JP6840617B2 - 研磨装置および研磨方法 - Google Patents

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Description

本発明は、ウェーハなどの基板を研磨するための研磨装置および研磨方法に関し、特に、基板の周縁部に研磨具を押し付けて該周縁部を研磨する研磨装置および研磨方法に関する。
基板の周縁部を研磨するために、従来から研磨装置が使用されている。図28は、従来の研磨装置を示す模式図である。図28に示す研磨装置は、ウェーハなどの基板Wを保持する基板ステージ300と、研磨具である研磨テープ305を基板Wに押し付ける研磨ヘッド307とを有している。研磨ヘッド307は、押圧部材308およびエアシリンダ309を有している。研磨ヘッド307は、基台310に固定された支持構造体311により支持されている。
基板Wは、基板ステージ300のステージ面300a上に真空吸引などにより保持され、基板ステージ300とともにその軸心を中心に回転される。研磨具である研磨テープ305は、押圧部材308によって基板Wの周縁部に押し付けられる。押圧部材308はエアシリンダ309に連結されており、研磨テープ305を基板Wに押し付ける力はエアシリンダ309から押圧部材308に付与される。基板Wの研磨中、基板Wの中心に純水が供給され、基板Wの上面は純水で覆われる。研磨テープ305は、純水の存在下で基板Wの周縁部を研磨し、基板Wの周縁部に図29に示すような、直角の断面を有する階段状の窪み312を形成する。
特開2012−213849号公報
しかしながら、押圧部材308が研磨テープ305を基板Wの周縁部に対して押し付けているとき、基板Wからの反力が研磨ヘッド307に作用する。この反力を受けて、研磨ヘッド307および支持構造体311は図28の矢印Xで示す方向に上方に傾き、押圧部材308の全体が傾いてしまう。結果として、図30に示すように、研磨テープ305は基板Wの周縁部に対して斜めに押し当てられ、斜めに研磨された面が基板Wの周縁部に形成されてしまう。
そこで、本発明は、基板研磨時の研磨ヘッドの傾きを防止して、所望の研磨プロファイルを達成することができる研磨装置および研磨方法を提供することを目的とする。
本発明の一態様は、基板を研磨するための研磨装置であって、基板を保持する基板保持部と、研磨具を基板に押し付ける研磨ヘッドと、前記研磨ヘッドを支持する支持構造体と、前記支持構造体が固定されたベース構造体と、前記支持構造体に固定された補強構造体とを備え、前記補強構造体は、前記ベース構造体に固定可能および切り離し可能に構成されたアンカー機構を有し、前記アンカー機構は、前記ベース構造体を押し付けるアクチュエータを備え、前記研磨装置は、前記アクチュエータを操作する操作システムをさらに備え、前記操作システムは、前記研磨ヘッドが前記研磨具を押し付ける研磨荷重に従って変わる力を前記アクチュエータに発生させるように構成されていることを特徴とする研磨装置である。
発明の好ましい態様は、前記アクチュエータは、前記支持構造体よりも外側に配置されていることを特徴とする
発明の好ましい態様は、前記ベース構造体は、前記アクチュエータに向かって突出する突出部を有しており、前記アクチュエータは、前記突出部に対向して配置されていることを特徴とする
本発明の好ましい態様は、前記研磨装置は、前記研磨ヘッドと前記支持構造体とを連結する連結機構をさらに備えており、前記連結機構は、前記研磨ヘッドに固定された第1連結機構と、前記支持構造体に固定された第2連結機構とを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構は互いに固定可能かつ互いに切り離し可能に構成されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は電磁石を備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は磁性部材を備えることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は一対のエアシリンダを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は前記一対のエアシリンダの間に配置された部分を有することを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記支持構造体は、前記研磨ヘッドを移動させる少なくとも1つの研磨ヘッド移動機構を含むことを特徴とする。
本発明の一参考例は、基板を保持する基板保持部と、研磨具を基板に押し付ける研磨ヘッドと、前記研磨ヘッドを支持する支持構造体と、前記支持構造体が固定されたベース構造体と、前記研磨ヘッドと前記支持構造体とを連結する連結機構を備え、前記連結機構は、前記研磨ヘッドに固定された第1連結機構と、前記支持構造体に固定された第2連結機構とを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構は互いに固定可能かつ互いに切り離し可能に構成されていることを特徴とする研磨装置である。
参考例の好ましい態様は、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は電磁石を備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は磁性部材を備えることを特徴とする。
参考例の好ましい態様は、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は一対のエアシリンダを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は前記一対のエアシリンダの間に配置された部分を有することを特徴とする。
参考例の好ましい態様は、前記研磨装置は、前記支持構造体に固定された補強構造体をさらに備えており、前記補強構造体は、前記ベース構造体に固定可能および切り離し可能に構成されたアンカー機構を有していることを特徴とする。
参考例の好ましい態様は、前記アンカー機構は、前記ベース構造体を押し付けるアクチュエータを備えていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記支持構造体は、前記研磨ヘッドを移動させる少なくとも1つの研磨ヘッド移動機構を含むことを特徴とする。
本発明の一態様は、支持構造体に固定されている補強構造体のアンカー機構をベース構造体に固定し、前記アンカー機構は、前記ベース構造体を押し付けるアクチュエータを備えており、基板保持部で基板を回転させながら、かつ研磨ヘッドが研磨具を押し付ける研磨荷重に従って変わる力を前記アクチュエータに発生させながら、前記支持構造体に支持された前記研磨ヘッドで前記研磨具を前記基板に押し付けることで前記基板を研磨し、前記基板の研磨の終了後に、前記アンカー機構を前記ベース構造体から切り離すことを特徴とする研磨方法である。
本発明の好ましい態様は、前記基板を研磨する前に、前記研磨ヘッドに固定されている第1連結機構を、前記支持構造体に固定された第2連結機構に連結し、前記基板の研磨の終了後に、前記第1連結機構を前記第2連結機構から切り離す工程をさらに含むことを特徴とする。
本発明の一参考例は、研磨ヘッドに固定されている第1連結機構を、前記研磨ヘッドを支持する支持構造体に固定された第2連結機構に連結し、基板保持部で基板を回転させながら、前記研磨ヘッドで研磨具を前記基板に押し付けることで前記基板を研磨し、前記基板の研磨の終了後に、前記第1連結機構を前記第2連結機構から切り離すことを特徴とする研磨方法である。
参考例の好ましい態様は、前記基板を研磨する前に、前記支持構造体に固定されている補強構造体のアンカー機構をベース構造体に固定し、前記基板の研磨の終了後に、前記アンカー機構を前記ベース構造体から切り離す工程をさらに含むことを特徴とする。
本発明によれば、アンカー機構および/または連結機構により支持構造体が補強される。したがって、基板研磨中の研磨ヘッドの姿勢が安定し、所望の研磨プロファイルを得ることができる。
図1(a)および図1(b)は、基板の周縁部を示す拡大断面図である。 本発明の一実施形態に係る研磨装置を示す平面図である。 図2のF−F線断面図である。 図3の矢印Gで示す方向から見た図である。 研磨ヘッドおよび研磨テープ供給機構の平面図である。 研磨ヘッドおよび研磨テープ供給機構の正面図である。 図6に示すH−H線断面図である。 図6に示す研磨テープ供給機構の側面図である。 図6に示す研磨ヘッドを矢印Iで示す方向から見た縦断面図である。 研磨位置にある研磨ヘッドおよび研磨テープ供給機構の平面図である。 研磨位置にある押圧部材、研磨テープ、および基板を横方向から見た模式図である。 押圧部材により研磨テープを基板に押し付けている状態を示す図である。 図2の矢印Jで示す方向から見た研磨装置を示す模式図である。 第1アクチュエータおよび第2アクチュエータを操作するための操作システムを示す模式図である。 操作システムの他の実施形態を示す模式図である。 操作システムのさらに他の実施形態を示す模式図である。 補強構造体の他の実施形態を示す図である。 補強構造体のさらに他の実施形態を示す図である。 連結機構を備えた研磨装置の一実施形態を示す模式図である。 図19の矢印Lで示す方向から見た連結機構を示す模式図である。 連結機構の他の実施形態を示す模式図である。 図22(a)乃至図22(c)は、アンカー機構および連結機構の動作の一実施形態を説明する模式図である。 図23(a)乃至図23(c)は、アンカー機構および連結機構の動作の実施形態を説明する模式図である。 図24(a)乃至図24(c)は、アンカー機構および連結機構の動作の実施形態を説明する模式図である。 図25(a)および図25(b)は、アンカー機構および連結機構の動作の実施形態を説明する模式図である。 研磨具として砥石を備えた研磨ヘッドの一実施形態を示す図である。 研磨具として砥石を備えた研磨ヘッドの一実施形態を示す図である。 従来の研磨装置を示す模式図である。 基板の周縁部に形成された階段状の窪みを示す断面図である。 基板の周縁部に対して斜めに押し当てられた研磨テープを示す図である。
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
本明細書では、基板の周縁部を、基板の最外周に位置するベベル部と、このベベル部の半径方向内側に位置するトップエッジ部およびボトムエッジ部とを含む領域として定義する。基板の例としては、ウェーハが挙げられる。
図1(a)および図1(b)は、基板の周縁部を示す拡大断面図である。より詳しくは、図1(a)はいわゆるストレート型の基板の断面図であり、図1(b)はいわゆるラウンド型の基板の断面図である。図1(a)の基板Wにおいて、ベベル部は、上側傾斜部(上側ベベル部)P、下側傾斜部(下側ベベル部)Q、および側部(アペックス)Rから構成される基板Wの最外周面(符号Bで示す)である。図1(b)の基板Wにおいては、ベベル部は、基板Wの最外周面を構成する、湾曲した断面を有する部分(符号Bで示す)である。トップエッジ部は、ベベル部Bよりも半径方向内側に位置する平坦部E1である。ボトムエッジ部は、トップエッジ部とは反対側に位置し、ベベル部Bよりも半径方向内側に位置する平坦部E2である。トップエッジ部E1は、デバイスが形成された領域を含むこともある。
図2は、本発明の一実施形態に係る研磨装置を示す平面図であり、図3は、図2のF−F線断面図であり、図4は、図3の矢印Gで示す方向から見た図である。
本実施形態に係る研磨装置は、ウェーハなどの基板Wを保持し、基板Wを回転させる基板保持部3と、基板保持部3上の基板Wを研磨する研磨ユニット25を備えている。図2および図3においては、基板保持部3が基板Wを保持している状態を示している。基板保持部3は、基板Wの下面を真空吸引により保持する保持ステージ4と、保持ステージ4の中央部に連結された中空シャフト5と、この中空シャフト5を回転させるモータM1とを備えている。基板Wは、基板Wの中心が中空シャフト5の軸心CPと一致するように保持ステージ4の上に載置される。
図2に示すように、研磨ユニット25は、研磨具としての研磨テープ38を用いて基板Wの周縁部を研磨する研磨ヘッド50と、研磨テープ38を研磨ヘッド50に供給し、かつ研磨ヘッド50から研磨テープ38を回収する研磨テープ供給機構70を備えている。研磨ヘッド50は、研磨テープ38の研磨面を基板Wのトップエッジ部に押し当てて基板Wの周縁部に階段状の窪みを形成するように構成されている。研磨ユニット25および保持ステージ4は、隔壁20によって形成された研磨室22内に配置されている。
図3に示すように、隔壁20はベースプレート21上に固定されており、基板保持部3の下部は、隔壁20の底部およびベースプレート21を貫通して延びている。本実施形態では、隔壁20の底面とベースプレート21によりベース構造体23が構成されている。このベース構造体23には、研磨ヘッド50を支持する支持構造体24が固定されている。隔壁20は、基板Wを研磨室22に搬入および搬出するための搬送口20aを備えている。この搬送口20aは、シャッター20bにより閉じることが可能となっている。
中空シャフト5は、ボールスプライン軸受(直動軸受)6によって上下動自在に支持されている。保持ステージ4の上面には溝4aが形成されており、この溝4aは、中空シャフト5を通って延びる連通路7に連通している。連通路7は中空シャフト5の下端に取り付けられたロータリジョイント8を介して真空ライン9に接続されている。連通路7は、処理後の基板Wを保持ステージ4から離脱させるための窒素ガス供給ライン10にも接続されている。これらの真空ライン9と窒素ガス供給ライン10を切り替えることによって、基板Wを保持ステージ4の上面に保持し、離脱させる。
中空シャフト5は、この中空シャフト5に連結されたプーリーp1と、モータM1の回転軸に取り付けられたプーリーp2と、これらプーリーp1,p2に掛けられたベルトb1を介してモータM1によって回転される。ボールスプライン軸受6は、中空シャフト5がその長手方向へ自由に移動することを許容する軸受である。ボールスプライン軸受6は円筒状のケーシング12に固定されている。したがって、中空シャフト5は、ケーシング12に対して上下に直線移動が可能であり、中空シャフト5とケーシング12は一体に回転する。中空シャフト5は、エアシリンダ(昇降機構)15に連結されており、エアシリンダ15によって中空シャフト5および保持ステージ4が上昇および下降できるようになっている。
ケーシング12と、その外側に同心上に配置された円筒状のケーシング14との間にはラジアル軸受18が介装されており、ケーシング12は軸受18によって回転自在に支持されている。このような構成により、基板保持部3は、その軸心CPを中心に基板Wを回転させ、かつ基板Wを軸心CPに沿って上昇下降させることができる。
基板保持部3の外側には、基板Wの周縁部を研磨する研磨ユニット25が配置されている。この研磨ユニット25は、研磨室22の内部に配置されている。図4に示すように、研磨ユニット25の全体は、設置台27の上に固定されている。この設置台27は支持ブロック28を介して研磨ヘッド移動機構30に連結されている。研磨ヘッド移動機構30は、ベースプレート21に固定されている。本実施形態では、研磨ヘッド50を支持する支持構造体24は、設置台27、支持ブロック28、および研磨ヘッド移動機構30を含む。支持構造体24は、隔壁20の底部およびベースプレート21から構成されるベース構造体23を貫通して延びている。支持構造体24の端部を構成する研磨ヘッド移動機構30は、ベース構造体23の下面、すなわちベースプレート21の下面に固定されている。
研磨ヘッド移動機構30は、支持ブロック28をスライド自在に保持するボールねじ機構31と、このボールねじ機構31を駆動するモータ32と、ボールねじ機構31とモータ32とを連結する動力伝達機構33とを備えている。ボールねじ機構31は、支持ブロック28の移動方向をガイドする直動ガイド(図示せず)を備えている。動力伝達機構33は、プーリーおよびベルトなどから構成されている。モータ32を作動させると、ボールねじ機構31が支持ブロック28を図4の矢印で示す方向に動かし、研磨ユニット25全体が基板Wの接線方向に移動する。この研磨ヘッド移動機構30は、研磨ユニット25を所定の振幅および所定の速度で揺動させるオシレーション機構としても機能する。本実施形態では、研磨ヘッド移動機構30は、研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70を含む研磨ユニット25を第1の方向に移動させる第1研磨ヘッド移動機構を構成する。
図5は研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70の平面図であり、図6は研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70の正面図であり、図7は図6に示すH−H線断面図であり、図8は図6に示す研磨テープ供給機構70の側面図であり、図9は図6に示す研磨ヘッド50を矢印Iで示す方向から見た縦断面図である。
設置台27の上には、基板Wの半径方向と平行に延びる2つの直動ガイド40A,40Bが配置されている。これら直動ガイド40A,40Bは互いに平行に配置されている。研磨ヘッド50と直動ガイド40Aとは、連結ブロック41Aを介して連結されている。さらに、研磨ヘッド50は、該研磨ヘッド50を直動ガイド40Aに沿って(すなわち、基板Wの半径方向に)移動させるサーボモータ42Aおよびボールねじ機構43Aに連結されている。より具体的には、ボールねじ機構43Aは連結ブロック41Aに固定されており、サーボモータ42Aは設置台27に支持部材44Aを介して固定されている。サーボモータ42Aは、ボールねじ機構43Aのねじ軸を回転させるように構成されており、これにより、連結ブロック41Aおよびこれに連結された研磨ヘッド50は直動ガイド40Aに沿って移動される。本実施形態では、サーボモータ42A、ボールねじ機構43A、および直動ガイド40Aは、研磨ヘッド50を上記第1の方向と垂直な第2の方向に移動させる第2研磨ヘッド移動機構を構成する。
同様に、研磨テープ供給機構70と直動ガイド40Bとは、連結ブロック41Bを介して連結されている。さらに、研磨テープ供給機構70は、該研磨テープ供給機構70を直動ガイド40Bに沿って(すなわち、基板Wの半径方向に)移動させるサーボモータ42Bおよびボールねじ機構43Bに連結されている。より具体的には、ボールねじ機構43Bは連結ブロック41Bに固定されており、サーボモータ42Bは設置台27に支持部材44Bを介して固定されている。サーボモータ42Bは、ボールねじ機構43Bのねじ軸を回転させるように構成されており、これにより、連結ブロック41Bおよびこれに連結された研磨テープ供給機構70は直動ガイド40Bに沿って移動される。本実施形態では、サーボモータ42B、ボールねじ機構43B、および直動ガイド40Bは、研磨テープ供給機構70を移動させる研磨具移動機構を構成する。
図9に示すように、研磨ヘッド50は、研磨テープ38を基板Wに対して押し付けるための押圧部材51と、押圧部材51を保持する押圧部材ホルダー52と、この押圧部材ホルダー52および押圧部材51を上下動させる押圧装置としてのエアシリンダ53とを備えている。エアシリンダ53は、保持部材55に保持されている。さらに、保持部材55は、連結ブロック41Aに固定された据付部材57に固定されている。押圧部材51が研磨テープ38を基板Wに対して押し付ける研磨荷重はエアシリンダ53によって発生される。
押圧部材ホルダー52は、鉛直方向に延びる直動ガイド58を介して据付部材57に連結されている。エアシリンダ53により押圧部材ホルダー52を押し下げると、押圧部材51は直動ガイド58に沿って下方に移動し、押圧部材51は研磨テープ38を基板Wの周縁部に対して押し付ける。さらに、エアシリンダ53は、直動ガイド58に沿って押圧部材ホルダー52および押圧部材51を上昇させることができる。押圧部材51は、PEEK(ポリエーテルエーテルケトン)のなどの樹脂、ステンレス鋼などの金属、またはSiC(炭化ケイ素)などのセラミックから形成されている。
押圧部材51には、鉛直方向に延びる複数の貫通孔51aを有しており、この貫通孔51aには真空ライン60が接続されている。真空ライン60には、図示しない弁が設けられており、弁を開くことにより押圧部材51の貫通孔51a内に真空が形成されるようになっている。押圧部材51の下面が研磨テープ38の上面に接触した状態で貫通孔51aに真空が形成されると、研磨テープ38の上面は押圧部材51の下面に保持される。なお、押圧部材51の貫通孔51aは1つであってもよい。基板Wの研磨中は貫通孔51a内に真空が形成され、研磨テープ38は押圧部材51の下面に保持される。
押圧部材ホルダー52、エアシリンダ53、保持部材55、および据付部材57は、ボックス62内に収容されている。押圧部材ホルダー52の下部はボックス62の底部から突出しており、押圧部材ホルダー52の下部に押圧部材51が取り付けられている。
研磨テープ供給機構70は、研磨テープ38を供給する供給リール71と、研磨テープ38を回収する回収リール72とを備えている。供給リール71および回収リール72は、それぞれテンションモータ73,74に連結されている。これらテンションモータ73,74は、所定のトルクを供給リール71および回収リール72に与えることにより、研磨テープ38に所定のテンションをかけることができるようになっている。
供給リール71と回収リール72との間には、研磨テープ送り機構76が設けられている。この研磨テープ送り機構76は、研磨テープ38を送るテープ送りローラ77と、研磨テープ38をテープ送りローラ77に対して押し付けるニップローラ78と、テープ送りローラ77を回転させるテープ送りモータ79とを備えている。研磨テープ38はニップローラ78とテープ送りローラ77との間に挟まれている。テープ送りローラ77を図6の矢印で示す方向に回転させることにより、研磨テープ38は供給リール71から回収リール72に送られる。
テンションモータ73,74およびテープ送りモータ79は、基台81に設置されている。この基台81は連結ブロック41Bに固定されている。基台81は、供給リール71および回収リール72から研磨ヘッド50に向かって延びる2本の支持アーム82,83を有している。支持アーム82,83には、研磨テープ38を支持する複数のガイドローラ84A,84B,84C,84D,84Eが取り付けられている。研磨テープ38はこれらのガイドローラ84A〜84Eにより、研磨ヘッド50を囲むように案内される。
研磨テープ38の延びる方向は、上から見たときに、基板Wの半径方向に対して垂直である。研磨ヘッド50の下方に位置する2つのガイドローラ84D,84Eは、研磨テープ38の研磨面が基板Wの表面(上面)と平行となるように研磨テープ38を支持している。さらに、これら2つのガイドローラ84D,84Eの間にある研磨テープ38は、基板Wの接線方向と平行に延びている。研磨テープ38と基板Wとの間には、鉛直方向において隙間が形成されている。
研磨装置は、研磨テープ38の縁部の位置を検出するテープエッジ検出センサ100をさらに備えている。テープエッジ検出センサ100は、透過型の光学式センサである。テープエッジ検出センサ100は、投光部100Aと受光部100Bとを有している。投光部100Aは、図5に示すように、設置台27に固定されており、受光部100Bは、図3に示すように、ベースプレート21に固定されている。このテープエッジ検出センサ100は、受光部100Bによって受光される光の量から研磨テープ38の縁部の位置を検出するように構成されている。
基板Wを研磨するときは、図10に示すように、研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70は、サーボモータ42A,42Bおよびボールねじ機構43A,43Bによりそれぞれ所定の研磨位置にまで移動される。研磨位置にある研磨テープ38は、基板Wの接線方向に延びている。図11は、研磨位置にある押圧部材51、研磨テープ38、および基板Wを横方向から見た模式図である。図11に示すように、研磨テープ38は、基板Wの周縁部の上方に位置し、さらに研磨テープ38の上方に押圧部材51が位置する。
図12は、押圧部材51により研磨テープ38を基板Wに押し付けている状態を示す図である。本実施形態では、図12に示すように、研磨位置にある押圧部材51の縁部と研磨テープ38の縁部は一致している。すなわち、押圧部材51の縁部と研磨テープ38の縁部が一致するように、研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70がそれぞれ独立に研磨位置に移動される。一実施形態では、研磨テープ38の縁部は、押圧部材51の縁部から突出してもよい。
次に、上述のように構成された研磨装置の研磨動作について説明する。以下に説明する研磨装置の動作は、図2に示す動作制御部11によって制御される。基板Wは、その表面に形成されている膜(例えば、デバイス層)が上を向くように基板保持部3に保持され、さらに基板Wは、基板保持部3の軸心CPを中心に回転される。回転する基板Wの中心には、図示しない液体供給ノズルから液体(例えば、純水)が供給される。研磨ヘッド50の押圧部材51および研磨テープ38は、図11に示すように、それぞれ所定の研磨位置にまで移動される。
次に、エアシリンダ53(図9参照)は、押圧部材51を押し下げ、図12に示すように、押圧部材51で研磨テープ38を基板Wの周縁部に所定の研磨荷重で押し付ける。研磨荷重は、エアシリンダ53に供給する気体の圧力により調整することができる。回転する基板Wと、研磨テープ38との摺接により、基板Wの周縁部が研磨される。すなわち、研磨テープ38は、図29に示すような、直角の断面を有する階段状の窪み312を形成することができる。
基板Wの研磨レートを上げるために、基板Wの研磨中に研磨ヘッド移動機構30により研磨テープ38を基板Wの接線方向に沿って揺動させてもよい。研磨中は、回転する基板Wの中心部に液体(例えば純水)が供給され、基板Wは水の存在下で研磨される。基板Wに供給された液体は、遠心力により基板Wの上面全体に広がり、これにより基板Wに形成されたデバイスに研磨屑が付着してしまうことが防止される。研磨テープ38は、細長い帯状の研磨具である。基板Wを研磨するための研磨具として、研磨テープ38に代えて、砥石を用いてもよい。
図13は、図2の矢印Jで示す方向から見た研磨装置を示す模式図である。図13に示すように、研磨ヘッド50は、支持構造体24に支持されている。本実施形態では、支持構造体24は、連結ブロック41A(図6参照)、直動ガイド40A(図6参照)、設置台27(図6参照)、支持ブロック28、および研磨ヘッド移動機構30により構成されている。支持構造体24の一端は研磨ヘッド50に固定され、支持構造体24の他端はベース構造体23のベースプレート21に固定されている。
研磨装置は、支持構造体24に固定された補強構造体110を備えている。この補強構造体110は、支持構造体24に固定されたアンカーアーム111と、アンカーアーム111に固定されたアンカー機構112を有している。アンカー機構112は、ベース構造体23に固定可能および切り離し可能に構成されている。本実施形態では、アンカー機構112は、ベース構造体23を押し付けるアクチュエータとしての第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120を備えている。第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、アンカーアーム111の両端に固定されている。一実施形態では、ベース構造体23を押し付けるアクチュエータは、サーボモータとボールねじ機構との組み合わせでもよい。
第1エアシリンダ114の加圧室115および背圧室116にはそれぞれ圧縮気体(例えば、圧縮空気)が供給される。同様に、第2エアシリンダ120の加圧室121および背圧室122にはそれぞれ圧縮気体(例えば、圧縮空気)が供給される。第1エアシリンダ114は、そのピストンロッドに固定された第1アンカー部材117を備えており、第2エアシリンダ120は、そのピストンロッドに固定された第2アンカー部材123を備えている。
第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121内の圧縮気体の圧力が、背圧室116,122内の圧縮気体よりも高いとき、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、第1アンカー部材117および第2アンカー部材123でベース構造体23の上面(隔壁20の底部)を押し付け、これによって、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120自体をベース構造体23に固定することができる。第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121内の圧縮気体の圧力が、背圧室116,122内の圧縮気体よりも低いとき、第1アンカー部材117および第2アンカー部材123はベース構造体23から離れ、これにより第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120はベース構造体23から切り離される。したがって、研磨ヘッド移動機構30は、研磨ユニット25およびアンカー機構112を基板Wの接線方向に移動させることができる。
第1アクチュエータである第1エアシリンダ114は、支持構造体24よりも外側に配置されており、第2アクチュエータである第2エアシリンダ120は、支持構造体24よりも内側に配置されている。より具体的には、基板保持部3の軸心CPから垂直に延び、かつ軸心CPと押圧部材51の中心とを結ぶ直線Kの延びる方向に関して、第1エアシリンダ114は、支持構造体24よりも外側に配置され、第2エアシリンダ120は、支持構造体24よりも内側に配置されている。第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、ベース構造体23の上、または上方に位置している。
圧縮気体(例えば圧縮空気)は、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121および背圧室116,122の両方に供給される。加圧室115,121内の圧縮気体の圧力が、背圧室116,122内の圧縮気体よりも低いとき、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、ベース構造体23から離れる。加圧室115,121内の圧縮気体の圧力が、背圧室116,122内の圧縮気体よりも高いとき、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、ベース構造体23の上面を押し付け、これにより支持構造体24が補強構造体110によって補強される。結果として、支持構造体24に支持されている研磨ヘッド50の姿勢が安定する。よって、研磨ヘッド50は、基板Wを研磨して所望の研磨プロファイルを形成することができる。より具体的には、研磨ヘッド50は、図29に示すような直角の断面を有する階段状の窪み312を基板Wの周縁部に形成することができる。
特に、第1エアシリンダ114は、基板Wから研磨ヘッド50に作用する反力をキャンセルすることができる。その為、一実施形態では、第1エアシリンダ114のみを設け、第2エアシリンダ120は省略してもよい。第1エアシリンダ114は、基板Wから研磨ヘッド50に作用する反力をキャンセルすることができるので、結果として、支持構造体24に支持されている研磨ヘッド50の姿勢を安定させることができる。
図14は、第1アクチュエータである第1エアシリンダ114および第2アクチュエータである第2エアシリンダ120を操作するための操作システムを示す模式図である。この操作システムは、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120を操作することができる圧縮気体供給システムである。操作システムは、上述した動作制御部11を含んで構成される。
図14に示すように、操作システムは、研磨装置が設置されている工場に設けられた圧縮気体供給ライン(例えば、圧縮空気供給ライン)130に接続された加圧側気体供給ライン131と、背圧側気体供給ライン132を備えている。加圧側気体供給ライン131は、主加圧側ライン131aと、この主加圧側ライン131aから分岐する第1加圧側分岐ライン131bおよび第2加圧側分岐ライン131cを有する。主加圧側ライン131aは圧縮気体供給ライン130に接続されている。第1加圧側分岐ライン131bは、第1エアシリンダ114の加圧室115に接続され、第2加圧側分岐ライン131cは第2エアシリンダ120の加圧室121に接続されている。主加圧側ライン131aには加圧側圧力レギュレータ134および加圧側圧力センサ135が取り付けられている。第1加圧側分岐ライン131bには第1加圧側開閉弁137が取り付けられ、第2加圧側分岐ライン131cには第2加圧側開閉弁138が取り付けられている。
背圧側気体供給ライン132は、主背圧側ライン132aと、この主背圧側ライン132aから分岐する第1背圧側分岐ライン132bおよび第2背圧側分岐ライン132cを有する。主背圧側ライン132aは圧縮気体供給ライン130に接続されている。第1背圧側分岐ライン132bは、第1エアシリンダ114の背圧室116に接続され、第2背圧側分岐ライン132cは第2エアシリンダ120の背圧室122に接続されている。主背圧側ライン132aには背圧側圧力レギュレータ140および背圧側圧力センサ141が取り付けられている。第1背圧側分岐ライン132bには第1背圧側開閉弁143が取り付けられ、第2背圧側分岐ライン132cには第2背圧側開閉弁144が取り付けられている。
加圧側圧力レギュレータ134、第1加圧側開閉弁137、第2加圧側開閉弁138、背圧側圧力レギュレータ140、第1背圧側開閉弁143、および第2背圧側開閉弁144は、動作制御部11に接続されており、これら圧力レギュレータ134,140および弁137,138,143,144の動作は動作制御部11によって制御される。圧力センサ135,141は省略してもよい。
動作制御部11が第1加圧側開閉弁137および第2加圧側開閉弁138を開くと、圧縮気体は主加圧側ライン131a、第1加圧側分岐ライン131b、および第2加圧側分岐ライン131cを通って第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121に供給される。動作制御部11は、加圧側目標圧力の指令値を加圧側圧力レギュレータ134に送信し、加圧側圧力レギュレータ134は、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121内の圧縮気体の圧力が加圧側目標圧力に維持されるように圧縮気体の圧力を調整する。
動作制御部11が第1背圧側開閉弁143および第2背圧側開閉弁144を開くと、圧縮気体は主背圧側ライン132a、第1背圧側分岐ライン132b、および第2背圧側分岐ライン132cを通って第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の背圧室116,122に供給される。動作制御部11は、背圧側目標圧力の指令値を背圧側圧力レギュレータ140に送信し、背圧側圧力レギュレータ140は、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の背圧室116,122内の圧縮気体の圧力が背圧側目標圧力に維持されるように圧縮気体の圧力を調整する。
第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121に圧縮気体が供給されている間、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の背圧室116,122にも圧縮気体が供給される。これは、圧縮気体供給ライン130から供給される圧縮気体の圧力の変動や、各エアシリンダ114,120のピストンロッドの位置変動などの外乱にかかわらず、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120が安定した力を発生することを可能とするためである。
一実施形態では、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120をベース構造体23に固定しているとき、圧縮気体を加圧室115,121に供給し、背圧室116,122には供給しなくてもよい。また、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120をベース構造体23から離間させるとき、圧縮気体を背圧室116,122に供給し、加圧室115,121には供給しなくてもよい。
第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121には同じ圧力の圧縮気体が供給され、かつ第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の背圧室116,122には同じ圧力の圧縮気体が供給されるので、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、同じ力でベース構造体23を押し付ける。
第1背圧側開閉弁143および第2背圧側開閉弁144は、常時開いた状態に維持されていてもよい。動作制御部11は、第1背圧側開閉弁143および第2背圧側開閉弁144を同時に開き、同時に閉じることが好ましい。
動作制御部11は、上述した加圧側目標圧力および/または背圧側目標圧力を、押圧部材51が研磨テープ38を基板Wに押し付ける研磨荷重に従って変化させてもよい。例えば、基板Wの研磨中に動作制御部11がエアシリンダ53に指令を発して研磨荷重を上げるときは、動作制御部11は加圧側目標圧力を研磨荷重の増加に従って上げてもよい。このような操作により、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、研磨荷重に従って変化する力でベース構造体23を押し付けることができる。結果として、基板Wの研磨中の研磨ヘッド50の姿勢をより安定させることができる。
図15は、操作システムの他の実施形態を示す模式図である。特に説明しない本実施形態の構成および動作は、上述した図14に示す実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。本実施形態の操作システムは、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120が発生する力をそれぞれ独立に変化させることができる圧縮気体供給システムである。
本実施形態の操作システムは、上述した主加圧側ライン131a、第1加圧側分岐ライン131b、および第2加圧側分岐ライン131cに代えて、圧縮気体供給ライン130と第1エアシリンダ114の加圧室115に接続された第1加圧側ライン131Aと、圧縮気体供給ライン130と第2エアシリンダ120の加圧室121に接続された第2加圧側ライン131Bを備えている。第1加圧側ライン131Aには、第1加圧側圧力レギュレータ134A、第1加圧側圧力センサ135A、および第1加圧側開閉弁137が取り付けられている。第2加圧側ライン131Bには、第2加圧側圧力レギュレータ134B、第2加圧側圧力センサ135B、および第2加圧側開閉弁138が取り付けられている。圧力センサ135A,135Bは省略してもよい。第1加圧側圧力レギュレータ134Aは、第1エアシリンダ114の加圧室115内の圧縮気体の圧力を調整し、第2加圧側圧力レギュレータ134Bは、第2エアシリンダ120の加圧室121内の圧縮気体の圧力を調整するように構成される。
第1加圧側圧力レギュレータ134Aおよび第2加圧側圧力レギュレータ134Bは、動作制御部11に接続されている。動作制御部11は、第1加圧側目標圧力の指令値を第1加圧側圧力レギュレータ134Aに送信し、第1加圧側圧力レギュレータ134Aは、第1エアシリンダ114の加圧室115内の圧縮気体の圧力が第1加圧側目標圧力に維持されるように圧縮気体の圧力を調整する。同様に、動作制御部11は、第2加圧側目標圧力の指令値を第2加圧側圧力レギュレータ134Bに送信し、第2加圧側圧力レギュレータ134Bは、第2エアシリンダ120の加圧室121内の圧縮気体の圧力が第2加圧側目標圧力に維持されるように圧縮気体の圧力を調整する。このような構成を有する操作システムは、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120がベース構造体23を押し付ける力を独立に制御することができる。
動作制御部11は、第1加圧側目標圧力、および/または第2加圧側目標圧力、および/または背圧側目標圧力を、押圧部材51が研磨テープ38を基板Wに押し付ける研磨荷重に従って変化させてもよい。例えば、基板Wの研磨中に動作制御部11がエアシリンダ53に指令を発して研磨荷重を上げるときは、動作制御部11は第1加圧側目標圧力を研磨荷重の増加に従って上げてもよい。このような操作により、第1エアシリンダ114および/または第2エアシリンダ120は、研磨荷重に従って変化する力でベース構造体23を押し付けることができる。結果として、基板Wの研磨中の研磨ヘッド50の姿勢をより安定させることができる。
図16は、操作システムのさらに他の実施形態を示す模式図である。特に説明しない本実施形態の構成および動作は、上述した図15に示す実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。本実施形態の操作システムは、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120が発生する力をそれぞれ独立に変化させることができる圧縮気体供給システムである。
本実施形態の操作システムは、上述した主背圧側ライン132a、第1背圧側分岐ライン132b、および第2背圧側分岐ライン132cに代えて、圧縮気体供給ライン130と第1エアシリンダ114の背圧室116に接続された第1背圧側ライン132Aと、圧縮気体供給ライン130と第2エアシリンダ120の背圧室122に接続された第2背圧側ライン132Bを備えている。第1背圧側ライン132Aには、第1背圧側圧力レギュレータ140A,第1背圧側圧力センサ141A,および第1背圧側開閉弁143が取り付けられている。第2背圧側ライン132Bには、第2背圧側圧力レギュレータ140B,第2背圧側圧力センサ141B,および第2背圧側開閉弁144が取り付けられている。圧力センサ141A,141Bは省略してもよい。第1背圧側圧力レギュレータ140Aは、第1エアシリンダ114の背圧室116内の圧縮気体の圧力を調整し、第2背圧側圧力レギュレータ140Bは、第2エアシリンダ120の背圧室122内の圧縮気体の圧力を調整するように構成される。
第1背圧側圧力レギュレータ140Aおよび第2背圧側圧力レギュレータ140Bは、動作制御部11に接続されている。動作制御部11は、第1背圧側目標圧力の指令値を第1背圧側圧力レギュレータ140Aに送信し、第1背圧側圧力レギュレータ140Aは、第1エアシリンダ114の背圧室116内の圧縮気体の圧力が第1背圧側目標圧力に維持されるように圧縮気体の圧力を調整する。同様に、動作制御部11は、第2背圧側目標圧力の指令値を第2背圧側圧力レギュレータ140Bに送信し、第2背圧側圧力レギュレータ140Bは、第2エアシリンダ120の背圧室122内の圧縮気体の圧力が第2背圧側目標圧力に維持されるように圧縮気体の圧力を調整する。このような構成を有する操作システムは、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120がベース構造体23を押し付ける力を独立に制御することができる。
図17は、補強構造体110の他の実施形態を示す図である。特に説明しない本実施形態の構成および動作は、上述した図13に示す実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。本実施形態の補強構造体110は、支持構造体24よりも内側に配置された第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120を備えている。第1エアシリンダ114は第2エアシリンダ120の下方に位置し、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は互いに対向している。第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120はアンカーアーム111に固定され、アンカーアーム111は支持構造体24に固定されている。
ベース構造体23は、ベースプレート21から第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120に向かって突出する突出部150を備えている。この突出部150の端部はベース構造体23のベースプレート21に固定されている。突出部150は水平部150aを有しており、この水平部150aは第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の間に位置している。より具体的には、突出部150の水平部150aは、第1エアシリンダ114の第1アンカー部材117および第2エアシリンダ120の第2アンカー部材123の間に配置されている。第1エアシリンダ114は水平部150aの下方に位置し、水平部150aの下面に対向している。第2エアシリンダ120は水平部150aの上方に位置し、水平部150aの上面に対向している。
第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121内の圧縮気体の圧力が、背圧室116,122内の圧縮気体よりも高いとき、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120は、第1アンカー部材117および第2アンカー部材123で突出部150の水平部150aを挟み、これによって、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120自体をベース構造体23に固定することができる。第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120の加圧室115,121内の圧縮気体の圧力が、背圧室116,122内の圧縮気体よりも低いとき、第1アンカー部材117および第2アンカー部材123は突出部150の水平部150aから離れ、これにより第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120はベース構造体23から切り離される。したがって、研磨ヘッド移動機構30は、研磨ユニット25およびアンカー機構112を基板Wの接線方向に移動させることができる。
図18は、補強構造体110のさらに他の実施形態を示す図である。本実施形態の補強構造体110は、支持構造体24よりも外側に配置された第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120を備えている。第1エアシリンダ114は第2エアシリンダ120の上方に位置している。より具体的には、第1エアシリンダ114は水平部150aの上方に位置し、水平部150aの上面に対向している。第2エアシリンダ120は水平部150aの下方に位置し、水平部150aの下面に対向している。本実施形態のその他の構成および動作は、上述した図17に示す実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。
図17および図18において、一実施形態では、第1エアシリンダ114のみを設け、第2エアシリンダ120は省略してもよい。第1エアシリンダ114は、基板Wから研磨ヘッド50に作用する反力をキャンセルすることができるので、結果として、支持構造体24に支持されている研磨ヘッド50の姿勢を安定させることができる。
図19は、連結機構を備えた研磨装置の一実施形態を示す模式図である。本実施形態の研磨装置は、上述したアンカー機構112に加えて、研磨ヘッド50と支持構造体24とを連結する連結機構160をさらに備えている。図19では、上述したアンカー機構112の図示は省略されている。連結機構160は、研磨ヘッド50の据付部材57に固定された第1連結機構161と、支持構造体24の支持ブロック28に固定された第2連結機構162とを備える。第1連結機構161および第2連結機構162は互いに固定可能かつ互いに分離可能に構成されている。連結機構160は、支持構造体24よりも内側に配置されている。より具体的には、基板保持部3の軸心CPから垂直に延び、かつ軸心CPと押圧部材51の中心とを結ぶ直線Kの延びる方向に関して、連結機構160は、支持構造体24よりも内側に配置されている。一実施形態では、連結機構160は、支持構造体24よりも外側に配置されてもよい。
図20は図19の矢印Lで示す方向から見た連結機構160を示す模式図である。図20に示すように、本実施形態では、第1連結機構161は磁性部材164を備えており、第2連結機構162は電磁石165を備えている。第1連結機構161の全体が磁性部材から構成されてもよい。一実施形態では、第1連結機構161は電磁石165を備え、第2連結機構162は磁性部材164を備えてもよい。この場合も、第2連結機構162の全体が磁性部材から構成されてもよい。
電磁石165の動作は動作制御部11によって制御される。磁性部材164はステンレス鋼などの耐腐食性のある金属から構成されている。電磁石165は、磁性部材164に対向する位置に配置されている。基板Wの上面に供給された液体(例えば純水)が電磁石165に接触すると、電磁石165が錆びてしまい、基板Wのコンタミネーションの原因ともなりうる。そこで、電磁石165の錆を防止するために、電磁石165が磁性部材164と接触する面は、ユニクロ処理などの防錆処理が施された面から構成されることが好ましい。
電磁石165が作動していないとき、第1連結機構161と第2連結機構162とは互いに切り離されている。したがって、研磨ヘッド50は第2研磨ヘッド移動機構(サーボモータ42A、ボールねじ機構43A、および直動ガイド40A)によって基板保持部3の軸心CPに近接する方向および軸心CPから離間する方向に移動することができる。動作制御部11が電磁石165を作動させると、電磁石165は磁性部材164を引き寄せ、第1連結機構161と第2連結機構162とが互いに固定される。
基板Wを研磨しているとき、第2研磨ヘッド移動機構を構成する直動ガイド40Aの可動部は、研磨荷重の反力を受けて僅かに変位することがある。結果として、研磨ヘッド50が傾くおそれがある。本実施形態によれば、押圧部材51が研磨位置にあるとき(例えば、基板Wの研磨を開始する直前に)電磁石165を作動させることにより、基板Wを研磨しているときの研磨ヘッド50の姿勢を安定させることができる。基板Wの研磨が終了した後、動作制御部11は電磁石165の動作を停止させ、第1連結機構161と第2連結機構162とを互いに切り離す。
図21は、連結機構160の他の実施形態を示す模式図である。特に説明しない本実施形態の構成および動作は、図20に示す実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。本実施形態では、第1連結機構161は水平部166を備えており、第2連結機構162はアームブロック168、第3エアシリンダ170、および第4エアシリンダ171を備えている。アームブロック168はL字形状を有しており、かつ支持構造体24の支持ブロック28に固定されている。第3エアシリンダ170はアームブロック168に固定され、第4エアシリンダ171は支持構造体24の支持ブロック28に固定されている。
第3エアシリンダ170は第4エアシリンダ171の上方に配置されており、第1連結機構161の水平部166は第3エアシリンダ170と第4エアシリンダ171との間に位置している。一実施形態では、第2連結機構162は水平部166を備え、第1連結機構161は第3エアシリンダ170および第4エアシリンダ171を備えてもよい。第3エアシリンダ170および第4エアシリンダ171の動作は、これらエアシリンダ170,171の加圧室および背圧室内の圧縮気体の圧力を調整するための圧力レギュレータ173および圧力レギュレータ174によって制御される。圧力レギュレータ173および圧力レギュレータ174の動作は動作制御部11によって制御される。
第3エアシリンダ170および第4エアシリンダ171が水平部166から離れているとき、第1連結機構161と第2連結機構162とは互いに切り離されている。したがって、研磨ヘッド50は第2研磨ヘッド移動機構(サーボモータ42A、ボールねじ機構43A、および直動ガイド40A)によって基板保持部3の軸心CPに近接する方向および軸心CPから離間する方向に移動することができる。第3エアシリンダ170および第4エアシリンダ171との間に水平部166が挟まれると、第1連結機構161と第2連結機構162とが互いに固定され、研磨ヘッド50の姿勢が安定する。
次に、上述したアンカー機構112および連結機構160の動作の一実施形態について説明する。ステップ1では、図22(a)に示すように、研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70を含む研磨ユニット25は、退避位置にある。研磨ユニット25が退避位置にあるとき、動作制御部11は基板保持部3に指令を発して基板Wを軸心CPを中心に回転させる。さらに、液体供給ノズルから液体(例えば、純水)を基板Wの上面に供給する。図22(a)において、第1エアシリンダ114、第2エアシリンダ120、および連結機構160の位置および形状は模式的に描かれている。アンカー機構112を構成する第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120を示す白丸は、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120がベース構造体23から離れている状態を示している。同様に、連結機構160を示す白丸は、連結機構160を構成する第1連結機構161および第2連結機構162が互いに離れている状態を示している。
ステップ2では、図22(b)に示すように、動作制御部11は、第1研磨ヘッド移動機構30を作動させて、研磨ユニット25を第1の方向に移動させ、研磨ヘッド50の押圧部材51および研磨テープ38を基板保持部3上の基板Wに近づける。ステップ3では、図22(c)に示すように、動作制御部11は、アンカー機構112を構成する第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120をベース構造体23に押し付け、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120をベース構造体23に固定させる。第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120を示す黒丸は、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120がベース構造体23を押し付けている状態を示している。
ステップ4では、図23(a)に示すように、動作制御部11はサーボモータ42A(第2研磨ヘッド移動機構)およびサーボモータ42B(研磨具移動機構)を作動させて、押圧部材51および研磨テープ38が基板保持部3上の基板Wの周縁部の上方に位置するまで、研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70を基板保持部3の軸心CPに向かって移動させる。ステップ5では、図23(b)に示すように、動作制御部11は、第1連結機構161および第2連結機構162を互いに固定させる。具体的には、動作制御部11は、図20に示す電磁石165を作動させるか、または図21に示す第3エアシリンダ170および第4エアシリンダ171で水平部166を挟み込む。連結機構160を示す黒丸は、第1連結機構161および第2連結機構162が互いに固定されている状態を示している。
ステップ6では、図23(c)に示すように、第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120がベース構造体23に固定され、かつ第1連結機構161および第2連結機構162が互いに固定されている状態で、研磨ヘッド50は押圧部材51を下降させ、押圧部材51で研磨テープ38を基板Wの周縁部に押し付ける。黒い押圧部材51は、押圧部材51が研磨テープ38を基板Wの周縁部に押し付けている状態を示している。研磨テープ38は、液体の存在下で基板Wの周縁部に摺接され、基板Wの周縁部を研磨する。
ステップ7では、図24(a)に示すように、研磨ヘッド50は押圧部材51を上昇させ、研磨テープ38を基板Wの周縁部から離間させる。これにより基板Wの研磨が終了する。白い押圧部材51は、押圧部材51が上昇して研磨テープ38が基板Wの周縁部から離れている状態を示している。ステップ8では、図24(b)に示すように、第1連結機構161および第2連結機構162を互いに引き離す。ステップ9では、図24(c)に示すように、動作制御部11はサーボモータ42A(第2研磨ヘッド移動機構)およびサーボモータ42B(研磨具移動機構)を作動させて、研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70を基板保持部3の軸心CPから遠ざかる方向に移動させる。
ステップ10では、図25(a)に示すように、動作制御部11は、アンカー機構112を構成する第1エアシリンダ114および第2エアシリンダ120をベース構造体23から切り離させる。ステップ11では、図25(b)に示すように、動作制御部11は、第1研磨ヘッド移動機構30を作動させて、研磨ヘッド50および研磨テープ供給機構70を含む研磨ユニット25を退避位置まで移動させる。図示しないが、ステップ12では、基板Wの回転を停止させ、基板Wの上面への液体の供給を停止させる。
上述した実施形態では、研磨装置は、アンカー機構112および連結機構160の両方を備えているが、一実施形態では、研磨装置は、アンカー機構112または連結機構160のいずれか一方のみを備えてもよい。
基板Wを研磨するための研磨具は、砥石であってもよい。例えば、図26に示すように、研磨ヘッド50は、その下面に1つまたは複数の砥石180を備えてもよい。図26に示す研磨ヘッド50は支持構造体24に固定されている。研磨ヘッド50は、その軸心を中心に回転しながら、研磨具としての複数の砥石180を基板Wの周縁部に押し付けることで、基板Wの周縁部を研磨する。一実施形態では、図27に示すように、研磨ヘッド50は、基板Wの表面と平行に延びる回転軸181に固定された円盤状の砥石180を備えてもよい。回転軸181は、支持構造体24に固定されたモータ182に連結されている。モータ182が砥石180を回転させながら、砥石180の外周面を基板Wの周縁部に押し付けることで、基板Wの周縁部を研磨する。図26および図27に示す実施形態のその他の構成および動作は、図13乃至図17に示す実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。図18乃至図25に示す実施形態は、図26および図27に示す実施形態にも適用可能である。
上述した実施形態は、本発明が属する技術分野における通常の知識を有する者が本発明を実施できることを目的として記載されたものである。上記実施形態の種々の変形例は、当業者であれば当然になしうることであり、本発明の技術的思想は他の実施形態にも適用しうる。したがって、本発明は、記載された実施形態に限定されることはなく、特許請求の範囲によって定義される技術的思想に従った最も広い範囲に解釈されるものである。
3 基板保持部
4 保持ステージ
5 中空シャフト
6 ボールスプライン軸受(直動軸受)
7 連通路
8 ロータリジョイント
9 真空ライン
10 窒素ガス供給ライン
11 動作制御部
12 ケーシング
14 ケーシング
15 エアシリンダ(昇降機構)
18 ラジアル軸受
20 隔壁
21 ベースプレート
22 研磨室
23 ベース構造体
24 支持構造体
25 研磨ユニット
27 設置台
28 支持ブロック
30 研磨ヘッド移動機構
31 ボールねじ機構
32 モータ
33 動力伝達機構
38 研磨テープ
40A,40B 直動ガイド
41A,41B 連結ブロック
42A,42B サーボモータ
43A,43B ボールねじ機構
44A,44B 支持部材
50 研磨ヘッド
51 押圧部材
52 押圧部材ホルダー
53 エアシリンダ
55 保持部材
57 据付部材
58 直動ガイド
60 真空ライン
62 ボックス
70 研磨テープ供給機構
71 供給リール
72 回収リール
73,74 テンションモータ
76 研磨テープ送り機構
77 テープ送りローラ
78 ニップローラ
79 テープ送りモータ
81 基台
82,83 支持アーム
84A,84B,84C,84D,84E ガイドローラ
100 テープエッジ検出センサ
100A 投光部
100B 受光部
110 補強構造体
111 アンカーアーム
112 アンカー機構
114 第1エアシリンダ
115 加圧室
116 背圧室
117 第1アンカー部材
120 第2エアシリンダ
121 加圧室
122 背圧室
123 第2アンカー部材
130 圧縮気体供給ライン
131 加圧側気体供給ライン
131a 主加圧側ライン
131b 第1加圧側分岐ライン
131c 第2加圧側分岐ライン
131A 第1加圧側ライン
131B 第2加圧側ライン
132 背圧側気体供給ライン
132a 主背圧側ライン
132b 第1背圧側分岐ライン
132c 第2背圧側分岐ライン
132A 第1背圧側ライン
132B 第2背圧側ライン
134 加圧側圧力レギュレータ
134A 第1加圧側圧力レギュレータ
134B 第2加圧側圧力レギュレータ
135 加圧側圧力センサ
135A 第1加圧側圧力センサ
135B 第2加圧側圧力センサ
137 第1加圧側開閉弁
138 第2加圧側開閉弁
140 背圧側圧力レギュレータ
140A 第1背圧側圧力レギュレータ
140B 第2背圧側圧力レギュレータ
141 背圧側圧力センサ
141A 第1背圧側圧力センサ
141B 第2背圧側圧力センサ
143 第1背圧側開閉弁
144 第2背圧側開閉弁
150 突出部
150a 水平部
160 連結機構
161 第1連結機構
162 第2連結機構
164 磁性部材
165 電磁石
166 水平部
168 アームブロック
170 第3エアシリンダ
171 第4エアシリンダ
173 圧力レギュレータ
174 圧力レギュレータ
p1,p2 プーリー
b1 ベルト
M1 モータ
W 基板

Claims (9)

  1. 基板を研磨するための研磨装置であって、
    基板を保持する基板保持部と、
    研磨具を基板に押し付ける研磨ヘッドと、
    前記研磨ヘッドを支持する支持構造体と、
    前記支持構造体が固定されたベース構造体と、
    前記支持構造体に固定された補強構造体とを備え、
    前記補強構造体は、前記ベース構造体に固定可能および切り離し可能に構成されたアンカー機構を有し
    前記アンカー機構は、前記ベース構造体を押し付けるアクチュエータを備え、
    前記研磨装置は、前記アクチュエータを操作する操作システムをさらに備え、
    前記操作システムは、前記研磨ヘッドが前記研磨具を押し付ける研磨荷重に従って変わる力を前記アクチュエータに発生させるように構成されていることを特徴とする研磨装置。
  2. 前記アクチュエータは、前記支持構造体よりも外側に配置されていることを特徴とする請求項に記載の研磨装置。
  3. 前記ベース構造体は、前記アクチュエータに向かって突出する突出部を有しており、
    前記アクチュエータは、前記突出部に対向して配置されていることを特徴とする請求項に記載の研磨装置。
  4. 前記研磨装置は、前記研磨ヘッドと前記支持構造体とを連結する連結機構をさらに備えており、
    前記連結機構は、前記研磨ヘッドに固定された第1連結機構と、前記支持構造体に固定された第2連結機構とを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構は互いに固定可能かつ互いに切り離し可能に構成されていることを特徴とする請求項1に記載の研磨装置。
  5. 前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は電磁石を備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は磁性部材を備えることを特徴とする請求項に記載の研磨装置。
  6. 前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの一方は一対のエアシリンダを備え、前記第1連結機構および前記第2連結機構のうちの他方は前記一対のエアシリンダの間に配置された部分を有することを特徴とする請求項に記載の研磨装置。
  7. 前記支持構造体は、前記研磨ヘッドを移動させる少なくとも1つの研磨ヘッド移動機構を含むことを特徴とする請求項1に記載の研磨装置。
  8. 支持構造体に固定されている補強構造体のアンカー機構をベース構造体に固定し、前記アンカー機構は、前記ベース構造体を押し付けるアクチュエータを備えており、
    基板保持部で基板を回転させながら、かつ研磨ヘッドが研磨具を押し付ける研磨荷重に従って変わる力を前記アクチュエータに発生させながら、前記支持構造体に支持された前記研磨ヘッドで前記研磨具を前記基板に押し付けることで前記基板を研磨し、
    前記基板の研磨の終了後に、前記アンカー機構を前記ベース構造体から切り離すことを特徴とする研磨方法。
  9. 前記基板を研磨する前に、前記研磨ヘッドに固定されている第1連結機構を、前記支持構造体に固定された第2連結機構に連結し、
    前記基板の研磨の終了後に、前記第1連結機構を前記第2連結機構から切り離す工程をさらに含むことを特徴とする請求項に記載の研磨方法。
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JP5886602B2 (ja) * 2011-03-25 2016-03-16 株式会社荏原製作所 研磨装置および研磨方法
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