．８２（Ｈ）、４．３２（Ｍ）、３．３１（Ｌ）
差（補正後測定値−認証値）：−０．０８（Ｈ）、０．００（Ｍ）、０．０３（Ｌ）

ここで、比較のため、ＣＲＳ認証値と測定値から回帰計算して求めた補正値（回帰）を示す。
Ｙ切片：−０．２０５９
傾き：１．０４２８
回帰式で補正後の測定値：５．９０（Ｈ）、４．３３（Ｍ）、３．２８（Ｌ）
差（回帰式）：０．００（Ｈ）、０．０１（Ｍ）、０.００（Ｌ）

＜Ｃｌイオンの場合＞
校正液２と校正液１の電位差：−１１．７９１４
スロープ：−１１．７９１４÷ｌｏｇ｛（２００＋１．５×５０）／（９０＋１．５×５０）｝＝−５３．１５０７（ｍＶ／Ｄｅｃ．）
ＣＲＳ認証値：１２１．１（Ｈ）、１０４．１（Ｍ）、８８．３（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：１２４．９（Ｈ）、１０８．１（Ｍ）、９２．１（Ｌ）
差（測定値−認証値）：３．８（Ｈ）、４．０（Ｍ）、３．８（Ｌ）
各ＣＬＪ（Ｈ／Ｍ／Ｌ）：−０．４４５３（Ｈ）、−０．５０４８（Ｍ）、−０．５２８２（Ｌ）
係数：１．０
ＣＬＪ：−０．４９２８
液間電位補正後の測定値：１２０．７ （Ｈ）、１０４．２（Ｍ）、８８．６（Ｌ）
差（補正後測定値−認証値）：−０．４（Ｈ）、０．１（Ｍ）、０．３（Ｌ）

ここで、比較のため、ＣＲＳ認証値と測定値から回帰計算して求めた補正値（回帰）を示す。
Ｙ切片：−３．７３０８
傾き：０．９９８９
回帰式で補正後の測定値：１２１．０（Ｈ）、１０４．２（Ｍ）、８８．２（Ｌ）
差（回帰式）：−０．１（Ｈ）、０．１（Ｍ）、−０．１（Ｌ）

いずれのイオンの場合も回帰式による補正には及ばないが、実施例１（非稀釈法）の項で述べた理由により、液間電位を利用した本願発明も十分な補正であるといえる。なお、無関係塩の説明のところで触れたが、電位補正に無関係塩を使い難いＣｌイオンに於いて、液間電位補正が、より有効であることがわかる。

［実施例２−２（稀釈法２）］
実施例２−１と同じＣＬＪ設定で、別のＣＲＳを用い、検体（コントロール）を測定した結果を示す。なお、係数Ｋの算出過程（一覧表）を図９に示した。

＜Ｎａイオンの場合＞
ＣＲＳ認証値：１５５．６（Ｈ）、１４０．６（Ｍ）、１２５．５（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：１５５．０（Ｈ）、１４０．５（Ｍ）、１２５．５（Ｌ）
液間電位補正後のＣＲＳの測定値：１５５．３（Ｈ）、１４０．８（Ｍ）、１２５．７（Ｌ）
液間電位補正後の検体の測定値：１４１．３（Ｎ）、１５８．９（ＡＮ）
Ｙ切片：−２．６０９９
傾き：１．０２０３
回帰式で補正後の測定値：１４１．３（Ｎ）、１５９．２（ＡＮ）
ＣＲＳで回帰式補正した炎光光度計の測定値：１４１．２（Ｎ）、１５９．７（ＡＮ）

上記の結果から、ノーマル検体では、ＣＬＪ補正後の測定値と回帰式で補正後の測定値が炎光光度計の測定値と同程度のずれであることがわかる。逆に、アブノーマル検体では、絶対値で０．３、回帰式補正よりもずれが大きい。

＜Ｋイオンの場合＞
ＣＲＳ認証値：５．５６（Ｈ）、４．４８（Ｍ）、３．４７（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：５．５９（Ｈ）、４．５２（Ｍ）、３．５１（Ｌ）
液間電位補正後のＣＲＳの測定値：５．５２（Ｈ）、４．４６（Ｍ）、３．４６（Ｌ）
液間電位補正後の検体の測定値：３．６８（Ｎ）、５．５７（ＡＮ）
Ｙ切片：−０．００６３
傾き：１．０６４７
回帰式で補正後の測定値：３．６９（Ｎ）、５．６１（ＡＮ）
ＣＲＳで回帰式補正した炎光光度計の測定値：３．７２（Ｎ）、５．５７（ＡＮ）

上記の結果から、ノーマル検体では、ＣＬＪ補正後の測定値が回帰式で補正後の測定値よりも炎光光度計の測定値と絶対値で０．０１乖離したが、逆にアブノーマル検体では炎光光度計の測定値と一致することがわかる。

＜Ｃｌイオンの場合＞
ＣＲＳ認証値：１１７．６（Ｈ）、１０２．３（Ｍ）、９１．２（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：１２２．４（Ｈ）、１０８．５（Ｍ）、９６．３（Ｌ）
液間電位補正後のＣＲＳの測定値：１１６．６（Ｈ）、１０３．１（Ｍ）、９１．３（Ｌ）
液間電位補正後の検体の測定値：９８．５（Ｎ）、１１６．９（ＡＮ）
Ｙ切片：−６．９８３６
傾き：１．０１４７
回帰式で補正後の測定値：９８．３（Ｎ）、１１７．５（ＡＮ）
ＣＲＳで回帰式補正した電量滴定の測定値：１００．２（Ｎ）、１１５．２（ＡＮ）

上記した結果は桁を丸めてあるが、ＣＬＪ値−炎光値、回帰値−炎光値を小数点以下３桁で比較すると、それぞれ、（−１．７２５、１．６９３）、（−１．９３４、２．３２０）となり、若干ではあるが、ノーマル検体、及びアブノーマルにおけるＣＬＪ補正後の測定値は、（ＣＬＪを用いない）回帰式補正後の測定値よりも炎光測定値に近いことがわかる。アブノーマル検体に於ける差は絶対値で０．６２８であり、かなり大きい。
全体を通し、ＮａまたはＫ電極に比較し、イオン選択性が劣るＣｌ電極イオンに於ける液間電位補正が効果的であることがわかる。

［実施例２−３（稀釈法３）］
実施例２−２と同じＣＲＳ及び検体だが、そのＣＲＳから求めたＣＬＪ設定で再計算した結果を示す。なお、係数Ｋの算出過程（一覧表）を図１０に示した。

＜Ｎａイオンの場合＞
係数Ｋ：０．５
ＣＲＳ認証値：１５５．６（Ｈ）、１４０．６（Ｍ）、１２５．５（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：１５５．０（Ｈ）、１４０．５（Ｍ）、１２５．５（Ｌ）
液間電位補正後のＣＲＳの測定値：１５５．１（Ｈ）、１４０．６（Ｍ）、１２５．６（Ｌ）
液間電位補正後の検体の測定値：１４１．２（Ｎ）、１５８．７（ＡＮ）
Ｙ切片：−２．６０９９
傾き：１．０２０３
回帰式で補正後の測定値：１４１．３（Ｎ）、１５９．２（ＡＮ）
ＣＲＳで回帰式補正した炎光光度計の測定値：１４１．２（Ｎ）、１５９．７（ＡＮ）

上記した結果から、ノーマル検体ではＣＬＪ補正後の測定値が炎光光度計の測定値に一致していることがわかる。

＜Ｋイオンの場合＞
係数Ｋ：１．１
ＣＲＳ認証値：５．５６（Ｈ）、４．４８（Ｍ）、３．４７（Ｌ）
ＣＲＳ測定値：５．５９（Ｈ）、４．５２（Ｍ）、３．５１（Ｌ）
液間電位補正後のＣＲＳの測定値：５．５４（Ｈ）、４．４８（Ｍ）、３．４７（Ｌ）
液間電位補正後の検体の測定値：３．７０（Ｎ）、５．５９（ＡＮ）
Ｙ切片：−０．００６３
傾き：１．０６４７
回帰式で補正後の測定値：３．６９（Ｎ）、５．６１（ＡＮ）
ＣＲＳで回帰式補正した炎光光度計の測定値：３．７２（Ｎ）、５．５７（ＡＮ）

上記した結果から、ノーマル検体及びアブノーマル検体ともに、僅かではあるが、ＣＬＪ補正後の測定値が回帰式で補正後の測定値よりも炎光光度計の測定値に近いことがわかる。

＜Ｃｌイオンの場合＞
係数Ｋが１．０であり、実施例２−２と等しいため、結果は同じである。

全体を通し、実施例２−３の方が実施例２―２よりも、若干ではあるが、ＣＬＪ補正後の測定値の方が炎光測定値に近いことがわかる。

実施例１−２、２−２及び、実施例１−３、２−３の結果を図１１に纏めた。

実施例１、２として取り上げた上記の補正は、実用標準血清の、高濃度、中濃度、低濃度に於いて同じ液間電位で補正している。そのため、Ｎａのアブノーマル検体で見られたような直線的な乖離が生じる可能性が残る。これを防ぐには、高濃度、中濃度、低濃度に於いて、それぞれに適するような、多項式、或いはロジスティック曲線等の非直線的補正を行えば良い。当然のように、それらの方法は一つではなく、多種考えられるが、いずれも直線近似ほど簡単なものではない。また、実用標準血清と測定値のずれが、高濃度、中濃度、低濃度で徐々に大きくなる（または小さくなる）場合であれば、計算式の扱いが比較的容易だが、今回の実施例１及び２のＣｌイオンで見られたように、そうはならない場合（実施例１−１の各ＣＬＪ（Ｈ／Ｍ／Ｌ）：−０．３７１２（Ｈ）、−０．４１２２（Ｍ）、−０．３５５８（Ｌ））、取り扱いが困難となる。

補正係数ＣＬＪの算出法を算術平均（相加平均）から幾何平均（相乗平均）（以下の「※」参照）に変えた場合、その結果に大きな違いはなかった。例えば、実施例２−２のＮａイオンの場合、補正前→算術平均→幾何平均相→電量値の順で、１４１．１→１４１．２→１４１．１→１４１．２、１５８．６→１５８．７→１５８．６→１５９．７、Ｋの場合、３．７４→３．７０→３．７０→３．７２、５．６４→５．５９→５．５９→５．５７、Ｃｌの場合、１０３．７→９８．５→９８．５→１００．２、１２２．７→１１６．９→１１６．９→１１５．２であった。
※ ＣＬＪ＝Ｋ×（ＣＬＪ（Ｈ）×ＣＬＪ（Ｍ）×ＣＬＪ（Ｌ））＾（１／３）
ここで、ｘ＾（１／３）はｘの三乗根（立方根）を表す。

なお、幾何平均の場合、算術平均と異なり、補正前の測定値のいずれか（Ｈ、Ｍ、Ｌ）とＣＲＳの認証値が等しいか、限りなく近い場合、補正係数ＣＬＪが０または０に限りなく近い値になるため、事実上、補正をしない場合と同じ結果となる。

滑らかな曲線ではないが、非直線近似も試みた。実施例１−２のＣｌイオンに対し、液間電位補正前の測定値（１０７．５）が、実用標準血清の高濃度（１１８．９）と中濃度（１０２．３）の中間にあるため、ＣＬＪには、ＣＬＪ（Ｈ）とＣＬＪ（Ｍ）の平均値を用いた。すると、最初の計算では１００．６であった液間電位補正後の測定値が１００．８となり、僅かではあるが、炎光値との差が改善された（炎光値：１０２．１）。

本願発明の本質的な説明は以上であるが、当然の如く、上記内容は本願発明を実施するための形態の例に過ぎず、本願発明を限定するものではない。

イオン選択性電極法を原理とする電解質計測系における補正法として利用可能である。

１ 電解質溶液
２ イオン選択性電極
３ 内部液
４ イオン選択性応答膜
５ 電位差計
６ 内極
７ 参照電極
８ 参照電極液
９ 液絡部
１０ 校正液１
１１ 校正液２
１２ 参照電極液
１３ 検体
１４ 作用電極
１５ 液膜
１６ 内部液
１７ 内極
１８ 参照電極
１９ 内極
２０ 液グランド
２１ 発生電位
２２ 接触界面
２３ 廃液
３０ 電解質計測機器
３１ 測定部
３２ 記憶部
３３ 処理部
３４ 出力部

Claims (7)

1. イオン選択性電極法を原理とする電解質計測系に於いて、検体の測定値を補正する方法であって、
   標準品の測定値と、標準品の認証値との差がすべて校正液と標準品との液間電位の差に由来するとして補正係数を算出する補正係数算出工程を備え、前記補正係数算出工程が、以下の式（１）及び式（２）により補正係数ＣＬＪを算出する工程であり、
   前記補正係数算出工程により算出された補正係数を用いて、検体の測定値を補正して補正測定値を算出する補正工程を備える、電解質計測系の補正方法。
   （式（１））
   

   

   （式（２））
   

   
2. ２種以上の濃度の異なる標準品を用いて補正係数ＣＬＪを算出する場合に於いて、各標準品に於いて式（２）を用いて補正係数ＣＬＪを算出し、各補正係数ＣＬＪの平均値を算出する、請求項１に記載の電解質計測系の補正方法。
3. 前記補正工程が、
   以下の式（３）により補正測定値を算出する工程である、請求項１または２に記載の電解質計測系の補正方法。
   （式（３））
   

   
4. イオン選択性電極法を原理とする電解質計測機器であって、
   イオン濃度を測定する測定部と、
   検体のイオン濃度の測定値を補正する補正係数を算出するための補正係数算出情報と、前記補正係数を用いて、検体の測定値を補正して補正測定値を算出するための補正測定値算出情報を記憶する記憶部と、
   前記測定部が測定したそれぞれ濃度が異なる２種の校正液の電位差、標準品のイオン濃度の測定値、及び前記補正係数算出情報を用いて補正係数ＣＬＪを算出し、かつ、前記測定部が測定した検体のイオン濃度の測定値と前記補正係数ＣＬＪ、及び補正測定値算出情報を用いて補正測定値を算出する処理部と、を備え、
   前記補正係数算出情報として、少なくとも以下の式（１）情報及び式（２）情報を含み、
   前記補正測定値算出情報として、少なくとも以下の式（３）情報を含む、
   電解質計測機器。
   （式（１）情報）
   

   

   （式（２）情報）
   

   

   （式（３）情報）
   

   
5. 前記記憶部は、算出された前記補正係数ＣＬＪを少なくとも一時的に記憶し、
   前記処理部は、前記測定部が検体のイオン濃度の測定値を取得すると、前記補正係数ＣＬＪ、及び式（３）情報に基づいて補正測定値を自動で算出する、請求項４に記載の電解質計測機器。
6. 前記記憶部は、測定対象のイオンにおける、標準品の認証値と、補正された測定値との差の許容できる範囲が定められたイオン濃度差情報を記憶し、
   前記処理部は、前記イオン濃度差情報に基づいて、標準品の認証値と補正された測定値との差が許容できる範囲を超える場合は、該イオンにおける補正測定値を算出しないことを特徴とする、請求項４または５に記載の電解質計測機器。
7. 前記イオン濃度差情報として、ナトリウムイオンの許容できる差の範囲が±１．５０ｍｍｏｌ／Ｌ以内であるとのナトリウムイオン濃度差情報、カリウムイオンの許容できる差の範囲が±０．１００ｍｍｏｌ／Ｌ以内であるとのカリウムイオン濃度差情報、クロライドイオンの許容できる差の範囲が±１．５０ｍｍｏｌ／Ｌ以内であるとのクロライドイオン濃度差情報によって構成される群からなる１種または２種以上のイオン濃度差情報を含むことを特徴とする、請求項６に記載の電解質計測機器。
   

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