JP6842060B2 - Analytical method and analyzer - Google Patents
Analytical method and analyzer Download PDFInfo
- Publication number
- JP6842060B2 JP6842060B2 JP2017015159A JP2017015159A JP6842060B2 JP 6842060 B2 JP6842060 B2 JP 6842060B2 JP 2017015159 A JP2017015159 A JP 2017015159A JP 2017015159 A JP2017015159 A JP 2017015159A JP 6842060 B2 JP6842060 B2 JP 6842060B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- particles
- oxidation
- reduction
- ease
- particle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title claims description 24
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 500
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims description 220
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims description 190
- 238000006722 reduction reaction Methods 0.000 claims description 186
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 145
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 40
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 25
- 230000005012 migration Effects 0.000 claims description 24
- 238000013508 migration Methods 0.000 claims description 24
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 claims description 19
- -1 perovskite Substances 0.000 claims description 15
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 claims description 12
- 238000006479 redox reaction Methods 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 8
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 8
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 claims description 7
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 6
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims description 6
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010431 corundum Substances 0.000 claims description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 4
- YDZQQRWRVYGNER-UHFFFAOYSA-N iron;titanium;trihydrate Chemical compound O.O.O.[Ti].[Fe] YDZQQRWRVYGNER-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 claims description 4
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052596 spinel Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000011029 spinel Substances 0.000 claims description 4
- 229910001930 tungsten oxide Inorganic materials 0.000 description 25
- QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N nonaoxidotritungsten Chemical compound O=[W]1(=O)O[W](=O)(=O)O[W](=O)(=O)O1 QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 20
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 14
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 14
- ZNOKGRXACCSDPY-UHFFFAOYSA-N tungsten(VI) oxide Inorganic materials O=[W](=O)=O ZNOKGRXACCSDPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 7
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 7
- 229910000906 Bronze Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000005653 Brownian motion process Effects 0.000 description 5
- 239000010974 bronze Substances 0.000 description 5
- 238000005537 brownian motion Methods 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N copper tin Chemical compound [Cu].[Sn] KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 5
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 5
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical group N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XTEGARKTQYYJKE-UHFFFAOYSA-M Chlorate Chemical compound [O-]Cl(=O)=O XTEGARKTQYYJKE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N Nitric oxide Chemical compound O=[N] MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RAHZWNYVWXNFOC-UHFFFAOYSA-N Sulphur dioxide Chemical compound O=S=O RAHZWNYVWXNFOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- WFPZPJSADLPSON-UHFFFAOYSA-N dinitrogen tetraoxide Chemical compound [O-][N+](=O)[N+]([O-])=O WFPZPJSADLPSON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OSVXSBDYLRYLIG-UHFFFAOYSA-N dioxidochlorine(.) Chemical compound O=Cl=O OSVXSBDYLRYLIG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WQYVRQLZKVEZGA-UHFFFAOYSA-N hypochlorite Chemical compound Cl[O-] WQYVRQLZKVEZGA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 2
- VLTRZXGMWDSKGL-UHFFFAOYSA-N perchloric acid Chemical compound OCl(=O)(=O)=O VLTRZXGMWDSKGL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 238000007540 photo-reduction reaction Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- TVVNZBSLUREFJN-UHFFFAOYSA-N 2-(4-chlorophenyl)sulfanyl-5-nitrobenzaldehyde Chemical compound O=CC1=CC([N+](=O)[O-])=CC=C1SC1=CC=C(Cl)C=C1 TVVNZBSLUREFJN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CEBDXRXVGUQZJK-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-1-benzofuran-7-carboxylic acid Chemical compound C1=CC(C(O)=O)=C2OC(C)=CC2=C1 CEBDXRXVGUQZJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MGWGWNFMUOTEHG-UHFFFAOYSA-N 4-(3,5-dimethylphenyl)-1,3-thiazol-2-amine Chemical compound CC1=CC(C)=CC(C=2N=C(N)SC=2)=C1 MGWGWNFMUOTEHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004155 Chlorine dioxide Substances 0.000 description 1
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical compound S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical group [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002202 Polyethylene glycol Substances 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical group [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MZJUGRUTVANEDW-UHFFFAOYSA-N bromine fluoride Chemical compound BrF MZJUGRUTVANEDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 1
- 235000019398 chlorine dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002296 dynamic light scattering Methods 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 229910000037 hydrogen sulfide Inorganic materials 0.000 description 1
- PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N iodine Chemical compound II PNDPGZBMCMUPRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 description 1
- QKCGXXHCELUCKW-UHFFFAOYSA-N n-[4-[4-(dinaphthalen-2-ylamino)phenyl]phenyl]-n-naphthalen-2-ylnaphthalen-2-amine Chemical compound C1=CC=CC2=CC(N(C=3C=CC(=CC=3)C=3C=CC(=CC=3)N(C=3C=C4C=CC=CC4=CC=3)C=3C=C4C=CC=CC4=CC=3)C3=CC4=CC=CC=C4C=C3)=CC=C21 QKCGXXHCELUCKW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXJVPUVTGWSNB-UHFFFAOYSA-N nitrogen dioxide Inorganic materials O=[N]=O JCXJVPUVTGWSNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000033116 oxidation-reduction process Effects 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002978 peroxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000007539 photo-oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000001370 static light scattering Methods 0.000 description 1
- 229920003169 water-soluble polymer Polymers 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
Landscapes
- Battery Electrode And Active Subsutance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
本発明は、分析方法、及び分析装置に関する。 The present invention relates to an analysis method and an analyzer.
電池性能の大部分は電極の性能によって規定され、酸化還元反応を促進させる能力が高い電極を用いることにより、電池性能を向上させることができる。電極は、材料となる粒子を固めて製造される。よって、酸化還元し易い粒子（換言すると、電子を取り込み易く、かつ電子を放出し易い粒子）を用いて電極を作製することにより、電極の性能を向上させることができる。 Most of the battery performance is defined by the performance of the electrode, and the battery performance can be improved by using an electrode having a high ability to promote the redox reaction. Electrodes are manufactured by solidifying particles as a material. Therefore, the performance of the electrode can be improved by producing the electrode using particles that are easily redox-reduced (in other words, particles that easily take in electrons and easily emit electrons).
非特許文献１には、リチウムイオン電池の電極の性能を評価するためのシステムが開示されている。具体的には、非特許文献１に開示されたシステムは、電極を構成する金属元素（Ｃｒ）の酸化数の変化をモニタリングする。
Non-Patent
しかしながら、非特許文献１に開示されたシステムは、電極として製造した板状部材の性能を評価するものであり、電極の材料となる粒子個々の性能を評価するものではない。製造された電極の性能は、電極材料（粒子）だけではなく電極の製造方法にも依存するため、評価した電極の性能が、電極材料に起因するものなのか、製造方法に起因するものなのかを区別することができない。このため、製造した電極の性能を評価するだけでは、電極の性能を向上させるために、電極材料（粒子）を改善すればよいのか、製造方法を改善すればよいのかを判定することができない。
However, the system disclosed in Non-Patent
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、電極の材料に用いられる粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを１粒子ごとに評価できる分析方法、及び分析装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is an analysis method and an analyzer capable of evaluating the ease of reduction or the ease of oxidation of particles used as an electrode material for each particle. Is to provide.
本発明に係る分析方法は、電池の電極材料に用いられる粒子を還元又は酸化させる工程と、磁場を生成して、還元後又は酸化後の前記粒子を磁気泳動させることにより、磁気泳動速度を求める工程と、前記磁気泳動速度に基づいて、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率を求める工程と、前記体積磁化率に基づいて、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータを生成する工程とを包含する。 In the analysis method according to the present invention, the magnetic susceptibility is determined by a step of reducing or oxidizing particles used as an electrode material of a battery and magnetic susceptibility of the reduced or oxidized particles by generating a magnetic field. The step, the step of determining the volume magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation based on the magnetic migration rate, and the ease of reduction or oxidation of the particles based on the volume magnetic susceptibility. Includes the step of generating data indicating.
ある実施形態では、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、還元前又は酸化前の前記粒子の体積磁化率と、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率との差を示すデータが生成される。 In a certain embodiment, as data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles, the volume magnetic susceptibility of the particles before reduction or oxidation and the volume magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation are used. Data showing the difference from is generated.
ある実施形態では、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、前記粒子を構成する化合物における酸化数が変化した成分元素の比率を示すデータが生成される。 In a certain embodiment, as data showing the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles, data showing the ratio of the component elements whose oxidation numbers have changed in the compound constituting the particles is generated.
ある実施形態において、分析方法は、電子の体積磁化率を求める工程を更に包含する。 In certain embodiments, the analytical method further comprises the step of determining the volume magnetic susceptibility of electrons.
ある実施形態では、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、還元反応によって前記粒子が取得した電子の数、又は酸化反応によって前記粒子から奪われた電子の数を示すデータが生成される。 In a certain embodiment, as data showing the ease of reduction or oxidation of the particles, the number of electrons acquired by the particles by the reduction reaction or the number of electrons deprived of the particles by the oxidation reaction is used. The data shown is generated.
ある実施形態において、前記粒子は、貴金属又は金属酸化物を含む。 In certain embodiments, the particles include a noble metal or metal oxide.
ある実施形態において、前記粒子は、金、白金、パラジウム、ロジウム、コランダム、イルメナイト、ペロブスカイト、スピネル、ベルトライド化合物、又はベルトライド化合物の固溶体を含む。 In certain embodiments, the particles include gold, platinum, palladium, rhodium, corundum, ilmenite, perovskite, spinel, beltride compounds, or solid solutions of beltride compounds.
本発明に係る分析装置は、磁場生成部と、処理装置とを備える。前記磁場生成部は、磁場を生成して、還元又は酸化させた後の粒子を磁気泳動させる。前記処理装置は、還元後又は酸化後の前記粒子の磁気泳動速度を求める。また、前記処理装置は、前記磁気泳動速度に基づいて、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率を求める。前記粒子は、電池の電極材料に用いられる粒子である。前記処理装置は、前記体積磁化率に基づいて、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータを生成する。 The analyzer according to the present invention includes a magnetic field generator and a processing device. The magnetic field generator generates a magnetic field to magnetically run the particles after reduction or oxidation. The processing apparatus determines the magnetic migration rate of the particles after reduction or oxidation. In addition, the processing apparatus determines the volume magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation based on the magnetic migration rate. The particles are particles used as an electrode material for a battery. The processing apparatus generates data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles based on the volume magnetic susceptibility.
ある実施形態において、前記処理装置は、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、還元前又は酸化前の前記粒子の体積磁化率と、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率との差を示すデータを生成する。 In certain embodiments, the processing apparatus comprises the volume magnetic susceptibility of the particles before reduction or before oxidation and the post-reduction or post-oxidation data indicating the ease of reduction or oxidation of the particles. Generate data showing the difference from the volume magnetic susceptibility of the particles.
ある実施形態において、前記処理装置は、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、還元前又は酸化前の前記粒子の体積磁化率と、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率との差を示すグラフ画像を生成する。 In certain embodiments, the processing apparatus comprises the volume magnetic susceptibility of the particles before reduction or before oxidation and the post-reduction or post-oxidation data indicating the ease of reduction or oxidation of the particles. Generate a graph image showing the difference from the volume magnetic susceptibility of the particles.
ある実施形態において、前記処理装置は、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、還元前又は酸化前の前記粒子の体積磁化率と、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率との差を求める。 In certain embodiments, the processing apparatus comprises the volume magnetic susceptibility of the particles before reduction or before oxidation and the post-reduction or post-oxidation data indicating the ease of reduction or oxidation of the particles. Find the difference from the volume magnetic susceptibility of the particles.
ある実施形態において、前記処理装置は、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、前記粒子を構成する化合物における酸化数が変化した成分元素の比率を示すデータを生成する。 In a certain embodiment, the processing apparatus generates data indicating the ratio of component elements whose oxidation numbers have changed in the compound constituting the particles as data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles. To do.
ある実施形態において、前記処理装置は、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率と、前記粒子を構成する化合物における酸化数が変化した成分元素の比率との関係を示すグラフ画像を生成する。 In a certain embodiment, the processing apparatus determines the volume magnetization rate of the particles after reduction or oxidation and the compounds constituting the particles as data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles. A graph image showing the relationship with the ratio of the component elements whose oxidation numbers have changed is generated.
ある実施形態において、前記処理装置は、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率がプロットされたグラフ画像を生成する。前記グラフ画像は、第１の縦軸又は横軸と、第２の縦軸又は横軸とを含む。前記第１の縦軸又は横軸は体積磁化率を示す。前記第２の縦軸又は横軸は、前記第１の縦軸又は横軸に並べて配置される。 In certain embodiments, the processing apparatus produces a graph image in which the volumetric magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation is plotted as data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles. .. The graph image includes a first vertical axis or horizontal axis and a second vertical axis or horizontal axis. The first vertical axis or horizontal axis indicates the volume magnetic susceptibility. The second vertical axis or horizontal axis is arranged side by side on the first vertical axis or horizontal axis.
ある実施形態において、前記第２の縦軸又は横軸は、前記粒子を構成する化合物における酸化数が変化した成分元素の比率を、前記第１の縦軸又は横軸が示す体積磁化率に対応させる。 In a certain embodiment, the second vertical axis or horizontal axis corresponds to the ratio of the component elements whose oxidation numbers have changed in the compound constituting the particles to the volume magnetic susceptibility indicated by the first vertical axis or horizontal axis. Let me.
ある実施形態において、前記処理装置は、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、前記粒子を構成する化合物における酸化数が変化した成分元素の比率を求める。 In a certain embodiment, the processing apparatus determines the ratio of component elements whose oxidation numbers have changed in the compounds constituting the particles as data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles.
ある実施形態において、前記処理装置は、電子の体積磁化率を求める。 In certain embodiments, the processing apparatus determines the volume magnetic susceptibility of electrons.
ある実施形態において、前記処理装置は、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、還元反応によって前記粒子が取得した電子の数、又は酸化反応によって前記粒子から奪われた電子の数を示すグラフ画像を生成する。 In a certain embodiment, the processing apparatus is deprived of the particles by the number of electrons acquired by the particles by the reduction reaction or by the oxidation reaction as data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles. Generate a graph image showing the number of electrons.
ある実施形態において、前記処理装置は、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、還元反応によって前記粒子が取得した電子の数、又は酸化反応によって前記粒子から奪われた電子の数を求める。 In a certain embodiment, the processing apparatus is deprived of the particles by the number of electrons acquired by the particles by the reduction reaction or by the oxidation reaction as data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles. Find the number of electrons.
ある実施形態において、前記粒子は、貴金属又は金属酸化物を含む。 In certain embodiments, the particles include a noble metal or metal oxide.
ある実施形態において、前記粒子は、金、白金、パラジウム、ロジウム、コランダム、イルメナイト、ペロブスカイト、スピネル、ベルトライド化合物、又はベルトライド化合物の固溶体を含む。 In certain embodiments, the particles include gold, platinum, palladium, rhodium, corundum, ilmenite, perovskite, spinel, beltride compounds, or solid solutions of beltride compounds.
本発明によれば、電極の材料に用いられる粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを１粒子ごとに評価することができる。 According to the present invention, the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles used as the material of the electrode can be evaluated for each particle.
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。ただし、本発明は以下の実施形態に限定されない。図中、同一又は相当部分については同一の参照符号を付して説明を繰り返さない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to the following embodiments. In the figure, the same or corresponding parts are designated by the same reference numerals and the description is not repeated.
［実施形態１］
図１は、本実施形態における分析装置１０の模式図である。分析装置１０は、磁場生成部２０と、検出部３０と、情報処理部４０とを備える。磁場生成部２０の近傍には、セル２１が配置される。
[Embodiment 1]
FIG. 1 is a schematic view of the
セル２１内には粒子ｐが導入される。粒子ｐは、電池電極の材料に用いられる。具体的には、粒子ｐは、貴金属、又は金属酸化物を含み得る。詳しくは、粒子ｐは、金、白金、パラジウム、又はロジウムのような貴金属を含み得る。あるいは、粒子ｐは、コランダム、イルメナイト、ペロブスカイト、又はスピネルのような金属酸化物を含み得る。あるいは、粒子ｐは、ベルトライド化合物、又はベルトライド化合物の固溶体のような金属酸化物を含み得る。あるいは、粒子ｐは、還元又は酸化後にベルトライド化合物、又はベルトライド化合物の固溶体となる金属化合物を含み得る。
Particle p is introduced into the
分析装置１０は、セル２１内に導入された粒子ｐの還元のし易さ又は酸化のし易さを１粒子ごとに示すデータを生成する。具体的には、まず、還元又は酸化される前の粒子ｐがセル２１内に導入される。分析装置１０は、還元又は酸化される前の粒子ｐの体積磁化率を１粒子ごとに求める。その後、セル２１内の粒子ｐが還元又は酸化される。粒子ｐを還元させた場合、粒子ｐは電子を取得する。また、粒子ｐを酸化させた場合、粒子ｐから電子が奪われる。分析装置１０は、還元後又は酸化後の粒子ｐの体積磁化率を１粒子ごとに求める。そして、分析装置１０は、還元前又は酸化前の粒子ｐの体積磁化率と、還元後又は酸化後の粒子ｐの体積磁化率とを用いて、粒子ｐの還元のし易さ又は酸化のし易さを１粒子ごとに示すデータを生成する。換言すると、分析装置１０は、粒子ｐの酸化数の変化のし易さを示すデータを生成する。
The
粒子ｐの還元のし易さは、還元前後の粒子ｐの体積磁化率の変化量を指標として評価し得る。同様に、粒子ｐの酸化のし易さは、酸化前後の粒子ｐの体積磁化率の変化量を指標として評価し得る。具体的には、粒子ｐの還元のし易さは、還元反応によって粒子ｐが取得した電子の数に対応する。すなわち、粒子ｐが還元され易い粒子であるほど、還元反応によって粒子ｐが取得する電子の数が多くなる。粒子ｐの体積磁化率は、還元反応によって粒子ｐが取得した電子の数に応じて増加する。したがって、還元前の粒子ｐの体積磁化率と、還元後の粒子ｐの体積磁化率とに基づいて、粒子ｐの還元のし易さを示すデータを生成することができる。 The ease of reduction of the particle p can be evaluated by using the amount of change in the volume magnetic susceptibility of the particle p before and after the reduction as an index. Similarly, the ease of oxidation of the particle p can be evaluated using the amount of change in the volume magnetic susceptibility of the particle p before and after oxidation as an index. Specifically, the ease of reduction of the particle p corresponds to the number of electrons acquired by the particle p by the reduction reaction. That is, the more easily the particle p is reduced, the larger the number of electrons acquired by the particle p by the reduction reaction. The volume magnetic susceptibility of the particle p increases according to the number of electrons acquired by the particle p by the reduction reaction. Therefore, it is possible to generate data showing the ease of reduction of the particle p based on the volume magnetic susceptibility of the particle p before reduction and the volume magnetic susceptibility of the particle p after reduction.
同様に、粒子ｐの酸化のし易さは、酸化反応によって粒子ｐから奪われた電子の数に対応する。すなわち、粒子ｐが酸化され易い粒子であるほど、酸化反応によって粒子ｐから奪われる電子の数が多くなる。粒子ｐの体積磁化率は、酸化反応によって粒子ｐから奪われた電子の数に応じて減少する。したがって、酸化前の粒子ｐの体積磁化率と、酸化後の粒子ｐの体積磁化率とに基づいて、粒子ｐの酸化のし易さを示すデータを生成することができる。以下、還元前又は酸化前の粒子ｐと還元後又は酸化後の粒子ｐとを区別する必要が無い場合は、「粒子ｐ」とのみ記載する。 Similarly, the ease of oxidation of particle p corresponds to the number of electrons deprived of particle p by the oxidation reaction. That is, the more easily the particle p is oxidized, the larger the number of electrons taken from the particle p by the oxidation reaction. The volume magnetic susceptibility of the particle p decreases with the number of electrons deprived of the particle p by the oxidation reaction. Therefore, it is possible to generate data showing the ease of oxidation of the particle p based on the volume magnetic susceptibility of the particle p before oxidation and the volume magnetic susceptibility of the particle p after oxidation. Hereinafter, when it is not necessary to distinguish between the pre-reduction or pre-oxidation particle p and the post-reduction or post-oxidation particle p, only “particle p” is described.
磁場生成部２０は、セル２１内の粒子ｐを磁気泳動させる。検出部３０は、セル２１内の粒子ｐを検出する。情報処理部４０は、検出部３０による検出の結果から、粒子ｐの磁気泳動速度を求める。また、情報処理部４０は、粒子ｐの磁気泳動速度に基づいて、粒子ｐの体積磁化率を求める。更に、情報処理部４０は、還元前又は酸化前の粒子ｐの体積磁化率と、還元後又は酸化後の粒子ｐの体積磁化率とに基づいて、粒子ｐの還元のし易さ又は酸化のし易さを１粒子ごとに示すデータを生成する。以下、分析装置１０について更に詳細に説明する。
The magnetic
磁場生成部２０は、磁場勾配（磁束密度の勾配）を生成して、セル２１内の粒子ｐに磁気力を作用させる。この結果、粒子ｐが磁気泳動する。本実施形態において、磁場生成部２０は、磁場勾配を生成する一対の永久磁石を備える。一対の永久磁石を構成する２つの永久磁石は、例えば１００μｍ以上５００μｍ以下の一定距離の空隙を空けて配置される。セル２１は、２つの永久磁石の間の空隙に配置される。
The magnetic
本実施形態において、セル２１はキャピラリー管である。キャピラリー管は管状部材の一例である。セル２１の材質は、可視光あるいはレーザー光を透過し得る材質であれば特に限定されない。例えば、セル２１は、ガラス製あるいはプラスチック製であり得る。
In this embodiment,
粒子ｐは、セル２１内において、媒体ｍ中に存在する。媒体ｍ中に１つの粒子ｐが存在してもよいし、媒体ｍ中に複数の粒子ｐが存在してもよい。媒体ｍ中に複数の粒子ｐが存在する場合、複数の粒子ｐは、媒体ｍ中で分散していてもよいし、媒体ｍ中で偏在していてもよい。
The particle p is present in the medium m in the
本実施形態において、媒体ｍは、セル２１内で粒子ｐを還元させる場合、粒子ｐに電子を供給し得る気体又は液体を含む。例えば、媒体ｍは、水素、一酸化炭素、一酸化窒素、二酸化硫黄、硫化水素、ホルムアルデヒドのようなアルデヒド化合物、メタノールのようなアルコール化合物、又はアセトンを含み得る。一方、セル２１内で粒子ｐを酸化させる場合、媒体ｍは、粒子ｐから電子が供給され得る気体又は液体を含む。例えば、媒体ｍは、酸素、オゾン、亜酸化窒素、二酸化窒素、二酸化塩素、フッ素、塩素、三フッ化窒素、液体酸素、四酸化二窒素、硝酸、過塩素酸、過酸化水素、臭素、三フッ化臭素、五フッ化臭素、ヨウ素、又は五フッ化ヨウ素を含み得る。
In the present embodiment, the medium m contains a gas or liquid capable of supplying electrons to the particles p when the particles p are reduced in the
なお、媒体ｍは、２種類以上の液体を混合した液体であり得る。あるいは、媒体ｍは、２種類以上の気体を混合した気体であり得る。また、媒体ｍは、還元剤又は酸化剤を含んでもよい。例えば、媒体ｍは、還元剤として、ポリエチレングリコール、又はポリビニルポロリドンのような水溶性高分子を含み得る。あるいは、媒体ｍは、酸化剤として、硝酸、次亜塩素酸塩、塩素酸塩、過マンガン酸塩、又は、過酸化水素のような過酸化物を含み得る。 The medium m can be a liquid obtained by mixing two or more kinds of liquids. Alternatively, the medium m can be a gas obtained by mixing two or more kinds of gases. Further, the medium m may contain a reducing agent or an oxidizing agent. For example, the medium m may contain a water-soluble polymer such as polyethylene glycol or polyvinylporolidone as a reducing agent. Alternatively, the medium m may contain a peroxide such as nitric acid, hypochlorite, chlorate, permanganate, or hydrogen peroxide as an oxidizing agent.
粒子ｐは、例えばマイクロシリンジ又はマイクロポンプにより、媒体ｍと共にセル２１に導入される。あるいは、粒子ｐを含む液滴（溶液）を毛細管現象によってセル２１（キャピラリー管）に導入してもよい。粒子ｐを含む液滴がキャピラリー管の一方端に滴下されると、毛細管現象によって液滴がキャピラリー管を流れる。
The particle p is introduced into the
検出部３０は、セル２１内の粒子ｐを検出して、セル２１内の粒子ｐの位置を示す信号を生成する。情報処理部４０は、検出部３０が生成する信号に基づいて、粒子ｐの磁気泳動速度を求める。更に、情報処理部４０は、検出部３０が生成する信号に基づいて粒子ｐのブラウン運動を解析することにより、粒子ｐの直径（粒子径）を求める。
The
情報処理部４０は、処理装置４１と、記憶装置４２と、表示装置４３とを備える。情報処理部４０は、典型的には、パーソナルコンピューターのような汎用コンピューターである。
The
処理装置４１は、記憶装置４２に記憶されたプログラムを実行することによって、数値計算や情報処理、機器制御のような様々な処理を行う。処理装置４１は、例えばＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）を含み得る。実施形態１において、処理装置４１は、粒子ｐの還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、還元前又は酸化前の粒子ｐの体積磁化率と、還元後又は酸化後の粒子ｐの体積磁化率との差を示すデータを生成する。具体的には、処理装置４１は、粒子ｐの還元のし易さを１粒子ごとに示すデータとして、還元前及び還元後の粒子ｐの体積磁化率をプロットしたグラフ画像を生成する。また、処理装置４１は、粒子ｐの酸化のし易さを１粒子ごとに示すデータとして、酸化前及び酸化後の粒子ｐの体積磁化率をプロットしたグラフ画像を生成する。
The
記憶装置４２は、プログラム及び設定情報を予め記憶する。記憶装置４２は、例えばＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）及びＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）のようなメモリーを含み得る。更に、記憶装置４２は、例えばＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）あるいはＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）のようなストレージ（補助記憶装置）を含み得る。
The
表示装置４３は、例えば液晶ディスプレー又は有機ＥＬディスプレーのようなディスプレーを含む。表示装置４３は、処理装置４１によって制御されて、各種の画像及び各種の画面を表示する。実施形態１において、表示装置４３は、還元前及び還元後の粒子ｐの体積磁化率をプロットしたグラフ画像を表示する。あるいは、表示装置４３は、酸化前及び還元後の粒子ｐの体積磁化率をプロットしたグラフ画像を表示する。
The
処理装置４１は、検出部３０が生成する信号から、粒子ｐの位置の時間的な変化を取得する。例えば、検出部３０が所定の時間間隔ごとにセル２１内の粒子ｐを検出する。この結果、異なる時刻の粒子ｐの位置を測定することができる。
The
処理装置４１は、粒子ｐの位置の時間的な変化から粒子ｐのブラウン運動を解析して、粒子ｐの直径を求める。具体的には、粒子ｐは、セル２１（キャピラリー管）の軸方向（ｘ方向）に磁場勾配の影響を受けるが、セル２１の軸方向に直交する方向（ｙ方向）には磁場勾配の影響をほとんど受けない。したがって、ｙ方向における粒子ｐの位置の変位の分散から拡散係数Ｄを求めることができる。詳しくは、拡散係数Ｄは、ブラウン運動を行う粒子ｐのｙ方向の移動距離の２乗を２倍の時間で除算することによって求めることができる。処理装置４１は、以下の式（１）に基づいて、拡散係数Ｄから粒子ｐの直径を求める。
ｄ＝ｋＴ／（３πηＤ）・・・（１）
The
d = kT / (3πηD) ... (1)
式（１）において、ｄは粒子ｐの直径であり、ｋはボルツマン定数であり、Ｔは絶対温度であり、ηは媒体ｍの粘性率である。 In formula (1), d is the diameter of the particle p, k is the Boltzmann constant, T is the absolute temperature, and η is the viscosity of the medium m.
また処理装置４１は、ｘ方向における粒子ｐの位置の時間的な変化から、粒子ｐの磁気泳動速度を求める。更に、処理装置４１は、以下の式（２）に基づいて、粒子ｐの体積磁化率を求める。
ｖ＝｛２（χｓ−χｍ）（ｄ／２）2／（９ημo）｝Ｂ（ｄＢ／ｄｘ）・・・（２）
Further, the
v = {2 (χs-χm ) (d / 2) 2 / (9ημ o)} B (dB / dx) ··· (2)
式（２）において、ｖは粒子ｐの磁気泳動速度であり、χｓは粒子ｐの体積磁化率であり、χｍは媒体ｍの体積磁化率であり、ｄは粒子ｐの直径であり、ηは媒体ｍの粘性率であり、μoは真空の透磁率であり、Ｂは磁束密度である。また、ｄＢ／ｄｘは、セル２１（キャピラリー管）の軸方向（ｘ方向）における磁束密度の勾配（磁場勾配）である。なお、式（１）は、粒子ｐ及び媒体ｍが受けるセル２１の軸方向の磁気力の差と、粘性抵抗力とがほぼ等しいことから導かれる。
In equation (2), v is the magnetic permeability of the particle p, χs is the volume magnetic susceptibility of the particle p, χm is the volume magnetic susceptibility of the medium m, d is the diameter of the particle p, and η is. The viscosity of the medium m, μ o is the magnetic permeability of the vacuum, and B is the magnetic flux density. Further, dB / dx is a gradient (magnetic field gradient) of the magnetic flux density in the axial direction (x direction) of the cell 21 (capillary tube). The equation (1) is derived from the fact that the difference in the magnetic force in the axial direction of the
処理装置４１は、測定した還元前又は酸化前の粒子ｐの体積磁化率と、測定した還元後又は酸化後の粒子ｐの体積磁化率とをプロットしたグラフ画像を表示装置４３に表示させる。
The
続いて図２を参照して、分析装置１０について更に説明する。図２は、本実施形態における分析装置１０の一部を示す模式図である。図２に示すように、分析装置１０は、酸化還元部５０を更に備える。
Subsequently, the
酸化還元部５０は、粒子ｐを光酸化又は光還元させる。例えば、酸化還元部５０は、粒子ｐに紫外線又は真空紫外線を照射して粒子ｐを光酸化又は光還元させる。あるいは、酸化還元部５０は、Ｘ線のような放射線、又は可視光線を照射して粒子ｐを光酸化又は光還元させる。なお、粒子ｐの酸化反応及び還元反応は、光酸化及び光還元に限定されるものではない。例えば、酸化還元部５０は、熱源を備え得る。酸化還元部５０が熱源を備える場合、熱源が発生する熱によって粒子ｐを酸化又は還元させる。あるいは、酸化還元部５０は、超音波発生器を備え得る。酸化還元部５０が超音波発生器を備える場合、超音波発生器が発生する超音波によって粒子ｐを酸化又は還元させる。
The
続いて図３を参照して、分析装置１０について更に説明する。図３は、分析装置１０の構成の一例を示す図である。図３に示すように、分析装置１０は、光源６０を更に備え得る。また、検出部３０は、拡大部３２及び撮像部３４を備え得る。
Subsequently, the
光源６０は、可視光成分を含む比較的高い強度の光を出射する。光源６０は、セル２１に光を照射する。この結果、粒子ｐに光が照射される。光源６０から出射される光の波長スペクトルは比較的ブロードであってもよい。光源６０として、例えば、ハロゲンランプが好適に用いられる。
The
セル２１に導入された粒子ｐは、拡大部３２によって適当な倍率で拡大されて、撮像部３４で撮像される。撮像部３４の撮像結果（撮像部３４が撮像した画像）から、粒子ｐの位置を特定できる。例えば、拡大部３２は対物レンズを含み、撮像部３４は電荷結合素子（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ：ＣＣＤ）を含む。あるいは、撮像部３４の各画素は、フォトダイオード又は光電子倍増管で構成されてもよい。撮像部３４は、例えば、所定の時間間隔ごとに粒子ｐを撮像する。なお、撮像部３４は、光源６０から出射されてセル２１を透過した光を撮像してもよいし、光源６０から出射されて粒子ｐによって散乱された光を撮像してもよい。
The particle p introduced into the
処理装置４１は、撮像部３４の撮像結果から、粒子ｐの位置の時間的な変化を取得し、粒子ｐの位置の時間的な変化から、粒子ｐの磁気泳動速度及び粒子径（直径）を測定する。
The
なお、検出部３０が撮像部３４を含む場合、処理装置４１は、粒子ｐのブラウン運動を解析して粒子径を求める処理に替えて、粒子ｐの画像を解析して粒子径を求める処理を実行してもよい。例えば、処理装置４１は、以下の処理を実行する。すなわち、処理装置４１は、まず、撮像部３４によって撮像された画像をモノクロ化し、その輝度を数値化する。次に、処理装置４１は、輝度値の微分値をしきい値と比較して粒子ｐの境界を設定する。次に、処理装置４１は、設定した境界から粒子ｐの面積を検出し、その面積に対応する円の半径から粒子径を求める。あるいは、処理装置４１は、粒子ｐの中心を規定し、粒子ｐの中心を通過する複数の直線を引き、各直線において粒子ｐの境界と交わる２つの点の間の距離の平均を求める。
When the
続いて図４を参照して、表示装置４３に表示されるグラフ画像について説明する。図４は、実施形態１におけるグラフ画像の一例を示す図である。詳しくは、図４は、還元前及び還元後の粒子ｐの体積磁化率を１粒子ごとにプロットしたグラフ画像を示す。図４において、縦軸は体積磁化率を示し、横軸は粒子の直径（粒子径）を示す。また、図４において、白丸印は還元前の粒子ｐの体積磁化率を示し、白四角印は還元後の粒子ｐの体積磁化率を示す。還元前の粒子ｐの体積磁化率は、還元後の粒子ｐの体積磁化率に対する基準値として使用され得る。
Subsequently, the graph image displayed on the
実施形態１におけるグラフ画像は、還元前後の粒子ｐの体積磁化率の変化量を示す。図４に示すように、粒子ｐの体積磁化率は、粒子ｐが還元されることによって増加する。詳しくは、還元反応によって粒子ｐが取得した電子の数が多いほど、還元前の粒子ｐの体積磁化率（基準値）と還元後の粒子ｐの体積磁化率との差が大きくなる。よって、表示装置４３が、還元前及び還元後の粒子ｐの体積磁化率を１粒子ごとにプロットしたグラフ画像を表示することにより、分析者は、還元前及び還元後の粒子ｐの体積磁化率を参照して、粒子ｐの還元のし易さを１粒子ごとに評価することができる。
The graph image in the first embodiment shows the amount of change in the volume magnetic susceptibility of the particle p before and after reduction. As shown in FIG. 4, the volume magnetic susceptibility of the particle p increases as the particle p is reduced. Specifically, the larger the number of electrons acquired by the particle p by the reduction reaction, the larger the difference between the volume magnetic susceptibility (reference value) of the particle p before reduction and the volume magnetic susceptibility of the particle p after reduction. Therefore, the
同様に、粒子ｐの体積磁化率は、粒子ｐが酸化されることによって減少する。詳しくは、酸化反応によって粒子ｐから奪われた電子の数が多いほど、酸化前の粒子ｐの体積磁化率（基準値）と酸化後の粒子ｐの体積磁化率との差が大きくなる。よって、表示装置４３が、酸化前及び酸化後の粒子ｐの体積磁化率を１粒子ごとにプロットしたグラフ画像を表示することにより、分析者は、酸化前及び酸化後の粒子ｐの体積磁化率を参照して、粒子ｐの酸化のし易さを１粒子ごとに評価することができる。
Similarly, the volume magnetic susceptibility of the particle p decreases as the particle p is oxidized. Specifically, the larger the number of electrons taken from the particle p by the oxidation reaction, the larger the difference between the volume magnetic susceptibility (reference value) of the particle p before oxidation and the volume magnetic susceptibility of the particle p after oxidation. Therefore, the
続いて図５（ａ）及び図５（ｂ）を参照して、本実施形態における分析方法について説明する。図５（ａ）及び図５（ｂ）は、本実施形態における分析方法を示すフローチャートである。実施形態１における分析方法は、図１〜図４を参照して説明した分析装置１０を使用して実行する。
Subsequently, the analysis method in the present embodiment will be described with reference to FIGS. 5 (a) and 5 (b). 5 (a) and 5 (b) are flowcharts showing the analysis method in the present embodiment. The analysis method according to the first embodiment is performed by using the
図５（ａ）に示すように、まず、還元前又は酸化前の粒子ｐがセル２１内に導入される（ステップＳ１０２）。次に、磁場生成部２０が生成する磁場によって、セル２１内の粒子ｐが磁気泳動する。このとき、検出部３０が、セル２１内における粒子ｐの位置の変化を検出する。処理装置４１は、粒子ｐの位置の時間的な変化に基づいて、粒子ｐの磁気泳動速度及び粒子径を求める（ステップＳ１０４）。次に、処理装置４１は、粒子ｐの磁気泳動速度及び粒子径に基づいて、粒子ｐの体積磁化率を求める（ステップＳ１０６）。処理装置４１は、還元前又は酸化前の粒子ｐの体積磁化率（基準値）を記憶装置４２に記憶させる。
As shown in FIG. 5A, first, the particles p before reduction or oxidation are introduced into the cell 21 (step S102). Next, the magnetic field generated by the magnetic
その後、図５（ｂ）に示すように、セル２１内の粒子ｐが還元又は酸化される（ステップＳ２０２）。次に、磁場生成部２０が生成する磁場によって、セル２１内の粒子ｐが磁気泳動する。このとき、検出部３０が、セル２１内における粒子ｐの位置の変化を検出する。処理装置４１は、粒子ｐの位置の時間的な変化に基づいて、粒子ｐの磁気泳動速度及び粒子径を求める（ステップＳ２０４）。次に、処理装置４１は、粒子ｐの磁気泳動速度及び粒子径に基づいて、粒子ｐの体積磁化率を求める（ステップＳ２０６）。処理装置４１は、還元後又は酸化後の粒子ｐの体積磁化率を記憶装置４２に記憶させる。
Then, as shown in FIG. 5B, the particles p in the
その後、処理装置４１が、還元前又は酸化前の粒子ｐの体積磁化率（基準値）と、還元後又は酸化後の粒子ｐの体積磁化率とに基づいて、粒子ｐの還元のし易さ又は酸化のし易さを１粒子ごとに示すデータを生成する（ステップＳ２０８）。
After that, the
実施形態１において、処理装置４１は、粒子ｐの還元のし易さを１粒子ごとに示すデータとして、還元前及び還元後の粒子ｐの体積磁化率をプロットしたグラフ画像を生成する。換言すると、処理装置４１は、還元前後の粒子ｐの体積磁化率の変化量を示すグラフ画像を生成する。あるいは、処理装置４１は、粒子ｐの酸化のし易さを１粒子ごとに示すデータとして、酸化前及び酸化後の粒子ｐの体積磁化率をプロットしたグラフ画像を生成する。換言すると、処理装置４１は、酸化前後の粒子ｐの体積磁化率の変化量を示すグラフ画像を生成する。処理装置４１は、生成したグラフ画像を表示装置４３に表示させる。
In the first embodiment, the
なお、処理装置４１は、粒子ｐの還元のし易さ又は酸化のし易さを１粒子ごとに解析して、解析結果を表示装置４３に表示させてもよい。具体的には、処理装置４１は、還元前又は酸化前の粒子ｐの体積磁化率と、還元後又は酸化後の粒子ｐの体積磁化率とに基づいて、粒子ｐの還元のし易さ又は酸化のし易さを示す値を演算（数値解析）により求めてもよい。例えば、処理装置４１は、粒子ｐの還元のし易さを１粒子ごとに示すデータとして、還元前後の粒子ｐの体積磁化率の変化量を１粒子ごとに求めてもよい。同様に、処理装置４１は、粒子ｐの酸化のし易さを１粒子ごとに示すデータとして、酸化前後の粒子ｐの体積磁化率の変化量を１粒子ごとに求めてもよい。
The
以上、実施形態１について説明した。実施形態１によれば、電極の材料に用いられる粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さ（酸化数の変化のし易さ）を１粒子ごとに評価することが可能となる。詳しくは、電極の材料に用いられる粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを、還元前後又は酸化前後の粒子の体積磁化率の変化に基づいて評価することが可能となる。したがって、電極を作製する前に、電極の材料に用いられる粒子の性能を評価することが可能となる。更に、実施形態１によれば、電極の材料に用いられる粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを、体積磁化率によって定量化することが可能となる。 The first embodiment has been described above. According to the first embodiment, it is possible to evaluate the ease of reduction or the ease of oxidation (the ease of changing the oxidation number) of the particles used as the material of the electrode for each particle. Specifically, it is possible to evaluate the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles used as the material of the electrode based on the change in the volume magnetic susceptibility of the particles before and after reduction or before and after oxidation. Therefore, it is possible to evaluate the performance of the particles used as the material of the electrode before manufacturing the electrode. Further, according to the first embodiment, the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles used as the material of the electrode can be quantified by the volume magnetic susceptibility.
なお、本実施形態では、磁場生成部２０が一対の永久磁石を備えたが、磁場生成部２０は、磁場勾配を生成するために一対の磁極片（ポールピース）を備えてもよい。あるいは、磁場生成部２０は、磁場勾配を生成するために、電磁石、磁気回路、又は超電導磁石を備えてもよい。磁場生成部２０が一対の磁極片を備える場合、一対の磁極片を構成する２つの磁極片は、例えば１００μｍ以上５００μｍ以下の一定距離の空隙を空けて配置される。セル２１は、２つの磁極片の間の空隙に配置される。磁極片は、例えば、磁化された鉄片であり得る。鉄片は、例えば永久磁石、電磁石、磁気回路、又は超電導磁石によって磁化し得る。
In the present embodiment, the magnetic
また、本実施形態では、セル２１がキャピラリー管であったが、セル２１は、ガラスセル又はプラスチックセルであってもよい。ガラスセル及びプラスチックセルは、粒子ｐ、又は粒子ｐを含む媒体ｍを保持する凹部を有する。あるいは、ガラスセル及びプラスチックセルは、粒子ｐを含む媒体ｍが流れる流路を有する。セル２１が、マイクロ流路を有するガラスセル又はプラスチックセルである場合、粒子ｐを含む液滴（溶液）がマイクロ流路の一方端に滴下されると、毛細管現象によって液滴がマイクロ流路を流れる。
Further, in the present embodiment, the
また、本実施形態では、情報処理部４０（処理装置４１）が粒子ｐの粒子径を測定したが、撮像部３４が撮像した画像をディスプレーに表示させ、分析者が、ディスプレーに表示された画像から粒子ｐの粒子径を測定してもよい。あるいは、撮像部３４が撮像した画像を印刷して、分析者が、印刷された画像から粒子ｐの粒子径を測定してもよい。
Further, in the present embodiment, the information processing unit 40 (processing device 41) measures the particle size of the particles p, but the image captured by the
また、本実施形態では、粒子ｐのブラウン運動又は粒子ｐの画像を解析して粒子径を求めたが、粒子径に文献値が用いられてもよい。あるいは、レーザーを使用して、例えば動的光散乱法又は静的光散乱法に基づいて粒子ｐの粒子径（直径）を測定してもよい。 Further, in the present embodiment, the Brownian motion of the particle p or the image of the particle p is analyzed to obtain the particle diameter, but a literature value may be used for the particle diameter. Alternatively, a laser may be used to measure the particle size (diameter) of the particle p, for example, based on a dynamic light scattering method or a static light scattering method.
また、本実施形態では、表示装置４３がグラフ画像を表示したが、グラフ画像は印刷されてもよい。この場合、表示装置４３は省略されてもよい。
Further, in the present embodiment, the
また、本実施形態では、還元前又は酸化前の粒子ｐの体積磁化率を１粒子ごとに求めたが、還元前又は酸化前の粒子ｐの体積磁化率は文献値から取得してもよい。換言すると、基準値として文献値が使用されてもよい。 Further, in the present embodiment, the volume magnetic susceptibility of the particles p before reduction or oxidation is determined for each particle, but the volume magnetic susceptibility of the particles p before reduction or oxidation may be obtained from the literature values. In other words, the literature value may be used as the reference value.
［実施形態２］
続いて図１〜図３、図５（ａ）、図５（ｂ）、及び図６を参照して本発明の実施形態２について説明する。但し、実施形態１と異なる事項を説明し、実施形態１と同じ事項についての説明は割愛する。実施形態２は、粒子ｐの還元のし易さ又は酸化のし易さを１粒子ごとに示すデータが実施形態１と異なる。具体的には、実施形態２は、処理装置４１が生成するグラフ画像が実施形態１と異なる。したがって、実施形態２における分析装置１０は、処理装置４１が生成するデータが異なることを除いて、実施形態１における分析装置１０と同様の構成である。
[Embodiment 2]
Subsequently,
図６は、実施形態２におけるグラフ画像６００の一例を示す図である。詳しくは、図６は、還元前及び還元後の粒子ｐの体積磁化率を１粒子ごとにプロットしたグラフ画像６００を示す。
FIG. 6 is a diagram showing an example of the
実施形態２において、粒子ｐは、ベルトライド化合物、又はベルトライド化合物の固溶体を含む。あるいは、粒子ｐは、還元後又は酸化後にベルトライド化合物、又はベルトライド化合物の固溶体となる化合物を含む。詳しくは、粒子ｐは、少なくとも還元後又は酸化後に、酸化数が変化した成分元素と、酸化数が変化していない成分元素とを含む。例えば、還元前の三酸化タングステン化合物は６価タングステンを含む。三酸化タングステン化合物を、例えばアルコール化合物中で還元すると、６価タングステンの一部が電子を取得して５価タングステンに遷移し、水素タングステンブロンズが生成される。したがって、水素タングステンブロンズ（還元後の三酸化タングステン化合物）は、６価タングステンと５価タングステンとを含む。以下、酸化数が変化した成分元素を「酸化数変化成分元素」と記載するとともに、酸化数が変化していない成分元素を「酸化数未変化成分元素」と記載する場合がある。 In the second embodiment, the particle p contains a beltride compound or a solid solution of the beltride compound. Alternatively, the particle p contains a beltride compound or a compound that becomes a solid solution of the beltride compound after reduction or oxidation. Specifically, the particle p contains a component element whose oxidation number has changed and a component element whose oxidation number has not changed, at least after reduction or oxidation. For example, the tungsten trioxide compound before reduction contains hexavalent tungsten. When the tungsten trioxide compound is reduced in, for example, an alcohol compound, a part of the hexavalent tungsten acquires an electron and transitions to the pentavalent tungsten to generate hydrogen hydrogen tungsten bronze. Therefore, the tungsten hydrogen bronze (tungsten trioxide compound after reduction) contains hexavalent tungsten and pentavalent tungsten. Hereinafter, the component element whose oxidation number has changed may be described as "oxidation number changing component element", and the component element whose oxidation number has not changed may be described as "oxidation number unchanged component element".
図６に示すように、グラフ画像６００は、第１縦軸６０１と、第２縦軸６０２と、横軸６０３とを含む。第１縦軸６０１は体積磁化率を示す。第２縦軸６０２は、第１縦軸６０１に並べて配置される。第２縦軸６０２は、粒子ｐを構成する化合物における酸化数変化成分元素の比率ｘを示す。具体的には、第２縦軸６０２は、酸化数変化成分元素と酸化数未変化成分元素との比率ｘを示す。また、第１縦軸６０１と第２縦軸６０２とは、体積磁化率と比率ｘとを対応させる。横軸６０３は、粒子の直径（粒子径）を示す。なお、第１縦軸６０１の目盛りと第２縦軸６０２の目盛りとの対応関係は、文献値、又は文献に示される式を用いて決定し得る。
As shown in FIG. 6, the
図６において、白丸印は還元前の粒子ｐの体積磁化率を示し、白四角印は還元後の粒子ｐの体積磁化率を示す。図６に示すように、還元前の粒子ｐにおいて、比率ｘは略「０」の値を示す。一方、粒子ｐを還元することにより、比率ｘが増加する。比率ｘが増加するのは、還元反応によって、一部の成分元素が電子を取得して陰イオン化するためである。実施形態１において説明したように、還元し易い粒子ほど、還元反応によって取得する電子の数が多くなる。したがって、還元し易い粒子ほど、比率ｘが大きくなる。よって、粒子ｐの還元のし易さは、酸化数変化成分元素の比率ｘを指標として評価し得る。 In FIG. 6, white circles indicate the volume magnetic susceptibility of the particles p before reduction, and white squares indicate the volume magnetic susceptibility of the particles p after reduction. As shown in FIG. 6, in the particle p before reduction, the ratio x shows a value of substantially “0”. On the other hand, by reducing the particles p, the ratio x increases. The ratio x increases because some component elements acquire electrons and are anionized by the reduction reaction. As described in the first embodiment, the easier it is to reduce the particles, the larger the number of electrons acquired by the reduction reaction. Therefore, the easier it is to reduce the particles, the larger the ratio x. Therefore, the ease of reduction of the particle p can be evaluated using the ratio x of the oxidation number changing component element as an index.
同様に、酸化前の粒子ｐにおいて、比率ｘは略「０」の値を示す。また、粒子ｐを酸化することにより、比率ｘが増加する。比率ｘが増加するのは、酸化反応によって一部の成分元素から電子が奪われ、一部の成分元素が陽イオン化するためである。実施形態１において説明したように、酸化し易い粒子ほど、酸化反応によって奪われる電子の数が多くなる。したがって、酸化し易い粒子ほど、比率ｘが大きくなる。よって、粒子ｐの酸化のし易さは、酸化数変化成分元素の比率ｘを指標として評価し得る。 Similarly, in the particles p before oxidation, the ratio x indicates a value of approximately “0”. Further, by oxidizing the particle p, the ratio x increases. The ratio x increases because electrons are deprived from some component elements by the oxidation reaction and some component elements are cationized. As described in the first embodiment, the more easily the particles are oxidized, the larger the number of electrons taken by the oxidation reaction. Therefore, the more easily the particles are oxidized, the larger the ratio x becomes. Therefore, the ease of oxidation of the particle p can be evaluated using the ratio x of the oxidation number changing component element as an index.
なお、粒子ｐを光還元する場合、粒子ｐの表面を構成する元素の一部が電子を取得する。同様に、粒子ｐを光酸化する場合、粒子ｐの表面を構成する元素の一部から電子が奪われる。したがって、粒子ｐを光還元又は光酸化する場合、第２縦軸６０２は、粒子表面における酸化数変化成分元素と酸化数未変化成分元素との比率ｘ（粒子表面を構成する化合物における酸化数変化成分元素の比率）を示す。
When the particle p is photoreduced, some of the elements constituting the surface of the particle p acquire electrons. Similarly, when the particle p is photooxidized, electrons are deprived from some of the elements constituting the surface of the particle p. Therefore, when the particle p is photoreduced or photooxidized, the second
続いて図５（ａ）及び図５（ｂ）を参照して、実施形態２における分析方法について説明する。実施形態２における分析方法は、図１〜図３、及び図６を参照して説明した分析装置１０を使用して実行する。
Subsequently, the analysis method in the second embodiment will be described with reference to FIGS. 5 (a) and 5 (b). The analysis method according to the second embodiment is performed by using the
実施形態２における分析方法は、ステップＳ２０８で生成されるデータが異なることを除いて、実施形態１における分析方法と同様である。具体的には、ステップＳ２０８において、処理装置４１が、粒子ｐの還元のし易さ又は酸化のし易さを１粒子ごとに示すデータとして、図６を参照して説明したグラフ画像６００を生成する。詳しくは、処理装置４１は、粒子ｐの体積磁化率と、酸化数変化成分元素の比率ｘとの関係を示すグラフ画像（グラフ画像６００）を生成する。
The analysis method in the second embodiment is the same as the analysis method in the first embodiment except that the data generated in step S208 is different. Specifically, in step S208, the
なお、酸化数変化成分元素の比率ｘは、還元後又は酸化後の粒子ｐの体積磁化率から求めることができる。よって、還元前又は酸化前の粒子ｐの体積磁化率を求める処理は省略されてもよい。 The ratio x of the oxidation number changing component element can be obtained from the volume magnetic susceptibility of the particles p after reduction or oxidation. Therefore, the process of obtaining the volume magnetic susceptibility of the particles p before reduction or oxidation may be omitted.
また、処理装置４１は、粒子ｐの還元のし易さ又は酸化のし易さを１粒子ごとに解析して、解析結果を表示装置４３に表示させてもよい。具体的には、処理装置４１は、還元後又は酸化後の粒子ｐの体積磁化率に基づいて、酸化数変化成分元素の比率ｘを演算（数値解析）により求めてもよい。換言すると、処理装置４１は、粒子ｐの還元のし易さ又は酸化のし易さを１粒子ごとに示すデータとして、酸化数変化成分元素の比率ｘを１粒子ごとに求めてもよい。
Further, the
以上、実施形態２について説明した。実施形態２によれば、電極の材料に用いられる粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さ（酸化数の変化のし易さ）を１粒子ごとに評価することが可能となる。詳しくは、電極の材料に用いられる粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを、酸化数変化成分元素の比率ｘに基づいて評価することが可能となる。したがって、電極を作製する前に、電極の材料に用いられる粒子の性能を評価することが可能となる。更に、実施形態２によれば、電極の材料に用いられる粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを、酸化数変化成分元素の比率ｘによって定量化することが可能となる。 The second embodiment has been described above. According to the second embodiment, it is possible to evaluate the ease of reduction or the ease of oxidation (the ease of changing the oxidation number) of the particles used as the material of the electrode for each particle. Specifically, it is possible to evaluate the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles used as the material of the electrode based on the ratio x of the oxidation number changing component elements. Therefore, it is possible to evaluate the performance of the particles used as the material of the electrode before manufacturing the electrode. Further, according to the second embodiment, the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles used as the material of the electrode can be quantified by the ratio x of the oxidation number changing component element.
なお、処理装置４１は、電子の体積磁化率を求めてもよい。よって、図５（ａ）及び図５（ｂ）を参照して説明した分析方法は、電子の体積磁化率を取得する工程を更に包含してもよい。電子の体積磁化率を取得する場合、粒子ｐは光還元又は光酸化される。
The
具体的には、還元反応又は酸化反応による粒子ｐの体積磁化率の変化量と、還元反応又は酸化反応による酸化数の変化量と、還元後又は酸化後の粒子ｐの表面の結晶構造と、還元後又は酸化後の粒子ｐの比表面積とに基づいて、電子の体積磁化率を求めることができる。詳しくは、還元後又は酸化後の粒子ｐの表面の結晶構造と、還元後又は酸化後の粒子ｐの比表面積とに基づいて、還元後又は酸化後の粒子ｐの表面に占める酸化数変化成分元素の数を求める。次に、酸化数変化成分元素の数と酸化数の変化量とに基づいて、粒子ｐが取得した電子の数、又は粒子ｐから奪われた電子の数を求める。次に、電子の数と、体積磁化率の変化量とに基づいて、電子の体積磁化率を求める。 Specifically, the amount of change in the volume magnetization rate of the particle p due to the reduction reaction or oxidation reaction, the amount of change in the oxidation number due to the reduction reaction or oxidation reaction, and the crystal structure on the surface of the particle p after reduction or oxidation. The volume magnetization rate of electrons can be determined based on the specific surface area of the particles p after reduction or oxidation. Specifically, the oxidation number changing component occupying the surface of the reduced or oxidized particle p based on the crystal structure of the surface of the reduced or oxidized particle p and the specific surface area of the reduced or oxidized particle p. Find the number of elements. Next, the number of electrons acquired by the particle p or the number of electrons deprived from the particle p is obtained based on the number of oxidation number changing component elements and the amount of change in the oxidation number. Next, the volume magnetic susceptibility of electrons is obtained based on the number of electrons and the amount of change in the volume magnetic susceptibility.
還元反応又は酸化反応による酸化数の変化量は、粒子ｐの還元反応式又は酸化反応式を参照して求めることができる。例えば、６価タングステンは、還元反応によって５価タングステンに遷移するので、酸化数の変化量は「１」となる。また、還元後又は酸化後の粒子ｐの比表面積は、還元後又は酸化後の粒子ｐの粒子径に基づいて求めることができる。 The amount of change in the oxidation number due to the reduction reaction or the oxidation reaction can be obtained by referring to the reduction reaction formula or the oxidation reaction formula of the particles p. For example, hexavalent tungsten transitions to pentavalent tungsten by a reduction reaction, so that the amount of change in the oxidation number is "1". The specific surface area of the reduced or oxidized particles p can be determined based on the particle size of the reduced or oxidized particles p.
粒子ｐの表面の結晶構造において、酸化数変化成分元素と酸化数未変化成分元素とを区別できない場合には、粒子ｐの表面の結晶構造と、酸化数変化成分元素と酸化数未変化成分元素との比率ｘと、還元後又は酸化後の粒子ｐの比表面積とに基づいて、酸化数変化成分元素の数を求めることができる。 When the crystal structure on the surface of the particle p cannot distinguish between the oxidation number changing component element and the oxidation number unchanged component element, the crystal structure on the surface of the particle p and the oxidation number changing component element and the oxidation number unchanged component element The number of oxidation number changing component elements can be determined based on the ratio x of the above and the specific surface area of the particles p after reduction or oxidation.
以上、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明した。但し、本発明は、上記の実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の態様において実施することが可能である。 The embodiments of the present invention have been described above with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be implemented in various embodiments without departing from the gist thereof.
例えば、図３を参照して説明した分析装置１０は光源６０を備えたが、分析装置１０は、光源６０に替えてレーザーを備えてもよいし、光源６０に加えてレーザーを更に備えてもよい。分析装置１０が光源６０とレーザーとを備える場合、光源６０から光を出射する際には、レーザーからのレーザー光の出射を停止させ、レーザーからレーザー光を出射する際には、光源６０からの光の出射を停止させる。レーザーを使用する場合、セル２１に導入された粒子ｐにレーザー光を照射する。撮像部３４は、粒子ｐによって散乱されたレーザー光（散乱光）を、拡大部３２を介して撮像する。
For example, the
レーザー光を粒子ｐに照射する場合、キャピラリー管は、その軸方向に直交する断面形状が正方形の正方形型キャピラリーであることが好ましい。正方形型キャピラリーを使用することにより、セル２１の側面のうちレーザー光が照射される面を鏡面仕上げにすることが容易になる。
When irradiating the particle p with a laser beam, the capillary tube is preferably a square capillary having a square cross-sectional shape orthogonal to the axial direction thereof. By using the square capillary, it becomes easy to mirror-finish the side surface of the
また、図３に示す分析装置１０では、セル２１（キャピラリー管）が垂直に配置されたが、本発明はこの形態に限定されない。例えば、図７に示すように、粒子ｐが磁気泳動する流路（セル２１）は、水平に配置されてもよい。
Further, in the
また、図６を参照して説明したグラフ画像６００は、還元後又は酸化後の粒子ｐの体積磁化率と、酸化数変化成分元素の比率ｘとの関係を示す２つの縦軸（第１縦軸６０１及び第２縦軸６０２）を含んだが、本発明はこの形態に限定されない。グラフ画像は、還元後又は酸化後の粒子ｐの体積磁化率と、酸化数変化成分元素の比率ｘとの関係を示す２つの横軸を含んでもよい。
Further, the
また、本発明による実施形態では、体積磁化率の変化量、又は酸化数変化成分元素と酸化数未変化成分元素との比率を指標として、粒子ｐの還元のし易さ、又は酸化のし易さを評価したが、本発明はこの形態に限定されない。例えば、還元反応によって粒子ｐが取得した電子の数、又は酸化反応によって粒子ｐから奪われた電子の数を指標として、粒子ｐの還元のし易さ又は酸化のし易さを評価してもよい。すなわち、電子数の変化を指標として、粒子ｐの還元のし易さ又は酸化のし易さを評価してもよい。 Further, in the embodiment according to the present invention, the change amount of the volume magnetic susceptibility or the ratio of the oxidation number changing component element and the oxidation number unchanged component element is used as an index to easily reduce or oxidize the particle p. However, the present invention is not limited to this form. For example, even if the ease of reduction or the ease of oxidation of the particle p is evaluated using the number of electrons acquired by the particle p by the reduction reaction or the number of electrons deprived from the particle p by the oxidation reaction as an index. Good. That is, the ease of reduction or the ease of oxidation of the particle p may be evaluated using the change in the number of electrons as an index.
還元反応によって粒子ｐが取得した電子の数は、還元前後の粒子ｐの体積磁化率の変化量と、電子の体積磁化率とに基づいて求めることができる。同様に、酸化反応によって粒子ｐから奪われた電子の数は、酸化前後の体積磁化率の変化量と、電子の体積磁化率とに基づいて求めることができる。したがって、処理装置４１は、粒子ｐの還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、還元反応によって粒子ｐが取得した電子の数、又は酸化反応によって粒子ｐから奪われた電子の数を示すデータを生成してもよい。具体的には、処理装置４１は、還元反応によって粒子ｐが取得した電子の数、又は酸化反応によって粒子ｐから奪われた電子の数と、粒子ｐの体積磁化率との関係を示すグラフ画像を生成してもよい。あるいは、処理装置４１は、還元反応によって粒子ｐが取得した電子の数、又は酸化反応によって粒子ｐから奪われた電子の数を求めてもよい。
The number of electrons acquired by the particle p by the reduction reaction can be obtained based on the amount of change in the volume magnetic susceptibility of the particle p before and after the reduction and the volume magnetic susceptibility of the electrons. Similarly, the number of electrons taken from the particle p by the oxidation reaction can be obtained based on the amount of change in the volume magnetic susceptibility before and after oxidation and the volume magnetic susceptibility of the electrons. Therefore, the
以下、本発明の実施例について説明する。但し、本発明は、以下で説明する実施例に限定されるものではない。 Hereinafter, examples of the present invention will be described. However, the present invention is not limited to the examples described below.
本実施例では、粒子ｐとして、三酸化タングステン（ＷＯ3）からなる粒子を使用した。以下、三酸化タングステン（ＷＯ3）からなる粒子を「酸化タングステン粒子ｐ」と記載する場合がある。 In this example, particles made of tungsten trioxide (WO 3 ) were used as the particles p. Hereinafter, particles made of tungsten trioxide (WO 3 ) may be referred to as "tungsten trioxide particles p".
また、本実施例では、媒体ｍとして、１００％メタノール（ＣＨ3ＯＨ）を使用した。また、酸化タングステン粒子ｐに紫外線を照射して、酸化タングステン粒子ｐを光還元した。メタノール中の三酸化タングステン化合物に紫外線を照射すると、還元反応によって水素タングステンブロンズ（ＨxＷＯ3；０≦ｘ≦１）が生成される。以下に、反応式を示す。
上記反応式に示すように、メタノール中の三酸化タングステン化合物に紫外線を照射すると、一部のタングステン（Ｗ）の酸化数が６価から５価に変化する。したがって、酸化タングステン粒子ｐに紫外線を照射すると、粒子ｐの表面を構成する三酸化タングステンの一部が、上記反応式に示すように、電子（ｅ-）を取得して水素タングステンブロンズに遷移する。 As shown in the above reaction formula, when the tungsten trioxide compound in methanol is irradiated with ultraviolet rays, the oxidation number of a part of tungsten (W) changes from hexavalent to pentavalent. Therefore, when the tungsten oxide particles p are irradiated with ultraviolet rays, a part of the tungsten trioxide constituting the surface of the particles p acquires electrons (e − ) and transitions to tungsten hydrogen bronze as shown in the above reaction formula. ..
図８は、本実施例における酸化タングステン粒子ｐの体積磁化率の変化を示す図である。詳しくは、図８は、４つのグラフを示す。各グラフにおいて、横軸は酸化タングステン粒子ｐの直径（粒子径）を示し、縦軸は体積磁化率を示す。 FIG. 8 is a diagram showing changes in the volume magnetic susceptibility of the tungsten oxide particles p in this example. Specifically, FIG. 8 shows four graphs. In each graph, the horizontal axis represents the diameter (particle diameter) of the tungsten oxide particles p, and the vertical axis represents the volume magnetic susceptibility.
最上段のグラフは、紫外線が照射される前の酸化タングステン粒子ｐの体積磁化率と粒子径との関係を示す。換言すると、最上段のグラフは、光還元前の酸化タングステン粒子ｐの体積磁化率と粒子径との関係を示す。２段目のグラフは、紫外線を１０分照射した後の酸化タングステン粒子ｐの体積磁化率と粒子径との関係を示す。３段目のグラフは、紫外線を３０分照射した後の酸化タングステン粒子ｐの体積磁化率と粒子径との関係を示す。４段目のグラフは、紫外線を６０分照射した後の酸化タングステン粒子ｐの体積磁化率と粒子径との関係を示す。図８に示すように、紫外線を照射する時間が長いほど、酸化タングステン粒子ｐの体積磁化率が増加した。 The graph at the top shows the relationship between the volume magnetic susceptibility and the particle size of the tungsten oxide particles p before being irradiated with ultraviolet rays. In other words, the uppermost graph shows the relationship between the volume magnetic susceptibility of the tungsten oxide particles p before photoreduction and the particle size. The second graph shows the relationship between the volume magnetic susceptibility and the particle size of the tungsten oxide particles p after being irradiated with ultraviolet rays for 10 minutes. The third graph shows the relationship between the volume magnetic susceptibility and the particle size of the tungsten oxide particles p after being irradiated with ultraviolet rays for 30 minutes. The fourth graph shows the relationship between the volume magnetic susceptibility and the particle size of the tungsten oxide particles p after being irradiated with ultraviolet rays for 60 minutes. As shown in FIG. 8, the longer the time of irradiation with ultraviolet rays, the greater the volume magnetic susceptibility of the tungsten oxide particles p.
図９は、本実施例におけるグラフ画像６００を示す図である。図９において、第１縦軸６０１は体積磁化率の平均値を示し、第２縦軸６０２は、酸化タングステン粒子ｐの表面における５価タングステン（Ｗ5+）と６価タングステン（Ｗ6+）との比率を示す。具体的には、第２縦軸６０２は、上記反応式における「ｘ」の値を示す。また、横軸６０３は酸化タングステン粒子ｐの直径（粒子径）を示す。なお、第１縦軸６０１の目盛りと第２縦軸６０２の目盛りとの対応関係は、文献“L. Eyring, M. O'Keeffe (eds), Chemistry of Extended Defects in Nonmetallic Solids (1970), North-Holland Publish, Amsterdam. pp555-560”を参照して決定した。
FIG. 9 is a diagram showing a
図９に示すグラフ画像６００おいて、白丸印は、紫外線が照射される前の酸化タングステン粒子ｐの体積磁化率と粒子径との関係を示し、黒四角印は、紫外線を１０分照射した後の酸化タングステン粒子ｐの体積磁化率と粒子径との関係を示し、黒逆三角印は、紫外線を３０分照射した後の酸化タングステン粒子ｐの体積磁化率と粒子径との関係を示し、黒三角印は、紫外線を６０分照射した後の酸化タングステン粒子ｐの体積磁化率と粒子径との関係を示す。
In the
図９に示すように、紫外線を照射する時間が長いほど、酸化タングステン粒子ｐの体積磁化率が増加した。また、酸化タングステン粒子ｐの直径が小さいほど、体積磁化率の変化量が大きくなった。図９に示すグラフ画像６００を参照することにより、酸化タングステン粒子ｐの体積磁化率に基づいて、５価タングステン（酸化数変化成分元素）と６価タングステン（酸化数未変化成分元素）との比率ｘを求めることができた。図９に示すように、紫外線を照射する時間が長いほど、比率ｘが大きくなった。また、酸化タングステン粒子ｐの直径が小さいほど、比率ｘが大きくなった。したがって、直径（比表面積）が小さい酸化タングステン粒子ｐを用いて電極を作製することにより、電極性能の向上を図ることができることを確認できた。
As shown in FIG. 9, the longer the time of irradiation with ultraviolet rays, the greater the volume magnetic susceptibility of the tungsten oxide particles p. Further, the smaller the diameter of the tungsten oxide particles p, the larger the amount of change in the volume magnetic susceptibility. By referring to the
また、本実施例によれば、６価タングステンと５価タングステンとの比率ｘと、体積磁化率の変化量との関係を求めることができる。一方、比率ｘは、上記反応式に示すように、酸化タングステン化合物が取得する電子（ｅ-）の数に対応する。したがって、酸化タングステン粒子ｐの表面における５価タングステンの数（水素タングステンブロンズの数）を解析することにより、電子の体積磁化率を求めることができる。 Further, according to this embodiment, the relationship between the ratio x of hexavalent tungsten and pentavalent tungsten and the amount of change in volume magnetic susceptibility can be obtained. On the other hand, the ratio x corresponds to the number of electrons (e − ) acquired by the tungsten oxide compound, as shown in the above reaction formula. Therefore, the volume magnetic susceptibility of electrons can be obtained by analyzing the number of pentavalent tungsten (the number of hydrogen tungsten bronze) on the surface of the tungsten oxide particle p.
本発明によれば、電極の材料に用いられる粒子の性能を１粒子ごとに評価することができる。したがって、本発明は、高性能な電池の開発に有用である。 According to the present invention, the performance of the particles used as the material of the electrode can be evaluated for each particle. Therefore, the present invention is useful for the development of high-performance batteries.
１０ 分析装置
２０ 磁場生成部
２１ セル
３０ 検出部
３２ 拡大部
３４ 撮像部
４０ 情報処理部
４１ 処理装置
４２ 記憶装置
４３ 表示装置
５０ 酸化還元部
６０ 光源
６００ グラフ画像
６０１ 第１縦軸
６０２ 第２縦軸
６０３ 横軸
ｍ 媒体
ｐ 粒子
10
Claims (11)
磁場を生成して、還元後又は酸化後の前記粒子を磁気泳動させることにより、磁気泳動速度を求める工程と、
前記磁気泳動速度に基づいて、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率を求める工程と、
前記体積磁化率に基づいて、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータを生成する工程と
を包含し、
前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、前記粒子を構成する化合物における酸化数が変化した成分元素の比率を示すデータを生成する、分析方法。 The process of reducing or oxidizing the particles used in the electrode material of the battery,
A step of determining the magnetic migration rate by generating a magnetic field and magnetically migrating the reduced or oxidized particles.
A step of determining the volume magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation based on the magnetic migration rate, and
Including the step of generating data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles based on the volume magnetic susceptibility .
An analysis method for generating data indicating the ratio of component elements whose oxidation numbers have changed in the compounds constituting the particles as data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles.
磁場を生成して、還元後又は酸化後の前記粒子を磁気泳動させることにより、磁気泳動速度を求める工程と、A step of determining the magnetic migration rate by generating a magnetic field and magnetically migrating the reduced or oxidized particles.
前記磁気泳動速度に基づいて、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率を求める工程と、A step of determining the volume magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation based on the magnetic migration rate, and
還元反応又は酸化反応による前記粒子の体積磁化率の変化量と、還元反応又は酸化反応による前記粒子の酸化数の変化量と、還元後又は酸化後の前記粒子の表面の結晶構造と、還元後又は酸化後の前記粒子の比表面積とに基づいて、電子の体積磁化率を求める工程とThe amount of change in the volume magnetization rate of the particles due to the reduction reaction or oxidation reaction, the amount of change in the oxidation number of the particles due to the reduction reaction or oxidation reaction, the crystal structure of the surface of the particles after reduction or oxidation, and after reduction. Alternatively, a step of obtaining the volume magnetization rate of electrons based on the specific surface area of the particles after oxidation.
を包含する、分析方法。An analytical method that includes.
磁場を生成して、還元後又は酸化後の前記粒子を磁気泳動させることにより、磁気泳動速度を求める工程と、
前記磁気泳動速度に基づいて、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率を求める工程と、
前記体積磁化率に基づいて、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータを生成する工程と
を包含し、
前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、還元反応によって前記粒子が取得した電子の数、又は酸化反応によって前記粒子から奪われた電子の数を示すデータを生成し、
還元反応又は酸化反応による前記粒子の体積磁化率の変化量と、電子の体積磁化率と基づいて、還元反応によって前記粒子が取得した電子の数、又は酸化反応によって前記粒子から奪われた電子の数を求める、分析方法。 The process of reducing or oxidizing the particles used in the electrode material of the battery,
A step of determining the magnetic migration rate by generating a magnetic field and magnetically migrating the reduced or oxidized particles.
A step of determining the volume magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation based on the magnetic migration rate, and
A step of generating data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles based on the volume magnetic susceptibility.
Including,
As data indicating reduction ease or oxidation easiness of the particles, the number of electrons the particles obtained by the reduction reaction, or generates data indicating the number of electrons lost from the particles by oxidation ,
Based on the amount of change in the volume magnetization rate of the particles due to the reduction reaction or oxidation reaction and the volume magnetization rate of electrons, the number of electrons acquired by the particles by the reduction reaction or the electrons deprived from the particles by the oxidation reaction. determine the number, minute析方method.
磁場を生成して、還元後又は酸化後の前記粒子を磁気泳動させることにより、磁気泳動速度を求める工程と、A step of determining the magnetic migration rate by generating a magnetic field and magnetically migrating the reduced or oxidized particles.
前記磁気泳動速度に基づいて、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率を求める工程と、A step of determining the volume magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation based on the magnetic migration rate, and
前記体積磁化率に基づいて、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータを生成する工程とA step of generating data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles based on the volume magnetic susceptibility.
を包含し、Including,
前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、還元反応によって前記粒子が取得した電子の数、又は酸化反応によって前記粒子から奪われた電子の数を示すデータを生成し、As data indicating the ease of reduction or oxidation of the particles, data indicating the number of electrons acquired by the particles by the reduction reaction or the number of electrons deprived of the particles by the oxidation reaction is generated. ,
還元後又は酸化後の前記粒子の表面の結晶構造と、還元後又は酸化後の前記粒子の比表面積と、還元反応又は酸化反応による前記粒子の酸化数の変化量とに基づいて、還元反応によって前記粒子が取得した電子の数、又は酸化反応によって前記粒子から奪われた電子の数を求める、分析方法。By a reduction reaction based on the crystal structure of the surface of the particles after reduction or oxidation, the specific surface area of the particles after reduction or oxidation, and the amount of change in the oxidation number of the particles due to the reduction reaction or oxidation reaction. An analysis method for determining the number of electrons acquired by the particle or the number of electrons taken from the particle by an oxidation reaction.
還元後又は酸化後の前記粒子の磁気泳動速度を求め、前記磁気泳動速度に基づいて、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率を求める処理装置と
を備え、
前記粒子は、電池の電極材料に用いられる粒子であり、
前記処理装置は、前記体積磁化率に基づいて、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータを生成し、
前記処理装置は、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、前記粒子を構成する化合物における酸化数が変化した成分元素の比率を示すデータを生成する、分析装置。 A magnetic field generator that generates a magnetic field and magnetically runs the particles after reduction or oxidation,
A processing device for obtaining the magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation and obtaining the volume magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation based on the magnetic migration speed is provided.
The particles are particles used as an electrode material for a battery, and are particles.
The processing apparatus generates data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles based on the volume magnetic susceptibility .
The processing apparatus is an analyzer that generates data indicating the ratio of component elements whose oxidation numbers have changed in the compounds constituting the particles as data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles.
前記グラフ画像は、
前記体積磁化率を示す第１の縦軸又は横軸と、前記第１の縦軸又は横軸に並べて配置される第２の縦軸又は横軸とを含み、
前記第２の縦軸又は横軸は、前記粒子を構成する化合物における酸化数が変化した成分元素の比率を、前記第１の縦軸又は横軸が示す前記体積磁化率に対応させる、請求項７に記載の分析装置。 The processing apparatus generates a graph image in which the volume magnetic susceptibility is plotted as data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles.
The graph image is
A first vertical axis or horizontal axis indicating the volume magnetic susceptibility and a second vertical axis or horizontal axis arranged side by side on the first vertical axis or horizontal axis are included.
The second vertical axis or horizontal axis corresponds to the volume magnetic susceptibility indicated by the first vertical axis or horizontal axis with respect to the ratio of component elements whose oxidation numbers have changed in the compounds constituting the particles. 7. The analyzer according to 7.
還元後又は酸化後の前記粒子の磁気泳動速度を求め、前記磁気泳動速度に基づいて、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率を求める処理装置とWith a processing device that obtains the magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation, and obtains the volume magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation based on the magnetic migration rate.
を備え、With
前記処理装置は、還元反応又は酸化反応による前記粒子の体積磁化率の変化量と、還元反応又は酸化反応による前記粒子の酸化数の変化量と、還元後又は酸化後の前記粒子の表面の結晶構造と、還元後又は酸化後の前記粒子の比表面積とに基づいて、電子の体積磁化率を求める、分析装置。The processing apparatus includes the amount of change in the volume magnetization rate of the particles due to the reduction reaction or oxidation reaction, the amount of change in the oxidation number of the particles due to the reduction reaction or oxidation reaction, and the crystals on the surface of the particles after reduction or oxidation. An analyzer that determines the volume magnetization rate of electrons based on the structure and the specific surface area of the particles after reduction or oxidation.
還元後又は酸化後の前記粒子の磁気泳動速度を求め、前記磁気泳動速度に基づいて、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率を求める処理装置とWith a processing device that obtains the magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation, and obtains the volume magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation based on the magnetic migration rate.
を備え、With
前記粒子は、電池の電極材料に用いられる粒子であり、The particles are particles used as an electrode material for a battery, and are particles.
前記処理装置は、前記体積磁化率に基づいて、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータを生成し、The processing apparatus generates data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles based on the volume magnetic susceptibility.
前記処理装置は、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、還元反応によって前記粒子が取得した電子の数、又は酸化反応によって前記粒子から奪われた電子の数を示すデータを生成し、The processing apparatus uses the number of electrons acquired by the particles by the reduction reaction or the number of electrons deprived of the particles by the oxidation reaction as data indicating the ease of reduction or oxidation of the particles. Generate the data to show
前記処理装置は、還元反応又は酸化反応による前記粒子の体積磁化率の変化量と、電子の体積磁化率と基づいて、還元反応によって前記粒子が取得した電子の数、又は酸化反応によって前記粒子から奪われた電子の数を求める、分析装置。Based on the amount of change in the volume magnetization rate of the particles due to the reduction reaction or the oxidation reaction and the volume magnetization rate of the electrons, the processing apparatus may obtain the number of electrons from the particles by the reduction reaction or the particles by the oxidation reaction. An analyzer that finds the number of stolen electrons.
還元後又は酸化後の前記粒子の磁気泳動速度を求め、前記磁気泳動速度に基づいて、還元後又は酸化後の前記粒子の体積磁化率を求める処理装置とWith a processing device that obtains the magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation, and obtains the volume magnetic susceptibility of the particles after reduction or oxidation based on the magnetic migration rate.
を備え、With
前記粒子は、電池の電極材料に用いられる粒子であり、The particles are particles used as an electrode material for a battery, and are particles.
前記処理装置は、前記体積磁化率に基づいて、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータを生成し、The processing apparatus generates data indicating the ease of reduction or the ease of oxidation of the particles based on the volume magnetic susceptibility.
前記処理装置は、前記粒子の還元のし易さ又は酸化のし易さを示すデータとして、還元反応によって前記粒子が取得した電子の数、又は酸化反応によって前記粒子から奪われた電子の数を示すデータを生成し、The processing apparatus uses the number of electrons acquired by the particles by the reduction reaction or the number of electrons deprived of the particles by the oxidation reaction as data indicating the ease of reduction or oxidation of the particles. Generate the data to show
前記処理装置は、還元後又は酸化後の前記粒子の表面の結晶構造と、還元後又は酸化後の前記粒子の比表面積と、還元反応又は酸化反応による前記粒子の酸化数の変化量とに基づいて、還元反応によって前記粒子が取得した電子の数、又は酸化反応によって前記粒子から奪われた電子の数を求める、分析装置。The processing apparatus is based on the crystal structure of the surface of the particles after reduction or oxidation, the specific surface area of the particles after reduction or oxidation, and the amount of change in the oxidation number of the particles due to the reduction reaction or oxidation reaction. An analyzer that determines the number of electrons acquired by the particles by the reduction reaction or the number of electrons deprived of the particles by the oxidation reaction.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017015159A JP6842060B2 (en) | 2017-01-31 | 2017-01-31 | Analytical method and analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017015159A JP6842060B2 (en) | 2017-01-31 | 2017-01-31 | Analytical method and analyzer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2018124110A JP2018124110A (en) | 2018-08-09 |
| JP6842060B2 true JP6842060B2 (en) | 2021-03-17 |
Family
ID=63109568
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2017015159A Active JP6842060B2 (en) | 2017-01-31 | 2017-01-31 | Analytical method and analyzer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6842060B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7078111B2 (en) | 2018-06-05 | 2022-05-31 | 株式会社Ihi | Hydrogen production equipment and hydrogen production method |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102009035416A1 (en) * | 2009-07-31 | 2011-02-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Process for the separation of magnetizable particles from a suspension and associated device |
| JP5551542B2 (en) * | 2009-09-17 | 2014-07-16 | 株式会社オハラ | All-solid battery and method for producing all-solid battery |
| US20120194198A1 (en) * | 2010-12-29 | 2012-08-02 | Timothy Moran | Sensor arrangements for measuring magnetic susceptibility |
| WO2016208724A1 (en) * | 2015-06-26 | 2016-12-29 | 株式会社カワノラボ | Dispersoid analysis method and analysis device |
-
2017
- 2017-01-31 JP JP2017015159A patent/JP6842060B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2018124110A (en) | 2018-08-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Du et al. | A rapid point-of-care optical ion sensing platform based on target-induced dye release from smart hydrogels | |
| JP6726675B2 (en) | Particle analyzer and particle analysis method | |
| Willett | Oxygen sensing for industrial safety—Evolution and new approaches | |
| JP6808200B2 (en) | Particle analyzer and particle analysis method | |
| Geiss et al. | Determination of the transport efficiency in spICP-MS analysis using conventional sample introduction systems: an Interlaboratory comparison study | |
| JP6842060B2 (en) | Analytical method and analyzer | |
| Cho et al. | Rapid iodine sensing on mechanically treated carbon nanofibers | |
| WO2017104662A1 (en) | Particle analysis device and particle analysis method | |
| Wang et al. | Determination of chemical oxygen demand (COD) using nanoparticle-modified voltammetric sensors and electronic tongue principles | |
| CN205517823U (en) | Improve micro -fluidic chip device of resistance impulse method particle detection precision | |
| JPH04115140A (en) | Micro fluid cell | |
| US10656119B2 (en) | Dispersoid particle analyzing method and analyzing apparatus | |
| Rievaj et al. | A review of analytical techniques for the determination and separation of silver ions and its nanoparticles | |
| Zhou et al. | Sensitive detection of uranium in water samples using differential pulse adsorptive stripping voltammetry on glassy carbon electrode | |
| Akimune et al. | Multi-ion sensing of buffer solutions using terahertz chemical microscopy | |
| JP2010101705A (en) | Instrument for measuring physical properties of particles | |
| Ma et al. | Current characteristic signals of aqueous solution transferring through microfluidic channel under non-continuous DC electric field | |
| JP7438543B2 (en) | Evaluation method for electrochemical devices | |
| KR102245068B1 (en) | Portable nano-bubble concentration measurement and analysis device | |
| JPWO2014174818A1 (en) | Oxidizing substance determination method and oxidizing substance determination apparatus | |
| JP2007279008A (en) | Method of evaluating anti-oxidant power, and measuring instrument for evaluation | |
| JP4606261B2 (en) | Particle measurement method | |
| JP5733170B2 (en) | Fuel cell oxygen concentration measuring device | |
| Vitale et al. | Smart Sensor for Lithium Detection: An Environmental Application | |
| JP2007047135A (en) | Gel electrolyte of polarograph type electrode, and preparing method |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170216 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200130 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20201014 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20201104 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201216 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210105 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210202 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6842060 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |